JP2015029995A - 銅荒引線の疵検出方法、及び銅荒引線の疵検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】コイル状に巻き取られてなる銅荒引線を準備する準備工程と、前記銅荒引線を引き出して走行させると共に巻き取る巻取工程と、前記銅荒引線の走行中に前記銅荒引線の表面に存在する疵を検出する検出工程とを備える銅荒引線の疵検出方法。好ましくは、前記疵は、凹部と、前記凹部を覆う被覆片とを有するかぶり疵であり、前記準備工程における前記銅荒引線の巻取により前記被覆片を起きあがらせ、引き出された銅荒引線の前記凹部を露出させる銅荒引線の疵検出方法。
【選択図】図1
Description
従来のようにして連続鋳造圧延により製造した銅荒引線に伸線加工を施して伸線材を作製したところ、伸線材の品質(表面性状や線径など)にばらつきが生じる場合があった。本発明者らは、その原因を鋭意検討したところ、圧延後、銅荒引線の巻取前に行った表面の検査では検出困難な疵が存在する場合があり、その疵が伸線材の品質に影響を及ぼしている、との知見を得た。また、その検出困難な疵とは、例えば、かぶり疵がある、との知見も得た。
本発明の実施形態の詳細を、以下に図面を参照しつつ説明する。なお、本発明はこれらの例示に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
銅荒引線の疵検出方法は、銅荒引線の表面に存在する疵を検出する方法である。ここでは、疵の検出が行われる銅荒引線は、銅又は銅合金の溶湯を鋳造機に供給して鋳造材を作製し、その鋳造材を圧延機に直送して圧延する連続鋳造圧延により製造する。この銅荒引線は、圧延後コイル状に巻き取られて、後工程で伸線加工が施されて伸線材が作製される。実施形態に係る銅荒引線の疵検出方法の主たる特徴とするところは、疵の検出を圧延後、銅荒引線の巻取前に行うのではなく、圧延後に一旦コイル状に巻き取った銅荒引線を伸線加工する前に引き出して走行させ、その走行中に行う点にある。まず、実施形態に係る銅荒引線の疵の検出を行う疵検出装置の一例を図を参照して説明し、続いてその疵検出装置を利用して銅荒引線の表面に存在する疵の検出方法を説明する。なお、図中の白抜き矢印は、銅荒引線の進行方向を示す。
図1に示す疵検出装置1は、離間して配置される繰出機10と巻取機20との間に配置される疵検出部30を備える。
繰出機10は、コイル状に巻き取った銅荒引線100を引き出させるために銅荒引線100を設置し、巻取機20は、繰出機10から銅荒引線100を引き出して走行させると共にその銅荒引線100を巻き取る。
疵検出部30は、銅荒引線100の走行中に銅荒引線100の表面の疵を検出する。疵検出部30は、例えば、画像認識装置、渦流探傷器、超音波探傷器、及びレーザー疵検査装置の少なくとも一つを備えることが好ましい。画像認識装置は、撮像装置で撮像した画像を利用して疵を検出する。例えば、画像処理(二値化処理など)による自動確認で疵を検出できる。渦流探傷器は、電流の変化を利用して疵を検出する。例えば、交流電流を流した検出用コイルを銅荒引線100に近づけると銅荒引線100に一定の渦電流が流れ、疵が存在すれば、渦電流が疵を迂回して流れるため検出用コイルの電流値が変化する。その変化によって疵の有無を検出することができる。超音波探傷器は、超音波の反射を利用して疵を検出する。例えば、超音波センサから送信された超音波が銅荒引線100の表面で反射して超音波センサに受信され、電圧に変換される。疵の有無により変換される電圧に差が生じるため、この電圧差から疵の有無を検出できる。レーザー疵検査装置は、レーザー光の反射を利用して疵を検出する。例えば、レーザー光を銅荒引線100の表面に照射した際に、疵の有無で反射するレーザー受光位置が変化する。この反射するレーザー受光位置の差から疵を検出できる。ここでは、撮像装置31と、渦流探傷器32と、計尺ローラ33と、処理装置34とを備える。
