JP3218106B2 - 水晶発振器の温度補償回路 - Google Patents
水晶発振器の温度補償回路Info
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- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L1/00—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply
Landscapes
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は水晶発振器の周波数温度
特性を補償した温度補償回路を利用分野とし、特に、作
業性を良好にした温度補償回路に関する。
特性を補償した温度補償回路を利用分野とし、特に、作
業性を良好にした温度補償回路に関する。
【０００２】
【発明の背景】温度補償型の水晶発振器は、水晶振動子
を主因とした周波数温度特性を補償して、温度変化に拘
らず安定した発振周波数を得る。このようなことから、
例えば動的環境下で使用される通信機器等において広く
用いられている。そして、このようなものの一つに、サ
ーミスタとコンデンサの組合せによる直接型の温度補償
回路がある。
を主因とした周波数温度特性を補償して、温度変化に拘
らず安定した発振周波数を得る。このようなことから、
例えば動的環境下で使用される通信機器等において広く
用いられている。そして、このようなものの一つに、サ
ーミスタとコンデンサの組合せによる直接型の温度補償
回路がある。
【０００３】
【従来技術】第３図はこの種の直接型の一従来例を説明
する特に温度補償回路の図である。温度補償回路１は、
低温補償部２と高温補償部３とからなり、ＡＴカットと
した水晶振動子（発振子）４に直列に接続する。低温及
び高温補償部２、３は直列接続し、いずれもコンデンサ
（Ｃ1、Ｃ2）に感温抵抗網（ＲN1、ＲN2）を並列接続す
る。感温抵抗網ＲN(1 、 2)は、サーミスタ（ＲT1、ＲT2）
と調整抵抗（Ｒ1、Ｒ2）からなり、低温補償部２ではＲ
T1とＲ1を並列に、高温補償部３ではＲT2とＲ2を直列に
接続してなる。このようなものでは、第４図に示したよ
うに、右上がりの３次曲線となる周波数温度特性「曲線
（イ）」を補償して、平坦な周波数温度特性（補償特性
とする）「曲線（ロ）」を得る。すなわち、低温補償部
２は特に常温（２５℃）以下の温度特性を、また高温補
償部３は特に常温以上の温度特性を独立的に補償する。
概略すると、低温及び高温補償部２、３ともに、コンデ
ンサＣ(1 、 2)に並列の感温抵抗網ＲN(1 、 2)の抵抗値が変
化すると、端子間（ａｂ）（ｃｄ）のインピーダンス中
の虚数部は抵抗値の関数となる。したがって、低温及び
高温補償部２、３では、いずれも感温抵抗網ＲN(1 、 2)の
温度に対する抵抗値の変化により、各端子間（ａｂ）
（ｃｄ）に容量変化を生ずる。このようなことから、コ
ンデンサＣ(1 、 2)の容量値と感応抵抗網ＲN(1 、 2)の温度
抵抗特性とを、周波数温度特性に応じて設定することに
より、補償できる。
する特に温度補償回路の図である。温度補償回路１は、
低温補償部２と高温補償部３とからなり、ＡＴカットと
した水晶振動子（発振子）４に直列に接続する。低温及
び高温補償部２、３は直列接続し、いずれもコンデンサ
（Ｃ1、Ｃ2）に感温抵抗網（ＲN1、ＲN2）を並列接続す
る。感温抵抗網ＲN(1 、 2)は、サーミスタ（ＲT1、ＲT2）
と調整抵抗（Ｒ1、Ｒ2）からなり、低温補償部２ではＲ
T1とＲ1を並列に、高温補償部３ではＲT2とＲ2を直列に
接続してなる。このようなものでは、第４図に示したよ
うに、右上がりの３次曲線となる周波数温度特性「曲線
（イ）」を補償して、平坦な周波数温度特性（補償特性
とする）「曲線（ロ）」を得る。すなわち、低温補償部
２は特に常温（２５℃）以下の温度特性を、また高温補
償部３は特に常温以上の温度特性を独立的に補償する。
概略すると、低温及び高温補償部２、３ともに、コンデ
ンサＣ(1 、 2)に並列の感温抵抗網ＲN(1 、 2)の抵抗値が変
化すると、端子間（ａｂ）（ｃｄ）のインピーダンス中
の虚数部は抵抗値の関数となる。したがって、低温及び
高温補償部２、３では、いずれも感温抵抗網ＲN(1 、 2)の
温度に対する抵抗値の変化により、各端子間（ａｂ）
（ｃｄ）に容量変化を生ずる。このようなことから、コ
ンデンサＣ(1 、 2)の容量値と感応抵抗網ＲN(1 、 2)の温度
抵抗特性とを、周波数温度特性に応じて設定することに
より、補償できる。
【０００４】
【従来技術の問題点】しかしながら、上記構成の温度補
償回路では、理論上では平坦な補償特性を得ることにな
るが、実際には、感温抵抗網ＲN(1 、 2)及びコンデンサＣ
(1 、 2)等の温度特性や誤差、また各回路素子の影響によ
り、理論上の設計値をもっては充分な補償特性を得るこ
とはできなかった。そのため、一般には、補償特性を実
測して仕様を満足しない場合には、特に感温抵抗網Ｒ
