JP3138626B2 - プローブユニット - Google Patents
プローブユニットInfo
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- JP3138626B2 JP3138626B2 JP07349850A JP34985095A JP3138626B2 JP 3138626 B2 JP3138626 B2 JP 3138626B2 JP 07349850 A JP07349850 A JP 07349850A JP 34985095 A JP34985095 A JP 34985095A JP 3138626 B2 JP3138626 B2 JP 3138626B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- insulating film
- leads
- base
- probe unit
- elastic body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
査等に使用されるプローブユニットに関する。
列に配置される電極層は益々微小ピッチ化、多極化する
傾向にあり、検査装置側においてもこれら微小ピッチ・
多極化に対応するプローブユニットの提供が必要とな
る。
m以下、その極数は約2000〜4000本であり、こ
の数値はそのままプローブユニットにおけるリードの製
作条件として求められる。
小ピッチで並列して延在するリード群を有し、このリー
ド群はエッチング法やマスクを通して光照射して形成さ
れた蝕刻溝に金属材を充填するアディティブ法等を使用
して形成され、これを絶縁板の表面に上記並列状態に接
着し、各リードの先端を絶縁板の端縁より張り出して液
晶パネルの電極層との接触に供する加圧端子を構成して
いる。
ニットはエッチング法やアディティブ法によりリードの
微小ピッチ化が可能である利点を有する反面、絶縁板の
端縁からリード端を突き出して加圧端子を形成し、これ
にバネ機能を持たせているので、リードの微細化に伴な
いバネ機能が減殺され、接触安定性の確保が難しくなっ
てきている現状にある。
有効に解決するプローブユニットを提供するものであ
る。このプローブユニットは絶縁フィルムの表面に多数
のリードを並列して延在し、このリードの表面に加圧接
触用のバンプを突成し、該バンプにより加圧接触力を確
保する構成としている。
する位置にシート又は角柱形の弾性ブロックから成る補
圧用弾性体を埋込み接着し、このベースの表面に上記絶
縁フィルムをリード及びバンプを形成した側とは反対側
の表面を以って接着して上記補圧用弾性体を覆うバック
アップ構造とする。
弾性体のバックアップによりバンプを液晶パネル等の電
極層に代表される電子部品の外部接点に充分な弾力を以
って健全に加圧接触することができる。
を有するAu,Al,Cu,Ni等の金属によるメッキ
成長により形成する。
ドはフォトリソグラフィ技術を用いたアディティブ法と
メッキ処理法の併用によりメッキ成長させる方法により
形成する。又リードは良導電性を有し良好な弾性を有す
る素材、例えばベリリウム銅(BeCu)やNi等が用
いられる。
ピッチ化と多極化に有利に対応できる。
し、該絶縁フィルムの端縁をベースの端縁から若干量だ
け張り出し、該絶縁フィルムの端縁に配置されたリード
端を透視可能にして上記外部端子との位置合わせを容易
にする。
フィルム1の表面に金属層2を蒸着して積層導電フィル
ムを形成し、この金属層2をリード下地としてその表面
にリード3を並列状態にメッキ成長させる。
め形成された金属箔)を熱圧着により絶縁フィルム1を
溶融して接着し、この金属層2をリード下地としてその
表面にリード3を並列状態にメッキ成長させる。
ィティブ法とメッキ処理法を用い、図5に仮想線で示す
ようにリードパターンと同一パターンの絶縁隔壁4をフ
ォトリソグラフィ技術により金属層2の表面に形成し、
この絶縁隔壁4間の溝内において溝内底面の金属層2を
電極とするメッキ処理によりメッキ金属を成長させ、次
で上記絶縁隔壁4を除去し、次でこの各リード3間の金
属層2部分をエッチングで除去することにより図6に示
す絶縁フィルム1の表面にリード3が並列して密着され
たリードフレームを形成する。
面に加圧接触用のバンプ5を突成する。
成長により形成して、略矩形断面を有して平面を加圧接
触に供する形状にする。又上記バンプ5は半球状等の球
面形状にすることができる。上記バンプ5はベース6及
びフィルム1の一端縁に沿い配置する。
プ5を形成した絶縁フィルム1を図1、2に示すよう
に、剛性を有するベース6の表面に接着すると共に、上
記リード3及びバンプ5を剛体ベース6と絶縁フィルム
1間に介在した補圧用弾性体7でバックアップする。
着等して予め上記バンプ5を突成した位置と対応する位
置に保有させ、この弾性体7を覆うように絶縁フィルム
1をベース6と貼り合わせて上記フィルム1を介しリー
ド3とバンプ5とをバックアップする。
は角柱形の弾性ブロックで形成し、これをベース6の表
面に露出状態に埋込み接着したものを形成し、リード3
とバンプ5を有する絶縁フィルム2を両者3,5を形成
した側と反対側の表面を以ってベース6に接着して上記
弾性体7を覆い、この弾性体7の上に上記バンプ5を配
したリード部分が支持される積層構造とする。
ックは絶縁フィルム1の接着界面、即ちベース6の表面
と同一レベルとするかベース6の表面より僅かに突出し
た状態にし、突出状態のまま絶縁フィルム1を貼り合わ
せるか、又は弾性体5を圧縮しつつ絶縁フィルム1を貼
り合わせる。
層9にバンプ5が押し付けられることにより圧縮され、
その反作用としてバンプ5を電極層9に良好な弾力を以
って加圧接触せしめる。
るように上記ベース6の表面に接着し、該フィルム端縁
部表面に配置された並列リード端を上記ベース6の端縁