疵検出装置1を用いて、銅荒引線100の疵を検出する方法を説明する。銅荒引線100の疵検出方法は、準備工程と、巻取工程と、検出工程とを備える。
コイル状に巻き取られた銅荒引線100を準備する。この巻取により、後述の巻取工程で銅荒引線100を引き出した際に、かぶり疵110の凹部112を被覆片111で覆った状態から(図3の上図)、被覆片111を起き上がらせて凹部112を露出させた状態とし易い(図3の下図)。銅荒引線100は、銅又は銅合金からなり、公知の連続鋳造圧延により製造することができる。
コイル状に巻き取られた銅荒引線100を引き出して走行させると共に、銅荒引線100を巻取機20で巻き取る。この巻取工程の下準備として、準備工程で準備したコイル状に巻き取られた銅荒引線100を繰出機10に設置する。その際、巻取工程の始端が、銅荒引線100をコイル状に巻き取った際の始端側となるように設置してもよいし、終端側となるように設置してもよい。前者の場合、銅荒引線100の巻取方向と同一方向に引き出され、後者の場合、銅荒引線100の巻取方向と反対方向に引き出される。例えば、準備工程で準備した銅荒引線100がルーズコイルの場合は前者と後者のどちらも選択できるが、タイトコイルの場合は後者となることが多い。ここでは、後者の終端側を巻取工程の始端とする。そのため、図3の下図に示すように、図3の上図とは銅荒引線100の進行方向が逆転する。銅荒引線100は、図3の下図に示すようにかぶり疵110の被覆片111が起き上がって凹部112が露出された状態で走行する。コイル状に巻き取られた銅荒引線100を繰出機10に設置したら、上述のように繰出機10から銅荒引線100を引き出して走行させると共に、銅荒引線100を巻取機20で巻き取る。銅荒引線10の走行中に後述する疵検出部30による疵の検出が行われる。その後、銅荒引線100は伸線工程を含む後工程に供される。
銅荒引線100の走行中に、銅荒引線100の表面に存在する疵を検出する。上述のように銅荒引線100は、かぶり疵110の被覆片111が起き上がって凹部112が露出された状態で走行しているため、かぶり疵110を検出し易い。ここでは、疵検出部30により、先に、撮像装置31で銅荒引線100の表面の連続撮影を行って銅荒引線100の長手方向全長に亘って画像を取得し、その後、渦流探傷器32で銅荒引線100の表面検査を行う。そして、上述した処理装置34により、撮像装置31で撮像された画像の撮像位置情報と、渦流探傷器32による疵の検出位置情報とに基づいて、取得した画像のうち渦流探傷器32で疵を検出した箇所が撮像された画像を選別する。選別された画像を基に、銅荒引線100のグレード分けを行う。
上述した形態によれば、銅荒引線100の表面に存在する疵、特に、かぶり疵110を高精度に検出できる。また、銅荒引線100の長手方向全長に亘って画像を取得するので、全長に亘って漏れなく検査でき、かつ探傷した疵を画像で確認できる。さらに、撮像した画像を選別するため、渦流探傷器32による過検出が生じても、選別された画像で疵の有無を再度確認できる。そして、銅荒引線100の長手方向全長に亘って画像を取得するので、選別された画像以外も疵の有無を再度確認でき、誤検出が生じても、疵の見逃しを防止できる。
実施形態1では、疵検出装置1の疵検出部30が、上流側に配置される撮像装置31と、撮像装置31よりも下流側に配置される渦流探傷器32とを備える形態を説明した。実施形態2では、疵検出部が上流側に配置される渦流探傷器と、渦流探傷器よりも下流側に配置される撮像装置とを備え、渦流探傷器で疵を検出した箇所のみ撮像装置のカメラで撮像する形態を説明する。以下の説明は実施形態1との相違点を中心に行う。
