JP3118200B2 - 線条体検査装置 - Google Patents

線条体検査装置

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JP3118200B2
JP3118200B2 JP09030483A JP3048397A JP3118200B2 JP 3118200 B2 JP3118200 B2 JP 3118200B2 JP 09030483 A JP09030483 A JP 09030483A JP 3048397 A JP3048397 A JP 3048397A JP 3118200 B2 JP3118200 B2 JP 3118200B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、受光素子からの信
号を差動増幅することにより線条体に付着した粒を検出
する線条体検査装置に関する。
【0002】
【発明が解決しようとする課題】従来、この種の装置と
しては、実公平6−13446号公報に示されるよう
に、線条体の長手方向に沿って2つの受光素子を配置す
ると共に、線条体を挟んで各受光素子に線条体の直径よ
りも光芒の広い平行光を照射し、2つの受光素子の各出
力を差動増幅器で増幅して得られる差動信号の変化によ
って粒の有無の検出を行うものが知られている。つま
り、線条体に粒が付着していた場合は、線条体の幅寸法
が直径よりも粒の高さ分だけ大きくなり、線条体に付着
した粒が一方の受光素子を通過する際は、一方の受光素
子の受光量が通常値(線条体の線幅を検出する状態)よ
りも減少するのに対して他方の受光素子の受光量は通常
値のままであるので、差動増幅器からは例えば正の差動
信号が出力される。そして、線条体の移動に伴って粒が
他方の受光素子を通過する際は、一方の受光素子の受光
量が通常値に復帰するのに対して他方の受光素子の受光
量が通常値よりも減少するので、差動増幅器からは負の
差動信号が出力される。従って、粒の移動に伴って差動
増幅器からは正の差動信号と負の差動信号が続けて出力
されるので、差動増幅器から差動信号が2回連続して出
力されたときは1個の粒を検出したと判断することがで
きる。
【0003】ところで、検出対象となる粒は、図24に
示すように線条体1のX,Y方向のうちの一方向のみに
付着した粒2もあれば、X,Y両方向にまたがって付着
する粒2もある。このような線条体1のX・Y方向のい
ずれか一方向のみに付着する粒2も確実に検出するため
に特開昭47−45756号公報のように投光部と受光
部とを2組設けて線条体をX方向並びにY方向の両方向
から粒の付着を検出するものが用いられている。しかし
ながら、この方法では、2組の投・受光部が線条体の長
手方向にずらして配置されているため、夫々の受光部の
粒を検出するタイミングがずれてしまう。このため、
X,Y両方向に付着する粒に対しては、1つの粒に対し
て2個分の検出信号が現れることになり、正確な粒の検
出が行えないという課題が生ずる。
【0004】そこで、この課題を解決するために2組の
投・受光部を図25に示すように互いの検査領域が線条
体1の同一点で直交するように線条体1の垂直方向の同
一2次元平面上のX方向とY方向とに第1,第2の投光
部3,4及び第1,第2の受光部5,6とを配置するこ
とが考えられる。
【0005】図26は第1,第2の受光部5,6の構成
を示すブロック図である。この図26において、第1,
第2の受光部5,6は共に2つの受光素子7,8の出力
を差動増幅器9で増幅して差動信号X,Yを夫々出力す
るように構成されている。そして、演算器10は、差動
信号X,Yの論理和X+Yを演算して得られる検出信号
Zを出力する。
【0006】この場合、受光素子7,8からの受光信号
を差動増幅器9において差動増幅を行うことから、線条
体1に付着した粒2が検査領域へ侵入するときに例えば
正の差動信号X,Yが出力すると共に、粒2が検査領域
から脱出するときに負の差動信号X,Yが出力される。
【0007】図27は、粒2を検出したときに第1,第
2の受光部5,6から出力される各差動信号X,Y及び
演算器10が出力する検出信号Zを示している。この図
27において、粒2が線条体1のX,Y両方向に付着す
る場合は、同図(a)に示すように差動信号X,Yは同
時に出力され、それに応じて検出信号Zが出力される。
また、粒2が線条体1のX方向のみに付着する場合は同
図(b)に示すように差動信号Xの出力に応じて検出信
号Zが出力される。また、粒2が線条体1のY方向のみ
に付着する場合は同図(c)に示すように差動信号Yの
出力に応じて検出信号Zが出力される。また、粒2がY
方向のみに付着する場合は同図(c)のように差動信号
Yの出力に応じて検出信号Zが出力される。そして、検
出信号Zは、図示しないコントローラに取込まれ、コン
