JP3212569B2 - デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子及び薄膜磁気ヘッド及びデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法 - Google Patents
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子及び薄膜磁気ヘッド及びデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法Info
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Description
下に位置する固定磁性層に反強磁性層が積層されてなる
スピンバルブ型薄膜磁気素子及びこのスピンバルブ型薄
膜磁気素子を備えた薄膜磁気ヘッド及びスピンバルブ型
薄膜磁気素子の製造方法に関するものである。
性磁気抵抗効果を示す素子を備えたAMR(Anisotropi
c Magnetoresistive)ヘッドと巨大磁気抵抗効果を示す
素子を備えたGMR(Giant Magnetoresistive)ヘッド
とがある。AMRヘッドにおいては、磁気抵抗効果を示
す素子が磁性体からなる単層構造とされている。一方、
GMRヘッドにおいては、磁気抵抗効果を示す素子が複
数の材料が積層されてなる多層構造とされている。巨大
磁気抵抗効果を生み出す構造にはいくつかの種類がある
が、比較的構造が単純で、微弱な外部磁界に対して抵抗
変化率が高いものとしてスピンバルブ型薄膜磁気素子が
ある。スピンバルブ型薄膜磁気素子には、シングルスピ
ンバルブ薄膜磁気素子とデュアルスピンバルブ型薄膜磁
気素子とがある。
薄膜素子を模式図的に示した断面図である。このスピン
バルブ型薄膜素子の上下には、ギャップ層を介してシー
ルド層が形成されており、前記スピンバルブ型薄膜素
子、ギャップ層、及びシールド層で、再生用のGMRヘ
ッドが構成されている。なお前記再生用のGMRへッド
の上に、記録用のインダクティブヘッドが積層されてい
てもよい。このGMRヘッドは、インダクティブヘッド
と共に浮上式スライダのトレーリング側端部などに設け
られて薄膜磁気ヘッドを構成し、ハードディスク等の磁
気記録媒体の記録磁界を検出するものである。なお、図
12及び図13において、磁気記録媒体の移動方向は図
示Z方向であり、磁気記録媒体からの漏れ磁界の方向は
Y方向である。
3は、フリー磁性層を中心としてその上下に非磁性導電
層、固定磁性層及び反強磁性層が1層づつ積層された、
いわゆるデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子である。
このデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子は、フリー磁
性層/非磁性導電層/固定磁性層の3層の組合せが2組
存在するために、フリー磁性層/非磁性導電層/固定磁
性層の3層の組合せが1組であるシングルスピンバルブ
薄膜磁気素子と比較して、大きな抵抗変化率が期待で
き、高密度記録に対応できるものとなっている。
ルブ型薄膜磁気素子3(以下、スピンバルブ型薄膜磁気
素子3と表記)は、図中下から下地層10、第2反強磁
性層11、第2固定磁性層12、非磁性導電層13、フ
リー磁性層14(符号15、17はCo膜、符号16は
NiFe合金膜)、非磁性導電層18、第1固定磁性層
19、第1反強磁性層20及び保護層21が順次積層さ
れてなるものである。尚、図13に示すように、下地層
10から保護層21間での積層体の両側には、バイアス
層130と導電層131が形成されている。
Co膜、NiFe合金、CoNiFe合金、CoFe合
金などで形成されている。また、第1、2反強磁性層2
0、11は、PtMn合金、XMn合金(但し、Xは、
Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種
または2種以上の元素)またはPtMnZ合金(但し、
Zは、Pd、Ir、Rh、Ru、Os、Au、Ag、C
r、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも
1種または2種以上以上の元素)のいずれかにより形成
されている。
固定磁性層12は、第1、第2反強磁性層20、11と
の界面にて交換結合による交換異方性磁界(一方向性交
換結合磁界)により磁化されており、これらの磁化方向
は、図示Y方向、すなわち記録媒体から離れる方向(ハ
イト方向)に固定されている。
30からの磁束によって磁化されて単磁区化され、その
磁化方向が図示X方向、すなわち第1、第2固定磁性層
19、12の磁化方向と交叉する方向に揃えられてい
る。フリー磁性層14がバイアス層130により単磁区
化されることにより、バルクハウゼンノイズの発生が防
止される。
ては、導電層131からフリー磁性層14、非磁性導電
層18、13及び第1、第2固定磁性層19、12に定
常電流が与えられ、Z方向に走行する磁気記録媒体から
の漏れ磁界が図示Y方向に沿って与えられると、フリー
磁性層14の磁化方向がX方向からY方向に向けて変動
する。このフリー磁性層14内での磁化方向の変動と第
1、2固定磁性層19、12の磁化方向との関係で電気
抵抗が変化し、この抵抗変化に基づく電圧変化により磁
気記録媒体からの漏れ磁界が検出される。
は、下地層10から保護層21までの各層を順次積層し
た後に磁場中アニール(熱処理)を施すことにより、第
1、第2固定磁性層19、12と第1、第2反強磁性層
20、11とのそれぞれの界面にて交換異方性磁界を発
生させて、第1、第2固定磁性層19、12の磁化方向
を同一方向(図示Y方向)に固定することにより製造さ
れる。
バルブ型薄膜磁気素子3においては、図14に示すよう
に、記録媒体からの外部磁界が印加されない状態におい
て、フリー磁性層14の磁化方向(H3)と第1、第2
固定磁性層19、12の磁化方向(H1、H2)とが直交
していることが好ましいが、第1、第2固定磁性層1
9、12から漏れた双極子磁界(H4、H5)が、図示Y
方向の反対方向からフリー磁性層14に侵入し、この双
極子磁界(H4、H5)が、H3をY方向の反対方向側に
傾けてH6としてしまうため、フリー磁性層14の磁化
方向を揃えるためのバイアスの調整が困難となり、フリ
ー磁性層14の磁化方向(H3(H6))と第1、第2固
定磁性層19、12の磁化方向(H1、H2)を直交させ
ることができなくなって、再生波形の非対称性、即ちア
シンメトリー(Asymmetry)を小さくすることができな
いという課題があった。
されたものであって、フリー磁性層の磁化方向の傾きを
防止して、アシンメトリー(Asymmetry)を小さくする
ことが可能なスピンバルブ型薄膜磁気素子及びこのスピ
ンバルブ型薄膜磁気素子を備えた薄膜磁気ヘッド及びこ
のスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法を提供するこ
とを目的とする。
めに、本発明は以下の構成を採用した。本発明のデュア
ルスピンバルブ型薄膜磁気素子は、基体上に、第2反強
磁性層、第2固定磁性層、第2非磁性導電層、フリー磁
性層、第1非磁性導電層、第1固定磁性層、第1反強磁
性層が順次積層され、かつ前記第2反強磁性層が前記第
2固定磁性層の下に直接積層されるとともに前記第1反
強磁性層が前記第2固定磁性層の上に直接積層されてな
る積層体を備えると共に、前記フリー磁性層の磁化方向
を前記固定磁性層の磁化方向に対して交叉する方向に揃
えるバイアス層と、前記フリー磁性層及び前記第1、第
2非磁性導電層並びに前記第1、第2固定磁性層に検出
電流を与える導電層とを備え、前記フリー磁性層は、非
磁性中間層と、前記非磁性中間層を挟む第1フリー磁性
層及び第2フリー磁性層とからなり、前記第1フリー磁
性層と前記第2フリー磁性層が互いに反強磁性的に結合
されて、前記第1フリー磁性層の磁化方向と前記第2フ
リー磁性層の磁化方向が互いに反平行とされ、前記第1
非磁性導電層が前記第1固定磁性層と前記第1フリー磁
性層の間に位置するとともに前記第2非磁性導電層が前
記第2固定磁性層と前記第2フリー磁性層の間に位置し
ており、前記第1、第2反強磁性層は、下記のいずれか
の組成式からなる同一組成の合金であり、前記第1固定
磁性層の磁化方向が、隣接する第1反強磁性層により一
方向に固定されるとともに、前記第2固定磁性層の磁化
方向が、隣接する第2反強磁性層により前記第1固定磁
性層の磁化方向の反平行方向に固定され、かつ、信号磁
界による前記第1フリー磁性層、第1非磁性導電層及び
第1固定磁性層の磁気抵抗変化の増減と、信号磁界によ
る前記第2フリー磁性層、第2非磁性導電層及び第2固
定磁性層の磁気抵抗変化の増減とが一致していることを
特徴とする。 ただし、前記第1、第2反強磁性層は、組
成式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、R
h、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素であ
り、組成比を示すmが52原子%≦m≦58原子%の合
金、または、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、Z
がAu、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krの
うちの少なくとも1種または2種以上の元素であり、組
成比を示すq、nが5 2原子%≦q+n≦58原子%、
0.2原子%≦n≦10原子%の合金、または、組成式
Pt q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、Ir、R
h、Ru、Osのうちの少なくとも1種または2種以上
の元素であり、組成比を示すq、jが52原子%≦q+
j≦58原子%、0.2原子%≦j≦40原子%の合金
である。
子においては、前記第1、第2反強磁性層が、組成式X
m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、Rh、R
u、Osのうちの少なくとも1種以上の元素であり、組
成比を示すmが52原子%≦m≦58原子%の合金から
なるものであっても良い。 また、前記第1、第2反強磁
性層が、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがA
u、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうち
の少なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比
を示すq、nが52原子%≦q+n≦58原子%、0.
2原子%≦n≦10原子%の合金からなるものであって
も良い。 更に前記第1、第2反強磁性層が、組成式Pt
q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、Ir、Rh、R
u、Osのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、jが52原子%≦q+j≦5
8原子%、0.2原子%≦j≦40原子%の合金からな
るものであっても良い。
式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、R
h、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素であ
り、組成比を示すmが52原子%≦m≦56.5原子%
の合金からなるものであっても良い。 また、前記第1、
第2反強磁性層が、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表さ
れ、ZがAu、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、
Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素であ
り、組成比を示すq、nが52原子%≦q+n≦56.
5原子%、0.2原子%≦n≦10原子%の合金からな
るものであっても良い。 更に、前記第1、第2反強磁性
層が、組成式Pt q Mn 100-q-j L j で表され、LがP
d、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種ま
たは2種以上の元素であり、組成比を示すq、jが52
原子%≦q+j≦56.5原子%、0.2原子%≦j≦
40原子%の合金からなるものであっても良い。
式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、R
h、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素であ
り、組成比を示すmが53.8原子%≦m≦55.2原
子%の合金からなるものであっても良い。 更に、前記第
1、第2反強磁性層が、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で
表され、ZがAu、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nが53.8原子%≦q+n
≦55.2原子%、0.2原子%≦n≦10原子%の合
金からなるものであっても良い。 そして、前記第1、第
2反強磁性層が、組成式Pt q Mn 100-q-j L j で表さ
れ、LがPd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少なく
とも1種または2種以上の元素であり、組成比を示す
q、jが53.8原子%≦q+j≦55.2原子%、
0.2原子%≦j≦40原子%の合金からなるものであ
っても良い。
膜磁気素子は、基体上に、第2反強磁性層、第2固定磁
性層、第2非磁性導電層、フリー磁性層、第1非磁性導
電層、第1固定磁性層、第1反強磁性層が順次積層さ
れ、かつ前記第2反強磁性層が前記第2固定磁性層の下
に直接積層されるとともに前記第1反強磁性層が前記第
2固定磁性層の上に直接積層されてなる積層体を備える
と共に、前記フリー磁性層の磁化方向を前記固定磁性層
の磁化方向に対して交叉する方向に揃えるバイアス層
と、前記フリー磁性層及び前記第1,第2非磁性導電層
並びに前記第1,第2固定磁性層に検出電流を与える導
電層とを備え、前記フリー磁性層は、非磁性中間層と、
前記非磁性中間層を挟む第1フリー磁性層及び第2フリ
ー磁性層とからなり、前記第1フリー磁性層と前記第2
フリー磁性層が互いに反強磁性的に結合されて、前記第
1フリー磁性層の磁化方向と前記第2フリー磁性層の磁
化方向が互いに反平行とされ、前記第1非磁性導電層が
前記第1固定磁性層と前記第1フリー磁性層の間に位置
するとともに前記第2非磁性導電層が前記第2固定磁性
層と前記第2フリー磁性層の間に位置しており、前記第
1、第2反強磁性層は、下記のいずれかの組成式からな
り、かつ相互に組成の異なる合金であり、前記第1固定
磁性層の磁化方向が、隣接する第1反強磁性層により一
方向に固定され、前記第2固定磁性層の磁化方向が、隣
接する第2反強磁性層により前記第1固定磁性層の磁化
方向の反平行方向に固定され、かつ、信号磁界による前
記第1フリー磁性層、第1非磁性導電層及び第1固定磁
性層の磁気抵抗変化の増減と、信号磁界による前記第2
フリー磁性層、第2非磁性導電層及び第2固定磁性層の
磁気抵抗変化の増減とが一致していることを特徴とする
ものであっても良い。 ただし前記第1、2反強磁性層
は、組成式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、I
r、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元
素であり、前記第1反強磁性層の組成比を示すmが52
原子%≦m≦60原子%であると共に前記第2反強磁性
層の組成比を示すmが52原子%≦m≦58原子%の合
金、または、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、Z
がAu、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krの
うちの少なくとも1種または2種以上の元素であり、前
記第1反強磁性層の組成比を示すq、nが52原子%≦
q+n≦60原子%、0. 2原子%≦n≦10原子%で
あると共に、前記第2反強磁性層の組成比を示すq、n
が48原子%≦q+n≦58原子%、0.2原子%≦n
≦10原子%の合金、または、組成式Pt q Mn 100-q-j
L j で表され、LがPd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種または2種以上の元素であり、前記
第1反強磁性層の組成比を示すq、jが52原子%≦q
+j≦60原子%、0.2原子%≦j≦40原子%であ
ると共に、前記第2反強磁性層の組成比を示すq、jが
48原子%≦q+j≦58原子%、0.2原子%≦j≦
40原子%の合金である。
子においては、前記第2反強磁性層が、組成式X m Mn
100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、Rh、Ru、
Osのうちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比
を示すmが48原子%≦m≦58原子%の合金からなる
ものであっても良い。 また、前記第2反強磁性層が、組
成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがAu、Ag、
Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくと
も1種または2種以上の元素であり、組成比を示すq、
nが48原子%≦q+n≦58原子%、0.2原子%≦
n≦10原子%の合金からなるものであっても良い。 更
に、前記第2反強磁性層が、組成式Pt q Mn 100-q-j L
j で表され、LがPd、Ir、Rh、Ru、Osのうち
の少なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比
を示すq、jが48原子%≦q+j≦58原子%、0.
