JP3149711B2 - 計器用変流器への配線断線試験回路 - Google Patents
計器用変流器への配線断線試験回路Info
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は計器用変流器への配線断
線試験回路に関し、計器用変流器を備えている各種の製
品に適用して有用なものである。
線試験回路に関し、計器用変流器を備えている各種の製
品に適用して有用なものである。
【０００２】
【従来の技術】計器用変流器（以下ＣＴという）には例
えば三相の電線ラインに装備される零相変流器（以下Ｚ
ＣＴという）や三相変流器（以下３φＣＴという）など
があるが、何れも二次側がオープンになっていないかど
うかを確認するため、配線の断線試験が行われる。
えば三相の電線ラインに装備される零相変流器（以下Ｚ
ＣＴという）や三相変流器（以下３φＣＴという）など
があるが、何れも二次側がオープンになっていないかど
うかを確認するため、配線の断線試験が行われる。
【０００３】図３は従来技術に係る配線断線試験回路の
回路図、図３はＺＣＴの概略構成を示す説明図である。
ＺＣＴ１１は、図４に示すように、三相の電線ライン１
３を取り囲む鉄心１１と、この鉄心１１に巻回された二
次巻線１２とを有しており、電線ライン１３の地絡が発
生すると、このときに流れる零相電流によって鉄心１６
中に磁束を生じ、この磁束によって二次巻線１２に電流
が流れるというものである。かかるＺＣＴ１１の二次巻
線１２には、図３に示すように、二次端子ＴＢ２に接続
された配線１８を介して、抵抗Ｒ2が並列に接続されて
おり、この抵抗Ｒ2は、オペアンプ等を用いて構成され
た増幅回路であるアナログ回路１４を介してマイクロコ
ンピュータ（以下マイコンともいう）１５に接続されて
いる。そして、このＺＣＴ１１には試験用巻線１７が設
けられており、この試験用巻線１７の試験用端子ＴＢ１
にはリレーＲy及び抵抗Ｒ1を介して、本配線断線試験回
路を備えた製品の内部電源Ｖ1′が接続されている。
回路図、図３はＺＣＴの概略構成を示す説明図である。
ＺＣＴ１１は、図４に示すように、三相の電線ライン１
３を取り囲む鉄心１１と、この鉄心１１に巻回された二
次巻線１２とを有しており、電線ライン１３の地絡が発
生すると、このときに流れる零相電流によって鉄心１６
中に磁束を生じ、この磁束によって二次巻線１２に電流
が流れるというものである。かかるＺＣＴ１１の二次巻
線１２には、図３に示すように、二次端子ＴＢ２に接続
された配線１８を介して、抵抗Ｒ2が並列に接続されて
おり、この抵抗Ｒ2は、オペアンプ等を用いて構成され
た増幅回路であるアナログ回路１４を介してマイクロコ
ンピュータ（以下マイコンともいう）１５に接続されて
いる。そして、このＺＣＴ１１には試験用巻線１７が設
けられており、この試験用巻線１７の試験用端子ＴＢ１
にはリレーＲy及び抵抗Ｒ1を介して、本配線断線試験回
路を備えた製品の内部電源Ｖ1′が接続されている。
【０００４】従って、抵抗Ｒ1やリレーＲyを介して製品
内の電源Ｖ1′から試験用巻線１７に電流Ｉ1を流すと、
配線１８が断線していない場合には、二次巻線１２に電
流Ｉ2が流れ抵抗Ｒ2の両端に電圧ＶRが発生するため、
この両端電圧ＶRがアナログ回路１４を介してマイコン
１５に検出され、その結果マイコン１５は配線１８が断
線していないと判断する。一方、配線１８が断線してい
る場合には、二次巻線１２に電流Ｉ2が流れず、従って
抵抗Ｒ2の両端電圧ＶRもゼロであるため、マイコン１５
は配線１８が断線していると判断する。かくして断線試
験が行われる。
内の電源Ｖ1′から試験用巻線１７に電流Ｉ1を流すと、
配線１８が断線していない場合には、二次巻線１２に電
流Ｉ2が流れ抵抗Ｒ2の両端に電圧ＶRが発生するため、
この両端電圧ＶRがアナログ回路１４を介してマイコン
１５に検出され、その結果マイコン１５は配線１８が断