トローラにおいて検出信号Zが2回で粒が1個とカウン
トする。
【0008】しかしながら、このような検出方法におい
ては、粒2がX,Y両方向にわたって付着する場合に、
第1,第2の受光部5、6において内部回路のばらつき
や受光素子の位置ずれ等による検出タイミングのずれが
発生すると、1個の粒2に対して2個分の検出信号Zが
出力されてしまうという問題が発生する。
【0009】図28は検出信号Zの発生タイミングを示
すタイミングチャートである。正常な検出時が同図
(a)で、検出タイミングにずれが生じた場合が同図
(b)である。正常であれば、X方向に対応した差動信
号XとY方向に対応した差動信号Yは同時に発生するの
で、演算器10でその和をとれば検出信号Zは2回出力
され、図示しないコントローラにおいて1個の粒2は1
個とカウントされる。
【0010】ところが、差動信号Xと差動信号Yの発生
タイミングがずれると、その和による検出信号Zは4回
出力されるので、1個の粒2は図示しないコントローラ
によって2個とカウントされることになる。
【0011】このような問題点に対して、図29に示す
ようにオフディレイをかけることが考えられる。同図
(a)は検出信号Zに出力が現れたらオフディレイをか
けることで、2個目の検出信号Zがカウントされなくな
る。
【0012】しかしながら、この方法では、オフディレ
イをかける時間の設定が一律に規定することができない
ため、同図(b)のようにオフディレイをかけすぎた場
合には、2回目の検出信号Zが出力されなくなって粒2
の数を正確に検出できなくなるという問題が存在する。
即ち、オフディレイをかける時間は、電線等の移動速度
や粒の大きさなどによって設定値が変動するため、オフ
ディレイによる設定は不可能なのが実情である。
【0013】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、線条体の同一の検出ポイントを複数の
方向から検査することにより線条体に付着する粒を検出
する構成において、粒が線条体の複数方向にわたって付
着する場合であっても、粒を正確に検出することができ
る線条体検査装置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明は、線条体の長手
方向に沿って配置される2つの受光素子と当該受光素子
の各出力を差動増幅することにより線条体に付着した粒
の通過に伴う各受光素子の受光量の差に基づいて第1の
差動信号及び当該第1の差動信号と反対極性の第2の差
動信号を順に出力する差動増幅機能を有する複数の受光
部と、線条体を挟んで前記各受光部に夫々対向して配置
される複数の投光部と、それらの投光部及び受光部を前
記線条体の同一の検出ポイントを複数方向から検出する
ように同一2次元平面上に配置した状態で前記受光部か
ら出力される差動信号の出力タイミングに応じて検出信
号を出力する出力手段とを備えた線条体検査装置におい
て、前記出力手段は、差動信号の検出待ちの状態におい
て複数の受光部のうちの何れかの特定の受光部から出力
された最初の第1の差動信号を検出してから当該特定の
受光部から出力された第2の差動信号を検出するまでの
判定期間中に他の受光部から第1の差動信号が出力され
たことを検出したときは、その判定期間中に第1の差動
信号を出力した受光部及び上記特定の受光部のうちの所
定の1つの受光部が出力した第1及び第2の差動信号の
みに対応して検出信号を出力し再び差動信号の検出待ち
の状態に復帰するようにしたものである(請求項1)。
【0015】このような構成によれば、線条体に粒が付
着していた場合、粒の通過に伴って2つの受光素子の受
光量が順に変化するので、受光部からは第1の差動信号
と当該第1の差動信号と反対極性の第2の差動信号が順
に出力される。
【0016】ここで、線条体に付着している粒が複数の
受光部の検出領域にまたがって付着していた場合、複数
の受光部から出力される第1及び第2の差動信号は同一
タイミングとなるのが正常であるものの、受光素子の配
置関係或いは受光部の検出特性によっては差動信号の出
力タイミングが異なることがあり、このような場合は、
出力部からの検出信号が1個の粒に対応しなくなる。
【0017】そこで、出力部は、差動信号の検出待ちの
状態において特定の受光部から出力された第1の差動信
号を検出してから第2の差動信号を検出するまでの判定
期間中に他の受光部から第1の差動信号が出力されたと
きは、粒が複数の受光部の検出領域にまたがって付着し
ていると判断し、判定期間中に第1の差動信号を出力し
た受光部及び特定の受光部のうちの所定の1つの受光部
が出力した第1及び第2の差動信号のみに対応して検出
信号を出力してから再び差動信号の検出待ちの状態に復
帰する。これにより、粒が複数の受光部の検出領域にま
たがって付着している場合であっても、出力部は粒に対
