JP3200809B2 - 偏向コイルアセンブリ耐圧試験器 - Google Patents
偏向コイルアセンブリ耐圧試験器Info
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- JP3200809B2 JP3200809B2 JP18620496A JP18620496A JP3200809B2 JP 3200809 B2 JP3200809 B2 JP 3200809B2 JP 18620496 A JP18620496 A JP 18620496A JP 18620496 A JP18620496 A JP 18620496A JP 3200809 B2 JP3200809 B2 JP 3200809B2
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- Japan
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- coil assembly
- deflection coil
- terminal
- voltage
- diode
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、偏向コイルアセン
ブリ耐圧試験器に関し、さらに詳しくは、実際の使用状
態に近い状態で完成品の偏向コイルアセンブリの耐圧試
験を行うことが出来る偏向コイルアセンブリ耐圧試験器
に関する。
ブリ耐圧試験器に関し、さらに詳しくは、実際の使用状
態に近い状態で完成品の偏向コイルアセンブリの耐圧試
験を行うことが出来る偏向コイルアセンブリ耐圧試験器
に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は、公知のコイル耐圧試験器の一例
を示す構成図である。このコイル耐圧試験器５００は、
発振部５１と，ドライブ段５２と，出力増幅部５３と，
出力共振部５４とを具備して構成されている。試験対象
コイル６１（例えば偏向コイル）は、前記コイル耐圧試
験器５００の出力端子Ｐ１とアース端子Ｐ２の間に接続
される。そして、前記出力端子Ｐ１から図４に示すごと
き正弦波電圧Ｖｓを前記試験対象コイル６１に印加す
る。
を示す構成図である。このコイル耐圧試験器５００は、
発振部５１と，ドライブ段５２と，出力増幅部５３と，
出力共振部５４とを具備して構成されている。試験対象
コイル６１（例えば偏向コイル）は、前記コイル耐圧試
験器５００の出力端子Ｐ１とアース端子Ｐ２の間に接続
される。そして、前記出力端子Ｐ１から図４に示すごと
き正弦波電圧Ｖｓを前記試験対象コイル６１に印加す
る。
【０００３】前記試験対象コイル６１の層間にレアショ
ート等の絶縁不良がある場合、前記試験対象コイルのＱ
（Ｑuality factor ）値が小さくなり、前記試験対象コ
イル６１の端子間電圧が上昇しなくなる。従って、これ
により前記試験対象コイル６１の絶縁不良を検出でき
る。
ート等の絶縁不良がある場合、前記試験対象コイルのＱ
（Ｑuality factor ）値が小さくなり、前記試験対象コ
イル６１の端子間電圧が上昇しなくなる。従って、これ
により前記試験対象コイル６１の絶縁不良を検出でき
る。
【０００４】なお、上記のような共振式のコイル耐圧試
験器に関連して、特公平６−１９４１７号公報には、Ｐ
ＬＬ回路を利用して直列共振回路を自動同調する技術が
開示されている。また、試験対象コイルへの印加電圧を
当該試験対象コイルのインダクタンスに応じて決定され
た電圧となるよう自動調整する技術が開示されている。
験器に関連して、特公平６−１９４１７号公報には、Ｐ
ＬＬ回路を利用して直列共振回路を自動同調する技術が
開示されている。また、試験対象コイルへの印加電圧を
当該試験対象コイルのインダクタンスに応じて決定され
た電圧となるよう自動調整する技術が開示されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のコイル耐圧
試験器５００では、極性が正負に振れる正弦波電圧Ｖｓ
