JP3123130B2 - 動きベクトル検出装置 - Google Patents
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- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10016—Video; Image sequence
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、動画像の動きベクトル
（動き量）を検出する動きベクトル検出装置に関するも
のである。
（動き量）を検出する動きベクトル検出装置に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来の動画像の動きベクトル検出につい
て説明する。例えば、現在のフィールドの画像Ｇ0 に対
して１フィールド前の画像Ｇ-1について複数の代表点
（画素）Ｐk （ｋ＝０，１，２，・・・）を指定する。
すなわち、例えば図１４に示すように、１フィールドの
画像Ｇについて複数（例えばｋ＝０，１，２，・・・，
１５）の代表点Ｐ0 ，Ｐ1 ，Ｐ2 ，・・・，Ｐ15を指定
する。また、このような１フィールド前の画像Ｇ-1の各
代表点Ｐk に対して（ｘ，ｙ）＝（ｎ，ｍ）だけ離れた
位置にある現在のフィールドの画像Ｇ0 の画素をＡnk,m
k とする。なお、上記（ｎ，ｍ）はベクトルであり、ｘ
は水平方向（横方向）で、ｙは垂直方向（縦方向）であ
る。更に、この各ベクトル（ｎ，ｍ）における残差Ｓ
(n,m) は、数１の数式で定義される。
て説明する。例えば、現在のフィールドの画像Ｇ0 に対
して１フィールド前の画像Ｇ-1について複数の代表点
（画素）Ｐk （ｋ＝０，１，２，・・・）を指定する。
すなわち、例えば図１４に示すように、１フィールドの
画像Ｇについて複数（例えばｋ＝０，１，２，・・・，
１５）の代表点Ｐ0 ，Ｐ1 ，Ｐ2 ，・・・，Ｐ15を指定
する。また、このような１フィールド前の画像Ｇ-1の各
代表点Ｐk に対して（ｘ，ｙ）＝（ｎ，ｍ）だけ離れた
位置にある現在のフィールドの画像Ｇ0 の画素をＡnk,m
k とする。なお、上記（ｎ，ｍ）はベクトルであり、ｘ
は水平方向（横方向）で、ｙは垂直方向（縦方向）であ
る。更に、この各ベクトル（ｎ，ｍ）における残差Ｓ
(n,m) は、数１の数式で定義される。
【０００３】
【数１】
【０００４】すなわち、例えば、図１４に示すように、
各代表点Ｐk に対して、それぞれＱ個の画素とＲ個の画
素からなる範囲（Ｑ×Ｒの範囲）で示される捜索範囲Ｓ
Ｅを指定し、この捜索範囲ＳＥ内の全てのベクトル
（ｎ，ｍ）に対して、上記数１の数式により残差Ｓ(n,
m) を計算する。ここで、当該残差Ｓ(n,m) の中で最小
となるベクトル（ｎmin ，ｍmin ）を計算して得られる
値を動きベクトルと呼ぶ。換言すれば、動画像におい
て、１つ前のフィールドの画像と現在のフィールドの画
像とは、上記残差が最小となるベクトル（ｎmin ，ｍ
min ）だけずれていると考えるのが妥当であるため、こ
のベクトルの事を動きベクトルと呼ぶのである。
各代表点Ｐk に対して、それぞれＱ個の画素とＲ個の画
素からなる範囲（Ｑ×Ｒの範囲）で示される捜索範囲Ｓ
Ｅを指定し、この捜索範囲ＳＥ内の全てのベクトル
（ｎ，ｍ）に対して、上記数１の数式により残差Ｓ(n,
m) を計算する。ここで、当該残差Ｓ(n,m) の中で最小
となるベクトル（ｎmin ，ｍmin ）を計算して得られる
値を動きベクトルと呼ぶ。換言すれば、動画像におい
て、１つ前のフィールドの画像と現在のフィールドの画
像とは、上記残差が最小となるベクトル（ｎmin ，ｍ
min ）だけずれていると考えるのが妥当であるため、こ
のベクトルの事を動きベクトルと呼ぶのである。
【０００５】図１５に従来の動きベクトル検出装置の構
成を示す。この図１５において、入力端子１０１には、
いわゆるラスタスキャンにより得られる画像データが供
給される。ここで、先ず、１フィールド前の画像データ
が入力端子１０１に入力されてくる間に、上記代表点Ｐ
k （ｋ＝０，１，２，・・・）のデータを代表点メモリ
１０２に格納しておく。次に、現在のフィールドの画像
データが上記入力端子１０１に供給されている時間に、
上記残差Ｓ(n,m) を計算する。以下この計算について詳
細に述べる。
成を示す。この図１５において、入力端子１０１には、
いわゆるラスタスキャンにより得られる画像データが供
給される。ここで、先ず、１フィールド前の画像データ
が入力端子１０１に入力されてくる間に、上記代表点Ｐ
k （ｋ＝０，１，２，・・・）のデータを代表点メモリ
１０２に格納しておく。次に、現在のフィールドの画像
データが上記入力端子１０１に供給されている時間に、
上記残差Ｓ(n,m) を計算する。以下この計算について詳
細に述べる。
【０００６】すなわち、この図１５の装置においては、
上記入力端子１０１から現在のフィールドの画像Ｇの画
素Ａi,j のデータが入力されてきた時に、既に上記代表
点メモリ２に記憶されている上記代表点Ｐk のデータの
中から当該Ａi,j のデータを含む上記捜索範囲ＳＥと対
応する代表点Ｐk のデータを読み出し、減算器１０３及
び絶対値化器１０４により ｜Ａ*,* −Ｐ* ｜ の数式に示す計算を行う。ここで、｜Ａ*,* −Ｐ* ｜の
数式は、上記残差Ｓ(n,m) の部分項を求めるものである
ため、上記残差Ｓ(n,m) を求めるためには、当該数式に
よる演算結果を累加算することが必要となる。
上記入力端子１０１から現在のフィールドの画像Ｇの画
素Ａi,j のデータが入力されてきた時に、既に上記代表
点メモリ２に記憶されている上記代表点Ｐk のデータの
中から当該Ａi,j のデータを含む上記捜索範囲ＳＥと対
応する代表点Ｐk のデータを読み出し、減算器１０３及
び絶対値化器１０４により ｜Ａ*,* −Ｐ* ｜ の数式に示す計算を行う。ここで、｜Ａ*,* −Ｐ* ｜の
数式は、上記残差Ｓ(n,m) の部分項を求めるものである
ため、上記残差Ｓ(n,m) を求めるためには、当該数式に
よる演算結果を累加算することが必要となる。
【０００７】このため、図１５の構成には、累加算の途
中結果ｓ(n,m) を一時保持する残差メモリ１０６が設け
られている。すなわち、この図１５の構成において、一
般化して説明すると、上記入力端子１０１から入力され
てくる上記画素Ａnk,mk のデータに対応するベクトル
（ｎ，ｍ）の残差演算の途中結果ｓ(n,m) のデータを当
該残差メモリ１０６から読み出し、これを上記絶対値化
器１０４からの出力と共に加算器１０５に送ることで、
当該加算器１０５では、 ｓ(n,m) ＋｜Ａnk,mk −Ｐk ｜ の数式の加算が行われ、その後この加算結果を新しく残
差途中結果ｓ(n,m) として、上記残差メモリ１０６の過
去の残差途中結果ｓ(n,m) が格納されていた番地に当該
新しい残差途中結果ｓ(n,m) をオーバーライトする（す
なわち残差途中結果ｓ(n,m) のデータの更新を行う）。
中結果ｓ(n,m) を一時保持する残差メモリ１０６が設け
られている。すなわち、この図１５の構成において、一
般化して説明すると、上記入力端子１０１から入力され
てくる上記画素Ａnk,mk のデータに対応するベクトル
（ｎ，ｍ）の残差演算の途中結果ｓ(n,m) のデータを当
該残差メモリ１０６から読み出し、これを上記絶対値化
器１０４からの出力と共に加算器１０５に送ることで、
当該加算器１０５では、 ｓ(n,m) ＋｜Ａnk,mk −Ｐk ｜ の数式の加算が行われ、その後この加算結果を新しく残
差途中結果ｓ(n,m) として、上記残差メモリ１０６の過
去の残差途中結果ｓ(n,m) が格納されていた番地に当該
新しい残差途中結果ｓ(n,m) をオーバーライトする（す
なわち残差途中結果ｓ(n,m) のデータの更新を行う）。
【０００８】このように、上記残差メモリ１０６に対し
て残差演算の途中結果のデータの書込／読出を繰り返し
ていくことで、上記入力端子１０１への上記現フィール
ドの全ての画素Ａi,j のデータの入力が終了する時刻
に、上記｜Ａ*,* −Ｐ* ｜の数式の全ての累加算が終了
し、この時の残差メモリ１０６に格納されている値（残
差途中結果ｓ(n,m) ）が、残差Ｓ (n,m)となる。
て残差演算の途中結果のデータの書込／読出を繰り返し
ていくことで、上記入力端子１０１への上記現フィール
ドの全ての画素Ａi,j のデータの入力が終了する時刻
に、上記｜Ａ*,* −Ｐ* ｜の数式の全ての累加算が終了
し、この時の残差メモリ１０６に格納されている値（残
差途中結果ｓ(n,m) ）が、残差Ｓ (n,m)となる。
【０００９】その後、当該残差メモリ１０６内の各残差
Ｓ (n,m)のデータを読み出して、最小となるベクトルを
比較計算により求める比較器１０７に供給することによ
り、動きベクトル（ｎmin ，ｍmin ）が求められるよう
になる。この動きベクトルのデータが出力端子１０８か
ら出力される。
Ｓ (n,m)のデータを読み出して、最小となるベクトルを
比較計算により求める比較器１０７に供給することによ
り、動きベクトル（ｎmin ，ｍmin ）が求められるよう
になる。この動きベクトルのデータが出力端子１０８か
ら出力される。
【００１０】また、上記残差メモリ１０６は、各ベクト
ル毎に残差途中結果を一時保持しなくてはならないの
で、その大きさは（Ｑ×Ｒ）ワードとなる。
ル毎に残差途中結果を一時保持しなくてはならないの
で、その大きさは（Ｑ×Ｒ）ワードとなる。
【００１１】なお、上述のような動き量（動きベクト
ル）検出装置としては、特開平１−２６９３７１号公報
に、テレビジョン画像信号を入力する入力回路と、１フ
ィールド領域に複数の代表点を指定する代表点指定回路
と、１フィールド以上前の前記代表点の画像信号と現在
の画像信号とを演算する演算回路と、この演算回路の出
力信号を書き込み読み出し可能なメモリ回路と、前記代
表点指定回路とメモリ回路とを制御する演算制御回路と
を備え、演算制御回路は代表点指定回路が指定する代表
点の位置と、メモリ回路のメモリ領域指定とを対応させ
て制御するような構成の動き量検出装置が開示されてい
る。
ル）検出装置としては、特開平１−２６９３７１号公報
に、テレビジョン画像信号を入力する入力回路と、１フ
ィールド領域に複数の代表点を指定する代表点指定回路
と、１フィールド以上前の前記代表点の画像信号と現在
の画像信号とを演算する演算回路と、この演算回路の出
力信号を書き込み読み出し可能なメモリ回路と、前記代
表点指定回路とメモリ回路とを制御する演算制御回路と
を備え、演算制御回路は代表点指定回路が指定する代表
点の位置と、メモリ回路のメモリ領域指定とを対応させ
て制御するような構成の動き量検出装置が開示されてい
る。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】ところで、例えば、１
フィールド有効画素が５１２×２５６（縦×横）のよう
な小型ビデオカメラにおいては、上記捜索範囲ＳＥを６
４×１６（Ｑ×Ｒ）として動きベクトルを検出してお
り、この動きベクトルを元にして、例えば画枠をずらす
ようにすることで、撮影時の手振れ等による画像の動き
を補正することを行っている。すなわち、上記動きベク
トルを利用して、例えばフィールドメモリ等に、現在の
フィールドの画像データを書き込み、次に読み出す際に
上記検出された動きベクトル分だけ画像をずらすように
読み出せば、上記揺れ等を補正した画像を得ることがで
きるようになる。
フィールド有効画素が５１２×２５６（縦×横）のよう
な小型ビデオカメラにおいては、上記捜索範囲ＳＥを６
４×１６（Ｑ×Ｒ）として動きベクトルを検出してお
り、この動きベクトルを元にして、例えば画枠をずらす
ようにすることで、撮影時の手振れ等による画像の動き
を補正することを行っている。すなわち、上記動きベク
トルを利用して、例えばフィールドメモリ等に、現在の
フィールドの画像データを書き込み、次に読み出す際に
上記検出された動きベクトル分だけ画像をずらすように
読み出せば、上記揺れ等を補正した画像を得ることがで
きるようになる。
【００１３】また、動きベクトルを求める場合には、上
記代表点が多ければ多いほど、当該動きベクトルの誤差