2原子%≦j≦40原子%の合金からなるものであって
も良い。
Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、Rh、R
u、Osのうちの少なくとも1種以上の元素であり、組
成比を示すmが52原子%≦m≦55.2原子%の合金
からなるものであっても良い。 また、前記第2反強磁性
層が、組成式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、
Ir、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の
元素であり、組成比を示すmが56.5原子%≦m≦6
0原子%の合金からなるものであっても良い。 更に、前
記第2反強磁性層が、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表
され、ZがAu、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nが52原子%≦q+n≦5
5.2原子%、0.2原子%≦n≦10原子%の合金か
らなるものであっても良い。
q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがAu、Ag、Cr、N
i、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも1種ま
たは2種以上の元素であり、組成比を示すq、nが5
6.5原子%≦q+n≦60原子%、0.2原子%≦n
≦10原子%の合金からなるものであっても良い。 ま
た、前記第2反強磁性層が、組成式Pt q Mn 100-q-j L
j で表され、LがPd、Ir、Rh、Ru、Osのうち
の少なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比
を示すq、jが52原子%≦q+j≦55.2原子%、
0.2原子%≦j≦40原子%の合金からなるものであ
っても良い。 そして、前記第2反強磁性層が、組成式P
t q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、Ir、Rh、
Ru、Osのうちの少なくとも1種または2種以上の元
素であり、組成比を示すq、jが56.5原子%≦q+
j≦60原子%、0.2原子%≦j≦40原子%の合金
からなるものであっても良い。 次に本発明の薄膜磁気ヘ
ッドは、スライダに先のいずれかに記載のデュアルスピ
ンバルブ型薄膜磁気素子が備えられてなることを特徴と
する。
素子においては、図3に示すように、第1固定磁性層4
9の磁化方向(H p1 )が図示Y方向の反対方向に固定さ
れ、第2固定磁性層42の磁化方向(H p2 )が図示Y方
向に固定されており、H p1 とH p2 が互いに反平行とされ
てる。また、フリー磁性層44の磁化方向(H f )がバ
イアス層からの磁束により図示X方向に揃えられてい
る。 第1、第2固定磁性層49、42から漏れた双極子
磁界(H d1 、H d2 )の方向は、フリー磁性層44におい
て互いに反平行となり、これら双極子磁界(H d1 、
H d2 )がフリー磁性層44において互いに反発して、フ
リー磁性層44に侵入することがないので、フリー磁性
層44の磁化方向(H f )は、第1、第2固定磁性層4
9、42の磁化方向に影響されて傾くことがなく、フリ
ー磁性層44のバイアスの調整が容易になる。 尚、第1
固定磁性層49から漏れた双極子磁界(H d1 )は、第2
固定磁性層42に侵入し、第2固定磁性層42から漏れ
た双極子磁界(H d2 )は、第1固定磁性層49に侵入し
て、第1、第2固定磁性層49、42が互いに磁気的に
結合されるので、外部磁界による影響をほとんど受ける
ことがなく、それぞれの磁化方向が変動することがな
い。 また、第1、第2反強磁性層が、上記のいずれかの
合金からなり、大きな交換異方性磁界を発生させて第
1、第2固定磁性層49、42の磁化方向を強固に固定
でき、またこの交換異方性磁界の温度特性も良好である
ので、磁気抵抗効果の線形応答性に優れたスピンバルブ
型薄膜磁気素子を提供することが可能になる。
膜磁気素子の製造方法は、基体上に、第2反強磁性層、
第2固定磁性層、第2非磁性導電層、フリー磁性層、第
1非磁性導電層、第1固定磁性層、第1反強磁性層を順
次積層して積層体を形成し、 前記フリー磁性層は、前記
第2非磁性導電層上に位置する第2フリー磁性層と、前
記第2フリー磁性層上に位置する非磁性中間層と、前記
非磁性中間層上であって前記第1非磁性導電層の下に位
置する第1フリー磁性層とを順次積層して形成し、前記
第1、第2反強磁性層は、下記のいずれかの組成式から
なる同一組成の合金で形成し、前記積層体に第1の磁界
を印加しつつ、220℃〜250℃の第1の熱処理温度
で熱処理して、前記第1、2反強磁性層に交換異方性磁
界を発生させて前記第1、第2固定磁性層の磁化を同一
方向に固定すると共に前記第2反強磁性層の交換異方性
磁界を前記第1反強磁性層の交換異方性磁界よりも大と
し、前記第1反強磁性層の交換異方性磁界より大きく、
前記第2反強磁性層の交換異方性磁界より小さく、かつ
前記第1の磁界に対し反平行な第2の磁界を印加しつ
つ、前記第1の熱処理温度よりも高い250℃〜270
℃の第2の熱処理温度で熱処理して、前記第1固定磁性
層の磁化方向を前記第2固定磁性層の磁化方向に対し反
平行方向に固定することにより、信号磁界による前記第
1フリー磁性層、第1非磁性導電層及び第1固定磁性層
の磁気抵抗変化の増減と、信号磁界による前記第2フリ
ー磁性層、第2非磁性導電層及び第2固定磁性層の磁気
抵抗変化の増減とが一致するように構成することを特徴
とする。 ただし、前記第1、第2反強磁性層は、組成式
X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、Rh、
Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素であり、
組成比を示すmが52原子%≦m≦58原子%の合金、
または、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがA
u、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうち
の少なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比
を示すq、nが52原子%≦q+n≦58原子%、0.
2原子%≦n≦10原子%の合金、または、組成式Pt
q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、Ir、Rh、R
u、Osのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、jが52原子%≦q+j≦5
8原子%、0.2原子%≦j≦40原子%の合金であ
る。
子の製造方法においては、前記第1、第2反強磁性層
が、組成式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、I
r、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元
素であり、組成比を示すmが52原子%≦m≦58原子
%の合金からなるものであっても良い。 また、前記第
1、第2反強磁性層が、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で
表され、ZがAu、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nが52原子%≦q+n≦5
8原子%、0.2原子%≦n≦10原子%の合金からな
るものであっても良い。 更に前記第1、第2反強磁性層
が、組成式Pt q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、
Ir、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種または
2種以上の元素であり、組成比を示すq、jが52原子
%≦q+j≦58原子%、0.2原子%≦j≦40原子
%の合金からなるものであっても良い。 また、前記第
1、第2反強磁性層が、組成式X m Mn 100-m で表され、
XがPt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少な
くとも1種以上の元素であり、組成比を示すmが52原
子%≦m≦56.5原子%の合金からなるものであって
も良い。 更に、前記第1、第2反強磁性層が、組成式P
t q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがAu、Ag、Cr、
Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも1種
または2種以上の元素であり、組成比を示すq、nが5
2原子%≦q+n≦56.5原子%、0.2原子%≦n
≦10原子%の合金からなるものであっても良い。
式Pt q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、Ir、R
h、Ru、Osのうちの少なくとも1種または2種以上
の元素であり、組成比を示すq、jが52原子%≦q+
j≦56.5原子%、0.2原子%≦j≦40原子%の
合金からなるものであっても良い。 また、前記第1、第
2反強磁性層は、組成式X m Mn 100-m で表され、XがP
t、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも
1種以上の元素であり、組成比を示すmが53.8原子
%≦m≦55.2原子%の合金からなるものであっても
良い。 更に、前記第1、第2反強磁性層が、組成式Pt
q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがAu、Ag、Cr、N
i、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも1種ま
たは2種以上の元素であり、組成比を示すq、nが5
3.8原子%≦q+n≦55.2原子%、0.2原子%
≦n≦10原子%の合金からなるものであっても良い。
そして、前記第1、第2反強磁性層が、組成式Pt q M
n 100-q-j L j で表され、LがPd、Ir、Rh、Ru、
Osのうちの少なくとも1種または2種以上の元素であ
り、組成比を示すq、jが53.8原子%≦q+j≦5
5.2原子%、0.2原子%≦j≦40原子%の合金か
らなるものであっても良い。
膜磁気素子の製造方法は、基体上に、第2反強磁性層、
第2固定磁性層、第2非磁性導電層、フリー磁性層、第
1非磁性導電層、第1固定磁性層、第1反強磁性層を順
次積層して積層体を形成し、前記フリー磁性層は、前記
第2非磁性導電層上に位置する第2フリー磁性層と、前
記第2フリー磁性層上に位置する非磁性中間層と、前記
非磁性中間層上であって前記第1非磁性導電層の下に位
置する第1フリー磁性層とを順次積層して形成し、前記
第1、第2反強磁性層は、下記のいずれかの組成式から
なるとともに相互に異なる組成の合金で形成し、前記積
層体に第1の磁界を印加しつつ、220℃〜250℃の
第1の熱処理温度で熱処理して、前記第1、2反強磁性
層に交換異方性磁界を発生させて前記第1、第2固定磁
性層の磁化を同一方向に固定すると共に前記第2反強磁
性層の交換異方性磁界を前記第1反強磁性層の交換異方
性磁界よりも大とし、前記第1反強磁性層の交換異方性
磁界より大きく、前記第2反強磁性層の交換異方性磁界
より小さく、かつ前記第1の磁界に対し反平行な第2の
磁界を印加しつつ、前記第1の熱処理温度よりも高い2
50℃〜270℃の第2の熱処理温度で熱処理して、前
記第1固定磁性層の磁化方向を前記第2固定磁性層の磁
化方向に対し反平行方向に固定することにより、信号磁
界による前記第1フリー磁性層、第1非磁性導電層及び
第1固定磁性層の磁気抵抗変化の増減と、信号磁界によ
る前記第2フリー磁性層、第2非磁性導電層及び第2固
定磁性層の磁気抵抗変化の増減とが一致するように構成
することを特徴とする。 ただし前記第1、2反強磁性層
は、組成式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、I
r、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元
素であり、前記第1反強磁性層の組成比を示すmが52
原子%≦m≦60原子%であると共に前記第2反強磁性
層の組成比を示すmが52原子%≦m≦58原子%の合
金、または、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、Z
がAu、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krの
うちの少なくとも1種または2種以上の元素であり、前
記第1反強磁性層の組成比を示すq、nが52原子%≦
q+n≦60原子%、0.2原子%≦n≦10原子%で
あると共に、前記第2反強磁性層の組成比を示すq、n
が48原子%≦q+n≦58原子%、0.2原子%≦n
≦10原子%の合金 、または、組成式Pt q Mn 100-q-j
L j で表され、LがPd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種または2種以上の元素であり、前記
第1反強磁性層の組成比を示すq、jが52原子%≦q
+j≦60原子%、0.2原子%≦j≦40原子%であ
ると共に、前記第2反強磁性層の組成比を示すq、jが
48原子%≦q+j≦58原子%、0.2原子%≦j≦
40原子%の合金である。
子の製造方法においては、前記第2反強磁性層が、組成
式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、R
h、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素であ
り、組成比を示すmが48原子%≦m≦58原子%の合
金からなるものであっても良い。 また、前記第2反強磁
性層が、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがA
u、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうち
の少なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比
を示すq、nが48原子%≦q+n≦58原子%、0.