N(1 、 2)の調整抵抗Ｒ(1 、 2)を交換して温度抵抗特性を調
整し、同仕様を満足するまで繰り返して行っていた。具
体的には、予め計算された抵抗値の調整製抵抗Ｒ(1 、 2)
（初期抵抗とする）を装着して、そのときの補償特性
（初期補償特性）を実測する。そして、初期抵抗の抵抗
値と初期補償特性とから、仕様を満足する補償特性（基
準補償特性）となる抵抗値（基準抵抗値）を算出する。
そして、基準抵抗値となる抵抗（基準抵抗）を装着す
る。しかし、このようにしても、初期抵抗や基準抵抗の
誤差により、基準補償特性を得るには複数回の繰り返し
作業を要し、作業性を低下させる問題があった。そこ
で、例えばレーザによりその値を調整し得るチップ抵抗
に着目した。すなわち、このようなチップ抵抗を装着し
て、チップ抵抗の値を測定しながら、そのときの補償特
性と抵抗値から基準抵抗値を算出する。そして、基準抵
抗値になるまで、その都度、チップ抵抗の値を調整すれ
ば、抵抗の交換作業を不要にすることに着目した。しか
し、この場合には、サーミスタＲT2に直列接続の調整抵
抗Ｒ2は難なく測定できるが、サーミスタＲT1に並列接
続の調整抵抗Ｒ1は測定できない問題があった。なぜな
ら、調整抵抗Ｒ1の両端子間（ｘｙ）の測定は、サーミ
スタＲT1との並列抵抗値（端子間ａｂの抵抗値）となる
からである。
償回路では、理論上では平坦な補償特性を得ることにな
るが、実際には、感温抵抗網ＲN(1 、 2)及びコンデンサＣ
(1 、 2)等の温度特性や誤差、また各回路素子の影響によ
り、理論上の設計値をもっては充分な補償特性を得るこ
とはできなかった。そのため、一般には、補償特性を実
測して仕様を満足しない場合には、特に感温抵抗網Ｒ
N(1 、 2)の調整抵抗Ｒ(1 、 2)を交換して温度抵抗特性を調
整し、同仕様を満足するまで繰り返して行っていた。具
体的には、予め計算された抵抗値の調整製抵抗Ｒ(1 、 2)
（初期抵抗とする）を装着して、そのときの補償特性
（初期補償特性）を実測する。そして、初期抵抗の抵抗
値と初期補償特性とから、仕様を満足する補償特性（基
準補償特性）となる抵抗値（基準抵抗値）を算出する。
そして、基準抵抗値となる抵抗（基準抵抗）を装着す
る。しかし、このようにしても、初期抵抗や基準抵抗の
誤差により、基準補償特性を得るには複数回の繰り返し
作業を要し、作業性を低下させる問題があった。そこ
で、例えばレーザによりその値を調整し得るチップ抵抗
に着目した。すなわち、このようなチップ抵抗を装着し
て、チップ抵抗の値を測定しながら、そのときの補償特
性と抵抗値から基準抵抗値を算出する。そして、基準抵
抗値になるまで、その都度、チップ抵抗の値を調整すれ
ば、抵抗の交換作業を不要にすることに着目した。しか
し、この場合には、サーミスタＲT2に直列接続の調整抵
抗Ｒ2は難なく測定できるが、サーミスタＲT1に並列接
続の調整抵抗Ｒ1は測定できない問題があった。なぜな
ら、調整抵抗Ｒ1の両端子間（ｘｙ）の測定は、サーミ
スタＲT1との並列抵抗値（端子間ａｂの抵抗値）となる
からである。
【０００５】
【発明の目的】本発明は、サーミスタに並列接続した調
整抵抗の抵抗値を容易に測定し得て作業性を良好にする
温度補償回路を提供することを目的とする。
整抵抗の抵抗値を容易に測定し得て作業性を良好にする
温度補償回路を提供することを目的とする。
【０００６】
【解決手段】本発明は、感温抵抗とこれに並列に接続し
た調整抵抗に直列にコンデンサを挿入したことを基本的
な解決手段とする。以下、本発明の一実施例をその作用
とともに説明する。
た調整抵抗に直列にコンデンサを挿入したことを基本的
な解決手段とする。以下、本発明の一実施例をその作用
とともに説明する。
【０００７】
【実施例】第１図は本発明の一実施例を説明する図で、
特に温度補償回路の図である。なお、前従来例図と同一
部分には同番号を付与してその説明は簡略する。温度補
償回路は、前従来例と同様に、コンデンサＣ1に感温抵
抗網ＲN1を並列接続した低温補償部２と、コンデンサＣ
2に感温抵抗網ＲN2を並列接続した高温補償部部３から
なる。そして、この実施例では、低温及び高温補償部
２、３の調整抵抗Ｒ1、Ｒ2を、前述したようにそれぞれ
調整可能なチップ抵抗とする。そして、低温補償部２に
おける感温抵抗網ＲN1の調整抵抗Ｒ1に直流阻止用のコ
ンデンサＣ3を直列に接続した構成とする。
特に温度補償回路の図である。なお、前従来例図と同一
部分には同番号を付与してその説明は簡略する。温度補
償回路は、前従来例と同様に、コンデンサＣ1に感温抵
抗網ＲN1を並列接続した低温補償部２と、コンデンサＣ
2に感温抵抗網ＲN2を並列接続した高温補償部部３から
なる。そして、この実施例では、低温及び高温補償部
２、３の調整抵抗Ｒ1、Ｒ2を、前述したようにそれぞれ
調整可能なチップ抵抗とする。そして、低温補償部２に
おける感温抵抗網ＲN1の調整抵抗Ｒ1に直流阻止用のコ
ンデンサＣ3を直列に接続した構成とする。
【０００８】このような感温抵抗網ＲN1であれば、調整
抵抗Ｒ1とサーミスタＲT1とは、コンデンサＣ3により、
