JP3165861B2 - カメラの特性誤差補正装置 - Google Patents
カメラの特性誤差補正装置Info
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- JP3165861B2 JP3165861B2 JP15309890A JP15309890A JP3165861B2 JP 3165861 B2 JP3165861 B2 JP 3165861B2 JP 15309890 A JP15309890 A JP 15309890A JP 15309890 A JP15309890 A JP 15309890A JP 3165861 B2 JP3165861 B2 JP 3165861B2
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/091—Digital circuits
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B17/00—Details of cameras or camera bodies; Accessories therefor
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、カメラの特性誤差補正装置に係わり、特に
は直交座標軸の座標軸で表現できる特定データの誤差を
補正できるようにしたカメラの特性誤差補正装置に関す
る。
は直交座標軸の座標軸で表現できる特定データの誤差を
補正できるようにしたカメラの特性誤差補正装置に関す
る。
［従来の技術と発明が解決しようとする課題］ 一般に、カメラには測光、測距IC、自動絞り、レンズ
ドライブ、フィルム給送等に用いるモータドライブIC等
が設けられ、これ等のICを制御するCPUと共に多種多彩
な撮影モードを実行するためのプログラムが組み込まれ
た電装部がカメラ筐体内に装備される。
ドライブ、フィルム給送等に用いるモータドライブIC等
が設けられ、これ等のICを制御するCPUと共に多種多彩
な撮影モードを実行するためのプログラムが組み込まれ
た電装部がカメラ筐体内に装備される。
カメラの操作性を向上させプログラムAE、プログラム
AF等の手段により多機能高機能を実現するためCPUはア
ナログ入力端子、ROM、RAM、A/D変換回路を内蔵した１
チップマイコンで形成される。このCPUで電池容量、電
圧の監視、ストロボ同調、カメラ筐体内外の温度変化に
対する調整、ファインダ用液晶表示器、LED等の表示制
御等の付加サービスを行なう。
AF等の手段により多機能高機能を実現するためCPUはア
ナログ入力端子、ROM、RAM、A/D変換回路を内蔵した１
チップマイコンで形成される。このCPUで電池容量、電
圧の監視、ストロボ同調、カメラ筐体内外の温度変化に
対する調整、ファインダ用液晶表示器、LED等の表示制
御等の付加サービスを行なう。
カメラの出荷前調整は、若干の冗長データを理論特性
データに付け加えれば機種、ロット、出荷地域別に多数
の理論特性データを用意する必要がない。しかし、自動
化が進み内蔵するプログラム及びデータが増加すると例
えばレンズ特性、レンズ取付位置、受光素子、発光素
子、温度センサ等の特性をそれぞれに対応した１種類の
データで対処できないので、統合できるものは上位に、
統合できないものは階層化し、ベストセラーとなった機
種は専用化する等の工夫がなされている。
データに付け加えれば機種、ロット、出荷地域別に多数
の理論特性データを用意する必要がない。しかし、自動
化が進み内蔵するプログラム及びデータが増加すると例
えばレンズ特性、レンズ取付位置、受光素子、発光素
子、温度センサ等の特性をそれぞれに対応した１種類の
データで対処できないので、統合できるものは上位に、
統合できないものは階層化し、ベストセラーとなった機
種は専用化する等の工夫がなされている。
大部分のカメラは、この理論特性データに基づき作動
するので特開昭63−198818号公報、距離検出装置に開示
されているように出荷時に理論特性データに対する誤差
分係数を実測し、この誤差分係数を記憶装置に格納する
ことにより特性誤差を補正するよう計っている。
するので特開昭63−198818号公報、距離検出装置に開示
されているように出荷時に理論特性データに対する誤差
分係数を実測し、この誤差分係数を記憶装置に格納する
ことにより特性誤差を補正するよう計っている。
しかるに測距に関しては以下の要因の影響を受ける。
（１）電気的ノイズの影響 被写体が遠くにある場合、反射してくる光の量が少な
いため信号とノイズの大きさの変化が少ない。
いため信号とノイズの大きさの変化が少ない。
（２）レンズの収差などの影響で正規の位置でないとこ
ろに反射光が入射する。
ろに反射光が入射する。
（３）受光センサの特性が一様でないときに出力比がず
れる。
れる。
（４）受光センサのモールド面の表面の凹凸の影響でPS
D等への入射位置がずれる。
D等への入射位置がずれる。
（５）投受光レンズの前面を覆うプラスチック製のカバ
ーの曲率誤差によって入射位置がずれる。
