JP3129004B2 - 電子部品実装装置 - Google Patents

電子部品実装装置

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JP3129004B2
JP3129004B2 JP04318195A JP31819592A JP3129004B2 JP 3129004 B2 JP3129004 B2 JP 3129004B2 JP 04318195 A JP04318195 A JP 04318195A JP 31819592 A JP31819592 A JP 31819592A JP 3129004 B2 JP3129004 B2 JP 3129004B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子部品実装装置に係
り、詳しくは、チップ等の電子部品をプリント基板に自
動搭載する電子部品実装装置に関する。
【0002】
【従来の技術】QFP,SOPなどのチップをプリント
基板に自動搭載する電子部品実装装置として、移載ヘッ
ドをX方向やY方向に移動させながら、チューブフィー
ダ、テープフィーダ、トレイフィーダなどのパーツフィ
ーダに備えられたチップを移載ヘッドのノズルに真空吸
着してピックアップし、位置決め部に位置決めされたプ
リント基板に搭載するものが広く実施されている(例え
ば特開平2−36599号公報)。
【0003】ノズルに真空吸着されたチップをプリント
基板に搭載するのに先立って、このチップの位置ずれを
計測することが行われる。この場合、殊にQFPやSO
Pなどのリード付チップの場合には、リードの位置ずれ
や曲りを精密に計測しなければならない。このために本
出願人は、リードを精密に計測するためのレーザ装置を
備えた電子部品実装装置をすでに提案している(例えば
特開平3−36798号公報)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】レーザ装置は移載ヘッ
ドの移動路の下方に設置されており、ノズルに保持され
たチップに向って上方へレーザ光を照射し、その反射光
を受光してリードの位置などを計測するようになってい
る。ところがリードの変形などのため、レーザ光が下方
へ反射されずに側方へ異常に反射されて装置外へ漏光す
る場合がある。
【0005】このように誤って側方へ異常に反射された
レーザ光が装置の管理を行っているオペレータに当る
と、オペレータの身体の安全上の問題が生じる。したが
ってレーザ装置が設けられた電子部品実装装置にあって
は、レーザ光に対する十分な安全上の配慮を施しておく
ことが望ましい。殊にオペレータはパーツフィーダの交
換作業のためにパーツフィーダの近くに立っている場合
が多く、しかもパーツフィーダは一般にレーザ装置に比
較的近い場所に設けられることから、パーツフィーダ側
へ漏光したレーザ光は強いエネルギーでオペレータに当
りやすいものであるから、パーツフィーダ側への漏光は
特に厳重に防止しなければならない。
【0006】そこで本発明は、レーザ光の漏光を防止す
る手段、殊にパーツフィーダ側へ異常に反射されたレー
ザ光の漏光を防止する手段を備えた電子部品実装装置を
提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】このために本発明は、パ
ーツフィーダの上面を覆う開閉自在なカバー体と、移載
ヘッドのノズルがこのパーツフィーダのチップをピック
アップする際にこのカバー体を開放するべくこのカバー
体を開閉する開閉手段を設け、前記カバー体を前記位置
決め部へ向って前傾させて配置したものである。
【0008】
【作用】上記構成によれば、レーザ光がパーツフィーダ
側から装置外へ漏光するのをカバー体により確実に防止
でき、オペレータの安全を確保することができる。
【0009】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。
【0010】図1は本発明の一実施例に係る電子部品実
装装置の斜視図である。1は本体ボックスであり、その
上面には以下に述べる部品が配置されている。2はプリ
ント基板5をクランプして位置決めする位置決め部とし
てのクランパである。このクランパ2には搬入コンベア
3と搬出コンベア4が接続されている。搬入コンベア3
からクランパ2上に搬送されてきたプリント基板5はク
ランパ2にクランプされて位置決めされ、その状態でプ
リント基板5の所定の座標位置にQFPやSOPなどの
チップ6を搭載した後、プリント基板5は搬出コンベア
