JP3221817B2

JP3221817B2 - ストロボ調光システム

Info

Publication number: JP3221817B2
Application number: JP20677195A
Authority: JP
Inventors: 義仁原田
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1995-07-21
Filing date: 1995-07-21
Publication date: 2001-10-22
Anticipated expiration: 2015-07-21
Also published as: JPH0933993A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プリフラット発光
による反射光を分割測光し、その測光値に基づいてメイ
ン発光制御を行うストロボ調光システムの改良に関する
ものである。

【０００２】

【従来の技術】ストロボ装置において、プリフラット発
光を実現する手段としてＩＧＢＴなどの高速なスイッチ
ング素子を、その発光強度をモニタしながらほぼフラッ
トに発光させることが米国特許第４２７５３３５号等で
開示されている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例では、スイッチング素子の応答遅れやモニタ用受光
センサの応答遅れ、更にはキセノン管の応答遅れ等によ
り所定の波高値（発光強度）を中心に、図１７の様に、
スイッチング周波数のノイズ風の信号が測光センサから
観測されている。尚、図１７は本発明の実施例の効果説
明にて用いる図面である為、該図の詳細はここでは省略
する。

【０００４】また、特にフラット発光開始時には、キセ
ノン管が冷えていてプラズマが安定状態になっていなか
ったり、測光センサが暗中からいきなり強力なストロボ
反射光を受光することによる過応答等により、フラット
発光開始後しばらくの間は出力の平均値も安定しないこ
とがあった。図１７では発光開始時間がなまった立ち上
りになっているが、これ以外にもオーバーシュート状態
がしばらく持続したりすることも実験的に確認されてい
る。

【０００５】特に分割測光センサとアンプ等が一体化さ
れた小さなパッケージに封入されればされる程、測光セ
ンサのアクティブエリアと最終出力端子のボンディング
ワイヤとの容量結合が無視できなくなり、発光開始時の
測光値としてはリンギングの大きな波形がしばらく収束
しないといったことが起きていた。

【０００６】従って、上記の様に不安定な測光値を基に
メイン発光の調光制御を行うと一種の切りむらが発生
し、適正なメイン発光の調光制御ができないものであっ
た。

【０００７】（発明の目的）本発明の第１の目的は、重
要度の高い分割測光領域からの測光値をより正確に得る
ことのできるストロボ調光システムを提供することであ
る。

【０００８】本発明の第２の目的は、簡単な構成によ
り、測光精度を向上させることのできるストロボ調光シ
ステムを提供することである。

【０００９】本発明の第３の目的は、簡単な構成によ
り、測光精度を向上させると共に、重要度の高い分割測
光領域からの測光値をより正確に得ることのできるスト
ロボ調光システムを提供することである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るために、本発明は、測光手段により分割測光を行う
際、重要度の高い分割測光領域での測光は、その他の分
割測光領域での測光の後に行う測光順序制御手段を設
け、重要度の高い分割領域、つまり画面中央部や選択さ
れた測光領域は、その他の測光領域での測光が終了した
後に行うようにしている。

【００１１】また、上記第２目的を達成するために、本
発明は、プリフラット発光後の初期不安定時間が経過す
るまで、測光手段による分割測光を遅延させる測光開始
遅延手段を設け、適正な測光値を得ることができないプ
リフラット発光後の初期不安定時間は、測光手段による
分割測光を行わないようにしている。

【００１２】また、上記第３目的を達成するために、本
発明は、プリフラット発光後の初期不安定時間が経過す
るまでは、測光手段による分割測光を遅延させる測光開
始遅延手段と、測光手段により分割測光を行う際、重要
度の高い分割領域での測光は、その他の分割測光領域で
の測光の後に行う測光順序制御手段とを設け、適正な測
光値を得ることができないプリフラット発光後の初期不
安定時間は、測光手段による分割測光を行わないように
すると共に、測光開始後は、重要度の高い分割領域、つ
まり画面中央部や選択された測光領域を、その他の測光
領域での測光終了後に行うようにしている。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示の実施の形態
に基づいて詳細に説明する。

【００１４】図１はカメラとストロボ装置の主なセン
サ，光学部材等を記した図であり、１はフィルム面、２
はペンタプリズム、３は主ミラー、４はサブミラー、５
はスーパーインポーズ用プリズムである。６はピント板
であり、その中央部にスーパーインポーズ用のマイクロ
プリズムアレーを有している。７は測光レンズ、８は視
線検知回路３２に光を導くプリズム、９は撮影者の目で
ある。

【００１５】３８はストロボ装置で、反射笠４５とキセ
ノン管４４が配置されており、更にその発光量をモニタ
する４９のＳＰＣ（シリコンフォトダイオード）１とそ
の波高値（発光強度）をモニタする５１のＳＰＣ２を有
している。

【００１６】ストロボ装置３８にて発せられた光は不図
示の被写体で反射し、レンズ２３，主ミラー３を通り、
サブミラー４によってＡＦセンサ３１に導かれる。又中
央部がハーフミラーになっている前記主ミラー３で反射
された光はピント板６，ペンタプリズム２を介して撮影
者の目９に達する。

【００１７】また、前記ピント板６上の像はペンタプリ
ズム２を介して測光レンズ７を通って測光センサ２１に
達する。また、ファインダ内表示器３０はバックライ
ト，ＬＣＤ，プリズム等で構成され、ファインダ下部に
情報表示を行う。

【００１８】２７はスーパーインポーズ用の表示器で、
ここからの光はプリズム５を介して主ミラー３にて反射
され、ピント板６上のマイクロプリズムアレーで方向を
変えられる。これにより、撮影者は以下の測距枠（測距
点）をスーパーインポーズ表示として目視可能となる。

【００１９】図２（Ａ）はファインダ６４内のレイアウ
トを示す図であり、ファインダ６４内の６２，６１，６
３は各々左，中，右のスーパーインポーズにて表示され
る測距点である。６５は合焦時に点灯するＬＥＤ（赤外
発光ダイオード）である。３０は図１にも示したファイ
ンダ内ＬＣＤ表示器で、シャッタ秒時や絞り値を７セグ
メント表示するとともに、ストロボ充電完了マーク３０
ａやＦＥＬＫ状態を示すＬＯＣＫマーク３０ｂや高速同
調を示すＨＳマーク３０ｃの表示部を持つ。