より張り出している。
透明の合成樹脂フィルムで形成し、上記張り出し部10
によりリード3端がフィルム1を通して透視できるよう
にし、液晶パネル8の電極層9の如き電子部品端子との
位置合わせを容易にする。
ックの如き絶縁材で形成される。又は絶縁フィルム1で
絶縁されるので金属材を用いることができる。する。
図4に示すように形成できる。このプローブユニットは
方形ベース6の表面に前記フィルム1を介して多数のリ
ード3を並列状態に密着し、各並列リード3を方形ベー
ス6の中心部から対向する二辺又は四辺に夫々延在する
ように配し、上記バンプを配した位置において補圧用弾
性体によりリードをバックアップしバンプをバックアッ
プしている。
IC、又は配線回路基板への接触手段として有効であ
る。
縁フィルムを介して並列されたリードを相手側端子に加
圧接触する際に、バンプによって集中加圧力が得られる
と共に、該バンプを配した位置でバックアップする前記
構造、即ちベース表面に前記補圧用弾性体を埋込み接着
する構成と絶縁フィルムを剛体ベースの表面に接着して
上記補圧用弾性体を覆う構成とにより、上記バンプを充
分な弾力を以って相手側端子に健全に加圧接触させ、高
信頼の接触が確保できる。
小ピッチ化と多極化に有利に対応できる。
接着して形成したプローブユニットを液晶パネルに接触
した状態を以って示す断面図。
ルム端縁を張り出した構造のプローブユニットの断面
図。
トの斜視図。
フィルムの表面に金属層を蒸着した状態を示す断面図。
して並列リード群を形成した状態を一部切欠して示す斜
視図。
す断面図。
Claims (1)
- 【請求項1】絶縁フィルムの表面にメッキ成長により密
着し並列状態に延在した多数のリードを設けると共に、
該各リードの表面にメッキ成長により突成した加圧接触
用のバンプを設け、他方剛体ベースの表面に弾性シート
又は角柱形の弾性ブロックから成る補圧用弾性体を埋込
み接着し、該補圧用弾性体を剛体ベースの表面と同一レ
ベルにするか又は僅かに突出した状態にし、上記絶縁フ
ィルムを上記リード及びバンプを形成した側とは反対側
の表面を以って上記剛体ベースの表面に接着して上記補
圧用弾性体を覆い、上記リードとバンプとを上記埋込み
接着した補圧用弾性体でバックアップする構成とし、更
に上記絶縁フィルムを透視可能な合成樹脂にて形成し、
リードの端部が配された絶縁フィルムの端縁を上記剛体
ベースの端縁より張り出す構成としたことを特徴とする
プローブユニット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07349850A JP3138626B2 (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | プローブユニット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP07349850A JP3138626B2 (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | プローブユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09178777A JPH09178777A (ja) | 1997-07-11 |
JP3138626B2 true JP3138626B2 (ja) | 2001-02-26 |
Family
ID=18406548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP07349850A Expired - Fee Related JP3138626B2 (ja) | 1995-12-21 | 1995-12-21 | プローブユニット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3138626B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11326379A (ja) | 1998-03-12 | 1999-11-26 | Fujitsu Ltd | 電子部品用コンタクタ及びその製造方法及びコンタクタ製造装置 |
JP2003004765A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-01-08 | Soushiyou Tec:Kk | プローブユニットの加圧接触構造 |
KR100711292B1 (ko) * | 2005-04-14 | 2007-04-25 | 한국과학기술원 | 프로브 카드 및 그 제조방법 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58197835A (ja) * | 1982-05-14 | 1983-11-17 | Nec Corp | プロ−バ |
JPS6433745U (ja) * | 1987-08-25 | 1989-03-02 | ||
JPH07105416B2 (ja) * | 1987-10-21 | 1995-11-13 | 松下電器産業株式会社 | 測定装置 |
JPH06230030A (ja) * | 1993-01-29 | 1994-08-19 | Nippon Steel Corp | シリコンウェハを利用したプローブカード |
-
1995
- 1995-12-21 JP JP07349850A patent/JP3138626B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH09178777A (ja) | 1997-07-11 |
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