JP3211625B2 - ディジタル−アナログ変換部内蔵回路装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル情報データ
にディジタル−アナログ変換（Ｄ／Ａ変換）を施してア
ナログ情報信号を得るディジタル−アナログ変換部（Ｄ
／Ａ変換部）を複数個内蔵し、それらのＤ／Ａ変換部に
ついてのクロストークテストを行うことができるＤ／Ａ
変換部内蔵回路装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】各々がディジタル情報データにＤ／Ａ変
換を施してアナログ情報信号を得るものとされる複数個
のＤ／Ａ変換部が設けられた回路装置においては、複数
個のＤ／Ａ変換部に関するクロストークの程度が問題視
される。ここで言う複数個のＤ／Ａ変換部に関するクロ
ストークとは、個々のＤ／Ａ変換部において処理される
データが他のＤ／Ａ変換部に及ぼす不所望な影響を意味
する。

【０００３】複数個のＤ／Ａ変換部が設けられた回路装
置としては、例えば、ディジタル映像信号データを構成
するディジタル原色色信号データにディジタル処理を施
して、ディジタル輝度信号データとディジタル搬送色信
号データとを形成し、ディジタル輝度信号データ及びデ
ィジタル搬送色信号データに夫々個別のＤ／Ａ変換部に
よるＤ／Ａ変換を施して、アナログ輝度信号及びアナロ
グ搬送色信号を得るものとされるディジタル映像信号エ
ンコーダ装置が挙げられる。そして、このようなディジ
タル映像信号エンコーダ装置等の複数個のＤ／Ａ変換部
が設けられた回路装置において、複数個のＤ／Ａ変換部
に関するクロストークの程度が比較的大である場合に
は、その影響を受けるＤ／Ａ変換部から適正なアナログ
出力、例えば、アナログ輝度信号あるいはアナログ搬送
色信号が得られなくなってしまう虞がある。

【０００４】そこで、上述のディジタル映像信号エンコ
ーダ装置等にあっては、複数個のＤ／Ａ変換部に関する
クロストークを測定するクロストークテストが行われる
ようにされることが提案されている。このような複数個
のＤ／Ａ変換部についてのクロストークテストは、例え
ば、複数個のＤ／Ａ変換部のうちの一つに、一定のアナ
ログ信号レベルに対応するものとされた特定のテスト用
ディジタルデータを供給するとともに、複数個のＤ／Ａ
変換部のうちの他のものに、アナログ正弦波信号に対応
するディジタル正弦波信号データを供給し、そのもと
で、特定のテスト用ディジタルデータが供給される一つ
のＤ／Ａ変換部からのアナログ出力の信号レベルを検出
し、その検出結果から特定のテスト用ディジタルデータ
が供給される一つのＤ／Ａ変換部が受けるクロストーク
の程度を判定するようにして行われる。斯かる際、特定
のテスト用ディジタルデータが供給される一つのＤ／Ａ
変換部が受けるクロストークの程度は、そのＤ／Ａ変換
部からのアナログ出力の信号レベル変動として現れるこ
とになる。

【０００５】図２は、従来のディジタル映像信号エンコ
ーダ装置であって、それに内蔵された複数のＤ／Ａ変換
部についてのクロストークテストを行えるものの例を示
す。この図２に示される従来のディジタル映像信号エン
コーダ装置１０は、外部入力端子１１，１２，１３，１
４，１５及び１６を備えたデータ選択・マトリックス部
１７が設けられている。

【０００６】ディジタル映像信号エンコーダ装置１０
が、本来の動作状態（通常動作状態）におかれるもとに
あっては、データ選択・マトリックス部１７に、外部入
力端子１１，１２及び１３を通じて外部からのディジタ
ル原色信号データであるディジタル赤色信号データＤ
Ｒ，ディジタル緑色信号データＤＧ及びディジタル青色
信号データＤＢが、夫々供給される。そして、データ選
択・マトリックス部１７から、ディジタル赤色信号デー
タＤＲ，ディジタル緑色信号データＤＧ及びディジタル
青色信号データＤＢに基づいて形成されるディジタル輝
度信号データＤＹ，ディジタル赤色色差信号データＤ
（Ｒ−Ｙ）及びディジタル青色色差信号データＤ（Ｂ−
Ｙ）が得られる。