応した数の検出信号を確実に出力することができる。
【0018】また、前記出力手段は、前記各受光部から
出力された第1及び第2の差動信号の検出に応じて検出
信号を出力する演算器と、判定期間中に複数の受光部が
第1の差動信号を出力したことを検出したときは、それ
らの受光部及び前記特定の受光部のうちの所定の1つの
受光部以外の受光部が出力した第1の差動信号及び第2
の差動信号が前記演算器に出力されることを禁止する禁
止回路とから構成されていてもよい(請求項2)。
【0019】このような構成によれば、出力部は演算器
と禁止部とから構成されており、演算器は、複数の受光
部から出力された第1及び第2の差動信号の検出タイミ
ングに応じて検出信号を出力する。
【0020】ここで、粒が複数の受光部の検出領域にわ
たって線条体に付着していた場合は、1つの粒に対して
複数の受光部から差動信号が異なるタイミングで出力さ
れ、それに応じて演算器が検出信号を出力してしまうこ
とになる。
【0021】そこで、禁止回路は、判定期間中に複数の
受光部が第1の差動信号を出力したことを検出したとき
は、それらの受光部及び特定の受光部のうちの所定の1
つの受光部以外の受光部が出力した第1の差動信号及び
第2の差動信号が前記演算器に出力されることを禁止す
る。これにより、演算器は、1個の粒に対応した検出信
号を正確に出力することができる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明の第1実施例を図1
乃至図9を参照して説明するに、従来技術と同一部分に
は同一符号を付して説明を省略し、異なる部分について
符号を付して説明する。図1は全体の構成を示すブロッ
ク図である。この図1において、X方向検出用の第1の
受光部5及びY方向検出用の第2の受光部6は、図2に
示すように線条体1に対して垂直方向の同一2次元平面
上に配置されると共に、図3に示すように2つの受光素
子7,8の差動出力を差動信号X,Yとして夫々出力す
るように構成される。ここで、線条体の同一の検出ポイ
ントとは線条体が通過する位置上の同一位置のことで、
2組の投・受光部の検査領域が線条体の通過位置上の同
一点で交わるように第1,第2の投光部3,4及び第
1,第2の受光部5,6は配置される。そして、第1,
第2の受光部5,6から出力される差動信号X,Yはシ
フトレジスタ11,12及び判別回路13へ夫々送られ
る。
【0023】判別回路13はクロック信号に基づいて動
作する論理回路から構成されており、差動信号X,Yの
出力パターンから粒2の付着状態の判別を行い、粒2が
X,Y両方向に付着すると判別した場合は、その判別結
果に基づいてマスクゲート14,15にマスクX信号M
x,マスクY信号Myを出力する。
【0024】シフトレジスタ11,12は、判別回路1
3において粒2の付着状態判別時間及びマスク信号出力
の処理時間とのタイミングを取るために設けられてい
る。つまり、シフトレジスタ11から出力される差動信
号Xaと判別回路13から出力されるマスクX信号Mx
とがマスクゲート14へ同時に出力されるように設定さ
れている。また、シフトレジスタ12から出力される差
動信号Yaとマスクゲート15から出力されるマスクY
信号Myとがマスクゲート15へ同時に出力されるよう
に設定されている。
【0025】マスクゲート14はシフトレジスタ11か
らの差動信号Xaの入力に応じて差動信号Xbを出力す
ると共に、判別回路13からマスクX信号Mxが入力し
たときは差動信号Xaの入力にかかわらず差動信号Xb
の出力を停止するようになっている。また、マスクゲー
ト15はシフトレジスタ12からの差動信号Yaの入力
に応じて差動信号Ybを出力すると共に、判別回路13
からマスクY信号Myが入力したときは差動信号Yaの
入力にかかわらず差動信号Ybの出力を停止するように
なっている。そして、演算器10は、マスクゲート1
4,15からの差動信号Xb,Ybの入力に応じて検出
信号Zを出力する。
【0026】この場合、上記演算器10、シフトレジス
タ11,12、判別回路13、マスクゲート14,1
5、が本発明の出力手段16に相当すると共に、その出
力手段16において演算器10を除いた構成が本発明の
禁止回路に相当する。
【0027】次に上記構成の作用について説明する。判
別回路13は、上述したように差動信号X,Yのパター
ンから線条体1に対する粒2の付着状態の判別を行う。
ここで、差動信号X,Yのパターンは図4に示したよう
に粒2の付着状態によって一義的に決まってくる(図2
4参照)。
【0028】即ち、粒2が線条体1のX方向のみに付着
する場合は、差動信号Xのみが出力される(図4(a)
参照)。また、粒2が線条体1のY方向のみに付着する
場合は、差動信号Yのみが出力される(同図(b)参
照)。また、粒2が線条体1のX,Y両方向に付着する
