JP7284361B1 - 金属缶外観検査装置、及び、金属缶外観検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】装置の大型化及び装置の複雑化を招くことなく、巻締部の不良検査機能を向上させる。【解決手段】金属缶外観検査装置１００は、リング型の形状を呈する照明装置（リング型照明装置１２）と、照明装置の中心と同軸上に配置され、かつ、照明装置からの照明光による巻締上端の反射画像を撮影するカメラ（テレビカメラ１４）と、カメラで撮影した画像をデジタル多階調画像に変換して巻締上端のリング状画像を取得するデジタル入力変換部２１と、リング状画像の輝点二重リングの乱れ及びシーミングパネル部暗点リングの乱れを計測することにより、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検出するシーミングパネル変化量検査部４７と、を備える。【選択図】図２

Description

本発明は、金属缶外観検査装置、及び、金属缶外観検査方法に関する。

従来、リング型照明装置から照明光を金属缶の巻締部に照射し、巻締部の反射画像に基づいて、金属缶の外観を検査する金属缶外観検査装置がある（例えば、特許文献１，２参照）。

特許第３２２４６６７号公報 特許第５５７５６７５号公報

金属缶外観検査装置では、巻締部の複数種類の不良検査を単一装置で行うことが要望されつつある。しかしながら、従来の金属缶外観検査装置は、巻締部の複数種類の不良検査を単一装置で行うことを意図していないため、この要望を満たすためには、カメラを増設することを要し、装置が大型化したり、装置が複雑化したりして、設置スペースが大きくなったり、製造コストが上昇したりする可能性がある。そのため、金属缶外観検査装置では、装置の大型化及び装置の複雑化を招くことなく、巻締部の不良検査機能を向上させることが望まれる。

本発明は、前記した課題を解決するためになされたものであり、装置の大型化及び装置の複雑化を招くことなく、巻締部の不良検査機能を向上させる金属缶外観検査装置、及び、金属缶外観検査方法を提供することを主な目的とする。

前記目的を達成するため、本発明は、金属缶外観検査装置であって、リング型の形状を呈する照明装置と、前記照明装置の中心と同軸上に配置され、かつ、前記照明装置からの照明光による巻締上端の反射画像を撮影するカメラと、前記カメラで撮影した画像をデジタル多階調画像に変換して巻締上端のリング状画像を取得するデジタル入力変換部と、前記リング状画像の輝点二重リングの乱れ及びシーミングパネル部暗点リングの乱れを計測することにより、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検出するシーミングパネル変化量検査部と、を備える、構成とする。
その他の手段は、後記する。

本発明によれば、装置の大型化及び装置の複雑化を招くことなく、巻締部の不良検査機能を向上させることができる。

実施形態に係る金属缶外観検査装置の概略構成図である。 金属缶外観検査装置で用いる画像処理装置の構成図である。 金属缶外観検査装置で用いるリング型照明装置の説明図（１）である。 金属缶外観検査装置で用いるリング型照明装置の説明図（２）である。 巻締部の撮影画像の説明図である。 巻締部の撮影画像の部分拡大図である。 舌だし不良の説明図である。 足だし不良の説明図である。 疑似巻締不良の説明図である。 スリップ不良の説明図である。 巻締部の断面構造の説明図である。 巻締部の断面構造の説明図である。 舌だし不良が発生している巻締部の撮影画像の説明図である。 Ｔ寸法変化量に基づいて、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検出する場合の動作を示すフローチャートである。 シーミングパネル幅変化量に基づいて、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検出する場合の動作を示すフローチャートである。 スリップ不良が発生している巻締部の撮影画像の説明図である。 スリップ不良が発生している巻締部の撮影画像の部分拡大図である。 スリップ不良を検出する場合の動作を示すフローチャートである。 良品の計測分布グラフ図（１）である。 良品の計測分布グラフ図（２）である。 良品の計測分布グラフ図（３）である。 舌だし不良の計測分布グラフ図（１）である。 舌だし不良の計測分布グラフ図（２）である。 舌だし不良の計測分布グラフ図（３）である。 足だし不良の計測分布グラフ図（１）である。 足だし不良の計測分布グラフ図（２）である。 足だし不良の計測分布グラフ図（３）である。 スリップ不良の計測分布グラフ図（１）である。 スリップ不良の計測分布グラフ図（２）である。 スリップ不良の計測分布グラフ図（３）である。 缶径違いの撮影画像の説明図（１）である。 缶径違いの撮影画像の説明図（２）である。 ミニシーム缶の巻締部に対する画像処理例の説明図（１）である。 ミニシーム缶の巻締部に対する画像処理例の説明図（２）である。 ミニシーム缶の巻締部に対する画像処理例の説明図（３）である。 ミニシーム缶の巻締部に対する画像処理例の説明図（４）である。

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態（以下、「本実施形態」と称する）について詳細に説明する。なお、各図は、本発明を十分に理解できる程度に、概略的に示しているに過ぎない。よって、本発明は、図示例のみに限定されるものではない。また、各図において、共通する構成要素や同様な構成要素については、同一の符号を付し、それらの重複する説明を省略する。

従来の金属缶外観検査装置では、缶径違いの品種（例えば２０４径蓋と２０２径蓋）に合わせて複数のカメラを設置するため、装置の大型化及び装置の複雑化を招いている。これに対して、本実施形態は、缶径違いの品種に拘わらず、１台のカメラ（テレビカメラ）で巻締部の不良を検査する金属缶外観検査装置１００を提供することを意図している。

また、本実施形態は、１台のカメラ（テレビカメラ）で撮影した画像に基づいて巻締部の複数種類の不良を検査する金属缶外観検査装置１００を提供することを意図している。

また、本実施形態は、従来の金属缶外観検査装置では行うことができなかったスリップ不良を検出することができる金属缶外観検査装置１００を提供することも意図している。スリップ不良は、巻締機の調整バランスが狂うことで発生する不良であり、例えば、巻締機の保持手段に対して金属缶がスリップしてしまい、金属缶に傷（スリップ摺擦痕）を付けてしまう不良である。ちなみに、スリップ不良を検出する実施形態は、後記する図１１に示すフローの処理に基づいて詳細に説明する。なお、本実施形態では、特許５５７５６７５号の各検査を行いながら、本発明も追加で実施可能とした。

＜金属缶外観検査装置の全体構成＞
以下、図１を参照して、本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００の全体構成について説明する。図１は、本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００の概略構成図である。

図１に示すように、本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００は、ベルトコンベア１１と、リング型照明装置１２と、テレビカメラ１４と、画像処理装置１５と、排出機１６と、を備えている。

ベルトコンベア１１は、金属缶６０を搬送する搬送機構である。図示例ではベルトコンベア１１は、搬送方向Ａ１０に向けて金属缶６０を搬送している。

リング型照明装置１２は、リング型の形状を呈する照明装置である。リング型照明装置１２は、リングの内部に設けられた発光部から金属缶６０の巻締部６１に向けて照明光１２ａを照射する。

