JP3219655B2 - 信号処理装置 - Google Patents
信号処理装置Info
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- Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】マイクロコンピュータからのデジ
タルデータをアナログデータに変換して同一ＩＣ内の複
数の動作ブロックに供給し、各動作ブロックを制御する
信号処理装置に関する。
タルデータをアナログデータに変換して同一ＩＣ内の複
数の動作ブロックに供給し、各動作ブロックを制御する
信号処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】テレビ等の信号処理において、個別的に
各アナログ動作ブロックを制御する装置に代え、複数の
動作ブロックをデジタルデータを利用して統括的に処理
するバスコントロールＩＣを用いることが提案されてい
る。このバスコントロールＩＣは、図４に示すように、
マイクロコンピュータ１０から出力されるデジタル信号
をバスコントロールＩＣ内のバスインターフェース回路
１２が判別・解読し、ＩＣ内の各動作ブロック１６に所
定のアナログ信号を供給して、例えばテレビの音量調整
や輝度調整等の様々なアナログ動作を制御する装置であ
る。
各アナログ動作ブロックを制御する装置に代え、複数の
動作ブロックをデジタルデータを利用して統括的に処理
するバスコントロールＩＣを用いることが提案されてい
る。このバスコントロールＩＣは、図４に示すように、
マイクロコンピュータ１０から出力されるデジタル信号
をバスコントロールＩＣ内のバスインターフェース回路
１２が判別・解読し、ＩＣ内の各動作ブロック１６に所
定のアナログ信号を供給して、例えばテレビの音量調整
や輝度調整等の様々なアナログ動作を制御する装置であ
る。
【０００３】バスインターフェース回路１２は、マイク
ロコンピュータ１０からの命令に基づき、供給されてく
るシリアルデジタルデータを取り込んで、これをパラレ
ルデータに変換する。更に、音量調整や、電子ビームの
偏向制御のランプ波発生、糸巻き歪みを補償するパラボ
ラ波発生等、目的別に設けられた動作ブロック１６に対
応するデジタルアナログ（Ｄ／Ａ）変換部１４を選択す
る。選択されたＤ／Ａ変換部１４は、バスインターフェ
ース回路１２から供給されるパラレルのデジタルデータ
信号をラッチし、これをアナログデータに変換して動作
ブロック１６に供給する。動作ブロック１６は、供給さ
れるアナログデータ信号に基づいてその動作を制御す
る。
ロコンピュータ１０からの命令に基づき、供給されてく
るシリアルデジタルデータを取り込んで、これをパラレ
ルデータに変換する。更に、音量調整や、電子ビームの
偏向制御のランプ波発生、糸巻き歪みを補償するパラボ
ラ波発生等、目的別に設けられた動作ブロック１６に対
応するデジタルアナログ（Ｄ／Ａ）変換部１４を選択す
る。選択されたＤ／Ａ変換部１４は、バスインターフェ
ース回路１２から供給されるパラレルのデジタルデータ
信号をラッチし、これをアナログデータに変換して動作
ブロック１６に供給する。動作ブロック１６は、供給さ
れるアナログデータ信号に基づいてその動作を制御す
る。
【０００４】例えば、図５に示す垂直偏向ブロックは、
テレビ受像管における電子ビームの偏向を制御するため
の垂直走査用ノコギリ（Ｖノコギリ）波［図６（ａ）参
照］を発生するブロックである。ここでは、マイクロコ
ンピュータからＤ／Ａ変換部１４を介して供給されるア
ナログデータ信号に基づき、垂直偏向ブロックの発生す
るＶノコギリ波の振幅が調整されている。
テレビ受像管における電子ビームの偏向を制御するため
の垂直走査用ノコギリ（Ｖノコギリ）波［図６（ａ）参
照］を発生するブロックである。ここでは、マイクロコ
ンピュータからＤ／Ａ変換部１４を介して供給されるア
ナログデータ信号に基づき、垂直偏向ブロックの発生す
るＶノコギリ波の振幅が調整されている。
【０００５】図５において、ＶＲａｍｐ（Ｖノコギリ）
波発生器２０は、１垂直走査期間（Ｖ周期）トリガに同
期してＶノコギリ波を発生する。一方、Ｄ／Ａ変換部１
４は、図４のバスインターフェース回路１２から供給さ
れる例えば６ビットのデジタルデータ信号に対応して２
6 段階のＤＣ電圧を発生する。ゲインコントロール回路
２２は、Ｄ／Ａ変換部１４からのＤＣ電圧に応じてゲイ
ンを変更し、これにより、Ｖノコギリ波の傾きが図６
（ａ）に点線で示したように調整される。調整されたＶ
ノコギリ波はコンパレータ２４に出力され、ここでＶノ
コギリ波のＤＣレベルがＤＣコントロール部２６からの
コントロール電圧に応じて調整され、出力端子ＯＵＴ１
を介してＩＣ外部に出力される。
波発生器２０は、１垂直走査期間（Ｖ周期）トリガに同
期してＶノコギリ波を発生する。一方、Ｄ／Ａ変換部１
４は、図４のバスインターフェース回路１２から供給さ