を試験対象に印加するため、コイルのような無極性のも
のは試験できたが、ダイオードを含む回路のような極性
のあるものは試験できない問題点があった。具体的に
は、単体の水平偏向コイル（図１の１１）なら試験でき
たが、リンギング補正回路（図１の１２）を一体化した
完成品の水平偏向コイルアセンブリ（図１の１０）は試
験できない問題点があった（リンギング補正回路のダイ
オードなどが焼損する場合があった）。また、水平偏向
コイルアセンブリには、使用時には水平周期のパルス電
圧が印加されるが、正弦波電圧Ｖｓはこれと異なるた
め、試験結果が実際の使用時の性能を表しているのか否
か疑問のある問題点があった。そこで、本発明の目的
は、完成品の偏向コイルアセンブリの耐圧試験を実際の
使用状態に近い状態で行うことが出来る偏向コイルアセ
ンブリ耐圧試験器を提供することにある。
試験器５００では、極性が正負に振れる正弦波電圧Ｖｓ
を試験対象に印加するため、コイルのような無極性のも
のは試験できたが、ダイオードを含む回路のような極性
のあるものは試験できない問題点があった。具体的に
は、単体の水平偏向コイル（図１の１１）なら試験でき
たが、リンギング補正回路（図１の１２）を一体化した
完成品の水平偏向コイルアセンブリ（図１の１０）は試
験できない問題点があった（リンギング補正回路のダイ
オードなどが焼損する場合があった）。また、水平偏向
コイルアセンブリには、使用時には水平周期のパルス電
圧が印加されるが、正弦波電圧Ｖｓはこれと異なるた
め、試験結果が実際の使用時の性能を表しているのか否
か疑問のある問題点があった。そこで、本発明の目的
は、完成品の偏向コイルアセンブリの耐圧試験を実際の
使用状態に近い状態で行うことが出来る偏向コイルアセ
ンブリ耐圧試験器を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、試験対象のダ
イオードを含むリンギング補正回路を一体化した偏向コ
イルアセンブリの前記ダイオードのアノード側端子が接
続される＋Ｂ端子と前記ダイオードのカソード側端子が
接続される出力端子とを有する偏向コイルアセンブリ耐
圧試験器であって、前記＋Ｂ端子にチョークコイルを介
して直流電圧＋Ｂを供給する＋Ｂ電圧供給手段と、前記
＋Ｂ端子を交流的にアースする接地用コンデンサと、ス
イッチング制御信号を入力され且つ前記出力端子とアー
ス間をスイッチングするスイッチング素子と、そのスイ
ッチング素子に並列に接続され且つ前記スイッチング素
子のオフ時に前記偏向コイルアセンブリのインダクタン
スと共振を生じる共振用コンデンサと、その共振用コン
デンサに並列に接続されたダンパーダイオードと、前記
偏向コイルアセンブリへ流れる＋Ｂ電流を検出する＋Ｂ
電流検出手段とを具備し、前記＋Ｂ電流の変化に基づい
てダイオードを含むリンギング補正回路を一体化した偏
向コイルアセンブリの耐圧試験の結果を判定可能とした
ことを特徴とする偏向コイルアセンブリ耐圧試験器を提
供する。上記構成において、スイッチング素子のスイッ
チング周波数は、試験対象の偏向コイルを使用する周波
数に一致させることが好ましい。
イオードを含むリンギング補正回路を一体化した偏向コ
イルアセンブリの前記ダイオードのアノード側端子が接
続される＋Ｂ端子と前記ダイオードのカソード側端子が
接続される出力端子とを有する偏向コイルアセンブリ耐
圧試験器であって、前記＋Ｂ端子にチョークコイルを介
して直流電圧＋Ｂを供給する＋Ｂ電圧供給手段と、前記
＋Ｂ端子を交流的にアースする接地用コンデンサと、ス
イッチング制御信号を入力され且つ前記出力端子とアー
ス間をスイッチングするスイッチング素子と、そのスイ
ッチング素子に並列に接続され且つ前記スイッチング素
子のオフ時に前記偏向コイルアセンブリのインダクタン
スと共振を生じる共振用コンデンサと、その共振用コン
デンサに並列に接続されたダンパーダイオードと、前記
偏向コイルアセンブリへ流れる＋Ｂ電流を検出する＋Ｂ
電流検出手段とを具備し、前記＋Ｂ電流の変化に基づい
てダイオードを含むリンギング補正回路を一体化した偏
向コイルアセンブリの耐圧試験の結果を判定可能とした