ーの曲率誤差によって入射位置がずれる。
これらの要因により、必ずしも誤差は直線特性を示さ
ないので、高精度の測距が期待できず、高性能が要求さ
れる高級カメラに適用できない等の難点がある。
ないので、高精度の測距が期待できず、高性能が要求さ
れる高級カメラに適用できない等の難点がある。
また、特開昭62−25733号公報、カメラの電気的調整
装置では上述のデータの階層化、プログラムのサブルー
チン化を計らず、つまり、理論特性データを用いない
で、例えば絞り値Av、フィルム感度Sv、輝度Bvから計算
される露出時間Tvに対する一連のカメラ単体ごとの実測
誤差（△Tv）を不揮発性メモリ（以下、E2PROMという）
に書き込み、この実測誤差△Tvで特性誤差を補正するよ
う計っている。
装置では上述のデータの階層化、プログラムのサブルー
チン化を計らず、つまり、理論特性データを用いない
で、例えば絞り値Av、フィルム感度Sv、輝度Bvから計算
される露出時間Tvに対する一連のカメラ単体ごとの実測
誤差（△Tv）を不揮発性メモリ（以下、E2PROMという）
に書き込み、この実測誤差△Tvで特性誤差を補正するよ
う計っている。
しかるに、このような方法では大容量のE2PROMが必要
であるばかりでなく、実測のための試験工数（E2PROMの
書き込み時間を含む）が増加し、製品コストが削減でき
ない等の難点がある。
であるばかりでなく、実測のための試験工数（E2PROMの
書き込み時間を含む）が増加し、製品コストが削減でき
ない等の難点がある。
［発明の目的］ 本発明は上述した難点に鑑みなされたもので、予め定
めた測定点に対応した実測特性データと理論特性データ
をE2PROMに記憶することにより誤差分係数を記憶するも
のより高精度の補正ができ、サブルーチン化を計らない
ものより小容量のE2PROMを用いることが可能となり、か
つ出荷時の試験工数が削減できるカメラの特性誤差補正
装置を提供することを目的とする。
めた測定点に対応した実測特性データと理論特性データ
をE2PROMに記憶することにより誤差分係数を記憶するも
のより高精度の補正ができ、サブルーチン化を計らない
ものより小容量のE2PROMを用いることが可能となり、か
つ出荷時の試験工数が削減できるカメラの特性誤差補正
装置を提供することを目的とする。
［課題を解決するための手段］ 本発明によるカメラの特性誤差補正装置は、あらかじ
め定められた少なくとも３つの測定点にそれぞれ対応し
た理論特性データと調整段階で測定点を実測した実測特
性データとを記憶する測定特性データ記憶用メモリと、
理論特性データと実測特性データとに基づいて、撮影時
に実測された撮影実測データから撮影理論特性データを
演算する演算手段と、撮影理論特性データをカメラ駆動
用データに対照させるための対照用テーブルと、撮影理
論特性データをカメラ駆動用データに対照させてカメラ
の駆動を制御する制御手段とを備えており、直交座標軸
の一方の座標軸に理論特性データを、他方の座標軸に実
測特性データをそれぞれ対応させてあり、演算手段によ
り、撮影実測データの直近の前記実測特性データ２つと
それに対応する理論特性データ２つとに基づく一次式を
使い撮影実測データに対応する撮影理論特性データを演
算し、該演算された撮影理論特性データを対照用テーブ
ルと対照してカメラの駆動を制御することとしている。
め定められた少なくとも３つの測定点にそれぞれ対応し
た理論特性データと調整段階で測定点を実測した実測特
性データとを記憶する測定特性データ記憶用メモリと、
理論特性データと実測特性データとに基づいて、撮影時
に実測された撮影実測データから撮影理論特性データを
演算する演算手段と、撮影理論特性データをカメラ駆動
用データに対照させるための対照用テーブルと、撮影理
論特性データをカメラ駆動用データに対照させてカメラ
の駆動を制御する制御手段とを備えており、直交座標軸
の一方の座標軸に理論特性データを、他方の座標軸に実
測特性データをそれぞれ対応させてあり、演算手段によ
り、撮影実測データの直近の前記実測特性データ２つと
それに対応する理論特性データ２つとに基づく一次式を
使い撮影実測データに対応する撮影理論特性データを演
算し、該演算された撮影理論特性データを対照用テーブ
ルと対照してカメラの駆動を制御することとしている。
［実施例］ 以下、本発明によるカメラの特性誤差補正装置の一実
施例を第１図〜第９図に従って詳述する。第１図におい
てEQ1は測距装置である。測距装置EQ1は投光レンズLN
S1、受光レンズLNS2、発光素子LED、受光素子PSDを設け
た測距回路１、A/D変換回路２、鏡胴8bとレンズ8cが接
続された駆動回路８、直線近似演算回路9aを有するCPU9
及び測定特性データ記憶用E2PROM10で構成され、測定特
性データ記憶用E2PROM1Oは特性試験機20の書込みバスBU
S1を経由して後述する距離サンプルポイントLPijで実測
された実測特性データとしての実測距離コードYijと理
論特性データとしての設計距離コードXijが書き込まれ
る。
施例を第１図〜第９図に従って詳述する。第１図におい
てEQ1は測距装置である。測距装置EQ1は投光レンズLN