は小さくなるものである。
記代表点が多ければ多いほど、当該動きベクトルの誤差
は小さくなるものである。
【００１４】ここで、上記小型ビデオカメラの例の場
合、例えば最も多く取りうる代表点の数は、（５１２×
２５６）／（６４×１６）＝８×１６＝１２８点とな
る。すなわち、これ以上多くの代表点をとると、例え
ば、図１６に示すように、代表点Ｐkaに対する捜索範囲
ＳＥa と別の代表点Ｐkbに対する捜索範囲ＳＥb とが重
なってしまうようになる。
合、例えば最も多く取りうる代表点の数は、（５１２×
２５６）／（６４×１６）＝８×１６＝１２８点とな
る。すなわち、これ以上多くの代表点をとると、例え
ば、図１６に示すように、代表点Ｐkaに対する捜索範囲
ＳＥa と別の代表点Ｐkbに対する捜索範囲ＳＥb とが重
なってしまうようになる。
【００１５】ところが、上述した従来の動きベクトル検
出装置に、このような重なり部分の画素（例えば図１６
の図中画素Ａi,j ）が入力されてきたときには、例え
ば、｜Ａi,j −Ｐka｜ （Ｓ(3,-1)の部分項) と、 ｜Ａi,j −Ｐkb｜ （Ｓ(-4,-3) の部分項) との数式で示す計算を同時に行わなければなくなり、こ
れを当該従来の動きベクトル検出装置で行うことは不可
能である。なお、図１６にはＱ＝９，Ｒ＝７の例を示し
ている。
出装置に、このような重なり部分の画素（例えば図１６
の図中画素Ａi,j ）が入力されてきたときには、例え
ば、｜Ａi,j −Ｐka｜ （Ｓ(3,-1)の部分項) と、 ｜Ａi,j −Ｐkb｜ （Ｓ(-4,-3) の部分項) との数式で示す計算を同時に行わなければなくなり、こ
れを当該従来の動きベクトル検出装置で行うことは不可
能である。なお、図１６にはＱ＝９，Ｒ＝７の例を示し
ている。
【００１６】また、上記動きベクトルの計算方法として
は、上述したような１画面全体に対して残差Ｓ(n,m) を
計算して動きベクトルを求める方法以外に、次のような
求め方もある。
は、上述したような１画面全体に対して残差Ｓ(n,m) を
計算して動きベクトルを求める方法以外に、次のような
求め方もある。
【００１７】すなわち、画面を複数ブロックに分割し
て、各ブロック毎に、上記ベクトル（ｎ，ｍ）における
上記残差を計算する方法である。ここでは、説明の簡略
化のため、図１７に示すように、画面を例えば第１〜第
４の４つのブロックｂ[1] ，ｂ[2] ，ｂ[3] ，ｂ[4] に
分割する例を挙げる。このブロック毎のベクトル（ｎ，
ｍ）における残差は、数２の数式に示す演算を行うこと
で求められる。
て、各ブロック毎に、上記ベクトル（ｎ，ｍ）における
上記残差を計算する方法である。ここでは、説明の簡略
化のため、図１７に示すように、画面を例えば第１〜第
４の４つのブロックｂ[1] ，ｂ[2] ，ｂ[3] ，ｂ[4] に
分割する例を挙げる。このブロック毎のベクトル（ｎ，
ｍ）における残差は、数２の数式に示す演算を行うこと
で求められる。
【００１８】
【数２】
【００１９】ただし、この数２の数式において、ｋ∈
｛ｋ｜Ｐk ∈第Ｂブロック｝であり、Ｂ＝１，２，３，
４で上記第１〜第４ブロックｂ[1]〜ｂ[4] の何れかを
示す。
｛ｋ｜Ｐk ∈第Ｂブロック｝であり、Ｂ＝１，２，３，
４で上記第１〜第４ブロックｂ[1]〜ｂ[4] の何れかを
示す。
【００２０】また、第１のブロックｂ[1] の残差Ｓ(n,
m)[1] の中で最小となるベクトル（ｎmin ，ｍmin ）
[1] を計算し、その値を第１のブロックｂ[1] の動きベ
クトルと呼ぶ。同様に、残差Ｓ(n,m) [2] とＳ(n,m)
[3] とＳ(n,m) [4] についても計算し、それらの値の
（ｎmin ，ｍmin ）[2] と（ｎmin ，ｍmin ）[3]と
（ｎmin ，ｍmin ）[4] を、それぞれ、第２，第３，第
４ブロックｂ[2] 〜ｂ[4] の動きベクトルと呼ぶ。
m)[1] の中で最小となるベクトル（ｎmin ，ｍmin ）
[1] を計算し、その値を第１のブロックｂ[1] の動きベ
クトルと呼ぶ。同様に、残差Ｓ(n,m) [2] とＳ(n,m)
[3] とＳ(n,m) [4] についても計算し、それらの値の
（ｎmin ，ｍmin ）[2] と（ｎmin ，ｍmin ）[3]と
（ｎmin ，ｍmin ）[4] を、それぞれ、第２，第３，第
４ブロックｂ[2] 〜ｂ[4] の動きベクトルと呼ぶ。
【００２１】ここで、例えば、第１，第２，第４ブロッ
クｂ[1] ，ｂ[2] ，ｂ[4] の画素は、背景を写したもの
であるとする。そして、第３のブロックｂ[3] には動体
（例えば人や車等）を写しているとする。この時、背景
は各フィールド間で振れずに止まっていることが望まし
い。
クｂ[1] ，ｂ[2] ，ｂ[4] の画素は、背景を写したもの
であるとする。そして、第３のブロックｂ[3] には動体
（例えば人や車等）を写しているとする。この時、背景
は各フィールド間で振れずに止まっていることが望まし
い。
【００２２】この場合、例えば、前述したように１画面
全体に対して残差を計算してしまうと、上記第３のブロ
ックｂ[3] の人や車等の動体が残差計算に対して悪影響
を与え、正しい動きベクトルが求められない可能性があ
る。このようなことから、前述した１画面全体に対して
残差を求めて動きベクトルを求めるような方法よりも、
上述したブロック毎に動きベクトルを求める方法は有効
である。
全体に対して残差を計算してしまうと、上記第３のブロ
ックｂ[3] の人や車等の動体が残差計算に対して悪影響
を与え、正しい動きベクトルが求められない可能性があ
る。このようなことから、前述した１画面全体に対して
残差を求めて動きベクトルを求めるような方法よりも、
上述したブロック毎に動きベクトルを求める方法は有効
である。
【００２３】ところで、このようなブロック毎の動きベ
クトルを求める方法においても、前述した１画面全体に
対して残差Ｓ(n,m) を計算して動きベクトルを求める方
法と同様に、代表点数をあまり多く取り過ぎると、各代
表点に対するＱ×Ｒの捜索範囲ＳＥが重なり合ってしま
い、従来の装置では、動きベクトルを求めることができ
ない場合ある。
クトルを求める方法においても、前述した１画面全体に
対して残差Ｓ(n,m) を計算して動きベクトルを求める方
法と同様に、代表点数をあまり多く取り過ぎると、各代
表点に対するＱ×Ｒの捜索範囲ＳＥが重なり合ってしま
い、従来の装置では、動きベクトルを求めることができ
ない場合ある。
【００２４】そこで、本発明は、上述のような実情に鑑
みて提案されたものであり、１画面全体に対して或いは
画面をブロック分けした各ブロックに対して動きベクト
ルを求める場合に、動きベクトルの誤差を少なくすると
こができる多くの代表点をとることが可能であると共
に、多くの代表点をとっても動きベクトルの計算が可能
な動きベクトル検出装置を提供することを目的とするも
のである。
みて提案されたものであり、１画面全体に対して或いは
画面をブロック分けした各ブロックに対して動きベクト
ルを求める場合に、動きベクトルの誤差を少なくすると
こができる多くの代表点をとることが可能であると共
に、多くの代表点をとっても動きベクトルの計算が可能
な動きベクトル検出装置を提供することを目的とするも
のである。
【００２５】
【課題を解決するための手段】本発明の動きベクトル検
出装置は、上述の目的を達成するために提案されたもの
であり、１フィールド以上前の画像のうち所定個数の画
素からなり、且つ前記画素が一部重複する複数の捜索範
囲の各代表点のデータを格納する代表点メモリと、上記
代表点とｑ×ｒ（ｑ，ｒは自然数で少なくとも一方は２
以上）個の画素間隔の位置における現フィールドの画素
のデータと上記現フィールドの画素に対応する上記代表
点のデータとの差分絶対値を計算してベクトルを求める
差分絶対値計算手段と、上記差分絶対値計算手段からの
各ベクトル毎のデータを累積的に加算して残差を求める
累加算手段と、上記累加算手段からの上記各ベクトル毎
の残差を比較して上記ｑ×ｒ単位で動きベクトルを求め
ると共に、当該動きベクトルとその周辺の位置の残差と
から内挿して上記ｑ×ｒ未満の単位で動きベクトルを計
算する比較内挿手段とを有してなるものである。
出装置は、上述の目的を達成するために提案されたもの
であり、１フィールド以上前の画像のうち所定個数の画
素からなり、且つ前記画素が一部重複する複数の捜索範
囲の各代表点のデータを格納する代表点メモリと、上記
代表点とｑ×ｒ（ｑ，ｒは自然数で少なくとも一方は２
以上）個の画素間隔の位置における現フィールドの画素
のデータと上記現フィールドの画素に対応する上記代表
点のデータとの差分絶対値を計算してベクトルを求める
差分絶対値計算手段と、上記差分絶対値計算手段からの
各ベクトル毎のデータを累積的に加算して残差を求める
累加算手段と、上記累加算手段からの上記各ベクトル毎
の残差を比較して上記ｑ×ｒ単位で動きベクトルを求め
ると共に、当該動きベクトルとその周辺の位置の残差と
から内挿して上記ｑ×ｒ未満の単位で動きベクトルを計
算する比較内挿手段とを有してなるものである。
【００２６】 また、本発明の動きベクトル検出装置
は、１フィールドの画像を複数のブロックに分割し、１
フィールド以上前の画像のうち所定個数の画素からな
り、且つ前記画素が一部重複する複数の捜索範囲の各代
表点のデータを格納する代表点メモリと、上記代表点と
ｑ×ｒ個の画素間隔の位置における上記現フィールドの
画素のデータと上記現フィールドの画素に対応する上記
代表点のデータとの差分絶対値を計算して上記各ブロッ
ク毎の各ベクトルを求める差分絶対値計算手段と、上記
差分絶対値計算手段からの上記ブロック単位の各ベクト
ル毎のデータを累積的に加算して残差を求める累加算手
段と、上記累加算手段からの上記ブロック単位の各ベク
トル毎の残差を上記各ブロック毎に比較して上記ｑ×ｒ
単位で動きベクトルを求めると共に、当該動きベクトル
とその周辺の位置の残差とから内挿して上記ｑ×ｒ未満
の単位で上記各ブロックの動きベクトルを計算する比較
内挿手段と、上記比較内挿手段での比較内挿処理による
各ブロック毎の動きベクトルのデータに基づいて真の動
きベクトルを判断する判断手段とを有してなるものであ
る。
は、１フィールドの画像を複数のブロックに分割し、１
フィールド以上前の画像のうち所定個数の画素からな
り、且つ前記画素が一部重複する複数の捜索範囲の各代
表点のデータを格納する代表点メモリと、上記代表点と
ｑ×ｒ個の画素間隔の位置における上記現フィールドの
画素のデータと上記現フィールドの画素に対応する上記
代表点のデータとの差分絶対値を計算して上記各ブロッ
ク毎の各ベクトルを求める差分絶対値計算手段と、上記
差分絶対値計算手段からの上記ブロック単位の各ベクト
ル毎のデータを累積的に加算して残差を求める累加算手
段と、上記累加算手段からの上記ブロック単位の各ベク
トル毎の残差を上記各ブロック毎に比較して上記ｑ×ｒ
単位で動きベクトルを求めると共に、当該動きベクトル
とその周辺の位置の残差とから内挿して上記ｑ×ｒ未満
の単位で上記各ブロックの動きベクトルを計算する比較
内挿手段と、上記比較内挿手段での比較内挿処理による
各ブロック毎の動きベクトルのデータに基づいて真の動
きベクトルを判断する判断手段とを有してなるものであ
る。
【００２７】
【作用】本発明の動きベクトル検出装置によれば、所定
個数の画素からなり、且つ前記画素が一部重複する複数
の捜索範囲の各代表点とｑ×ｒ（ｑ，ｒは自然数で少な
くとも一方は２以上）個の画素間隔の位置における現フ
ィールドの画素のデータと現フィールドの画素に対応す
る上記代表点のデータとの差分絶対値を求めると共に、
各ベクトル毎の残差を比較してｑ×ｒ単位で動きベクト
ルを求めると共に、当該動きベクトルとその周辺の位置
の残差とから内挿してｑ×ｒ未満の単位で動きベクトル
を計算するようにしているため、細かい単位で動きベク
トルを検出することが可能となっている。
個数の画素からなり、且つ前記画素が一部重複する複数
の捜索範囲の各代表点とｑ×ｒ（ｑ，ｒは自然数で少な
くとも一方は２以上）個の画素間隔の位置における現フ
ィールドの画素のデータと現フィールドの画素に対応す
る上記代表点のデータとの差分絶対値を求めると共に、
各ベクトル毎の残差を比較してｑ×ｒ単位で動きベクト