れる例えば６ビットのデジタルデータ信号に対応して２
6 段階のＤＣ電圧を発生する。ゲインコントロール回路
２２は、Ｄ／Ａ変換部１４からのＤＣ電圧に応じてゲイ
ンを変更し、これにより、Ｖノコギリ波の傾きが図６
（ａ）に点線で示したように調整される。調整されたＶ
ノコギリ波はコンパレータ２４に出力され、ここでＶノ
コギリ波のＤＣレベルがＤＣコントロール部２６からの
コントロール電圧に応じて調整され、出力端子ＯＵＴ１
を介してＩＣ外部に出力される。
【０００６】ところで、ＩＣの出荷時に際しては、その
良否の判別を行うためＩＣの動作確認が行われる。そし
て、バスコントロールＩＣでは、例えば、垂直偏向ブロ
ックの動作確認は、Ｄ／Ａ変換部１４からのＤＣ電圧レ
ベルを変更しＶノコギリ波の振幅の大きさ（傾き）を変
化させ、出力されたＶノコギリ波の振幅を測定すること
によって行われる。Ｖノコギリ波の振幅測定は、まず、
図６（ａ）のように、Ｖノコギリ波の水平走査ライン２
２（Ｌ２２）の位置におけるＤＣ電圧（ＶL22）と、水
平走査ライン２６２（Ｌ２６２）の位置におけるＤＣ電
圧（ＶL262）を測定する。次に、（ＶL262−ＶL22 ）を
計算し、得られた値からＶノコギリ波の振幅を求める。
そして、この振幅測定を例えば図６（ｂ）のように５回
（５垂直周期期間：約８３ｍＳ）行って平均値を求め、
得られた値がテスト条件に一致しているかどうかを確認
する。
良否の判別を行うためＩＣの動作確認が行われる。そし
て、バスコントロールＩＣでは、例えば、垂直偏向ブロ
ックの動作確認は、Ｄ／Ａ変換部１４からのＤＣ電圧レ
ベルを変更しＶノコギリ波の振幅の大きさ（傾き）を変
化させ、出力されたＶノコギリ波の振幅を測定すること
によって行われる。Ｖノコギリ波の振幅測定は、まず、
図６（ａ）のように、Ｖノコギリ波の水平走査ライン２
２（Ｌ２２）の位置におけるＤＣ電圧（ＶL22）と、水
平走査ライン２６２（Ｌ２６２）の位置におけるＤＣ電
圧（ＶL262）を測定する。次に、（ＶL262−ＶL22 ）を
計算し、得られた値からＶノコギリ波の振幅を求める。
そして、この振幅測定を例えば図６（ｂ）のように５回
（５垂直周期期間：約８３ｍＳ）行って平均値を求め、
得られた値がテスト条件に一致しているかどうかを確認
する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】バスコントロールＩＣ
のようにＤ／Ａ変換部１４を設けることなく、ゲインコ
ントロール回路２２を直接リニア回路で制御した場合、
図７（ｂ）のようにリニア回路に対して、例えば振幅最
小Ａ、中間Ｂ、最大Ｃの３点に対応するアナログ信号を
供給し、出力端子ＯＵＴ１から出力されたＶノコギリ波
の振幅を求めれば、この垂直偏向ブロックの動作補償と
同時にリニア回路についてもその動作補償ができる。
のようにＤ／Ａ変換部１４を設けることなく、ゲインコ
ントロール回路２２を直接リニア回路で制御した場合、
図７（ｂ）のようにリニア回路に対して、例えば振幅最
小Ａ、中間Ｂ、最大Ｃの３点に対応するアナログ信号を
供給し、出力端子ＯＵＴ１から出力されたＶノコギリ波
の振幅を求めれば、この垂直偏向ブロックの動作補償と
同時にリニア回路についてもその動作補償ができる。
【０００８】しかしながら、上述のようにＤ／Ａ変換部
１４を介して制御する場合には、各動作ブロックそのも
のの動作テストに加えて、対応するＤ／Ａ変換部１４の
動作テストも行う必要がある。なぜなら、Ｄ／Ａ変換部
１４に不良があった場合、例えば、振幅最小Ａ、中間
Ｂ、最大Ｃに対応するデジタルデータ信号に基づいて得
られたＶノコギリ波の振幅が図７（ａ）に示すような正
常ものと同じ振幅となっても、図７（ｃ）に示すよう
に、他の全てのデジタルデータに対して正常に振幅制御
できないことがあるからである。よって、例えば、６ビ
ットのデータ信号に基づいてＶノコギリ波の振幅を制御
する場合、『００００００』〜『１１１１１１』までの
全ての信号、即ち２6 種類のデジタル信号をＤ／Ａ変換
部１４に供給し、それぞれについてＶノコギリ波の振幅
を測定しなければならない。このように、バスコントロ
ールＩＣの採用によって、ＩＣのテストモードの測定工
数が著しく増加して動作テストに長時間を要し、また、
Ｖノコギリ波の振幅等の微小な変化を検出しなければな
らないため、極めて高い測定精度が要求されるという問
題があった。
１４を介して制御する場合には、各動作ブロックそのも
のの動作テストに加えて、対応するＤ／Ａ変換部１４の
動作テストも行う必要がある。なぜなら、Ｄ／Ａ変換部
１４に不良があった場合、例えば、振幅最小Ａ、中間
Ｂ、最大Ｃに対応するデジタルデータ信号に基づいて得
られたＶノコギリ波の振幅が図７（ａ）に示すような正
常ものと同じ振幅となっても、図７（ｃ）に示すよう
に、他の全てのデジタルデータに対して正常に振幅制御
できないことがあるからである。よって、例えば、６ビ