線していないと判断する。一方、配線１８が断線してい
る場合には、二次巻線１２に電流Ｉ2が流れず、従って
抵抗Ｒ2の両端電圧ＶRもゼロであるため、マイコン１５
は配線１８が断線していると判断する。かくして断線試
験が行われる。
【０００５】他の断線試験方法としては、製品内の電源
Ｖ1とは別の電源を用意し、この別電源からＺＣＴ１１
の試験用巻線１７に電流Ｉ1を流して前述の如く配線１
８の断線試験を行ったり、また試験用巻線のない３φＣ
Ｔを三相の電線ラインに装備する場合には、この電線ラ
インに前記別電源から電流を流して、３φＣＴの二次側
の配線の断線試験を行うという方法がある。
Ｖ1とは別の電源を用意し、この別電源からＺＣＴ１１
の試験用巻線１７に電流Ｉ1を流して前述の如く配線１
８の断線試験を行ったり、また試験用巻線のない３φＣ
Ｔを三相の電線ラインに装備する場合には、この電線ラ
インに前記別電源から電流を流して、３φＣＴの二次側
の配線の断線試験を行うという方法がある。
【０００６】なお上記の内容は低圧用のＣＴの場合に限
定する。
定する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、ＺＣＴ
には試験用巻線１７を備えたものがあり、これによって
断線試験を行うことができるが、３φＣＴには特に試験
用巻線がないため、３φＣＴの断線試験を行うには、別
電源等を用意しなければならず、作業が面倒である。ま
た試験用巻線１７を備えたＺＣＴ１１は大型で高価であ
り、試験用巻線１７に接続されるリレーＲyも大型で高
価である。
には試験用巻線１７を備えたものがあり、これによって
断線試験を行うことができるが、３φＣＴには特に試験
用巻線がないため、３φＣＴの断線試験を行うには、別
電源等を用意しなければならず、作業が面倒である。ま
た試験用巻線１７を備えたＺＣＴ１１は大型で高価であ
り、試験用巻線１７に接続されるリレーＲyも大型で高
価である。
【０００８】なお、ＣＴというのは二次側がオープンに
なると、このＣＴが動作したときに損傷してしまうた
め、ＣＴを使用した製品が出荷された後も、作業員等に
よってＣＴの二次側がオープンになっていないかどうか
を確認する必要がある。またＣＴ自体の特性は永い間使
用してもあまり変化がないため、前記製品の出荷後は、
大がかりな特性試験は必要がなく、断線試験という簡易
な試験が求められている。更には前記製品の小型化、低
価格化が求められている。
なると、このＣＴが動作したときに損傷してしまうた
め、ＣＴを使用した製品が出荷された後も、作業員等に
よってＣＴの二次側がオープンになっていないかどうか
を確認する必要がある。またＣＴ自体の特性は永い間使
用してもあまり変化がないため、前記製品の出荷後は、
大がかりな特性試験は必要がなく、断線試験という簡易
な試験が求められている。更には前記製品の小型化、低
価格化が求められている。
【０００９】従って本発明は上記従来技術に鑑み、ＣＴ
への配線の断線試験を簡単に行うことができると共に、
ＣＴを使用した製品の小型化、低価格化を実現すること
ができるＣＴへの配線断線試験回路を提供することを目
的とする。
への配線の断線試験を簡単に行うことができると共に、
ＣＴを使用した製品の小型化、低価格化を実現すること
ができるＣＴへの配線断線試験回路を提供することを目
的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の構成は、計器用変流器の二次巻線に配線を介して並
列に接続された第１の抵抗と、トランジスタを有して構
成されこのトランジスタのベースに入力されるマイクロ
コンピュータからの指令信号によってＯＮするトランジ
スタスイッチと、このトランジスタスイッチと前記第１
の抵抗との間に介設された第２の抵抗と、前記第１の抵
抗と前記トランジスタスイッチとに接続され、前記トラ