【００２０】図２（Ｂ）は測光センサ２１の配置図であ
り、該測光センサ２１はＳ０からＳ５までの６つの測光
領域に分割され、特に分割測光センサＳ０〜Ｓ２は上記
の各測距点６１，６２，６３の位置に対応している。

【００２１】図２（Ｃ）はＡＦセンサ３１の配置図であ
る。

【００２２】図３は上記のカメラ，レンズ，ストロボ装
置の電気的構成を示すブロック図である。

【００２３】２１は分割測光センサ（測光信号を生成す
る信号処理部を含む）、図２（Ｂ）に示す様に、１０の
中央の分割センサＳ０、１１の左の分割測光センサＳ
１、１２の外周の分割測光センサＳ５等を有している。
１３は圧縮ダイオードＤ０で、１４のオペアンプＡＰ０
とともに分割測光センサＳ０の光電流を対数圧縮しつ
つ、電流・電圧変換している。同様に、１５の圧縮ダイ
オードＤ１，１６のオペアンプＡＰ１や１７の圧縮ダイ
オードＤ５，１８のオペアンプＡＰ５等においても、各
々センサＳ１やＳ５等の光電流を対数圧縮し、電流・電
圧変換している。

【００２４】これらの出力はそれぞれ１９のマルチプレ
クサＭＰＸ２に入力され、カメラのＭＰＵ２２の選択信
号ＡＥＳＥＬによって分割Ｓ０〜Ｓ５のいずれかの測光
信号が選択され、２０のＡＤ変換器ＡＤ２によってディ
ジタルの測光値として、ＭＰＵ２２に取り込まれる。

【００２５】２３は交換式のレンズで、ピント合せをす
るＡＦ制御部２４，ズーム検知部２５，絞り制御部２６
を有しており、カメラのＭＰＵ２２とはレンズ通信のバ
スによって接続されている。

【００２６】カメラ側において、２７はスーパーインポ
ーズにて測距点を表示する表示器、２８はシャッタ制御
部、２９はシーケンス制御部、３０はファインダ表示
器、３１はＡＦセンサ、３２は視線検知部である。ま
た、３７は測光スイッチＳＷ１、３６はレリーズスイッ
チＳＷ２、３５はＦＥＬＫ釦である。３３と３４は測距
点選択スイッチで、これらスイッチの各状態によりカメ
ラのＭＰＵ２２のＡＦＳＥＬ入力は０〜３までの値をと
り得る。

【００２７】３８のストロボ装置とカメラはストロボ通
信のバスにより接続されている。

【００２８】ストロボ装置３８はシステム制御回路３９
を有しており、図５にて後述するストロボ制御シーケン
スを実行する。その他、該ストロボ装置３８には以下の
構成部品が具備されている。

【００２９】４４はキセノン管、４５は反射笠、４６は
トリガ制御回路、４８は充電制御回路、４７はズーム制
御回路、４３はＩＧＢＴのような発光制御回路である。
４９のＳＰＣ１はキセノン管４４からの光を直接受け、
この出力信号は圧縮積分回路５０で積分される。この積
分値は４５のＡＤ変換器ＡＤ１からシステム制御回路３
９にて読み出されるとともに、５６のＤＡ変換器ＤＡ１
の出力電圧と５３の比較器１で比較され、この積分値が
前記出力電圧に達したら発光を停止させることができ
る、つまりいわゆる調光制御が可能な構成となってい
る。

【００３０】フラット発光を行う時には、５１のセンサ
ＳＰＣ２の光電流を電流電圧変換器５２で発光強度に対
応した出力電圧を得るとともに、この出力電圧と５７の
ＤＡ変換器ＤＡ２のレベルとを５４の比較器２で比較す
る。これにより、このＤＡ変換器ＤＡ２の出力電圧を超
えると発光を停止し、下まわると再び発光継続させるこ
とで、フラット発光が維持可能となっている。

【００３１】これは、４１のアンドゲート１にて４０の
タイマ１の出力と前記比較器２の出力の論理積がとられ
ているので、ワンショットタイマ４０のタイマ１がカウ
ントアップするまでの時間はフラット発光を継続する。
４２はマルチプレクサＭＰＸ１で、２つのチャンネルＣ
Ｈ１，ＣＨ２を持ち、システム制御回路３９により切り
換えられる。つまり、システム制御回路３９は閃光発光
を行う時はチャンネルＣＨ１を、フラット発光を行う時
はチャンネルＣＨ２を、それぞれ選択することになる。

【００３２】図４はプリ発光を利用したメイン発光制御
システムの基本概念をわかり易く解説したフローチャー
トである。

【００３３】ステップ＃０１は基準外光測光を行う部分
であり、その測光値をＡ（ｉ），ｉ＝０〜５と表す。ｉ
とは分割測光センサＳ０〜Ｓ５に対応しており、各セン
サの外光測光値をＡ（０）〜Ａ（５）と表す。次のステ
ップ＃０２はプリフラット発光測光を行う部分であり、
この時の被写体からの反射光を測光した測光値をＦ
（ｉ）とする。そして、次のステップ＃０３にて、カメ
ラの制御値ＥＶｔを制御秒時ＴＶと制御絞り値ＡＶより
求めておく。

【００３４】ステップ＃０４は本制御の中核となる計算
部分であり、図示の分母は「２^F(i)−２^A(i)」によって
プリ発光が測光にどの程度影響を与えているかを抽出
し、分子に必要な影響度をおいて割り算することで、メ
イン発光時に各測光センサの領域毎に適正となる為には
プリ発光の発光強度（波高値）に対して、何倍の波高値
になるべきかを計算している。これが各センサ毎に２
^G(i)で表される。