ットのデータ信号に基づいてＶノコギリ波の振幅を制御
する場合、『００００００』〜『１１１１１１』までの
全ての信号、即ち２6 種類のデジタル信号をＤ／Ａ変換
部１４に供給し、それぞれについてＶノコギリ波の振幅
を測定しなければならない。このように、バスコントロ
ールＩＣの採用によって、ＩＣのテストモードの測定工
数が著しく増加して動作テストに長時間を要し、また、
Ｖノコギリ波の振幅等の微小な変化を検出しなければな
らないため、極めて高い測定精度が要求されるという問
題があった。
【０００９】更に、垂直偏向ブロックのように、一定周
期経過後でなければ測定が終了しない動作ブロックがあ
るため、動作テストに要する時間がより長くなるという
問題があった。
期経過後でなければ測定が終了しない動作ブロックがあ
るため、動作テストに要する時間がより長くなるという
問題があった。
【００１０】本発明は、この課題を解消するためになさ
れたものであり、短時間で容易に動作テストを行うこと
ができる信号処理装置を提供することを目的とする。
れたものであり、短時間で容易に動作テストを行うこと
ができる信号処理装置を提供することを目的とする。
【００１１】
【問題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明に係る信号処理装置は以下のような特徴を有
する。
に、本発明に係る信号処理装置は以下のような特徴を有
する。
【００１２】即ち、アナログデータに基づいて動作する
動作ブロックの動作が、供給されるデジタルデータに基
づいて制御させる信号処理装置であって、前記供給され
たデジタルデータをアナログデータに変換して前記動作
ブロックに供給するデジタルアナログ変換部と、前記デ
ジタルアナログ変換部から出力されるアナログデータを
外部に出力する出力端子と、を有する。更に、前記デジ
タルアナログ変換部から出力される前記アナログデータ
を選択的に前記出力端子に供給するためのスイッチ部
と、前記スイッチ部の切り替え動作を制御するスイッチ
制御部と、を有する。
動作ブロックの動作が、供給されるデジタルデータに基
づいて制御させる信号処理装置であって、前記供給され
たデジタルデータをアナログデータに変換して前記動作
ブロックに供給するデジタルアナログ変換部と、前記デ
ジタルアナログ変換部から出力されるアナログデータを
外部に出力する出力端子と、を有する。更に、前記デジ
タルアナログ変換部から出力される前記アナログデータ
を選択的に前記出力端子に供給するためのスイッチ部
と、前記スイッチ部の切り替え動作を制御するスイッチ
制御部と、を有する。
【００１３】この構成では、スイッチ部を切り替えて、
デジタルアナログ変換部に所定のデジタルデータを供給
すると、出力端子から得られる出力は、デジタルアナロ
グ変換部から出力されるアナログデータの出力に対応し
たものとなる。そこで、装置のテストモード時には、前
記スイッチ部を切り替え、前記出力端子にデジタルアナ
ログ変換部からのアナログデータを供給して、その出力
レベルを測定する。このように、デジタルアナログ変換
部から出力されるアナログデータを測定することは容易
であるため、デジタルアナログ変換部の動作テストを簡
単にかつ短時間に行うことが可能となる。
デジタルアナログ変換部に所定のデジタルデータを供給
すると、出力端子から得られる出力は、デジタルアナロ
グ変換部から出力されるアナログデータの出力に対応し
たものとなる。そこで、装置のテストモード時には、前
記スイッチ部を切り替え、前記出力端子にデジタルアナ
ログ変換部からのアナログデータを供給して、その出力
レベルを測定する。このように、デジタルアナログ変換
部から出力されるアナログデータを測定することは容易
であるため、デジタルアナログ変換部の動作テストを簡
単にかつ短時間に行うことが可能となる。
【００１４】また、出力端子が、デジタルアナログ変換
部からのアナログデータの出力端子と、動作ブロックの
データ出力端子又は所定のデータ出力端子と、を兼用し
ていることとすれば、ＩＣの動作テスト用に特別な端子
を設ける必要がない。
部からのアナログデータの出力端子と、動作ブロックの
データ出力端子又は所定のデータ出力端子と、を兼用し
ていることとすれば、ＩＣの動作テスト用に特別な端子
を設ける必要がない。
【００１５】更に、本発明の別の構成は、前記動作ブロ
ックから出力される複合信号を出力する出力端子と、前
記複合信号のうち、特定の信号を選択的に前記出力端子
に供給するためのスイッチ部と、前記スイッチ部の切り
替え動作を制御するスイッチ制御部と、を有し、装置の
テストモード時に、前記スイッチ部を切り替え、前記出
力端子に前記特定の信号を供給することを特徴とする。
ックから出力される複合信号を出力する出力端子と、前
記複合信号のうち、特定の信号を選択的に前記出力端子
に供給するためのスイッチ部と、前記スイッチ部の切り
