JP3190972B2 - 材料サンプルの研削装置 - Google Patents

材料サンプルの研削装置

Info

Publication number
JP3190972B2
JP3190972B2 JP50197896A JP50197896A JP3190972B2 JP 3190972 B2 JP3190972 B2 JP 3190972B2 JP 50197896 A JP50197896 A JP 50197896A JP 50197896 A JP50197896 A JP 50197896A JP 3190972 B2 JP3190972 B2 JP 3190972B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
grinding
turntable
material sample
spindle
sample
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP50197896A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09502275A (ja
Inventor
ソーレンセン、ビョルン
ソーキルセン、ゲイル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Norsk Hydro ASA
Original Assignee
Norsk Hydro ASA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Norsk Hydro ASA filed Critical Norsk Hydro ASA
Publication of JPH09502275A publication Critical patent/JPH09502275A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3190972B2 publication Critical patent/JP3190972B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/32Polishing; Etching
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B27/00Other grinding machines or devices
    • B24B27/0076Other grinding machines or devices grinding machines comprising two or more grinding tools
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B51/00Arrangements for automatic control of a series of individual steps in grinding a workpiece
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B7/00Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
    • B24B7/20Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground
    • B24B7/22Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B7/228Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain for grinding thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24DTOOLS FOR GRINDING, BUFFING OR SHARPENING
    • B24D7/00Bonded abrasive wheels, or wheels with inserted abrasive blocks, designed for acting otherwise than only by their periphery, e.g. by the front face; Bushings or mountings therefor
    • B24D7/02Wheels in one piece
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/286Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q involving mechanical work, e.g. chopping, disintegrating, compacting, homogenising