S1、受光レンズLNS2、発光素子LED、受光素子PSDを設け
た測距回路１、A/D変換回路２、鏡胴8bとレンズ8cが接
続された駆動回路８、直線近似演算回路9aを有するCPU9
及び測定特性データ記憶用E2PROM10で構成され、測定特
性データ記憶用E2PROM1Oは特性試験機20の書込みバスBU
S1を経由して後述する距離サンプルポイントLPijで実測
された実測特性データとしての実測距離コードYijと理
論特性データとしての設計距離コードXijが書き込まれ
る。
特性試験機20はバッファメモリBM、露光テーブルEVT
と距離テーブルLMTを有する特性データ記憶テーブルROM
と試験データ設定器22、距離プレート端子23aと光源端
子23bを有する試験出力回路23及び試験用CPU26で構成さ
れ、試験データ設定器22で距離試験データを設定すると
試験出力回路23の距離プレート端子23aに接続された試
験用プレート24を作動させる。
と距離テーブルLMTを有する特性データ記憶テーブルROM
と試験データ設定器22、距離プレート端子23aと光源端
子23bを有する試験出力回路23及び試験用CPU26で構成さ
れ、試験データ設定器22で距離試験データを設定すると
試験出力回路23の距離プレート端子23aに接続された試
験用プレート24を作動させる。
なお、試験データ設定器22で設定する試験データが露
光試験データのときは第２図に示す測光装置EQ2を第１
図に示す測距装置EQ1に代えて設ける。測光装置EQ2は、
受光素子Cdsから入力されたアナログ露光データをデジ
タル露光データに変換するA/D変換回路３、シャッタ8a
を駆動する駆動回路８、フィルム感度設定器４、プログ
ラム自動露光及び他の自動露光から１つを選択する露光
モード設定器５、直線近似演算回路9aを有するCPU9及び
露光特性データ記憶用E2PROM11で構成される。そして、
試験出力回路23の光源端子23bに接続された試験用光源2
5のランプ25bを設定された露光試験データに応じた光度
で点火する。
光試験データのときは第２図に示す測光装置EQ2を第１
図に示す測距装置EQ1に代えて設ける。測光装置EQ2は、
受光素子Cdsから入力されたアナログ露光データをデジ
タル露光データに変換するA/D変換回路３、シャッタ8a
を駆動する駆動回路８、フィルム感度設定器４、プログ
ラム自動露光及び他の自動露光から１つを選択する露光
モード設定器５、直線近似演算回路9aを有するCPU9及び
露光特性データ記憶用E2PROM11で構成される。そして、
試験出力回路23の光源端子23bに接続された試験用光源2
5のランプ25bを設定された露光試験データに応じた光度
で点火する。
特性試験機20の特性データ記憶テーブルROMは第３図
に示すように１ワード32ビットで０〜255ワード構成の
露光テーブルEVTと距離テーブルLMTを有し、それぞれ設
計露光コードXijまたは設計距離コードXijが記憶されて
いる。設計距離コードXijから一次直線に相当する設計
値が演算できないときは設計距離コードXijの替りにリ
ファレンスデータRFnが特性データ記憶用テーブルROMに
記憶される。同様に、設計露光コードXijから設計露光
データが計算できないとき、例えば機械部分の歯車に対
応したデータが必要なときはこのデータをリファレンス
データRFnとして露光データEVTに記憶される。距離テー
ブルLMTは試験データ設定器22で距離試験テーブルが設
定されたときはサンプルマーカSPMの所定ビット位置が
アクトとなり距離サンプルポイントLPijが定まる。距離
サンプルポイントLPijが定まると距離テーブルLMTが索
引され、設計距離コースXijまたはリファレンスデータR
FnがROMデータバスBUS2と書込みバスBUS1を経由して測
定特性データ記憶用E2PROM10の０〜15番地に距離サンプ
ルポイントLPij近端から遠端の順で書き込まれる。設計
距離コードXijは近端が255、遠端が96となる。
に示すように１ワード32ビットで０〜255ワード構成の
露光テーブルEVTと距離テーブルLMTを有し、それぞれ設
計露光コードXijまたは設計距離コードXijが記憶されて
いる。設計距離コードXijから一次直線に相当する設計
値が演算できないときは設計距離コードXijの替りにリ
ファレンスデータRFnが特性データ記憶用テーブルROMに
記憶される。同様に、設計露光コードXijから設計露光
データが計算できないとき、例えば機械部分の歯車に対
応したデータが必要なときはこのデータをリファレンス
データRFnとして露光データEVTに記憶される。距離テー
ブルLMTは試験データ設定器22で距離試験テーブルが設
定されたときはサンプルマーカSPMの所定ビット位置が
アクトとなり距離サンプルポイントLPijが定まる。距離
サンプルポイントLPijが定まると距離テーブルLMTが索
引され、設計距離コースXijまたはリファレンスデータR
FnがROMデータバスBUS2と書込みバスBUS1を経由して測
定特性データ記憶用E2PROM10の０〜15番地に距離サンプ