2原子%≦n≦10原子%の合金からなるものであって
も良い。 更に、前記第2反強磁性層が、組成式Pt q M
n 100-q-j L j で表され、LがPd、Ir、Rh、Ru、
Osのうちの少なくとも1種または2種以上の元素であ
り、組成比を示すq、jが48原子%≦q+j≦58原
子%、0.2原子%≦j≦40原子%の合金からなるも
のであっても良い。 更にまた、前記第2反強磁性層が、
組成式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、
Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素で
あり、組成比を示すmが52原子%≦m≦55.2原子
%の合金からなるものであっても良い。 また、前記第2
反強磁性層が、組成式X m Mn 100-m で表され、XがP
t、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも
1種以上の元素であり、組成比を示すmが56.5原子
%≦m≦60原子%の合金からなるものであっても良
い。
q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがAu、Ag、Cr、N
i、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも1種ま
たは2種以上の元素であり、組成比を示すq、nが52
原子%≦q+n≦55.2原子%、0.2原子%≦n≦
10原子%の合金からなるものであっても良い。 また、
前記第2反強磁性層が、組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で
表され、ZがAu、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nが56.5原子%≦q+n
≦60原子%、0.2原子%≦n≦10原子%の合金か
らなるものであっても良い。 更に、前記第2反強磁性層
が、組成式Pt q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、
Ir、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種または
2種以上の元素であり、組成比を示すq、jが52原子
%≦q+j≦55.2原子%、0.2原子%≦j≦40
原子%の合金からなるものであっても良い。 そして、前
記第2反強磁性層が、組成式Pt q Mn 100-q-j L j で表
され、LがPd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少な
くとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示す
q、jが56.5原子%≦q+j≦60原子%、0.2
原子%≦j≦40原子%の合金からなるものであっても
良い。
交換異方性磁界との関係を示す。図8から明らかなよう
に、フリー磁性層の下方に配置(または固定磁性層の下
方に配置)された反強磁性層(■印)の交換異方性磁界
は、200℃で既に発現し、240℃付近で600 O
eを越えており、フリー磁性層の上方に配置(または固
定磁性層の上方に配置)された反強磁性層(◆印)の交
換異方性磁界は、240℃付近で発現し、約260℃付
近においてようやく600 Oeを越えている。このよ
うに、フリー磁性層の下方に配置された反強磁性層は、
フリー磁性層の上方に配置された反強磁性層と比較し
て、比較的低い熱処理温度にて高い交換異方性磁界が得
られることがわかる。尚、図示◆印は、フリー磁性層と
保護層の間に反強磁性層を配置(または固定磁性層の上
方に反強磁性層を配置)したスピンバルブ薄膜磁気素子
を示し、図示■印は、基板とフリー磁性層の間に反強磁
性層を配置(または固定磁性層の下方に反強磁性層を配
置)したスピンバルブ薄膜磁気素子を示す。従って、◆
印のスピンバルブ薄膜磁気素子の反強磁性層は、■印の
スピンバルブ薄膜磁気素子の反強磁性層よりも、基板か
ら離れた位置に設けられていることになる。 具体的に
は、◆印で示したスピンバルブ型薄膜磁気素子は、Si
基板/Al 2 O 3 (1000)/下地層(Ta(50))
/フリー磁性層{NiFe合金(70)/Co(1
0)}/非磁性導電層(Cu(30))/固定磁性層
(Co(25))/反強磁性層(Pt 55.4 Mn 44.6 (3
00))/保護層(Ta(50))なる構成のものであ
る。 また、■印で示したスピンバルブ型薄膜磁気素子
は、Si基板/Al 2 O 3 (1000)/下地層(Ta
(30))/反強磁性層(Pt 54.4 Mn 45.6 (30
0))/固定磁性層(Co(25))/非磁性導電層
(Cu(26))/フリー磁性層{Co(10)/Ni
Fe合金(70)}/保護層(Ta(50))なる構成
のものである。尚、カッコ()内は各層の厚さを示し、
単位はオングストロームである。
素子では、第1固定磁性層及び第1反強磁性層がフリー
磁性層の上方に配置され、第2固定磁性層及び第2反強
磁性層がフリー磁性層の下方に配置されている。また、
フリー磁性層の上方に配置されていた第1固定磁性層は
第1反強磁性層の下側に配置され、フリー磁性層の下方
に配置されている第2固定磁性層は第2反強磁性層の上
方に配置されている。従って、例えば、第1の磁界を印
加しつつ第1の熱処理温度(220〜250℃)で前記
の積層体を熱処理すると、第1、第2反強磁性層に交換
異方性磁界が生じて第1、第2固定磁性層の磁化方向を
同一方向に固定すると共に、フリー磁性層の下方(固定
磁性層の下方)に配置された第2反強磁性層の交換異方
性磁界が600 Oe以上となり、フリー磁性層の上方
(固定磁性層の上方)に配置された第1反強磁性層の交
換異方性磁界は200 Oe以下となり、第2反強磁性
層の交換異方性磁界が大きくなる。特に、第1の熱処理
温度を220〜240℃とすれば、第1反強磁性層の交
換異方性磁界が100 Oe以下となり、第1、第2反
強磁性層のそれぞれの交換結合磁界の差が大きくなる。
次に、第1の磁界と逆向きの第2の磁界を印加しつつ第
2の熱処理温度(250〜270℃)で前記の積層体を
熱処理すると、第1反強磁性層の交換異方性磁界が60
0 Oe以上となり、かつ第1固定磁性層の磁化方向は
第2固定磁性層の磁化方向に対して反平行となる。この
とき、第2の磁界を、先の熱処理にて発生した第1反強
磁性層の交換異方性磁界より大きくしておけば、第1固
定磁性層の磁化方向を第2固定磁性層に対して反平行と
することが可能になる。また、第2の磁界を先の熱処理
にて発生した第2反強磁性層の交換異方性磁界より小さ
くしておけば、第2反強磁性層に第2の磁界が印加され
ても、第2反強磁性層の交換異方性磁界が劣化すること
がなく、第2固定磁性層の磁化方向を固定したままにし
て、第1、第2固定磁性層の磁化方向を互いに反平行と
することが可能となる。
参照して説明する。図1及び図2に、本発明の第1の実
施形態であるデュアルスピンバルブ型薄膜素子(以下、
この明細書において、スピンバルブ型薄膜磁気素子と表
記する)を示し、図4及び図5に、本発明のスピンバル
ブ型薄膜磁気素子を備えた薄膜磁気ヘッドを示す。本発
明のスピンバルブ型薄膜素子の上下には、ギャップ層を
介してシールド層が形成され、スピンバルブ型薄膜素
子、ギャップ層、及びシールド層で、再生用のGMRヘ
ッドh1が構成されている。なお前記再生用のGMRヘ
ッドh1に、記録用のインダクティブヘッドh2を積層
してもよい。このスピンバルブ型薄膜磁気素子を具備し
てなるGMRヘッドh1は、図4に示すように、インダ
クティブヘッドh2と共にスライダ151のトレーリン
グ側端部151dに設けられて薄膜磁気ヘッド150を
構成し、ハードディスク等の磁気記録媒体の記録磁界を
検出することが可能になっている。なお、図1及び図2
において、磁気記録媒体の移動方向は図示Z方向であ
り、磁気記録媒体からの洩れ磁界の方向はY方向であ
る。
イダ151と、スライダ151の端面151dに備えら
れたGMRヘッドh1及びインダクティブヘッドh2を
主体として構成されている。符号155は、スライダ1
51の磁気記録媒体の移動方向の上流側であるリーディ
ング側を示し、符号156は、トレーリング側を示す。
このスライダ151の媒体対向面152には、レール1
51a、151a、151bが形成され、各レール同士
間は、エアーグルーブ151c、151cとされてい
る。
スライダ151の端面151d上に形成された磁性合金
からなる下部シールド層163と、下部シールド層16
3に積層された下部ギャップ層164と、媒体対向面1
52から露出するスピンバルブ型薄膜磁気素子1と、ス
ピンバルブ型薄膜磁気素子1及び下部ギャップ層164
を覆う上部ギャップ層166と、上部ギャップ層166
を覆う上部シールド層167とから構成されている。上
部シールド層167は、インダクティブヘッドh2の下
部コア層と兼用とされている。
(上部シールド層)167と、下部コア層167に積層
されたギャップ層174と、コイル176と、コイル1
76を覆う上部絶縁層177と、ギャップ層174に接
合され、かつコイル176側にて下部コア層167に接
合される上部コア層178とから構成されている。コイ
ル176は、平面的に螺旋状となるようにパターン化さ
れている。また、コイル176のほぼ中央部分にて上部
コア層178の基端部178bが下部コア層167に磁
気的に接続されている。また、上部コア層178には、
アルミナなどからなる保護層179が積層されている。
1は、フリー磁性層を中心としてその厚さ方向両側に非
磁性導電層、固定磁性層及び反強磁性層が1層づつ積層
された、いわゆるデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子
である。このデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子は、
フリー磁性層/非磁性導電層/固定磁性層の3層の組合
せが2組存在するために、フリー磁性層/非磁性導電層
/固定磁性層の3層の組合せが1組であるシングルスピ
ンバルブ薄膜磁気素子と比較して、大きな抵抗変化率が
期待でき、高密度記録に対応できるものとなっている。
型薄膜磁気素子1は、図中下から基板30、下地層4
0、第2反強磁性層41、第2固定磁性層42、非磁性
導電層43、フリー磁性層44(符号45、47はCo
膜、符号46はNiFe合金膜)非磁性導電層48、第
1固定磁性層49、第1反強磁性層50及び保護層51
が順次積層されてなるものである。第1反強磁性層50
及び第1固定磁性層49は基板30から離れた側に位置
し、第2反強磁性層41及び第2固定磁性層42は基板
30に近い側に位置している。尚、図2に示すように、
下地層40から保護層51間での積層体の両側には、バ
イアス層130と導電層131が形成されている。
Co膜、NiFe合金、CoNiFe合金、CoFe合
金などで形成されている。また、下地層40はTaなど
の非磁性体からなり、非磁性導電層43、48はCuな
どの非磁性導電膜からなり、保護層51はTaなどの非
磁性体からなる。基板30は、図5に示すように、Al
2O3−TiC系セラミックス等からなるスライダ151
の表面に非磁性絶縁膜のAl2O3(アルミナ)からなる
下地層200が形成され、下地層200の上に下部シー
ルド層163と下部ギャップ層164が順次形成されて
なるものである。
定磁性層42は、第1、第2反強磁性層50、41に接
して形成され、磁場中熱処理を施すことにより、第1固
定磁性層49及び第2固定磁性層42と第1、第2反強
磁性層50、41との界面にて発生する交換結合による
交換異方性磁界により磁化されている。第1固定磁性層
49の磁化方向は、図示Y方向の反対方向、すなわち記
録媒体に近づく方向に固定され、第2固定磁性層42の
磁化方向は、図示Y方向、すなわち記録媒体から離れる
方向(ハイト方向)に固定されている。従って、第1、
第2固定磁性層49、42の磁化方向は、互いに反平行
とされている。
30の磁束によって磁化されて単磁区化され、その磁化
方向が図示X方向、すなわち第1、第2固定磁性層4
9、42の磁化方向と交叉する方向に揃えられている。
フリー磁性層44がバイアス層130により単磁区化さ
れることによって、バルクハウゼンノイズの発生が防が
れる。
t、Pd、Ir、Rh、Ru、Os、Au、Ag、C
r、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも
1種または2種以上の元素と、Mnとを含む合金からな
るものであり、磁場中熱処理により第1、第2固定磁性
層49、42との界面にて交換異方性磁界が発現され
て、第1、第2固定磁性層49、42をそれぞれ一定の
方向に磁化するものである。また、これらの合金からな
る第1、第2反強磁性層50、41は、耐食性に極めて
優れるという特徴を有している。
なる合金であることが好ましい。 XmMn100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、52原子%≦m≦60原子%である。また、第2反
強磁性層は、下記の組成式からなる合金であることが好
ましい。 XmMn100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、48原子%≦m≦58原子%である。
らなる合金であっても良い。 PtqMn100-q-nZn 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、52原子%≦q+n≦
60原子%、0.2原子%≦n≦10原子%である。更
に、第2反強磁性層は、下記の組成式からなる合金であ
っても良い。 PtqMn100-q-nZn 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、48原子%≦q+n≦
58原子%、0.2原子%≦n≦10原子%である。
らなる合金であっても良い。 PtqMn100-q-jLj 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、52原子%≦q+j≦60原子%、0.2
原子%≦j≦40原子%である。更に、第2反強磁性層
は、下記の組成式からなる合金であっても良い。 PtqMn100-q-jLj 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、48原子%≦q+j≦58原子%、0.2
原子%≦j≦40原子%である。
構成する合金の組成を同一とする場合には、次の〜
の組み合わせが好ましい。 即ち、第1反強磁性層及び第2反強磁性層を構成する
合金の組成比が以下の場合であることが好ましい。 XmMn100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、52原子%≦m≦58原子%である。また、上記の
第1反強磁性層及び第2反強磁性層の組成比を示すm
が、52原子%≦m≦56.5原子%であることがより
好ましく、53.8原子%≦m≦55.2原子%である
ことが最も好ましい。
層を構成する合金の組成比が以下の場合であることが好
ましい。 PtqMn100-q-nZn 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、52原子%≦q+n≦
58原子%、0.2原子%≦n≦10原子%である。ま
た、上記の第1反強磁性層及び第2反強磁性層の組成比
を示すq、nが、52原子%≦q+n≦56.5原子
%、0.2原子%≦n≦10原子%であることがより好
ましく、53.8原子%≦q+n≦55.2原子%、
0.2原子%≦n≦10原子%であることが最も好まし
い。
層を構成する合金の組成比が以下の場合であることが好
ましい。 PtqMn100-q-jLj 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、52原子%≦q+j≦58原子%、0.2
原子%≦j≦40原子%である。また、上記の第1反強
磁性層及び第2反強磁性層の組成比を示すq、jが、5
2原子%≦q+j≦56.5原子%、0.2原子%≦j
≦40原子%であることが好ましく、53.8原子%≦
q+j≦55.2原子%、0.2原子%≦j≦40原子
%であることが最も好ましい。
構成する合金の組成を異ならしめる場合には、次の〜
の組み合わせが好ましい。 即ち、第1反強磁性層が、組成式XmMn100-mで表さ