テレビカメラ１４は、金属缶６０の巻締部６１の画像を撮影する撮影手段である。テレビカメラ１４は、リング型照明装置１２の上方で、かつ、リング型照明装置１２の中心と同軸上に配置されている。テレビカメラ１４は、リング型照明装置１２に設けられたリング内の空間を介して、金属缶６０の巻締部６１の画像を撮影する。撮影手段としては、静止画を撮影するカメラにすることもできる。

画像処理装置１５は、テレビカメラ１４で撮影された巻締部６１の撮影画像を画像処理して、金属缶６０の巻締部６１に対して複数種類の不良の有無を検査する検査手段である。

排出機１６は、金属缶６０を外部に排出する機構である。排出機１６には、画像処理装置１５で不良が検出された金属缶６０を選別してベルトコンベア１１のライン上からライン外に排出する選別装置１７が設けられている。

ここでは、例えば、食品用の金属缶６０の缶胴と缶蓋との間の巻締部６１の不良を金属缶外観検査装置１００が検査する場合を想定して説明する。この場合に、金属缶外観検査装置１００は、金属缶６０の缶胴と缶蓋との間の巻締部６１を上に向けた状態でベルトコンベア１１によって搬送する。なお、金属缶６０の缶胴と缶底との間の巻締部の不良を検査する場合は、缶胴と缶底との間の巻締部を上に向けた状態でベルトコンベア１１によって搬送する。

係る構成において、金属缶外観検査装置１００は、ベルトコンベア１１によってリング型照明装置１２の直下の手前の位置に金属缶６０が搬送されると、図示せぬセンサで検知する。すると、金属缶外観検査装置１００は、照明電源１３を入れてリング型照明装置１２を点灯させる。リング型照明装置１２は、リングの内部に設けられた発光部から金属缶６０の巻締部６１に向けて照明光１２ａを照射する。

照明光１２ａは、金属缶６０の巻締部６１で反射して、反射光１２ｂとしてテレビカメラ１４の撮影部に入光する。これにより、テレビカメラ１４は、金属缶６０の巻締部６１の撮影画像（巻締上端の撮影画像）を撮影する。このとき撮影される金属缶６０の巻締部６１の撮影画像（巻締上端の撮影画像）は、例えば、輝点二重リング５０（図３Ｄ参照）を有するリング状画像となっている。

金属缶外観検査装置１００は、テレビカメラ１４から画像処理装置１５に撮影画像を出力する。画像処理装置１５は、撮影画像を画像処理して、金属缶６０の巻締部６１に対して複数種類の不良の有無を検査する。このとき行われる画像処理は、例えば、巻締部６１のリング幅（巻締リング幅）を全周測定する処理等である。画像処理装置１５は、不良の有無を検査すると、検査結果を排出機１６に出力する。排出機１６の選別装置１７は、検査結果に基づいて、選別動作や不良の金属缶６０の排出動作を行う。

＜画像処理装置の構成＞
以下、図２を参照して、画像処理装置１５の構成について説明する。図２は、画像処理装置１５の構成図である。

図２に示すように、画像処理装置１５は、デジタル入力変換部２１と、画像メモリ２２と、画像計測演算処理部２３と、プルトップ辞書設定部２４と、辞書メモリ２５と、不良判定閾値設定部２６と、不良閾値メモリ２７と、ノイズ除去閾値設定部２８と、ノイズ閾値メモリ２９と、ノイズ除去演算部３０と、巻締不良判定演算部３１と、計測判定方法切替部３２と、を備える。

デジタル入力変換部２１は、テレビカメラ１４で撮影された巻締上端の撮影画像ＳＧ１１をデジタル多階調画像に変換して巻締上端のリング状画像ＳＧ１２を取得する構成要素である。
画像メモリ２２は、デジタル入力変換部２１で取得された巻締上端のリング状画像ＳＧ１２を記憶する構成要素である。

画像計測演算処理部２３は、デジタル多階調画像に変換された巻締上端のリング状画像ＳＧ１２から巻締部６１のリング状画像の寸法を計測（演算）する構成要素である。

プルトップ辞書設定部２４は、プルトップの径や形状等に関する辞書データを設定する構成要素である。
辞書メモリ２５は、プルトップ辞書設定部２４によって設定されたプルトップの径や形状等に関する辞書データを記憶する構成要素である。

不良判定閾値設定部２６は、巻締部６１の不良判定用の閾値を設定する構成要素である。
不良閾値メモリ２７は、不良判定閾値設定部２６によって設定された不良判定用の閾値を記憶する構成要素である。

ノイズ除去閾値設定部２８は、画像計測演算処理部２３で計測される巻締部６１のリング状画像の計測寸法に対してノイズとして除去する閾値（ノイズ除去用の閾値）の限界値を設定する構成要素である。
ノイズ閾値メモリ２９は、ノイズ除去用の閾値を記憶する構成要素である。

ノイズ除去演算部３０は、巻締上端のリング状画像ＳＧ１２からノイズを除去するための演算を行う構成要素である。
巻締不良判定演算部３１は、巻締上端のリング状画像ＳＧ１２に基づいて巻締部６１の不良の有無を判定する構成要素である。巻締不良判定演算部３１は、巻締部６１の不良の有無を判定した結果（合否結果４９）を排出機１６や図示せぬ表示装置等に出力する。
計測判定方法切替部３２は、不良部の有無の検査に用いる検査部を切り替える構成要素である。

係る構成において、金属缶外観検査装置１００は、テレビカメラ１４で撮影された巻締上端の撮影画像ＳＧ１１を入力画像（入力信号）として画像処理装置１５に入力する。デジタル入力変換部２１は、入力画像（巻締上端の撮影画像ＳＧ１１）をデジタル多階調画像に変換して巻締上端のリング状画像ＳＧ１２を取得して画像メモリ２２に格納する。

画像計測演算処理部２３は、画像メモリ２２に格納された巻締上端のリング状画像ＳＧ１２から巻締部６１のリング状画像の寸法を計測（演算）する。
ノイズ除去閾値設定部２８は、画像計測演算処理部２３で計測される巻締部６１のリング状画像の計測寸法に対してノイズとして除去する閾値（ノイズ除去用の閾値）の限界値を設定し、ノイズ閾値メモリ２９に記憶する。
ノイズ除去演算部３０は、画像計測演算処理部２３で計測した値とノイズ閾値メモリ２９との値を比較し、ノイズデータを判別し除去する。
不良判定閾値設定部２６は、ノイズ除去後の有効データに対して良否判定の限界値を設定し、不良閾値メモリ２７に記憶する。
巻締不良判定演算部３１は、ノイズ除去後の有効データと不良閾値メモリ２７との値を比較し合否（良否）判別して、合否（良否）結果を排出機１６や図示せぬ表示装置等に出力する。