直流的に遮断される。したがって、調整抵抗Ｒ1の端子
間（ｘｙ）を測定すれば、調整抵抗Ｒ1の真値を測定で
きる。そして、このような温度補償回路１では、次の作
用効果を生ずる。すなわち、調整抵抗Ｒ1、Ｒ2の装着後
にその抵抗値をいずれも実測できるので、その抵抗値と
補償特性とから、基準補償特性とする正確な基準抵抗値
を算出できる。そして、いずれもその値を調整可能とし
たチップ抵抗としたので、調整抵抗Ｒ1、Ｒ2の取り替え
作業を不要にして作業性を高めることができる。
抵抗Ｒ1とサーミスタＲT1とは、コンデンサＣ3により、
直流的に遮断される。したがって、調整抵抗Ｒ1の端子
間（ｘｙ）を測定すれば、調整抵抗Ｒ1の真値を測定で
きる。そして、このような温度補償回路１では、次の作
用効果を生ずる。すなわち、調整抵抗Ｒ1、Ｒ2の装着後
にその抵抗値をいずれも実測できるので、その抵抗値と
補償特性とから、基準補償特性とする正確な基準抵抗値
を算出できる。そして、いずれもその値を調整可能とし
たチップ抵抗としたので、調整抵抗Ｒ1、Ｒ2の取り替え
作業を不要にして作業性を高めることができる。
【０００９】
【他の事項】上記実施例では、温度補償回路を、コンデ
ンサＣ1に感温抵抗網ＲN1を並列接続した低温補償部２
と、コンデンサＣ2に感温抵抗網ＲN2を並列接続した高
温補償部部３からなるとしたが、例えば第２図に示した
ように、コンデンサＣ4と感温抵抗網Ｒ N1 の直列岐路
（低温部用）と、コンデンサＣ5と感温抵抗網ＲN2の直
列岐路（高温部用）と、コンデンサＣ6の並列回路から
なるものでも適用できることは勿論である。また、調整
抵抗Ｒ 1 、Ｒ 2 ともに調整可能なチップ抵抗としたが、例
えば固定抵抗であったとしても取り付け後の真値を測定
できるので、これにより正確な基準抵抗値を得ることが
できる。したがって、本発明においては、調整抵抗
Ｒ1、Ｒ2を必ずしも、調整可能なチップ抵抗に限定され
ることはない。そして、チップ抵抗に代えて基板に印刷
抵抗を設けてこれを調整してもよいことは勿論である。
ンサＣ1に感温抵抗網ＲN1を並列接続した低温補償部２
と、コンデンサＣ2に感温抵抗網ＲN2を並列接続した高
温補償部部３からなるとしたが、例えば第２図に示した
ように、コンデンサＣ4と感温抵抗網Ｒ N1 の直列岐路
（低温部用）と、コンデンサＣ5と感温抵抗網ＲN2の直
列岐路（高温部用）と、コンデンサＣ6の並列回路から
なるものでも適用できることは勿論である。また、調整
抵抗Ｒ 1 、Ｒ 2 ともに調整可能なチップ抵抗としたが、例
えば固定抵抗であったとしても取り付け後の真値を測定
できるので、これにより正確な基準抵抗値を得ることが
できる。したがって、本発明においては、調整抵抗
Ｒ1、Ｒ2を必ずしも、調整可能なチップ抵抗に限定され
ることはない。そして、チップ抵抗に代えて基板に印刷
抵抗を設けてこれを調整してもよいことは勿論である。
【００１０】
【発明の効果】本発明は、感温抵抗とこれに並列に接続
した調整抵抗に直列にコンデンサを挿入したので、調整
抵抗の抵抗値を容易にして正確に測定でき、これにより
作業性を良好にする温度補償回路を提供できる。
した調整抵抗に直列にコンデンサを挿入したので、調整
抵抗の抵抗値を容易にして正確に測定でき、これにより
作業性を良好にする温度補償回路を提供できる。
【第１図】本発明の一実施例を説明する温度補償回路の
図である。
図である。
【第２図】本発明の他の実施例を説明する温度補償回路
の図である。
の図である。
【第３図】従来例を説明する温度補償発振器の回路図で
ある。
ある。
【第４図】従来例を説明する周波数温度特性図である。
１、温度補償回路、２ 低温補償部、３ 高温補償部、
４ 水晶振動子．
４ 水晶振動子．
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平４−283321（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−104672（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−207602（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H03B 5/32
Claims (1)
- 【請求項１】感温抵抗とこれに並列に接続した調整抵抗
からなる感温抵抗網にコンデンサを並列の接続して、前
記感温抵抗網の温度に対する抵抗値の変化によって端子
間の容量を変化させてなる、水晶振動子に直列に接続し
た周波数温度特性を補償する水晶発振器の温度補償回路
において、前記調整抵抗に直列にコンデンサを挿入した
ことを特徴とする温度補償回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36118692A JP3218106B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 水晶発振器の温度補償回路 |