ルを求めると共に、当該動きベクトルとその周辺の位置
の残差とから内挿してｑ×ｒ未満の単位で動きベクトル
を計算するようにしているため、細かい単位で動きベク
トルを検出することが可能となっている。
【００２８】
【実施例】以下、本発明の動きベクトル検出装置の実施
例を図面を参照しながら説明する。
例を図面を参照しながら説明する。
【００２９】 図１に本発明の第１の実施例の動きベク
トル検出装置の概略構成を示す。この第１の実施例の動
きベクトル検出装置は、１フィールド以上前の画像Ｇ-1
のうち所定個数（Ｑ×Ｒ個）の画素からなり、且つ、前
記画素が一部重複する複数の捜索範囲ＳＥの各代表点Ｐ
k（ｋ＝１，２，３，・・・，ｖｗ−１）のデータを格
納する代表点メモリ２と、上記代表点Ｐkとｑ×ｒ
（ｑ，ｒは自然数で少なくとも一方は２以上）個の画素
間隔の位置における現フィールドＧ0の画素のデータと
上記現フィールドの画素に対応する上記代表点Ｐkのデ
ータとの差分絶対値を計算してベクトルを求める減算器
３及び絶対値化器４からなる差分絶対値計算手段と、上
記差分絶対値計算手段からの各ベクトル（ｑ×ｒ間隔）
毎のデータを累積的に加算して残差を求める加算器５及
び残差メモリ６からなる累加算手段と、上記累加算手段
からの上記各ベクトル毎の残差のデータを比較して上記
ｑ×ｒ単位で最小となるベクトル（動きベクトル）を求
めると共に、必要に応じて上記最小となるベクトルとそ
の周辺の位置の残差の値から内挿して上記ｑ×ｒ未満の
単位で動きベクトルを計算する比較内挿回路７と、上記
代表点メモリ２と上記残差メモリ６の書込／読出及びア
ドレスを制御する制御回路８とを有し、上記比較内挿回
路７における比較内挿処理後の出力を動きベクトルとし
て検出して出力端子９から出力するようにしたものであ
る。
トル検出装置の概略構成を示す。この第１の実施例の動
きベクトル検出装置は、１フィールド以上前の画像Ｇ-1
のうち所定個数（Ｑ×Ｒ個）の画素からなり、且つ、前
記画素が一部重複する複数の捜索範囲ＳＥの各代表点Ｐ
k（ｋ＝１，２，３，・・・，ｖｗ−１）のデータを格
納する代表点メモリ２と、上記代表点Ｐkとｑ×ｒ
（ｑ，ｒは自然数で少なくとも一方は２以上）個の画素
間隔の位置における現フィールドＧ0の画素のデータと
上記現フィールドの画素に対応する上記代表点Ｐkのデ
ータとの差分絶対値を計算してベクトルを求める減算器
３及び絶対値化器４からなる差分絶対値計算手段と、上
記差分絶対値計算手段からの各ベクトル（ｑ×ｒ間隔）
毎のデータを累積的に加算して残差を求める加算器５及
び残差メモリ６からなる累加算手段と、上記累加算手段
からの上記各ベクトル毎の残差のデータを比較して上記
ｑ×ｒ単位で最小となるベクトル（動きベクトル）を求
めると共に、必要に応じて上記最小となるベクトルとそ
の周辺の位置の残差の値から内挿して上記ｑ×ｒ未満の
単位で動きベクトルを計算する比較内挿回路７と、上記
代表点メモリ２と上記残差メモリ６の書込／読出及びア
ドレスを制御する制御回路８とを有し、上記比較内挿回
路７における比較内挿処理後の出力を動きベクトルとし
て検出して出力端子９から出力するようにしたものであ
る。
【００３０】ここで、上記捜索範囲ＳＥとして例えばＱ
×Ｒ＝８×６とする。なお、Ｑは偶数である。また、上
記代表点Ｐk としては、例えば図２に示すような代表点
Ｐki，Ｐ1ki を選ぶ（ただし、図２の例ではｉ＝１，
２，・・・，９である）。すなわち、この図２におい
て、代表点Ｐki同士は上記Ｑ×Ｒ間隔であり、同様に代
表点Ｐ1ki 同士もＱ×Ｒ間隔である。また、上記代表点
ＰkiとＰ1ki との位置関係は、（ｘ，ｙ）（ｘは奇数，
ｙは整数）である。例えば、上記図２の例の場合、代表
点Ｐk1とＰ1k1 は（３，−３）の関係にあり、代表点Ｐ
k2とＰ1k1 との関係は（−５，−３）の関係にある。
×Ｒ＝８×６とする。なお、Ｑは偶数である。また、上
記代表点Ｐk としては、例えば図２に示すような代表点
Ｐki，Ｐ1ki を選ぶ（ただし、図２の例ではｉ＝１，
２，・・・，９である）。すなわち、この図２におい
て、代表点Ｐki同士は上記Ｑ×Ｒ間隔であり、同様に代
表点Ｐ1ki 同士もＱ×Ｒ間隔である。また、上記代表点
ＰkiとＰ1ki との位置関係は、（ｘ，ｙ）（ｘは奇数，
ｙは整数）である。例えば、上記図２の例の場合、代表
点Ｐk1とＰ1k1 は（３，−３）の関係にあり、代表点Ｐ
k2とＰ1k1 との関係は（−５，−３）の関係にある。
【００３１】したがって、各代表点Ｐki，Ｐ1ki に対す
る捜索範囲ＳＥは、図３及び図４に示すようになってい
る。すなわち、図３には、各代表点Ｐkiに対する各捜索
範囲ＳＥkiを示している。例えば、代表点Ｐk1に対する
捜索範囲ＳＥk1を示し、代表点Ｐk2に対する捜索範囲Ｓ
Ｅk2を示しており、以下同様にして、代表点Ｐk9に対す
る捜索範囲ＳＥk9等を示している。また、図４には、各
代表点Ｐ1ki に対する捜索範囲ＳＥ1ki を示している。
例えば、代表点Ｐ1k1 に対する捜索範囲ＳＥ1k1 を示
し、代表点Ｐ1k2 に対する捜索範囲ＳＥ1k2 を、以下同
様にして、代表点Ｐ1k9 に対する捜索範囲ＳＥ1k9 等を
示している。この図３及び図４から、代表点Ｐkiに対す
る捜索範囲ＳＥkiと、代表点Ｐ1ki に対する捜索範囲Ｓ
Ｅ1ki とは、互いに重なっているが、各捜索範囲ＳＥki
同士及び捜索範囲ＳＥ1ki 同士は重ならないものとなっ
ている。
る捜索範囲ＳＥは、図３及び図４に示すようになってい
る。すなわち、図３には、各代表点Ｐkiに対する各捜索
範囲ＳＥkiを示している。例えば、代表点Ｐk1に対する
捜索範囲ＳＥk1を示し、代表点Ｐk2に対する捜索範囲Ｓ
Ｅk2を示しており、以下同様にして、代表点Ｐk9に対す
る捜索範囲ＳＥk9等を示している。また、図４には、各
代表点Ｐ1ki に対する捜索範囲ＳＥ1ki を示している。
例えば、代表点Ｐ1k1 に対する捜索範囲ＳＥ1k1 を示
し、代表点Ｐ1k2 に対する捜索範囲ＳＥ1k2 を、以下同
様にして、代表点Ｐ1k9 に対する捜索範囲ＳＥ1k9 等を
示している。この図３及び図４から、代表点Ｐkiに対す
る捜索範囲ＳＥkiと、代表点Ｐ1ki に対する捜索範囲Ｓ
Ｅ1ki とは、互いに重なっているが、各捜索範囲ＳＥki
同士及び捜索範囲ＳＥ1ki 同士は重ならないものとなっ
ている。
【００３２】ここで、前述した従来例によれば、前記残
差Ｓ(n,m）として、例えばｎ＝−３，−２，−１，０，
１，２，３，４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３の場
合の残差Ｓ(n,m）を求めなくてはならない。すなわち、
従来例においては、Ｑ×Ｒ＝８×６＝４８個の残差を計
算しなければならず、したがって、各代表点Ｐk との差
分絶対値を累積するために、その累積途中結果（残差計
算の途中結果）のデータを一時保持するための４８ワー
ドの残差メモリを必要としていた。また、従来では代表
点としてはＰk のみにしなければならず、互いに捜索範
囲を重ならせることもできず、本実施例の代表点Ｐkiと
Ｐ1ki の捜索範囲ＳＥkiとＳＥ1ki のように、捜索範囲
ＳＥkiとＳＥ1ki とが重なっている場合には、前述のよ
うな従来例の構成では残差を求めるための計算を行うこ
とができないものである。
差Ｓ(n,m）として、例えばｎ＝−３，−２，−１，０，
１，２，３，４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３の場
合の残差Ｓ(n,m）を求めなくてはならない。すなわち、
従来例においては、Ｑ×Ｒ＝８×６＝４８個の残差を計
算しなければならず、したがって、各代表点Ｐk との差
分絶対値を累積するために、その累積途中結果（残差計
算の途中結果）のデータを一時保持するための４８ワー
ドの残差メモリを必要としていた。また、従来では代表
点としてはＰk のみにしなければならず、互いに捜索範
囲を重ならせることもできず、本実施例の代表点Ｐkiと
Ｐ1ki の捜索範囲ＳＥkiとＳＥ1ki のように、捜索範囲
ＳＥkiとＳＥ1ki とが重なっている場合には、前述のよ
うな従来例の構成では残差を求めるための計算を行うこ
とができないものである。
【００３３】これに対し、本発明の第１の実施例では、
例えば（ｘ，ｙ）＝（２，１）すなわちｑ×ｒ＝（２×
１）の画素間隔で残差を求めている。したがって、上記
残差Ｓ(n,m) としては、例えばｎ＝−２，０，２，４、
ｍ＝−２，−１，０，１，２，３で求めるようになされ
ている。そして、この残差Ｓ(n,m) の値に基づいて、後
述するような内挿処理を行い、（ｘ，ｙ）＝（１，１）
単位或いはさらに細かい単位で残差を求めるようにして
いる。
例えば（ｘ，ｙ）＝（２，１）すなわちｑ×ｒ＝（２×
１）の画素間隔で残差を求めている。したがって、上記
残差Ｓ(n,m) としては、例えばｎ＝−２，０，２，４、
ｍ＝−２，−１，０，１，２，３で求めるようになされ
ている。そして、この残差Ｓ(n,m) の値に基づいて、後
述するような内挿処理を行い、（ｘ，ｙ）＝（１，１）
単位或いはさらに細かい単位で残差を求めるようにして
いる。
【００３４】先ず、本実施例では、上記残差Ｓ(n,m) に
おいてｎ＝−２，０，２，４、ｍ＝−２，−１，０，
１，２，３であるから、各代表点との差分絶対値も
（２，１）単位で計算すればよい。
おいてｎ＝−２，０，２，４、ｍ＝−２，−１，０，
１，２，３であるから、各代表点との差分絶対値も
（２，１）単位で計算すればよい。
【００３５】すなわち例えば、上記図２及び図３に示す
ように、現フィールドの例えば画素Ａ0 のデータと代表
点Ｐk1との位置関係は、（２，１）であるから上記差分
絶対値の｜Ａ0 −Ｐk1｜の計算結果は、残差Ｓ(2,1) の
部分項となる。したがって、この｜Ａ0 −Ｐk1｜の数式
の計算を行う必要がある。ここで、現フィールドの例え
ば画素Ａ1 のデータと代表点Ｐk1との位置関係は、
（３，１）であり、また、残差Ｓ(n,m) はｎ＝２間隔で
求めており、｜Ａ1 −Ｐk1｜（残差Ｓ(3,1) の部分項）
は、計算する必要がない。このことを考慮すると、上記
代表点Ｐkiとの差分絶対値を計算する必要がある現フィ
ールドのデータは、図３の図中斜線部分のデータのみと
なる。なお、この図３の図中斜線部分の各画素と上記代
表点Ｐkiとの位置関係は、（ｘ，ｙ）（ｘは偶数、ｙは
整数）である。
ように、現フィールドの例えば画素Ａ0 のデータと代表
点Ｐk1との位置関係は、（２，１）であるから上記差分
絶対値の｜Ａ0 −Ｐk1｜の計算結果は、残差Ｓ(2,1) の
部分項となる。したがって、この｜Ａ0 −Ｐk1｜の数式
の計算を行う必要がある。ここで、現フィールドの例え
ば画素Ａ1 のデータと代表点Ｐk1との位置関係は、
（３，１）であり、また、残差Ｓ(n,m) はｎ＝２間隔で
求めており、｜Ａ1 −Ｐk1｜（残差Ｓ(3,1) の部分項）
は、計算する必要がない。このことを考慮すると、上記
代表点Ｐkiとの差分絶対値を計算する必要がある現フィ
ールドのデータは、図３の図中斜線部分のデータのみと
なる。なお、この図３の図中斜線部分の各画素と上記代
表点Ｐkiとの位置関係は、（ｘ，ｙ）（ｘは偶数、ｙは
整数）である。
【００３６】また、同様なことから、上記図２及び図４
に示すように、代表点Ｐ1k1 との差分絶対値を計算する
必要のある現フィールドのデータは、図４の図中斜線部
分のデータのみとなる。この図４の図中斜線部分の各画
素と上記代表点Ｐ1k1 との位置関係も（ｘ，ｙ）（ｘは
偶数、ｙは整数）である。
に示すように、代表点Ｐ1k1 との差分絶対値を計算する
必要のある現フィールドのデータは、図４の図中斜線部
分のデータのみとなる。この図４の図中斜線部分の各画
素と上記代表点Ｐ1k1 との位置関係も（ｘ，ｙ）（ｘは
偶数、ｙは整数）である。
【００３７】なお、上記捜索範囲ＳＥの横方向のＱは、
上述のように偶数となっているので、図３及び図４の斜
線部分は互いに異なる位置となっている。
上述のように偶数となっているので、図３及び図４の斜
線部分は互いに異なる位置となっている。
【００３８】以下、図１の装置の動作説明に入る。この
図１において、入力端子１から１フィールド前の画像Ｇ
-1のデータが入力してきた時、代表点メモリ２には、代