4へ搬出される。
【0011】クランパ2の手前側の側方にはテーブル1
0が配置されている。このテーブル10上には、チュー
ブフィーダ11やテープフィーダ12などのパーツフィ
ーダが設置されている。また本体ボックス1の背後には
マガジン14が設置されており、このマガジン14内に
はトレイフィーダ(後述)13が収納されている。チュ
ーブフィーダ11には、中型のQFPやSOPなどのリ
ード付チップが備えられている。またテープフィーダ1
2には、コンデンサ、抵抗などの比較的小型のチップが
備えられている。またトレイフィーダ13には大型のQ
FPや異形チップが備えられている。
【0012】本体ボックス1の上方には第1の移動テー
ブル21が設けられている。この移動テーブル21には
第2の移動テーブル33が設けられており、この第2の
移動テーブル33には移載ヘッド22が保持されてい
る。第1および第2の移動テーブル21,33が駆動す
ることにより、移載ヘッド22はチューブフィーダ11
〜13の上方へ到来してチューブフィーダ11〜13に
備えられたチップ6をノズル24に真空吸着してピック
アップし、プリント基板5の所定の座標位置に搭載す
る。7はカバーボックスであり、本体ボックス1の上部
全体を覆っている。
【0013】図2は移載ヘッド22の斜視図である。こ
の移載ヘッド22は、θ回転用モータ23と、このモー
タ23を貫通してその上面と下面から突出するノズル2
4と、このモータ23を上下方向に垂直回転させること
により、ノズル24を上下方向に反転させるモータ25
と、移載ヘッド22を上下動させるモータ26及びタイ
ミングベルト27と、上下反転されたノズル24の上端
部に真空吸着されたチップ6を上方から観察してその位
置を検出するカメラ28と、このチップ6に向って横方
向からレーザスリット光を発光する発光部29と、レー
ザ光を受光する受光部30などを備えている。この発光
部29と受光部30は、チップ6によるレーザスリット
光の遮光巾からチップ6の厚さを計測して、その結果に
基づいてチップ6の品種判別などを行う。
【0014】この移載ヘッド22は、箱型のカバー体3
1により覆われている。このカバー体31は、発光部2
9から照射されたレーザ光が、チップ6のリードなどに
異常反射されて装置外へ漏光するのを防止するものであ
り、金属板などのレーザ光を確実に遮光できる素材によ
り形成されている。このカバー体31の底面には、ノズ
ル24が出入するための小孔32が開かれている。図1
において、移載ヘッド22の移動路の下方にはレーザ装
置8が設けられている。このレーザ装置8は、ノズル2
4に吸着されたチップ6に向って下方からレーザ光を照
射し、リードの位置や曲りなどを計測する。
【0015】図3はチューブフィーダ11、12が載置
されるテーブル10付近の斜視図、図4は側面図であ
る。テーブル10の両側部には支柱41が立設されてお
り、この支柱41の間には断面L字形のブラケット42
が保持されている。このブラケット42の背面にはシリ
ンダ43が取り付けられている。このシリンダ43のロ
ッド44はブラケット42の上方へ延出しており、その
先端部にはプレート状のカバー体45が結合されてい
る。
【0016】チューブフィーダ11の前部にはノズルス
トッカ46が設けられており、このノズルストッカ46
には多数個のノズル24が装備されている。前記移載ヘ
ッド22はこのノズルストッカ46の上方に移動し、チ
ップ6の品種に応じてノズル24の自動交換を行う。
【0017】図4に示すように、ブラケット42とカバ
ー体45は、プリント基板5を位置決めするクランパ2
へ向ってチューブフィーダ11と同一角度で前傾して
置されており、ロッド44が突出した状態で、カバー体
45の下端部はノズルストッカ46の真上に近接し、こ
のカバー体45はチューブフィーダ11やテープフィー
ダ12の上面を覆う。またシリンダ43のロッド44が
引き込むと、カバー体46はブラケット42の上面に沿
ってスライドし、上方へ退却してパーツフィーダ11、
12の下端部上方を開放する。このようにカバー体45
を退却させた状態で、移載ヘッド22のノズル24はパ
ーツフィーダ11、12のチップ6をピックアップす
る。なおカバー体45の下縁部45aは、ノズルストッ
カ46の左側面に接合できるように下方へカギ型に屈曲
されている。
【0018】ブラケット42は、ピン47により支柱4
1の間に回転自在に軸支されている。したがって図4鎖
線で示すように、このピン47を中心にブラケット42
を時計方向に回転させることにより、チューブフィーダ