また、画像処理装置１５は、巻締厚さＴ寸法検査部４１と、Ｔ寸法変化量検査部４２と、シーミングパネル傷検査部４３と、プルトップ形状寸法検査部４４と、座屈特徴検査部４５と、内圧特徴検査部４６と、シーミングパネル変化量検査部４７と、スリップ特徴検査部４８と、を備えている。画像処理装置１５は、シーミングパネル変化量検査部４７とスリップ特徴検査部４８の動作に大きな特徴があるので、ここでは、シーミングパネル変化量検査部４７とスリップ特徴検査部４８を重点的に説明する。

巻締厚さＴ寸法検査部４１は、巻締部６１の厚さであるＴ寸法（図５）を検査する構成要素である。
Ｔ寸法変化量検査部４２は、巻締部６１の全周でのＴ寸法（図５）の変化量を検査する構成要素である。
シーミングパネル傷検査部４３は、シーミングパネル６４（図５参照）の傷を検査する構成要素である。
プルトップ形状寸法検査部４４は、プルトップの形状を検査する構成要素である。
座屈特徴検査部４５は、金属缶６０の座屈を検査する構成要素である。
内圧特徴検査部４６は、金属缶６０の内圧による歪み等の特徴を検査する構成要素である。
シーミングパネル変化量検査部４７は、シーミングパネル６４（図５参照）の全周でのＴ寸法（図５）の変化量を検査する構成要素である。
スリップ特徴検査部４８は、金属缶６０のスリップ不良の特徴を検査する構成要素である。

＜リング型照明装置の構成＞
以下、図３Ａと図３Ｂを参照して、リング型照明装置１２の構成について説明する。図３Ａと図３Ｂは、それぞれ、リング型照明装置１２の説明図である。

図３Ａに示すように、テレビカメラ１４は、シーミングウォール・ラジアス部６３（図５参照）の反射光を十分に撮影可能な高さ（例えば、２００～８００ｍｍの高さ）に設置されている。シーミングウォール・ラジアス部６３（図５参照）は、金属缶６０の巻締部６１の外周側のラジアス部（湾曲部）である。

リング型照明装置１２の内径は、好ましくは、缶蓋直径の２倍以上であるとよい。リング型照明装置１２は、金属缶６０の蓋から任意の距離（図３Ａに示す例では、５～１５ｍｍ）離間した高さの位置に設置されるとよい。

図３Ｂに示すように、缶蓋巻締後の金属缶６０の上部に配置された、缶蓋直径の２倍以上のリング型照明装置１２は、缶蓋の巻締部６１を照明する。これにより、缶蓋の巻締部６１の外周側のシーミングウォール・ラジアス部６３（図５参照）と缶蓋の巻締部６１の内周側のシーミングパネル・ラジアス部６５（図５参照）は、照明光１２ａを受けて反射光１２ｂを反射する。リング型照明装置１２の上部に配置されたテレビカメラ１４は、金属缶６０の巻締部６１の画像を撮影する。

テレビカメラ１４で撮影される巻締部６１の撮影画像は、シーミングウォール・ラジアス部６３（図５参照）のエッジとシーミングパネル・ラジアス部６５（図５参照）のエッジとの撮像エッジ間隔Δｄ（図５参照）と、シーミングパネル６４（図５参照）と、プルトップ部分と、内圧組成変形部分とを一度に撮影し画像処理することが可能であるとよい。

＜巻締部の撮影画像＞
以下、図３Ｃと図３Ｄを参照して、テレビカメラ１４で撮影される巻締部６１の撮影画像について説明する。図３Ｃは、巻締部６１の撮影画像Ｉ１１の説明図である。図３Ｄは、巻締部６１の撮影画像Ｉ１１の部分拡大図である。図３Ｄは、図３Ｃに示す部位Ｒ１１の構成を拡大して示している。図３Ｃに示すように、巻締部６１の撮影画像（巻締上端の撮影画像）は、輝点二重リング５０（図３Ｄ参照）を有するリング状画像となっている。図３Ｄに示すように、輝点二重リング５０は、暗点リング部５１を挟んで、外側に外リング部５０ａが配され、内側に内リング部５０ｂが配された構成になっている。暗点リング部５１は、図５に示すシーミングパネル６４（非反射部）に対応する部位であり、外リング部５０ａ及び内リング部５０ｂよりも暗くなっている。外リング部５０ａは、図５に示すシーミングウォール・ラジアス部６３（反射部）に対応する部位であり、暗点リング部５１よりも明るくなっている。内リング部５０ｂは、図５に示すシーミングパネル・ラジアス部６５（反射部）に対応する部位であり、暗点リング部５１よりも明るくなっている。外リング部５０ａと内リング部５０ｂの明るさは、ほぼ同じである。

＜金属缶の不良＞
以下、図４Ａから図４Ｄを参照して、金属缶６０の不良について説明する。
図４Ａは、舌だし不良部Ｅ１１の説明図である。舌だし不良部Ｅ１１は、金属缶６０のボディがはみ出している不良部である。
図４Ｂは、足だし不良部Ｅ１２の説明図である。足だし不良部Ｅ１２は、金属缶６０の蓋がはみ出している不良部である。
図４Ｃは、疑似巻締不良部Ｅ１３の説明図である。疑似巻締不良部Ｅ１３は、金属缶６０の巻締部６１の締めが不十分な不良部である。
図４Ｄは、スリップ不良部Ｅ１４の説明図である。スリップ不良部Ｅ１４は、巻締機の調整バランスが狂うことで発生する不良部であり、例えば、巻締機の保持手段に対して金属缶６０がスリップしてしまうことで、金属缶６０に傷（スリップ摺擦痕）が付いている不良部である。

金属缶外観検査装置１００は、これらの不良を簡単な構成で検査できるようにすることを意図したものである。

図４Ａから図４Ｃに示す舌だし不良部Ｅ１１と足だし不良部Ｅ１２と疑似巻締不良部Ｅ１３について、金属缶外観検査装置１００は、図８に示すフローに沿って、図５に示すＴ寸法ｔの変化量を検査することで、不良の有無を判定する。

又は、図４Ａから図４Ｃに示す舌だし不良部Ｅ１１と足だし不良部Ｅ１２と疑似巻締不良部Ｅ１３について、金属缶外観検査装置１００は、図９に示すフローに沿って、図６に示すシーミングパネル幅（すなわち、シーミングパネル６４の幅）の変化量を検査することで、不良部の有無を判定する。

また、スリップ不良部Ｅ１４について、金属缶外観検査装置１００は、図１１に示すフローに沿って、輝点二重リング５０（図３Ｄ参照）のエッジ位置を検査することで、不良部の有無を判定する。