ルポイントLPij近端から遠端の順で書き込まれる。設計
距離コードXijは近端が255、遠端が96となる。
更に、試験データ設定器22で距離試験データが設定さ
れているので、距離サンプルポイントLPijで指定された
距離の試験用プレート24が作動する。このため、発光素
子LED、投光レンズLNS1、試験用プレート24、受光レン
ズLNS2、受光素子PSDにより試験用プレート24までの距
離が実測される。この実測値はCPU9からデータバス9bを
経由してバッファメモリBMへ送出される。バッファメモ
リBMへ入力された実測距離コードYijはサンプルバスBUS
3と書込みバスBUS1を介して測定特性データ記憶用E2PRO
M1Oに書き込まれる。
れているので、距離サンプルポイントLPijで指定された
距離の試験用プレート24が作動する。このため、発光素
子LED、投光レンズLNS1、試験用プレート24、受光レン
ズLNS2、受光素子PSDにより試験用プレート24までの距
離が実測される。この実測値はCPU9からデータバス9bを
経由してバッファメモリBMへ送出される。バッファメモ
リBMへ入力された実測距離コードYijはサンプルバスBUS
3と書込みバスBUS1を介して測定特性データ記憶用E2PRO
M1Oに書き込まれる。
測定特性データ記憶用E2PROM10の０番地の距離サンプ
ルポイントLPijに対応した実測距離コードYijをデータY
1とし、順次Y2、Y3、Y4・・・・とする。また、設計距
離コードXijはデータX1、X2・・・・とする。
ルポイントLPijに対応した実測距離コードYijをデータY
1とし、順次Y2、Y3、Y4・・・・とする。また、設計距
離コードXijはデータX1、X2・・・・とする。
測光の場合は、試験データ設定器22で露光試験データ
が設定されるとサンプルマーカSPMの所定ビット位置が
アクトとなり露光サンプルポイントEPijが定まる。露光
サンプルポイントEPijが定まると、露光テーブルEVTが
露光サンプルポイントEPijで索引され、設計露光コード
XijまたはリファレンスデータRFnがROMデータバスBUS2
と書込みバスBUS1を経由して測光装置EQ2の露光特性デ
ータ記憶用E2PROM11の０〜15番地に露光サンプルポイン
トEPij（暗〜明）の順で書き込まれる。
が設定されるとサンプルマーカSPMの所定ビット位置が
アクトとなり露光サンプルポイントEPijが定まる。露光
サンプルポイントEPijが定まると、露光テーブルEVTが
露光サンプルポイントEPijで索引され、設計露光コード
XijまたはリファレンスデータRFnがROMデータバスBUS2
と書込みバスBUS1を経由して測光装置EQ2の露光特性デ
ータ記憶用E2PROM11の０〜15番地に露光サンプルポイン
トEPij（暗〜明）の順で書き込まれる。
更に、試験データ設定器22で露光試験データが設定さ
れているので試験用光源25のランプ25bの光度が試験出
力回路23で選択され、バッファメモリBMへ実測された実
測露光コードYijが記憶される。この実測露光コードYij
はサンプルバスBUS3と書込みバスBUS1を経由して特性デ
ータ記憶用E2PROM11に送出され、前述した設計露光コー
ドXijと共に露光特性データ記憶用E2PROM11に書き込ま
れる。この場合の設計露光コードXijはEv20のときを０
とし、Ev4と1/16は255とする。
れているので試験用光源25のランプ25bの光度が試験出
力回路23で選択され、バッファメモリBMへ実測された実
測露光コードYijが記憶される。この実測露光コードYij
はサンプルバスBUS3と書込みバスBUS1を経由して特性デ
ータ記憶用E2PROM11に送出され、前述した設計露光コー
ドXijと共に露光特性データ記憶用E2PROM11に書き込ま
れる。この場合の設計露光コードXijはEv20のときを０
とし、Ev4と1/16は255とする。
CPUの直線近似演算回路9aは、測距装置EQ1ではサンプ
ルポイントLPijで実測された実測距離コードYij（デー
タY1、Y2・・・・）と設計距離コードXij（データX1、X
2・・・・）を（１）式に示す方程式により演算する。
ルポイントLPijで実測された実測距離コードYij（デー
タY1、Y2・・・・）と設計距離コードXij（データX1、X
2・・・・）を（１）式に示す方程式により演算する。
但し、Yn≦Ya＜Yn+1、Xaは距離コード。
また、測光装置EQ2のときは実測露光コードYij（デー
タY1、Y2・・・・）と設計露光コードXij（データX1、X
2・・・・）から（１）式に示す方程式を用いて直線近
似演算回路9aで露光コードXaを演算する。
タY1、Y2・・・・）と設計露光コードXij（データX1、X
2・・・・）から（１）式に示す方程式を用いて直線近
似演算回路9aで露光コードXaを演算する。
上記構成のカメラの特性誤差補正装置で測距装置EQ1
の特性誤差を補正するには試験時に、第１図に示す測定
特性データ記憶用E2PROM10の０〜15ワードに順次距離サ
ンプルポイントLPij（ijは19.2、1.4、0.7、0.5とす
る）に対応したX1、X2、X3、X4が書き込まれているた