替え動作を制御するスイッチ制御部と、を有し、装置の
テストモード時に、前記スイッチ部を切り替え、前記出
力端子に前記特定の信号を供給することを特徴とする。
【００１６】この構成では、信号処理装置の各動作ブロ
ックの動作テストを行う場合、通常複合信号として出力
される信号の内、特定の信号以外の信号の出力をスイッ
チ部を切り替えることにより実質的に禁止する。このた
め、出力端子から得られる出力には他の信号が重畳され
ておらず、特定の中間的な信号を選択的に測定できる。
従って、容易かつ短時間に動作テストを完了することが
可能となる。
ックの動作テストを行う場合、通常複合信号として出力
される信号の内、特定の信号以外の信号の出力をスイッ
チ部を切り替えることにより実質的に禁止する。このた
め、出力端子から得られる出力には他の信号が重畳され
ておらず、特定の中間的な信号を選択的に測定できる。
従って、容易かつ短時間に動作テストを完了することが
可能となる。
【００１７】
【発明の実施の形態】本実施形態に係るバスコントロー
ルＩＣの構成について、図１に示す垂直偏向ブロック部
の構成を例にとって説明する。なお、既に説明した図面
と同一部分には同一符号を付して説明を省略する。
ルＩＣの構成について、図１に示す垂直偏向ブロック部
の構成を例にとって説明する。なお、既に説明した図面
と同一部分には同一符号を付して説明を省略する。
【００１８】図１において、ゲインコントロール２２と
コンパレータ２４との間に、スイッチ部３０が設けられ
ている。このスイッチ部３０の端子Ａにはゲインコント
ロール２２が接続され、端子ＢにはＤ／Ａ変換部１４が
接続されている。スイッチ部３０は、スイッチ制御回路
３２によって制御されており、Ｄ／Ａ変換部１４からの
ＤＣ電圧出力と、ゲインコントロール２２からの出力と
を切り替えている。
コンパレータ２４との間に、スイッチ部３０が設けられ
ている。このスイッチ部３０の端子Ａにはゲインコント
ロール２２が接続され、端子ＢにはＤ／Ａ変換部１４が
接続されている。スイッチ部３０は、スイッチ制御回路
３２によって制御されており、Ｄ／Ａ変換部１４からの
ＤＣ電圧出力と、ゲインコントロール２２からの出力と
を切り替えている。
【００１９】バスコントロールＩＣの通常動作時には、
スイッチ部３０はＡ端子側に切り換えられており、従来
と同様に、ゲインコントロール２２において、Ｖノコギ
リ波発生器２０から供給されるＶノコギリ波の傾きが、
Ｄ／Ａ変換部１４から供給されるＤＣ電圧に応じて調整
され、これがコンパレータ２４に出力される。コンパレ
ータ２４は、供給されたＶノコギリ波のＤＣレベルを１
／２ＶＣＣを中心として上下に変動するように調整す
る。これにより得られたＶノコギリ波は、出力端子ＯＵ
Ｔ１を介してＩＣ外部に出力され、電子ビームの垂直方
向の偏向制御に用いられる。
スイッチ部３０はＡ端子側に切り換えられており、従来
と同様に、ゲインコントロール２２において、Ｖノコギ
リ波発生器２０から供給されるＶノコギリ波の傾きが、
Ｄ／Ａ変換部１４から供給されるＤＣ電圧に応じて調整
され、これがコンパレータ２４に出力される。コンパレ
ータ２４は、供給されたＶノコギリ波のＤＣレベルを１
／２ＶＣＣを中心として上下に変動するように調整す
る。これにより得られたＶノコギリ波は、出力端子ＯＵ
Ｔ１を介してＩＣ外部に出力され、電子ビームの垂直方
向の偏向制御に用いられる。
【００２０】一方、ＩＣのテストモード時において、Ｄ
／Ａ変換部１４の動作テストを行う場合、スイッチ制御
回路３２にマイクロコンピュータ等からスイッチ切り替
え命令が与えられる。これにより、スイッチ部３０はＢ
端子側に切り替えられ、Ｄ／Ａ変換部１４からのＤＣ電
圧出力が、直接コンパレータ２４を介して出力端子ＯＵ
Ｔ１に供給されることとなる。
／Ａ変換部１４の動作テストを行う場合、スイッチ制御
回路３２にマイクロコンピュータ等からスイッチ切り替
え命令が与えられる。これにより、スイッチ部３０はＢ
端子側に切り替えられ、Ｄ／Ａ変換部１４からのＤＣ電
圧出力が、直接コンパレータ２４を介して出力端子ＯＵ
Ｔ１に供給されることとなる。
【００２１】この状態で、Ｄ／Ａ変換部１４に『０００
０００』〜『１１１１１１』までの全てのデジタルデー
タ信号を順次供給し、出力端子ＯＵＴ１を介して得られ
る電圧レベルを測定し、Ｄ／Ａ変換部１４からのＤＣ電
圧出力レベルがデジタルデータ信号に対応した２6 レベ
ルであるかどうか調べる。測定値が、デジタルデータ信
号に対応していれば、Ｄ／Ａ変換部１４は正常であると
判定される。このように、Ｄ／Ａ変換部１４の動作テス
トをＤＣ電圧レベルの測定により行うことができるた
め、１回の測定時間を短くでき、測定工程数が多くても
全体の測定時間を短縮することができる。更に、Ｖノコ
ギリ波の出力端子ＯＵＴ１と（別の出力端子でも良
い）、Ｄ／Ａ変換部１４の動作テスト出力端子とをスイ
ッチ部３０を利用して共用すれば、動作テスト用として