【００３５】例えば、フィルム感度がＩＳＯ１００の時
にＥＶ５程度の暗中で、普通にストロボ発光させる時、
同調秒時を考慮して１／６０秒，Ｆ5.6 で制御すると仮
定すると、制御値は「ＥＶｔ＝ＴＶ＋ＡＶ＝６＋５＝１
１」となる。この時のＡ（ｉ）はほぼＥＶ５なので，ス
テップ＃４の右辺の分子の計算は「２^EVt −２^A(i)≒２
^EVt 」となり、第２項はほぼ無視できる。

【００３６】すなわち、外光が制御値ＥＶｔに比べて著
しく小さい時は「Ｇ（ｉ）≒ＥＶｔ−Ｆ（ｉ）」と考え
てもよい。もちろんこれはプリフラット発光による測光
値Ｆ（ｉ）も比較的Ａ（ｉ）より大きいことが前提であ
る。

【００３７】プリフラット発光の測光値Ｆ（ｉ）がＥＶ
１３あったとすると、上記例ではＥＶｔ＝１１なのでメ
イン発光時は「Ｇ（ｉ）＝１１−１３＝−２」となり、
プリフラット発光の波高値（発光強度）より２段小さな
波高値で制御すれば、制御ＥＶｔ＝１１ではピッタリ適
正な露出が得られるという訳である。

【００３８】ステップ＃０５は分割測光の各領域毎に求
めたフラット発光ゲインＧ（ｉ）の最小値を抽出するこ
とで近いもの優先のストロボ制御を行う部分である。

【００３９】一般にストロボ撮影時には主被写体は中央
部に広く、しかもフレーム中では最至近に存在すること
が多いので、このようなアルゴリズムを一種の評価調光
として採用した。単純に最小値を選択するばかりでな
く、中央に重点を置いた選択も考えられる。また、この
ままでは手前に白いテーブルクロスなどがあったりする
と、その後ろに居る主被写体がアンダー側に制御されて
しまうといった問題もあり、この辺のアルゴリズムにつ
いては充分に検討の余地があると思われるが、評価調光
の基本は近いもの優先のアルゴリズムが原則であろう。

【００４０】次のステップ＃０６では制御ＴＶが同調秒
時より高速か否かを判別し、高速であればステップ＃０
７へ移行して、メイン発光をフラット発光で行う。

【００４１】上記の様にステップ＃０７でプリ発光波高
値のＧ段分強い発光強度（波高値）で制御すれば、ほぼ
ピッタリの露出が得られる。この時の発光時間は先幕が
アパーチャに出だす前から後幕がアパーチャを完全にお
おうまで発光を継続する必要がある。

【００４２】一方、ステップ＃０６で制御ＴＶが同調秒
時より高速でなければステップ＃０８へ移行する。この
ステップ＃０８に閃光発光の時の演算を記す。

【００４３】上記ステップ＃０７でメインフラット発光
の発光強度でシャッタのスリットを通過してきた光の総
和でフィルム露出が適正になるのだから、ステップ＃０
２で測定したプリ発光時間Ｔ０のストロボ発光積分値が
Ｋｐとすると、波高値は「Ｋｐ／Ｔ０」となり、必要な
波高値は「（Ｋｐ／Ｔ０）×２^G 」なので総発光量は制
御シャッタ秒時をＴ１とすると、「（Ｋｐ／Ｔ０）×２
^G ×Ｔ１」となる。従って、ストロボ装置３８に対し
て、ステップ＃０８に示すメイン閃光発光積分ゲインγ
を指示することで、ストロボ装置３８側は次のステップ
＃０９でプリ発光の積分値Ｋｐの２のγ乗倍のメイン発
光積分値で制御すればよいことがわかる。

【００４４】以上のように、プリフラット発光を測光
し、またストロボ装置３８側でその発光総分量を測定し
ておくことで、メイン発光時にスリット露光秒時なら
ば、プリ発光の波高値の２^G 倍、閃光発光秒時ならばプ
リ発光の積分量の２のγ乗倍で各々ストロボ制御するだ
けで、首尾一貫したストロボ調光システムが得られる。

【００４５】次に、カメラのシーケンスフローについて
説明する前に、図３のストロボ制御回路３９のシーケン
スフローについて図５にて説明する。これは図３のスト
ロボ装置３８の回路ブロック図と合せて見比べること
で、より一層分かり易いものである。

【００４６】ストロボ装置３８内のシステム制御回路３
９は通信や該装置内のシーケンスを制御する例えばマイ
コンであり、まずステップ＃１１で充電制御を行う。具
体的には、電池を昇圧して３００Ｖ程度を不図示のメイ
ンコンデンサに充電する。図３では４８の充電制御回路
がそれを実行する。

【００４７】次のステップ＃１２はカメラからの通信を
待つ部分であり、データ受信があるときはステップ＃１
３で通信により受信したデータを波高値ゲインＧ，閃光
発光ゲインγ，プリフラット発光時間Ｔ０，メインフラ
ット発光時間Ｔ２のように各変数としてメモリする。次
に、ステップ＃１４でカメラからプリ発光指令が、ステ
ップ＃１５でメインフラット発光指令が、ステップ＃１
６でメイン閃光発光指令が、それぞれ来たか否かの指令
を待ちながら、ステップ＃１２のデータ受信検知までを
繰り返しループする。

【００４８】上記ステップ＃１４でプリ発光指令を受け
取ると、ステップ＃１７で所定の波高値（発光強度）ｈ
₀ をｈに代入し、それを次のステップ＃１８で波高値制
御の５７のＤＡ変換器ＤＡ２にセットし、続くステップ
＃１９でフラット発光をする為にマルチプレクサＭＰＸ
１をチャンネルＣＨ２にセットする。そして、ステップ
＃２０で４０のタイマ１に発光時間Ｔ０をプリセット
し、次のステップ＃２１でトリガ制御回路４６をオン
し、前記タイマ１をスタートさせる。

【００４９】これにより、キセノン管４４は発光し始め
る。そして、その発光をＳＰＣ２でモニタし、その波高
値（発光強度）が５７のＤＡ変換器ＤＡ２にセットされ
たｈ₀ よりも高くなるとオフし、ｈ₀ よりも低くなると
オンするように５４の比較器２の出力が変化して、安定
したフラット発光が維持できる。この発光は４０のタイ
マ１がカウントアップすると停止する。