11、12の上方を開放し、本体ボックス1の上面に配
設されたクランパ2、レーザ装置8などの機器の保守管
理を行う。
【0019】図4において、前記マガジン14の内部に
は、トレイ13が段積して収納されている。このトレイ
フィーダ13は図示しない引出し手段によりテーブル1
0A上に引き出される。移載ヘッド22のノズル24
は、このテーブル10A上に引き出されたトレイ13の
チップ6をピックアップしてプリント基板5に搭載す
る。またこのマガジン14の前方にはプレート状のカバ
ー体48が立設されており(図1も参照)、レーザ光が
マガジン14側へ漏光するのを防止している。
【0020】図1及び図5において、クランパ2の両側
部にはガイド体51が立設されている。このガイド体5
1にはプレート状のカバー体52が上下方向にスライド
自在に装着されている。このカバー体52はシリンダ5
3のロッド54に結合されており、ロッド54が突設す
ると、カバー体52は上下動する。通常は、ロッド54
は突出してカバー体52は下降位置にあり、レーザ光が
外部へ漏光するのを防止しているが、プリント基板5が
通過する時には、ロッド54は引き込んでカバー体52
は上昇し、プリント基板5の通路を開ける。
【0021】クランパ2とクランパ2の間隔は、プリン
ト基板5の横巾に応じて調整される。この調整機構は周
知手段であって、図が繁雑になるので図示していない
が、テーブル10側のクランパ2をY方向に移動させる
ことにより行われる。このような手段は巾寄せ手段と呼
ばれるものであるが、次にこのようなクランパ2の巾寄
せ手段に対応するテーブル10の位置調整手段を説明す
る。
【0022】図3および図4において、テーブル10の
下面にはスライダ75が装着されている。このスライダ
75は、プリント基板5の搬送方向と直交するY方向ガ
イドレール74に嵌合している。またテーブル10の下
面にはナット71が装着されており、このナット71に
はガイドレール74と平行なボールねじ72が螺合して
いる。モータ73に駆動されてボールねじ72が回転す
ると、テーブル10はガイドレール74に沿ってY方向
に摺動する。また支柱41を介してこのテーブル10上
に設けられたブラケット42、シリンダ43、カバー体
45は、このテーブル10と一体的にY方向に移動す
る。したがって巾寄せのためにクランパ2のY方向の位
置が変わる場合には、これに応じてテーブル10をY方
向に移動させ、テーブル10とクランパ2の距離を一定
にする。因みに、テーブル10はクランパ2に極力近い
位置に位置させた方が、移載ヘッド22のY方向の移動
ストロークが短くなり、チューブフィーダ11、12の
チップ6をより高速度でピックアップできる利点があ
る。勿論、クランパ2とテーブル10は同一の機構によ
り同時に一体的に移動させてもよいものである。
【0023】本発明の電子部品実装装置は上記のような
構成より成り、次に動作の説明を行う。
【0024】図1において、プリント基板5は搬入コン
ベア3によりクランパ2の間へ搬入される。このとき、
この搬入の障害にならないように、シリンダ53のロッ
ド54は引き込んでカバー体52を上方へ退避させ、ブ
ラケット基板5がクランパ2上へ搬送されると、ロッド
54は突出してカバー体52は下降し、装置の左側を閉
鎖する。
【0025】クランパ2がプリント基板5をクランプし
て位置決めすると、チップ6のプリント基板5への搭載
が開始される。この搭載は、コンピュータのプログラム
に従って次のようにして行われる。すなわち移動テーブ
ル21が駆動することにより、移載ヘッド22はチュー
ブフィーダ11、12やトレイフィーダ13の上方に到
来し、そこでモータ26(図2参照)が駆動することに
より、ノズル24は上下動し、チップ6をピックアップ
する。この場合、モータ25を駆動してノズル24を上
下反転させることにより、モータ23の上下両面から突
出する2本のノズル24にそれぞれチップ6を真空吸着
してピックアップする。このピックアップ時には、ピッ
クアップの動作の障害にならないように、シリンダ43
のロッド44は引き込んでカバー体45を上方へ退避さ
せている。またピックアップ動作が終了したならば、ロ
ッド44は突出してカバー体45はチューブフィーダ1
1、12の上面を覆う。
【0026】次に移載ヘッド22はレーザ装置8へ向っ
て移動するが、その途中でカメラ28によりノズル24
の上端部に吸着されたチップ6を観察してその位置など
を検出し、また発光部29からレーザスリット光を照射
してチップ6の厚さを計測し、チップ6の品種を判別す