表点Ｐki及びＰ1ki のデータを格納する。
図１において、入力端子１から１フィールド前の画像Ｇ
-1のデータが入力してきた時、代表点メモリ２には、代
表点Ｐki及びＰ1ki のデータを格納する。
【００３９】また、残差メモリ６には、上記差分絶対値
計算手段からの残差途中結果ｓ(n,m) （ｎ＝−２，０，
２，４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３）のデータを
格納しておく。当該残差メモリ６はＱ×Ｒ／２ワードの
大きさのメモリである。
計算手段からの残差途中結果ｓ(n,m) （ｎ＝−２，０，
２，４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３）のデータを
格納しておく。当該残差メモリ６はＱ×Ｒ／２ワードの
大きさのメモリである。
【００４０】ここで、現フィールドのデータのうち、例
えば図２に示した画素Ａ0 のデータが入力端子１に入力
されてきた時には、上記代表点メモリ２から上記代表点
Ｐkiのデータを読み出し、減算器３及び絶対値化器４に
より｜Ａ0 −Ｐki｜（残差Ｓ(2,1) の部分項）の計算を
行う。この時、残差メモリ６から、先に行われた差分絶
対値計算により求められている残差途中結果ｓ(2,1) の
データを読み出し、このデータと上記絶対値化器４から
供給されるデータとを上記加算器５に送り、当該加算器
５で、 ｓ(2,1) ＋｜Ａ0 −Ｐki｜ の数式の計算を行う。
えば図２に示した画素Ａ0 のデータが入力端子１に入力
されてきた時には、上記代表点メモリ２から上記代表点
Ｐkiのデータを読み出し、減算器３及び絶対値化器４に
より｜Ａ0 −Ｐki｜（残差Ｓ(2,1) の部分項）の計算を
行う。この時、残差メモリ６から、先に行われた差分絶
対値計算により求められている残差途中結果ｓ(2,1) の
データを読み出し、このデータと上記絶対値化器４から
供給されるデータとを上記加算器５に送り、当該加算器
５で、 ｓ(2,1) ＋｜Ａ0 −Ｐki｜ の数式の計算を行う。
【００４１】当該数式の計算結果を新しく残差途中結果
ｓ(2,1) とおき、残差メモリ６の古い残差途中結果のデ
ータの格納されていた番地にオーバーライトする。すな
わち、当該残差メモリ６において、上記古い残差途中結
果ｓ(2,1) のデータを上記新しい残差途中結果ｓ(2,1)
のデータに更新する。
ｓ(2,1) とおき、残差メモリ６の古い残差途中結果のデ
ータの格納されていた番地にオーバーライトする。すな
わち、当該残差メモリ６において、上記古い残差途中結
果ｓ(2,1) のデータを上記新しい残差途中結果ｓ(2,1)
のデータに更新する。
【００４２】また、例えば、現フィールドのデータのう
ち前記図２の画素Ａ1のデータが、上記入力端子１から
入力されてきたときには、代表点メモリ２から代表点Ｐ
1k4のデータを読み出し、減算器３及び絶対値化器４に
より｜Ａ1 −Ｐ1k4 ｜（残差Ｓ(0,-2)の部分項）の計算
を行う。この時残差メモリ６から残差途中結果ｓ(0,-2)
のデータを読み出し、このデータと上記差分絶対値のデ
ータとを加算器５に送り、当該加算器５で、 ｓ(0,-2)＋｜Ａ1 −Ｐ1k4 ｜ の数式の計算を行う。
ち前記図２の画素Ａ1のデータが、上記入力端子１から
入力されてきたときには、代表点メモリ２から代表点Ｐ
1k4のデータを読み出し、減算器３及び絶対値化器４に
より｜Ａ1 −Ｐ1k4 ｜（残差Ｓ(0,-2)の部分項）の計算
を行う。この時残差メモリ６から残差途中結果ｓ(0,-2)
のデータを読み出し、このデータと上記差分絶対値のデ
ータとを加算器５に送り、当該加算器５で、 ｓ(0,-2)＋｜Ａ1 −Ｐ1k4 ｜ の数式の計算を行う。
【００４３】当該数式の計算結果を新しく残差途中結果
ｓ(0,-2)とおき、残差メモリ６の古い残差途中結果のデ
ータの格納されていた番地にオーバーライトする。
ｓ(0,-2)とおき、残差メモリ６の古い残差途中結果のデ
ータの格納されていた番地にオーバーライトする。
【００４４】上述のような計算を行っていくことによ
り、現フィールドのデータの全てが入力端子１に入力し
終わった時点で、上記残差メモリ６に格納されている残
差途中結果ｓ(n,m) のデータは、残差Ｓ(n,m) として取
り出されることになる。
り、現フィールドのデータの全てが入力端子１に入力し
終わった時点で、上記残差メモリ６に格納されている残
差途中結果ｓ(n,m) のデータは、残差Ｓ(n,m) として取
り出されることになる。
【００４５】その後、残差Ｓ(n,m) （ｎ＝−２，０，
２，４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３）を上記比較
内挿回路７に入力して、当該比較内挿回路７で最小とな
るベクトル（ｎ，ｍ）（ｎ＝−２，０，２，４、ｍ＝−
２，−１，０，１，２，３の何れか）を計算し、更に、
必要に応じて、当該最小となる点とその周辺の残差から
後述する内挿処理により内挿して、動きベクトルを求め
る。
２，４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３）を上記比較
内挿回路７に入力して、当該比較内挿回路７で最小とな
るベクトル（ｎ，ｍ）（ｎ＝−２，０，２，４、ｍ＝−
２，−１，０，１，２，３の何れか）を計算し、更に、
必要に応じて、当該最小となる点とその周辺の残差から
後述する内挿処理により内挿して、動きベクトルを求め
る。
【００４６】上記内挿方法の一例を以下に述べる。先
ず、上記比較内挿回路７に内蔵される比較器により上記
（２，１）の画素単位で動きベクトルを求める。すなわ
ち、入力残差Ｓ(n,m) （ｎ＝−２，０，２，４、ｍ＝−
２，−１，０，１，２）の中から最小となるベクトル
（ｎ，ｍ）を求め、これをベクトル（Ｉ，Ｊ）とおく。
ところで、真の動きベクトル（（１，１）の画素の単位
で求めた動きベクトル）は、ベクトル（Ｉ−１，Ｊ），
ベクトル（Ｉ＋１，Ｊ）の可能性もある。そこで、残差
Ｓ(I-2,J) と残差Ｓ(i,j) と残差Ｓ(I+2,J) の値より、
ベクトル（Ｉ−１，Ｊ），ベクトル（Ｉ＋１，Ｊ）にお
ける残差を内挿する。ここで、内挿値をＳ0(I-1,J)，Ｓ
0(I+1,J)とする。
ず、上記比較内挿回路７に内蔵される比較器により上記
（２，１）の画素単位で動きベクトルを求める。すなわ
ち、入力残差Ｓ(n,m) （ｎ＝−２，０，２，４、ｍ＝−
２，−１，０，１，２）の中から最小となるベクトル
（ｎ，ｍ）を求め、これをベクトル（Ｉ，Ｊ）とおく。
ところで、真の動きベクトル（（１，１）の画素の単位
で求めた動きベクトル）は、ベクトル（Ｉ−１，Ｊ），
ベクトル（Ｉ＋１，Ｊ）の可能性もある。そこで、残差
Ｓ(I-2,J) と残差Ｓ(i,j) と残差Ｓ(I+2,J) の値より、
ベクトル（Ｉ−１，Ｊ），ベクトル（Ｉ＋１，Ｊ）にお
ける残差を内挿する。ここで、内挿値をＳ0(I-1,J)，Ｓ
0(I+1,J)とする。
【００４７】上記内挿値Ｓ0(I+1,J)は、次のようにして
計算する。すなわち、例えば、Ｓ(I-2,J) ≧Ｓ(I+2,J)
の場合、ｉと残差Ｓ(i,J) （Ｊは固定値，ｉは変数）と
の関係は、図５に示すようになる。ここで、ｉ＝Ｉ−２
のとき残差Ｓ(I-2,J) で、ｉ＝Ｉのとき残差Ｓ(I,J) と
なる直線をＬ1 とする。また、上記直線Ｌ1 ×（−１）
の傾きを有し、ｉ＝Ｉ−２のとき残差Ｓ(I+2,J) となる
直線をＬ2 とする。この時、これら各位置における残差
は、直線Ｌ1 ，Ｌ2 上にあると考えられるので、上記直
線Ｌ2 上でかつｉ＝Ｉ＋１の時の値を内挿値Ｓ0(I+1,J)
とする。なお、残差Ｓ(I-1,J) は、残差Ｓ(I,J) より大
きいため、内挿値Ｓ0(I-1,J)を求める必要はない。
計算する。すなわち、例えば、Ｓ(I-2,J) ≧Ｓ(I+2,J)
の場合、ｉと残差Ｓ(i,J) （Ｊは固定値，ｉは変数）と
の関係は、図５に示すようになる。ここで、ｉ＝Ｉ−２
のとき残差Ｓ(I-2,J) で、ｉ＝Ｉのとき残差Ｓ(I,J) と
なる直線をＬ1 とする。また、上記直線Ｌ1 ×（−１）
の傾きを有し、ｉ＝Ｉ−２のとき残差Ｓ(I+2,J) となる
直線をＬ2 とする。この時、これら各位置における残差
は、直線Ｌ1 ，Ｌ2 上にあると考えられるので、上記直
線Ｌ2 上でかつｉ＝Ｉ＋１の時の値を内挿値Ｓ0(I+1,J)
とする。なお、残差Ｓ(I-1,J) は、残差Ｓ(I,J) より大
きいため、内挿値Ｓ0(I-1,J)を求める必要はない。
【００４８】次に、上記残差Ｓ(I,J) と内挿値Ｓ0(I+1,
J)とを比較して、小さい方の位置（ベクトル（Ｉ，Ｊ）
又はベクトル（Ｉ＋１，Ｊ））を動きベクトルとして出
力する。
J)とを比較して、小さい方の位置（ベクトル（Ｉ，Ｊ）
又はベクトル（Ｉ＋１，Ｊ））を動きベクトルとして出
力する。
【００４９】実際には、直線Ｌ1 ，Ｌ2 を計算して内挿
値Ｓ0(I+1,J)を求めると、 Ｓ0(I+1,J)＝（Ｓ(I,J) −Ｓ(I-2,J) ＋２Ｓ(I+2,J) ）／２ となるので、動きベクトルを求めるためには、上記残差
Ｓ(I,J) と （Ｓ(I,J) −Ｓ(I-2,J) ＋２Ｓ(I+2,J) ）／２ との大小比較を行う事になる。
値Ｓ0(I+1,J)を求めると、 Ｓ0(I+1,J)＝（Ｓ(I,J) −Ｓ(I-2,J) ＋２Ｓ(I+2,J) ）／２ となるので、動きベクトルを求めるためには、上記残差
Ｓ(I,J) と （Ｓ(I,J) −Ｓ(I-2,J) ＋２Ｓ(I+2,J) ）／２ との大小比較を行う事になる。
【００５０】また、図６に示すように、Ｓ(I-2,J) ＜Ｓ
(I,J) の場合も、上記図５と同様である。当該図６の例
は、このＳ(I-2,J) ＜Ｓ(I,J) の場合に内挿値Ｓ0(I-1,
J)を求める例である。すなわち、例えば、Ｓ(I-2,J) ＜
Ｓ(I+2,J) の場合、ｉと残差Ｓ(i,J) との関係は、図６
に示すようになる。ここで、上記残差Ｓ(I,J) と内挿値
Ｓ0(I-1,J)を、上述のようにして比較し、小さい方の位
置（ベクトル（Ｉ，Ｊ）又はベクトル（Ｉ−１，Ｊ））
を動きベクトルとして出力する。なお、この時、残差Ｓ
(I+1,J) は、残差Ｓ(I,J) より大きいため、内挿値Ｓ0
(I+1,J)を求める必要はない。
(I,J) の場合も、上記図５と同様である。当該図６の例
は、このＳ(I-2,J) ＜Ｓ(I,J) の場合に内挿値Ｓ0(I-1,
J)を求める例である。すなわち、例えば、Ｓ(I-2,J) ＜
Ｓ(I+2,J) の場合、ｉと残差Ｓ(i,J) との関係は、図６
に示すようになる。ここで、上記残差Ｓ(I,J) と内挿値
Ｓ0(I-1,J)を、上述のようにして比較し、小さい方の位
置（ベクトル（Ｉ，Ｊ）又はベクトル（Ｉ−１，Ｊ））
を動きベクトルとして出力する。なお、この時、残差Ｓ
(I+1,J) は、残差Ｓ(I,J) より大きいため、内挿値Ｓ0
(I+1,J)を求める必要はない。
【００５１】また、図７においては、図５の様に、直線
Ｌ1 ，Ｌ2 を描き、ベクトル（Ｉ＋(1/4) ，Ｊ），ベク
トル（Ｉ＋(1/2) ，Ｊ），ベクトル（Ｉ＋(3/4) ，
Ｊ），ベクトル（Ｉ＋１，Ｊ）の残差を内挿する。上記
残差Ｓ(I,J) と内挿値Ｓ0(i,J)のうち最小となるｉ（ｉ
＝Ｉ，Ｉ＋(1/4) ，Ｉ＋(1/2) ，Ｉ＋(3/4) ，Ｉ＋１の
何れか）を求める。
Ｌ1 ，Ｌ2 を描き、ベクトル（Ｉ＋(1/4) ，Ｊ），ベク
トル（Ｉ＋(1/2) ，Ｊ），ベクトル（Ｉ＋(3/4) ，
Ｊ），ベクトル（Ｉ＋１，Ｊ）の残差を内挿する。上記
残差Ｓ(I,J) と内挿値Ｓ0(i,J)のうち最小となるｉ（ｉ
＝Ｉ，Ｉ＋(1/4) ，Ｉ＋(1/2) ，Ｉ＋(3/4) ，Ｉ＋１の
何れか）を求める。
【００５２】同じく、縦方向に対しても、残差Ｓ(I,J-
1) ，残差Ｓ(I,J) ，残差Ｓ(I,J+1)を元に、図５のよう
に直線を描き、図７に示すように、内挿値Ｓ0(I,J-(1/
2))，Ｓ0(I,J-(1/4))を求める。その後残差Ｓ(I,J) と
内挿値Ｓ0(I,J-(1/2))，Ｓ0(I,J-(1/4))のうち最小とな
るｊ（ｊ＝Ｊ，Ｊ−(1/2) ，Ｊ−(1/4) の何れか）を求
める。