【０００７】ディジタル輝度信号データＤＹは、遅延部
１８において所定の時間の遅延処理が施されて、Ｄ／Ａ
変換部１９に供給される。また、ディジタル赤色色差信
号データＤ（Ｒ−Ｙ）が、その周波数帯域に対応する通
過帯域特性を有した低域通過フィルタ（ＬＰＦ）２０を
通じて、乗算部２１に供給され、さらに、ディジタル青
色色差信号データＤ（Ｂ−Ｙ）は、その周波数帯域に対
応する通過帯域特性を有したＬＰＦ２２を通じて、乗算
部２３に供給される。

【０００８】乗算部２１及び２３には、変調軸データ形
成部２４から送出されるディジタル赤色色差信号用変調
軸データＤＲＲ及びディジタル青色色差信号用変調軸デ
ータＤＲＢが夫々供給される。変調軸データ形成部２４
は、アナログ正弦波信号に対応するディジタル正弦波信
号データＤＳＩＮが格納された正弦波データリードオン
リーメモリ（正弦波データＲＯＭ）２５及びアナログ余
弦波信号に対応するディジタル余弦波信号データＤＣＯ
Ｓが格納された余弦波データリードオンリーメモリ（余
弦波データＲＯＭ）２６に、読出制御信号ＲＳ及びＲＣ
を夫々適宜供給して、正弦波データＲＯＭ２５からディ
ジタル正弦波信号データＤＳＩＮを読み出して取り込む
とともに、余弦波データＲＯＭ２６からディジタル余弦
波信号データＤＣＯＳを読み出して取り込む。そして、
変調軸データ形成部２４は、正弦波データＲＯＭ２５及
び余弦波データＲＯＭ２６から夫々取り込んだディジタ
ル正弦波信号データＤＳＩＮ及びディジタル余弦波信号
データＤＣＯＳに基づいて、周波数が同一であって位相
が９０度だけ相違する一対のアナログ変調軸信号であ
る、アナログ赤色色差信号用変調軸信号及びアナログ青
色色差信号用変調軸信号に夫々対応するディジタル赤色
色差信号用変調軸データＤＲＲ及びディジタル青色色差
信号用変調軸データＤＲＢを送出する。

【０００９】ディジタル赤色色差信号用変調軸データＤ
ＲＲが供給される乗算部２１にあっては、ＬＰＦ２０か
らのディジタル赤色色差信号データＤ（Ｒ−Ｙ）とディ
ジタル赤色色差信号用変調軸データＤＲＲとの乗算が行
われて、ディジタル搬送赤色色差信号データＤＲＣが得
られ、また、ディジタル青色色差信号用変調軸データＤ
ＲＢが供給される乗算部２３にあっては、ＬＰＦ２２か
らのディジタル青色色差信号データＤ（Ｂ−Ｙ）とディ
ジタル青色色差信号用変調軸データＤＲＢとの乗算が行
われて、ディジタル搬送青色色差信号データＤＢＣが得
られる。そして、乗算部２１からのディジタル搬送赤色
色差信号データＤＲＣがＤ／Ａ変換部２７に、及び、乗
算部２３からのディジタル搬送青色色差信号データＤＢ
ＣがＤ／Ａ変換部２８に夫々供給される。

【００１０】Ｄ／Ａ変換部１９においては、ディジタル
輝度信号データＤＹについてのＤ／Ａ変換が行われて、
アナログ輝度信号Ｙが得られ、そのアナログ輝度信号Ｙ
が出力端子３０に導出される。また、Ｄ／Ａ変換部２７
においては、ディジタル搬送赤色色差信号データＤＲＣ
についてのＤ／Ａ変換が行われて、アナログ搬送赤色色
差信号Ｃ（Ｒ−Ｙ）が得られ、そのアナログ搬送赤色色
差信号Ｃ（Ｒ−Ｙ）が出力端子３１に導出される。さら
に、Ｄ／Ａ変換部２８においては、ディジタル搬送青色
色差信号データＤＢＣについてのＤ／Ａ変換が行われ
て、アナログ搬送青色色差信号Ｃ（Ｂ−Ｙ）が得られ、
そのアナログ搬送青色色差信号Ｃ（Ｂ−Ｙ）が出力端子
３２に導出される。