【００５０】そこで、ステップ＃２２で前記タイマ１の
終了を待ち、終了するとステップ＃２３で前記ＡＤ変換
器ＡＤ１でそのプリフラット発光の積分値をＡＤ変換
し、Ｋ_p としてメモリする。そして、再びステップ＃１
１に戻る。

【００５１】また、上記ステップ＃１５でメインフラッ
ト発光の指令を受け取ると、ステップ＃２４でプリ発光
の波高値ｈ₀ のゲイン倍２^G を演算し、次のステップ＃
２５で５７のＤＡ変換器ＤＡ２にセットする。そして、
ステップ＃２６でフラット発光をセレクトし、次のステ
ップ＃２７でメインフラット発光時間Ｔ２をタイマ１に
セットし、次いでステップ＃２１からステップ＃２３ま
でのフラット発光を実行する。

【００５２】また、上記ステップ＃１６でメイン閃光指
令を受け取ると、ステップ＃２８でプリ発光積分値Ｋｐ
の２のγ乗倍に相当する積分値Ｋｘを演算し、次のステ
ップ＃２９で５６のＤＡ変換器ＤＡ１にセットする。さ
らにステップ＃３０でＭＰＸ１をチャンネルＣＨ１にセ
ットし、閃光発光回路を接続する。続くステップ＃３１
でトリガ回路をオンにする。

【００５３】これにより、キセノン管４４は閃光発光を
開始し、その光量が４９のＳＰＣ１で光電変換され、圧
縮積分回路５０で積分され、その積分量が５６のＤＡ変
換器ＤＡ１にセットされたＫｘに達したら５３の比較器
１が反転し、閃光発光が終了する。

【００５４】ステップ＃３２ではその閃光発光が終了す
るまでの時間を最大１００ｍｓまてば充分なのでとりあ
えずウエイト１００ｍｓ待機する。なお、ここは前記比
較器１の出力が反転するのを待って、次のステップ＃１
１に戻ってもよい。

【００５５】以上のようにして、プリフラット発光時は
ｈ₀ を所定値とし、Ｔ０をカメラよりの通信データとす
ると波高値ｈ₀ で発光時間Ｔ０でフラット発光し、メイ
ンフラット発光時はゲインＧと発光時間Ｔ２をカメラよ
り受け波高値「ｈ₀ ×２^G 」で発光時間Ｔ２でフラット
発光し、メイン閃光発光時はプリフラット発光の積分値
Ｋｐをもとにカメラより指示されたゲインγに従い、閃
光積分量「Ｋ_p ×２のγ乗」で閃光発光する。

【００５６】図６にカメラのメインシーケンスフローを
示す。

【００５７】ステップ＃４１でスタートし、ステップ＃
４２でＦＥＬＫ釦３５が押されたか否かを判別する。

【００５８】ＦＥＬＫとは、ＡＥロックのストロボ版み
たいなもので、このＦＥＬＫ釦３５が押されるとストロ
ボ装置３８をプリ発光させ、その時の反射光量をもとに
レリーズ時のストロボ発光量を決定するものである。ま
た、その操作性を向上させる為には、比較的狭い領域、
すなわち部分測光に相当する領域で行うのが便利であ
る。

【００５９】従って、測距点等にストロボ露出を適正に
したい被写体を入れ、そこでＦＥＬＫ釦３５を押し、プ
リ発光が行われたら、例えばフレーミングを変更する等
しても従来のＴＴＬ調光と違い、既に主被写体の距離と
反射率に依存する情報としてプリフラット発光の反射光
を測光しているので、適正な露出が得られる。

【００６０】そのフレーミング変更などをする時間を与
える為に、ＦＥＬＫ中は測定タイマを延長させる為にス
テップ＃４３でタイマセットしている。そして、ステッ
プ＃４４でプリ発光ａをコールする。後述のステップ＃
５７でもプリ発光ｂというのがあるが、プリ発光ｂはい
わゆる評価調光を行う為に分割測光センサのほとんどを
使って測光するが、このプリ発光ａでは測距点等に連動
した１個の狭い部分測光を採用するのがその操作性上望
ましいので、プリフラット発光時間もプリ発光ｂよりか
なり短い時間にしてエネルギーの無駄を省いている。

【００６１】次のステップ＃４５ではＦＥＬＫ状態であ
ることを示すフラグＰＲＥＥＮＤを「１」にセットす
る。

【００６２】次に、ステップ＃４６で測光スイッチＳＷ
１が押されると、ステップ＃４７で視線検知を行う。こ
れは、３３，３４の測距点選択用のＡＦＳＥＬのスイッ
チが０〜２のときは中央，左，右の任意測距点選択であ
るので、視線検知は行わずにステップ＃４８へ直ちに進
み、ここでその測距点に基づきＡＦ制御を行う。また、
「ＡＦＳＥＬ＝３」のときは視線検知により選択された
測距点にてステップ＃４８でＡＦ制御を行う。

【００６３】また、上記ステップ＃４６で測光スイッチ
ＳＷ１がオフだったときはステップ＃４９で測光タイマ
をカウントさせ、ステップ＃５０でタイムアップならば
ステップ＃５１でＦＥＬＫ中を示す「ＰＲＥＥＮＤ＝
０」にクリアし、ステップ＃４１に戻る。

【００６４】また、上記ステップ＃５０で測光タイマ
中、又は、上記ステップ＃４８でＡＦ制御が終了したな
らばステップ＃５２で通常測光する。更に、その測光値
に基づいて評価測光やプログラム線図等によりシャッタ
秒時ＴＶや絞り値ＡＶを決定する。そして、ステップ＃
５４で表示を行う。

【００６５】次に、ステップ＃５５でレリーズスイッチ
ＳＷ２がオフされていたらステップ＃４２に戻り、同様
の動作を繰り返す。また、レリーズスイッチＳＷ２がオ
ンしていたらレリーズシーケンスに移る。