れ、Xが、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうち
の少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
が、52原子%≦m≦60原子%の合金であると共に、
第2反強磁性層が、組成式XmMn100-mで表され、X
が、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少な
くとも1種以上の元素であり、組成比を示すmが、48
原子%≦m≦58原子%の合金であることが好ましい。
また、第2反強磁性層の組成比を示すmが、52原子%
≦m≦55.2原子%または56.5原子%≦m≦60
原子%であることがより好ましい。
Mn100-q-nZnで表され、Zが、Au、Ag、Cr、N
i、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも1種ま
たは2種以上の元素であり、組成比を示すq、nが、5
2原子%≦q+n≦60原子%、0.2原子%≦n≦1
0原子%の合金であると共に、第2反強磁性層が、組成
式PtqMn100-q-nZnで表され、Zが、Au、Ag、
Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくと
も1種または2種以上の元素であり、組成比を示すq、
nが、48原子%≦q+n≦58原子%、0.2原子%
≦n≦10原子%の合金であることが好ましい。また、
第2反強磁性層の組成比を示すq、nが、52原子%≦
q+n≦55.2原子%、0.2原子%≦n≦10原子
%または56.5原子%≦q+n≦60原子%、0.2
原子%≦n≦10原子%であることがより好ましい。
Mn100-q-jLj で表され、Lが、Pd、Ir、Rh、
Ru、Osのうちの少なくとも1種または2種以上の元
素であり、組成比を示すq、jが、52原子%≦q+j
≦60原子%、0.2原子%≦j≦40原子%の合金で
あると共に、第2反強磁性層が、組成式PtqMn
100-q-jLj で表され、Lが、Pd、Ir、Rh、R
u、Osのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、jが、48原子%≦q+j≦
58原子%、0.2原子%≦j≦40原子%の合金であ
ることが好ましい。また、第2反強磁性層の組成比を示
すq、jが、52原子%≦q+j≦55.2原子%、
0.2原子%≦j≦40原子%または56.5原子%≦
q+j≦60原子%、0.2原子%≦j≦40原子%で
あることがより好ましい。
ては、図3に示すように、第1固定磁性層49の磁化方
向(Hp1)が図示Y方向の反対方向に固定され、第2固
定磁性層42の磁化方向(Hp2)が図示Y方向に固定さ
れており、Hp1とHp2が互いに反平行とされてる。ま
た、フリー磁性層44の磁化方向(Hf)がバイアス層
からの磁束により図示X方向に揃えられている。図3に
示すように、第1、第2固定磁性層49、42から漏れ
た双極子磁界(Hd1、Hd2)の方向は、フリー磁性層4
4において互いに反平行となり、これら双極子磁界(H
d1、Hd2)がフリー磁性層44において互いに反発して
フリー磁性層44に侵入することがないので、フリー磁
性層44の磁化方向(Hf)は、第1、第2固定磁性層
49、42の磁化方向に影響されて傾くことがなく、フ
リー磁性層44のバイアスの調整が容易になる。尚、第
1固定磁性層49から漏れた双極子磁界(Hd1)は、第
2固定磁性層42に侵入し、第2固定磁性層42から漏
れた双極子磁界(Hd2)は、第1固定磁性層49に侵入
して、第1、第2固定磁性層49、42が互いに磁気的
に結合されて熱的に安定するので、外部磁界による影響
をほとんど受けることがなく、それぞれの磁化方向が変
動することがない。
ては、導電層131からフリー磁性層44、非磁性導電
層48、43及び第1、第2固定磁性層49、42に定
常電流が与えられ、Z方向に走行する磁気記録媒体から
の漏れ磁界が図示Y方向に与えられると、フリー磁性層
44の磁化方向がX方向からY方向に向けて変動する。
このフリー磁性層44内での磁化方向の変動と第1、2
固定磁性層49、42の磁化方向との関係で電気抵抗が
変化し、この抵抗変化に基づく電圧変化により磁気記録
媒体からの漏れ磁界が検出される。
子の製造方法を説明する。この製造方法は、スピンバル
ブ型薄膜磁気素子における反強磁性層の位置(または固
定磁性層と反強磁性層の相対位置)によって、熱処理に
より発生する反強磁性層の交換異方性磁界の大きさが相
違することを利用してなされたものであり、1度目の熱
処理で第2固定磁性層の磁化方向を固定し、2度目の熱
処理で第1固定磁性層の磁化方向を固定しようとするも
のである。
子の製造方法は、下地層40から保護層51までの各層
を基板30上に順次積層して積層体とした後、図6に示
すように、図示Y方向から第1の磁界(Ha1)を印加し
つつ第1の熱処理温度(Ta1)で熱処理して、第1、2
反強磁性層49、42に交換異方性磁界(Hp1’、
H p2)を発生させて第1、第2固定磁性層49、42の
磁化方向を図示Y方向に固定すると共に、第2反強磁性
層42の交換異方性磁界(Hp2)を第1反強磁性層49
の交換異方性磁界(Hp1’)よりも大とする。次に、図
7に示すように、図示Y方向の反対方向である第2の磁
界(Ha2)を印加しつつ第1の熱処理温度(Ta1)より
も高い第2の熱処理温度(Ta2)で熱処理して、先に発
生した第1反強磁性層49の交換異方性磁界(Hp1’)
をHp1とし、更に第1固定磁性層49の磁化方向を図示
Y方向の反対方向に固定するというものである。
交換異方性磁界との関係を示す。図示◆印は、フリー磁
性層と保護層の間に反強磁性層を配置(または固定磁性
層の上方に反強磁性層を配置)したシングルスピンバル
ブ薄膜磁気素子を示し、図示■印は、基板とフリー磁性
層の間に反強磁性層を配置(または固定磁性層の下方に
反強磁性層を配置)したシングルスピンバルブ薄膜磁気
素子を示す。従って、◆印のシングルスピンバルブ薄膜
磁気素子の反強磁性層は、■印のシングルスピンバルブ
薄膜磁気素子の反強磁性層よりも、基板から離れた位置
に設けられていることになる。具体的には、◆印で示し
たスピンバルブ型薄膜磁気素子は、Si基板/Al2O3
(1000)/下地層(Ta(50))/フリー磁性層
{NiFe合金(70)/Co(10)}/非磁性導電
層(Cu(30))/固定磁性層(Co(25))/反
強磁性層(Pt55.4Mn44.6(300))/保護層(T
a(50))なる構成のものである。また、■印で示し
たスピンバルブ型薄膜磁気素子は、Si基板/Al2O3
(1000)/下地層(Ta(30))/反強磁性層
(Pt54.4Mn45.6(300))/固定磁性層(Co
(25))/非磁性導電層(Cu(26))/フリー磁
性層{Co(10)/NiFe合金(70)}/保護層
(Ta(50))なる構成のものである。尚、カッ
コ()内は各層の厚さを示し、単位はオングストローム
である。
(Pt 54.4 Mn 45.6 )の交換異方性磁界は、220℃を
過ぎて上昇しはじめ、240℃を越えると700 Oe
程度になって一定となる。また、◆印で示す反強磁性層
(Pt 55.4 Mn 44.6 )の交換異方性磁界は、240℃を
過ぎて上昇し、260℃を超えると600 Oeを越え
て一定となる。このように、基板に近い位置に配置(ま
たは固定磁性層の下方に配置)された反強磁性層(■
印)は、基板より離れた位置に配置(または固定磁性層
の上方に配置)された反強磁性層(◆印)と比較して、
比較的低い温度で高い交換異方性磁界が得られることが
わかる。
造方法は、上述した反強磁性層の性質を利用したもので
ある。即ち、本発明のスピンバルブ型薄膜磁気素子1に
おいては、第1固定磁性層49及び第1反強磁性層50
が基板30から離れた側に配置され、、第2固定磁性層
42及び第2反強磁性層41が基板30に近い側に配置
されている。また、基板30から離れた側に配置された
第1固定磁性層49は第1反強磁性層50の下方に配置
され、基板30に近い側に配置された第2固定磁性層2
は第2反強磁性層41の上方に配置されている。例え
ば、前記の積層体に、第1の磁界を印加しつつ第1の熱
処理温度(220〜250℃)で熱処理すると、第1、
第2反強磁性層50、41の交換異方性磁界により第
1、第2固定磁性層49、42の磁化方向が第1の磁界
の同一方向に固定されると共に、図8に示すように、基
板30に近い第2反強磁性層41の交換異方性磁界が6
00 Oe以上となり、基板30から離れた第1反強磁
性層の交換異方性磁界は200 Oe以下のままとな
り、第1反強磁性層50よりも第2反強磁性層41の交
換異方性磁界が大きくなる。次に、第1の磁界と反平行
方向の第2の磁界を印加しつつ第2の熱処理温度(25
0〜270℃)で熱処理すると、図8に示すように、第
1反強磁性層50の交換異方性磁界が600 Oe以上
となり、かつ第1固定磁性層49の磁化方向が第2固定
磁性層42の磁化方向に対して反平行に固定される。
発生した第1反強磁性層50の交換異方性磁界より大き
くしておけば、第1固定磁性層49の磁化方向を第2固
定磁性層42に対して反平行とすることが可能になる。
また、第2の磁界を先の熱処理にて発生した第2反強磁
性層41の交換異方性磁界より小さくしておけば、第2
反強磁性層41に第2の磁界が印加されても、第2反強
磁性層41の交換異方性磁界が劣化することがなく、第
2固定磁性層42の磁化方向を固定したままにして、第
1、第2固定磁性層49、42の磁化方向を互いに反平
行とすることが可能となる。
の範囲とすることが好ましく、220〜240℃の範囲
とすることがより好ましい。第1の熱処理温度が220
℃未満であると、第2反強磁性層の交換異方性磁界が2
00 Oe以下となって第2固定磁性層の磁化が高くな
らず、第2固定磁性層が2度目の熱処理により第1固定
磁性層の磁化方向と同一方向に磁化されてしまうので好
ましくなく、第1の熱処理温度が250℃を越えると、
第1反強磁性層の交換異方性磁界が大きくなって第1固
定磁性層の磁化が高くなり、第2の熱処理時に第1固定
磁性層の磁化方向を第2固定磁性層の磁化方向に対して
反平行に固定できなくなるので好ましくない。また、第
1の熱処理温度を230℃〜250℃の範囲とすれば、
第2反強磁性層の交換異方性磁界を400 Oe以上と
することができ、第2固定磁性層の磁化方向の安定性を
大きくすることができるのでより好ましい。
の範囲とすることが好ましい。第2の熱処理温度が25
0℃未満であると、第1反強磁性層の交換異方性磁界を
400 Oe以上にすることができなくなって、第1固
定磁性層の磁化を大きくすることができなくなるので好
ましくない。また、第1の熱処理にて固定した第1固定
磁性層の磁化方向を第2固定磁性層の磁化方向に対して
反平行に固定できなくなるので好ましくない。また、第
2の熱処理温度が270℃を越えても、もはや第1反強
磁性層の交換異方性磁界は一定となって増大しないの
で、熱処理温度の上昇による効果がみられないので好ま
しくない。また、270℃を越えた場合には、その他の
各々の層間における相互拡散を引き起こし、磁気抵抗効
果の低下を招くので好ましくない。
の組成と交換異方性磁界との関係を示す。図示△印及び
▲印は、フリー磁性層よりも基板から離れた位置に反強
磁性層を配置(または固定磁性層の上方に反強磁性層を
配置)したシングルスピンバルブ薄膜磁気素子を示すも
のであって、△印は270℃、▲印は245℃で熱処理
したものであり、図示●印は、基板とフリー磁性層の間
に反強磁性層を配置(または固定磁性層の下方に反強磁
性層を配置)したシングルスピンバルブ薄膜磁気素子を
示すものであって、●印は245℃で熱処理したもので
ある。具体的には、△印及び▲印で示したスピンバルブ
型薄膜磁気素子は、Si基板/Al2O3(1000)/
下地層(Ta(50))/フリー磁性層{NiFe合金
(70)/Co(10)}/非磁性導電層(Cu(3
0))/固定磁性層(Co(25))/反強磁性層(P
tmMnt(300))/保護層(Ta(50))なる構
成のものであり、●印で示したスピンバルブ型薄膜磁気
素子は、Si基板/Al2O3(1000)/下地層(T
a(30))/反強磁性層(PtmMnt(300))/
固定磁性層(Co(25))/非磁性導電層(Cu(2
6))/フリー磁性層{Co(10)/NiFe合金
(70)}/保護層(Ta(50))なる構成のもので
ある。尚、カッコ()内は各層の厚さを示し、単位はオ
ングストロームである。
をXmMn100-m(但し、Xは、Pt、Pd、Ir、R
h、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素)か
らなる合金としたときは、組成比を示すmが、52原子
%≦m≦60原子%であることが好ましい。mが52原
子%未満または60原子%以上を越えると、熱処理温度
270℃の第2の熱処理を行っても、XmMn100-mの結
晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにくくなり、
反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性交換結合
磁界(交換異方性磁界)を示さなくなるので好ましくな
い。
磁性層をXmMn100-m(但し、Xは、Pt、Pd、I
r、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元
素)からなる合金としたときは、組成比を示すmが、4
8原子%≦m≦58原子%であることが好ましい。mが
48原子%未満または58原子%以上を越えると、熱処
理温度245℃の第2の熱処理を行っても、XmMn
100-mの結晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにく
くなり、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性
交換結合磁界を示さなくなるので好ましくない。
Zn(但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、A
r、Xe、Krのうちの少なくとも1種または2種以上
の元素)としたとき、組成比を示すq、nが、52原子
%≦q+n≦60原子%、0.2原子%≦n≦10原子
%であることが好ましい。q+nが52原子%未満また
は60原子%を越えると、熱処理温度270℃の第2の
熱処理を行っても、PtqMn100-q-nZnの結晶格子が
L10型の規則格子へと規則化しにくくなり、反強磁性
特性を示さなくなる。即ち、一方向性交換結合磁界を示
さなくなるので好ましくない。また、nが0.2原子%
未満であると、元素Zの添加による一方向性交換結合磁
界の改善効果が十分に現れないので好ましくなく、nが
10原子%を越えると、一方向性交換結合磁界が低下し
てしまうので好ましくない。
Zn(但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、A
r、Xe、Krのうちの少なくとも1種または2種以上
の元素)としたとき、組成比を示すq、nが、48原子
%≦q+n≦58原子%、0.2原子%≦n≦10原子
%であることが好ましい。q+nが48原子%未満また
は58原子%を越えると、熱処理温度245℃の第2の
熱処理を行っても、PtqMn100-q-nZnの結晶格子が
L10型の規則格子へと規則化しにくくなり、反強磁性
特性を示さなくなる。即ち、一方向性交換結合磁界を示
さなくなるので好ましくない。また、nが0.2原子%
未満であると、元素Zの添加による一方向性交換結合磁
界の改善効果が十分に現れないので好ましくなく、nが
10原子%を越えると、一方向性交換結合磁界が低下し
てしまうので好ましくない。
Lj(但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種または2種以上の元素)としたと
き、組成比を示すq、jが、52原子%≦q+j≦60
原子%、0.2原子%≦j≦40原子%であることが好
ましい。q+jが52原子%未満または60原子%を越
えると、熱処理温度270℃の第2の熱処理を行って
も、PtqMn100-q-jLjの結晶格子がL10型の規則格
子へと規則化しにくくなり、反強磁性特性を示さなくな
る。即ち、一方向性交換結合磁界を示さなくなるので好
ましくない。また、jが0.2原子%未満であると、元
素Lの添加による一方向性交換結合磁界の改善効果が十