＜巻締部の断面構造＞
以下、図５及び図６を参照して、金属缶６０の断面構造について説明する。図５と図６は、それぞれ、巻締部６１の断面構造の説明図である。

図５及び図６に示すように、金属缶６０の巻締部６１は、外周側の缶胴の延在方向と同方向にシーミングウォール６２を備え、内周側の缶胴の延在方向と同方向にチャックウォール６６を備えている。シーミングウォール６２とチャックウォール６６との間には、外周側から内周側に向けて、シーミングウォール・ラジアス部６３、シーミングパネル６４、シーミングパネル・ラジアス部６５が設けられている。シーミングウォール・ラジアス部６３は、シーミングウォール６２からシーミングパネル６４に向けて折り曲げられた部位である。シーミングパネル６４は、巻締部６１の頂面に該当する部位である。シーミングパネル・ラジアス部６５は、シーミングパネル６４からチャックウォール６６に向けて折り曲げられた部位である。チャックウォール６６の内周側には、カウンターシンク６７が設けられている。シーミングウォール６２とシーミングパネル６４は、照明光１２ａが反射しない非反射部となっている。また、シーミングウォール・ラジアス部６３とシーミングパネル・ラジアス部６５とチャックウォール６６の上部は、照明光１２ａが反射する反射部となっている。シーミングウォール・ラジアス部６３は、照明光１２ａが反射することで、反射輝点部６８ａとして撮影画像に映り込む。また、シーミングパネル・ラジアス部６５は、照明光１２ａが反射することで、反射輝点部６８ｂとして撮影画像に映り込む。また、シーミングパネル６４は、照明光１２ａが反射しないため、暗点部６９として撮影画像に映り込む。図３Ｄに示す例では、反射輝点部６８ａが外リング部５０ａとして撮影画像Ｉ１１に映り込み、反射輝点部６８ｂが内リング部５０ｂとして撮影画像Ｉ１１に映り込み、暗点部６９が暗点リング部５１として撮影画像Ｉ１１に映り込んでいる。

図５は、缶巻締厚さをＴ寸法ｔとし、輝点二重リング５０（図３Ｄ参照）の幅を撮像エッジ間隔Δｄとして、舌だし不良部Ｅ１１（図４Ａ）と足だし不良部Ｅ１２（図４Ｂ）と疑似巻締不良部Ｅ１３（図４Ｃ）を検査する場合の例を示している。

また、図６は、缶巻締厚さをＴ寸法ｔとし、暗点リング部５１（図３Ｄ参照）の幅を撮像エッジ間隔Δｄａとして、舌だし不良部Ｅ１１（図４Ａ）と足だし不良部Ｅ１２（図４Ｂ）と疑似巻締不良部Ｅ１３（図４Ｃ）を検査する場合の例を示している。

＜舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検査する場合の動作＞
以下、図７及び図８を参照して、舌だし不良部Ｅ１１（図４Ａ）と足だし不良部Ｅ１２（図４Ｂ）と疑似巻締不良部Ｅ１３（図４Ｃ）を検査する場合の金属缶外観検査装置１００の動作について説明する。図７は、舌だし不良が発生している巻締部６１の撮影画像の説明図である。図８は、Ｔ寸法変化量に基づいて、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検査する場合の動作を示すフローチャートである。舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良は、金属缶６０の一部位に単発的に発生する不良であるので、金属缶６０のＴ寸法やシーミングパネル６４の幅等の微小変化を検出することで、検査することができる。

図７に示すように、舌だし不良部Ｅ１１には以下の特徴がある。
（１）不良部のΔｄが大きい。
（２）不良部と非不良部から算出されるΔＤＩＦが大きい。

金属缶外観検査装置１００の画像処理装置１５は、例えば図５に示すＴ寸法ｔの変化量を用いて舌だし不良部Ｅ１１（図４Ａ）等を検査する場合に、図８に示す処理を実行する。

図８に示すように、金属缶外観検査装置１００の画像処理装置１５は、テレビカメラ１４から映像（金属缶の巻締部６１の撮影画像）を入力する（ステップＳ１０５）。次に、画像処理装置１５は、デジタル入力変換部２１（図２）で映像（金属缶の巻締部６１の撮影画像）をデジタル転送して（つまり、撮影画像をデジタル多階調画像に変換して）多階調化された巻締上端のリング状画像を取得する（ステップＳ１１０）。

次に、画像処理装置１５は、画像計測演算処理部２３（図２）で巻締上端のリング状画像の中心位置を計測し（ステップＳ１１５）、中心位置の周囲を一定サンプル角度θで、輝点二重リング５０（図３Ｄ）の全周の撮像エッジ間隔Δｄ１～Δｄｎを計測する（ステップＳ１２０）。撮像エッジ間隔Δｄ１～Δｄｎの計測については、公知技術の手法（例えば特許第３５５７３７２号公報に記載されたもの）を利用することができる。

次に、画像処理装置１５は、ノイズ除去演算部３０（図２）で水滴等のノイズ情報を除去する（ステップＳ１２５）。水滴等のノイズ情報の除去については、公知技術の手法（例えば特許第４４６４３３２号公報に記載されたもの）を利用することができる。

次に、画像処理装置１５は、計測判定方法切替部３２（図２）でＴ寸法変化量検査部４２（図２）を選択し、Ｔ寸法変化量検査部４２（図２）で、巻締部６１の全周に亘ってＴ寸法変化量ΔＤＩＦを算出する（ステップＳ１３０）。

ここでは、Ｔ寸法変化量検査部４２（図２）は、以下の式（１）でＴ寸法変化量ΔＤＩＦを算出するものとする。
ΔＤＩＦ＝｜Δｄｎ－Δｄ（ｎ＋ｍ）｜ …（１）

次に、画像処理装置１５は、Ｔ寸法変化量検査部４２（図２）でＴ寸法変化量ΔＤＩＦが上限閾値を超過しているか否かを判定する（ステップＳ１３５）。Ｔ寸法変化量ΔＤＩＦが上限閾値を超過しているか否かの判定については、公知技術の手法（例えば特許第３２２４６６７号公報に記載されたもの）を利用することができる。

ステップＳ１３５の判定で、Ｔ寸法変化量ΔＤＩＦが上限閾値を超過していると判定される場合に、Ｔ寸法変化量検査部４２（図２）は、巻締部６１に巻締不良が発生している（ＮＧ）と判定する。ここで判定される巻締不良は、舌だし不良部Ｅ１１（図４Ａ）、足だし不良部Ｅ１２（図４Ｂ）、疑似巻締不良部Ｅ１３（図４Ｃ）等の、シーミングパネル形状に有意差を示す不良である。一方、ステップＳ１３５の判定で、Ｔ寸法変化量ΔＤＩＦが上限閾値を超過していないと判定される場合に、Ｔ寸法変化量検査部４２（図２）は、巻締部６１に巻締不良が発生していない（ＯＫ）と判定する。