る。このような観察や計測は、モータ25を駆動してノ
ズル24を上下反転させることにより、2つのノズル2
4に吸着された各々のチップ6に対して行われる。この
場合、レーザ光が側方へ異常反射しても、レーザ光の漏
光はケース31により阻止される。なお、一般には、ト
レイ13に備えられたリード付チップのリードにレーザ
光を照射してその浮きなどを計測することが多い。
【0027】次に移載ヘッド22はレーザ装置8の上方
へ移動し、そこでレーザ装置8からレーザ光が照射され
ることにより、チップ6から延出するリードの位置や曲
りが計測される。この場合、レーザ光が側方へ異常反射
しても、外部へ漏光するのは各カバー体45、48、5
2により阻止される。次に移載ヘッド22はプリント基
板5の上方へ移動し、所定の座標位置へこのチップ6を
搭載する。なお、検出されたXYθ方向の位置ずれのう
ち、XY方向の位置ずれは移動テーブル21の駆動によ
る移載ヘッド22の移動ストロークを加減することによ
り補正し、また回転方向の位置ずれは、モータ23を駆
動してノズル24をθ回転させることにより補正する。
またレーザ装置8により許容値以上の曲りが検出された
チップ6は、不良品として投棄ボックス(図外)に投棄
される。
【0028】図6は安全上望ましい電気回路の構成を示
している。レーザ装置8は直列スイッチ61、62、6
3を介して電源60に接続されている。これらのスイッ
チ61、62、63は、それぞれ前記カバー体45、5
2の開閉に連動するスイッチであって、カバー体45、
52が閉じているときのみ閉成し、カバー体45、52
が開くと、これらのスイッチ61、62、63も開く。
このように電気回路を構成しておけば、複数のカバー体
45、52のうち何れか1つでも開いていれば、レーザ
装置8は駆動しないこととなり、きわめて安全性の高い
ものとなる。勿論、レーザ光を発光する発光部29も、
これと同様の回路構成にすることが望ましい。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、パ
ーツフィーダ側へ異常反射されたレーザ光の漏光をカバ
ー体により確実に防止でき、したがってパーツフィーダ
の交換作業のためにパーツフィーダの近くに立つことの
多いオペレータの安全を確保することができる。しか
も、カバー体をプリント基板の位置決め部へ向って前傾
させてパーツフィーダを覆うように設けているので、カ
バー体は移載ヘッドの移動範囲を狭くせず、移載ヘッド
を自由にX方向やY方向へ移動させながら、所定の作業
を遂行することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る電子部品実装装置の斜
視図
【図2】本発明の一実施例に係る電子部品実装装置の移
載ヘッドの斜視図
【図3】本発明の一実施例に係る電子部品実装装置の要
部の斜視図
【図4】本発明の一実施例に係る電子部品実装装置の要
部の側面図
【図5】本発明の一実施例に係る電子部品実装装置の要
部の斜視図
【図6】本発明の一実施例に係る電子部品実装装置の電
気回路図
【符号の説明】
2 クランパ(位置決め部) 5 プリント基板 6 チップ 8 レーザ装置 11 チューブフィーダ 12 チューブフィーダ 21 移動テーブル 22 移載ヘッド 24 ノズル 43 シリンダ(開閉手段) 45 カバー体

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】プリント基板を位置決めする位置決め部
    と、この位置決め部の側方に設けられたパーツフィーダ
    と、移動テーブルと、この移動テーブルに保持されてX
    方向およびY方向に移動しながらパーツフィーダに備え
    られたチップをノズルに真空吸着してピックアップし前
    記プリント基板に搭載する移載ヘッドと、この移載ヘッ
    ドの移動路にあってこのノズルに真空吸着されたチップ
    に向ってレーザ光を照射しその反射光を受光することに
    よりこのチップの位置を計測するレーザ装置とを備え、 パーツフィーダの上面を覆う開閉自在なカバー体と、前
    記ノズルがこのパーツフィーダのチップをピックアップ
    する際にこのカバー体を開放するべくこのカバー体を開
    閉する開閉手段とを設け、前記カバー体を前記位置決め
    部へ向って前傾させて配置したことを特徴とする電子部
    品実装装置。
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