分に現れないので好ましくなく、jが40原子%を越え
ると、一方向性交換結合磁界が低下してしまうので好ま
しくない。
Lj(但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種または2種以上の元素)としたと
き、組成比を示すq、jが、48原子%≦q+j≦58
原子%、0.2原子%≦j≦40原子%であることが好
ましい。q+jが48原子%未満または58原子%を越
えると、熱処理温度245℃の第2の熱処理を行って
も、PtqMn100-q-jLjの結晶格子がL10型の規則格
子へと規則化しにくくなり、反強磁性特性を示さなくな
る。即ち、一方向性交換結合磁界を示さなくなるので好
ましくない。また、jが0.2原子%未満であると、元
素Lの添加による一方向性交換結合磁界の改善効果が十
分に現れないので好ましくなく、jが40原子%を越え
ると、一方向性交換結合磁界が低下してしまうので好ま
しくない。
磁性層及び第2反強磁性層がXmMn100-m(但し、X
は、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少な
くとも1種以上の元素)からなる合金としたとき、第1
反強磁性層及び第2反強磁性層の組成比を示すmが、5
2原子%≦m≦58原子%であることが好ましい。mが
52原子%未満であると、熱処理温度270℃の第2の
熱処理を行っても、第1反強磁性層を構成するXmMn
100-mの結晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにく
くなり、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性
交換結合磁界を示さなくなるので好ましくない。また、
mが58原子%を越えると、熱処理温度245℃の第1
の熱処理を行っても第2反強磁性層を構成するXmMn
100-mの結晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにく
くなり、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性
交換結合磁界を示さなくなるので好ましくない。
がXmMn100-mからなる合金としたとき、第1反強磁性
層及び第2反強磁性層の組成比を示すmが、52原子%
≦m≦56.5原子%であることがより好ましい。mが
52原子%未満であると、熱処理温度270℃の第2の
熱処理を行っても、第1反強磁性層を構成するXmMn
100-mの結晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにく
くなり、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性
交換結合磁界を示さなくなるので好ましくない。また、
mが56.5原子%を越えると、熱処理温度245℃の
第1の熱処理を行った場合に、第2反強磁性層による交
換異方性磁界が第1反強磁性層による交換異方性磁界大
きくなるがその差は小さく、熱処理温度270℃の第2
の熱処理の際に、第2固定磁性層が第1固定磁性層の磁
化と同一の方向に磁化されたり、第2の熱処理の際に第
1固定磁性層の磁化方向を第2固定磁性層の磁化方向の
反平行方向に固定でき難くなるので好ましくない。
がXmMn100-mからなる合金としたとき、第1反強磁性
層及び第2反強磁性層の組成比を示すmが、53.8原
子%≦m≦55.2原子%であることが最も好ましい。
mが53.8原子%未満であると、熱処理温度245℃
の第1の熱処理を行った場合に、第2反強磁性層の交換
異方性磁界が第1反強磁性層の交換異方性磁界よりも大
きくなると共にその差が大きくなり、270℃で第2の
熱処理を行っても、第1反強磁性層の交換異方性磁界が
第2反強磁性層の交換異方性磁界よりも小さいままで、
第1反強磁性層と第2反強磁性層の交換異方性磁界の大
きさが等しくならなくなるので好ましくない。また、m
が55.2原子%を越えると、熱処理温度245℃の第
1の熱処理を行った場合に、第2反強磁性層の交換異方
性磁界が第1反強磁性層の交換異方性磁界よりも大きく
なるがその差は小さく、熱処理温度270℃の第2の熱
処理の際に、第2固定磁性層が第1固定磁性層の磁化と
同一の方向に磁化されたり、第2の熱処理の際に第1固
定磁性層の磁化方向を第2固定磁性層の磁化方向の反平
行方向に固定でき難くなるので好ましくない。従って、
第1反強磁性層及び第2反強磁性層の上記組成比が5
3.8原子%≦m≦55.2原子%であれば、第1の熱
処理時に第2反強磁性層の交換異方性磁界が第1反強磁
性層の交換異方性磁界よりもより大きくなり、第2の熱
処理によって第1反強磁性層と第2反強磁性層の交換異
方性磁界の差が小さくなるので、第1、第2反強磁性層
の交換異方性磁界の大きさをほぼ等しくできるため好ま
しい。
がPtqMn100-q-nZn(但し、Zは、Au、Ag、C
r、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも
1種または2種以上の元素)からなる合金としたとき、
組成比を示すq、nが、52原子%≦q+n≦58原子
%、0.2原子%≦n≦10原子%であることが好まし
い。q+nが52原子%未満であると、熱処理温度27
0℃の第2の熱処理を行っても、PtqMn100-q-nZn
の結晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにくくな
り、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性交換
結合磁界を示さなくなるので好ましくない。また、q+
nが58原子%を越えると、熱処理温度245℃の第1
の熱処理を行っても、第2反強磁性層を構成するPtq
Mn100-q-nZnの結晶格子がL10型の規則格子へと規
則化しにくくなり、反強磁性特性を示さなくなる。即
ち、一方向性交換結合磁界を示さなくなるので好ましく
ない。また、nが0.2原子%未満であると、元素Zの
添加による一方向性交換結合磁界の改善効果が十分に現
れないので好ましくなく、nが10原子%を越えると、
一方向性交換結合磁界が低下してしまうので好ましくな
い。
がPtqMn100-q-nZnからなる合金としたとき、組成
比を示すq、nが、52原子%≦q+n≦56.5原子
%、0.2原子%≦n≦10原子%であることがより好
ましい。q+nが52原子%未満であると、熱処理温度
270℃の第2の熱処理を行っても、PtqMn100-q-n
Znの結晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにくく
なり、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性交
換結合磁界を示さなくなるので好ましくない。また、q
+nが56.5原子%を越えると、熱処理温度245℃
の第1の熱処理を行った場合に、第2反強磁性層による
交換異方性磁界が第1反強磁性層による交換異方性磁界
大きくなるがその差は小さく、熱処理温度270℃の第
2の熱処理の際に、第2固定磁性層が第1固定磁性層の
磁化と同一の方向に磁化されたり、第2の熱処理の際に
第1固定磁性層の磁化方向を第2固定磁性層の磁化方向
の反平行方向に固定でき難くなるので好ましくない。ま
た、nが0.2原子%未満であると、元素Zの添加によ
る一方向性交換結合磁界の改善効果が十分に現れないの
で好ましくなく、nが10原子%を越えると、一方向性
交換結合磁界が低下してしまうので好ましくない。
がPtqMn100-q-nZnからなる合金としたとき、組成
比を示すq、nが、53.8原子%≦q+n≦55.2
原子%、0.2原子%≦n≦10原子%であることが最
も好ましい。q+nが53.8原子%未満であると、熱
処理温度245℃の第1の熱処理を行った場合に、第2
反強磁性層の交換異方性磁界が第1反強磁性層の交換異
方性磁界よりも大きくなると共にその差が大きくなり、
続いて270℃で第2の熱処理を行っても、第1反強磁
性層の交換異方性磁界が第2反強磁性層の交換異方性磁
界よりも小さいままで、第1反強磁性層と第2反強磁性
層の交換異方性磁界の大きさが等しくならなくなるので
好ましくない。また、q+nが55.2原子%を越える
と、熱処理温度245℃の第1の熱処理を行った場合
に、第2反強磁性層の交換異方性磁界が第1反強磁性層
の交換異方性磁界よりも大きくなるがその差は小さく、
熱処理温度270℃の第2の熱処理の際に、第2固定磁
性層が第1固定磁性層の磁化と同一の方向に磁化された
り、第2の熱処理の際に第1固定磁性層の磁化方向を第
2固定磁性層の磁化方向の反平行方向に固定でき難くな
るので好ましくない。また、nが0.2原子%未満であ
ると、元素Zの添加による一方向性交換結合磁界の改善
効果が十分に現れないので好ましくなく、nが10原子
%を越えると、一方向性交換結合磁界が低下してしまう
ので好ましくない。従って、第1反強磁性層及び第2反
強磁性層の上記組成比が53.8原子%≦q+n≦5
5.2原子%であり、0.2原子%≦n≦10原子%で
あれば、第1の熱処理時に第2反強磁性層の交換異方性
磁界が第1反強磁性層の交換結合磁界よりもより大きく
なり、第2の熱処理によって第1反強磁性層と第2反強
磁性層の交換異方性磁界の差が小さくなるので、第1、
第2反強磁性層の交換異方性磁界の大きさをほぼ等しく
できるため好ましい。
がPtqMn100-q-jLj(但し、Lは、Pd、Ir、R
h、Ru、Osのうちの少なくとも1種または2種以上
の元素)からなる合金としたとき、組成比を示すq、j
が、52原子%≦q+j≦58原子%、0.2原子%≦
j≦40原子%であることが好ましい。q+jが52原
子%未満であると、熱処理温度270℃の第2の熱処理
を行っても、PtqMn100-q-jLjの結晶格子がL10型
の規則格子へと規則化しにくくなり、反強磁性特性を示
さなくなる。即ち、一方向性交換結合磁界を示さなくな
るので好ましくない。また、q+jが58原子%を越え
ると、熱処理温度245℃の第1の熱処理を行っても、
第2反強磁性層を構成するPtqMn100-q-jLjの結晶
格子がL10型の規則格子へと規則化しにくくなり、反
強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性交換結合磁
界を示さなくなるので好ましくない。また、jが0.2
原子%未満であると、元素Lの添加による一方向性交換
結合磁界の改善効果が十分に現れないので好ましくな
く、jが40原子%を越えると、一方向性交換結合磁界
が低下してしまうので好ましくない。
がPtqMn100-q-jLjからなる合金としたとき、組成
比を示すq、jが、52原子%≦q+j≦56.5原子
%、0.2原子%≦j≦40原子%であることがより好
ましい。q+jが52原子%未満であると、熱処理温度
270℃の第2の熱処理を行っても、PtqMn100-q-j
Ljの結晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにくく
なり、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性交
換結合磁界を示さなくなるので好ましくない。また、q
+jが56.5原子%を越えると、熱処理温度245℃
の第1の熱処理を行った場合に、第2反強磁性層による
交換異方性磁界が第1反強磁性層による交換異方性磁界
大きくなるがその差は小さく、熱処理温度270℃の第
2の熱処理の際に、第2固定磁性層が第1固定磁性層の
磁化と同一の方向に磁化されたり、第2の熱処理の際に
第1固定磁性層の磁化方向を第2固定磁性層の磁化方向
の反平行方向に固定でき難くなるので好ましくない。ま
た、jが0.2原子%未満であると、元素Lの添加によ
る一方向性交換結合磁界の改善効果が十分に現れないの
で好ましくなく、jが40原子%を越えると、一方向性
交換結合磁界が低下してしまうので好ましくない。
がPtqMn100-q-jLjからなる合金としたとき、組成
比を示すq、jが、53.8原子%≦q+j≦55.2
原子%、0.2原子%≦j≦40原子%であることが最
も好ましい。q+jが53.8原子%未満であると、熱
処理温度245℃の第1の熱処理を行った場合に、第2
反強磁性層の交換異方性磁界が第1反強磁性層の交換異
方性磁界よりも大きくなると共にその差が大きくなり、
続いて270℃で第2の熱処理を行っても、第1反強磁
性層の交換異方性磁界が第2反強磁性層の交換異方性磁
界よりも小さいままで、第1反強磁性層と第2反強磁性
層の交換異方性磁界の大きさが等しくならなくなるので
好ましくない。また、q+jが55.2原子%を越える
と、熱処理温度245℃の第1の熱処理を行った場合
に、第2反強磁性層の交換異方性磁界が第1反強磁性層
の交換異方性磁界よりも大きくなるがその差は小さく、
熱処理温度270℃の第2の熱処理の際に、第2固定磁
性層が第1固定磁性層の磁化と同一の方向に磁化された
り、第2の熱処理の際に第1固定磁性層の磁化方向を第
2固定磁性層の磁化方向の反平行方向に固定でき難くな
るので好ましくない。また、jが0.2原子%未満であ
ると、元素Lの添加による一方向性交換結合磁界の改善
効果が十分に現れないので好ましくなく、jが40原子
%を越えると、一方向性交換結合磁界が低下してしまう
ので好ましくない。従って、第1反強磁性層及び第2反
強磁性層の上記組成比が53.8原子%≦q+j≦5
5.2原子%であり、0.2原子%≦j≦40原子%で
あれば、第1の熱処理時に第2反強磁性層の交換異方性
磁界が第1反強磁性層の交換異方性磁界よりもより大き
くなり、第2の熱処理によって第1反強磁性層と第2反
強磁性層の交換異方性磁界の差が小さくなるので、第
1、第2反強磁性層の交換異方性磁界の大きさをほぼ等
しくできるため好ましい。
性層の組成を異ならしめ、例えば第1反強磁性層のMn
濃度を第2反強磁性層のMn濃度よりも多くすることに
より、第1の熱処理後の両者の交換異方性磁界の差をよ
り顕著にでき、第2の熱処理後に第1、第2固定磁性層
の磁化をより確実に反平行状態とすることが可能とな
る。
100-m(Xが、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osの
うちの少なくとも1種以上の元素、組成比を示すmが5
2原子%≦m≦60原子%)からなる合金とし、第2反
強磁性層を、XmMn100-m(Xが、Pt、Pd、Ir、
Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素、
組成比を示すmが、48原子%≦m≦58原子%)から
なる合金とすることが好ましい。第1反強磁性層の組成
を示すmが52原子%未満若しくは60原子%を越える
と、図9に示すように、熱処理温度270℃の第2の熱
処理を行っても、第1反強磁性層を構成するXmMn
100-mの結晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにく
くなり、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性
交換結合磁界を示さなくなるので好ましくない。また、
第2反強磁性層の組成を示すmが48原子%未満若しく
は58原子%を越えると、熱処理温度245℃の第1の
熱処理を行っても第2反強磁性層を構成するXmMn
100-mの結晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにく
くなり、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性
交換結合磁界を示さなくなるので好ましくない。
n100-m(Xが、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Os
のうちの少なくとも1種以上の元素、組成比を示すmが
52原子%≦m≦55.2原子%または56.5原子%
≦m≦60原子%)からなる合金としとすることがより
好ましい。第2反強磁性層の組成を示すmが52原子%
未満若しくは60原子%を越えると、熱処理温度270
℃の第2の熱処理を行っても第2反強磁性層を構成する
X mMn100-mの結晶格子がL10型の規則格子へと規則
化しにくくなり、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、
一方向性交換結合磁界を示さなくなるので好ましくな
い。また、第2反強磁性層の組成を示すmが55.2原