場合は、差動信号X,Yが出力されるが、その場合、差
動信号X,Yは同時に出力されるか(同図(c)参
照)、差動信号Xに対して差動信号Yが遅れて出力され
るか(同図(d)参照)、差動信号Yに対して差動信号
Xが遅れて出力されるか(同図(e)参照)の3つのパ
ターンとなる。従って、差動信号X,Yのパターン、即
ち差動信号X,Yが検出される順序から粒2の付着状態
の判別が可能となる。
【0029】図5は判別回路13による粒2の付着方向
の判別ルーチンを示している。判別回路13は、初期状
態においては、差動信号X、Yのどちらの差動信号を検
出するかを判断している。この場合、差動信号Xを検出
すればX先行検出状態に移行し、差動信号Yを検出すれ
ばY先行検出状態に移行する。尚、差動信号X,Y共に
同時に判別回路13に入力される場合も判別回路13に
おいては両信号を同時に検出することはなく、どちから
の検出を内部クロックの1クロック分ずらすことによっ
て、差動信号X,Yのどちらかを優先的に検出するよう
になっている。
【0030】次に、X先行検出状態、或いはY先行検出
状態において、差動信号X,Yのどちらの差動信号を検
出するかを判断する。 (判別状態A)……X先行検出状態から差動信号Xが検
出されたときは、判定期間中に差動信号Yは入力しなか
ったと判断し、X方向のみ付着という判別に至る(図6
(a)の状態)。 (判別状態B)……X先行検出状態から差動信号Yが検
出されたときは、判定期間中に差動信号Yが入力したと
判断し、X,Y両方向に付着という判別に至る(同図
(b)の状態)。
【0031】(判別状態C)……Y先行検出状態から差
動信号Xが検出されたときは、判定期間中に差動信号X
が入力したと判断し、X,Y両方向に付着という判別に
至る(同図(c)の状態)。 (判別状態D)……Y先行検出状態から差動信号Yが検
出されたときは、判定期間中に差動信号Xは入力しなか
ったと判断し、Y方向のみ付着という判別に至る(同図
(d)の状態)。
【0032】ここで、判別回路13は、粒2がX,Y両
方向に付着すると判別した場合は、マスク処理に移行
し、粒2がX方向のみ或いはY方向のみに付着すると判
別した場合は、初期状態に戻る。 [マスク処理]判別回路13は、粒2がX,Y両方向に
付着すると判別したとき、即ち、判別状態B及び判別状
態Cに至ると、判別した時点から粒2の通過が終了する
までマスク信号を出力する。
【0033】図7にマスク信号の出力タイミングを示
す。粒2の通過の終了は、判別状態Bでは差動信号Y2
の立下りで(同図(a))、判別状態Cでは差動信号X
2の立下りで判別される(同図(b))。
【0034】ここで、マスク信号はマスクX信号Mxと
マスクY信号Myの2通りあって、マスクゲート14,
15へ夫々出力される。マスクX信号Mxは判別状態
C、即ち差動信号Yが先に検出され差動信号Xが後に出
力されたときに、判別回路13からマスクゲート14に
出力される。この場合、マスクX信号Mxが出力されて
いるときは、マスクY信号Myは出力されない。また、
マスクY信号Myは判別状態B、即ち差動信号Xが先に
検出され差動信号Yが後に検出されたときに、判別回路
13からマスクゲート15に出力される。この場合、マ
スクY信号Myが出力されているときは、マスクX信号
Mxは出力されない。このように判別回路から出力され
るマスクX信号Mx、マスクY信号Myによってマスク
ゲート14,15は差動信号Xa,Yaのマスク処理を
行う。
【0035】以下、粒2が線条体1のX,Y両方向に付
着する場合、及びX,Y方向のうちどちから一方のみに
付着する場合の夫々における具体的な回路動作を図8及
び図9のタイミングチャートを参照して説明する。尚、
従来技術と重複する作用については説明を省略する。
【0036】(1)粒2が線条体1のX,Y両方向に付
着する場合 図8(a)に示すように差動信号Xが先に検出されたと
きは、まず第1の差動信号X1が第1の受光部5から出
力されてシフトレジスタ11と判別回路13へ取込まれ
る。判別回路13では、第1の差動信号X1が検出され
て初期状態からX先行検出状態へ移行し、次の差動信号
の待機状態となる。シフトレジスタ11へ取込まれた第
1の差動信号X1は所定時間経過したところで差動信号
Xa1としてマスクゲート14へ出力される。このと
き、マスクゲート14には判別回路13からマスクX信
号Mxは出力されていないので、差動信号Xa1はマス
クゲート14を通過して差動信号Xb1となって演算器
10へ取込まれる。そして、演算器10は、差動信号X
b+Ybの演算が行われ、差動信号Xb1の入力に応じ
て差動信号Z1が出力される。
【0037】次に、第2の受光部6から差動信号Y1が
出力されてシフトレジスタ12及び判別回路13に取込
まれる。判別回路13では、X先行検出状態において差
動信号Y1が検出されるので、判別状態Bへ移行して粒