1) ，残差Ｓ(I,J) ，残差Ｓ(I,J+1)を元に、図５のよう
に直線を描き、図７に示すように、内挿値Ｓ0(I,J-(1/
2))，Ｓ0(I,J-(1/4))を求める。その後残差Ｓ(I,J) と
内挿値Ｓ0(I,J-(1/2))，Ｓ0(I,J-(1/4))のうち最小とな
るｊ（ｊ＝Ｊ，Ｊ−(1/2) ，Ｊ−(1/4) の何れか）を求
める。
【００５３】このようにして求めたベクトル（ｉ，ｊ）
が動きベクトルとなる。
が動きベクトルとなる。
【００５４】なお、図７ではＳ(I-2,J) ≧Ｓ(I+2,J) 、
Ｓ(I,J-1) ＜Ｓ(I,J+1) の場合を示している。
Ｓ(I,J-1) ＜Ｓ(I,J+1) の場合を示している。
【００５５】更に、内挿方法としては、図８に示すよう
な方法を取ることも可能である。この図８に示す内挿方
法では、横方向（ｘ成分）において、残差Ｓ(I-2,J) と
残差Ｓ(I+2,J) の大きい方を無視する。この図８の例で
は、残差Ｓ(I-2,J) を無視している。そして、小さい方
（図８では残差Ｓ(I+2,J) ）と残差Ｓ(I,J) との内分点
を求める。すなわち、数３の数式に示す内分点が求める
動きベクトルのｘ成分である。
な方法を取ることも可能である。この図８に示す内挿方
法では、横方向（ｘ成分）において、残差Ｓ(I-2,J) と
残差Ｓ(I+2,J) の大きい方を無視する。この図８の例で
は、残差Ｓ(I-2,J) を無視している。そして、小さい方
（図８では残差Ｓ(I+2,J) ）と残差Ｓ(I,J) との内分点
を求める。すなわち、数３の数式に示す内分点が求める
動きベクトルのｘ成分である。
【００５６】
【数３】
【００５７】また、縦方向（ｙ成分）においては、残差
Ｓ(I,J-1) と残差Ｓ(I,J+1) の大きい方を無視する。こ
の図８の例では、残差Ｓ(I,J+1) を無視している。そし
て、小さい方（図８では残差Ｓ(I,J-1) ）と残差Ｓ(I,
J) との内分点を求める。すなわち、数４の数式に示す
内分点が求める動きベクトルのｙ成分である。
Ｓ(I,J-1) と残差Ｓ(I,J+1) の大きい方を無視する。こ
の図８の例では、残差Ｓ(I,J+1) を無視している。そし
て、小さい方（図８では残差Ｓ(I,J-1) ）と残差Ｓ(I,
J) との内分点を求める。すなわち、数４の数式に示す
内分点が求める動きベクトルのｙ成分である。
【００５８】
【数４】
【００５９】なお、上述した内挿方法は一例であって本
発明実施例ではこれらに限定されるものではない。
発明実施例ではこれらに限定されるものではない。
【００６０】また、出力として上記（２，１）の画素単
位の動きベクトルで良い場合には、比較内挿回路７の代
わりに、単に比較処理のみを行う比較器とすることも可
能である。
位の動きベクトルで良い場合には、比較内挿回路７の代
わりに、単に比較処理のみを行う比較器とすることも可
能である。
【００６１】更に、代表点メモリ２と残差メモリ６の書
込／読出及びアドレスは、制御回路８５により制御され
る。
込／読出及びアドレスは、制御回路８５により制御され
る。
【００６２】上述した図１及び図２では、先ず、代表点
と現フィールドのデータとから、（２，１）の画素間隔
で残差を求めることを行っていた。これにより代表点は
最大Ｑ×Ｒ当たり２点とることが可能となり、したがっ
て、残差メモリ６はＱ×Ｒ／２ワードの大きさとすれば
よい。
と現フィールドのデータとから、（２，１）の画素間隔
で残差を求めることを行っていた。これにより代表点は
最大Ｑ×Ｒ当たり２点とることが可能となり、したがっ
て、残差メモリ６はＱ×Ｒ／２ワードの大きさとすれば
よい。
【００６３】すなわち、このことを一般化すると、
（ｑ，１）の画素間隔で残差を求めることにより、代表
点は最大Ｑ×Ｒ当たりｑ個とることができ、残差メモリ
は、Ｑ×Ｒ／ｑワードでよいことになる。更に、２次元
的に上記（ｑ，ｒ）の画素間隔で残差を求めることによ
り、代表点は最大Ｑ×Ｒ当たりｑｒ個とれ、残差メモリ
はＱ×Ｒ／ｑ×ｒワードで良いことになる。なお、ｑ，
ｒは整数である。
（ｑ，１）の画素間隔で残差を求めることにより、代表
点は最大Ｑ×Ｒ当たりｑ個とることができ、残差メモリ
は、Ｑ×Ｒ／ｑワードでよいことになる。更に、２次元
的に上記（ｑ，ｒ）の画素間隔で残差を求めることによ
り、代表点は最大Ｑ×Ｒ当たりｑｒ個とれ、残差メモリ
はＱ×Ｒ／ｑ×ｒワードで良いことになる。なお、ｑ，
ｒは整数である。
【００６４】また、図１においては、図９に示すような
代表点Ｐ2ki をとることも可能である。ただし、この図
９においてはＱ＝８，Ｒ＝６であり、代表点と現フィー
ルドのデータとにより求める残差は、図１０，図１１に
示す斜線部分のように市松模様の間隔である。すなわ
ち、この場合は、残差として残差Ｓ(2n,2m) ，残差Ｓ(2
n-1,2m+1) （ｎ＝−１，０，１，２、ｍ＝−１，０，
１）の合計２４（Ｑ×Ｒ／２）個について計算し、その
ベクトル及びそのベクトルの周辺の残差から内挿してＳ
0(*,*)を求め、（１，１）の画素単位若しくはさらに細
かい精度で動きベクトルを求める。
代表点Ｐ2ki をとることも可能である。ただし、この図
９においてはＱ＝８，Ｒ＝６であり、代表点と現フィー
ルドのデータとにより求める残差は、図１０，図１１に
示す斜線部分のように市松模様の間隔である。すなわ
ち、この場合は、残差として残差Ｓ(2n,2m) ，残差Ｓ(2
n-1,2m+1) （ｎ＝−１，０，１，２、ｍ＝−１，０，
１）の合計２４（Ｑ×Ｒ／２）個について計算し、その
ベクトル及びそのベクトルの周辺の残差から内挿してＳ
0(*,*)を求め、（１，１）の画素単位若しくはさらに細
かい精度で動きベクトルを求める。
【００６５】なお、図１０には、各代表点Ｐkiとこの代
表点Ｐkiに対する捜索範囲ＳＥki、及び上記代表点Ｐki
と差分絶対値を計算して残差を求める画素（図中斜線部
分）を示している。また、図１１には、各代表点Ｐ2ki
とこの代表点Ｐ2ki に対する捜索範囲ＳＥ2ki 、及び上
記代表点Ｐ2ki と差分絶対値を計算して残差を求める画
素（図中斜線部分）を示している。また、この図１０と
図１１において、図中斜線部分は互いにことなる位置と
なる。
表点Ｐkiに対する捜索範囲ＳＥki、及び上記代表点Ｐki
と差分絶対値を計算して残差を求める画素（図中斜線部
分）を示している。また、図１１には、各代表点Ｐ2ki
とこの代表点Ｐ2ki に対する捜索範囲ＳＥ2ki 、及び上
記代表点Ｐ2ki と差分絶対値を計算して残差を求める画
素（図中斜線部分）を示している。また、この図１０と
図１１において、図中斜線部分は互いにことなる位置と
なる。
【００６６】上述したように、第１の実施例の動きベク
トル検出装置によれば、前述した従来例のように、捜索
範囲ＳＥ内の画素の１×１単位で残差を計算してその最
小値を求めるのではなく、少なくとも一方向（縦，横）
が２以上の画素単位のＱ×Ｒ／ｑ×ｒ（ｑ，ｒは自然数
で少なくとも２以上の整数）個の位置における残差を計
算し、その最小となる残差とその近傍における残差とか
ら内挿して、画素１×１単位（若しくは更に細かい単
位）で動きベクトルを求めるようにしている。このた
め、残差メモリ２は、従来のＱ×Ｒワードの大きさに比
べてＱ×Ｒ／ｑ×ｒワードの大きさのものでよくなっ
た。また、この時、代表点数は、従来の代表点数がＱ×
Ｒ間隔に１つずつであったのに比べて、ｑ×ｒ倍とるこ
とが可能となり、したがって、正確な動きベクトルの検
出が可能となっている。更に、本実施例によれば、代表
点数を多くすることができるにもかかわらず、差分絶対
値を計算する減算器，絶対値化器は１個ずつでよく、構
成が大型化しないようになっている。
トル検出装置によれば、前述した従来例のように、捜索
範囲ＳＥ内の画素の１×１単位で残差を計算してその最
小値を求めるのではなく、少なくとも一方向（縦，横）
が２以上の画素単位のＱ×Ｒ／ｑ×ｒ（ｑ，ｒは自然数
で少なくとも２以上の整数）個の位置における残差を計
算し、その最小となる残差とその近傍における残差とか
ら内挿して、画素１×１単位（若しくは更に細かい単
位）で動きベクトルを求めるようにしている。このた
め、残差メモリ２は、従来のＱ×Ｒワードの大きさに比
べてＱ×Ｒ／ｑ×ｒワードの大きさのものでよくなっ
た。また、この時、代表点数は、従来の代表点数がＱ×
Ｒ間隔に１つずつであったのに比べて、ｑ×ｒ倍とるこ
とが可能となり、したがって、正確な動きベクトルの検
出が可能となっている。更に、本実施例によれば、代表
点数を多くすることができるにもかかわらず、差分絶対
値を計算する減算器，絶対値化器は１個ずつでよく、構
成が大型化しないようになっている。
【００６７】また、本発明の動きベクトル検出装置は、
以下に示す第２の実施例のような構成とすることも可能
である。
以下に示す第２の実施例のような構成とすることも可能
である。
【００６８】 この第２の実施例装置を図１２に示す。
すなわちこの図１２の第２の実施例装置は、１フィール
ドのデータを複数のブロック（例えば４つのブロックｂ
[1] 〜ｂ[4] ）に分割し、１フィールド以上前の画像Ｇ
-1のうち所定範囲（Ｑ×Ｒ）の画素からなり、且つ画素
が一部重複する捜索範囲ＳＥの各代表点Ｐkのデータを
格納する代表点メモリ２と、代表点Ｐkとｑ×ｒ（ｑ，
ｒは自然数で少なくとも一方は２以上）個の画素間隔の
位置における上記現フィールドの画素と上記現フィール
ドの画素に対応する上記代表点のデータとの差分絶対値
を計算して上記各ブロック毎の各ベクトルを求める減算
器３及び絶対値化器４からなる差分絶対値計算手段と、
上記差分絶対値計算手段からの上記ブロック単位の各ベ
クトル毎のデータを累積的に加算して残差を求める加算
器５及び残差メモリ（例えば残差メモリ６１，６２）か
らなる累加算手段と、上記累加算手段からの上記ブロッ
ク単位の各ベクトル毎の残差を上記各ブロック毎に比較
して上記ｑ×ｒ単位で動きベクトルを求めると共に、当
該動きベクトルとその周辺の位置における残差から内挿
して上記ｑ×ｒ未満の単位で上記各ブロックの動きベク
トルを求める比較内挿回路７と、上記比較内挿回路７で
の比較内挿処理による各ブロック毎の動きベクトルのデ
ータに基づいて真の動きベクトルか否かを判断する判断
回路８と、上記代表点メモリ２と上記残差メモリ６１，
６２の書込／読出及びアドレスを制御する制御回路８５
とを有してなるものである。なお、この図１２におい
て、前述の図１と同様の構成には同一の指示符号を付し
て、その詳細な説明は省略する。
すなわちこの図１２の第２の実施例装置は、１フィール
ドのデータを複数のブロック（例えば４つのブロックｂ
[1] 〜ｂ[4] ）に分割し、１フィールド以上前の画像Ｇ
-1のうち所定範囲（Ｑ×Ｒ）の画素からなり、且つ画素
が一部重複する捜索範囲ＳＥの各代表点Ｐkのデータを
格納する代表点メモリ２と、代表点Ｐkとｑ×ｒ（ｑ，
ｒは自然数で少なくとも一方は２以上）個の画素間隔の
位置における上記現フィールドの画素と上記現フィール
ドの画素に対応する上記代表点のデータとの差分絶対値
を計算して上記各ブロック毎の各ベクトルを求める減算
器３及び絶対値化器４からなる差分絶対値計算手段と、
上記差分絶対値計算手段からの上記ブロック単位の各ベ
クトル毎のデータを累積的に加算して残差を求める加算
器５及び残差メモリ（例えば残差メモリ６１，６２）か
らなる累加算手段と、上記累加算手段からの上記ブロッ
ク単位の各ベクトル毎の残差を上記各ブロック毎に比較
して上記ｑ×ｒ単位で動きベクトルを求めると共に、当
該動きベクトルとその周辺の位置における残差から内挿
して上記ｑ×ｒ未満の単位で上記各ブロックの動きベク
トルを求める比較内挿回路７と、上記比較内挿回路７で
の比較内挿処理による各ブロック毎の動きベクトルのデ
ータに基づいて真の動きベクトルか否かを判断する判断
回路８と、上記代表点メモリ２と上記残差メモリ６１，
６２の書込／読出及びアドレスを制御する制御回路８５
とを有してなるものである。なお、この図１２におい
て、前述の図１と同様の構成には同一の指示符号を付し
て、その詳細な説明は省略する。
【００６９】この第２の実施例において、代表点を前述
した図２のようにとる。また、Ｑ×Ｒ＝８×６とする。
した図２のようにとる。また、Ｑ×Ｒ＝８×６とする。