子%を越えて56.5原子%未満であると、熱処理温度
245℃の第1の熱処理を行った場合に、第2反強磁性
層による交換異方性磁界が第1反強磁性層による交換異
方性磁界大きくなるがその差は小さく、熱処理温度27
0℃の第2の熱処理の際に、第2固定磁性層が第1固定
磁性層の磁化と同一の方向に磁化されたり、第2の熱処
理の際に第1固定磁性層の磁化方向を第2固定磁性層の
磁化方向の反平行方向に固定でき難くなるので好ましく
ない。よって、第2反強磁性層の組成を示すmの範囲が
52原子%≦m≦55.2原子%または56.5原子%
≦m≦60原子%であると、第1の熱処理の際に第2反
強磁性層の交換異方性磁界を第1反強磁性層の交換異方
性磁界よりもより大きくでき、第2に熱処理の際に第2
反強磁性層の交換異方性磁界を劣化させることがなく、
第2固定磁性層の磁化方向を強固に固定したまま、第
1、第2固定磁性層の磁化方向を互いに反平行にするこ
とができる。
い別の組み合わせは、第1反強磁性層を、PtqMn
100-q-nZn(Zが、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、A
r、Xe、Krのうちの少なくとも1種または2種以上
の元素、組成比を示すq、nが、52原子%≦q+n≦
60原子%、0.2原子%≦n≦10原子%)からなる
合金とし、第2反強磁性層を、PtqMn100-q-nZ
n(Zが、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元
素、組成比を示すq、nが、48原子%≦q+n≦58
原子%、0.2原子%≦n≦10原子%)からなる合金
とすることが好ましい。第1反強磁性層の組成を示すq
+nが52原子%未満若しくは60原子%を越えると、
熱処理温度270℃の第2の熱処理を行っても、第1反
強磁性層を構成するPtqMn100-q-nZnの結晶格子が
L10型の規則格子へと規則化しにくくなり、反強磁性
特性を示さなくなる。即ち、一方向性交換結合磁界を示
さなくなるので好ましくない。また、第1反強磁性層の
組成を示すnが0.2原子%未満であると、元素Zの添
加による一方向性交換結合磁界の改善効果が十分に現れ
ないので好ましくなく、nが10原子%を越えると、一
方向性交換結合磁界が低下してしまうので好ましくな
い。また、第2反強磁性層の組成を示すq+nが48原
子%未満若しくは58原子%を越えると、熱処理温度2
45℃の第1の熱処理を行っても、第2反強磁性層を構
成するPtqMn100-q-nZnの結晶格子がL10型の規則
格子へと規則化しにくくなり、反強磁性特性を示さなく
なる。即ち、一方向性交換結合磁界を示さなくなるので
好ましくない。また、第2反強磁性層の組成を示すnが
0.2原子%未満であると、元素Zの添加による一方向
性交換結合磁界の改善効果が十分に現れないので好まし
くなく、nが10原子%を越えると、一方向性交換結合
磁界が低下してしまうので好ましくない。
Mn100-q-nZn(Zが、Au、Ag、Cr、Ni、N
e、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも1種または2
種以上の元素、組成比を示すq、nが、52原子%≦q
+n≦55.2原子%、0.2原子%≦n≦10原子%
または56.5原子%≦q+n≦60原子%、0.2原
子%≦n≦10原子%)からなる合金とすることが好ま
しい。第2反強磁性層の組成を示すq+nが52原子%
未満若しくは60原子%を越えると、熱処理温度270
℃の第2の熱処理を行っても第2反強磁性層を構成する
PtqMn100-q-nZnの結晶格子がL10型の規則格子へ
と規則化しにくくなり、反強磁性特性を示さなくなる。
即ち、一方向性交換結合磁界を示さなくなるので好まし
くない。また、第2反強磁性層の組成を示すq+nが5
5.2原子%を越えて56.5原子%未満であると、熱
処理温度245℃の第1の熱処理を行った場合に、第2
反強磁性層による交換異方性磁界が第1反強磁性層によ
る交換異方性磁界大きくなるがその差は小さく、熱処理
温度270℃の第2の熱処理の際に、第2固定磁性層が
第1固定磁性層の磁化と同一の方向に磁化されたり、第
2の熱処理の際に第1固定磁性層の磁化方向を第2固定
磁性層の磁化方向の反平行方向に固定でき難くなるので
好ましくない。また、第2反強磁性層の組成を示すnが
0.2原子%未満であると、元素Zの添加による一方向
性交換結合磁界の改善効果が十分に現れないので好まし
くなく、nが10原子%を越えると、一方向性交換結合
磁界が低下してしまうので好ましくない。よって、第2
反強磁性層の組成を示すq、nが52原子%≦m≦5
5.2原子%または56.5原子%≦m≦60原子%で
あり、0.2原子%≦n≦10原子%であると、第1の
熱処理の際に第2反強磁性層の交換異方性磁界を第1反
強磁性層の交換異方性磁界よりもより大きくでき、第2
に熱処理の際に第2反強磁性層の交換異方性磁界を劣化
させることがなく、第2固定磁性層の磁化方向を強固に
固定したまま、第1、第2固定磁性層の磁化方向を互い
に反平行にすることができる。
い他の組み合わせは、第1反強磁性層を、PtqMn
100-q-jLj(Lが、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種または2種以上の元素、組成比を示
すq、jが、52原子%≦q+j≦60原子%、0.2
原子%≦j≦40原子%)からなる合金とし、第2反強
磁性層を、PtqMn100-q-jLj(Lが、Pd、Ir、
Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種または2種以
上の元素、組成比を示すq、jが、48原子%≦q+j
≦58原子%、0.2原子%≦j≦40原子%)からな
る合金とすることが好ましい。第1反強磁性層の組成を
示すq+jが52原子%未満若しくは60原子%を越え
ると、熱処理温度270℃の第2の熱処理を行っても、
第1反強磁性層を構成するPtqMn100-q-jLjの結晶
格子がL10型の規則格子へと規則化しにくくなり、反
強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性交換結合磁
界を示さなくなるので好ましくない。また、第1反強磁
性層の組成を示すjが0.2原子%未満であると、元素
Lの添加による一方向性交換結合磁界の改善効果が十分
に現れないので好ましくなく、jが40原子%を越える
と、一方向性交換結合磁界が低下してしまうので好まし
くない。また、第2反強磁性層の組成を示すq+jが4
8原子%未満若しくは58原子%を越えると、熱処理温
度245℃の第1の熱処理を行っても、第2反強磁性層
を構成するPtqMn100-q-jLjの結晶格子がL10型の
規則格子へと規則化しにくくなり、反強磁性特性を示さ
なくなる。即ち、一方向性交換結合磁界を示さなくなる
ので好ましくない。また、第2反強磁性層の組成を示す
jが0.2原子%未満であると、元素Lの添加による一
方向性交換結合磁界の改善効果が十分に現れないので好
ましくなく、jが40原子%を越えると、一方向性交換
結合磁界が低下してしまうので好ましくない。
Mn100-q-jLj(Lが、Pd、Ir、Rh、Ru、Os
のうちの少なくとも1種または2種以上の元素、組成比
を示すq、jが、52原子%≦q+j≦55.2原子
%、0.2原子%≦j≦40原子%または56.5原子
%≦q+j≦60原子%、0.2原子%≦j≦40原子
%)からなる合金とすることが好ましい。第2反強磁性
層の組成を示すq+jが52原子%未満若しくは60原
子%を越えると、熱処理温度270℃の第2の熱処理を
行っても第2反強磁性層を構成するPtqMn100-q-jL
jの結晶格子がL10型の規則格子へと規則化しにくくな
り、反強磁性特性を示さなくなる。即ち、一方向性交換
結合磁界を示さなくなるので好ましくない。また、第2
反強磁性層の組成を示すq+jが55.2原子%を越え
て56.5原子%未満であると、熱処理温度245℃の
第1の熱処理を行った場合に、第2反強磁性層による交
換異方性磁界が第1反強磁性層による交換異方性磁界大
きくなるがその差は小さく、熱処理温度270℃の第2
の熱処理の際に、第2固定磁性層が第1固定磁性層の磁
化と同一の方向に磁化されたり、第2の熱処理の際に第
1固定磁性層の磁化方向を第2固定磁性層の磁化方向の
反平行方向に固定でき難くなるので好ましくない。ま
た、第2反強磁性層の組成を示すjが0.2原子%未満
であると、元素Lの添加による一方向性交換結合磁界の
改善効果が十分に現れないので好ましくなく、jが40
原子%を越えると、一方向性交換結合磁界が低下してし
まうので好ましくない。よって、第2反強磁性層の組成
を示すq、jが52原子%≦m≦55.2原子%または
56.5原子%≦m≦60原子%であり、0.2原子%
≦j≦40原子%であると、第1の熱処理の際に第2反
強磁性層の交換異方性磁界を第1反強磁性層の交換異方
性磁界よりもより大きくでき、第2に熱処理の際に第2
反強磁性層の交換異方性磁界を劣化させることがなく、
第2固定磁性層の磁化方向を強固に固定したまま、第
1、第2固定磁性層の磁化方向を互いに反平行にするこ
とができる。
第1、第2固定磁性層49、42から漏れた双極子磁界
(Hd1、Hd2)の方向がフリー磁性層44において互い
に反平行となるので、これら双極子磁界(Hd1、Hd2)
がフリー磁性層44において互いに反発し、フリー磁性
層44に侵入することがなく、従って、フリー磁性層4
4の磁化方向(Hf)は、第1、第2固定磁性層49、
42の磁化方向に影響されて傾くことがなく、フリー磁
性層44のバイアスの調整を容易に行うことができ、フ
リー磁性層44の磁化方向と第1、第2固定磁性層4
9、42の磁化方向を直交させることが容易になり、ス
ピンバルブ型薄膜磁気素子のアシンメトリー(Asymmetr
y)を小さくすることができる。
子磁界(Hd1)が第2固定磁性層42に侵入し、第2固
定磁性層42から漏れた双極子磁界(Hd2)が第1固定
磁性層49に侵入して、第1、第2固定磁性層49、4
2が互いに磁気的に結合されるので、外部磁界による影
響をほとんど受けることがなく、それぞれの磁化方向が
変動することがなく、スピンバルブ型薄膜磁気素子の熱
的な安定性を高めることができる。
d、Ir、Rh、Ru、Os、Au、Ag、Cr、N
i、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも1種ま
たは2種以上の元素とMnとを含む合金からなり、大き
な交換異方性磁界を発生させて第1、第2固定磁性層4
9、42の磁化方向を強固に固定でき、またこの交換異
方性磁界の温度特性も良好であるので、磁気抵抗効果の
線形応答性に優れたスピンバルブ型薄膜磁気素子を提供
することができる。
方法は、1度目の熱処理で第2固定磁性層42の磁化方
向を固定し、2度目の熱処理で第1固定磁性層49の磁
化方向を固定するので、第1、第2固定磁性層49、4
2のそれぞれの磁化方向を任意の方向に固定でき、特に
第1の磁界と第2の磁界の方向を互いに反平行とするこ
とにより、第1、第2固定磁性層の磁化方向を互いに反
平行方向とすることができる。
照して説明する。図10及び図11には、本発明の第2
の実施形態であるスピンバルブ型薄膜素子2を示す。
尚、これらの図において前述した図1及び図2記載の構
成要素と同一の構成要素には同一符号を付してその説明
を省略する。
磁性層を中心にしてその上下に非磁性導電層、固定磁性
層、及び反強磁性層が積層されたデュアルスピンバルブ
型薄膜素子であり、前記フリー磁性層が、非磁性中間層
を介して2層に分断されて形成されてなるものである。
膜磁気素子2は、下から基板30、下地層40、第2反
強磁性層41、第2固定磁性層42、非磁性導電層4
3、フリー磁性層64(符号65は第2フリー磁性層、
符号66は非磁性中間層、符号67は第1フリー磁性
層)、非磁性導電層48、第1固定磁性層49、第1反
強磁性層50及び保護層51が順次積層されてなるもの
である。尚、図11に示すように、下地層40から保護
層51間での積層体の両側には、バイアス層130と導
電層131が形成されている。また、第1フリー磁性層
67と第2フリー磁性層65の厚さは異なって形成され
ている。
Co膜、NiFe合金、CoNiFe合金、CoFe合
金などで形成されている。また、下地層40はTaなど
の非磁性体からなり、非磁性導電層43、48はCuな
どの非磁性導電膜からなり、保護層51はTaなどの非
磁性体からなる。また、第1フリー磁性層67と第2フ
リー磁性層65間に挟まれている非磁性中間層66は、
Ru、Rh、Ir、Cr、Re、Cuのうち1種あるい
は2種以上の合金で形成されていることが好ましい。
と同様に、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Os、A
u、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうち
の少なくとも1種または2種以上の元素と、Mnとを含
む合金からなるものであり、磁場中熱処理により第1、
第2固定磁性層49、42との界面にて交換異方性磁界
が発現されて、第1、第2固定磁性層49、42をそれ
ぞれ一定の方向に磁化するものである。
性層67及び第2フリー磁性層65はそれぞれ2層で形
成されている。非磁性導電層43、48に接する側に形
成された第1フリー磁性層67の層71及び第2フリー
磁性層65の層68はCo膜で形成されている。また、
非磁性中間層66を挟んで形成されている第1フリー磁
性層67の層70及び第2フリー磁性層65の層69
は、例えば、NiFe合金、CoFe合金、あるいはC
oNiFe合金などで形成されている。非磁性導電層4
3、48に接する層68、71をCo膜で形成すること
により、抵抗変化率を大きくでき、しかも非磁性導電層
43、48との拡散を防止することができる。
固定磁性層42は、第1、第2反強磁性層50、41に
接して形成され、磁場中熱処理を施すことにより、第1
固定磁性層49及び第2固定磁性層42と第1、第2反
強磁性層50、41との界面にて発生する交換結合によ
る交換異方性磁界により磁化されている。第1固定磁性
層49の磁化方向は、図示Y方向の反対方向、すなわち
記録媒体に近づく方向に固定され、第2固定磁性層42
の磁化方向は、図示Y方向、すなわち記録媒体から離れ
る方向(ハイト方向)に固定されている。従って、第
1、第2固定磁性層49、42の磁化方向は、互いに反
平行とされている。
フリー磁性層67の磁化方向がバイアス層130の磁束
によって図示X方向に固定され、第2フリー磁性層65
の磁化方向が図示X方向の反対方向に固定されている。
第2フリー磁性層65は、交換異方性磁界(RKKY相
互作用)によって第1フリー磁性層67と磁気的に結合
されて、図示X方向の反対方向に磁化された状態となっ
ている。第1フリー磁性層67及び第2フリー磁性層6
5の磁化は、フェリ状態を保ちながら、外部磁界の影響
を受けて反転自在とされてる。第1フリー磁性層67の
厚さが第2フリー磁性層65の厚さよりも大とされてい
るので、磁化の大きさと層の厚さの積で表される磁気モ
ーメントは、第1フリー磁性層の方が大きくなってい
る。従って、フリー磁性層64全体としては、第1フリ
ー磁性層67及び第2フリー磁性層65の各磁気モーメ
ントの合成モーメントの方向、即ち図示X方向に磁化が
揃えられた状態にある。
子2にあっては、第1フリー磁性層67の磁化及び第2
フリー磁性層65の磁化は共に抵抗変化率に関与する層
となっており、第1フリー磁性層67及び第2フリー磁
性層65の変動磁化と、第1、第2固定磁性層49、4
2の固定磁化との関係で電気抵抗が変化する。シングル
スピンバルブ型薄膜素子に比べ大きい抵抗変化率を期待
できるデユアルスピンバルブ型薄膜素子としての機能を
発揮させるには、第1フリー磁性層67と第1固定磁性
層49との抵抗変化及び、第2フリー磁性層65と第2
固定磁性層42との抵抗変化が、共に同じ変動を見せる
ように、第1、第2固定磁性層49、42の磁化方向を
制御する必要性がある。すなわち、第1フリー磁性層6
7と第1固定磁性層49との抵抗変化が最大になると
き、第2フリー磁性層65と第2固定磁性層42との抵
抗変化も最大になるようにし、第1フリー磁性層67と
第1固定磁性層49との抵抗変化が最小になるとき、第
2フリー磁性層65と第2固定磁性層42との抵抗変化
も最小になるようにすればよいのである。
子2においては、第1フリー磁性層67と第2フリー磁
性層65の磁化が反平行に揃えられており、第1固定磁