出力端子を設けることなく、Ｄ／Ａ変換部１４の動作テ
ストを行うことが可能となる。
０００』〜『１１１１１１』までの全てのデジタルデー
タ信号を順次供給し、出力端子ＯＵＴ１を介して得られ
る電圧レベルを測定し、Ｄ／Ａ変換部１４からのＤＣ電
圧出力レベルがデジタルデータ信号に対応した２6 レベ
ルであるかどうか調べる。測定値が、デジタルデータ信
号に対応していれば、Ｄ／Ａ変換部１４は正常であると
判定される。このように、Ｄ／Ａ変換部１４の動作テス
トをＤＣ電圧レベルの測定により行うことができるた
め、１回の測定時間を短くでき、測定工程数が多くても
全体の測定時間を短縮することができる。更に、Ｖノコ
ギリ波の出力端子ＯＵＴ１と（別の出力端子でも良
い）、Ｄ／Ａ変換部１４の動作テスト出力端子とをスイ
ッチ部３０を利用して共用すれば、動作テスト用として
出力端子を設けることなく、Ｄ／Ａ変換部１４の動作テ
ストを行うことが可能となる。
【００２２】また、垂直偏向ブロック自体の動作テスト
を行う場合には、スイッチ部３０をＡ端子側に切り替
え、図７（ａ）に示すように、例えばＶノコギリ波の振
幅最小Ａ、中間Ｂ、最大Ｃの３点に対応するデジタルデ
ータ信号をＤ／Ａ変換部１４に供給する。そして、各点
において、ゲインコントロール回路２２にてＤ／Ａ変換
部１４からのＤＣ電圧出力レベルに応じて傾きが調整さ
れ、コンパレータ２４及び出力端子ＯＵＴ１を介して出
力されたＶノコギリ波の振幅を測定する。Ｄ／Ａ変換部
１４からのＤＣ電圧出力レベルは、出力されるＶノコギ
リ波の傾きに対応しているため、Ｄ／Ａ変換部１４の機
能が正常であれば、垂直偏向ブロックの動作保証のため
に行うＶノコギリ波の測定は、従来と同様例えばＶノコ
ギリ波の振幅最小Ａ、中間Ｂ、最大Ｃにおける３回程度
と、少なくて良い。
を行う場合には、スイッチ部３０をＡ端子側に切り替
え、図７（ａ）に示すように、例えばＶノコギリ波の振
幅最小Ａ、中間Ｂ、最大Ｃの３点に対応するデジタルデ
ータ信号をＤ／Ａ変換部１４に供給する。そして、各点
において、ゲインコントロール回路２２にてＤ／Ａ変換
部１４からのＤＣ電圧出力レベルに応じて傾きが調整さ
れ、コンパレータ２４及び出力端子ＯＵＴ１を介して出
力されたＶノコギリ波の振幅を測定する。Ｄ／Ａ変換部
１４からのＤＣ電圧出力レベルは、出力されるＶノコギ
リ波の傾きに対応しているため、Ｄ／Ａ変換部１４の機
能が正常であれば、垂直偏向ブロックの動作保証のため
に行うＶノコギリ波の測定は、従来と同様例えばＶノコ
ギリ波の振幅最小Ａ、中間Ｂ、最大Ｃにおける３回程度
と、少なくて良い。
【００２３】次に、出力端子を共有してバスコントロー
ルＩＣの動作テストをより容易にするために行った改良
例について説明する。
ルＩＣの動作テストをより容易にするために行った改良
例について説明する。
【００２４】テレビ用のバスコントロールＩＣでは、図
２（ａ）に示すような輝度信号、色差信号及び水平同期
信号等、様々な信号が複合されたＲ，Ｇ，Ｂ信号が対応
するＲ出力端子ＲＯＵＴ、Ｂ出力端子ＢＯＵＴ、Ｇ出力
端子ＧＯＵＴから出力される。よって、例えばこの複合
信号から実際の表示の色合いを決定するための色差信号
（Ａ）を測定するには、水平同期信号や輝度信号が邪魔
となり、また、測定装置に極めて高い測定精度が要求さ
れてしまう。そこで、動作ブロック中の所定の場所にス
イッチ部を設け、このスイッチ部を制御し、テストモー
ドの場合には、測定に不要な他の信号の出力を禁止すれ
ば動作テストを容易かつ短時間で行うことが可能とな
る。即ち、色差信号を測定する場合には、図２（ｂ）の
ように水平同期信号や輝度信号の出力を禁止して出力端
子から色差信号（Ｂ）のみが出力されるようにすればよ
い。
２（ａ）に示すような輝度信号、色差信号及び水平同期
信号等、様々な信号が複合されたＲ，Ｇ，Ｂ信号が対応
するＲ出力端子ＲＯＵＴ、Ｂ出力端子ＢＯＵＴ、Ｇ出力
端子ＧＯＵＴから出力される。よって、例えばこの複合
信号から実際の表示の色合いを決定するための色差信号
（Ａ）を測定するには、水平同期信号や輝度信号が邪魔
となり、また、測定装置に極めて高い測定精度が要求さ
れてしまう。そこで、動作ブロック中の所定の場所にス
イッチ部を設け、このスイッチ部を制御し、テストモー
ドの場合には、測定に不要な他の信号の出力を禁止すれ
ば動作テストを容易かつ短時間で行うことが可能とな
る。即ち、色差信号を測定する場合には、図２（ｂ）の
ように水平同期信号や輝度信号の出力を禁止して出力端
子から色差信号（Ｂ）のみが出力されるようにすればよ
い。
【００２５】図３は、これを実現した色復調ブロックの
構成を示している。
構成を示している。
【００２６】図３において、ＶＣＯ４０は、カラーバー
スト信号に基づいた位相基準信号を発生する。色合い調
節回路４２はこの位相基準信号を基準とし、デジタルデ
ータとしてマイクロコンピュータ等から供給される色合
い調整データに応じて信号［θ０］及び信号［θ９０］
