JP3152102B2 - 半田付け状態の検査方法 - Google Patents

半田付け状態の検査方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、斜め方向から電子部品
の半田付け部を観察する半田付け状態の検査方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品には、例えばJリード部品のよ
うに、半田付け部が電子部品の下方に位置し、真上から
カメラで観察したのでは、半田付け部の画像を得ること
ができないものもある。このような電子部品について
は、従来次に述べるような要領で、観察が行われてい
た。
【0003】図5は、従来の半田付け状態の検査方法の
説明図である。図5中、1は基板、2は基板1に半田付
けされたJリード部品などの電子部品、3、4は電子部
品2から下方に延出し、しかも内側に湾曲するリードで
ある。
【0004】リード3、4は、基板1の回路パターン
5、6に半田7により固着されている。そして、半田7
の付近の半田付け部をカメラ8で観察する場合には、図
5の実線で示すように、カメラ8を斜め上方から半田付
け部に向けて、しかも発光部9を同様の向きにセットし
て斜め上方から光をあてる必要がある。
【0005】また10はカメラ8で得られた画像情報を
出力するための信号ケーブル、11は発光部9を発光さ
せるための照明ケーブルである。
【0006】ここで、電子部品2の半田付け部は、図5
に示すとおり、複数の向きに存在しており、これらの半
田付け部を全て観察するためには、例えば図4の破線で
示すようにカメラ8及び発光部9の向きを変更する必要
がある。
【0007】したがって、従来回転軸12に軸着された
ターンテーブル13において、回転軸12から偏心した
位置に、カメラ8をブラケット14で固定し、回転軸1
2を水平回転させることによって、複数の向きから電子
部品2の半田付け部を観察するようにしていた。しか
も、従来の半田付け状態の検査方法では、電子部品の実
装の順序に従い、第1番目の実装順序にあたる電子部品
について、必要な向きの観察を全て完了してから、次に
第2番目以降の実装順序にあたる電子部品毎に、同様な
観察を行うようになっていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな観察の順序では、基板1に実装された電子部品の全
個数分回転軸を回転させる必要がある。即ち、極めて長
い検査時間を要するという問題点があった。
【0009】そこで本発明は、短時間で基板に実装され
た電子部品の半田付け部の検査を完了できる半田付け状
態の検査方法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の半田付け状態の
検査方法は、カメラの向きを複数の向きから選んだ一つ
の向きにしたまま、複数個の電子部品の半田付け部を観
察し、次にカメラの向きを更新し、更新した向きにした
まま、複数個の電子部品の半田付け部を観察するもので
ある。
【0011】
【作用】上記構成により、基板に実装された電子部品の
個数だけターンテーブルを回転させるのではなく、また
電子部品の実装順序にとらわれることなく、カメラの向
きを一旦設定したならば、検査の対象となる全ての電子
部品について、設定した向きにおける半田付け状態を観
察し、そしてカメラの向きを次の向きに更新して、同様
な観察を行うものである。これにより、ターンテーブル
の回転に要する時間を、従来の半田付け状態の検査方法
に比べて、飛躍的に少なくすることができ、短い検査時
間内に全ての観察を完了することができる。
【0012】
【実施例】次に図面を参照しながら、本発明の実施例を
説明する。
【0013】図1は、本発明の一実施例における半田付
け状態の検査装置を示すブロック図である。なお図中、
従来の構成を示す図5と同様の構成要素については、同
一符号を付すことにより説明を省略する。
【0014】図1に示す本実施例では、基板1に第1の
電子部品A及び第2の電子部品Bが半田付けされている
ものとする。また15は、基板1を保持する基板ホル
ダ、16はYモータ17が駆動されることにより、基板
ホルダ15をY方向に移動させるYテーブル、18はX
モータ19が駆動されることにより、Yテーブル16を
X方向に移動させるXテーブルである。また20は上方
に設けられたフレーム、21は回転軸12を回転させる
モータ、22は回転軸12の回転位置を検出するロータ
リエンコーダ、23は装置全体を制御するCPUなどの
制御部である。
【0015】24は、Yモータ17、Xモータ19、モ
ータ21をドライブするモータ制御部、25は発光部9
に照明ケーブル11を介して光を供給する照明ボックス
LBを制御する照明コントローラ、26はカメラ8から
信号ケーブル10を介して画像信号を入力し、得られた
画像についての処理を行う画像処理部である。
【0016】次に、図2を参照しながら、本実施例にお
けるカメラの向きの説明を行う。本実施例では、矩形の
Jリード部品である第1の電子部品A、第2の電子部品
Bをのそれぞれの半田付け部を観察するものとする。ま
た第1の電子部品Aは、辺A1,A2,A3,A4のそ
れぞれに複数のリードを有し、第2の電子部品Bは、辺
B1,B2,B3,B4のそれぞれに複数のリードを有
する。そして図2に示すように、この辺の順に、0度、
90度、180度、270度というように、カメラ8の
向きを定義する。
【0017】そして、カメラ8が信号ケーブル10、照
明ケーブル11に接続されており、これらのケーブル1
0、11は、回転軸12とともに回転する。回転軸12
を、360度何巡も回転させるようにすると、これらの
ケーブル10、11が破断してしまう。従って、本実施
例では、360度のうち、ある原点方向(180度と2
70度の中間に原点方向θ0)を定め、回転軸12が原
点方向θ0を超えないように、回転させることとしてい
る。
【0018】カメラ8の向きは、第1の要領として、2