2がX,Y両方向に付着していると判断する。そして、
その判別の時点からマスクY信号Myをマスクゲート1
5へ出力開始する。
【0038】一方、シフトレジスタ12へ取込まれた差
動信号Y1は、判別回路13での粒2の付着状態判別及
びマスクY信号My出力処理時間とのタイミングを取る
ようにシフトレジスタ12からマスクゲート15へ差動
信号Ya1として出力される。シフトレジスタ12の作
用によってYa1とマスクY信号Myはマスクゲート1
5へ同時に入力される。マスクゲート15はマスクY信
号Myの入力によって差動信号Ya1を遮断する。その
ため、マスクゲート15から差動信号Yb1は出力せ
ず、検出信号Zも出力されることはない。次に、差動信
号X2が第1の受光部5から出力されると、前述した差
動信号X1のときと同様にして演算器10から検出信号
Z2が出力される。その後、差動信号Y2が第2の受光
部6から出力されて、シフトレジスタ12及び判別回路
13に入力される。前述した差動信号Y1のときと同様
にして、マスクゲート15において差動信号Yb2はマ
スク処理されるので、マスクゲート15から差動信号Y
bが出力されないと共に、演算器10から検出信号Zは
出力されない。
【0039】そして、判別回路13は、マスクY信号M
yの出力状態において、差動信号Y2の立下りを検出す
ると、粒2の通過の終了を判別して、マスクY信号My
の出力を終了し、初期状態に戻る。マスクY信号Myの
出力の終了によって、マスクゲート15も差動信号Ya
に対する出力停止状態を終了して初期状態に戻る。
【0040】一方、図8(b)に示すように差動信号Y
が先に検出される場合は、差動信号Xが先に検出される
場合のXとYが入れ替わるのみで、全体の作用は同様で
あるので、説明を省略する。
【0041】(2)粒がX,Y方向のうちのどちから一
方のみに付着する場合 図9(a)に示すように差動信号Xのみが検出される場
合は、まず、第1の差動信号X1が第1の受光部5から
出力されると、前記(1)で前述した場合と同じ作用に
よって演算器10から検出信号Z1が出力される。そし
て、判別回路13は、初期状態からX先行検出状態へ移
行する。
【0042】次に、第2の差動信号X2が第1の受光部
5から出力されると、判別回路13は、X先行検出状態
から判別状態Aへ移行して、粒2がX方向のみに付着し
ていると判別する。従って、判別回路13はマスクX信
号Mx及びマスクY信号Myを出力することなく初期状
態に復帰するので、マスクゲート14からは第2の差動
信号X2の入力に応じて差動信号Xa2が出力され、そ
れに応じて演算器10から検出信号Z2が出力されて、
初期状態に復帰する。
【0043】一方、図9(b)に示すように差動信号Y
のみが検出される場合は、差動信号Xのみが検出される
場合のXとYが入れ替わるのみで、全体の作用は同様で
あるので、説明を省略する。そして、図示しないコント
ローラは、演算器10から検出信号Z1,Z2が出力さ
れることに基づいて粒2を1個検出したと判断する。
【0044】上記実施例によれば、判別回路13におい
て第1,第2の受光部5,6から出力される差動信号
X,Yの出力パターンから粒2の線条体1に対する付着
状態を判別し、粒2が線条体1の一方向のみに付着する
場合は、従来通りの検出動作を行い、粒2が線条体1の
両方向に付着する場合は、一方の受光部から出力される
差動信号を無効化するようにマスク処理を行って検出動
作を行うようにしたので、1つの粒2に対して検出信号
Zは2個しか出力されず、常に正確な検出を行うことが
できる。
【0045】また、判別回路13がマスクする差動信号
は第1,第2の受光部5,6から続けて出力される第
1,第2の差動信号のうちの後から出力される第2の差
動信号であり、先に出力される第1の差動信号はマスク
されない。従って、第1,第2の受光部5,6から出力
される第1の差動信号に対応した検出信号をコントロー
ラにリアルタイムで出力することができるので、コント
ローラにおいて粒2をリアルタイムで検出することがで
きる。
【0046】尚、本第1実施例においては、第1の差動
信号を正の信号、第2の差動信号を負の信号として述べ
てきたが、それとは逆に第1の差動信号を負の信号、第
2の差動信号を正の信号としても同様の作用・効果を得
られることは勿論である。
【0047】(第2実施例)第1,第2の受光部5,6
から夫々出力される差動信号X,Yの処理を全てCPU
17(本発明の出力手段に相当)で行うように構成す
る。そのときのブロック図は図10に示されるように第
1,第2の受光部5,6とCPU17のみで構成され
る。このCPU17の動作を示すフローチャートを図1
1に、各差動信号X,Y及び検出信号Zのタイミングチ
ャートを図12に示す。
【0048】即ち、図12(a)に示すように粒2が線