ここで、図８のフローについて、図５を用いて詳細に説明する。図５に示すように、シーミングウォール・ラジアス部６３とシーミングパネル・ラジアス部６５は、反射輝点部６８ａがリング状に繋がる外リング部５０ａ（図３Ｄ参照）と、反射輝点部６８ｂがリング状に繋がる外リング部５０ａ（図３Ｄ参照）と、を含む輝点二重リング５０（図３Ｄ参照）として撮影される。ここで、輝点二重リング５０（図３Ｄ参照）のリングエッジは、シーミングウォール・ラジアス部６３の最外エッジ座標Ｐ１とシーミングパネル・ラジアス部６５の最内エッジ座標Ｐ２とである。その幅である撮像エッジ間隔Δｄは、撮像エッジ間隔Δｄ＝｜Ｐ１－Ｐ２｜≒缶巻締厚さ（すなわち、Ｔ寸法ｔ）として計測できる。

この撮像エッジ間隔Δｄを一定サンプル角度θで全周計測し、その円周方向微分したＴ寸法変化量ΔＤＩＦは、Ｔ寸法変化量ΔＤＩＦ＝｜Δｄｎ－Δｄ（ｎ＋ｍ）｜として算出することができる。そして、Ｔ寸法変化量検査部４２（図２）は、Ｔ寸法変化量ΔＤＩＦの最大値を求め、最大値が上限閾値を超過しているか否かを判定する。Ｔ寸法変化量ΔＤＩＦの最大値が上限閾値を超過している場合に、Ｔ寸法変化量検査部４２（図２）は、巻締不良が発生していると判定する。

また、金属缶外観検査装置１００の画像処理装置１５は、例えば図６に示すシーミングパネル幅（すなわち、シーミングパネル６４の幅）の変化量を用いて舌だし不良部Ｅ１１（図４Ａ）等を検査する場合に、図９に示す処理を実行する。図９は、シーミングパネル幅変化量に基づいて、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検査する場合の動作を示すフローチャートである。

図９に示すように、金属缶外観検査装置１００の画像処理装置１５は、テレビカメラ１４から映像（金属缶の巻締部６１の撮影画像）を入力する（ステップＳ２０５）。次に、画像処理装置１５は、デジタル入力変換部２１（図２）で映像（金属缶の巻締部６１の撮影画像）をデジタル転送して（つまり、撮影画像をデジタル多階調画像に変換して）多階調化された巻締上端のリング状画像を取得する（ステップＳ２１０）。

次に、画像処理装置１５は、画像計測演算処理部２３（図２）で巻締上端のリング状画像の中心位置を計測し（ステップＳ２１５）、中心位置の周囲を一定サンプル角度θで、暗点リング部５１（図３Ｄ）の全周の撮像エッジ間隔Δｄ１ａ～Δｄａｎを計測する（ステップＳ２２０）。撮像エッジ間隔Δｄ１～Δｄｎの計測については、公知技術の手法（例えば特許第３５５７３７２号公報に記載されたもの）を利用することができる。

次に、画像処理装置１５は、ノイズ除去演算部３０（図２）で水滴等のノイズ情報を除去する（ステップＳ２２５）。水滴等のノイズ情報の除去については、公知技術の手法（例えば特許第４４６４３３２号公報に記載されたもの）を利用することができる。

次に、画像処理装置１５は、計測判定方法切替部３２（図２）でシーミングパネル変化量検査部４７（図２）を選択し、シーミングパネル変化量検査部４７（図２）で、巻締部６１の全周に亘ってシーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａを算出する（ステップＳ２３０）。

ここでは、シーミングパネル変化量検査部４７（図２）は、以下の式（２）でシーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａを算出するものとする。
ΔＤＩＦａ＝｜Δｄａｎ－Δｄａ（ｎ＋ｍ）｜ …（２）

次に、画像処理装置１５は、シーミングパネル変化量検査部４７（図２）でシーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａが上限閾値を超過しているか否かを判定する（ステップＳ２３５）。シーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａが上限閾値を超過しているか否かの判定については、公知技術の手法（例えば特許第３２２４６６７号公報に記載されたもの）を利用することができる。

ステップＳ２３５の判定で、シーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａが上限閾値を超過していると判定される場合に、シーミングパネル変化量検査部４７（図２）は、巻締部６１に巻締不良が発生している（ＮＧ）と判定する。一方、ステップＳ２３５の判定で、シーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａが上限閾値を超過していないと判定される場合に、シーミングパネル変化量検査部４７（図２）は、巻締部６１に巻締不良が発生していない（ＯＫ）と判定する。

ここで、図９のフローについて、図６を用いて詳細に説明する。図６に示すように、シーミングパネル６４は、暗点部６９がリング状に繋がる暗点リング部５１（図３Ｄ参照）として撮影される。ここで、暗点リング部５１（図３Ｄ参照）のリングエッジは、シーミングウォール・ラジアス部６３の最内エッジ座標Ｐ１ａとシーミングパネル・ラジアス部６５の最外エッジ座標Ｐ２ａとである。その幅である撮像エッジ間隔Δｄａは、撮像エッジ間隔Δｄａ＝｜Ｐ１ａ－Ｐ２ａ｜≒シーミングパネル幅（すなわち、シーミングパネル６４の幅）として計測できる。

この撮像エッジ間隔Δｄａを一定サンプル角度θで全周計測し、その円周方向微分したシーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａは、シーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａ＝｜Δｄａｎ－Δｄａ（ｎ＋ｍ）｜として算出することができる。そして、シーミングパネル変化量検査部４７（図２）は、シーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａの最大値を求め、最大値が上限閾値を超過しているか否かを判定する。シーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａの最大値が上限閾値を超過している場合に、シーミングパネル変化量検査部４７（図２）は、巻締不良が発生していると判定する。

＜スリップ不良を検査する場合の動作＞
以下、図１０Ａ及び図１０Ｂ、並びに、図１１を参照して、スリップ不良部Ｅ１４（図４Ｄ）を検査する場合の金属缶外観検査装置１００の動作について説明する。図１０Ａは、スリップ不良が発生している巻締部６１の撮影画像Ｉ１２の説明図である。図１０Ｂは、スリップ不良が発生している巻締部６１の撮影画像Ｉ１２の部分拡大図である。図１１は、スリップ不良を検査する場合の動作を示すフローチャートである。スリップ不良は、金属缶６０の円周方向に長尺に亘って発生する不良である。このようなスリップ不良は、金属缶６０のＴ寸法やシーミングパネル６４の幅等の微小変化を検出する手法では、正常品のばらつきに埋没してしまうため、検査することができない。つまり、スリップ不良は、図８及び図９に示すフローの処理では、検査することができない。そこで、金属缶外観検査装置１００は、以下に説明する処理を行うことで、スリップ不良の検査を行う。