の位相を調整し、これを検波回路４４に出力する。検波
回路４４は、色合い調節回路４２からの信号［θ０］及
び信号［θ９０］に基づいてクロミナンス信号を検波す
る。これにより得られた復調信号［ＥR −ＥY］及び復
調信号［ＥB −ＥY ］は、加算回路４６に供給されて加
算処理され、更に復調信号［ＥG −ＥY ］が得られる。
そして、この３つの復調信号は、次にマトリクス回路４
８に供給される。
スト信号に基づいた位相基準信号を発生する。色合い調
節回路４２はこの位相基準信号を基準とし、デジタルデ
ータとしてマイクロコンピュータ等から供給される色合
い調整データに応じて信号［θ０］及び信号［θ９０］
の位相を調整し、これを検波回路４４に出力する。検波
回路４４は、色合い調節回路４２からの信号［θ０］及
び信号［θ９０］に基づいてクロミナンス信号を検波す
る。これにより得られた復調信号［ＥR −ＥY］及び復
調信号［ＥB −ＥY ］は、加算回路４６に供給されて加
算処理され、更に復調信号［ＥG −ＥY ］が得られる。
そして、この３つの復調信号は、次にマトリクス回路４
８に供給される。
【００２７】マトリクス回路４８は、得られた３つの色
差信号［ＥR −ＥY ］［ＥG −ＥY］［ＥB −ＥY ］と
輝度信号ＥY を合成して、それぞれＥR ＥG ＥB の３原
色信号を作成する。
差信号［ＥR −ＥY ］［ＥG −ＥY］［ＥB −ＥY ］と
輝度信号ＥY を合成して、それぞれＥR ＥG ＥB の３原
色信号を作成する。
【００２８】本実施形態においては、マトリクス回路４
８にスイッチ部５０を接続している。このスイッチ部５
０のＡ端子側には輝度信号ＥY が供給され、Ｂ端子側に
は、例えば映像複合信号のペデスタルレベルに等しい基
準ＤＣ電圧が供給される。また、スイッチ部５０は、ス
イッチ制御回路５２によりその切り替えが制御されてお
り、ＩＣのテストモードには、スイッチ部５０はＢ端子
側に切り替えられる。
８にスイッチ部５０を接続している。このスイッチ部５
０のＡ端子側には輝度信号ＥY が供給され、Ｂ端子側に
は、例えば映像複合信号のペデスタルレベルに等しい基
準ＤＣ電圧が供給される。また、スイッチ部５０は、ス
イッチ制御回路５２によりその切り替えが制御されてお
り、ＩＣのテストモードには、スイッチ部５０はＢ端子
側に切り替えられる。
【００２９】このため、ＩＣのテストモードでは、色差
信号［ＥR −ＥY ］［ＥG −ＥY ］［ＥB −ＥY ］に対
して輝度信号ＥY は合成されず、これら３つの色差信号
は、それぞれ図２（ｂ）に示すように色差信号（Ｂ）と
して、そのまま各ＲＧＢ出力端子ＲＯＵＴ，ＧＯＵＴ，
ＢＯＵＴから出力される。従って、色合い調節回路４２
に供給されるデジタルの色合い調整データに対応した適
切な色合いで、色差信号が作成されているかどうかにつ
いて、ＲＧＢ出力端子から出力された色差信号を直接測
定することにより容易に判定でき、測定時間も短時間と
することができる。
信号［ＥR −ＥY ］［ＥG −ＥY ］［ＥB −ＥY ］に対
して輝度信号ＥY は合成されず、これら３つの色差信号
は、それぞれ図２（ｂ）に示すように色差信号（Ｂ）と
して、そのまま各ＲＧＢ出力端子ＲＯＵＴ，ＧＯＵＴ，
ＢＯＵＴから出力される。従って、色合い調節回路４２
に供給されるデジタルの色合い調整データに対応した適
切な色合いで、色差信号が作成されているかどうかにつ
いて、ＲＧＢ出力端子から出力された色差信号を直接測
定することにより容易に判定でき、測定時間も短時間と
することができる。
【００３０】なお、ＩＣの通常動作時には、上記スイッ
チ部５０をＡ端子側に切り替えることにより、マトリク
ス回路４８に輝度信号ＥY が供給される。よって、色差
信号［ＥR −ＥY ］［ＥG −ＥY ］［ＥB −ＥY ］に輝
度信号ＥY が合成され、各ＲＧＢ端子からそれぞれＥR
ＥG ＥB の３原色信号が出力される。
チ部５０をＡ端子側に切り替えることにより、マトリク
ス回路４８に輝度信号ＥY が供給される。よって、色差
信号［ＥR −ＥY ］［ＥG −ＥY ］［ＥB −ＥY ］に輝
度信号ＥY が合成され、各ＲＧＢ端子からそれぞれＥR
ＥG ＥB の３原色信号が出力される。
【００３１】また、別の改良例としては、図２（ａ）の
複合信号に重畳される水平同期信号について、そのクラ
ンプ電圧を制御するクランプ回路が挙げられる。
複合信号に重畳される水平同期信号について、そのクラ
ンプ電圧を制御するクランプ回路が挙げられる。
【００３２】マイクロコンピュータから供給されるデジ
タルのクランプ制御データに基づいてクランプ回路が水
平同期信号のクランプ電圧レベルを制御する構成とした
場合に、クランプ回路の機能をテストするには、複合信
号の色差信号及び輝度信号等は不要である。従って、こ
の場合、上述の構成と同様にスイッチ部を設け、色差信
号及び輝度信号を例えばペデスタル電圧レベルに固定し