【００６６】ここで、ＦＥＬＫ中であればステップ＃５
６で「ＰＲＥＥＮＤ＝１」なので、次のステップ＃５８
でゲイン演算を行う。ＦＥＬＫ中でない時は、ミラーア
ップ前にステップ＃５７でプリ発光ｂを行う。これは、
その後にメイン発光をひかえているので“一括発光”と
呼ぶことにする。

【００６７】ステップ＃５８のＧ，γ演算では、ＦＥＬ
Ｋや一括発光によって、各々１個のセンサ，複数のセン
サに対応したゲイン演算を行う。また、シャッタ秒時が
同調秒時（シャッタが全開になる最高速秒時）よりも高
速か否かでフラット発光の為のゲインＧと閃光発光の為
のゲインγを求めている。

【００６８】次のステップ＃５９で主ミラー３をアップ
させ、次のステップ＃６０でシャッタ制御を行う。ま
た、この時同時にストロボへのデータ通信とストロボ発
光の為の種々の指令を通信する。

【００６９】次のステップ＃６１でミラーダウン，シャ
ッタチャージ，フィルム巻上げを行い、続くステップ＃
６２でＦＥＬＫ中を解除し、ステップ＃４２に戻る。

【００７０】次に、各サブルーチンについて説明する。

【００７１】図７は図６のステップ＃５２で実行される
通常測光のサブルーチンである。

【００７２】ここでは、蛍光灯等のフリッカーの影響を
減らす為に約１０ｍｓ間かけて平均的な測光をする。測
光センサがここではｉ＝０〜５の６つあり、また各々の
測光センサ毎に８回ＡＤ変換し、平均をとっている。ま
た、そのサンプリングが１０ｍｓ間にわたってできるだ
け分散した方がより平均的になるので、ステップ＃７４
とステップ＃７５の二重のループではセンサ切り換えを
ステップ＃７６にもっていくことでそれを実現してい
る。結局１０ｍｓ間に「６×８＝４８回」ＡＤ変換する
ので、ステップ＃７９では「１０ｍｓ÷４８回＝２０８
μｓ」のウエイトが入っている。

【００７３】ステップ＃７４〜＃８１（ステップ＃７９
を除く）で実行に時間がかかれば、その分２０８μｓよ
り前もって差し引きしておくべきである。

【００７４】ステップ＃７１〜＃７３は、まず変数ＳＵ
Ｍ（ｉ）をクリアする。そして、ステップ＃７６でセン
サをセレクトし、ステップ＃７７でＡＤ変換し、ステッ
プ＃７８でＳＵＭ（ｉ）に測光センサ毎の総和を加算し
ていく。それを二重ループで１０ｍｓ間に４８回繰り返
した後、各測光センサ毎の平均測光値Ｍ（ｉ）をステッ
プ＃８２〜＃８４で求めてステップ＃８５でメインルー
チンに戻る。

【００７５】次に、図６のステップ＃５３で実行される
ＴＶ，ＡＶ演算ルーチンについて、図８を用いて説明す
る。

【００７６】ステップ＃８６で測光値Ｍ（ｉ）を基に制
御ＥＶ値ＥＶｔを求める。ここは本来ならば、測光値に
レベル，ゲイン補正，温度補正，レンズの開放絞りによ
る各種補正とＩＳＯ感度、つまりＳＶの加算等を行う必
要があるが、本件ではそこは公知であり、重要なポイン
トではないので、２０のＡＤ変換器ＡＤ２の中で自動的
に処理されているものとする。また、ステップ＃８６で
は分割測光センサの測光値Ｍ（ｉ）よりＥＶｔを求める
為に、評価測光などの測距点重点化や、逆光補正やレン
ズ距離情報等による評価演算などが行われることがあ
る。

【００７７】ステップ＃８７では得られた制御ＥＶｔを
基に、プログラム線図よりＴＶ，ＡＶを求めている。プ
ログラムモード以外のＴＶ優先やＡＶ優先では、ＴＶ，
ＡＶの片方はプリセットされ、もう一方が演算される。
ステップ＃８８で図６のメインルーチインへ戻る。

【００７８】次に、図６のステップ＃５４の表示サブル
ーチンについて、図９を用いて説明する。

【００７９】ステップ＃９１でファインダ表示器３０に
シャッタ秒時ＴＶを表示し、次のステップ＃９２で絞り
値ＡＶを表示し、続くステップ＃９３で合焦用ＬＥＤ６
５にＡＦ表示をし、ステップ＃９４では６１〜６３のス
ーパーインポーズを測距点表示する。これは図１の２７
のＬＥＤ（実際には３個ある）を選択的に点灯させるこ
とで、それに対応する６１〜６３の測距点が光って見え
ることになる。

【００８０】次に、ステップ＃９５で同調秒時よりも高
速シャッタならばステップ＃９６でストロボ充電完了マ
ーク３０ａ及びＨＳマーク３０ｃ、すなわちハイスピー
ドシンクロの表示をする。そうでない時はステップ＃９
７でストロボ充電完了マーク３０ａのみ表示する。更
に、ステップ＃９８でＦＥＬＫ中か否かの判別をし、Ｆ
ＥＬＫ中は「ＰＲＥＥＮＤ＝１」なので、ステップ＃９
９でＬＯＣＫマーク３０ｂの表示を追加する。

【００８１】次のステップ＃１００でＡＥモードのとき
は、ステップ＃１０１でストロボ絡みの表示は点灯させ
ないでステップ＃１０２で戻る。

【００８２】次に、図６のステップ＃４４にて実行され
るプリ発光ａサブルーチンについて、図１０を用いて説
明する。

【００８３】プリ発光ａとは、ＦＥＬＫ釦３５を押すこ
とにより実行されるＦＥＬＫの為のプリ発光のことであ
る。

【００８４】まず、ステップ＃１１１で高速測光ａを行
う。高速測光ａは図１１で示してあるが、ステップ＃１
４１でまず測距点を決定する。この測距点決定サブルー
チンについては図１２を用いて説明する。