【００７０】ここで、図１３に示すように、１画面を４
つのブロックｂ[1] 〜ｂ[4] に分割する。本実施例で
は、（２，１）の画素間隔で各ブロック毎に残差を計算
し、その最低値とその周辺の残差の値から内挿して各ブ
ロックの動きベクトルを求める。
つのブロックｂ[1] 〜ｂ[4] に分割する。本実施例で
は、（２，１）の画素間隔で各ブロック毎に残差を計算
し、その最低値とその周辺の残差の値から内挿して各ブ
ロックの動きベクトルを求める。
【００７１】すなわち、現フィールドのデータと上記代
表点とから、第１ブロックｂ[1] の残差Ｓ(n,m) [1] ，
第２ブロックｂ[2] の残差Ｓ(n,m) [2] ，第３ブロック
ｂ[3] の残差Ｓ(n,m) [3] ，第４ブロックｂ[4] の残差
Ｓ(n,m) [4] を求める。ただし、ｎ＝−２，０，２，
４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３である。
表点とから、第１ブロックｂ[1] の残差Ｓ(n,m) [1] ，
第２ブロックｂ[2] の残差Ｓ(n,m) [2] ，第３ブロック
ｂ[3] の残差Ｓ(n,m) [3] ，第４ブロックｂ[4] の残差
Ｓ(n,m) [4] を求める。ただし、ｎ＝−２，０，２，
４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３である。
【００７２】まず、１フィールド前のデータが入力端子
１から入力されてきた時に、代表点ＰkiとＰ1ki のデー
タを代表点メモリ２に格納する。図１３に示すように、
時刻Ｔ0 からＴ1 においては、代表点メモリ６１に、第
１のブロックｂ[1] の残差途中結果ｓ(n,m) [1] （ｎ＝
−２，０，２，４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３）
のデータを格納しておき、残差メモリ６２には第２ブロ
ックｂ[2] の残差Ｓ(n,m) [2] のデータを格納してお
く。残差メモリ６１，６２は各々Ｑ×Ｒ／２ワードの大
きさのメモリである。
１から入力されてきた時に、代表点ＰkiとＰ1ki のデー
タを代表点メモリ２に格納する。図１３に示すように、
時刻Ｔ0 からＴ1 においては、代表点メモリ６１に、第
１のブロックｂ[1] の残差途中結果ｓ(n,m) [1] （ｎ＝
−２，０，２，４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３）
のデータを格納しておき、残差メモリ６２には第２ブロ
ックｂ[2] の残差Ｓ(n,m) [2] のデータを格納してお
く。残差メモリ６１，６２は各々Ｑ×Ｒ／２ワードの大
きさのメモリである。
【００７３】現フィールドのデータのうち、例えば代表
点メモリ２から第１ブロックｂ[1] の代表点Ｐk1のデー
タを読み出し、減算器３及び絶対値化器４により残差Ｓ
(2,1) [1] の部分項である｜Ａ0 [1] −Ｐk1[1] ｜を計
算し、残差メモリ６１から残差途中結果ｓ(2,1) [1] の
データを読み出し、加算器５で ｓ(2,1) [1] ＋｜Ａ0 [1] −Ｐk1[1] ｜ の計算を行い、この計算結果を新しく残差途中結果ｓ
(2,1) [1]とおいて残差メモリ６１の古い残差途中結果
の格納されていた番地にオーバーライトする。
点メモリ２から第１ブロックｂ[1] の代表点Ｐk1のデー
タを読み出し、減算器３及び絶対値化器４により残差Ｓ
(2,1) [1] の部分項である｜Ａ0 [1] −Ｐk1[1] ｜を計
算し、残差メモリ６１から残差途中結果ｓ(2,1) [1] の
データを読み出し、加算器５で ｓ(2,1) [1] ＋｜Ａ0 [1] −Ｐk1[1] ｜ の計算を行い、この計算結果を新しく残差途中結果ｓ
(2,1) [1]とおいて残差メモリ６１の古い残差途中結果
の格納されていた番地にオーバーライトする。
【００７４】同様に、上記代表点ＰkiがＰki∈第２ブロ
ックｂ[2] のときは、残差メモリ６２から残差途中結果
のデータを読み出し、同様にして残差メモリ６２に新た
な残差途中結果のデータをオーバーライトする。
ックｂ[2] のときは、残差メモリ６２から残差途中結果
のデータを読み出し、同様にして残差メモリ６２に新た
な残差途中結果のデータをオーバーライトする。
【００７５】また例えば、現フィールドのデータのうち
上記第１ブロックｂ[1] の画素Ａ1 [1] のデータが上記
入力端子１から入力されてきた時は、上記代表点メモリ
２から代表点Ｐ1k4 [1] のデータを読み出し、上記減算
器３及び絶対値化器４により｜Ａ1 [1] −Ｐ1k4 [1] ｜
（残差Ｓ(0,-2)[1] の部分項）を計算し、残差メモリ６
１から残差途中結果ｓ(0,-2) [1]のデータを読み出し、
加算器５で ｓ(0,-2) [1]＋｜Ａ0 [1] −Ｐk4[1] ｜ の計算を行い、この計算結果を新しく残差途中結果ｓ
(0,-2) [1]とおいて残差メモリ６１の古い残差途中結果
の格納されていた番地にオーバーライトする。
上記第１ブロックｂ[1] の画素Ａ1 [1] のデータが上記
入力端子１から入力されてきた時は、上記代表点メモリ
２から代表点Ｐ1k4 [1] のデータを読み出し、上記減算
器３及び絶対値化器４により｜Ａ1 [1] −Ｐ1k4 [1] ｜
（残差Ｓ(0,-2)[1] の部分項）を計算し、残差メモリ６
１から残差途中結果ｓ(0,-2) [1]のデータを読み出し、
加算器５で ｓ(0,-2) [1]＋｜Ａ0 [1] −Ｐk4[1] ｜ の計算を行い、この計算結果を新しく残差途中結果ｓ
(0,-2) [1]とおいて残差メモリ６１の古い残差途中結果
の格納されていた番地にオーバーライトする。
【００７６】同様に、上記代表点Ｐ1ki がＰ1ki ∈第２
ブロックｂ[2] のときは、残差メモリ６２から残差途中
結果のデータを読み出し、同様にして残差メモリ６２に
新たな残差途中結果のデータをオーバーライトする。
ブロックｂ[2] のときは、残差メモリ６２から残差途中
結果のデータを読み出し、同様にして残差メモリ６２に
新たな残差途中結果のデータをオーバーライトする。
【００７７】上述のようにして演算を行っていくと、現
フィールドのデータのうち第１，第２ブロックｂ[1] ，
ｂ[2] のデータが全て入力端子１から入力し終わる時刻
Ｔ1において、残差メモリ６１に格納されている残差途
中結果ｓ(n,m) [1] は、残差Ｓ(n,m) [1] となる。
フィールドのデータのうち第１，第２ブロックｂ[1] ，
ｂ[2] のデータが全て入力端子１から入力し終わる時刻
Ｔ1において、残差メモリ６１に格納されている残差途
中結果ｓ(n,m) [1] は、残差Ｓ(n,m) [1] となる。
【００７８】その後、残差メモリ６１内の第１ブロック
ｂ[1] の残差Ｓ(n,m) [1] （ｎ＝−２，０，２，４、ｍ
＝−２，−１，０，１，２，３）のデータを比較内挿回
路７に入力して、当該比較内挿回路７で最小となるベク
トル（ｎ，ｍ）（ｎ＝−２，０，２，４の何れか、ｍ＝
−２，−１，０，１，２，３の何れか）を計算し、その
最小となる点とその周辺の残差から内挿して、第１ブロ
ックｂ[1] の動きベクトルを求める。
ｂ[1] の残差Ｓ(n,m) [1] （ｎ＝−２，０，２，４、ｍ
＝−２，−１，０，１，２，３）のデータを比較内挿回
路７に入力して、当該比較内挿回路７で最小となるベク
トル（ｎ，ｍ）（ｎ＝−２，０，２，４の何れか、ｍ＝
−２，−１，０，１，２，３の何れか）を計算し、その
最小となる点とその周辺の残差から内挿して、第１ブロ
ックｂ[1] の動きベクトルを求める。
【００７９】そして、次に、残差メモリ６２内の第２ブ
ロックｂ[2] の残差Ｓ(n,m) [2] （ｎ＝−２，０，２，
４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３）のデータを比較
内挿回路７に入力して、当該比較内挿回路７で同様にし
て第２ブロックｂ[2] の動きベクトルを求める。
ロックｂ[2] の残差Ｓ(n,m) [2] （ｎ＝−２，０，２，
４、ｍ＝−２，−１，０，１，２，３）のデータを比較
内挿回路７に入力して、当該比較内挿回路７で同様にし
て第２ブロックｂ[2] の動きベクトルを求める。
【００８０】また、時刻Ｔ1 〜Ｔ2 では、第３，第４ブ
ロックｂ[3] ，ｂ[4] 用の残差メモリとして、それぞれ
残差メモリ６１，６２を用いる。上記時刻Ｔ2 におい
て、残差メモリ６１，６２内の残差途中結果ｓ(n,m)
[3] ，ｓ(n,m) [4] は、残差Ｓ(n,m) [3] ，Ｓ(n,m)
[4] となるので、上述同様に、比較内挿回路７で第３，
第４ブロックｂ[3] ，ｂ[4] の動きベクトルを求める。
ロックｂ[3] ，ｂ[4] 用の残差メモリとして、それぞれ
残差メモリ６１，６２を用いる。上記時刻Ｔ2 におい
て、残差メモリ６１，６２内の残差途中結果ｓ(n,m)
[3] ，ｓ(n,m) [4] は、残差Ｓ(n,m) [3] ，Ｓ(n,m)
[4] となるので、上述同様に、比較内挿回路７で第３，
第４ブロックｂ[3] ，ｂ[4] の動きベクトルを求める。
【００８１】上述したようにして、第１〜第４ブロック
ｂ[1] 〜ｂ[4] で求めた動きベクトルは、判断回路８に
送られ、次の３つの条件に応じた判断処理がなされる。
すなわち、当該判断回路８では、例えば、第１の条件と
して、４つのブロックｂ[1] 〜ｂ[4] の動きベクトルが
全て等しい時には、そのベクトルを真の動きベクトルと
して出力する。また、第２の条件として、１つのブロッ
クｂの動きベクトルのみが他の３つのブロックｂの動き
ベクトルと違う時は３つのブロックｂの動きベクトルを
真の動きベクトルとして出力する。更に、第３の条件と
して、これら以外の時は動きベクトル検出不可能とする
か或いはブロックに重要度（重み係数）を付加してその
重み係数で判別する処理を行うようにする。
ｂ[1] 〜ｂ[4] で求めた動きベクトルは、判断回路８に
送られ、次の３つの条件に応じた判断処理がなされる。
すなわち、当該判断回路８では、例えば、第１の条件と
して、４つのブロックｂ[1] 〜ｂ[4] の動きベクトルが
全て等しい時には、そのベクトルを真の動きベクトルと
して出力する。また、第２の条件として、１つのブロッ
クｂの動きベクトルのみが他の３つのブロックｂの動き
ベクトルと違う時は３つのブロックｂの動きベクトルを
真の動きベクトルとして出力する。更に、第３の条件と
して、これら以外の時は動きベクトル検出不可能とする
か或いはブロックに重要度（重み係数）を付加してその
重み係数で判別する処理を行うようにする。
【００８２】また、上記第３の条件での判断処理の代わ
りに、第４の条件として、上記第１の条件，第２の条件
以外の時は、前述した第１の実施例の方法のように、ブ
ロック単位でなく画面全体に対して動きベクトルを求め
るようにすることも可能である。
りに、第４の条件として、上記第１の条件，第２の条件
以外の時は、前述した第１の実施例の方法のように、ブ
ロック単位でなく画面全体に対して動きベクトルを求め
るようにすることも可能である。
【００８３】ただし、この場合は、上記第４の条件での
判断処理を考慮して、各ブロック以外に画面全体に対す
る動きベクトルを求めておかなくてはならない。したが
って、図１２において、更に加算器とＱ×Ｒ／２ワード
の残差メモリを各々１個用意して、上記絶対値化器４の
出力を画面全体に対して各ベクトル毎に上記加算器と上
記残差メモリとを使って累加算して、画面全体に対する
残差Ｓ(n,m）（ｎ＝−２，０，２，４、ｍ＝−２，−
１，０，１，２，３）を求める。この残差Ｓ(n,m）を、
比較内挿回路７とは別の比較内挿回路に入力して（１，
１）の画素単位で画面全体の動きベクトルを求め、上記
比較内挿回路７の出力と共に上記判断回路８に入力する
ようにする。
判断処理を考慮して、各ブロック以外に画面全体に対す
る動きベクトルを求めておかなくてはならない。したが
って、図１２において、更に加算器とＱ×Ｒ／２ワード
の残差メモリを各々１個用意して、上記絶対値化器４の
出力を画面全体に対して各ベクトル毎に上記加算器と上
記残差メモリとを使って累加算して、画面全体に対する
残差Ｓ(n,m）（ｎ＝−２，０，２，４、ｍ＝−２，−
１，０，１，２，３）を求める。この残差Ｓ(n,m）を、