条体1のX,Y両方向に付着して差動信号Xが先に検出
される場合は、最初に第1の差動信号X1が検出される
と、検出信号Z1を出力し、次に第1の差動信号Y1が
検出されると、粒がX,Y両方向に付着すると判別して
検出信号Zの出力は行わない。続いて、第2の差動信号
X2が検出されると、検出信号Z2を出力し、次に差動
信号Y2を検出したときは検出信号Zを出力することな
く初期状態に復帰する。
【0049】以上が差動信号Xが先に検出される場合の
CPU17の動作であるが、図12(b)に示すように
差動信号Yが先に検出される場合においても、XとYが
入れ替わる以外は同様の作用を行う。
【0050】図12(c)に示すように粒2がX方向の
みに付着する場合は、差動信号X1が検出されると、検
出信号Z1を出力する。続いて、差動信号X2が検出さ
れると、粒2が線条体1のX方向のみに付着すると判別
して、検出信号Z2を出力して初期状態に復帰する。一
方、同図(d)に示すように粒2が線条体1のY方向の
みに付着する場合も、X方向のみに付着する場合と、X
とYとが入れ替わる以外は同一である。
【0051】(第3実施例)第2実施例と同じくCPU
17にて処理を行うもので、構成は第2実施例を示す図
10と同一である。図13にCPU17のフローチャー
トを、図14に各差動信号X,Y及び検出信号Zのタイ
ミングチャートを示す。
【0052】図14(a)に示すように粒2が線条体1
のX,Y両方向に付着して差動信号X1が先に検出され
る場合、差動信号X1が検出されても、検出信号Zの出
力は行わず、次の差動信号の検出を行う。続いて、差動
信号Y1が検出されると、粒2が線条体1のX,Y両方
向に付着すると判別して検出信号Z1を出力する。そし
て、差動信号X2が検出されるが、検出信号Zの出力は
行わず、差動信号Yが検出されると、検出信号Z2の出
力を行って、初期状態に復帰する。一方、同図(b)に
示すように差動信号Yが先に検出される場合も、差動信
号Xが先に検出される場合とXとYが入れ替わる以外は
同一である。
【0053】また、同図(c)に示すように粒2が線条
体1のX方向のみに付着する場合は、差動信号X1が検
出されても検出信号Zの出力は行わない。続いて、差動
信号X2が検出されると、粒2が線条体1のX方向のみ
に付着すると判別して、検出信号Z1,Z2を連続して
出力して初期状態に復帰する。一方、図17(d)に示
すように粒2が線条体1のY方向のみに付着する場合も
粒2が線条体1のX方向のみに付着する場合とXとYが
入れ替わる以外は同一である。
【0054】(第4実施例)上記第2,第3実施例では
差動信号X及びYの処理全てをCPU17で行う構成と
したが、ここでは、第1実施例の判別回路13の動作を
CPUで行うように構成する。そのブロック図を図15
に示すと共にCPU18の動作を示すフローチャートを
図16に示す。CPU18の動作は判別回路13の動作
と同一であるので、その説明は省略する。
【0055】(第5実施例)構成は第1実施例と同様で
ある。但し、第1実施例とは判別回路13のマスク信号
の出力タイミングの点で作用が異なる。即ち、判別回路
13は、粒2が線条体1のX,Y両方向に付着すると判
別した場合、その判別後にマスクゲート14,15へマ
スク信号の出力を判別した時点から粒2の通過が終了す
るまで出力していたが、この第5実施例では、そのマス
ク信号は判別した時点から後に検出される差動信号の立
下りまでしか出力しないことを特徴とする。
【0056】即ち、図17(a)を例にすると、まず判
別回路13は差動信号X1を先に検出したときはX先行
検出状態に移行し、その後、差動信号Y1が検出されて
判別状態Bへ移行して粒2が線条体1のX,Y両方向に
付着すると判別する。
【0057】それに基づいてマスクY信号My1がマス
クゲート15へ出力開始される。そして、判別回路13
は差動信号Y1の立下りを検出すると、マスクY信号M
y1の出力を停止する。続いて、差動信号Y2の立上が
りの待機状態に移行し、差動信号Y2の立上がりの検出
によってマスクY信号My2の出力を開始する。最後に
差動信号Y2の立下りによってマスクY信号My2の出
力を終了して初期状態に戻る。
【0058】(第6実施例)図18は全体構成を示すブ
ロック図である。この図18において、第2の受光部6
の出力側には遅延回路19が接続されている。この遅延
回路19は例えばコンデンサや抵抗からなるCR回路か
らなり、安価で簡易に構成可能なものである。ここで、
遅延回路19は、第2の受光部6からの差動信号Yを入
力したときは、その入力タイミングから所定時間遅らし
たタイミングで差動信号Yaを出力するようになってい
る。この遅延回路19が差動信号Yaを遅らして出力す
る所定時間としては、差動信号Yaの出力タイミングが
第1の受光部5からの差動信号Xの出力タイミングより