【００８５】ステップ＃１７１で２ｂｉｔのＡＦＳＥＬ
スイッチを読み、ステップ＃１７２で「ＡＦＳＥＬ＝
３」、すなわち視線検知モードならば、ステップ＃１７
３で視線検知された測距点をＰとする。デフォルトは
「Ｐ＝０」、すなわち中央とする。「ＡＦＳＥＬ＝０〜
２」の時は任意測距点選択なので、ステップ＃１７４で
「Ｐ＝ＡＦＳＥＬ」とする。ステップ＃１７５で図１１
のルーチンへ戻る。

【００８６】このようにして決定された測距点をもと
に、図１１のステップ＃１４３〜＃１４８では全長１０
０μｓの測光を行う。

【００８７】ステップ＃１４２でＳＵＭ＝０とし、ステ
ップ＃１４４で測距点Ｐに対応するセンサをセレクト
し、次のステップ＃１４５でＡＤ値し、次いでステップ
＃１４６で積算し、続くステップ＃１４７で12.5μｓ間
待機する。これをステップ＃１４３，ステップ＃１４８
で８回繰り返す。これを次のステップ＃１４９で１／８
することで測光値Ｍ（Ｐ）が求まり、ステップ＃１５０
で図１０のルーチンに戻る。

【００８８】図１０において、ステップ＃１１１で戻っ
てくると、ステップ＃１１２で定常外光測光値Ａ（Ｐ）
としてメモリする。次に、ステップ＃１１３でプリ発光
時間Ｔ０＝２００μｓとし通信する。

【００８９】ステップ＃１１４ではストロボ装置３８に
対しプリ発光指令を出す。高速測光ａは１００μｓなの
にプリ発光時間「Ｔ０＝２００μｓ」としたのは、スト
ロボ装置３８のフラット発光開始時、しばらくはキセノ
ン管４４が定常状態になっていない為、波高値が不安定
になる上、測光センサも急に光電流が増える為、測光値
出力もしばらくの間不安定になる為、「２００μｓ−１
００μｓ＝１００μｓ」の擬似の待機時間（ダミーウエ
イト）をステップ＃１１５に入れる。ダミーウエイトが
終了すると、ストロボ装置３８が波高値ｈ₀ でフラット
発光している被写体反射光を、次のステップ＃１１６で
高速測光ａをコールすることで測光し、続くステップ＃
１１７でＦ（Ｐ）にメモリする。これは後にステップ＃
１８２でゲイン演算Ｇ（Ｐ）を求める時に使われる。そ
して、ステップ＃１１８でメインルーチンへ戻る。

【００９０】次に、図６のステップ＃５７にて実行され
るプリ発光ｂのサブルーチンについて、図１３を用いて
説明する。

【００９１】これはＦＥＬＫ釦３５によって発動するの
ではなく、レリーズスイッチＳＷ２によって発動するも
ので、その操作性を向上させる為に評価調光としてフレ
ーム全体の被写体の調光バランスをとる為に６つの測光
センサ全てを使ってプリ測光する。

【００９２】まず、ステップ＃１２１で高速測光ｂを行
う。この高速測光ｂのサブルーチンンについては図１４
を用いて説明する。

【００９３】ステップ＃１５３からステップ＃１５８は
センサＳｉについて１００μｓ間に８回ＡＤ変換し、そ
の平均値をステップ＃１５９でＭ（ｉ）として求めてい
る。これらのステップ＃１５３〜＃１５９は、各々前述
したステップ＃１４３〜＃１４９に対応している。

【００９４】ステップ＃１５２は作業領域「ＳＵＭ＝
０」とクリアしている。ここで、ステップ＃１５１では
ステップ＃１６０との間で６つのセンサ全てについてル
ープで測光値を求めているが、分割測光センサＳ５から
Ｓ０に向ってという通常と逆順になっている。これは、
外光の定常光の測光には差し支えないが、前述したよう
にプリフラット発光の場合はキセノン管や測光センサの
事情により、発光開始後しばらくは測光センサ出力が不
安定なので、大事な測光領域である分割測光センサＳ０
やＳ２をできるだけ後にまわして、きれいな値をＡＤし
た方がよい為である。

【００９５】ステップ＃１６１で図１３のルーチンに戻
ると、ステップ＃１２２〜＃１２４で各々外光定常光測
光値をＡ（ｉ）としてメモリする。次に、ステップ＃１
２５でプリ発光時間を「Ｔ０＝７００μｓ」とする。こ
れは高速測光ｂが全部で６００μｓかかるので、次のス
テップ＃１２７でウエイト１００μｓにてプリフラット
発光の立ち上りの不安定発光領域を避ける為である。ス
テップ＃１２５で「Ｔ０＝７００μｓ」をストロボに通
信し、次のステップ＃１２６でプリ発光指令を出すとス
トロボ装置３８は発光を開始する。

【００９６】次に、ステップ＃１２７で１００μｓ間待
機の後、再度ステップ＃１２８で高速測光ｂを行う。そ
して、プリフラット発光の被写体反射光を各分割測光セ
ンサで測光した測光値を、ステップ＃１２９〜＃１３１
でＦ（ｉ）にメモリする。そして、ステップ＃１３２で
図６のメインルーチンへ戻る。

【００９７】さて、上記ステップ＃１２１のＡ（ｉ）と
上記ステップ＃１２８のＦ（ｉ）は時間として約７００
μｓ程時間が離れているが、これは後にストロボ光から
外光成分を除去する演算「２^F(i)−２^A(i)」を行う上で
同時刻の測光値が望ましいわけである。これはフリッカ
ー同期１０ｍｓに比べて極めて小さいので比較的問題な
いとは思うが、このような理由からＡ（ｉ）測光とＦ
（ｉ）測光が連続しているのである。

【００９８】このことは、プリ発光ａのときのステップ
＃１１１のＡ（Ｐ）測光とステップ＃１１６のＦ（Ｐ）
測光ではもっと条件がよい。この時は時間差はわずか２
００μｓであり、フリッカーの影響はほぼ完全に除去で
きる。