図１０Ｂは、図１０Ａに示す部位Ｒ１２の構成を拡大して示している。部位Ｒ１２には、スリップ不良部Ｅ１４が発生している。図１０Ｂに示すように、スリップ不良部Ｅ１４には以下の特徴がある。
・輝点二重リング５０の外リング部５０ａ及び内リング部５０ｂのいずれか一方又は双方の円弧の輪郭に歪みがある。

図１０Ｂに示す例では、外リング部５０ａの内側の輪郭に歪み（つまり、スリップ不良部Ｅ１４）が発生している。金属缶外観検査装置１００は、輝点二重リング５０の全周のエッジ位置を検査し、歪み（スリップ不良部Ｅ１４）が発生している箇所を検出する。金属缶外観検査装置１００は、スリップ不良部Ｅ１４に対して、巻締部６に歪み（スリップ不良部Ｅ１４）が発生していない場合の円弧上に任意の数の実点を設定する。座標Ｐ１１，Ｐ１２，Ｐ１３，Ｐ１４，Ｐ１５は、この時設定された実点の座標を示している。また、金属缶外観検査装置１００は、スリップ不良部Ｅ１４に対して、円弧上に補完された仮想上の円弧座標ＰＰ１３を設定する。仮想上の円弧座標ＰＰ１３は、歪み（スリップ不良部Ｅ１４）が発生している巻締部６１の円弧上に仮想的に設定された円弧仮想点のエッジ座標である。そして、金属缶外観検査装置１００は、仮想上の円弧座標ＰＰ１３と座標Ｐ１３との誤差を算出することで、スリップ不良部Ｅ１４の有無を判定する。座標Ｐ１３は、巻締部６に歪み（スリップ不良部Ｅ１４）が発生していない場合の実点のエッジ座標である。

具体的には、図１１に示すように、金属缶外観検査装置１００の画像処理装置１５は、テレビカメラ１４から映像（金属缶の巻締部６１の撮影画像）を入力する（ステップＳ３０５）。次に、画像処理装置１５は、デジタル入力変換部２１（図２）で映像（金属缶の巻締部６１の撮影画像）をデジタル転送して（つまり、撮影画像をデジタル多階調画像に変換して）多階調化された巻締上端のリング状画像を取得する（ステップＳ３１０）。

次に、画像処理装置１５は、画像計測演算処理部２３（図２）で巻締上端のリング状画像の中心位置を計測し（ステップＳ３１５）、中心位置の周囲を一定サンプル角度θで、輝点二重リング５０（図３Ｄ）の全周の一定サンプル角度θでエッジ位置Ｐ［１１］～Ｐ［ｎ］を計測する（ステップＳ３２０）。

次に、画像処理装置１５は、計測判定方法切替部３２（図２）でスリップ特徴検査部４８（図２）を選択し、スリップ特徴検査部４８（図２）で、巻締部６１の全周に亘って、エッジ位置Ｐ［１１］～Ｐ［ｎ］から計算される円弧座標ＰＰ［（１１＋ｎ）／２］を算出し、さらに、円弧仮想点のエッジ座標と実点のエッジ座標との誤差寸法ΔＤＩＦ［（１１＋ｎ）／２］を算出する（ステップＳ３２５）。

ここでは、スリップ特徴検査部４８（図２）は、以下の式（３）で、円弧仮想点のエッジ座標と実点のエッジ座標との誤差寸法ΔＤＩＦ［（１１＋ｎ）／２］を算出するものとする。
ΔＤＩＦ［（１１＋ｎ）／２］＝｜ＰＰ［（１１＋ｎ）／２］－Ｐ［（（１１＋ｎ）／２］｜

スリップ特徴検査部４８（図２）は、円弧仮想点のエッジ座標と実点のエッジ座標との誤差寸法ΔＤＩＦ［（１１＋ｎ）／２］を円周方向に移動しながら全周計測し、最大誤差寸法ＭＡＸΔＤＩＦを検出する。

次に、画像処理装置１５は、スリップ特徴検査部４８（図２）で最大誤差寸法ＭＡＸΔＤＩＦが上限閾値を超過しているか否かを判定する（ステップＳ３３０）。最大誤差寸法ＭＡＸΔＤＩＦが上限閾値を超過しているか否かの判定については、公知技術の手法（例えば特許第３２２４６６７号公報に記載されたもの）を利用することができる。

ステップＳ３３０の判定で、最大誤差寸法ＭＡＸΔＤＩＦが上限閾値を超過していると判定される場合に、スリップ特徴検査部４８（図２）は、巻締部６１にスリップ不良が発生している（ＮＧ）と判定する。一方、ステップＳ３３０の判定で、最大誤差寸法ＭＡＸΔＤＩＦが上限閾値を超過していないと判定される場合に、スリップ特徴検査部４８（図２）は、巻締部６１にスリップ不良が発生していない（ＯＫ）と判定する。

このように、金属缶外観検査装置１００は、スリップ特徴検査部４８（図２）で、円弧仮想点のエッジ座標と実点のエッジ座標との誤差寸法ΔＤＩＦ［（１１＋ｎ）／２］を円周方向に移動しながら全周計測し、最大誤差寸法ＭＡＸΔＤＩＦを検出し、最大誤差寸法ＭＡＸΔＤＩＦが上限閾値を超過しているか否かを判定することで、スリップ不良を検査する。

＜良品、舌だし不良、足だし不良、スリップ不良の特性＞
金属缶外観検査装置１００は、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良等の、シーミングウォール・ラジアス部６３（図５）とシーミングパネル・ラジアス部６５（図５）とに顕著な特徴が現れる巻締不良に対して、図８に示すフローの処理又は図９に示すフローの処理を行うことにより検出する。また、金属缶外観検査装置１００は、金属缶６０の円周方向に長尺に亘って発生するスリップ不良に対して、図１１に示すフローの処理を行うことにより検出する。ここで、図１２Ａから図１５Ｃに、一例として、良品（正常品）、舌だし不良、足だし不良、スリップ不良の特徴グラフを示す。図１２Ａから図１２Ｃは、それぞれ、良品の計測分布グラフ図である。図１３Ａから図１３Ｃは、それぞれ、舌だし不良の計測分布グラフ図である。図１４Ａから図１４Ｃは、それぞれ、足だし不良の計測分布グラフ図である。図１５Ａから図１５Ｃは、それぞれ、スリップ不良の計測分布グラフ図である。

図１２Ａは、良品（正常品）の巻締部６１の全周における計測分布グラフ図である。図１２Ａでは、中心位置から外エッジ（シーミングウォール・ラジアス部６３（図５参照）のエッジ）までの距離を細線で示し、中心位置から内エッジ（シーミングパネル・ラジアス部６５（図５参照）のエッジ）までの距離を太線で示し、巻締幅（巻締部６１のＴ寸法）を中太線で示している（以下、図１３Ａ、図１４Ａ、図１５Ａにおいても同様）。