ンジスタのベースに指令信号を与えて前記トランジスタ
スイッチをＯＮさせると共に、このときの前記第１の抵
抗の両端電圧に基づき前記配線が断線しているか否かを
判断するマイクロコンピュータとを備えたことを特徴と
する。
明の構成は、計器用変流器の二次巻線に配線を介して並
列に接続された第１の抵抗と、トランジスタを有して構
成されこのトランジスタのベースに入力されるマイクロ
コンピュータからの指令信号によってＯＮするトランジ
スタスイッチと、このトランジスタスイッチと前記第１
の抵抗との間に介設された第２の抵抗と、前記第１の抵
抗と前記トランジスタスイッチとに接続され、前記トラ
ンジスタのベースに指令信号を与えて前記トランジスタ
スイッチをＯＮさせると共に、このときの前記第１の抵
抗の両端電圧に基づき前記配線が断線しているか否かを
判断するマイクロコンピュータとを備えたことを特徴と
する。
【００１１】
【作用】上記構成の本発明によれば、マイクロコンピュ
ータからの指令信号によってトランジスタスイッチがＯ
Ｎすると、二次巻線と第１の抵抗とを接続する配線が断
線していない場合には、第１の抵抗の両端電圧がほぼゼ
ロとなり、その結果マイクロコンピュータは前記配線が
断線していないと判断する。一方、前記配線が断線して
いる場合には、第１の抵抗の両端電圧が、この第１の抵
抗と第２の抵抗との比に応じた電圧となり、その結果マ
イクロコンピュータは前記配線が断線していると判断す
る。
ータからの指令信号によってトランジスタスイッチがＯ
Ｎすると、二次巻線と第１の抵抗とを接続する配線が断
線していない場合には、第１の抵抗の両端電圧がほぼゼ
ロとなり、その結果マイクロコンピュータは前記配線が
断線していないと判断する。一方、前記配線が断線して
いる場合には、第１の抵抗の両端電圧が、この第１の抵
抗と第２の抵抗との比に応じた電圧となり、その結果マ
イクロコンピュータは前記配線が断線していると判断す
る。
【００１２】
【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づき詳細に説
明する。
明する。
【００１３】図１は、本発明の実施例に係る断線試験回
路の回路図である。同図に示すように、ＺＣＴ１には試
験用の巻線がなく、二次巻線２のみが設けられている。
この二次巻線２には、二次端子ＴＢ２に接続された配線
６を介して、並列に抵抗Ｒが接続されている。この抵抗
Ｒは、オペアンプ等を用いて構成された増幅回路である
アナログ回路４を介して、マイコン５に接続されてお
り、二次巻線２に流れる電流ＩCT（流れる方向は電線ラ
イン１３に流れる電流による）を電圧に変換すると共
に、後述する抵抗ＲLとの比によって断線検出レベルを
決定している。
路の回路図である。同図に示すように、ＺＣＴ１には試
験用の巻線がなく、二次巻線２のみが設けられている。
この二次巻線２には、二次端子ＴＢ２に接続された配線
６を介して、並列に抵抗Ｒが接続されている。この抵抗
Ｒは、オペアンプ等を用いて構成された増幅回路である
アナログ回路４を介して、マイコン５に接続されてお
り、二次巻線２に流れる電流ＩCT（流れる方向は電線ラ
イン１３に流れる電流による）を電圧に変換すると共
に、後述する抵抗ＲLとの比によって断線検出レベルを
決定している。
【００１４】そして、この配線断線試験回路にはトラン
ジスタスイッチ７及び抵抗ＲLが設けられている。トラ
ンジスタスイッチ７は、ＰＮＰ型のトランジスタＴ
rと、トランジスタＴrのベースＢとエミッタＥとの間及
びベースＢとマイコン５との間に各々介設されてトラン
ジスタＴrの動作レベルを決定する抵抗ＲBE及びＲBと、
トランジスタＴrのコレクタＣとエミッタＥとの間に接
続されたダイオードＤとによって構成されている。抵抗
ＲLは、コレクタＣと抵抗Ｒとの間に介設されており、
トランジスタＴrのコレクタ電流ＩCの値を決定してい