比較内挿回路７とは別の比較内挿回路に入力して（１，
１）の画素単位で画面全体の動きベクトルを求め、上記
比較内挿回路７の出力と共に上記判断回路８に入力する
ようにする。
【００８４】更に、本実施例においては、代表点メモリ
２及び残差メモリ６１，６２の書込／読出及びアドレス
は制御回路８５により制御される。
２及び残差メモリ６１，６２の書込／読出及びアドレス
は制御回路８５により制御される。
【００８５】また、内挿方法は、前述した第１の実施例
同様のものを用いることが可能である。
同様のものを用いることが可能である。
【００８６】また更に、この第２の実施例においても出
力として（２，１）の画素単位の動きベクトルで良い場
合には、比較内挿回路７の代わりに単に比較器のみを用
いるようにすることが可能である。
力として（２，１）の画素単位の動きベクトルで良い場
合には、比較内挿回路７の代わりに単に比較器のみを用
いるようにすることが可能である。
【００８７】なお、第２の実施例において画面分割の数
は上述した４分割に限定されるものではなく、更に多く
の（逆に少ない）分割数としてもよい。
は上述した４分割に限定されるものではなく、更に多く
の（逆に少ない）分割数としてもよい。
【００８８】上述した図２１及び図２では、先ず、代表
点と現フィールドのデータより（２，１）の画素間隔で
残差を求めることを行っていた。これにより、代表点は
最大Ｑ×Ｒ当たり２点とれる。また、残差メモリは各々
Ｑ×Ｒ／２ワードでよい。
点と現フィールドのデータより（２，１）の画素間隔で
残差を求めることを行っていた。これにより、代表点は
最大Ｑ×Ｒ当たり２点とれる。また、残差メモリは各々
Ｑ×Ｒ／２ワードでよい。
【００８９】すなわち、このことを一般化すると、
（ｑ，１）の画素間隔で残差を求めることにより、代表
点は最大Ｑ×Ｒ当たりｑ個とることができ、残差メモリ
は、各々Ｑ×Ｒ／ｑワードでよいことになる。更に、２
次元的に（ｑ，ｒ）の画素間隔で残差を求めることによ
り、代表点は最大Ｑ×Ｒ当たりｑｒ個とれ、残差メモリ
は各々Ｑ×Ｒ／ｑ×ｒワードで良いことになる。なお、
ｑ，ｒは整数である。
（ｑ，１）の画素間隔で残差を求めることにより、代表
点は最大Ｑ×Ｒ当たりｑ個とることができ、残差メモリ
は、各々Ｑ×Ｒ／ｑワードでよいことになる。更に、２
次元的に（ｑ，ｒ）の画素間隔で残差を求めることによ
り、代表点は最大Ｑ×Ｒ当たりｑｒ個とれ、残差メモリ
は各々Ｑ×Ｒ／ｑ×ｒワードで良いことになる。なお、
ｑ，ｒは整数である。
【００９０】また、この第２の実施例においても、前述
したように、図９に示すような代表点Ｐ2ki をとること
も可能である。ただし、この図９においてはＱ＝８，Ｒ
＝６であり、代表点と現フィールドのデータとにより求
める残差は、前記図１０，図１１に示す斜線部分のよう
に市松模様の間隔である。すなわち、任意の第Ｂブロッ
クｂ[B] の残差としてＳ(2n,2m) [B] ，Ｓ(2n-1,2m+1)
[B] （ｎ＝−１，０，１，２、ｍ＝−１，０，１）の合
計２４（Ｑ×Ｒ／２）個についてこの各ブロック毎に計
算し、そのベクトル及びそのベクトルの周辺の残差から
内挿して（１，１）の画素単位若しくは、さらに細かい
精度で各ブロックの動きベクトルを求める。
したように、図９に示すような代表点Ｐ2ki をとること
も可能である。ただし、この図９においてはＱ＝８，Ｒ
＝６であり、代表点と現フィールドのデータとにより求
める残差は、前記図１０，図１１に示す斜線部分のよう
に市松模様の間隔である。すなわち、任意の第Ｂブロッ
クｂ[B] の残差としてＳ(2n,2m) [B] ，Ｓ(2n-1,2m+1)
[B] （ｎ＝−１，０，１，２、ｍ＝−１，０，１）の合
計２４（Ｑ×Ｒ／２）個についてこの各ブロック毎に計
算し、そのベクトル及びそのベクトルの周辺の残差から
内挿して（１，１）の画素単位若しくは、さらに細かい
精度で各ブロックの動きベクトルを求める。
【００９１】この第２の実施例の動きベクトル検出装置
によれば、少なくとも一方向（縦，横）が画素の２個以
上の単位のＱ×Ｒ／ｑ×ｒ（ｑ×ｒは２以上の整数）個
の位置における残差を、１画面（１フィールド）を複数
のブロックに分割した各ブロック毎に残差メモリを複数
配置することによって計算し、その最小となる残差とそ
の近傍の残差の値とから内挿して、（１，１）の画素単
位若しくは更に細かい単位で、各ブロックの動きベクト
ルを求めるようにしている。このため、上記残差メモリ
２は、従来のＱ×Ｒワードの大きさに比べてＱ×Ｒ／ｑ
×ｒワードの大きさのものでよく、代表点数は従来の代
表点数がＱ×Ｒ間隔に１つずつであったのに比べて、ｑ
×ｒ倍とることが可能となり、正確な動きベクトルの検
出が可能となっている。
によれば、少なくとも一方向（縦，横）が画素の２個以
上の単位のＱ×Ｒ／ｑ×ｒ（ｑ×ｒは２以上の整数）個
の位置における残差を、１画面（１フィールド）を複数
のブロックに分割した各ブロック毎に残差メモリを複数
配置することによって計算し、その最小となる残差とそ
の近傍の残差の値とから内挿して、（１，１）の画素単
位若しくは更に細かい単位で、各ブロックの動きベクト
ルを求めるようにしている。このため、上記残差メモリ
２は、従来のＱ×Ｒワードの大きさに比べてＱ×Ｒ／ｑ
×ｒワードの大きさのものでよく、代表点数は従来の代
表点数がＱ×Ｒ間隔に１つずつであったのに比べて、ｑ
×ｒ倍とることが可能となり、正確な動きベクトルの検
出が可能となっている。
【００９２】更に、前述した第１の実施例のように、１
画面全体に対して残差を計算してしまうと、例えば、上
記第３ブロックｂ[3] に人や車等の動体の画像が存在し
た場合には、この動体の画像が残差計算に悪影響を与え
て正確な動きベクトルの計算ができない虞れがある。こ
れに対し、第２の実施例によれば、画面をブロック分け
しているため、上述のように、ブロック毎の残差の計算
が可能となり、したがって、より正確な動きベクトルの
計算が可能となる。
画面全体に対して残差を計算してしまうと、例えば、上
記第３ブロックｂ[3] に人や車等の動体の画像が存在し
た場合には、この動体の画像が残差計算に悪影響を与え
て正確な動きベクトルの計算ができない虞れがある。こ
れに対し、第２の実施例によれば、画面をブロック分け
しているため、上述のように、ブロック毎の残差の計算
が可能となり、したがって、より正確な動きベクトルの
計算が可能となる。
【００９３】なお、動画像圧縮処理を行う装置に、本発
明実施例の動きベクトル検出装置を適用する場合には、
各ブロック毎に動きベクトルを求め、各ブロック毎に動
きベクトル分ずらした画像の差分をとることにより、デ
ータ量を減らすことを行う。この場合、図１２の比較内
挿回路７の出力を各ブロック毎の動きベクトルとして使
用すればよい。
明実施例の動きベクトル検出装置を適用する場合には、
各ブロック毎に動きベクトルを求め、各ブロック毎に動
きベクトル分ずらした画像の差分をとることにより、デ
ータ量を減らすことを行う。この場合、図１２の比較内
挿回路７の出力を各ブロック毎の動きベクトルとして使
用すればよい。
【００９４】
【発明の効果】上述のように、本発明の動きベクトル検
出装置においては、所定個数の画素からなり、且つ前記
画素が一部重複する複数の捜索範囲の各代表点とｑ×ｒ
（ｑ，ｒは自然数で少なくとも一方は２以上）個の画素
間隔の位置における現フィールドの画素のデータと現フ
ィールドの画素に対応する上記代表点のデータとの差分
絶対値を求めると共に、各ベクトル毎の残差を比較して
ｑ×ｒ単位で動きベクトルを求めると共に、当該動きベ
クトルとその周辺の位置の残差とから内挿してｑ×ｒ未
満の単位で動きベクトルを計算するようにしているた
め、代表点数を多くとることができ、したがって、動き
ベクトルの検出精度を上げ、誤判定を少なくすることが
可能となる。
出装置においては、所定個数の画素からなり、且つ前記
画素が一部重複する複数の捜索範囲の各代表点とｑ×ｒ
（ｑ，ｒは自然数で少なくとも一方は２以上）個の画素
間隔の位置における現フィールドの画素のデータと現フ
ィールドの画素に対応する上記代表点のデータとの差分
絶対値を求めると共に、各ベクトル毎の残差を比較して
ｑ×ｒ単位で動きベクトルを求めると共に、当該動きベ
クトルとその周辺の位置の残差とから内挿してｑ×ｒ未
満の単位で動きベクトルを計算するようにしているた
め、代表点数を多くとることができ、したがって、動き
ベクトルの検出精度を上げ、誤判定を少なくすることが
可能となる。
【００９５】 また、本発明の動きベクトル検出装置に
おいては、１フィールドの画像を分割し、１フィールド
以上前の画像のうち所定個数の画素からなり、且つ画素
が一部重複する複数の捜索範囲の各代表点とｑ×ｒ個の
画素間隔の位置における現フィールドの画素のデータと
現フィールドの画素に対応する代表点のデータとの差分
絶対値を計算して各ブロック毎のベクトルを求め、ブロ
ック単位の各ベクトル毎のデータを累積的に加算して残
差を求め、ブロック単位の各ベクトル毎の残差を各ブロ
ック毎に比較してｑ×ｒ単位で動きベクトルを求めると
共にこの動きベクトルとその周辺の位置における残差の
値から内挿してｑ×ｒ未満の単位で各ブロックの動きベ
クトルを計算し、各ブロック毎の動きベクトルのデータ
に基づいて真の動きベクトルを判断するようにしている
ため、更に動きベクトル検出精度を上げることが可能と
なっている。
おいては、１フィールドの画像を分割し、１フィールド
以上前の画像のうち所定個数の画素からなり、且つ画素
が一部重複する複数の捜索範囲の各代表点とｑ×ｒ個の
画素間隔の位置における現フィールドの画素のデータと
現フィールドの画素に対応する代表点のデータとの差分
絶対値を計算して各ブロック毎のベクトルを求め、ブロ
ック単位の各ベクトル毎のデータを累積的に加算して残
差を求め、ブロック単位の各ベクトル毎の残差を各ブロ
ック毎に比較してｑ×ｒ単位で動きベクトルを求めると
共にこの動きベクトルとその周辺の位置における残差の
値から内挿してｑ×ｒ未満の単位で各ブロックの動きベ
クトルを計算し、各ブロック毎の動きベクトルのデータ
に基づいて真の動きベクトルを判断するようにしている
ため、更に動きベクトル検出精度を上げることが可能と
なっている。
【図１】本発明実施例の第１の実施例装置のブロック図
である。
である。
【図２】第１の実施例の代表点の一例を説明示す図であ
る。
る。
【図３】第１の実施例の代表点Ｐkiに対する捜索範囲Ｓ
Ｅkiを示す図である。
Ｅkiを示す図である。
【図４】第１の実施例の代表点Ｐ1ki に対する捜索範囲
ＳＥ1ki を示す図である。
ＳＥ1ki を示す図である。
【図５】（２，１）の画素単位で動きベクトルを求める
ための内挿方法を示す図である。
ための内挿方法を示す図である。
【図６】図５の内挿方法の他の例を示す図である。
【図７】（1/4 ，1/4)単位で動きベクトルを求めるため
の内挿方法を示す図である。
の内挿方法を示す図である。
【図８】他の内挿方法を説明するための図である。
【図９】第１の実施例における他の代表点を説明するた
めの図である。
めの図である。
【図１０】第１の実施例の他の代表点Ｐkiに対する捜索
範囲ＳＥkiを示す図である。
範囲ＳＥkiを示す図である。
【図１１】第１の実施例の他の代表点Ｐ2ki に対する捜
索範囲ＳＥ2ki を示す図である。
索範囲ＳＥ2ki を示す図である。
【図１２】第２の実施例装置のブロック図である。
【図１３】第２の実施例のブロックを示す図である。
【図１４】従来の捜索範囲及び代表点を示す図である。
【図１５】従来例装置のブロック図である。
【図１６】捜索範囲の重なりを説明するための図であ
る。
る。
【図１７】ブロックを示す図である。
２・・・・・・・・・・・・代表点メモリ ３・・・・・・・・・・・・減算器 ４・・・・・・・・・・・・絶対値化器 ５・・・・・・・・・・・・加算器 ６，６１，６２・・・・・・残差メモリ ７・・・・・・・・・・・・比較内挿回路 ８・・・・・・・・・・・・判断回路 ８５・・・・・・・・・・・制御回路
Claims (2)
- 【請求項１】 １フィールド以上前の画像のうち所定個
数の画素からなり、且つ前記画素が一部重複する複数の
捜索範囲の各代表点のデータを格納する代表点メモリ