め、CPU9がこれ等の数値を第６図に示す直交座標のＸ軸
におく。ここでは例として100、150、200、250とする。
また、記憶されているX1、X2、X3、X4に対応した実測値
Y1、Y2、Y3、Y4は120、170、190、240となっているの
で、これらをＹ軸におく。
の特性誤差を補正するには試験時に、第１図に示す測定
特性データ記憶用E2PROM10の０〜15ワードに順次距離サ
ンプルポイントLPij（ijは19.2、1.4、0.7、0.5とす
る）に対応したX1、X2、X3、X4が書き込まれているた
め、CPU9がこれ等の数値を第６図に示す直交座標のＸ軸
におく。ここでは例として100、150、200、250とする。
また、記憶されているX1、X2、X3、X4に対応した実測値
Y1、Y2、Y3、Y4は120、170、190、240となっているの
で、これらをＹ軸におく。
ここで、実際撮影時の測距コードYaが180であれば、Y
a＝180、Yn+1＝190、Yn＝170、Xn＝150、Xn+1＝200と
し、（１）式に代入すると （２）式はXa＝175が得られる。このXa＝175を第４図に
示す距離対照テーブルLREFにより対照すればＬ＝0.972m
が得られる。第６図に示すように、記憶された設計測距
コードXijと実測距離コードYijの交点（×印）を結ぶ直
線は一直線ではない。つまり、距離によって異なる誤差
量を考慮した補正が可能となっている。
a＝180、Yn+1＝190、Yn＝170、Xn＝150、Xn+1＝200と
し、（１）式に代入すると （２）式はXa＝175が得られる。このXa＝175を第４図に
示す距離対照テーブルLREFにより対照すればＬ＝0.972m
が得られる。第６図に示すように、記憶された設計測距
コードXijと実測距離コードYijの交点（×印）を結ぶ直
線は一直線ではない。つまり、距離によって異なる誤差
量を考慮した補正が可能となっている。
つぎに、測光の場合では、第２図に示す露光特性デー
タ記憶用E2PROM11の０〜15ワードに順次露光サンプルポ
イントEPij（ijはEv17、16、14、12、９、５とする）に
対応したX1〜X6が試験時に書き込まれており、これ等の
数値は第７図に示す直交座標のＸ軸におく。ここでは例
として48、64、96、128、176、240とする。また、記憶
されているX1〜X6に対応した実測値Y1〜Y6は40、60、8
0、120、150、200となっているので、これらをＹ軸にお
く。
タ記憶用E2PROM11の０〜15ワードに順次露光サンプルポ
イントEPij（ijはEv17、16、14、12、９、５とする）に
対応したX1〜X6が試験時に書き込まれており、これ等の
数値は第７図に示す直交座標のＸ軸におく。ここでは例
として48、64、96、128、176、240とする。また、記憶
されているX1〜X6に対応した実測値Y1〜Y6は40、60、8
0、120、150、200となっているので、これらをＹ軸にお
く。
ここで、実際撮影時の露光コードがYa＝100とすれ
ば、Yn+1＝120、Yn＝80、Xn+1＝128、Xn＝96とし、
（１）式に代入すると （３）式はXa＝112となり、このXa＝112を第５図に示す
露光量対照テーブルEREFにより対照すればEv＝13（EV）
が得られる。第７図に示すように、記憶された設計露光
コードXijと実測露光コードYijの交点（×印）を結ぶ直
線は一直線ではない。つまり、光度によって異なる誤差
量を考慮した補正が可能となっている。
ば、Yn+1＝120、Yn＝80、Xn+1＝128、Xn＝96とし、
（１）式に代入すると （３）式はXa＝112となり、このXa＝112を第５図に示す
露光量対照テーブルEREFにより対照すればEv＝13（EV）
が得られる。第７図に示すように、記憶された設計露光
コードXijと実測露光コードYijの交点（×印）を結ぶ直
線は一直線ではない。つまり、光度によって異なる誤差
量を考慮した補正が可能となっている。
つぎに露光量、フィルム感度（ISO）、Ｆ値から演算
されるEv値の補正を同様に行った場合を第８図に、スト
ロボ制御の補正を同様に行った場合を第９図に示す。点
線が補正前、×線が補正後である。
されるEv値の補正を同様に行った場合を第８図に、スト
ロボ制御の補正を同様に行った場合を第９図に示す。点
線が補正前、×線が補正後である。
上記実施例における各種特性誤差に係わる補正は上記
実施例に限定せず、例えば、受光素子PSDが中央、左、
右の位置で受光した場合の光学系機構、レンズ特性の補
正等にも用いてもよい。
実施例に限定せず、例えば、受光素子PSDが中央、左、
右の位置で受光した場合の光学系機構、レンズ特性の補
正等にも用いてもよい。
また、電気、機械系変換に係わる変換誤差の補正に用
いてもよい。
いてもよい。
また、特性データ記憶テーブルROMのデータは、上記
実施例に限定せず、機種別、補正特性別に構成してもよ
い。
実施例に限定せず、機種別、補正特性別に構成してもよ
い。
［発明の効果］ 本発明によるカメラの特性誤差補正装置は、誤差分係