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
  • Disintegrating Or Milling (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、例えば、顕微鏡のスライドに組み付けられ
た岩のサンプルの微細構造研削などの、材料サンプルの
研削を行う装置に関する。
地層(岩床)から石油及びガスを抽出するに当たって
は、その岩床の性質を知ることが基本的に重要である。
特に、その岩床の空隙率及び構造についての知識を形作
るために顕微鏡で問題の岩床の微細構造を研究すること
によって、そのような知識が得られる。研削物は、最初
に岩床の一片を切り取って、それに含浸を行うことによ
り作られる。次にその含浸された岩片は、顕微鏡のスラ
イドに組み付けられて最終的に研削される前に表面研削
される。
最も一般的な研削方法は、いわゆる「パッチング(pa
tching)」に基づいている、即ち、水に懸濁させた炭化
珪素粉を回転鋳鉄ディスクに供給し、材料サンプル(サ
ンプルを伴った顕微鏡スライド)を1個又は数個のサン
プルホルダーに組み付けて回転鋳鉄ディスクに押しつけ
る。この種の装置及び方法において炭化珪素粉は研削材
料として作用し、厚みは約30μmまで徐々に小さくされ
る。
しかし、この公知の方法及び装置には幾つかの欠点が
ある。第1に、研削粉は、「パッチング」処理中に材料
サンプル中のエポキシプラスチックに押し込まれ、研削
された材料サンプル中の細孔内の黒い粒子となる。この
ために、最悪の場合には、サンプルがそれ以上の分析に
適しないものとなることがある。第2に、研削工程中に
回転鋳鉄ディスクに斜面が生じることがあり、頻繁に調
整しなければならない。このために、かなりの量の作業
が余分に必要となる。鋳鉄ディスクの斜面は、材料サン
プルに相当の不均一を生じさせることとなるので、それ
以上の試験のためには使用し得ない。
この公知の装置の他の欠点は、オペレータによる管理
が必要なので、使用するために費用がかかるという点で
ある。
本発明は、上記の欠点を解消した材料サンプル研削装
置を提供する。この装置は、 −本質的に使いやすく、 −研削工程中に高精度を与え、 −研削粉の材料サンプル中への貫入を防止し、 −オペレータによる寄与を僅かに必要とするだけであ
り、 −仕上がった研削済み材料サンプルにきめ細かな滑らか
な表面を与え、 −後の材料サンプル表面の磨きとの関係で時間を節約
し、 −大きな研削能力を持っている。
本発明の装置は、請求の範囲第1項において定義され
ているように、材料サンプルを着脱自在に置くことの出
来る回転テーブル(ターンテーブル)を含むことを特徴
としており、このターンテーブルの上に配置された垂直
に移動可能な少なくとも一つの研削スピンドルによって
少なくとも1工程で研削を行う。
請求の範囲第2〜10項は本発明の好ましい特徴を定義
している。図面を参照して実施例によって本発明を更に
説明する。
図1のA〜Cは本発明に係る研削装置の正面図、側面
図及び平面図、 図2はこの装置に含まれる研削スピンドルのための支
持装置を示す拡大図、 図3は本発明のターンテーブルの拡大平面図、 図4は研削される材料サンプルの二つの例を示し、
a)は本発明の研削装置によって研削した材料サンプル
の例、b)は公知の装置により「パッチング」で研削し
た材料サンプルの例を示す。
本発明の装置は、図1に示されているように、四つの
主な構成要素、即ちフレーム及びコンソール構造1と、
研削スピンドル装置2と、ターンテーブル3と、制御ユ
ニット4とを含んでいる。
フレーム及びコンソール構造1は、この装置を使用し
て研削作業を行うときに大きなエネルギーを吸収するよ
うに設計されており、それ故に、十分な安定性を確保す
るとともに研削サンプルが不均一となることを防止する
ために強力な鋼の梁と補剛材5、6、7から作られてい
る。フレーム及びコンソール構造の細部については、当
業者の能力の範囲内にあることなので、これ以上ここで
は説明しないことにする。
研削スピンドル装置2は、図1に示されているよう
に、ターンテーブル3の上に設けられた二つの研削スピ
ンドルから成っており、その一つは粗いスピンドルで、
もう一つはきめの細かいスピンドルであり、各々電動モ
ータ8により駆動される。スピンドル2及びモータ8の
各ユニットは、コンソール構造内のレール10に沿って垂
直方向に移動することの出来るそり又はキャリッジ9に
より支持されている。
サーボモータ12により操作される高精度ナット/ネジ
装置11によってキャリッジ9をスピンドル2とともに上
下に動かすことができる。本発明の装置は、上述したよ
うに、材料サンプルを±1μmの精度で20−30μmの厚
みに精細に研削することが出来るように設計されてい
る。熱膨張による研削の偏差を防止するために、研削ス
ピンドルはそり9上の特別の支持体13に支持されてお
り、これは図2の拡大図に示されている。テフロンパッ
キン14、アンギュラーコンタクト玉軸受け15及び16、カ
ップスプリング17、ラジアルコンタクト玉軸受け18、ロ
ックナット19、スピンドル軸20及び心出しリングが詳し
く図示されている。
この支持体に種々の寸法及び球数の軸受けが上述した
ように使われる。このようにすれば玉の軌道が材料サン
プルの研削面に望ましくないパターンを生じさせるのを
防止できるからである。カップスプリングは軸受け18、
低スラスト軸受け15、16に対して一定圧力を生じさせ、
その結果としてスピンドルが過熱しても研削面に不正確
さを生じさせない。すなわち、スピンドル軸は上方に自
由に膨張することができる。テフロンシールは低摩擦で