性層49の磁化と第2固定磁性層42の磁化とが互いに
反対方向に固定されているので、大きな抵抗変化率を得
ることが可能になる。
前述のスピンバルブ型薄膜磁気素子1とほぼ同様な製造
方法により製造することができる。即ち、図10及び図
11に示すような下地層40から保護層51を順次積層
した後、図6に示すように、図示Y方向から第1の磁界
(Ha1)を印加しつつ第1の熱処理温度(Ta1)で熱処
理して、第1、2反強磁性層49、42に交換異方性磁
界(Hp1’、Hp2)を発生させて第1、第2固定磁性層
49、42の磁化方向を図示Y方向に固定すると共に、
第2反強磁性層42の交換異方性磁界(Hp2)を第1反
強磁性層49の交換異方性磁界(Hp1’)よりも大とす
る。次に、図7に示すように、図示Y方向の反対方向で
ある第2の磁界(Ha2)を印加しつつ第1の熱処理温度
(Ta1)よりも高い第2の熱処理温度(Ta2)で熱処理
して、先に発生した第1反強磁性層49の交換異方性磁
界(Hp1’)をHp1とし、更に第1固定磁性層49の磁
化方向を図示Y方向の反対方向に固定するというもので
ある。
述のスピンバルブ型薄膜磁気素子1の効果に加えて、以
下の効果を有する。即ち上記のスピンバルブ型薄膜素子
2は、フリー磁性層64が非磁性中間層66を挟んで形
成された第1フリー磁性層67及び第2フリー磁性層6
5からなり、第1、第2フリー磁性層67、65の間に
発生する交換異方性磁界(RKKY相互作用)によって
第1、第2フリー磁性層67、65の磁化を反平行状態
(フェリ状態)とされており、第1フリー磁性層67と
第2フリー磁性層65の磁化が、外部磁界に対して感度
良く反転可能とされているので、大きな抵抗変化率を得
ることができる。
スピンバルブ型薄膜磁気素子は、第1、第2固定磁性層
の磁化方向が互いに反平行とされているので、第1、第
2固定磁性層からそれぞれ漏れた双極子磁界の方向がフ
リー磁性層において互いに反平行となり、これら双極子
磁界がフリー磁性層において互いに反発し、フリー磁性
層に侵入することがなく、従って、フリー磁性層の磁化
方向(Hf)は、第1、第2固定磁性層の磁化方向に影
響されて傾くことがなく、フリー磁性層のバイアスの調
整を容易に行うことができ、フリー磁性層の磁化方向と
第1、第2固定磁性層の磁化方向を直交させることが容
易になり、スピンバルブ型薄膜磁気素子のアシンメトリ
ー(Asymmetry)を小さくすることができる。
界が第2固定磁性層に侵入し、第2固定磁性層から漏れ
た双極子磁界が第1固定磁性層に侵入して、第1、第2
固定磁性層が互いに磁気的に結合されるので、外部磁界
による影響をほとんど受けることがなく、それぞれの磁
化方向が変動することがなく、スピンバルブ型薄膜磁気
素子の熱的な安定性を高めることができる。
d、Ir、Rh、Ru、Os、Au、Ag、Cr、N
i、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少なくとも1種ま
たは2種以上の元素とMnとを含む合金からなり、大き
な交換異方性磁界を発生させて第1、第2固定磁性層の
磁化方向を強固に固定でき、またこの交換異方性磁界の
温度特性も良好であるので、優れた磁気抵抗効果の線形
応答性を得ることができる。
第1、第2フリー磁性層の間に発生する交換異方性磁界
(RKKY相互作用)によって第1、第2フリー磁性層
の磁化を反平行状態(フェリ状態)とされたフリー磁性
層を具備してなり、第1フリー磁性層と第2フリー磁性
層の磁化を、外部磁界に対して感度良く反転可能とする
ことができるので、大きな抵抗変化率を得ることができ
る。
造方法は、1度目の熱処理で第2固定磁性層の磁化方向
を固定し、2度目の熱処理で第1固定磁性層の磁化方向
を固定するので、第1、第2固定磁性層の磁化方向が互
いの反平行方向とすることが可能になり、アシンメトリ
ー(Asymmetry)が小さいスピンバルブ型薄膜磁気素子
を製造することができる。
型薄膜磁気素子を示す断面図である。
型薄膜磁気素子を他の方向からみた断面図である。
磁性層とフリー磁性層の磁化方向を説明するための模式
図である。
型薄膜磁気素子を備えた薄膜磁気ヘッドを示す斜視図で
ある。
型薄膜磁気素子を備えた薄膜磁気ヘッドの要部を示す断
面図である。
方法を説明するための模式図である。
方法を説明するための模式図である。
合金の交換異方性磁界の熱処理温度依存性を示すグラフ
である。
濃度(m)依存性を示すグラフである。
ブ型薄膜磁気素子を示す断面図である。
ブ型薄膜磁気素子を他の方向からみた断面図である。
断面図である。
方向からみた断面図である。
磁性層とフリー磁性層の磁化方向を説明するための模式
図である。
Claims (41)
- 【請求項1】 基体上に、第2反強磁性層、第2固定磁
性層、第2非磁性導電層、フリー磁性層、第1非磁性導
電層、第1固定磁性層、第1反強磁性層が順次積層さ
れ、かつ前記第2反強磁性層が前記第2固定磁性層の下
に直接積層されるとともに前記第1反強磁性層が前記第
2固定磁性層の上に直接積層されてなる積層体を備える
と共に、前記フリー磁性層の磁化方向を前記固定磁性層
の磁化方向に対して交叉する方向に揃えるバイアス層
と、前記フリー磁性層及び前記第1、第2非磁性導電層
並びに前記第1、第2固定磁性層に検出電流を与える導
電層とを備え、前記フリー磁性層は、非磁性中間層と、前記非磁性中間
層を挟む第1フリー磁性層及び第2フリー磁性層とから
なり、前記第1フリー磁性層と前記第2フリー磁性層が
互いに反強磁性的に結合されて、前記第1フリー磁性層
の磁化方向と前記第2フリー磁性層の磁化方向が互いに
反平行とされ、 前記第1非磁性導電層が前記第1固定磁性層と前記第1
フリー磁性層の間に位置するとともに前記第2非磁性導
電層が前記第2固定磁性層と前記第2フリー磁性層の間
に位置しており、 前記第1、第2反強磁性層は、下記のいずれかの組成式
からなる同一組成の合金であり、 前記第1 固定磁性層の磁化方向が、隣接する第1反強磁
性層により一方向に固定されるとともに、前記第2固定
磁性層の磁化方向が、隣接する第2反強磁性層により前
記第1固定磁性層の磁化方向の反平行方向に固定され、
かつ、信号磁界による前記第1フリー磁性層、第1非磁
性導電層及び第1固定磁性層の磁気抵抗変化の増減と、
信号磁界による前記第2フリー磁性層、第2非磁性導電
層及び第2固定磁性層の磁気抵抗変化の増減とが一致し
ていることを特徴とするデュアルスピンバルブ型薄膜磁
気素子。 ただし、前記第1、第2反強磁性層は、 組成式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、
Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素で
あり、組成比を示すmが52原子%≦m≦58原子%の
合金、 または、 組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがAu、A
g、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少な
くとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示す
q、nが52原子%≦q+n≦58原子%、0.2原子
%≦n≦10原子%の合金、 または、 組成式Pt q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、I
r、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種または2
種以上の元素であり、組成比を示すq、jが52原子%
≦q+j≦58原子%、0.2原子%≦j≦40原子%
の合金である。 - 【請求項2】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の組
成式からなる合金であることを特徴とする請求項1記載
のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、52原子%≦m≦58原子%である。 - 【請求項3】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の組
成式からなる合金であることを特徴とする請求項1記載
のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、52原子%≦q+n≦
58原子%、0.2原子%≦n≦10原子%である。 - 【請求項4】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の組
成式からなる合金であることを特徴とする請求項1記載
のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、52原子%≦q+j≦58原子%、0.2
原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項5】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の組
成式からなる合金であることを特徴とする請求項1記載
のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、52原子%≦m≦56.5原子%である。 - 【請求項6】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の組
成式からなる合金であることを特徴とする請求項1記載
のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、52原子%≦q+n≦
56.5原子%、0.2原子%≦n≦10原子%であ
る。 - 【請求項7】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の組
成式からなる合金であることを特徴とする請求項1記載
のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、52原子%≦q+j≦56.5原子%、
0.2原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項8】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の組
成式からなる合金であることを特徴とする請求項1記載
のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、53.8原子%≦m≦55.2原子%である。 - 【請求項9】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の組
成式からなる合金であることを特徴とする請求項1記載
のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、53.8原子%≦q+
n≦55.2原子%、0.2原子%≦n≦10原子%で
ある。 - 【請求項10】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の
組成式からなる合金であることを特徴とする請求項1記
載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、53.8原子%≦q+j≦55.2原子
%、0.2原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項11】 基体上に、第2反強磁性層、第2固定
磁性層、第2非磁性導電層、フリー磁性層、第1非磁性
導電層、第1固定磁性層、第1反強磁性層が順次積層さ
れ、かつ前記第2反強磁性層が前記第2固定磁性層の下
に直接積層されるとともに前記第1反強磁性層が前記第
2固定磁性層の上に直接積層されてなる積層体を備える
と共に、前記フリー磁性層の磁化方向を前記固定磁性層
の磁化方向に対して交叉する方向に揃えるバイアス層
と、前記フリー磁性層及び前記第1,第2非磁性導電層
並びに前記第1,第2固定磁性層に検出電流を与える導
電層とを備え、 前記フリー磁性層は、非磁性中間層と、前記非磁性中間
層を挟む第1フリー磁性層及び第2フリー磁性層とから
なり、前記第1フリー磁性層と前記第2フリー磁性層が
互いに反強磁性的に結合されて、前記第1フリー磁性層
の磁化方向と前記第2フリー磁性層の磁化方向が互いに
反平行とされ、 前記第1非磁性導電層が前記第1固定磁性層と前記第1
フリー磁性層の間に位置するとともに前記第2非磁性導
電層が前記第2固定磁性層と前記第2フリー磁性層の間
に位置しており、 前記第1、第2反強磁性層は、下記のいずれかの組成式
からなり、かつ相互に組成の異なる合金であり、 前記第1固定磁性層の磁化方向が、隣接する第1反強磁
性層により一方向に固定され、前記第2固定磁性層の磁
化方向が、隣接する第2反強磁性層により前記第1固定
磁性層の磁化方向の反平行方向に固定され、かつ、信号
磁界による前記第1フリー磁性層、第1非磁性導電層及
び第1固定磁性層の磁気抵抗変化の増減と、信号磁界に
よる前記第2フリー磁性層、第2非磁性導電層及び第2
固定磁性層の磁気抵抗変化の増減とが一致していること
を特徴とするデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 た
だし前記第1、2反強磁性層は、 組成式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、
Rh、Ru、Osのう ちの少なくとも1種以上の元素で
あり、前記第1反強磁性層の組成比を示すmが52原子
%≦m≦60原子%であると共に前記第2反強磁性層の
組成比を示すmが52原子%≦m≦58原子%の合金、 または、 組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがAu、A
g、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少な
くとも1種または2種以上の元素であり、前記第1反強
磁性層の組成比を示すq、nが52原子%≦q+n≦6
0原子%、0.2原子%≦n≦10原子%であると共
に、前記第2反強磁性層の組成比を示すq、nが48原
子%≦q+n≦58原子%、0.2原子%≦n≦10原
子%の合金、 または、 組成式Pt q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、I
r、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種または2
種以上の元素であり、前記第1反強磁性層の組成比を示
すq、jが52原子%≦q+j≦60原子%、0.2原
子%≦j≦40原子%であると共に、前記第2反強磁性
層の組成比を示すq、jが48原子%≦q+j≦58原
子%、0.2原子%≦j≦40原子%の合金である。 - 【請求項12】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項11記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、48原子%≦m≦58原子%である。 - 【請求項13】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項11記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、48原子%≦q+n≦
58原子%、0.2原子%≦n≦10原子%である。 - 【請求項14】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項11記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、48原子%≦q+j≦58原子%、0.2
原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項15】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項11記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、52原子%≦m≦55.2原子%である。 - 【請求項16】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項11記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、56.5原子%≦m≦60原子%である。 - 【請求項17】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項11記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、52原子%≦q+n≦