数を記憶するものより高精度の補正ができ、また、サブ
ルーチン化を計らないものより小容量のE2PROMを用いる
ことができ、出荷時の試験工数を削減できる。
数を記憶するものより高精度の補正ができ、また、サブ
ルーチン化を計らないものより小容量のE2PROMを用いる
ことができ、出荷時の試験工数を削減できる。
第１図は本発明によるカメラの特性誤差補正装置の一実
施例を示すブロック図、第２図は他の実施例を示すブロ
ック図、第３図、第４図、第５図は本発明によるカメラ
の特性誤差補正装置のデータ構成図、第６図、第７図、
第８図、第９図は本発明によるカメラの特性誤差補正装
置の特性図である。 ９……CPU（制御手段） 9a……直線近似演算回路（演算手段） 10……E2PROM（測定特性データ記憶用メモリ） 11……E2PROM（測定特性データ記憶用メモリ）
施例を示すブロック図、第２図は他の実施例を示すブロ
ック図、第３図、第４図、第５図は本発明によるカメラ
の特性誤差補正装置のデータ構成図、第６図、第７図、
第８図、第９図は本発明によるカメラの特性誤差補正装
置の特性図である。 ９……CPU（制御手段） 9a……直線近似演算回路（演算手段） 10……E2PROM（測定特性データ記憶用メモリ） 11……E2PROM（測定特性データ記憶用メモリ）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川合 道雄 千葉県四街道市鹿渡934―13番地 株式 会社精工舎千葉事業所内 (72)発明者 斎藤 浩幸 千葉県四街道市鹿渡934―13番地 株式 会社精工舎千葉事業所内 (72)発明者 伊藤 寛治 千葉県四街道市鹿渡934―13番地 株式 会社精工舎千葉事業所内 (72)発明者 角田 光弘 千葉県四街道市鹿渡934―13番地 株式 会社精工舎千葉事業所内 (56)参考文献 特開 昭63−97925（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−115729（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−43976（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−248133（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−220533（ＪＰ，Ａ)
Claims (3)
- 【請求項１】あらかじめ定められた少なくとも３つの測
定点にそれぞれ対応した理論特性データと調整段階で前
記測定点を実測した実測特性データとを記憶する測定特
性データ記憶用メモリと、 前記理論特性データと前記実測特性データとに基づい
て、撮影時に実測された撮影実測データから撮影理論特
性データを演算する演算手段と、 前記撮影理論特性データをカメラ駆動用データに対照さ
せるための対照用テーブルと、 前記撮影理論特性データを前記カメラ駆動用データに対
照させてカメラの駆動を制御する制御手段とを備えてお
り、 直交座標軸の一方の座標軸に前記理論特性データを、他
方の座標軸に前記実測特性データをそれぞれ対応させて
あり、前記演算手段により、前記撮影実測データの直近
の前記実測特性データ２つとそれに対応する前記理論特
性データ２つとに基づく一次式を使い前記撮影実測デー
タに対応する撮影理論特性データを演算し、 該演算された撮影理論特性データを前記対照用テーブル
と対照してカメラの駆動を制御する ことを特徴とするカメラの特性誤差補正装置。 - 【請求項２】請求項１において、前記各データは距離に
係わる特性データであることを特徴とするカメラの特性
誤差補正装置。 - 【請求項３】請求項１において、前記各データは光度に
係わる特性データであることを特徴とするカメラの特性
誤差補正装置。
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| US5828584A (en) * | 1994-12-19 | 1998-10-27 | Seiko Precision Inc. | Device for determining a distance range of an object |
| US5809345A (en) * | 1995-03-31 | 1998-09-15 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Programmable electronic device |
| US5649253A (en) * | 1995-03-31 | 1997-07-15 | Eastman Kodak Company | Self calibration circuit for a camera |
| US5606392A (en) * | 1996-06-28 | 1997-02-25 | Eastman Kodak Company | Camera using calibrated aperture settings for exposure control |