る。なおエミッタＥには、本配線断線試験回路を備えた
製品の内部直流電源Ｖ1が接続されている。またマイコ
ン５の電源は０Ｖ−５Ｖであり、ＣＯＭは０Ｖ、指令は
５Ｖ（トランジスタＴrＯＦＦ）→０Ｖ（トランジスタ
ＴrＯＮ）である。
ジスタスイッチ７及び抵抗ＲLが設けられている。トラ
ンジスタスイッチ７は、ＰＮＰ型のトランジスタＴ
rと、トランジスタＴrのベースＢとエミッタＥとの間及
びベースＢとマイコン５との間に各々介設されてトラン
ジスタＴrの動作レベルを決定する抵抗ＲBE及びＲBと、
トランジスタＴrのコレクタＣとエミッタＥとの間に接
続されたダイオードＤとによって構成されている。抵抗
ＲLは、コレクタＣと抵抗Ｒとの間に介設されており、
トランジスタＴrのコレクタ電流ＩCの値を決定してい
る。なおエミッタＥには、本配線断線試験回路を備えた
製品の内部直流電源Ｖ1が接続されている。またマイコ
ン５の電源は０Ｖ−５Ｖであり、ＣＯＭは０Ｖ、指令は
５Ｖ（トランジスタＴrＯＦＦ）→０Ｖ（トランジスタ
ＴrＯＮ）である。
【００１５】従って上記実施例によれば、通常は電線ラ
イン１３が地絡して零相電流が流れると、この零相電流
に対応した電流ＩCTが流れ、この電流ＩCTが抵抗Ｒによ
って電圧ＶRに変換されると共にアナログ回路４に増さ
れてマイコン５に検出される。その結果マイコン５は電
線ライン１３が地絡したと判断し、この判断に基づいて
図示しない保護回路が動作する。
イン１３が地絡して零相電流が流れると、この零相電流
に対応した電流ＩCTが流れ、この電流ＩCTが抵抗Ｒによ
って電圧ＶRに変換されると共にアナログ回路４に増さ
れてマイコン５に検出される。その結果マイコン５は電
線ライン１３が地絡したと判断し、この判断に基づいて
図示しない保護回路が動作する。
【００１６】これに対し、断線試験時には、マイコン５
からトランジスタＴrのベースＢへ低レベルの指令信号
が出力され、この指令信号によってトランジスタスイッ
チ７（トランジスタＴr）がＯＮする。トランジスタス
イッチ７がＯＮすると、配線６が断線していない場合に
は、抵抗ＲLによって決まる値のコレクタ電流ＩCが流
れ、二次巻線２の電圧降下がほぼゼロであることから、
抵抗Ｒの両端電圧ＶRがほぼゼロとなるため、マイコン
５は配線６が断線していないと判断する。一方、配線６
が断線している場合には、トランジスタスイッチ７がＯ
Ｎしたときに抵抗ＲLとＲとによって決まる値のコレク
タ電流ＩCが流れ、抵抗Ｒの両端電圧ＶRが、抵抗ＲとＲ
Lとの比によって決まる値となるため、マイコン５は配
線６が断線していると判断する。
からトランジスタＴrのベースＢへ低レベルの指令信号
が出力され、この指令信号によってトランジスタスイッ
チ７（トランジスタＴr）がＯＮする。トランジスタス
イッチ７がＯＮすると、配線６が断線していない場合に
は、抵抗ＲLによって決まる値のコレクタ電流ＩCが流
れ、二次巻線２の電圧降下がほぼゼロであることから、
抵抗Ｒの両端電圧ＶRがほぼゼロとなるため、マイコン
５は配線６が断線していないと判断する。一方、配線６
が断線している場合には、トランジスタスイッチ７がＯ
Ｎしたときに抵抗ＲLとＲとによって決まる値のコレク
タ電流ＩCが流れ、抵抗Ｒの両端電圧ＶRが、抵抗ＲとＲ
Lとの比によって決まる値となるため、マイコン５は配
線６が断線していると判断する。
【００１７】以上のように上記実施例によれば、マイコ
ン５からの指令信号によってトランジスタスイッチ７を
作動させることにより、簡単に配線６の断線試験を行う
ことができる。またリレーＲyのかわりに面実装のトラ
ンジスタＴr等の部品からなるトランジスタスイッチ７
を用いるため、配線断線試験回路の小型化、低価格化を
実現することができ、延いてはかかる配線断線試験回路
を備えた製品の小型化、低価格化を実現することができ
る。またＺＣＴには試験用巻線が不要となるため、ＺＣ