| US08/288,571 US5537049A (en) | 1992-12-28 | 1994-08-10 | Temperature compensating circuit |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36118692A JP3218106B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 水晶発振器の温度補償回路 |
| US08/288,571 US5537049A (en) | 1992-12-28 | 1994-08-10 | Temperature compensating circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06216643A JPH06216643A (ja) | 1994-08-05 |
| JP3218106B2 true JP3218106B2 (ja) | 2001-10-15 |
Family
ID=26581215
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP36118692A Expired - Fee Related JP3218106B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 水晶発振器の温度補償回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5537049A (ja) |
| JP (1) | JP3218106B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3243100B2 (ja) * | 1994-01-12 | 2002-01-07 | キヤノン株式会社 | 温度移相回路及び座標入力装置 |
| US5952894A (en) * | 1995-11-07 | 1999-09-14 | Nec Corporation | Resonant circuit having a reactance for temperature compensation |
| US6097240A (en) * | 1998-11-25 | 2000-08-01 | Antec Corporation | Temperature controlled attenuator and method for stabilizing a temperature-dependent voltage |
| US6570461B1 (en) | 2001-11-21 | 2003-05-27 | Cts Corporation | Trim effect compensation circuit |
| JP2005315729A (ja) * | 2004-04-28 | 2005-11-10 | Advantest Corp | 直流試験装置 |
| WO2007075887A2 (en) * | 2005-12-21 | 2007-07-05 | Weiss Instruments, Inc. | Micropower voltage-independent capacitance measuring method and circuit |
| CN200990694Y (zh) * | 2006-10-27 | 2007-12-12 | 百利通电子(上海)有限公司 | 一种线性调温电路 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1060922B (de) * | 1956-06-16 | 1959-07-09 | Automatic Telephone & Elect | Kristall-Oszillator mit Temperaturkompensation |
| US3322981A (en) * | 1964-04-29 | 1967-05-30 | Gen Electric | Crystal temperature compensation |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP36118692A patent/JP3218106B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-08-10 US US08/288,571 patent/US5537049A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5537049A (en) | 1996-07-16 |
| JPH06216643A (ja) | 1994-08-05 |
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Legal Events
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