【００９９】次に、図６のステップ＃５８にて実行され
るゲインＧ，γ演算サブルーチンについて、図１５を用
いて説明する。

【０１００】これについては、既に図４のプリ発光によ
るメイン発光制御システムの概念の項で説明してある。

【０１０１】ステップ＃１８１〜＃１８３はゲインＧ
（ｉ）を求める演算で、ステップ＃０４と同じである。

【０１０２】ステップ＃１８５はステップ＃０５と同じ
で、Ｇ（ｉ）よりＧを求める、いわゆる至近優先評価調
光である。但し、ステップ＃１８４でＦＥＬＫ中でな
い、いわゆる一括発光のときにステップ＃１８５は実行
され、ＦＥＬＫ中のときは測距点Ｐに依存するＧ（Ｐ）
をＧとしてステップ＃１８６で採用する。ステップ＃１
８７は制御シャッタ秒時ＴＶ（アペックス）を実時間伸
長して、Ｔ１とする。

【０１０３】ステップ＃１８８はとりあえず同調秒時よ
り高速の時も含めて、閃光ゲインγを求める。これにつ
いてはステップ＃０８で説明済である。そして、ステッ
プ＃１８９で図６のメインルーチンへ戻る。

【０１０４】次に、図６のステップ＃６０におけるシャ
ッタ制御及びストロボ発光指令のサブルーチンについ
て、図１６を用いて説明する。

【０１０５】ステップ＃１９１で高速シャッタの時は、
次のステップ＃１９２で波高値ゲインＧを、次のステッ
プ＃１９３でシャッタ秒時Ｔ１にシャッタ幕走行時間に
安全しろαｍｓだけ加算したＴ２を、メインフラット発
光時間としてストロボ通信し、次のステップ＃１９４で
発光指令する。その後、ステップ＃１９５で先幕をスタ
ートさせる。

【０１０６】ステップ＃１９６でシャッタ秒時Ｔ１間待
機すると、次のステップ＃１９７で後幕をスタートし、
続くステップ＃１９８で１００ｍｓ間待機、又は、後幕
走行完了を待ってステップ＃１９９で図６のメインルー
チンに戻る。

【０１０７】上記ステップ＃１９１で低速シャッタの時
は、次のステップ＃２００で閃光ゲインγを通信し、続
くステップ＃２０１で先幕をスタートさせ、次のステッ
プ＃２０２でシャッタ秒時Ｔ１をカウント開始する。そ
して、ステップ＃２０２で先幕走行完了を待ってステッ
プ＃２０４でメイン閃光発光指令を出す。上記ステップ
＃２０３はＸ接点オンにて実施してもよい。そして、ス
テップ＃２０５でシャッタ秒時Ｔ１がカウントアップし
たら、先のステップ＃１９７で後幕スタートの処理を実
行し、後幕走行完了したらステップ＃１９９で図６のメ
インルーチンに戻る。

【０１０８】上記の実施の形態によれば、プリフラット
発光開始時の不安定な発光強度で誤った測光値をとるの
を防ぐ為に、図１７に示す様に、複雑な構成にすること
なく、単にダミーウエイト時間を入れるようにしてい
る。更に、図２（Ｂ）の様な分割測光センサにおいて
は、Ｓ５→Ｓ４→Ｓ３→Ｓ２→Ｓ１→Ｓ０という順で測
光することにより、一般に重要度の高い中央部の分割測
光センサの出力をより正確に取り込めるようにしてい
る。

【０１０９】また、図２（Ｂ）において、左の測距点が
選択されている時は、例えばＳ５→Ｓ４→Ｓ２→Ｓ３→
Ｓ０→Ｓ１という様に左の測距点に重点を置き、又右の
測距点が選択されている時は、Ｓ５→Ｓ３→Ｓ１→Ｓ４
→Ｓ０→Ｓ２という様に右の測距点に重点を置いた測光
順序で測光することにより、より安定したメイン発光時
のストロボ調光制御が実現可能となる。

【０１１０】すなわち具体的には、測距点に対応した領
域をもつ測光センサから分割測光センサの距離が離れる
もの程先に測光をすべきであり、又本来、評価調光のア
ルゴリズム（図１５のステップ＃１８５）も単純に最小
値をとるのでなく、重み付けで求めてもよい。

【０１１１】このように、プリフラット発光を無駄に長
時間発光させなくとも、最小限のダミーウエイト時間を
設けるだけで、更に分割測光センサの測光順序を重要度
に応じて変えることで、重要度の高い画面中央付近や測
距点付近の測光精度を向上させることが可能となった。

【０１１２】（発明と実施の形態の対応）上記実施の形
態において、分割測光センサ１０〜１２（Ｓ０〜Ｓ５）
が本発明の測光手段に相当し、システム制御回路３９が
本発明のストロボ制御手段に相当し、ＭＰＵ２２が本発
明の測光順序制御手段に相当し、システム制御回路３９
及びタイマ４０が本発明の測光開始遅延手段に相当す
る。

【０１１３】以上が実施の形態における各構成と本発明
の各構成の対応関係であるが、本発明は、これら実施の
形態の構成に限定されるものではなく、請求項で示した
機能、又は実施の形態がもつ機能が達成できる構成であ
ればどのようなものであってもよいことは言うまでもな
い。

【０１１４】（変形例）本発明は、一眼レフカメラに適
用した場合を例にしているが、レンズシャッタカメラ，
ビデオカメラ等のカメラにも適用可能である。

【０１１５】また、外付けのストロボ装置とカメラとの
組み合わせの場合を想定しているが、ストロボ内蔵カメ
ラであっても同様に適用できるものである。

【０１１６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
測光手段により分割測光を行う際、重要度の高い分割測
光領域での測光は、その他の分割測光領域での測光の後
に行う測光順序制御手段を設け、重要度の高い分割領
域、つまり画面中央部や使用者により選択された測光領
域は、その他の測光領域での測光が終了した後に行うよ
うにしている。