ことを特徴とする偏向コイルアセンブリ耐圧試験器を提
供する。上記構成において、スイッチング素子のスイッ
チング周波数は、試験対象の偏向コイルを使用する周波
数に一致させることが好ましい。
【０００７】上記第１の観点による偏向コイルアセンブ
リ耐圧試験器では、まず、スイッチング素子がオンの期
間に、＋Ｂ電圧供給手段から偏向コイルアセンブリのイ
ンダクタンスにエネルギーが蓄積される。次に、スイッ
チング素子がオフの期間に、偏向コイルアセンブリのイ
ンダクタンスから共振用コンデンサへエネルギーが移
り、共振用コンデンサの端子電圧が急上昇し、次いで共
振用コンデンサから偏向コイルアセンブリのインダクタ
ンスへエネルギーが戻り、共振用コンデンサの端子電圧
が下降し、０を過ぎると、前と逆方向に偏向コイルアセ
ンブリのインダクタンスから共振用コンデンサへエネル
ギーが移ろうとするが、この方向には共振用コンデンサ
がダンパーダイオードで短絡されているから、共振用コ
ンデンサの端子電圧は０のままとなる。これが繰り返さ
れ、結果的に、正のパルス電圧が試験対象の偏向コイル
アセンブリに印加されることとなる。試験対象の偏向コ
イルアセンブリにレアショート等の絶縁不良があると、
偏向コイルアセンブリのインダクタンスと共振用コンデ
ンサによる共振回路のＱ値が下がり、正常時よりも大き
な＋Ｂ電流が流れる。したがって、＋Ｂ電流の増大から
絶縁不良を検出できる。そして、＋Ｂ端子と出力端子の
間には正のパルス電圧だけが掛かるため、リンギング補
正回路を一体化した完成品の水平偏向コイルアセンブリ
をそのまま試験できるようになる。また、実際の使用時
のパルス電圧に近いパルス電圧が水平偏向コイルアセン
ブリに印加されため、試験結果が実際の使用時の性能を
正しく表すようになる。
リ耐圧試験器では、まず、スイッチング素子がオンの期
間に、＋Ｂ電圧供給手段から偏向コイルアセンブリのイ
ンダクタンスにエネルギーが蓄積される。次に、スイッ
チング素子がオフの期間に、偏向コイルアセンブリのイ
ンダクタンスから共振用コンデンサへエネルギーが移
り、共振用コンデンサの端子電圧が急上昇し、次いで共
振用コンデンサから偏向コイルアセンブリのインダクタ
ンスへエネルギーが戻り、共振用コンデンサの端子電圧
が下降し、０を過ぎると、前と逆方向に偏向コイルアセ
ンブリのインダクタンスから共振用コンデンサへエネル
ギーが移ろうとするが、この方向には共振用コンデンサ
がダンパーダイオードで短絡されているから、共振用コ
ンデンサの端子電圧は０のままとなる。これが繰り返さ
れ、結果的に、正のパルス電圧が試験対象の偏向コイル
アセンブリに印加されることとなる。試験対象の偏向コ
イルアセンブリにレアショート等の絶縁不良があると、
偏向コイルアセンブリのインダクタンスと共振用コンデ
ンサによる共振回路のＱ値が下がり、正常時よりも大き
な＋Ｂ電流が流れる。したがって、＋Ｂ電流の増大から
絶縁不良を検出できる。そして、＋Ｂ端子と出力端子の
間には正のパルス電圧だけが掛かるため、リンギング補
正回路を一体化した完成品の水平偏向コイルアセンブリ
をそのまま試験できるようになる。また、実際の使用時
のパルス電圧に近いパルス電圧が水平偏向コイルアセン
ブリに印加されため、試験結果が実際の使用時の性能を
正しく表すようになる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、図に示す実施形態により本
発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明
が限定されるものではない。
発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明
が限定されるものではない。
【０００９】図１は、本発明の一実施形態にかかる偏向
コイルアセンブリ耐圧試験器の構成図である。この偏向
コイルアセンブリ耐圧試験器１００は、発振回路１と，
その発振回路１の出力信号に基づくスイッチング制御信
号を出力するドライブ回路２と，前記スイッチング制御
信号を入力され且つ出力端子Ｐ１とアース間をスイッチ