【００１１】このようなもとで、Ｄ／Ａ変換部１９，２
７及び２８に関するクロストークが生じる虞があるが、
その際、Ｄ／Ａ変換部１９，２７及び２８における相互
配置関係から、例えば、Ｄ／Ａ変換部１９，２７及び２
８のうちのＤ／Ａ変換部２７が、他のＤ／Ａ変換部から
のクロストークの影響が最も大であるものとされる。

【００１２】そして、ディジタル映像信号エンコーダ装
置１０に内蔵された複数のＤ／Ａ変換部、即ち、Ｄ／Ａ
変換部１９，２７及び２８についてのクロストークテス
トが行われるときには、データ選択・マトリックス部１
７に、外部入力端子１４を通じてテスト用データ発生部
３３からのテスト用ディジタルデータＤＳが，外部入力
端子１５を通じてテスト用データ発生部３４からのテス
ト用ディジタルデータＤＨが、及び、外部入力端子１６
を通じてテスト用データ発生部３５からのテスト用ディ
ジタルデータＤＳが、夫々、供給される。

【００１３】テスト用データ発生部３３及びテスト用デ
ータ発生部３５の夫々からのテスト用ディジタルデータ
ＤＳは、アナログ正弦波信号に対応するディジタル正弦
波信号データとされ、また、テスト用データ発生部３４
からのテスト用ディジタルデータＤＨは、一定のアナロ
グ信号レベルに対応するものとされた、例えば、“１”
をあらわすビットのみから成る複数ビット構成のディジ
タルオールハイデータとされる。

【００１４】データ選択・マトリックス部１７は、外部
入力端子１４からテスト用ディジタルデータＤＳが，外
部入力端子１５からテスト用ディジタルデータＤＨが、
そして、外部入力端子１６からテスト用ディジタルデー
タＤＳが、夫々、供給されるときには、外部入力端子１
４からのテスト用ディジタルデータＤＳ，外部入力端子
１５からのテスト用ディジタルデータＤＨ、及び、外部
入力端子１６からのテスト用ディジタルデータＤＳをそ
のまま送出するデータ選択動作を行う。

【００１５】データ選択・マトリックス部１７から送出
されるテスト用ディジタルデータＤＳ，ＤＨ及びＤＳ
は、Ｄ／Ａ変換部１９，２７及び２８の各々の入力端か
ら導出された端子３７，３８及び３９を通じて、夫々、
Ｄ／Ａ変換部１９，２７及び２８に供給される。それに
より、Ｄ／Ａ変換部１９及び２８の夫々においては、デ
ィジタル正弦波信号データとされたテスト用ディジタル
データＤＳについてのＤ／Ａ変換が行われて、アナログ
正弦波信号Ｓが得られ、そのアナログ正弦波信号Ｓが出
力端子３０及び３２に導出される。また、Ｄ／Ａ変換部
２７においてはディジタルオールハイデータとされたテ
スト用ディジタルデータＤＨについてのＤ／Ａ変換が行
われて、一定であるべきレベルを有するアナログ出力信
号Ｈが得られ、そのアナログ出力信号Ｈが出力端子３１
に導出される。

【００１６】斯かるもとで、Ｄ／Ａ変換部１９及び２８
の夫々からのクロストークの影響を受けるＤ／Ａ変換部
２７にあっては、一定であるべきレベルを有するアナロ
グ出力信号Ｈが、Ｄ／Ａ変換部１９及び２８の夫々から
のクロストークの影響に応じたレベル変動を生じたもの
とされる。このような、Ｄ／Ａ変換部２７からのアナロ
グ出力信号Ｈにおけるレベル変動は、図２において一点
鎖線により示される如くに、Ｄ／Ａ変換部１９，２７及
び２８についてのクロストークテストが行われるとき出
力端子３１に接続されるレベル検出・判定部４０により
検出される。