図１２Ｂは、良品（正常品）の巻締部６１の全周における測定幅差と巻締幅の計測分布グラフ図である。図１２Ｂでは、測定幅差を細線で示し、巻締幅を太線で示している（以下、図１３Ｂ、図１４Ｂ、図１５Ｂにおいても同様）。

図１２Ｃは、良品（正常品）の巻締部６１の全周における外エッジと内エッジの計測分布グラフ図である。図１２Ｃでは、中心位置から外エッジ（シーミングウォール・ラジアス部６３（図５参照）のエッジ）までの距離を細線で示し、中心位置から内エッジ（シーミングパネル・ラジアス部６５（図５参照）のエッジ）までの距離を太線で示している（以下、図１３Ｃ、図１４Ｃ、図１５Ｃにおいても同様）。

図１３Ａは、舌だし不良品の巻締部６１の全周における計測分布グラフ図である。
図１３Ｂは、舌だし不良品の巻締部６１の全周における測定幅差と巻締幅の計測分布グラフ図である。
図１３Ｃは、舌だし不良品の巻締部６１の全周における外エッジと内エッジの計測分布グラフ図である。

図１４Ａは、足だし不良品の巻締部６１の全周における計測分布グラフ図である。
図１４Ｂは、足だし不良品の巻締部６１の全周における測定幅差と巻締幅の計測分布グラフ図である。
図１４Ｃは、足だし不良品の巻締部６１の全周における外エッジと内エッジの計測分布グラフ図である。

図１５Ａは、スリップ不良品の巻締部６１の全周における計測分布グラフ図である。
図１５Ｂは、スリップ不良品の巻締部６１の全周における測定幅差と巻締幅の計測分布グラフ図である。
図１５Ｃは、スリップ不良品の巻締部６１の全周における外エッジと内エッジの計測分布グラフ図である。

図１３Ａから図１５Ｃに示すように、舌だし不良品と足だし不良品とスリップ不良品は、いずれも、良品（正常品）（図１２Ａから図１２Ｃ）よりも、外エッジと内エッジの値が高くなる箇所が発生している。

＜撮影画像と画像処理＞
図３Ａに示すように、金属缶外観検査装置１００のテレビカメラ１４は、シーミングウォール・ラジアス部６３（図５参照）の反射光を十分に撮影可能な高さ（例えば、２００～８００ｍｍの高さ）に設置されている。そのため、図１６Ａ及び図１６Ｂに示すように、金属缶外観検査装置１００は、缶径違いの品種（例えば２０４径蓋と２０２径蓋）に拘わらず、１台のテレビカメラ１４で撮影した撮影画像に基づいて巻締部６１の不良を検査することができる。図１６Ａ及び図１６Ｂは、それぞれ、缶径違いの撮影画像の説明図である。図１６Ａは、２０４径蓋の金属缶６０の巻締部６１の撮影画像Ｉ２１を示している。一方、図１６Ｂは、２０２径蓋の金属缶６０の巻締部６１の撮影画像Ｉ２２を示している。

図１６Ａ及び図１６Ｂに示すように、金属缶外観検査装置１００は、缶径違いの品種（例えば２０４径蓋と２０２径蓋）に拘わらず、１台のテレビカメラ１４で、シーミングウォール・ラジアス部６３（図５参照）に対応する外リング部５０ａ（輝点リング）とシーミングパネル・ラジアス部６５（図５参照）に対応する外リング部５０ａ（輝点リング）とを明確に撮像することができる。

また、日本国外では、コストダウンを図るために、シーミングパネル６４（図５参照）の幅を短くして、巻締部６１の幅を約２．４ｍｍに小さくしたミニシーム缶が多く採用されている。このようなミニシーム缶には、シーミングパネル・ラジアス部６５（図５参照）よりも内側にラジアス部（湾曲部）がさらに設けられている。そのため、テレビカメラ１４でミニシーム缶の巻締部６１を撮影した場合に、図１７Ａに示すように、シーミングパネル・ラジアス部６５（図５参照）に対応する内リング部５０ｂ（輝点リング）よりも内側に別の輝点リングが撮影画像Ｉ２２ａに映り込む。金属缶外観検査装置１００は、ミニシーム缶の巻締部６１に対して、図１７Ａから図１７Ｄに示す処理を行うことで、各種の不良を検査し易い画像を取得する。図１７Ａから図１７Ｄは、ミニシーム缶の巻締部６１に対する画像処理例の説明図である。金属缶外観検査装置１００は、画像計測演算処理部２３で、撮影画像Ｉ２２ａ（図１７Ａ）に映り込んでいる、内リング部５０ｂよりも内側の輝点リングに対してマスク処理を行う。これにより、図１７Ｂに示すように、金属缶外観検査装置１００は、内リング部５０ｂを比較的検出し易い撮影画像Ｉ２２ｂを取得する。そして、図１７Ｃに示す撮影画像Ｉ２２ｃのように、金属缶外観検査装置１００は、図８に示すフローの処理を行う場合に、Ｔ寸法変化量検査部４２（図２）で、撮影画像Ｉ２２ｂ（図１７Ｂ）に基づいて、巻締部６１の全周に亘ってＴ寸法変化量ΔＤＩＦを算出する。又は、図１７Ｃに示す撮影画像Ｉ２２ｃのように、金属缶外観検査装置１００は、図９に示すフローの処理を行う場合に、シーミングパネル変化量検査部４７（図２）で、撮影画像Ｉ２２ｂ（図１７Ｂ）に基づいて、巻締部６１の全周に亘ってシーミングパネル幅変化量ΔＤＩＦａを算出する。そして、図１７Ｄに示すように、金属缶外観検査装置１００は、測定結果を表示した撮影画像Ｉ２２ｄを作成する。このように、金属缶外観検査装置１００は、ミニシーム缶の巻締部６１に対してもマスク処理を行うことで、巻締不良の検査を良好に行うことができる。

＜金属缶外観検査装置の主な特徴＞
（１）図１と図２に示すように、本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００は、リング型照明装置１２と、テレビカメラ１４と、デジタル入力変換部２１と、シーミングパネル変化量検査部４７と、を備える。テレビカメラ１４は、リング型照明装置１２の中心と同軸上に配置され、かつ、リング型照明装置１２からの照明光による巻締上端の反射画像を撮影する。デジタル入力変換部２１は、テレビカメラ１４で撮影した画像をデジタル多階調画像に変換して巻締上端のリング状画像を取得する。シーミングパネル変化量検査部４７は、リング状画像の輝点二重リングの乱れ及びシーミングパネル部暗点リングの乱れを計測することにより、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検出する。