ングするスイッチング用トランジスタ３ａ〜３ｃと、そ
のスイッチング素子に並列に接続された共振用コンデン
サ４ａ〜４ｃと、その共振用コンデンサに並列に接続さ
れたダンパーダイオード５ａ〜５ｃと、＋Ｂ端子Ｐ２に
チョークコイル８を介して直流電圧＋Ｂを供給する＋Ｂ
電源回路６と、＋Ｂ電流を検出するメータリレー７と、
＋Ｂ端子Ｐ２を交流的にアースする接地用コンデンサ９
とを具備して構成されている。なお、前記＋Ｂ電源回路
６は、請求項１に記載の「＋Ｂ電圧供給手段」に相当す
る。また、前記メータリレー７は、請求項１に記載の
「＋Ｂ電流検出手段」に相当する。試験対象の偏向コイ
ルアセンブリ１０は、偏向コイルアセンブリ耐圧試験器
１００の出力端子Ｐ１と＋Ｂ端子Ｐ２の間に接続され
る。水平偏向コイルアセンブリ１０は、水平偏向コイル
１１と，リンギング補正回路１２と，漏洩磁界防止コイ
ル１３とを一体化したものである。
コイルアセンブリ耐圧試験器の構成図である。この偏向
コイルアセンブリ耐圧試験器１００は、発振回路１と，
その発振回路１の出力信号に基づくスイッチング制御信
号を出力するドライブ回路２と，前記スイッチング制御
信号を入力され且つ出力端子Ｐ１とアース間をスイッチ
ングするスイッチング用トランジスタ３ａ〜３ｃと、そ
のスイッチング素子に並列に接続された共振用コンデン
サ４ａ〜４ｃと、その共振用コンデンサに並列に接続さ
れたダンパーダイオード５ａ〜５ｃと、＋Ｂ端子Ｐ２に
チョークコイル８を介して直流電圧＋Ｂを供給する＋Ｂ
電源回路６と、＋Ｂ電流を検出するメータリレー７と、
＋Ｂ端子Ｐ２を交流的にアースする接地用コンデンサ９
とを具備して構成されている。なお、前記＋Ｂ電源回路
６は、請求項１に記載の「＋Ｂ電圧供給手段」に相当す
る。また、前記メータリレー７は、請求項１に記載の
「＋Ｂ電流検出手段」に相当する。試験対象の偏向コイ
ルアセンブリ１０は、偏向コイルアセンブリ耐圧試験器
１００の出力端子Ｐ１と＋Ｂ端子Ｐ２の間に接続され
る。水平偏向コイルアセンブリ１０は、水平偏向コイル
１１と，リンギング補正回路１２と，漏洩磁界防止コイ
ル１３とを一体化したものである。
【００１０】前記スイッチング用トランジスタ３ａ〜３
ｃ（例えば耐圧０．５ｋＶ程度）を３段シリーズに接続
する理由は、前記出力端子Ｐ１とアース間に発生する高
電圧（例えば１．５ｋＶ程度）に耐えられるようにする
ためである。
ｃ（例えば耐圧０．５ｋＶ程度）を３段シリーズに接続
する理由は、前記出力端子Ｐ１とアース間に発生する高
電圧（例えば１．５ｋＶ程度）に耐えられるようにする
ためである。
【００１１】次に、図２を参照して、この偏向コイルア
センブリ耐圧試験器１００の動作について説明する。図
２の（ａ）に示すように、発振回路１は、矩形波の出力
信号Ｖｉを出力する。この出力信号Ｖｉの周波数は、水
平偏向コイルアセンブリ１０が動作する水平偏向周波数
（例えば、１５．７５ｋＨｚ，３１．５０ｋＨｚ，４
７．２５ｋＨｚ，６３．００ｋＨｚ）と一致させること
が好ましい。図２の（ｂ）に示すように、ドライブ回路
２は、前記出力信号Ｖｉに基づいてスイッチング制御信
号Ｖ１〜Ｖ３を生成し、それぞれをスイッチング用トラ
ンジスタ３ａ〜３ｃのベースに入力する。
センブリ耐圧試験器１００の動作について説明する。図
２の（ａ）に示すように、発振回路１は、矩形波の出力
信号Ｖｉを出力する。この出力信号Ｖｉの周波数は、水
平偏向コイルアセンブリ１０が動作する水平偏向周波数
（例えば、１５．７５ｋＨｚ，３１．５０ｋＨｚ，４
７．２５ｋＨｚ，６３．００ｋＨｚ）と一致させること
が好ましい。図２の（ｂ）に示すように、ドライブ回路
２は、前記出力信号Ｖｉに基づいてスイッチング制御信
号Ｖ１〜Ｖ３を生成し、それぞれをスイッチング用トラ
ンジスタ３ａ〜３ｃのベースに入力する。
【００１２】図２の（ｃ）に示すように、スイッチング
用トランジスタ３ａ〜３ｃがオンした時刻ｔ１からコレ
クタ電流ｉｃが流れる。また、図２の（ｆ）に示すよう
に、水平偏向コイル１１にコイル電流ｉＬが流れる。水
平偏向コイル１１のインダクタンスのため、コレクタ電