あり、スピンドルハウジングに低発熱を生じさせる。研
削スピンドル自体は、研削工程中に良好な冷却特性を得
るために好ましくはカップ状に形成されるディスク21と
して形成された金属材料中に固められたダイヤモンド粒
子から成っている。研削される材料の構造中の望ましく
ない粒子から材料サンプルが完全に自由で清浄となるの
で、ダイヤモンドディスクを使用したことは本発明の本
質的長所となっている。
図4には、a)本発明の装置で研削された材料サンプ
ルの例と、b)公知の装置による「パッチング」で研削
された材料サンプルの例との2例が示されている。図4
b)から、材料構造中に望まくない粒子30が幾つかある
ことが分かる。図4a)に示されている材料サンプルに
は、そのような粒子はない。
本発明の三つ目の重要な要素であるターンテーブル3
(図1を参照)は、ベルト22等を介して電動モータ23に
より駆動される円形のディスクを備えている。ディスク
3は、ドライブギヤ22、23とともに、フレーム構造5上
のレール25に移動可能に設けられているキャリッジ又は
そり等24に配設されている。研削スピンドル2を上下に
動かすために使われている解決策と同様のナット/ネジ
装置を介してサーボモータによりキャリッジを適当に駆
動することができる。
上述したようにターンテーブル3を移動可能に設ける
ことにより、材料サンプルに対して振動と回転研削との
複合運動が与えられ、材料サンプルが滑らかに克つ正確
に(完全に)研削される。
研削されるべき材料サンプルは、真空によりターンテ
ーブル3に着脱自在に保持される。図3は、拡大したス
ケールで本発明のターンテーブル3を上から見た図であ
る。ターンテーブルは黄銅から作られていて、応力がな
く、数個の穴28を持っており、この穴は、互いに或る距
離を置いて或るパターンをなして配列されていて真空源
(図示せず)に接続されている溝又は凹部31と連通して
いる。テーブルはその溝を伴う穴を全部で40個示してお
り、同数のサンプルを保持することができる。
研削プロセス中に材料サンプルを冷やすために、ター
ンテーブルの上に設けられた一つ又は数個のノズルを介
してターンテーブルに水が供給される。それは図には示
されていない。
本発明に含まれる四つ目の重要な部分は、制御システ
ム4を構成するプログラマブル論理制御(PLC)であ
る。この研削装置を制御するためにタッチボタンの付い
ている種々のメニューを使用するいわゆる「タッチスク
リーンディスプレイ」を介してこのPLCユニットを適宜
動作させることができる。その制御システム全体は、こ
の研削装置に設けられた制御ボード、又は好ましくはオ
ペレータが容易に近づくことの出来る独立の制御ボード
と関連して設けられる。
使用されるこの種のPLCユニットは、市販されている
ので、それ自体としては特許性のあるものではなく、従
ってPLCユニットの技術的事項についてはこれ以上は説
明しない。しかし、PLCユニットでこの研削装置をどの
ように操作できるかを次に簡単に解説する。
メインスイッチをオンにすると、ターンテーブル及び
研削スピンドルを示す全ての「軸」は、「オリゴ(orig
o)」と呼ばれるゼロ点に移動する。同時に「オリゴ検
索」というテキストがオペレータディスプレイに表示さ
れる。装置が使用可能な状態になっているとき、メイン
メニューがディスプレイに表示される。例えば、岩石サ
ンプルの自動研削、ガラスシートの自動研削、又は手動
研削を選択することができる。
そのメインメニューの中の手動研削を選択すると、タ
ーンテーブルの動作に関する選択肢と、使用したい研削
モータの選択肢とを伴うサブメニューが現れる。もし精
細研削又は粗研削を選択すれば他のサブメニューが現れ
て、研削工程を手動で実行することになる。この場合に
は基準点に入って保存(記憶)することもでき、後でそ
れを使ってこの機械で完全自動研削を行うことができ
る、即ち、サンプルを研削して基準点を保存すればこの
機械はその研削工程を自動的に反復できるようになる。
ターンテーブルの振動の終点の選択は別のメニューで
行われる。このメニューでは自動研削の速度もプログラ
ムすることができる。
自動研削が選択される前に、材料サンプルは初めにタ
ーンテーブル上におかれ、真空と冷却水が起動される。
その後、自動ガラスサンプル研削又は自動岩石サンプル
研削がメインメニューから選択される。これを実行する
とそれぞれのサブメニューが現れて、プログラム中のど
こでも研削工程を開始し停止させることができるように
なる。これでターンテーブルを同時に振動させながら研
削工程全体を粗研削及び精細研削で最後まで実行するこ
とができる。するとターンテーブルは出発点に戻り、材
料サンプルを更に処理し分析することが出来るようにな
る。
研削操作に関しては、研削ホイールを2個使用するの
が好都合であり、そうすれば研削時間を節約できること
に留意するべきである。この場合には、材料サンプルは
精細研削ディスクによって例えば約30μmの所望の厚み
まで研削される前に、最初に粗研削ディスクで例えば10
0μmの適当な厚みまで粗研削される。しかし、請求の
範囲の欄において定義される発明は2個の研削ディスク
には限定されず、この種のディスクを1個だけ、或いは
4個以上設けることもできる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭50−9193(JP,A) 特開 昭62−142254(JP,A) 特開 昭61−230853(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 1/32 B24B 7/22 G01N 1/28