て水平同期信号に重畳し、これらの信号を実質的に加算
しない状態で水平同期信号のみを出力端子から出力すれ
ば、その出力電圧レベルを測定することにより、直ちに
クランプ電圧レベルを知ることができる。また、水平同
期信号のクランプ電圧を測定するために、１水平走査期
間に１回の水平同期信号の出力を待つ必要がなく、任意
のタイミングでデジタルのクランプ制御データを変更し
て、これをＤ／Ａ変換部を介してクランプ回路に供給す
れば、直ちにクランプ電圧を測定することができる。
タルのクランプ制御データに基づいてクランプ回路が水
平同期信号のクランプ電圧レベルを制御する構成とした
場合に、クランプ回路の機能をテストするには、複合信
号の色差信号及び輝度信号等は不要である。従って、こ
の場合、上述の構成と同様にスイッチ部を設け、色差信
号及び輝度信号を例えばペデスタル電圧レベルに固定し
て水平同期信号に重畳し、これらの信号を実質的に加算
しない状態で水平同期信号のみを出力端子から出力すれ
ば、その出力電圧レベルを測定することにより、直ちに
クランプ電圧レベルを知ることができる。また、水平同
期信号のクランプ電圧を測定するために、１水平走査期
間に１回の水平同期信号の出力を待つ必要がなく、任意
のタイミングでデジタルのクランプ制御データを変更し
て、これをＤ／Ａ変換部を介してクランプ回路に供給す
れば、直ちにクランプ電圧を測定することができる。
【００３３】また、更に別の例としては、ホワイトバラ
ンスを調整するため調整ブロックが考えられる。例え
ば、ＡＫＢ（Auto Kine Bias）方式の調整の場合、各
Ｒ，Ｇ，Ｂの映像複合信号に対して、その１７、１８、
１９Ｈラインに相当する期間に、ＡＫＢパルス発生回路
が発生するＡＫＢパルスが重畳されて出力される。ＡＫ
Ｂパルスが出力されると、その波高値に応じた電流が受
像管のカソードに流れる。このカソード電流を電圧値に
変換してこれを基準電圧と比較し、受像管の各Ｒ，Ｇ，
Ｂのカソードに流れる電流が自動的に制御される。
ンスを調整するため調整ブロックが考えられる。例え
ば、ＡＫＢ（Auto Kine Bias）方式の調整の場合、各
Ｒ，Ｇ，Ｂの映像複合信号に対して、その１７、１８、
１９Ｈラインに相当する期間に、ＡＫＢパルス発生回路
が発生するＡＫＢパルスが重畳されて出力される。ＡＫ
Ｂパルスが出力されると、その波高値に応じた電流が受
像管のカソードに流れる。このカソード電流を電圧値に
変換してこれを基準電圧と比較し、受像管の各Ｒ，Ｇ，
Ｂのカソードに流れる電流が自動的に制御される。
【００３４】このＡＫＢパルス発生回路に、マイクロコ
ンピュータから供給されるデジタルの波高制御データを
供給してＡＫＢパルスの波高値を制御する構成とした場
合、上述のようにスイッチ部を設け、回路の動作テスト
モードに際し、スイッチ部を切り替え、複合信号の他の
信号（水平同期信号、色差信号、輝度信号）の出力を禁
止する。このようにすれば、テストモードに際してスイ
ッチを制御し、ＡＫＢパルス発生回路に順次デジタル制
御データを供給し、各Ｒ，Ｇ，Ｂ端子からの出力を測定
すれば、直ちにＡＫＢパルスの波高値を知ることができ
る。よって、映像複合信号からその１フィールド期間に
１回出力されるＡＫＢパルスを抽出し、そのＤＣレベル
を測定するという測定時間の無駄を無くすことができ、
また測定自体も容易となる。
ンピュータから供給されるデジタルの波高制御データを
供給してＡＫＢパルスの波高値を制御する構成とした場
合、上述のようにスイッチ部を設け、回路の動作テスト
モードに際し、スイッチ部を切り替え、複合信号の他の
信号（水平同期信号、色差信号、輝度信号）の出力を禁
止する。このようにすれば、テストモードに際してスイ
ッチを制御し、ＡＫＢパルス発生回路に順次デジタル制
御データを供給し、各Ｒ，Ｇ，Ｂ端子からの出力を測定
すれば、直ちにＡＫＢパルスの波高値を知ることができ
る。よって、映像複合信号からその１フィールド期間に
１回出力されるＡＫＢパルスを抽出し、そのＤＣレベル
を測定するという測定時間の無駄を無くすことができ、
また測定自体も容易となる。
【図１】 本発明の実施形態に係る信号処理回路の垂直
偏向ブロックの構成を示す図である。
偏向ブロックの構成を示す図である。
【図２】 映像複合信号のうちの色差信号のみを出力す
る場合の概念図である。
る場合の概念図である。
【図３】 本発明の実施形態に係る信号処理回路の色復
調ブロックの構成を示す図である。
調ブロックの構成を示す図である。
【図４】 従来の信号処理装置の構成を示す図である。
【図５】 従来の垂直偏向ブロックの構成を示す図であ
る。
る。
【図６】 Ｖノコギリ波の波形及びその測定方法を示す
図である。
図である。
【図７】 Ｖノコギリ波の振幅と制御データとの関係を
示す図である。
示す図である。
１０ マイクロコンピュータ、１２ バスインターフェ
ース回路、１４ Ｄ／Ａ変換部、１６ 動作ブロック、
