JP3156764U - 表面疵検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
また、みがき棒鋼や鋼管の場合には、所定の長さに切断された棒鋼や素管に引抜加工を行う引抜加工設備(例えば、非特許文献1参照)によって製造されるものもある。
図1(a)に示すように、みがき棒鋼の製造工程では、例えば、コイル状に巻き取った線材コイルを酸洗し、熱処理を施した後、引抜加工設備Aに搬送する。引抜加工設備Aでは、線材コイルを巻き戻して線材を軸方向に搬送し、予備矯正、ショットブラストを施した後、線材の表面に潤滑剤としての油を付着させる。そして、ダイスによって引抜加工を施した線材を適宜の長さで切断した後、再度矯正し、真直性の高い線材、すなわちみがき棒鋼を得る。このみがき棒鋼に対して非破壊検査(NDI)を行った後、引抜加工設備Aから搬出する。
なお、上記のように、線材の表面に潤滑剤としての油を付着させるのは、引抜加工時におけるダイスと線材との焼き付きや、切断後の矯正時における矯正機と線材との焼き付きを防止することが目的である。
或いは、図1(c)に示すように、鋼線の製造工程では、例えば、コイル状に巻き取った線材コイルを酸洗し、熱処理を施した後、引抜加工設備Cに搬送する。引抜加工設備Cでは、線材コイルを巻き戻して線材を軸方向に搬送し、予備矯正、ショットブラストを施した後、線材の表面に潤滑剤を付着させる。具体的には、例えば、潤滑剤として、リン酸亜鉛を最初に付着させ、その上にステアリン酸カルシウムを付着させる。そして、潤滑剤が付着した線材にダイスによって引抜加工を施す。この引抜加工によって、潤滑剤は引抜加工を施された線材(鋼線)の表面に密着し、潤滑皮膜を形成する。そして、鋼線に非破壊検査を行った後、鋼線をコイル状に巻き取る。
なお、図1(b)及び(c)に示すように、線材の表面に潤滑剤(リン酸亜鉛及びステアリン酸カルシウム)を付着させ、潤滑皮膜を形成させるのは、客先において鋼線を切断し、ボルト等に冷間鍛造する際の潤滑が主目的である。
図2は、本考案の第1実施形態に係る表面疵検査装置の概略構成を示す模式図である。図2(a)は被検査材の搬送方向に直交する方向から見た側面図を、図2(b)は被検査材の搬送方向から見た撮像手段の正面図を示す。図3は、図2に示す探傷装置の概略構成を示す模式図である。図4は、本考案の第1実施形態に係る表面疵検査装置を用いた表面疵検査方法の概略手順を示すフロー図である。
図9は、探傷装置として他の渦流探傷装置を適用した本考案の第2実施形態に係る表面疵検査装置の概略構成を示す模式図である。図9(a)は被検査材の搬送方向に直交する方向から見た側面図を、図9(b)は被検査材の搬送方向から見た探傷装置の正面図を示す。なお、図9において、図2を参照して説明した第1実施形態に係る表面疵検査装置100と同様の構成については同じ符号を付し、その詳細な説明を省略する。
2・・・撮像手段
3・・・画像処理手段
4・・・制御手段
11・・・差動型コイル
12、12A・・・探傷器
21・・・撮像器
22・・・光源
222・・・ストロボ照明
100、100A・・・表面疵検査装置
B・・・被検査材
Claims (2)
- 引抜加工設備に設置され、表面に潤滑剤が付着した引抜加工後の断面略円形の被検査材に存在する表面疵を検査する表面疵検査装置であって、
軸方向に搬送される被検査材に対して渦流探傷又は漏洩磁束探傷を行うことにより、被検査材に存在する表面疵候補を検出する探傷装置と、
前記探傷装置に対して被検査材の搬送方向下流側に配置され、前記探傷装置によって表面疵候補が検出された場合に、当該表面疵候補を含む被検査材表面の所定領域を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で撮像した前記所定領域の撮像画像に対して、表面疵に対応する画素領域を抽出するための所定の画像処理を施す画像処理手段と、
前記撮像手段を駆動制御する制御手段とを備え、
前記撮像手段は、被検査材の周方向に沿って配置され、被検査材の軸方向に直交する方向に視線を有する複数の撮像器と、該撮像器に対して被検査材の搬送方向上流側及び下流側にそれぞれ配置され、被検査材を挿通する環状照明とを具備し、
前記制御手段は、前記探傷装置によって表面疵候補が検出された場合に、被検査材が搬送されることによって前記検出された表面疵候補が前記撮像手段の配置位置に到達したタイミングで、前記撮像手段を駆動制御して前記表面疵候補を含む被検査材表面の所定領域を撮像させ、
前記画像処理手段は、前記画像処理によって表面疵に対応する画素領域が抽出された場合に、前記所定領域に表面疵が存在すると判定することを特徴とする表面疵検査装置。 - 前記探傷装置は、断面略円形の被検査材に存在する表面疵候補の周方向位置を特定し、
前記撮像手段は、前記探傷装置によって表面疵候補が検出された場合に、当該表面疵候補の特定された周方向位置に対応する撮像器によって当該表面疵候補を含む被検査材表面の所定領域を撮像することを特徴とする請求項1に記載の表面疵検査装置。
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