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の材料サンプルを着脱自在に保持する
    ように設計されたターンテーブル(3)を伴うコンソー
    ル及びフレーム構造(1)と、このターンテーブルの上
    に配設された垂直に移動可能な少なくとも1つの研削ス
    ピンドル(2)と、研削工程を制御するためのプログラ
    マブル制御ユニット(4)とを含み、顕微鏡のスライド
    に組み付けられた岩石サンプルの微細構造研削を行う装
    置において、 前記ターンテーブル(3)は材料サンプルと共に前記フ
    レーム構造及び前記研削スピンドルに対して相対的に横
    方向に振動するように設計されていることを特徴とする
    材料サンプルの研削装置。
  2. 【請求項2】二つの研削スピンドル(2)を含み、その
    一つは材料サンプルの粗研削のためのものであり、もう
    一つは材料サンプルの精細研削のためのものであること
    を特徴とする請求の範囲第1項に記載の装置。
  3. 【請求項3】前記研削スピンドルに、金属に固定された
    ダイヤモンド粒子の研削ディスク(21)が装着されてい
    ることを特徴とする請求の範囲第1項又は第2項に記載
    の装置。
  4. 【請求項4】前記研削ディスク(21)はカップとして形
    成されていることを特徴とする請求の範囲第3項に記載
    の装置。
  5. 【請求項5】前記研削スピンドルは、サーボモータによ
    りネジ/ナット装置を介してレール(10)に沿って垂直
    方向に移動可能なキャリッジ又はそり(9)に配設され
    ていることを特徴とする請求の範囲第1〜4項のいずれ
    か一項に記載の装置。
  6. 【請求項6】前記ターンテーブルは、レール(25)上に
    設けられ且つサーボモータによりネジ/ナット装置(2
    6)を介して該レール(25)に沿って移動することので
    きるキャリッジ又はそり(24)上に配設されていること
    を特徴とする請求の範囲第1項に記載の装置。
  7. 【請求項7】前記ターンテーブルは、真空によって材料
    サンプルを保持するように設計されており、前記ターン
    テーブルには真空源に接続され且つ前記ターンテーブル
    の外周に沿って或るパターンをなして配置された複数の
    穴(28)が設けられていることを特徴とする請求の範囲
    第6項に記載の装置。
  8. 【請求項8】前記研削スピンドル(2)の各々のための
    軸(20)は、その軸を過熱したときに前記研削スピンド
    ルを変位させることなくこの軸の上端部がスラスト軸受
    け(15、16)及びキャリッジ(9)に対して自由に膨張
    し得るように、スプリング装置(17)によってスラスト
    軸受け(15、16)に対して相対的に予めセットされるこ
    とを特徴とする請求の範囲第1〜7項のいずれか一項に
    記載の装置。
JP50197896A 1994-06-15 1995-06-14 材料サンプルの研削装置 Expired - Fee Related JP3190972B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NO942242 1994-06-15
NO942242A NO179238C (no) 1994-06-15 1994-06-15 Utstyr for tynnsliping av materialpröver
PCT/NO1995/000101 WO1995034802A1 (en) 1994-06-15 1995-06-14 Equipement for the grinding of material samples