【００１７】レベル検出・判定部４０においては、Ｄ／
Ａ変換部２７からのアナログ出力信号Ｈにおける、Ｄ／
Ａ変換部１９及び２８の夫々からのクロストークの影響
に応じたレベル変動が検出されるとともに、検出結果に
基づいて、Ｄ／Ａ変換部２７に及ぼされたＤ／Ａ変換部
１９及び２８の夫々からのクロストークの程度が判定さ
れる。そして、レベル検出・判定部４０から、クロスト
ークの程度についての判定の結果をあらわす出力信号Ｓ
ＣＴが送出される。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】上述の如くにして、内
蔵された複数のＤ／Ａ変換部、即ち、Ｄ／Ａ変換部１
９，２７及び２８についてのクロストークテストが行わ
れる従来のディジタル映像信号エンコーダ装置１０にあ
っては、クロストークテストのため、その外部に、ディ
ジタル正弦波信号データとされるテスト用ディジタルデ
ータを供給する２個のテスト用データ発生部と、例え
ば、ディジタルオールハイデータとされる特定のテスト
用ディジタルデータを供給するテスト用データ発生部と
が備えられることが必要とされる。このように、ディジ
タル映像信号エンコーダ装置１０の外部における複数種
のテスト用データ発生部の配備が必要とされることは、
ディジタル映像信号エンコーダ装置１０におけるクロス
トークテストの実施に関わるコストが嵩むことになって
しまい、また、ディジタル映像信号エンコーダ装置１０
に複数種のテスト用データ発生部を連結するための作業
が要されることになる。

【００１９】斯かる点に鑑み、本発明は、ディジタル情
報データにＤ／Ａ変換を施してアナログ情報信号を得る
Ｄ／Ａ変換部を複数個内蔵するもとにおいて、複数個の
Ｄ／Ａ変換部についてのクロストークテストを、外部に
テスト用データ発生部が配備されることを必要とするこ
となく、確実に行うことができるものとされるＤ／Ａ変
換部内蔵回路装置を提供することを目的とする。

【００２０】

【課題を解決するための手段】上述の目的を達成すべ
く、本発明に係るＤ／Ａ変換部内蔵回路装置は、アナロ
グ正弦波信号に対応するディジタル正弦波信号データが
格納された正弦波データメモリ部と、正弦波データメモ
リ部から読み出したディジタル正弦波信号データを用い
てディジタル情報信号データについての処理を行う情報
信号データ処理部と、情報信号データ処理部から得られ
るディジタル出力データについてのＤ／Ａ変換を行って
アナログ情報信号を得るＤ／Ａ変換部を含む複数のＤ／
Ａ変換部と、複数のＤ／Ａ変換部に対するテストが行わ
れるとき、特定のテスト用ディジタルデータを上記複数
のＤ／Ａ変換部のうちの一つに供給するデータ供給部
と、複数のＤ／Ａ変換部に対するテストが行われると
き、正弦波データメモリ部からディジタル正弦波信号デ
ータを読み出して、複数のＤ／Ａ変換部のうちの上述の
一つ以外のものの夫々にテスト用データとして供給する
正弦波信号データ供給部とを備えて構成される。

【００２１】

【作用】上述の如くの本発明に係るＤ／Ａ変換部内蔵回
路装置にあっては、内蔵される複数のＤ／Ａ変換部につ
いてのクロストークテストが行われる状態がとられる。
そして、複数のＤ／Ａ変換部についてのクロストークテ
ストが行われるときには、データ供給部が、例えば、一
定のアナログ信号レベルに対応して“１”をあらわすビ
ットのみから成る複数ビット構成のディジタルオールハ
イデータとされる、特定のテスト用ディジタルデータを
複数のＤ／Ａ変換部のうちの一つに供給するとともに、
正弦波信号データ供給部が、正弦波データメモリ部から
ディジタル正弦波信号データを読み出し、そのディジタ
ル正弦波信号データを複数のＤ／Ａ変換部のうちの上述
の一つ以外のものの夫々にテスト用データとして供給す
る。

【００２２】それにより、複数のＤ／Ａ変換部について
のクロストークテストの結果が、特定のテスト用ディジ
タルデータが供給される一つのＤ／Ａ変換部から得られ
るアナログ出力に基づいて得られることになり、斯かる
複数のＤ／Ａ変換部についてのクロストークテストは、
外部にテスト用データ発生部が配備されることを必要と
することなく、確実に行われる。

