JP3130884U - 回路試験装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 コストを低減し精度を向上可能な試験方式を提供する。
【解決手段】 本考案は、試験用素子を試験する回路試験装置を開示する。回路試験装置は、濾波回路、増幅回路、比較モジュール、及び結果審査モジュールを有する。濾波回路は、試験用素子により生成されたアナログ出力信号を濾波し、濾波信号を生成。増幅回路は、濾波信号を増幅し、増幅信号を生成する。比較モジュールは、増幅信号を少なくとも1つの基準レベルと比較し、それに応じて少なくとも1つの結果信号を生成する。結果検査モジュールは、結果信号を検査し、試験用素子の試験結果を決定する。
【選択図】 図1
Description
Claims (18)
- 回路試験装置であって、試験用素子を試験し、
前記試験用素子と結合され、前記試験用素子から生成されるアナログ出力信号を濾波し、濾波信号を生成する、濾波回路、
前記濾波回路と結合され、前記濾波信号を増幅し、増幅信号を生成する、増幅回路、
前記増幅回路と結合され、前記増幅信号を少なくとも1つの基準レベルと比較し、少なくとも1つの結果信号を生成する、比較モジュール、及び
前記比較モジュールと結合され、前記結果信号を検査し、前記試験用素子の試験結果を決定する、結果検査モジュール、を有する回路試験装置。 - 前記アナログ出力信号は、アナログ音声信号である、請求項1記載の回路試験装置。
- 前記濾波回路は、人間の可聴音の帯域外のアナログ出力信号の周波数成分を濾波するために利用され、濾波信号を生成する、請求項1記載の回路試験装置。
- 前記比較モジュールは、
前記増幅回路と結合され、前記増幅信号を第1の基準レベルと比較し、第1の結果信号を生成する、第1の比較回路、及び
前記増幅回路と結合され、前記増幅信号を第2の基準レベルと比較し、第2の結果信号を生成する、第2の比較回路、を有する請求項1記載の回路試験装置。 - 前記第1の基準レベルは、正の電位であり、及び前記第2の基準レベルは、負の電位である、請求項4記載の回路試験装置。
- 前記結果検査モジュールは、
前記第2の比較回路と結合され、前記第2の結果信号を反転し、反転結果信号を生成する、インバーター、
前記第1の比較回路及び前記インバーターと結合され、前記第1の結果信号及び前記反転結果信号に対し論理OR演算を実行し、結合信号を生成する、ORゲート、
入力端子、クロック入力端子、及び出力端子を有し、前記入力端子は特定の論理値を受信するために利用され、前記クロック入力端子は前記ORゲートと結合され前記結合信号を受信し、及び前記出力端子はフリップフロップ信号を出力するために利用される、フリップフロップ、及び
前記フリップフロップの出力端子と結合され、前記フリップフロップ信号に従い前記試験用素子の試験結果を決定する、ロジック試験器、を有する請求項4記載の回路試験装置。 - 前記ロジック試験器は、
前記増幅回路及び前記比較モジュールと結合され、前記増幅回路の利得を制御し、及び少なくとも1つの基準レベルを制御する、連続組み込み試験制御部、を更に有する、請求項6記載の回路試験装置。 - 前記試験用素子及び前記ロジック試験器と結合され、前記ロジック試験器の制御に従い前記試験用素子にアナログ入力信号を供給する、波形発生器、を更に有し、
前記試験用素子は、前記アナログ入力信号に従い前記アナログ出力信号を生成する、請求項6記載の回路試験装置。 - 前記結果検査モジュールは、
前記比較回路と結合され、前記第1の結果信号及び前記第2の結果信号に対し論理OR演算を実行し、結合信号を生成する、ORゲート、
入力端子、クロック端子、及び出力端子を有し、前記入力端子は特定の論理値を受信するために利用され、前記クロック入力端子は前記ORゲートと結合され前記結合信号を受信し、及び前記出力端子はフリップフロップ信号を出力するために利用される、フリップフロップ、及び
前記フリップフロップの出力端子と結合され、前記フリップフロップ信号に従い前記試験用素子の試験結果を決定する、ロジック試験器、を有する、請求項4記載の回路試験装置。 - 前記ロジック試験器は、
前記増幅回路及び前記比較モジュールと結合され、前記増幅回路の利得を制御し、及び少なくとも1つの基準レベルを制御する、連続組み込み試験制御部、を更に有する、請求項9記載の回路試験装置。 - 前記試験用素子及び前記ロジック試験器と結合され、前記ロジック試験器の制御に従い前記試験用素子にアナログ入力信号を供給する、波形発生器、を更に有し、
前記試験用素子は、前記アナログ入力信号に従い前記アナログ出力信号を生成する、請求項9記載の回路試験装置。 - 前記比較モジュールは、
前記増幅回路と結合され、前記増幅信号を前記基準レベルのうちの基準レベルと比較し、結果信号を生成する、比較回路、を有する、請求項1記載の回路試験装置。 - 前記結果検査モジュールは、
特定の論理値を受信する入力端子、前記ORゲートと結合され前記結合信号を受信するクロック端子、及びフリップフロップ信号を出力する出力端子を有する、フリップフロップ、及び
前記フリップフロップの出力端子と結合され、前記フリップフロップ信号に従い前記試験用素子の試験結果を決定する、ロジック試験器、を有する、請求項12記載の回路試験装置。 - 前記ロジック試験器は、
前記増幅回路及び前記比較モジュールと結合され、前記増幅回路の利得を制御し、及び前記基準レベルを制御する、連続組み込み試験制御部、を更に有する、請求項13記載の回路試験装置。 - 前記試験用素子及び前記ロジック試験器と結合され、前記ロジック試験器の制御に従い前記試験用素子にアナログ入力信号を供給する、波形発生器、を更に有し、
前記試験用素子は、前記アナログ入力信号に従い前記アナログ出力信号を生成する、請求項13記載の回路試験装置。 - 前記結果検査モジュールは、
前記比較回路と結合され、前記結果信号を反転し、反転結果信号を生成する、インバーター、
特定の論理値を受信する入力端子、前記インバーターと結合され前記反転結果信号を受信するクロック入力端子、及びフリップフロップ信号を出力する出力端子を有する、フリップフロップ、及び
前記フリップフロップの出力端子と結合され、前記フリップフロップ信号に従い前記試験用素子の試験結果を決定する、ロジック試験器、を有する、請求項12記載の回路試験装置。 - 前記ロジック試験器は、
前記増幅回路及び前記比較モジュールと結合され、前記増幅回路の利得を制御し、及び前記基準レベルを制御する、連続組み込み試験制御部、を更に有する、請求項16記載の回路試験装置。 - 前記試験用素子及び前記ロジック試験器と結合され、前記ロジック試験器の制御に従い前記試験用素子にアナログ入力信号を供給する、波形発生器、を更に有し、
前記試験用素子は、前記アナログ入力信号に従い前記アナログ出力信号を生成する、請求項16記載の回路試験装置。
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