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09502275A JPH09502275A (ja) 1997-03-04
JP3190972B2 true JP3190972B2 (ja) 2001-07-23

Family

ID=19897186

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP50197896A Expired - Fee Related JP3190972B2 (ja) 1994-06-15 1995-06-14 材料サンプルの研削装置

Country Status (15)

Country Link
US (1) US5785578A (ja)
EP (1) EP0713575B1 (ja)
JP (1) JP3190972B2 (ja)
KR (1) KR100383524B1 (ja)
CN (1) CN1097726C (ja)
AT (1) ATE216071T1 (ja)
AU (1) AU692270B2 (ja)
CA (1) CA2167400A1 (ja)
CZ (1) CZ290918B6 (ja)
DE (1) DE69526307T2 (ja)
DK (1) DK0713575T3 (ja)
ES (1) ES2174949T3 (ja)
NO (1) NO179238C (ja)
RU (1) RU2134160C1 (ja)
WO (1) WO1995034802A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109682659A (zh) * 2019-01-14 2019-04-26 邢华铭 一种农药残留检测用研磨设备

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE508604C2 (sv) * 1997-02-24 1998-10-19 Dentronic Ab Förfarande och arrangemang för abrasiv precisionsbearbetning av ett ämne
US7785173B2 (en) * 2005-07-05 2010-08-31 Supfina Machine Co. Superfinishing machine and method
AT502101B1 (de) * 2005-07-14 2007-09-15 Atomic Austria Gmbh Verfahren zur bearbeitung von laufflächen von wintersportgeräten sowie wintersportgerät und vorrichtung zur herstellung von belägen
ITTO20050765A1 (it) * 2005-10-27 2007-04-28 Biesse Spa Centro di lavoro a controllo numerico per lastre di vetro, pietra, marmo o simili, con due o piu' teste di lavorazione
CN101096074B (zh) * 2006-06-30 2010-11-24 上海中晶企业发展有限公司 大直径高精度玻璃抛光机的自动移盘机构
CN101339114B (zh) * 2008-09-03 2012-05-23 石家庄铁道学院 陶瓷磨削加工性能测试方法
CN103033403B (zh) * 2011-09-29 2015-09-02 鞍钢股份有限公司 一种薄板金属薄膜试样的制备方法
CN103308363B (zh) * 2013-06-24 2015-02-18 黄河勘测规划设计有限公司 岩体制样变形测试方法
CN104275638B (zh) * 2014-09-22 2016-10-19 广东省自动化研究所 自动抛光系统及其抛光方法
CN104406828B (zh) * 2014-10-30 2017-01-25 东北石油大学 含弱界面低强度岩石试样制备装置及其制备试样方法
CN104359288B (zh) * 2014-10-31 2016-09-28 湖南三德科技股份有限公司 可刮扫物料的风透式干燥设备
CN104551897B (zh) * 2015-01-04 2017-01-18 中国矿业大学 一种适应不同外形尺寸岩样批量打磨的加工设备及方法
CN105709904B (zh) * 2016-02-01 2017-10-31 上海化工研究院有限公司 一种均匀式微量样品研磨装置
WO2017138355A1 (ja) * 2016-02-09 2017-08-17 東京エレクトロン株式会社 研削装置および研削方法
CN107631898A (zh) * 2016-07-19 2018-01-26 广东石油化工学院 一种立式多功能岩石加工系统
TWI598150B (zh) * 2016-09-30 2017-09-11 財團法人工業技術研究院 硏磨機及微旋迴轉裝置
CN106584239B (zh) * 2016-12-07 2018-11-02 杭州正驰达精密机械有限公司 一种机械手表摆锤的自动磨削机床
CN106826405A (zh) * 2016-12-27 2017-06-13 中国石油天然气股份有限公司 岩石磨片方法
CN106826518A (zh) * 2017-01-26 2017-06-13 武汉科技大学 一种金相试样磨样机
CN108801724B (zh) * 2018-03-26 2021-09-24 翟如扬 一种污水污染物检验用样品处理装置
CN109176304A (zh) * 2018-08-28 2019-01-11 南京理工大学 一种平面磨削用试验台
CN110328605B (zh) * 2019-07-09 2021-06-11 业成科技(成都)有限公司 治具、研磨装置及样品块的研磨方法
TWM597200U (zh) * 2020-02-18 2020-06-21 財團法人金屬工業研究發展中心 研磨輪量測裝置
KR102262825B1 (ko) * 2020-12-16 2021-06-09 주식회사 알엔비 복합 연마기
DE102022125705A1 (de) 2022-10-05 2024-04-11 Atm Qness Gmbh Teller-Schleif-/Poliergerät