【００２３】

【実施例】図１は、本発明に係るＤ／Ａ変換部内蔵回路
装置の一例を示し、この例は、ディジタル映像信号デー
タを構成するディジタル原色色信号データにディジタル
処理を施して、ディジタル輝度信号データとディジタル
搬送色信号データとを形成し、それらのディジタル輝度
信号データ及びディジタル搬送色信号データに夫々個別
のＤ／Ａ変換部によるＤ／Ａ変換を施して、アナログ輝
度信号及びアナログ搬送色信号を得るディジタル映像信
号エンコーダ装置を形成している。

【００２４】図１に示される例にあっては、外部入力端
子５１，５２及び５３を備えたマトリックス部５４が設
けられている。この図１に示される例が、その本来の動
作状態（通常動作状態）におかれるもとにあっては、マ
トリックス部５４に、外部入力端子５１，５２及び５３
を通じて外部からのディジタル原色信号データであるデ
ィジタル赤色信号データＤＲ，ディジタル緑色信号デー
タＤＧ及びディジタル青色信号データＤＢが、夫々供給
される。そして、マトリックス部５４から、ディジタル
赤色信号データＤＲ，ディジタル緑色信号データＤＧ及
びディジタル青色信号データＤＢに基づいて形成される
ディジタル輝度信号データＤＹ，ディジタル赤色色差信
号データＤ（Ｒ−Ｙ）及びディジタル青色色差信号デー
タＤ（Ｂ−Ｙ）が得られる。

【００２５】ディジタル輝度信号データＤＹは、遅延部
５５において所定の時間の遅延処理が施されて、Ｄ／Ａ
変換部５６に供給される。また、ディジタル赤色色差信
号データＤ（Ｒ−Ｙ）が、その周波数帯域に対応する通
過帯域特性を有したＬＰＦ５７を通じて、乗算部５８に
供給され、さらに、ディジタル青色色差信号データＤ
（Ｂ−Ｙ）は、その周波数帯域に対応する通過帯域特性
を有したＬＰＦ５９を通じて、乗算部６０に供給され
る。

【００２６】乗算部５８及び６０には、変調軸データ形
成部６１から送出されるディジタル赤色色差信号用変調
軸データＤＲＲ及びディジタル青色色差信号用変調軸デ
ータＤＲＢが夫々供給される。変調軸データ形成部６１
は、アナログ正弦波信号に対応するディジタル正弦波信
号データＤＳＩＮが格納された正弦波データＲＯＭ６２
及びアナログ余弦波信号に対応するディジタル余弦波信
号データＤＣＯＳが格納された余弦波データＲＯＭ６３
に、読出制御信号ＲＳ及びＲＣを夫々適宜供給して、正
弦波データＲＯＭ６２からディジタル正弦波信号データ
ＤＳＩＮを読み出して取り込むとともに、余弦波データ
ＲＯＭ６３からディジタル余弦波信号データＤＣＯＳを
読み出して取り込む。そして、変調軸データ形成部６１
は、正弦波データＲＯＭ６２及び余弦波データＲＯＭ６
３から夫々取り込んだディジタル正弦波信号データＤＳ
ＩＮ及びディジタル余弦波信号データＤＣＯＳに基づい
て、周波数が同一であって位相が９０度だけ相違する一
対のアナログ変調軸信号である、アナログ赤色色差信号
用変調軸信号及びアナログ青色色差信号用変調軸信号に
夫々対応するディジタル赤色色差信号用変調軸データＤ
ＲＲ及びディジタル青色色差信号用変調軸データＤＲＢ
を送出する。