Ｔの小型化、低価格化を実現することもできる。
ン５からの指令信号によってトランジスタスイッチ７を
作動させることにより、簡単に配線６の断線試験を行う
ことができる。またリレーＲyのかわりに面実装のトラ
ンジスタＴr等の部品からなるトランジスタスイッチ７
を用いるため、配線断線試験回路の小型化、低価格化を
実現することができ、延いてはかかる配線断線試験回路
を備えた製品の小型化、低価格化を実現することができ
る。またＺＣＴには試験用巻線が不要となるため、ＺＣ
Ｔの小型化、低価格化を実現することもできる。
【００１８】なお上記実施例では、ＺＣＴの場合につい
て示したが、勿論、３φＣＴや単相ＣＴについても上記
実施例と同様の断線試験回路を適用することができる。
また上記実施例ではＰＮＰ型のトランジスタＴrを用い
てトランジスタスイッチを構成したが、ＮＰＮ型のトラ
ンジスタＴrを用いてトランジスタスイッチを構成して
もよい。但しＮＰＮ型のトランジスタＴrを用いる場合
には図２に示すような回路構成とする。即ちトランジス
タＴrのコレクタＣを抵抗ＲLを介して電源Ｖ1に接続し
エミッタＥを抵抗Ｒの一端に接続すると共に、抵抗Ｒの
他端とマイコン５との間にアナログ回路４を介設する。
またマイコン５の指令は０Ｖ（トランジスタＴrＯＦ
Ｆ）→５Ｖ（トランジスタＴrＯＮ）とする。
て示したが、勿論、３φＣＴや単相ＣＴについても上記
実施例と同様の断線試験回路を適用することができる。
また上記実施例ではＰＮＰ型のトランジスタＴrを用い
てトランジスタスイッチを構成したが、ＮＰＮ型のトラ
ンジスタＴrを用いてトランジスタスイッチを構成して
もよい。但しＮＰＮ型のトランジスタＴrを用いる場合
には図２に示すような回路構成とする。即ちトランジス
タＴrのコレクタＣを抵抗ＲLを介して電源Ｖ1に接続し
エミッタＥを抵抗Ｒの一端に接続すると共に、抵抗Ｒの
他端とマイコン５との間にアナログ回路４を介設する。
またマイコン５の指令は０Ｖ（トランジスタＴrＯＦ
Ｆ）→５Ｖ（トランジスタＴrＯＮ）とする。
【００１９】
【発明の効果】以上実施例と共に具体的に説明したよう
に本発明によれば、マイクロコンピュータからの指令信
号によってトランジスタスイッチを動作させることによ
り、簡単に配線の断線試験を行うことができる。また従
来のリレーのかわりにトランジスタスイッチを用いるた
め、配線断線試験回路の小型化、低価格化を実現するこ
とができ、延いてはこの配線断線試験回路を備えた製品
の小型化、低価格化を実現することができる。またＺＣ
Ｔに適用する場合には、ＺＣＴに試験用巻線を設ける必
要がなくなり、ＺＣＴの小型化、低価格化を実現するこ
ともできる。
に本発明によれば、マイクロコンピュータからの指令信
号によってトランジスタスイッチを動作させることによ
り、簡単に配線の断線試験を行うことができる。また従
来のリレーのかわりにトランジスタスイッチを用いるた
め、配線断線試験回路の小型化、低価格化を実現するこ
とができ、延いてはこの配線断線試験回路を備えた製品
の小型化、低価格化を実現することができる。またＺＣ
Ｔに適用する場合には、ＺＣＴに試験用巻線を設ける必
要がなくなり、ＺＣＴの小型化、低価格化を実現するこ
ともできる。
【図１】本発明の実施例に係る配線断線試験回路の回路
図である。
図である。
【図２】本発明の他の実施例に係る配線断線試験回路の
回路図である。
回路図である。
【図３】従来技術に係る配線断線試験回路の回路図であ
る。
る。
【図４】ＺＣＴの概略構成を示す説明図である。
１ ＺＣＴ ２ 二次巻線 ４ アナログ回路 ５ マイコン ６ 配線 ７ トランジスタスイッチ １３ 電線ライン Ｄ ダイオード Ｒ，ＲB，ＲBE，ＲL 抵抗 ＴＢ２ 二次端子 Ｔr トランジスタ Ｖ1 直流電源
Claims (1)
- 【請求項１】 計器用変流器の二次巻線に配線を介して
並列に接続された第１の抵抗と、 トランジスタを有して構成されこのトランジスタのベー
スに入力されるマイクロコンピュータからの指令信号に
よってＯＮするトランジスタスイッチと、 このトランジスタスイッチと前記第１の抵抗との間に介
設された第２の抵抗と、 前記第１の抵抗と前記トランジスタスイッチとに接続さ
れ、前記トランジスタのベースに指令信号を与えて前記
トランジスタスイッチをＯＮさせると共に、このときの
前記第１の抵抗の両端電圧に基づき前記配線が断線して
いるか否かを判断するマイクロコンピュータとを備えた
ことを特徴とする計器用変流器への配線断線試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30339494A JP3149711B2 (ja) | 1994-12-07 | 1994-12-07 | 計器用変流器への配線断線試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30339494A JP3149711B2 (ja) | 1994-12-07 | 1994-12-07 | 計器用変流器への配線断線試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08162332A JPH08162332A (ja) | 1996-06-21 |
| JP3149711B2 true JP3149711B2 (ja) | 2001-03-26 |
Family
ID=17920500
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30339494A Expired - Fee Related JP3149711B2 (ja) | 1994-12-07 | 1994-12-07 | 計器用変流器への配線断線試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3149711B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002044856A (ja) * | 2000-07-25 | 2002-02-08 | Mitsubishi Electric Corp | 漏電リレー |
| FR2891093B1 (fr) * | 2005-09-16 | 2007-10-26 | Schneider Electric Ind Sas | Declencheur electronique pourvu de moyens de surveillance, disjoncteur comportant un tel declencheur et procede de surveillance. |
| JP4869103B2 (ja) * | 2007-02-22 | 2012-02-08 | 三菱電機株式会社 | 漏電リレー |
| JP4926015B2 (ja) * | 2007-12-05 | 2012-05-09 | 三菱電機株式会社 | 漏電リレー |
| JP6362837B2 (ja) * | 2012-08-29 | 2018-07-25 | 京セラ株式会社 | 零相変流器、地絡電流検出装置、パワーコンディショナ、及び零相変流器の故障検出方法 |
| JP2020197396A (ja) * | 2019-05-31 | 2020-12-10 | アイシン精機株式会社 | 電流検出装置 |
-
1994
- 1994-12-07 JP JP30339494A patent/JP3149711B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08162332A (ja) | 1996-06-21 |
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