も常に遅れるような時間に設定されている。そして、シ
フトレジスタ12及び判別回路13の出力は第1実施例
と同様にマスクゲート15に取込まれ、このマスクゲー
ト15の出力は演算器10に取込まれる。一方、第1の
受光部5の出力は、第1実施例と同様に、判別回路13
に取込まれると共に演算器10に直接取込まれるように
なっている。
【0059】この構成の作用を図19に示すタイミング
チャートを参照して説明する。即ち、粒2が線条体1の
X,Y両方向に付着する場合は、第2の受光部6からの
第1の差動信号Y1は遅延回路19によって必ず第1の
受光部5からの第1の差動信号X1より遅れて判別回路
13に取込まれることになる。これにより、判別回路1
3は、粒2が線条体1のX,Y両方向に付着する場合
は、遅延回路19によって差動信号Ya1を先に検出す
ることはないので、マスクX信号Mxを出力する必要は
ない。尚、粒2が線条体1のX方向またはY方向のいず
れかのみに付着する場合は、第1実施例と同様の作用と
なる。
【0060】この第6実施例によれば、第2の受光部6
の出力側に遅延回路19を設けることによって、判別回
路13では第1の受光部5からの差動信号Xを必ず先に
検出することになるので、差動信号をマスク処理するの
に必要なシフトレジスタ及びマスタゲートを第2の受光
部6の出力側にのみに設ければよくなる。従って、高価
で簡易でない構成のシフトレジスタやマスクゲートに代
わって安価で簡易な構成の遅延回路を設けることで、安
価で簡易な構成の線条体検査装置を提供することができ
る。
【0061】(第7実施例)上記第6実施例では、遅延
回路19を第2の受光部6の出力側に設けたが、第1の
受光部5の出力側に設けるように構成してもよい。その
ときのブロック図は図20の通りである。このときの作
用は第6実施例のXとYが入れ替わるのみで同様のもの
であるので、説明を省略する。
【0062】(第8実施例)上記第1乃至第7実施例で
は、2組の第1,第2の投光部3,4及び第1,第2の
受光部5,6にて実施されているが、図21に示すよう
に3組の投光部3,4,20及び受光部5,6,21に
て構成しても同様の効果を得ることができる。そのブロ
ック図を図22に、タイミングチャートを図23に夫々
示す。基本的な作用及び効果は第1実施例と同様であ
る。この場合、対になる投光部と受光部とを線条体1を
中心にして60°間隔となるように配置する。また、図
22に示すように第3の受光部21に対応してシフトレ
ジスタ22及びマスクゲート23を設ける。さらに、判
別回路13は第1,第2,第3の受光部5,6,21か
らの差動信号に基づいてマスク信号を出力するようにな
っている。
【0063】即ち、図23に示すように判別回路13は
差動信号X、Y、Wの検出を行い、差動信号X1に続い
て差動信号Y1及びW1を検出すると、マスクY信号M
y及びマスクW信号Mwの出力を夫々開始し、差動信号
Ya2及びWa2の立下りまで、夫々マスクY信号My
及びマスクW信号Mwの出力を続ける。また、差動信号
X,Yしか検出されないときは、マスクY信号Myのみ
を出力し、マスクW信号Mwは出力されない。さらに、
差動信号Xしか検出されない場合は、マスク信号は出力
されない。以上の動作は差動信号X,Y,Wの何れにお
いても同様である。尚、この第8実施例では、3組の投
光部及び受光部を例にあげたが、4組、5組、……と多
数の投光部及び受光部で構成しても同様にして実現可能
である。
【0064】このような第8実施例によれば、線条体1
を複数方向から検出するため、粒の検出角度において死
角がなくなり、第1実施例の如く2組の投・受光部で検
出を行うものに対して、より確実に且つ完全に粒の付着
を検出することができるという効果を奏する。
【0065】本発明は、上記実施例にのみ限定されるも
のではなく、次のように変形または拡張できる。上記第
1乃至第8実施例では、投光部及び受光部は線条体1に
対して垂直方向の同一2次元平面上に配置されていた
が、同一2次元平面上に配置されるものであればよいの
で、必ずしも線条体1に対して垂直方向である必要はな
く、線条体の長手方向に対して斜めの方向の同一2次元
平面上に投光部及び受光部を配置するようにしてもよ
い。
【0066】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の線条体検査装置によれば、複数の受光部から線条体に
付着した同一の粒に対応して複数の差動信号が出力され
た場合は、特定の受光部から出力された差動信号のみに
対応して検出信号を出力するようにしたので、粒が線条
体の複数方向に付着する場合でも、粒の大きさや線条体
の移動速度にかかわらず常に正確な検出動作を行うこと
が可能となるという優れた効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例における全体構成を示す概