【００２７】ディジタル赤色色差信号用変調軸データＤ
ＲＲが供給される乗算部５８にあっては、ＬＰＦ５７か
らのディジタル赤色色差信号データＤ（Ｒ−Ｙ）とディ
ジタル赤色色差信号用変調軸データＤＲＲとの乗算処理
が行われて、ディジタル搬送赤色色差信号データＤＲＣ
が得られ、また、ディジタル青色色差信号用変調軸デー
タＤＲＢが供給される乗算部６０にあっては、ＬＰＦ５
９からのディジタル青色色差信号データＤ（Ｂ−Ｙ）と
ディジタル青色色差信号用変調軸データＤＲＢとの乗算
処理が行われて、ディジタル搬送青色色差信号データＤ
ＢＣが得られる。そして、乗算部５８からのディジタル
搬送赤色色差信号データＤＲＣがＤ／Ａ変換部６４に、
及び、乗算部６０からのディジタル搬送青色色差信号デ
ータＤＢＣがＤ／Ａ変換部６５に夫々供給される。即
ち、乗算部５８及び６０、及び、変調軸データ形成部６
１は、正弦波データＲＯＭ６２から読み出したディジタ
ル正弦波信号データＤＳＩＮ及び余弦波データＲＯＭ６
３から読み出したディジタル余弦波信号データＤＣＯＳ
を用いて、ディジタル赤色色差信号データＤ（Ｒ−Ｙ）
及びディジタル青色色差信号データＤ（Ｂ−Ｙ）につい
ての処理を行う情報信号データ処理部を形成しているの
である。

【００２８】Ｄ／Ａ変換部５６においては、ディジタル
輝度信号データＤＹについてのＤ／Ａ変換が行われて、
アナログ輝度信号Ｙが得られ、そのアナログ輝度信号Ｙ
が出力端子６６に導出される。また、Ｄ／Ａ変換部６４
においては、ディジタル搬送赤色色差信号データＤＲＣ
についてのＤ／Ａ変換が行われて、アナログ搬送赤色色
差信号Ｃ（Ｒ−Ｙ）が得られ、そのアナログ搬送赤色色
差信号Ｃ（Ｒ−Ｙ）が出力端子６７に導出される。さら
に、Ｄ／Ａ変換部６５においては、ディジタル搬送青色
色差信号データＤＢＣについてのＤ／Ａ変換が行われ
て、アナログ搬送青色色差信号Ｃ（Ｂ−Ｙ）が得られ、
そのアナログ搬送青色色差信号Ｃ（Ｂ−Ｙ）が出力端子
６８に導出される。

【００２９】このようなもとで、Ｄ／Ａ変換部５６，６
４及び６５に関するクロストークが生じる虞があるが、
その際、Ｄ／Ａ変換部５６，６４及び６５における相互
配置関係から、例えば、Ｄ／Ａ変換部５６，６４及び６
５のうちのＤ／Ａ変換部６４が、他のＤ／Ａ変換部から
のクロストークの影響が最も大であるものとされる。

【００３０】斯かる図１に示される例に内蔵された複数
のＤ／Ａ変換部、即ち、Ｄ／Ａ変換部５６，６４及び６
５についてのクロストークテストが行われるときには、
クロストークテスト指令データＤＣＴが、テストバス７
０を通じて、オールハイデータ供給部７１及び正弦波信
号データ供給部７２に供給され、オールハイデータ供給
部７１及び正弦波信号データ供給部７２の各々が動作状
態におかれる。

【００３１】そして、動作状態におかれたオールハイデ
ータ供給部７１は、一定のアナログ信号レベルに対応す
るものとされた、“１”をあらわすビットのみから成る
複数ビット構成のディジタルオールハイデータを、テス
ト用ディジタルデータＤＨとして送出し、そのテスト用
ディジタルデータＤＨを、Ｄ／Ａ変換部６４の入力端か
ら導出された端子７３を通じて、Ｄ／Ａ変換部６４に供
給する。また、動作状態におかれた正弦波信号データ供
給部７２は、正弦波データＲＯＭ６２に読出制御信号Ｒ
Ｎを供給して、正弦波データＲＯＭ６２からそれに格納
されている、アナログ正弦波信号に対応するディジタル
正弦波信号データＤＳＩＮを読み出すとともに、読み出
されたディジタル正弦波信号データＤＳＩＮを、テスト
用ディジタルデータＤＳとして送出し、そのテスト用デ
ィジタルデータＤＳを、Ｄ／Ａ変換部５６及び６５の入
力端から夫々導出された端子７４及び７５を通じて、Ｄ
／Ａ変換部５６及び６５の夫々に供給する。

【００３２】それにより、Ｄ／Ａ変換部５６及び６５の
夫々においては、ディジタル正弦波信号データとされた
テスト用ディジタルデータＤＳについてのＤ／Ａ変換が
行われて、アナログ正弦波信号Ｓが得られ、そのアナロ
グ正弦波信号Ｓが出力端子６６及び６８に導出される。
また、Ｄ／Ａ変換部６４においては、ディジタルオール
ハイデータとされたテスト用ディジタルデータＤＨにつ
いてのＤ／Ａ変換が行われて、一定であるべきレベルを
有するアナログ出力信号Ｈが得られ、そのアナログ出力
信号Ｈが出力端子６７に導出される。

【００３３】斯かるもとで、Ｄ／Ａ変換部５６及び６５
の夫々からのクロストークの影響を受けるＤ／Ａ変換部
６４にあっては、一定であるべきレベルを有するアナロ
グ出力信号Ｈが、Ｄ／Ａ変換部５６及び６５の夫々から
のクロストークの影響に応じたレベル変動を生じたもの
とされる。このような、Ｄ／Ａ変換部６４からのアナロ
グ出力信号Ｈにおけるレベル変動は、図１において一点
鎖線により示される如くに、Ｄ／Ａ変換部５６，６４及
び６５についてのクロストークテストが行われるとき出
力端子６７に接続されるレベル検出・判定部８０により
検出される。

【００３４】レベル検出・判定部８０においては、Ｄ／
Ａ変換部６４からのアナログ出力信号Ｈにおける、Ｄ／
Ａ変換部５６及び６５の夫々からのクロストークの影響
に応じたレベル変動が検出されるとともに、検出結果に
基づいて、Ｄ／Ａ変換部６４に及ぼされたＤ／Ａ変換部
５６及び６５の夫々からのクロストークの程度が判定さ
れる。そして、レベル検出・判定部８０から、クロスト
ークの程度についての判定の結果をあらわす出力信号Ｓ
ＣＴが送出される。

【００３５】このようにして、図１に示される例に内蔵
されたＤ／Ａ変換部５６，６４及び６５についてのクロ
ストークテストは、外部のテスト用データ発生部を不要
としたもとで、オールハイデータ供給部７１からのディ
ジタルオールハイデータであるテスト用ディジタルデー
タＤＨ、及び、正弦波信号データ供給部７２からのディ
ジタル正弦波信号データであるテスト用ディジタルデー
タＤＳが用いられて確実に行われる。

【００３６】上述の図１に示される例においては、Ｄ／
Ａ変換部６４にテスト用ディジタルデータＤＨが供給さ
れるともに、Ｄ／Ａ変換部５６及び６５にテスト用ディ
ジタルデータＤＳが供給されて、実際にクロストークの
程度が判定されるＤ／Ａ変換部がＤ／Ａ変換部６４とさ
れているが、Ｄ／Ａ変換部５６もしくは６５にテスト用
ディジタルデータＤＨが供給されるとともに、Ｄ／Ａ変
換部６４及び６５もしくはＤ／Ａ変換部５６及び６４に
テスト用ディジタルデータＤＳが供給されて、Ｄ／Ａ変
換部５６もしくは６５についてのクロストークの程度が
判定されるようになされてもよい。

【００３７】また、図１に示される例は、ディジタル映
像信号エンコーダ装置を形成するものとされているが、
本発明に係るＤ／Ａ変換部内蔵回路装置は、斯かる例に
限られることなく、各種のディジタル情報データを正弦
波データＲＯＭ等の正弦波データメモリ部からのディジ
タル正弦波信号データを用いてディジタル処理し、その
処理されたディジタル情報データにＤ／Ａ変換を施して
アナログ情報信号を得るＤ／Ａ変換部を複数個内蔵した
ものとなすことができる。