２０ Ｖノコギリ波発生器、２２ ゲインコントロール
回路、２６ ＤＣコントロール部、３０、５０ スイッ
チ部、３２、５２ スイッチ制御回路、４０ ＶＣＯ、
４２ 色合い調節回路、４４ 検波回路、４６ 加算回
路、４８ マトリクス回路。
ース回路、１４ Ｄ／Ａ変換部、１６ 動作ブロック、
２０ Ｖノコギリ波発生器、２２ ゲインコントロール
回路、２６ ＤＣコントロール部、３０、５０ スイッ
チ部、３２、５２ スイッチ制御回路、４０ ＶＣＯ、
４２ 色合い調節回路、４４ 検波回路、４６ 加算回
路、４８ マトリクス回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−20008（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−175304（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−66882（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−60375（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−19009（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H03G 1/00 - 3/18 G09G 5/02 H04N 5/44
Claims (3)
- 【請求項１】 アナログデータに基づいて動作する動作
ブロックの動作が、供給されるデジタルデータに基づい
て制御される信号処理装置であって、 前記供給されたデジタルデータをアナログデータに変換
して前記動作ブロックに供給するデジタルアナログ変換
部と、 前記デジタルアナログ変換部から出力されるアナログデ
ータを外部に出力する出力端子と、 前記デジタルアナログ変換部から出力される前記アナロ
グデータを選択的に前記出力端子に供給するためのスイ
ッチ部と、 前記スイッチ部の切り替え動作を制御するスイッチ制御
部と、を有し、 装置のテストモード時に、前記スイッチ部を切り替え
て、前記デジタルアナログ変換部からの前記アナログデ
ータを前記出力端子に供給する ことを特徴とする信号処
理装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の信号処理装置におい
て、 前記出力端子は、前記デジタルアナログ変換部からの前
記アナログデータの出力端子と、前記動作ブロックの信
号出力端子又は所定の信号出力端子とを兼用しているこ
とを特徴とする信号処理装置。 - 【請求項３】 アナログデータに基づいて動作する動作
ブロックの動作が、供給されるデジタルデータに基づい
て制御される信号処理装置であって、 前記動作ブロックから出力される複合信号を出力する出
力端子と、前記複合信号のうち、特定の信号を 選択的に前記出力端
子に供給するためのスイッチ部と、 前記スイッチ部の切り替え動作を制御するスイッチ制御
部と、を有し、 装置のテストモード時に、前記スイッチ部を切り替え、
前記出力端子に特定の信号を供給 することを特徴とする
信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24918195A JP3219655B2 (ja) | 1995-09-27 | 1995-09-27 | 信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24918195A JP3219655B2 (ja) | 1995-09-27 | 1995-09-27 | 信号処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0993057A JPH0993057A (ja) | 1997-04-04 |
| JP3219655B2 true JP3219655B2 (ja) | 2001-10-15 |
Family
ID=17189114
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24918195A Expired - Fee Related JP3219655B2 (ja) | 1995-09-27 | 1995-09-27 | 信号処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3219655B2 (ja) |
-
1995
- 1995-09-27 JP JP24918195A patent/JP3219655B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0993057A (ja) | 1997-04-04 |
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