と、上記代表点とｑ×ｒ個の画素間隔の位置における現フィ
ールドの画素のデータと上記現フィールドの画素に対応
する上記代表点 のデータとの差分絶対値を計算してベク
トルを求める差分絶対値計算手段と、 上記差分絶対値計算手段からの各ベクトル毎のデータを
累積的に加算して残差を求める累加算手段と、 上記累加算手段からの上記各ベクトル毎の残差を比較し
て上記ｑ×ｒ単位で動きベクトルを求めると共に、当該
動きベクトルとその周辺の位置の残差とから内挿して上
記ｑ×ｒ未満の単位で動きベクトルを計算する比較内挿
手段とを有してなることを特徴とする動きベクトル検出
装置。 - 【請求項２】 １フィールドの画像を複数のブロックに
分割し、１フィールド以上前の画像のうち所定個数の画
素からなり、且つ前記画素が一部重複する複数の捜索範
囲の各代表点のデータを格納する代表点メモリと、上記代表点とｑ×ｒ個の画素間隔の位置における上記現
フィールドの画素のデータと上記現フィールドの画素に
対応する上記代表点のデータ との差分絶対値を計算して
上記各ブロック毎の各ベクトルを求める差分絶対値計算
手段と、 上記差分絶対値計算手段からの上記ブロック単位の各ベ
クトル毎のデータを累積的に加算して残差を求める累加
算手段と、 上記累加算手段からの上記ブロック単位の各ベクトル毎
の残差を上記各ブロック毎に比較して上記ｑ×ｒ単位で
動きベクトルを求めると共に、当該動きベクトルとその
周辺の位置の残差とから内挿して上記ｑ×ｒ未満の単位
で上記各ブロックの動きベクトルを計算する比較内挿手
段と、 上記比較内挿手段での比較内挿処理による各ブロック毎
の動きベクトルのデータに基づいて真の動きベクトルを
判断する判断手段とを有してなることを特徴とする動き
ベクトル検出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18406191A JP3123130B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 動きベクトル検出装置 |
| GB9213643A GB2257326B (en) | 1991-06-28 | 1992-06-26 | Motion vector detection device |
| US07/904,579 US5361104A (en) | 1991-06-28 | 1992-06-26 | Motion vector detection device |
| DE19924221320 DE4221320A1 (de) | 1991-06-28 | 1992-06-29 | Bewegungsvektor-erfassungsvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18406191A JP3123130B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 動きベクトル検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0591492A JPH0591492A (ja) | 1993-04-09 |
| JP3123130B2 true JP3123130B2 (ja) | 2001-01-09 |
Family
ID=16146696
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18406191A Expired - Fee Related JP3123130B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 動きベクトル検出装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5361104A (ja) |
| JP (1) | JP3123130B2 (ja) |
| DE (1) | DE4221320A1 (ja) |
| GB (1) | GB2257326B (ja) |
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|---|---|---|---|---|
| CN101207879B (zh) * | 2007-11-30 | 2011-07-20 | 上海华为技术有限公司 | 自动调节声音的方法、终端及系统 |
| JP7412095B2 (ja) | 2019-06-11 | 2024-01-12 | 日立Astemo株式会社 | 緩衝器 |
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| KR950014862B1 (ko) * | 1992-02-08 | 1995-12-16 | 삼성전자주식회사 | 움직임추정방법 및 그 장치 |
| JPH06141304A (ja) | 1992-10-28 | 1994-05-20 | Sony Corp | 演算回路 |
| JPH06217288A (ja) * | 1993-01-20 | 1994-08-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 動きベクトル符号化方法およびその装置 |
| JPH0799658A (ja) * | 1993-08-03 | 1995-04-11 | Sony Corp | 動きベクトル検出装置 |
| JPH07115646A (ja) * | 1993-10-20 | 1995-05-02 | Sony Corp | 画像処理装置 |
| JP3143369B2 (ja) * | 1995-08-28 | 2001-03-07 | 三洋電機株式会社 | 動きベクトル検出回路およびそれを用いた被写体追尾カメラ装置 |
| DE19633581C1 (de) * | 1996-08-20 | 1998-02-26 | Siemens Ag | Verfahren zur Auswahl eines wahrscheinlichen Bewegungsvektors für eine Echtzeitbewegungsschätzung bei Bewegtbildsequenzen |
| US6192080B1 (en) * | 1998-12-04 | 2001-02-20 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Motion compensated digital video signal processing |
| JP4596216B2 (ja) * | 2001-06-20 | 2010-12-08 | ソニー株式会社 | 画像処理装置および方法、記録媒体、並びにプログラム |
| JP2007288810A (ja) * | 2007-07-03 | 2007-11-01 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 画像符号化方法，画像復号方法，画像符号化装置，画像復号装置，画像符号化プログラム，画像復号プログラムおよびコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| JP4882956B2 (ja) | 2007-10-22 | 2012-02-22 | ソニー株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法 |
| DE102009037316A1 (de) * | 2009-08-14 | 2011-02-17 | Karl Storz Gmbh & Co. Kg | Steuerung und Verfahren zum Betreiben einer Operationsleuchte |
| KR101626003B1 (ko) * | 2009-08-24 | 2016-06-13 | 삼성전자주식회사 | 디지털 촬영장치 |
| US10506990B2 (en) * | 2016-09-09 | 2019-12-17 | Qualcomm Incorporated | Devices and methods for fall detection based on phase segmentation |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07118784B2 (ja) * | 1984-10-27 | 1995-12-18 | ソニー株式会社 | テレビジヨン信号の動き検出方法 |
| JPS61113377A (ja) * | 1984-11-07 | 1986-05-31 | Sony Corp | テレビジヨン信号の動き検出装置 |
| GB8713455D0 (en) * | 1987-06-09 | 1987-07-15 | Sony Corp | Television standards converters |
| US5111511A (en) * | 1988-06-24 | 1992-05-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Image motion vector detecting apparatus |
| US5047850A (en) * | 1989-03-03 | 1991-09-10 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Detector for detecting vector indicating motion of image |
| JP2563567B2 (ja) * | 1989-03-20 | 1996-12-11 | 松下電器産業株式会社 | 揺れ補正装置 |
| JPH07105949B2 (ja) * | 1989-03-20 | 1995-11-13 | 松下電器産業株式会社 | 画像の動きベクトル検出装置および揺れ補正装置 |
| JPH0771296B2 (ja) * | 1989-03-20 | 1995-07-31 | 松下電器産業株式会社 | 動きベクトル検出装置 |
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| JP2861462B2 (ja) * | 1991-04-12 | 1999-02-24 | ソニー株式会社 | 動きベクトル検出装置 |
-
1991
- 1991-06-28 JP JP18406191A patent/JP3123130B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-06-26 GB GB9213643A patent/GB2257326B/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-06-26 US US07/904,579 patent/US5361104A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-06-29 DE DE19924221320 patent/DE4221320A1/de not_active Withdrawn
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP7412095B2 (ja) | 2019-06-11 | 2024-01-12 | 日立Astemo株式会社 | 緩衝器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0591492A (ja) | 1993-04-09 |
| GB2257326B (en) | 1995-01-25 |
| US5361104A (en) | 1994-11-01 |
| GB9213643D0 (en) | 1992-08-12 |
| DE4221320A1 (de) | 1993-01-14 |
| GB2257326A (en) | 1993-01-06 |
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