70度を最初の向きとし、次に、0度、90度、180
度というように、原点方向θ0をまたがないように一巡
させる。また第2の要領として、180度を最初の向き
とし、90度、0度、270度としても良い。
【0019】次に図3を参照しながら、電子部品A,B
の二つのものについて、観察を行う例を説明する。上述
した順序の内第1の順序を採用することとし、まずモー
タ21を駆動して、カメラ8の向きを270度を選択
し、この向きにカメラ8を保持する。そして、電子部品
Aの270度を向く辺A4を観察し、電子部品Bについ
ても270度を向く辺B4を観察する。ここで、電子部
品A,Bの実装順序は、どちらが先でも良い。
【0020】次に、カメラ8の向きを0度に更新し、こ
の向きにカメラ8を保持する。そして、電子部品Aの0
度を向く辺A1を観察し、電子部品Bについても0度を
向く辺B1を観察する。
【0021】次に、カメラ8の向きを90度に更新し、
この向きにカメラ8を保持する。そして、電子部品Aの
90度を向く辺A2を観察し、電子部品Bについても9
0度を向く辺B2を観察する。
【0022】最後に、カメラ8の向きを180度に更新
し、この向きにカメラ8を保持する。そして、電子部品
Aの180度を向く辺A3を観察し、電子部品Bについ
ても180度を向く辺B3を観察する。これにより、全
ての観察を完了する。
【0023】以上のように、電子部品A,Bの両方につ
いての画像を取得する際に、カメラ8は、270度、0
度、90度、180度というように、ただ一巡するだけ
で、全ての観察を完了することができ、従来の半田付け
状態の検査方法に比べ、回転軸12の回転(カメラ8の
向きの変更)に要する時間を飛躍的に削減することがで
き、観察全体の時間も大幅に短縮できる。
【0024】また次に基板ホルダ15へ搬送されてきた
未検査の基板を引き続き検査するには、前の基板と逆の
順序でカメラ8の向きを変更してもよい。この場合、未
検査の基板が基板ホルダ15に搬送されてくるまでの時
間内にカメラ8の向きを最初の向き(270°)に戻せ
ないとき等カメラ8の向きの調節に時間がかかる時に行
なうとよい。
【0025】次に図4を参照しながら本発明の他の実施
例を説明する。他の実施例では、カメラを固定したまま
その光路の向きを前述した要領で更新するものである。
【0026】ここで図4において、30は固定されたフ
レーム、31はフレーム30内に下向きに収納されるカ
メラ、32はL字状をなす鏡筒であり、ミラー34,3
5によってカメラ31の光路を半田付け部に斜めから向
けるものである。また鏡筒32の上部はベアリング33
によりフレーム30に対して水平回転自在に装着されて
いる。
【0027】36はフレーム30の側部にその出力軸3
7が下向きとなるように固定されるモータ、38は出力
軸37の下端部に軸着されるプーリである。また、鏡筒
32の外周にはプーリ39が外嵌され、プーリ38,3
9にはベルト40が調帯されている。したがって、モー
タ36を駆動すると、鏡筒32を水平面内においてθ方
向に回転させることができ、これによりカメラ31の光
路の向きを任意に更新することができる。
【0028】なお他の実施例におけるカメラ31の光路
の更新及び半田付け部の観察の要領は、上述した実施例
と同様であるので説明を省略する。
【0029】
【発明の効果】本発明の半田付け状態の検査方法は、カ
メラの向きを複数の向きから選んだ一つの向きにしたま
ま、複数個の電子部品の半田付け部を観察し、次にカメ
ラの向きを更新し、更新した向きにしたまま、複数個の
電子部品の半田付け部を観察するので、ターンテーブル
の回転を一巡させるだけで、全ての向きの半田付け部を
観察することができ、ターンテーブルの回転に要する時
間を節約することにより、全ての観察に要する時間を大
幅に削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における半田付け状態の検査
装置を示すブロック図
【図2】本発明の一実施例におけるカメラの向きの説明
【図3】本発明の一実施例における原点方向の説明図
【図4】本発明の他の実施例における半田付け状態の検
査装置を示すブロック図
【図5】従来の半田付け状態の検査方法の説明図
【符号の説明】
1 基板 8 カメラ 12 回転軸 13 ターンテーブル A 第1の電子部品 B 第2の電子部品

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ターンテーブルにカメラを傾斜した姿勢で
    支持し、基板に半田付けされた複数個の電子部品の半田
    付け部を複数の向きから観察して半田付け状態の検査を
    行う半田付け状態の検査方法であって、 前記カメラの向きを前記複数の向きから選んだ一つの向
    きにしたまま、複数個の電子部品の半田付け部を観察
    し、次に前記カメラの向きを更新し、更新した向きにし
    たまま、複数個の電子部品の半田付け部を観察すること
    を特徴とする半田付け状態の検査方法。
  2. 【請求項2】前記カメラの向きに原点方向を設定し、こ
    の原点方向をまたがない順序となるように、前記カメラ
    の向きを一巡させることを特徴とする請求項1記載の半
    田付け状態の検査方法。
  3. 【請求項3】カメラと、このカメラの光路を基板に半田
    付けされた半田付け部へ向ける鏡筒と、前記鏡筒の向き
    を水平回転させるモータとを含む検査装置を用い、前記
    半田付け部を複数の向きから観察する半田付け状態の検
    査方法であって、 前記カメラの光路の向きを前記複数の向きから選んだ一
    つの向きにしたまま、複数個の電子部品の半田付け部を
    観察し、次に前記カメラの光軸の向きを更新し、更新し
    た向きにしたまま、複数個の電子部品の半田付け部を観
    察することを特徴とする半田付け状態の検査方法。
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