| US7609958B2 (en) * | 2006-08-01 | 2009-10-27 | Eastman Kodak Company | Automatic focus system calibration for image capture systems |
| DE102016125646A1 (de) * | 2016-12-23 | 2018-06-28 | Wipotec Wiege- Und Positioniersysteme Gmbh | Mess- und/oder Sensorvorrichtung mit einer Kamera |
Family Cites Families (28)
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|---|---|---|---|---|
| US4233503A (en) * | 1979-03-05 | 1980-11-11 | Nihon Beru-Haueru Kabushiki Kaisha (Bell & Howell Japan, Ltd.) | Automatic focus adjusting system |
| US4316257A (en) * | 1979-11-20 | 1982-02-16 | Siemens Gammasonics, Inc. | Dynamic modification of spatial distortion correction capabilities of scintillation camera |
| US4345825A (en) * | 1979-12-13 | 1982-08-24 | Eastman Kodak Company | Apparatus for automatic control of a photographic camera |
| JPS5863989A (ja) * | 1981-10-13 | 1983-04-16 | 大日本スクリ−ン製造株式会社 | デジタル画像処理装置における出力デ−タの階調補正方法 |
| JPS58126520A (ja) * | 1981-11-04 | 1983-07-28 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | カメラの自動合焦装置 |
| US4423934A (en) * | 1982-04-02 | 1984-01-03 | Eastman Kodak Company | Photographic camera with digital controller and method of manufacture |
| DE3369738D1 (en) * | 1982-05-08 | 1987-03-12 | Angenieux P Ets | An improved zoom lens for cameras |
| US4621292A (en) * | 1983-10-19 | 1986-11-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Automatic focusing device for a video camera |
| JPS60182274A (ja) * | 1984-02-29 | 1985-09-17 | Canon Inc | ビデオカメラにおける焦点検出装置 |
| JPH0820582B2 (ja) * | 1986-07-16 | 1996-03-04 | 株式会社ニコン | カメラ |
| US4737815A (en) * | 1986-08-13 | 1988-04-12 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Photometer |
| US5134431A (en) * | 1986-10-14 | 1992-07-28 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Photographic camera including a memory for storing adjustment data and a means for adjusting functions of the camera based on the stored adjustment data |
| USRE34140E (en) * | 1986-10-22 | 1992-12-08 | Olympus Optical Company, Ltd. | Electronic memory means for adjusting camera electric circuits |
| US4737814A (en) * | 1986-10-22 | 1988-04-12 | Olympus Optical Company, Ltd. | Electronic memory means for adjusting camera electric circuits |