55.2原子%、0.2原子%≦n≦10原子%であ
る。 - 【請求項18】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項11記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、56.5原子%≦q+
n≦60原子%、0.2原子%≦n≦10原子%であ
る。 - 【請求項19】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項11記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2 種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、52原子%≦q+j≦55.2原子%、
0.2原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項20】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項11記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、56.5原子%≦q+j≦60原子%、
0.2原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項21】 スライダに請求項1ないし請求項20
のいずれかに記載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素
子が備えられてなることを特徴とする薄膜磁気ヘッド。 - 【請求項22】 基体上に、第2反強磁性層、第2固定
磁性層、第2非磁性導電層、フリー磁性層、第1非磁性
導電層、第1固定磁性層、第1反強磁性層を順次積層し
て積層体を形成し、 前記フリー磁性層は、前記第2非磁性導電層上に位置す
る第2フリー磁性層と、前記第2フリー磁性層上に位置
する非磁性中間層と、前記非磁性中間層上であって前記
第1非磁性導電層の下に位置する第1フリー磁性層とを
順次積層して形成し、 前記第1、第2反強磁性層は、下記のいずれかの組成式
からなる同一組成の合金で形成し、 前記積層体に第1の磁界を印加しつつ、220℃〜25
0℃の第1の熱処理温度で熱処理して、前記第1、2反
強磁性層に交換異方性磁界を発生させて前記第1、第2
固定磁性層の磁化を同一方向に固定すると共に前記第2
反強磁性層の交換異方性磁界を前記第1反強磁性層の交
換異方性磁界よりも大とし、 前記第1反強磁性層の交換異方性磁界より大きく、前記
第2反強磁性層の交換異方性磁界より小さく、かつ前記
第1の磁界に対し反平行な第2の磁界を印加しつつ、前
記第1の熱処理温度よりも高い250℃〜270℃の第
2の熱処理温度で熱処理して、前記第1固定磁性層の磁
化方向を前記第2固定磁性層の磁化方向に対し反平行方
向に固定することにより、 信号磁界による前記第1フリー磁性層、第1非磁性導電
層及び第1固定磁性層の磁気抵抗変化の増減と、信号磁
界による前記第2フリー磁性層、第2非磁性導電層及び
第2固定磁性層の磁気抵抗変化の増減とが一致するよう
に構成することを特徴とするデュアルスピンバルブ型薄
膜磁気素子の製造方法。 ただし、前記第1、第2反強磁
性層は、 組成式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、
Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素で
あり、組成比を示すmが52原子%≦m≦58原子%の
合金、 または、 組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがAu、A
g、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少な
くとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示す
q、nが52原子%≦q+n≦58原子%、0.2原子
%≦n≦10原子%の合金、 または、 組成式Pt q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、I
r、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種または2
種以上の元素であり、組成比を示すq、jが52原子%
≦q+j≦58原子%、0.2原子%≦j≦40原子%
の合金である。 - 【請求項23】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の
組成式からなる合金であることを特徴とする請求項22
記載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方
法。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、52原子%≦m≦58原子%である。 - 【請求項24】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の
組成式からなる合金であることを特徴とする請求項22
記載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方
法。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、52原子%≦ q+n≦
58原子%、0.2原子%≦n≦10原子%である。 - 【請求項25】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の
組成式からなる合金であることを特徴とする請求項22
記載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方
法。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、52原子%≦q+j≦58原子%、0.2
原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項26】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の
組成式からなる合金であることを特徴とする請求項22
記載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方
法。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、52原子%≦m≦56.5原子%である。 - 【請求項27】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の
組成式からなる合金であることを特徴とする請求項22
記載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方
法。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、52原子%≦q+n≦
56.5原子%、0.2原子%≦n≦10原子%であ
る。 - 【請求項28】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の
組成式からなる合金であることを特徴とする請求項22
記載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方
法。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、52原子%≦q+j≦56.5原子%、
0.2原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項29】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の
組成式からなる合金 であることを特徴とする請求項22
記載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方
法。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、53.8原子%≦m≦55.2原子%である。 - 【請求項30】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の
組成式からなる合金であることを特徴とする請求項22
記載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方
法。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、53.8原子%≦q+
n≦55.2原子%、0.2原子%≦n≦10原子%で
ある。 - 【請求項31】 前記第1、第2反強磁性層が、下記の
組成式からなる合金であることを特徴とする請求項22
記載のデュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方
法。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、53.8原子%≦q+j≦55.2原子
%、0.2原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項32】 基体上に、第2反強磁性層、第2固定
磁性層、第2非磁性導電層、フリー磁性層、第1非磁性
導電層、第1固定磁性層、第1反強磁性層を順次積層し
て積層体を形成し、 前記フリー磁性層は、前記第2非磁性導電層上に位置す
る第2フリー磁性層と、前記第2フリー磁性層上に位置
する非磁性中間層と、前記非磁性中間層上であって前記
第1非磁性導電層の下に位置する第1フリー磁性層とを
順次積層して形成し、 前記第1、第2反強磁性層は、下記のいずれかの組成式
からなるとともに相互に異なる組成の合金で形成し、 前記積層体に第1の磁界を印加しつつ、220℃〜25
0℃の第1の熱処理温度で熱処理して、前記第1、2反
強磁性層に交換異方性磁界を発生させて前記第1、第2
固定磁性層の磁化を同一方向に固定すると共に前記第2
反強磁性層の交換異方性磁界を前記第1反強磁性層の交
換異方性磁界よりも大とし、 前記第1反強磁性層の交換異方性磁界より大きく、前記
第2反強磁性層の交換異方性磁界より小さく、かつ前記
第1の磁界に対し反平行な第2の磁界を印加しつつ、前
記第1の熱処理温度よりも高い250℃〜270℃の第
2の熱処理温度で熱処理して、前記第1固定磁性層の磁
化方向を前記第2固定磁性層の磁化方向に対し反平行方
向に固定することにより、 信号磁界による前記第1フリー磁性層、第1非磁性導電
層及び第1固定磁性層の磁気抵抗変化の増減と、信号磁
界による前記第2フリー磁性層、第2非磁性導電層及び
第2固定磁性層の磁気抵抗変化の増減とが一致するよう
に構成することを特徴とするデュアルスピンバルブ型薄
膜磁気素子の製造方法。 ただし前記第1、2反強磁性層
は、 組成式X m Mn 100-m で表され、XがPt、Pd、Ir、
Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種以上の元素で
あり、前記第1反強磁性層の組成比を示すmが52原子
%≦m≦60原子%であると共に前記第2反強磁性層の
組成比を示すmが52原子%≦m≦58原子%の合金、 または、 組成式Pt q Mn 100-q-n Z n で表され、ZがAu、A
g、Cr、Ni、Ne、Ar、Xe、Krのうちの少な
くとも1種または2種以上の元素であり、前記第1反強
磁性層の組成比を示すq、nが52原子%≦q+n≦6
0原子%、0.2原子%≦n≦10原子%であると共
に、前記第2反強磁性層の組成比を示すq、nが48原
子%≦q+n≦58原子%、0.2原子%≦n≦10原
子%の合金、 または、 組成式Pt q Mn 100-q-j L j で表され、LがPd、I
r、Rh、Ru、Osのうちの少なくとも1種または2
種以上の元素であり、前記第1反強磁性層の組成比を示
すq、jが52原子%≦q+j≦60原子%、0.2原
子%≦j≦40原子%であると共に、前記第2反強磁性
層の組成比を示すq、jが48原子%≦q +j≦58原
子%、0.2原子%≦j≦40原子%の合金である。 - 【請求項33】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項32記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、48原子%≦m≦58原子%である。 - 【請求項34】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項32記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、48原子%≦q+n≦
58原子%、0.2原子%≦n≦10原子%である。 - 【請求項35】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項32記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、48原子%≦q+j≦58原子%、0.2
原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項36】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項32記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、52原子%≦m≦55.2原子%である。 - 【請求項37】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項32記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造 方法。 X m Mn 100-m 但し、Xは、Pt、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのう
ちの少なくとも1種以上の元素であり、組成比を示すm
は、56.5原子%≦m≦60原子%である。 - 【請求項38】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項32記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、52原子%≦q+n≦
55.2原子%、0.2原子%≦n≦10原子%であ
る。 - 【請求項39】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項32記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法。 Pt q Mn 100-q-n Z n 但し、Zは、Au、Ag、Cr、Ni、Ne、Ar、X
e、Krのうちの少なくとも1種または2種以上の元素
であり、組成比を示すq、nは、56.5原子%≦q+
n≦60原子%、0.2原子%≦n≦10原子%であ
る。 - 【請求項40】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項32記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
すq、jは、52原子%≦q+j≦55.2原子%、
0.2原子%≦j≦40原子%である。 - 【請求項41】 前記第2反強磁性層が、下記の組成式
からなる合金であることを特徴とする請求項32記載の
デュアルスピンバルブ型薄膜磁気素子の製造方法。 Pt q Mn 100-q-j L j 但し、Lは、Pd、Ir、Rh、Ru、Osのうちの少
なくとも1種または2種以上の元素であり、組成比を示
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