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2869292A (en) * 1957-05-29 1959-01-20 Klugman Ira Louis Precision grinding machine
US3534506A (en) * 1968-05-17 1970-10-20 Us Army Lens polishing apparatus
DE1798139A1 (de) * 1968-08-29 1971-11-04 Telefunken Patent Vorrichtung zum Polieren von Proben
US3653854A (en) * 1969-09-29 1972-04-04 Toyoda Machine Works Ltd Digitally controlled grinding machines
US3704554A (en) * 1971-04-26 1972-12-05 Bausch & Lomb Lens processing machine with movable workpiece spindle
US3732647A (en) * 1971-08-05 1973-05-15 Coburn Manuf Co Inc Polisher-finer machine
US3872626A (en) * 1973-05-02 1975-03-25 Cone Blanchard Machine Co Grinding machine with tilting table
JPS5937037A (ja) * 1982-08-26 1984-02-29 Toshiba Corp 立軸回転テ−ブル形平面研削盤
JPS61230853A (ja) * 1985-04-03 1986-10-15 Shibayama Kikai Kk 半導体ウエハの自動平面研削盤における連続ダウンフイ−ド方式
DE3542508A1 (de) * 1985-07-22 1987-01-29 Biermann Alfred Verfahren und vorrichtung von fuer die mikroskopische untersuchung im durchlicht geeigneten duennschliffen aus proben mit harten bestandteilen
US4760668A (en) * 1986-07-02 1988-08-02 Alfred Schlaefli Surface grinding machine and method
EP0272531B1 (en) * 1986-12-08 1991-07-31 Sumitomo Electric Industries Limited Surface grinding machine
ATE107213T1 (de) * 1989-02-23 1994-07-15 Supfina Maschf Hentzen Verfahren und einrichtung zum feinbearbeiten und supfinieren.
JP2513426B2 (ja) * 1993-09-20 1996-07-03 日本電気株式会社 ウェ―ハ研磨装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109682659A (zh) * 2019-01-14 2019-04-26 邢华铭 一种农药残留检测用研磨设备
CN109682659B (zh) * 2019-01-14 2021-01-15 邢华铭 一种农药残留检测用研磨设备

Also Published As

Publication number Publication date
NO179238B (no) 1996-05-28
WO1995034802A1 (en) 1995-12-21
CN1129981A (zh) 1996-08-28
AU692270B2 (en) 1998-06-04
RU2134160C1 (ru) 1999-08-10
DE69526307D1 (de) 2002-05-16
EP0713575B1 (en) 2002-04-10
DE69526307T2 (de) 2002-11-07
EP0713575A1 (en) 1996-05-29
ATE216071T1 (de) 2002-04-15
CZ290918B6 (cs) 2002-11-13
NO942242D0 (no) 1994-06-15
CN1097726C (zh) 2003-01-01
AU2755095A (en) 1996-01-05
KR100383524B1 (ko) 2003-07-07
ES2174949T3 (es) 2002-11-16
DK0713575T3 (da) 2002-08-05
JPH09502275A (ja) 1997-03-04
US5785578A (en) 1998-07-28
CZ77396A3 (en) 1996-11-13
CA2167400A1 (en) 1995-12-21
NO942242L (no) 1995-12-18
NO179238C (no) 1996-09-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3190972B2 (ja) 材料サンプルの研削装置
CN105047511A (zh) 离子铣削装置
RU96105927A (ru) Устройство для измельчения образцов материалов
US4127969A (en) Method of making a semiconductor wafer
JP4094816B2 (ja) 研削機、それを動作させるためのコンピュータソフトウェア、およびその動作方法
JP2011101939A (ja) 研削装置
JP4526027B2 (ja) ドレス装置、研削装置、ドレス方法、及び数値制御プログラム
JP4462497B2 (ja) ドレス装置、研削装置、及びドレス方法
JPH01164547A (ja) 検鏡薄片作成用研磨機
JP4549471B2 (ja) 板状物研削装置及び板状物研削方法
JP5793611B1 (ja) 自動薄片研磨装置
CN214237566U (zh) 一种拉动式模具零件打磨用旋转平台
US3541737A (en) Method and apparatus for polishing metallographic specimens
JPH0531669A (ja) 研削装置
JP5039875B2 (ja) ドレス装置、ドレス方法、及び数値制御プログラム
JP2000084828A (ja) ガラスディスク内周研磨装置
JP2002036092A (ja) ワーク切断装置およびワーク切断方法
JP2004306232A (ja) 被研磨加工物の研磨方法及び研磨装置
JP3828223B2 (ja) パイプ端面の開先加工方法とその装置
JP2010042506A (ja) ドレッサ
JPH08101103A (ja) 電子顕微鏡用試料加工装置
JPS6148403B2 (ja)
JPH0724719A (ja) ダイス自動研磨装置
JP2000071152A (ja) ディスクの穴エッジ仕上げ加工装置
JPH11138425A (ja) 研磨方法および研磨装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees