JP3149427B2 - 不揮発性半導体メモリ - Google Patents
不揮発性半導体メモリInfo
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Description
可能な不揮発性半導体メモリ(Electrically Erasable
Programmable Read Only Memory:EEPROM)に関
し、特に、メモリセルの読み出しに必要な第1正電位、
書き込みに必要な第2正電位、消去に必要な負電位に加
えて、消去ベリファイに必要な、第3の正電位を供給す
る回路を備えたEEPROMに関する。
去のためには、読み出しのための第1正電位、書き込み
のための第2正電位、消去のための負電位を切り替えて
メモリセルに印加する必要がある。
えたEEPROMのデコード回路の一部を示す図であ
り、特開平5−28784号公報に開示されている。こ
の公報に記載された発明は、消去モード時にセルトラン
ジスタのゲートに負電位を印可する方式において、負電
圧発生回路を常に動作させることなく、又、ワード線ド
ライバの回路構成を単純化した「不揮発性半導体記憶装
置」である。
ワード線12を配線するとともに、メモリセル11のド
レインにビット線13が配線されている。又、メモリセ
ル11のソースにソース線14が配線されている。この
ようなメモリセルアレイにおいて、読み出し時には、選
択されたワード線12にたとえば5Vの第1正電位、選
択されたビット線13にはたとえば1Vの読み出し中間
電位が与えられる。又、書き込み時には、選択ワード線
12にたとえば12Vの第2正電位が与えられる。又、
消去時には、ソース線14にたとえば5Vの第1正電
位、選択ワード線12にたとえば10Vの負電位が与え
られる。
の発明では、図5に示す負電圧発生回路10は、消去時
においては負電位を、消去時以外の動作モードにおいて
は接地電位を、供給するだけであるので、消去ベリファ
イに適していないという欠点があった。
接地電圧を供給するための負電圧発生回路から、更に、
消去ベリファイのための第3正電位を供給できるように
して、従来の回路規模や配線数を維持したまま、消去ベ
リファイを行うことを課題としている。
めの本発明は、ワード線に接続されたインバータと、前
記インバータを構成するPチャンネルトランジスタのソ
ースに電位を供給するP電位供給回路と、前記インバー
タを構成するNチャンネルトランジスタのソースに電位
を供給するN電位供給回路と、読み出しと書き込みのう
ちいずれのモードで動作するかを判定する読出書込判定
回路と、消去モードで動作させるか否かを判定する消去
判定回路とを備えた電気的に書き換え可能な不揮発性半
導体メモリ(Electrically Erasab
le ProgrammableRead Only
Memory:EEPROM)であって、前記読出読出
書込判定回路の出力及び前記消去判定回路の出力に基づ
いて、前記P電位供給回路は、第1正電位、第2正電
位、接地電位の内の一つを出力し、前記N電位供給回路
は、第3正電位、接地電位、負電位の内の一つを出力す
るようにしている。
実施の形態について説明する。
すブロック図である。
明する。図1においては、ワード線は512本あるもの
としている。
は、ワード線W000からW511にそれぞれ接続され
た512個のインバータ103と、前記インバータ10
3を構成するPチャンネルトランジスタ101のソース
に電位を供給するP電位供給回路201と、前記インバ
ータ103を構成するNチャンネルトランジスタ102
のソースに電位を供給するN電位供給回路202と、読
み出しと書き込みのうちいずれのモードで動作するかを
判定する読出書込判定回路209と、消去モードで動作
させるか否かを判定する消去判定回路109とを備えて
いる。
ンネルトランジスタ101のソースはP電位供給回路2
01に共通に接続されている。同様に、各々のインバー
タ103のNチャンネルトランジスタ102のソースは
N電位供給回路202に共通に接続されている。又、ワ
ード線デコーダ104の出力が各々のインバータ103
に入力されている。
スイッチ207に接続されたNチャンネルトランジスタ
510と、アナログスイッチ208に接続されたNチャ
ンネルトランジスタ520とを有しており、Nチャンネ
ルトランジスタ510のソースととNチャンネルトラン
ジスタ520のドレインが接続されている。
07に接続されたNチャンネルトランジスタ105と、
スイッチ108に接続されたNチャンネルトランジスタ
106とを有しており、Nチャンネルトランジスタ10
5のソースとNチャンネルトランジスタ106のドレイ
ンが接続されている。
入力して、この入力に基づいた出力をN電位供給回路2
02のアナログスイッチSW107,108に供給す
る。
号と読出指示信号を入力して、この入力に基づいた出力
をP電位供給回路201のアナログスイッチSW20
7,208に供給する。
信号と消去ベリファイ指示信号を入力し、これらの入力
に基づいた出力を各々のインバータ103に供給する。
ンプ回路501の構成について説明する。図2に示すよ
うに、正電位ポンプ回路は、書込指示信号及び読出指示
信号を入力するポンプ切り替え判定回路597と、ポン
プ切り替え判定回路597の出力を入力するアナログス
イッチ598と、アナログスイッチ598の出力を入力
するNチャンネルトランジスタ599とを備えている。
ここで、Nチャンネルトランジスタ599に替えて、N
チャンネルトランジスタ599のカスコード接続を用い
てもよい。又、Nチャンネルに替えて、Pチャンネルと
してもよい。
ック図である。図3に示すように、負電位ポンプ回路5
00は、消去指示信号を入力するポンプ切り替え判定回
路697と、ポンプ切り替え判定回路697の出力を入
力するアナログスイッチ698と、アナログスイッチ6
98の出力を入力するNチャンネルトランジスタ699
とを備えている。ここで、Nチャンネルトランジスタ5
99に替えて、Nチャンネルトランジスタ699のカス
コード接続を用いてもよい。
て説明した。そこで、次に、本発明のEEPROMの動
作について説明する。
部より入力されたアドレス信号はワード線デコーダ10
4によりデコードされ、ワード線デコーダ104の出力
線のうちのいずれか1本をアクティブ・ロウにし、イン
バータ103に対して出力する。選択されたワード線に
はインバータ103のPチャネルMOSトランジスタ1
01を介して、読み出し時には約5V程度の第1正電
位、書き込み時には約12V程度の第2正電位がそれぞ
れ与えられる。
の動作について更に説明する。
は、正電位ポンプ回路501の出力は、正電位(+V
P)に切り替えられる。
路209は、活性の読出指示信号と非活性の書込指示信
号に基づいて、アナログスイッチ207,208をとも
にオフして、Nチャンネルトランジスタ510,520
のゲートにたとえば5Vの電源電圧Vccを供給する。
従って、Nチャンネルトランジスタ510,520はと
もにオンとなる。従って、インバータ103のPチャネ
ルMOSトランジスタ101のソースには、は約5V程
度の第1正電位が印加される。この、第1正電位を調整
するため、Nチャンネルトランジスタ520のドレイン
及び/又はソースに抵抗を接続してもよい。
09は、非活性の読出指示信号と活性の書込指示信号に
基づいて、アナログスイッチ207をオフとしてNチャ
ンネルトランジスタ510のゲートにたとえば5Vの電
源電圧Vccを供給するとともに、アナログスイッチ2
08をオンとしてNチャンネルトランジスタ510のゲ
ートに接地電位を供給する。従って、Nチャンネルトラ
ンジスタ510はオンとなるが、Nチャンネルトランジ
スタは、オフとなる。従って、インバータ103のPチ
ャネルMOSトランジスタ101のソースには、約12
V程度の第2正電位が、正電位ポンプ回路から供給され
る。この、第2正電位を調整するため、Nチャンネルト
ランジスタ520のドレイン及び/又はソースに抵抗を
接続してもよい。
で、消去判定回路109の出力に基づいてアナログスイ
ッチSW107がオフしてNチャネルトランジスタ10
5のゲートにたとえば5VのVccを入力するととも
に、アナログスイッチSW108はオンしてNチャネル
とランジスタ106のゲートにたとえば12Vの負電位
(−VE)を供給する。従って、Nチャネルトランジス
タ105はオン、Nチャネルトランジスタ106はオフ
となる。従って、インバータ103のNチャンネルトラ
ンジスタ102のソースにはNチャンネルトランジスタ
105から消去ベリファイ信号が供給される。この場
合、消去ベリファイ信号は非活性であって、接地電位で
あるから、インバータ103のNチャンネルトランジス
タ102のソースの電位は接地電位となる。
ので、消去判定回路109の出力に基づいてはアナログ
スイッチSW107がオンしてたとえば12Vの負電位
(−VE)をNチャネルトランジスタ105のゲートに
供給するとともに、アナログスイッチSW108はオフ
してNチャネルとランジスタ106のゲートに接地電位
を供給する。従って、Nチャネルトランジスタ105は
オフ、Nチャネルトランジスタ106はオンとなる。従
って、インバータ103のNチャンネルトランジスタ1
02のソースにはNチャンネルトランジスタ106から
たとえば12Vの負電位(−VE)が供給される。
たワード線デコーダ104からはその全ての出力線にロ
ウ・レベル信号が出力されてすべてのワード線が選択さ
れると同時に、インバータ103のPチャンネルトラン
ジスタ101のソースに印加される電圧が接地電位に切
り替えられる。すなわち、この時、P電位供給回路20
1の出力が接地電位に切り替えられる。
動作について説明する。P電位供給回路201は、非活
性の読み出し指示信号と非活性の書き込み指示信号を入
力して、アナログスイッチ207,208をともにオン
することにより、アナログスイッチから接地電位をNチ
ャンネルトランジスタ510,520のゲートに供給す
る。この時、正電源電位供給回路501の出力は、接地
電位に切り替えられている。このようにして、インバー
タ103のPチャンネルトランジスタ101のソースに
印加される電圧が接地電位に切り替えられる。
ャネルトランジスタ101はオフ、Nチャネルトランジ
スタ102はオンとなり、ワード線にはたとえば12V
の負電位(−VE)が供給される。
明する。
信号が活性化することにより、ワード線デコーダ104
はそのすべての出力線にハイレベル信号を出力してワー
ド線WS000…W511全てを非選択状態にするとと
もに、インバータ103を構成するPチャンネルトラン
ジスタ101のソースの電位を電源電圧VCCに切り替
える。
への移行により、消去モード指示信号は非活性化され、
負電位ポンプ回路500は負電位(−VE)の生成を止
め、その出力を負電位(−VE)から接地電位に切り替
える。又、同時に、消去モード信号の非活性化に伴い、
アナログスイッチSW107がオフとなって、電源電圧
VccがNチャンネルトランジスタ105のベースに供
給されるため、Nチャンネルトランジスタ105はオン
となる。このとき、アナログスイッチ108は、オンと
なっており、Nチャンネルトランジスタ106に負電源
電位供給回路500から接地電位を供給する。そのた
め、Nチャンネルトランジスタ106はオフとなる。従
って、N電位供給回路202は、Nチャンネルトランジ
スタ105から、第3正電位を出力する。この第3正電
位の値を調節するため、Nチャンネルトランジスタ10
5のソース、Nチャンネルトランジスタ106のドレイ
ンに抵抗を接続してもよい。
望の値であるか否かを確認するための電位であり、たと
えば、2.5Vに設定される。あるいは、消去レベルの
下限が所望のレベルであるか否かを確認する過剰消去の
ベリファイの場合には、たとえば、0.5vに設定され
る。
明した。本発明実施形態は、これにとどまらず、各々の
インバータ103を構成するNチャンネルトランジスタ
1102のソースを共通に接続せず、独立としてもよ
い。
ンネルトランジスタ102のソースを独立とした本発明
のEEPROMの回路図である。
するNチャンネルトランジスタ1102のソースを独立
させたことに伴って、ワード線の本数分、たとえば51
2個のN電位供給回路202を設けている。
判定回路109への入力信号として消去指示信号に加
え、カウンタ411を加えたところにある。
信号をトリガとして入力し、N電位供給回路202のう
ちの1つを順次選択するためのカウンタである。
ついて説明する。
は、図1の場合と同様である。
イ指示信号が活性化することにより、ワード線デコーダ
104はその全出力線に、ハイ・レベル信号を出力し
て、全ワード線を非選択とするとともに、P電位供給回
路の出力を、消去時の接地電位から、第1正電位に切り
替える。
れているから、負電位ポンプ回路600は負電位(−V
E)の供給を停止し、その出力は接地電位となってい
る。
れたN電位供給回路202のみがその出力を切り替える
動作を行う。すなわち、活性化されたN電位供給回路2
02は、図1の場合と同様に、消去判定回路109の出
力に基づいて、アナログスイッチ107がオフしてNチ
ャンネルトランジスタ105がオンするとともに、アナ
ログスイッチ108がオンしてNチャンネルトランジス
タ106がオフする。その結果、カウンタ411により
選択されたN電位供給回路202は、消去ベリファイの
ための第3正電位を出力する。
かったN電位供給回路202においては、アナログスイ
ッチ107とNチャンネルトランジスタ105がオフす
るとともに、アナログスイッチ108とNチャンネルト
ランジスタ106がオンする。
なかったたN電位供給回路202は、接地電位をを出力
する。
ての消去ベリファイが終了したならば、カウンタ411
は数字を「1」だけインクリメントして、対応する次の
N電位供給回路202を活性化する。
を構成するNチャンネルトランジスタ102のソースを
独立としたEEPROMについて説明した。
2つの実施形態にとどまらず、各々のインバータ103
を構成するNチャンネルトランジスタ102のソースを
複数個共通に接続して、同様に駆動することもできる。
線に負電圧又は接地電圧を供給するための負電圧発生回
路から消去ベリファイのための第3正電位を供給できる
ようにして、従来の回路規模や配線数を維持したまま、
消去ベリファイを行う事ができる。
て、読み出し、書き込み、消去、消去ベリファイの各モ
ードでメモリセルを駆動する方式にも対応することがで
きる。
図。
図。
Claims (6)
- 【請求項1】 ワード線に接続されたインバータと、前
記インバータを構成するPチャンネルトランジスタのソ
ースに電位を供給するP電位供給回路と、前記インバー
タを構成するNチャンネルトランジスタのソースに電位
を供給するN電位供給回路と、読み出しと書き込みのう
ちいずれのモードで動作するかを判定する読出書込判定
回路と、消去モードで動作させるか否かを判定する消去
判定回路とを備えた電気的に書き換え可能な不揮発性半
導体メモリ(Electrically Erasable Programmable Rea
d Only Memory:EEPROM)であって、 前記読出書込判定回路の出力及び前記消去判定回路の出
力に基づいて、前記P電位供給回路は、第1正電位、第
2正電位、接地電位の内のいずれか一つを出力し、前記
N電位供給回路は、第3正電位、接地電位、負電位の内
のいずれか一つを出力することを特徴とするEEPRO
M。 - 【請求項2】 前記P電位供給回路は、正電源電位と接
地電位とを切り替えて出力する正電位ポンプ回路と、2
つのNチャンネルトランジスタのカスコード接続と、前
記2つのNチャンネルトランジスタのゲートにそれぞれ
接続されたアナログスイッチとを有し、 前記カスコード接続の一端を前記正電位ポンプ回路に接
続し、他端を接地することを特徴とする請求項1記載の
EEPROM。 - 【請求項3】 前記N電位供給回路は、負電源電位と接
地電位とを切り替えて出力する負電位ポンプ回路と、2
つのNチャンネルトランジスタのカスコード接続と、前
記2つのNチャンネルトランジスタのゲートにそれぞれ
接続されたアナログスイッチとを有し、 前記カスコード接続の一端を前記負電位ポンプ回路に接
続し、他端を消去ベリファイ指示信号に接続することを
特徴とする請求項1記載のEEPROM。 - 【請求項4】 前記インバータを前記ワード線毎に備
え、 各々の前記インバータを構成するPチャンネルトランジ
スタのソースを共通に前記P電位供給回路の出力に接続
し、 各々の前記インバータを構成するNチャンネルトランジ
スタのソースを共通に前記N電位供給回路の出力に接続
することを特徴とする請求項1記載のEEPROM。 - 【請求項5】 消去ベリファイ指示信号をトリガとし
てワード線番号数を順次計数するカウンタを備え、 前記インバータを前記ワード線毎に設け、 前記N電位供給回路を前記インバータ毎に設け、 前記カウンタ出力に基づいて、前記N電位供給回路を駆
動することを特徴とする請求項1記載のEEPROM。 - 【請求項6】 前記一方のアナログスイッチを接地電位
及び前記負電位供給回路の出力電位で駆動し、前記他方
のアナログスイッチを他の電源電位と前記負電位ポンプ
回路の出力電位で駆動することを特徴とする請求項3記
載のEEPROM。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18292798A JP3149427B2 (ja) | 1998-06-29 | 1998-06-29 | 不揮発性半導体メモリ |
TW088109411A TW436792B (en) | 1998-06-29 | 1999-06-07 | Non-volatile semiconductor memory apparatus |
US09/330,081 US6147909A (en) | 1998-06-29 | 1999-06-11 | Nonvolatile semiconductor memory device |
KR1019990024705A KR100341380B1 (ko) | 1998-06-29 | 1999-06-28 | 비휘발성 반도체 메모리 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18292798A JP3149427B2 (ja) | 1998-06-29 | 1998-06-29 | 不揮発性半導体メモリ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000011676A JP2000011676A (ja) | 2000-01-14 |
JP3149427B2 true JP3149427B2 (ja) | 2001-03-26 |
Family
ID=16126819
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18292798A Expired - Fee Related JP3149427B2 (ja) | 1998-06-29 | 1998-06-29 | 不揮発性半導体メモリ |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6147909A (ja) |
JP (1) | JP3149427B2 (ja) |
KR (1) | KR100341380B1 (ja) |
TW (1) | TW436792B (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1061525B1 (en) * | 1999-06-17 | 2006-03-08 | STMicroelectronics S.r.l. | Row decoder for a nonvolatile memory with possibility of selectively biasing word lines to positive or negative voltages |
EP1067557B1 (en) * | 1999-06-22 | 2005-02-02 | STMicroelectronics S.r.l. | Flash compatible EEPROM |
US6477091B2 (en) | 2001-03-30 | 2002-11-05 | Intel Corporation | Method, apparatus, and system to enhance negative voltage switching |
US9299395B2 (en) | 2012-03-26 | 2016-03-29 | Intel Corporation | Methods and systems to selectively boost an operating voltage of, and controls to an 8T bit-cell array and/or other logic blocks |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2835215B2 (ja) * | 1991-07-25 | 1998-12-14 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置 |
-
1998
- 1998-06-29 JP JP18292798A patent/JP3149427B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-06-07 TW TW088109411A patent/TW436792B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-06-11 US US09/330,081 patent/US6147909A/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-06-28 KR KR1019990024705A patent/KR100341380B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW436792B (en) | 2001-05-28 |
US6147909A (en) | 2000-11-14 |
KR20000006521A (ko) | 2000-01-25 |
JP2000011676A (ja) | 2000-01-14 |
KR100341380B1 (ko) | 2002-06-21 |
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Date | Code | Title | Description |
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Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090119 Year of fee payment: 8 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110119 Year of fee payment: 10 |
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S533 | Written request for registration of change of name |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110119 Year of fee payment: 10 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110119 Year of fee payment: 10 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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