【００３８】

【発明の効果】以上の説明から明らかな如く、本発明に
係るＤ／Ａ変換部内蔵回路装置にあっては、内蔵される
複数のＤ／Ａ変換部についてのクロストークテストが行
われるとき、内蔵されたデータ供給部が、例えば、一定
のアナログ信号レベルに対応して“１”をあらわすビッ
トのみから成る複数ビット構成のディジタルオールハイ
データとされる、特定のテスト用ディジタルデータを複
数のＤ／Ａ変換部のうちの一つに供給するとともに、内
蔵された正弦波信号データ供給部が、正弦波データメモ
リ部からディジタル正弦波信号データを読み出し、その
ディジタル正弦波信号データを複数のＤ／Ａ変換部のう
ちの上述の一つ以外のものの夫々にテスト用データとし
て供給し、それにより、複数のＤ／Ａ変換部についての
クロストークテストの結果が、特定のテスト用ディジタ
ルデータが供給される一つのＤ／Ａ変換部から得られる
アナログ出力に基づいて得られることになるので、複数
のＤ／Ａ変換部についてのクロストークテストを、外部
にテスト用データ発生部が配備されることを必要とする
ことなく、確実に行うことができる。また、その結果、
クロストークテストの実施に関わるコストが低減される
ことになるとともに、外部に配備されたテスト用データ
発生部を連結するための作業等が不要とされることにな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るＤ／Ａ変換部内蔵回路装置の一例
を示すブロック構成図である。

【図２】従来のディジタル映像信号エンコーダ装置及び
その外部に配されたテスト用データ発生部の例を示すブ
ロック構成図である。

【符号の説明】

５１，５２，５３ 外部入力端子 ５４ マトリックス部 ５５ 遅延部 ５６，６４，６５ Ｄ／Ａ変換部 ５７，５９ ＬＰＦ ５８，６０ 乗算部 ６１ 変調軸データ形成部 ６２ 正弦波データＲＯＭ ６３ 余弦波データＲＯＭ ６６，６７，６８ 出力端子 ７０ テストバス ７１ オールハイデータ供給部 ７２ 正弦波信号データ供給部 ８０ レベル検出・判定部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−29938（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H03M 1/00 - 1/88

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】アナログ正弦波信号に対応するディジタル
   正弦波信号データが格納された正弦波データメモリ部
   と、 該正弦波データメモリ部から読み出したディジタル正弦
   波信号データを用いてディジタル情報信号データについ
   ての処理を行う情報信号データ処理部と、 該情報信号データ処理部から得られるディジタル出力デ
   ータについてのディジタル−アナログ変換を行ってアナ
   ログ情報信号を得るディジタル−アナログ変換部を含む
   複数のディジタル−アナログ変換部と、 該複数のディジタル−アナログ変換部に対するテストが
   行われるとき、特定のテスト用ディジタルデータを上記
   複数のディジタル−アナログ変換部のうちの一つに供給
   するデータ供給部と、 上記複数のディジタル−アナログ変換部に対するテスト
   が行われるとき、上記正弦波データメモリ部からディジ
   タル正弦波信号データを読み出して、上記複数のディジ
   タル−アナログ変換部のうちの上記一つ以外のものの夫
   々にテスト用データとして供給する正弦波信号データ供
   給部と、を備えて構成されるディジタル−アナログ変換
   部内蔵回路装置。
2. 【請求項２】データ供給部が、複数のディジタル−アナ
   ログ変換部のうちの一つに、特定のテスト用ディジタル
   データとして、一定のアナログ信号レベルに対応するデ
   ィジタルデータを供給することを特徴とする請求項１記
   載のディジタル−アナログ変換部内蔵回路装置。
3. 【請求項３】情報信号データ処理部が、正弦波データメ
   モリ部から読み出したディジタル正弦波信号データに基
   づくディジタル変調軸データを形成する変調軸データ形
   成部と、上記ディジタル変調軸データとディジタル情報
   信号データとの乗算を行ってディジタル搬送情報信号デ
   ータを得る乗算部とを含んで構成されることを特徴とす
   る請求項１記載のディジタル−アナログ変換部内蔵回路
   装置。
4. 【請求項４】ディジタル情報信号データが、アナログ色
   差信号に対応するディジタル色差信号データとされて、
   情報信号データ処理部からディジタル搬送色信号データ
   が得られ、該ディジタル搬送色信号データとアナログ輝
   度信号に対応するディジタル輝度信号データとが、複数
   のディジタル−アナログ変換部に夫々供給されることを
   特徴とする請求項３記載のディジタル−アナログ変換部
   内蔵回路装置。