【０１１７】よって、重要度の高い分割測光領域からの
測光値をより正確に得ることが可能となる。

【０１１８】また、本発明によれば、プリフラット発光
後の初期不安定時間が経過するまで、測光手段による分
割測光を遅延させる測光開始遅延手段を設け、適正な測
光値を得ることができないプリフラット発光後の初期不
安定時間は、測光手段による分割測光を行わないように
している。

【０１１９】よって、簡単な構成により、測光精度を向
上させることが可能となる。

【０１２０】また、本発明によれば、プリフラット発光
後の初期不安定時間が経過するまでは、測光手段による
分割測光を遅延させる測光開始遅延手段と、測光手段に
より分割測光を行う際、重要度の高い分割領域での測光
は、その他の分割測光領域での測光の後に行う測光順序
制御手段とを設け、適正な測光値を得ることができない
プリフラット発光後の初期不安定時間は、測光手段によ
る分割測光を行わないようにすると共に、測光開始後
は、重要度の高い分割領域、つまり画面中央部や選択さ
れた測光領域を、その他の測光領域での測光終了後に行
うようにしている。

【０１２１】よって、簡単な構成により、測光精度を向
上させると共に、重要度の高い分割測光領域からの測光
値をより正確に得ることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係るカメラとストロボ装
置の要部を示す構成図である。

【図２】図１のカメラのファインダ内の様子や測光セン
サ，ＡＦセンサの領域を示す図である。

【図３】図１のカメラ等の電気的構成を示すブロック図
である。

【図４】本発明の実施の形態においてプリ発光によるメ
イン発光制御時の動作を示すフローチャートである。

【図５】本発明の実施の形態においてストロボ制御時の
動作を示すフローチャートである。

【図６】本発明の実施の形態においてカメラのメイン動
作を示すフローチャートである。

【図７】図６にて実行される通常測光サブルーチンを示
すフローチャートである。

【図８】図６にて実行されるＴＶ，ＡＶ演算サブルーチ
ンを示すフローチャートである。

【図９】図６にて実行される表示サブルーチンを示すフ
ローチャートである。

【図１０】図６にて実行されるプリ発光ａサブルーチン
を示すフローチャートである。

【図１１】図１０にて実行される高速測光ａサブルーチ
ンを示すフローチャートである。

【図１２】図１１にて実行される測距点選択サブルーチ
ンを示すフローチャートである。

【図１３】図６にて実行されるプリ発光ａサブルーチン
を示すフローチャートである。

【図１４】図１３にて実行される高速測光ａサブルーチ
ンを示すフローチャートである。

【図１５】図６にて実行されるＧ，γ演算サブルーチン
を示すフローチャートである。

【図１６】図６にて実行されるシャッタ制御及びストロ
ボ発光指令サブルーチンを示すフローチャートである。

【図１７】本実施の形態における測光開始タイミング及
び分割測光センサの測光順序を説明する為の図である。

【符号の説明】

１０〜１２分割測光センサ２２ＭＰＵ２３レンズ３８ストロボ装置３９ストロボ制御回路４０タイマ４３発光制御回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G03B 15/05 G03B 7/16 G03B 7/28

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】プリフラット発光による反射光を分割測
光し、その測光値に基づいてメイン発光制御を行うスト
ロボ調光システムにおいて、前記分割測光を行う際、重
要度の高い分割測光領域での測光は、その他の分割測光
領域での測光の後に行うようにしたことを特徴とするス
トロボ調光システム。
【請求項２】プリフラット発光による反射光を分割測
光し、その測光値に基づいてメイン発光制御を行うスト
ロボ調光システムにおいて、前記分割測光において、プ
リフラット発光後の初期不安定時間は測光の開始を待機
させるようにしたことを特徴とするストロボ調光システ
ム。
【請求項３】プリフラット発光による反射光を分割測
光し、その測光値に基づいてメイン発光制御を行うスト
ロボ調光システムにおいて、前記分割測光において、プ
リフラット発光後の初期不安定時間は測光の開始を待機
させると共に、前記分割測光の開始後は、重要度の高い
分割測光領域での測光は、その他の分割測光領域での測
光の後に行うようにしたことを特徴とするストロボ調光
システム。
【請求項４】複数の領域を有し、これら領域によりプ
リフラット発光による反射光を分割測光する測光手段
と、該測光手段からの測光値に基づいてメイン発光制御
を行う発光制御手段とを備えたストロボ調光システムに
おいて、前記測光手段により分割測光を行う際、重要度
の高い分割領域での測光は、その他の分割領域での測光
の後に行う測光順序制御手段を設けたことを特徴とする
ストロボ調光システム。
【請求項５】複数の領域を有し、これら領域によりプ
リフラット発光による反射光を分割測光する測光手段
と、該測光手段からの測光値に基づいてメイン発光制御
を行う発光制御手段とを備えたストロボ調光システムに
おいて、前記プリフラット発光後の初期不安定時間が経
過するまで、前記測光手段による分割測光を遅延させる
測光開始遅延手段を設けたことを特徴とするストロボ調
光システム。
【請求項６】複数の領域を有し、これら領域によりプ
リフラット発光による反射光を分割測光する測光手段
と、該測光手段からの測光値に基づいてメイン発光制御
を行う発光制御手段とを備えたストロボ調光システムに
おいて、前記プリフラット発光後の初期不安定時間が経
過するまで、前記測光手段による分割測光を遅延させる
測光開始遅延手段と、前記測光手段により分割測光を行
う際、重要度の高い分割領域での測光は、その他の分割
領域での測光の後に行う測光順序制御手段とを設けたこ
とを特徴とするストロボ調光システム。
【請求項７】中央領域に近い程、重要度が高い分割領
域とすることを特徴とする請求項１，３又は６記載のス
トロボ調光システム。
【請求項８】選択される分割領域を最も重要度の高い
領域とし、以下該選択される分割領域に近接する領域
程、重要度が高い分割領域とすることを特徴とする請求
項１，３又は６記載のストロボ調光システム。
【請求項９】前記分割測光領域は、カメラの測距手段
の分割測距領域に対応して配置されることを特徴とする
請求項１，２，３，４，５又は６記載のストロボ調光シ
ステム。