流ｉｃ，コイル電流ｉＬは直線的に増加する。
用トランジスタ３ａ〜３ｃがオンした時刻ｔ１からコレ
クタ電流ｉｃが流れる。また、図２の（ｆ）に示すよう
に、水平偏向コイル１１にコイル電流ｉＬが流れる。水
平偏向コイル１１のインダクタンスのため、コレクタ電
流ｉｃ，コイル電流ｉＬは直線的に増加する。
【００１３】時刻ｔ２でスイッチング用トランジスタ３
ａ〜３ｃがオフになると、図２の（ｃ）に示すようにコ
レクタ電流ｉｃが０となる。しかし、水平偏向コイル１
１のインダクタンスのためコイル電流ｉＬが流れ続け、
図２の（ｅ）に示すように共振用コンデンサ４ａ〜４ｃ
にコンデンサ電流ｉｒが流れる。そして、図２の（ｇ）
に示すように、出力端子Ｐ１の電圧Ｖｏは上昇する。こ
の電圧Ｖｏは、共振用コンデンサ４ａ〜４ｃの容量が小
さいため、高圧になる。電圧Ｖｏが上昇するにつれて、
図２の（ｅ）に示すようにコンデンサ電流ｉｒは減少す
る。
ａ〜３ｃがオフになると、図２の（ｃ）に示すようにコ
レクタ電流ｉｃが０となる。しかし、水平偏向コイル１
１のインダクタンスのためコイル電流ｉＬが流れ続け、
図２の（ｅ）に示すように共振用コンデンサ４ａ〜４ｃ
にコンデンサ電流ｉｒが流れる。そして、図２の（ｇ）
に示すように、出力端子Ｐ１の電圧Ｖｏは上昇する。こ
の電圧Ｖｏは、共振用コンデンサ４ａ〜４ｃの容量が小
さいため、高圧になる。電圧Ｖｏが上昇するにつれて、
図２の（ｅ）に示すようにコンデンサ電流ｉｒは減少す
る。
【００１４】時刻ｔ３で図２の（ｇ）に示すように電圧
Ｖｏはピークとなり、図２の（ｅ）に示すようにコンデ
ンサ電流ｉｒは０となる。すると、共振コンデンサ４ａ
〜４ｃから水平偏向コイル１１のインダクタンスへ放電
が始り、図２の（ｇ）に示すように電圧Ｖｏは下降し、
図２の（ｅ）に示すようにコンデンサ電流ｉｒは逆方向
に増加する。従って、図２の（ｆ）に示すようにコイル
電流ｉＬも逆方向に増加する。
Ｖｏはピークとなり、図２の（ｅ）に示すようにコンデ
ンサ電流ｉｒは０となる。すると、共振コンデンサ４ａ
〜４ｃから水平偏向コイル１１のインダクタンスへ放電
が始り、図２の（ｇ）に示すように電圧Ｖｏは下降し、
図２の（ｅ）に示すようにコンデンサ電流ｉｒは逆方向
に増加する。従って、図２の（ｆ）に示すようにコイル
電流ｉＬも逆方向に増加する。
【００１５】時刻ｔ４で図２の（ｇ）に示すように電圧
Ｖｏが０になっても、水平偏向コイル１１のインダクタ
ンスのためコイル電流ｉＬが流れ続け、共振用コンデン
サ４ａ〜４ｃを逆方向に充電しようとする。ところが、
ダンパーダイオード５ａがあるため、図２の（ｄ）に示
すようにダイオード電流ｉｄが流れ、共振用コンデンサ
４ａ〜４ｃは逆方向には充電されない。従って、図２の
（ｅ）に示すように電圧Ｖｏは０のままとなる。ダイオ
ード電流ｉｄが流れることにより水平偏向コイル１１の
インダクタンスに蓄積されたエネルギーが失われてしま
うため、図２の（ｄ）に示すようにダイオード電流ｉｄ
は減少し、図２の（ｆ）に示すようにコイル電流ｉＬも
減少する。時刻ｔ５になると、スイッチング用トランジ
スタ３ａ〜３ｃが再びオンし、上記時刻ｔ１からの動作
が新たに反復される。
Ｖｏが０になっても、水平偏向コイル１１のインダクタ
ンスのためコイル電流ｉＬが流れ続け、共振用コンデン
サ４ａ〜４ｃを逆方向に充電しようとする。ところが、
ダンパーダイオード５ａがあるため、図２の（ｄ）に示
すようにダイオード電流ｉｄが流れ、共振用コンデンサ
４ａ〜４ｃは逆方向には充電されない。従って、図２の
（ｅ）に示すように電圧Ｖｏは０のままとなる。ダイオ
ード電流ｉｄが流れることにより水平偏向コイル１１の
インダクタンスに蓄積されたエネルギーが失われてしま
うため、図２の（ｄ）に示すようにダイオード電流ｉｄ
は減少し、図２の（ｆ）に示すようにコイル電流ｉＬも
減少する。時刻ｔ５になると、スイッチング用トランジ
スタ３ａ〜３ｃが再びオンし、上記時刻ｔ１からの動作
が新たに反復される。
【００１６】＋Ｂ電源回路６は、電圧Ｖｏのピーク値が
試験電圧となるように、供給する＋Ｂ電圧を制御する。
以上により、出力端子Ｐ１には、正のパルス電圧Ｖｏが