略図
【図2】投光部及び受光部の配置関係を示す斜視図
【図3】受光部の構成を示すブロック図
【図4】粒の各付着状態における差動信号の出力状態を
示すタイミングチャート
【図5】差動信号の入力順番による判別状態を示す図
【図6】各判別状態における差動信号の出力状態を示す
タイミングチャート
【図7】マスク信号の出力状態を示すタイミングチャー
【図8】粒が線条体のX,Y方向に付着した場合におけ
る各信号の出力状態を示すタイミングチャート
【図9】粒が線条体の一方向のみに付着した場合におけ
る各信号の出力状態を示すタイミングチャート
【図10】本発明の第2実施例を示す図1相当図
【図11】CPUの動作を示すフローチャート
【図12】粒の各付着状態における各信号の出力状態を
示すタイミングチャート
【図13】本発明の第3実施例におけるCPUの動作を
示すフローチャート
【図14】各信号の出力状態を示すタイミングチャート
【図15】本発明の第4実施例を示す図1相当図
【図16】CPUの動作を示すフローチャート
【図17】本発明の第5実施例における各信号の出力状
態を示すタイミングチャート
【図18】本発明の第6実施例を示す図1相当図
【図19】各信号の出力状態を示すタイミングチャート
【図20】本発明の第7実施例を示す図1相当図
【図21】本発明の第8実施例を示す図2相当図
【図22】図1相当図
【図23】各信号の出力状態を示すタイミングチャート
【図24】従来例における粒の付着状態を示す線条体の
断面図
【図25】投光部及び受光部の配置関係を示す斜視図
【図26】受光部の構成を示すブロック図
【図27】検出信号の出力状態を示すタイミングチャー
【図28】粒がX,Y方向に付着した状態における検出
信号の出力状態を示すタイミングチャート
【図29】オフディレイをかけた状態における検出信号
の出力状態を示すタイミングチャート
【符号の説明】
1は線条体、2は粒、3は第1の投光部、4は第3の投
光部、5は第1の受光部、6は第2の受光部、7,8は
受光素子、9は差動増幅器、10は演算器、11,12
はシフトレジスタ(禁止回路)、13は判別回路(禁止
回路)、14,15はマスクゲート(禁止回路)、16
は出力手段、17はCPU(出力手段)、18はCP
U、20は第3の投光部、21は第3の受光部である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/84 - 21/958 G01B 11/00 - 11/30 G01J 1/00 - 1/60 G01V 9/04

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 線条体の長手方向に沿って配置される2
    つの受光素子と当該受光素子の各出力を差動増幅するこ
    とにより線条体に付着した粒の通過に伴う各受光素子の
    受光量の差に基づいて第1の差動信号及び当該第1の差
    動信号と反対極性の第2の差動信号を順に出力する差動
    増幅機能を有する複数の受光部と、線条体を挟んで前記
    各受光部に夫々対向して配置される複数の投光部と、そ
    れらの投光部及び受光部を前記線条体の同一の検出ポイ
    ントを複数方向から検出するように同一2次元平面上に
    配置した状態で前記受光部から出力される差動信号の出
    力タイミングに応じて検出信号を出力する出力手段とを
    備えた線条体検査装置において、 前記出力手段は、差動信号の検出待ちの状態において複
    数の受光部のうちの何れかの特定の受光部から出力され
    た最初の第1の差動信号を検出してから当該特定の受光
    部から出力された第2の差動信号を検出するまでの判定
    期間中に他の受光部から第1の差動信号が出力されたこ
    とを検出したときは、その判定期間中に第1の差動信号
    を出力した受光部及び上記特定の受光部のうちの所定の
    1つの受光部が出力した第1及び第2の差動信号のみに
    対応して検出信号を出力し再び差動信号の検出待ちの状
    態に復帰することを特徴とする線条体検査装置。
  2. 【請求項2】 前記出力手段は、前記各受光部から出力
    された第1及び第2の差動信号の検出に応じて検出信号
    を出力する演算器と、判定期間中に複数の受光部が第1
    の差動信号を出力したことを検出したときは、それらの
    受光部及び前記特定の受光部のうちの所定の1つの受光
    部以外の受光部が出力した第1の差動信号及び第2の差
    動信号が前記演算器に出力されることを禁止する禁止回
    路とから構成されていることを特徴とする請求項1記載
    の線条体検査装置。
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