発光装置は、フラッシュを利用する。この場合、発光装置をカメラに接続して、カメラによる撮像の際にのみ発光するように制御すればよい。
疵検出部により、先に、渦流探傷器で銅荒引線の表面検査を行う。その後、上記処理装置により、渦流探傷器での疵の検出位置情報に基づいて、銅荒引線の表面のうち渦流探傷器で疵を検出した箇所のみ撮像装置で撮像する。そして、撮像された画像を基に、銅荒引線のグレード分けを行う。
上述の形態によれば、銅荒引線の疵を高精度に検出できることは勿論、渦流探傷器による疵の検出だけでなく、撮像装置による撮像も行うため、渦流探傷器による過検出が生じても、選別された画像で疵の有無を再度確認できる。また、渦流探傷器で疵を検出した箇所のみをカメラで撮像するので、銅荒引線の全長に亘って撮像する場合に比べて保存する画像枚数を少なくすることができ、処理装置の記憶容量を節約できる。
連続鋳造圧延によりφ8mm×長さ10000mの銅荒引線を製造し、その銅荒引線をコイル状に巻き取る前に、銅荒引線の長手方向全長に亘って渦流探傷器を用いて銅荒引線の表面を検査した(以下、巻取前検査)。次に、その銅荒引線をコイル状に巻き取り、図1に示す疵検出装置1を用いて、銅荒引線の表面を検査した(以下、巻取後検査)。即ち、巻き取った銅荒引線を引き出して走行させ、銅荒引線の長手方向全長に亘って撮像装置で撮像し、続いて、渦流探傷器により表面の検査を行った。
10 繰出機
20 巻取機
30 疵検出部
31 撮像装置 31C カメラ 31M 反射装置 31L 発光装置
32 渦流探傷器
33 計尺ローラ
34 処理装置
100 銅荒引線
110 かぶり疵 111 被覆片 112 凹部
Claims (6)
- コイル状に巻き取られてなる銅荒引線を準備する準備工程と、
前記銅荒引線を引き出して走行させると共に巻き取る巻取工程と、
前記銅荒引線の走行中に前記銅荒引線の表面に存在する疵を検出する検出工程とを備える銅荒引線の疵検出方法。 - 前記疵は、凹部と、前記凹部を覆う被覆片とを有するかぶり疵であり、
前記準備工程における前記銅荒引線の巻取により前記被覆片を起きあがらせ、引き出された銅荒引線の前記凹部を露出させる請求項1に記載の銅荒引線の疵検出方法。 - 前記検出工程では、画像認識装置、渦流探傷器、超音波探傷器、及びレーザー疵検査装置の少なくとも一つを用いる請求項1又は請求項2に記載の銅荒引線の疵検出方法。
- 前記検出工程では、
先に、撮像装置を用いた前記銅荒引線の表面の連続撮像と共に、得られた画像における前記銅荒引線の長手方向の撮像位置情報の取得を行い、
その後に、前記渦流探傷器を用いた前記銅荒引線の表面検査と共に、疵を検出した箇所における前記銅荒引線の長手方向の検出位置情報の取得を行い、
前記連続撮像により前記銅荒引線の長手方向全長に亘って画像を取得し、前記撮像位置情報と前記検出位置情報とに基づいて、取得した画像のうち前記渦流探傷器で疵を検出した箇所が撮像された画像を選別する請求項3に記載の銅荒引線の疵検出方法。 - 前記検出工程では、
先に、前記渦流探傷器を用いた前記銅荒引線の全長に亘る表面検査と共に、疵を検出した箇所における前記銅荒引線の長手方向の検出位置情報の取得を行い、
その後に、前記検出位置情報に基づいて、前記銅荒引線の表面のうち前記渦流探傷器で疵を検出した箇所のみ撮像装置で撮像する請求項3に記載の銅荒引線の疵検出方法。 - コイル状に巻き取られてなる銅荒引線を引き出させるために前記銅荒引線を設置する繰出機と、前記繰出機から前記銅荒引線を引き出して走行させると共に前記銅荒引線を巻き取る巻取機との間に設けられ、前記銅荒引線の走行中に前記銅荒引線の表面に存在する疵を検出する疵検出部を備える銅荒引線の疵検出装置。
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