生じることとなり、これが試験対象の水平偏向コイルア
センブリ１０に加わることとなる。
試験電圧となるように、供給する＋Ｂ電圧を制御する。
以上により、出力端子Ｐ１には、正のパルス電圧Ｖｏが
生じることとなり、これが試験対象の水平偏向コイルア
センブリ１０に加わることとなる。
【００１７】さて、水平偏向コイル１１の層間にレアシ
ョート等の絶縁不良がある場合には、水平偏向コイル１
１と共振用コンデンサ４ａ〜４ｃとで構成される共振回
路のＱ値が下がる。すると、絶縁が良好な場合よりも＋
Ｂ電流が大きくなる。これにより、メータリレー７の接
点が閉じ、絶縁不良を検査者に報知する。
ョート等の絶縁不良がある場合には、水平偏向コイル１
１と共振用コンデンサ４ａ〜４ｃとで構成される共振回
路のＱ値が下がる。すると、絶縁が良好な場合よりも＋
Ｂ電流が大きくなる。これにより、メータリレー７の接
点が閉じ、絶縁不良を検査者に報知する。
【００１８】以上の偏向コイルアセンブリ耐圧試験器１
００によれば、リンギング補正回路１０を一体化した完
成品の水平偏向コイルアセンブリ１０を耐圧試験できる
ようになる。また、実際の使用時のパルス電圧に近いパ
ルス電圧が水平偏向コイルアセンブリ１０に印加された
め、試験結果が実際の使用時の性能を正しく表すように
なる。
００によれば、リンギング補正回路１０を一体化した完
成品の水平偏向コイルアセンブリ１０を耐圧試験できる
ようになる。また、実際の使用時のパルス電圧に近いパ
ルス電圧が水平偏向コイルアセンブリ１０に印加された
め、試験結果が実際の使用時の性能を正しく表すように
なる。
【００１９】
【発明の効果】本発明の偏向コイルアセンブリ耐圧試験
器によれば、負の電圧を印加しないから、ダイオードを
含むリンギング補正回路を一体化した完成品の水平偏向
コイルアセンブリをそのまま試験できるようになる。ま
た、実際の使用時に水平偏向コイルアセンブリに印加さ
れるパルス電圧に近い正のパルス電圧を印加するため、
実際の使用時の性能を正しく表した試験結果が得られる
ようになる。
器によれば、負の電圧を印加しないから、ダイオードを
含むリンギング補正回路を一体化した完成品の水平偏向
コイルアセンブリをそのまま試験できるようになる。ま
た、実際の使用時に水平偏向コイルアセンブリに印加さ
れるパルス電圧に近い正のパルス電圧を印加するため、
実際の使用時の性能を正しく表した試験結果が得られる
ようになる。
【図１】本発明の一実施形態にかかる偏向コイルアセン
ブリ耐圧試験器を示す構成図である。
ブリ耐圧試験器を示す構成図である。
【図２】図１の偏向コイルアセンブリ耐圧試験器の各部
の電圧および電流を示す波形図である。
の電圧および電流を示す波形図である。
【図３】従来のコイル耐圧試験器の一例を示す構成図で
ある。
ある。
【図４】図３のコイル耐圧試験器が出力する正弦波電圧
の説明図である。
の説明図である。
１００ 偏向コイルアセンブリ耐圧試験器 １ 発振回路 ２ ドライブ回路 ３ａ〜３ｃ スイッチング用トランジスタ ４ａ〜４ｃ 共振用コンデンサ ５ａ〜５ｃ ダンパーダイオード ６ ＋Ｂ電源回路 ７ メータリレー ８ チョークコイル ９ 接地用コンデンサ １０ 水平偏向コイルアセンブリ １１ 水平偏向コイル １２ リンギング補正回路 １３ 漏洩磁界防止コイル
フロントページの続き (72)発明者 飯島 修 長野県上田市大字大屋300番地 東京特 殊電線株式会社 上田工場内 (56)参考文献 特開 平３−46464（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−189048（ＪＰ，Ａ) 特公 平６−19417（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/00 - 31/14 H04N 3/16
Claims (1)
- 【請求項１】 試験対象のダイオードを含むリンギング
補正回路を一体化した偏向コイルアセンブリの前記ダイ
オードのアノード側端子が接続される＋Ｂ端子と前記ダ
イオードのカソード側端子が接続される出力端子とを有