このような本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００は、装置の大型化及び装置の複雑化を招くことなく、巻締部６１の不良検査機能を向上させて、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検出することができる。

（２）図１と図２に示すように、本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００は、リング型照明装置１２と、リング型照明装置１２と、テレビカメラ１４と、デジタル入力変換部２１と、スリップ特徴検査部４８と、を備える。スリップ特徴検査部４８は、リング状画像の輝点二重リングのエッジ座標から計算される円弧仮想点と実点の誤差寸法を判定することにより、スリップ不良を検出する。

このような本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００は、巻締機の調整バランスが狂うことで発生するスリップ不良を検出することができる。

（３）図１と図２に示すように、本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００は、シーミングパネル変化量検査部４７とスリップ特徴検査部４８の双方を備える構成であるとよい。

このような本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００は、装置の大型化及び装置の複雑化を招くことなく、巻締部６１の不良検査機能を向上させて、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良の検出に加え、スリップ不良の検出も行うことができる。

（４）図１と図２に示すように、本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００において、舌だし不良と足だし不良と疑似巻締不良とスリップ不良の検出に使用する画像を撮影するテレビカメラ１４が１台であるとよい。

このような本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００は、１台のテレビカメラ１４で撮影した撮影画像に基づいて、舌だし不良と足だし不良と疑似巻締不良とスリップ不良を検出することができる。このような金属缶外観検査装置１００は、装置の大型化及び装置の複雑化を招かないため、省スペース化や、製造コストの低減を図ることができる。

以上の通り、本実施形態に係る金属缶外観検査装置１００によれば、装置の大型化及び装置の複雑化を招くことなく、巻締部６１の不良検査機能を向上させることができる。

本発明は、前記した実施形態に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、前記した実施形態は、本発明を分かり易く説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、実施形態の構成の一部を他の構成に置き換えることが可能であり、また、実施形態の構成に他の構成を加えることも可能である。また、各構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。

例えば、前記した実施形態では、金属缶外観検査装置１００は、撮影手段としてテレビカメラ１４を用いているが、テレビカメラ１４に限らず、静止画を撮影するカメラであってもよい。

１１ ベルトコンベア（搬送部）
１２ リング型照明装置（照明装置）
１４ テレビカメラ（カメラ）
１５ 画像処理装置
２１ デジタル入力変換部
２２ 画像メモリ
２３ 画像計測演算処理部
３１ 巻締不良判定演算部
３２ 計測判定方法切替部
４７ シーミングパネル変化量検査部
４８ スリップ特徴検査部
５０ 輝点二重リング
５０ａ 外リング部
５０ｂ 内リング部
５１ 暗点リング部
６０ 金属缶
６１ 巻締部
６２ シーミングウォール（非反射部）
６３ シーミングウォール・ラジアス部（反射部）
６４ シーミングパネル（非反射部）
６５ シーミングパネル・ラジアス部（反射部）
６６ チャックウォール
６７ カウンターシンク
６８ａ，６８ｂ 反射輝点部
６９ 暗点部
１００ 金属缶外観検査装置
Ｅ１１ 舌だし不良部
Ｅ１２ 足だし不良部
Ｅ１３ 疑似巻締不良部
Ｅ１４ スリップ不良部
Ｐ１，Ｐ２ａ 最外エッジ座標
Ｐ１ａ，Ｐ２ 最内エッジ座標
Ｐ１１，Ｐ１２，Ｐ１３，Ｐ１４，Ｐ１５ 座標（実点）
ＰＰ１３ 仮想上の円弧座標（円弧仮想点）
ｔ 缶巻締厚さ（Ｔ寸法）
Δｄ，Δｄ１，Δｄｎ 撮像エッジ間隔
ΔＤＩＦ Ｔ寸法変化量
ΔＤＩＦａ Ｔ寸法変化量
ΔＤＩＦ［（１１＋ｎ）／２］ 誤差寸法
ＭＡＸΔＤＩＦ 最大誤差寸法

Claims (7)

1. リング型の形状を呈する照明装置と、
   前記照明装置の中心と同軸上に配置され、かつ、前記照明装置からの照明光による巻締上端の反射画像を撮影するカメラと、
   前記カメラで撮影した画像をデジタル多階調画像に変換して巻締上端のリング状画像を取得するデジタル入力変換部と、
   前記リング状画像の輝点二重リングの乱れ及びシーミングパネル部暗点リングの乱れを計測することにより、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検出するシーミングパネル変化量検査部と、を備える、
   ことを特徴とする金属缶外観検査装置。
2. リング型の形状を呈する照明装置と、
   前記照明装置の中心と同軸上に配置され、かつ、前記照明装置からの照明光による巻締上端の反射画像を撮影するカメラと、
   前記カメラで撮影した画像をデジタル多階調画像に変換して巻締上端のリング状画像を取得するデジタル入力変換部と、
   前記リング状画像の輝点二重リングのエッジ座標から計算される円弧仮想点と実点の誤差を判定することにより、スリップ不良を検出するスリップ特徴検査部と、を備える、
   ことを特徴とする金属缶外観検査装置。
3. 請求項２に記載の金属缶外観検査装置において、
   前記リング状画像の輝点二重リングの乱れ及びシーミングパネル部暗点リングの乱れを計測することにより、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検出するシーミングパネル変化量検査部を備える、
   ことを特徴とする金属缶外観検査装置。
4. 請求項３に記載の金属缶外観検査装置において、
   前記舌だし不良と前記足だし不良と前記疑似巻締不良と前記スリップ不良の検出に使用する画像を撮影するカメラが１台である、
   ことを特徴とする金属缶外観検査装置。
5. リング型の形状を呈する照明装置からの照明光による巻締上端の反射画像を前記照明装置の中心と同軸上に配置したカメラで撮影する工程と、
   前記カメラで撮影した画像をデジタル多階調画像に変換して巻締上端のリング状画像を取得する工程と、
   前記リング状画像の輝点二重リングの乱れ及びシーミングパネル部暗点リングの乱れを計測することにより、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検出する工程と、を含む、
   ことを特徴とする金属缶外観検査方法。
6. リング型の形状を呈する照明装置からの照明光による巻締上端の反射画像を前記照明装置の中心と同軸上に配置したカメラで撮影する工程と、
   前記カメラで撮影した画像をデジタル多階調画像に変換して巻締上端のリング状画像を取得する工程と、
   前記リング状画像の輝点二重リングのエッジ座標から計算される円弧仮想点と実点の誤差を判定することにより、スリップ不良を検出する工程と、を含む、
   ことを特徴とする金属缶外観検査方法。
7. 請求項６に記載の金属缶外観検査方法において、
   前記リング状画像の輝点二重リングの乱れ及びシーミングパネル部暗点リングの乱れを計測することにより、舌だし不良、足だし不良、疑似巻締不良を検出する工程、を含む、
   ことを特徴とする金属缶外観検査方法。

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