| JP2763002B2 (ja) * | 1987-04-13 | 1998-06-11 | オリンパス光学工業株式会社 | フオーカシングレンズ駆動装置 |
| US5003400A (en) * | 1987-08-19 | 1991-03-26 | Hitachi, Ltd. | Focusing apparatus of video camera or the like |
| US4959726A (en) * | 1988-03-10 | 1990-09-25 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Automatic focusing adjusting device |
| US4977521A (en) * | 1988-07-25 | 1990-12-11 | Eastman Kodak Company | Film noise reduction by application of bayes theorem to positive/negative film |
| US5033015A (en) * | 1988-08-12 | 1991-07-16 | Hughes Aircraft Company | Automated system for testing an imaging sensor |
| US4903055A (en) * | 1989-01-30 | 1990-02-20 | Eastman Kodak Company | Method and apparatus for calibrating and/or testing a photographic camera |
| JP2551846B2 (ja) * | 1989-07-10 | 1996-11-06 | セイコープレシジョン株式会社 | モータ駆動シャッタ |
| GB8923654D0 (en) * | 1989-10-20 | 1989-12-06 | Walker Digital Audio Video Sys | Film weave correction |
| FR2657208B1 (fr) * | 1990-01-16 | 1992-04-10 | Thomson Consumer Electronics | Procede et dispositif de correction automatique de geometrie, de superposition de couleurs et d'uniformite d'image pour camera de television. |
| US5101271A (en) * | 1990-03-30 | 1992-03-31 | Hughes Aircraft Company | Image restoration and faulty sensor detection and compensation system and process |
| JPH0455836A (ja) * | 1990-06-26 | 1992-02-24 | Nikon Corp | Ｅ↑２ｐｒｏｍを有するカメラ |
| US5157435A (en) * | 1990-09-29 | 1992-10-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Automatic focusing apparatus for a video camera and the method thereof |
| US5192964A (en) * | 1991-03-04 | 1993-03-09 | Ricoh Company, Ltd. | Camera having blurring movement correction mechanism |
| US5283640A (en) * | 1992-01-31 | 1994-02-01 | Tilton Homer B | Three dimensional television camera system based on a spatial depth signal and receiver system therefor |
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- 1991-06-07 US US07/712,118 patent/US5371691A/en not_active Expired - Fee Related
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-
1998
- 1998-06-25 HK HK98106590A patent/HK1007448A1/xx not_active IP Right Cessation
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|---|---|---|---|
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