する偏向コイルアセンブリ耐圧試験器であって、前記＋
Ｂ端子にチョークコイルを介して直流電圧＋Ｂを供給す
る＋Ｂ電圧供給手段と、前記＋Ｂ端子を交流的にアース
する接地用コンデンサと、スイッチング制御信号を入力
され且つ前記出力端子とアース間をスイッチングするス
イッチング素子と、そのスイッチング素子に並列に接続
され且つ前記スイッチング素子のオフ時に前記偏向コイ
ルアセンブリのインダクタンスと共振を生じる共振用コ
ンデンサと、その共振用コンデンサに並列に接続された
ダンパーダイオードと、前記偏向コイルアセンブリへ流
れる＋Ｂ電流を検出する＋Ｂ電流検出手段とを具備し、
前記＋Ｂ電流の変化に基づいてダイオードを含むリンギ
ング補正回路を一体化した偏向コイルアセンブリの耐圧
試験の結果を判定可能としたことを特徴とする偏向コイ
ルアセンブリ耐圧試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18620496A JP3200809B2 (ja) | 1996-07-16 | 1996-07-16 | 偏向コイルアセンブリ耐圧試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18620496A JP3200809B2 (ja) | 1996-07-16 | 1996-07-16 | 偏向コイルアセンブリ耐圧試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1031050A JPH1031050A (ja) | 1998-02-03 |
| JP3200809B2 true JP3200809B2 (ja) | 2001-08-20 |
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ID=16184204
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18620496A Expired - Fee Related JP3200809B2 (ja) | 1996-07-16 | 1996-07-16 | 偏向コイルアセンブリ耐圧試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3200809B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101934620B1 (ko) | 2016-11-21 | 2019-01-02 | 조정권 | 책상 결합 구조의 컴퓨터 관련 부품 수용 케이스 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104142459B (zh) * | 2013-05-09 | 2017-07-14 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 半导体检测电路及检测方法 |
| CN104459501A (zh) * | 2014-12-25 | 2015-03-25 | 中国西电电气股份有限公司 | 一种避雷器工频试验装置及试验方法 |
| CN108761288B (zh) * | 2018-05-30 | 2023-10-27 | 南宁市高照电器有限责任公司 | 一种低压耐压测试台及其测试方法 |
-
1996
- 1996-07-16 JP JP18620496A patent/JP3200809B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101934620B1 (ko) | 2016-11-21 | 2019-01-02 | 조정권 | 책상 결합 구조의 컴퓨터 관련 부품 수용 케이스 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH1031050A (ja) | 1998-02-03 |
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