JP3087202B2 - 振幅検出方法 - Google Patents
振幅検出方法Info
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Description
鏡)、AFM(走査型原子間力顕微鏡)等の原理を利用
した走査型プローブ顕微鏡の計測制御部に利用される。
タクトAFM、MFM(走査型磁化力顕微鏡)における
計測制御部の構成として、探針を加振し、検出部より該
加振周波数に依存する信号を検出し、該検出信号の振幅
変化分を探針制御系の入力信号とする方法を利用してい
る。このような振幅変調方法に於いて、該検出信号の振
幅変化分をアナログ的手段により算出する為に、該加振
周波数に依存する信号を平均値もしくは実効値検波後低
域通過フィルタにより平坦化している。これは、一般に
良く利用されているAM(振幅変調)信号の復調方法で
ある。
測制御系ブロック図である。カンチレバー101は、発
振器102及び励振用圧電素子103により励振させら
れ、レーザ発光部120からのレーザ光104及び位置
検出器105により構成されるカンチレバー101の変
位検出系において、位置検出信号S1は探針121先端
と試料122表面間に働く力により振幅変調された信号
である。IN変換器及び差動増幅器119通過後、信号
軸方向の変位成分に対応した差動信号S2は絶対値回路
106を通過し、検波信号SD1となる。
107を通過して制御入力信号S3となり、走査型プロ
ーブ顕微鏡の一般的な制御系により走査用圧電素子10
8が駆動される構成である。
幅変調)の復調方法では、該加振周波数に依存する信号
すなわち振幅変調された信号を絶対値化し該絶対値化信
号を直接平坦化する為、振幅変化分に対して変調信号す
なわちキャリア分が相対的にレベルが大きい場合は、振
幅変化分に対してリップル成分が無視出来なくなる。リ
ップル成分は制御系において、試料表面の観察像信号に
対してもノイズ成分となり、試料表面の観察像での分解
能を低下させる。
リア周波数を高周波にする方法と平坦化の為の低域通過
フィルタの次数を上げる方法とがあるが、前者では検出
部すなわち光検出器の周波数特性やカンチレバーの共振
周波数等により制約を受け、後者では制御系の高域応答
の低下や、位相回りにより制御系が不安定になる問題点
がある。
おける各信号波形図である。差動信号S2は探針先端と
試料表面間に働く力により振幅変調されており、検波信
号SD1より平坦化された制御入力信号S3で振幅変化
分のみが抽出されるが、差動信号S2の振幅値が大き
く、キャリア成分に対して振幅変化分が小さい場合はリ
ップル成分が無視できない。
数に依存する信号を周波数逓倍し、該周波数てい倍され
た信号をコンパレータにより2値化し、2値化信号によ
り元の加振周波数に依存する信号の絶対値化した信号を
サンプリングし、該検出信号の振幅変化分を算出するこ
とにより前記問題点を解決している。
に依存する信号の絶対値化した信号をサンプリングし、
該検出信号の振幅変化分を算出する為、絶対値化した信
号波形を1点で保持することができる。したがって、キ
ャリア振幅値に対して相対的に振幅変化分が極めて小さ
い場合でも、従来の方法のように該振幅変化分がリップ
ル成分以下となり、検出できなかったり、仮に検出でき
たとしても振幅変化分に対してリップル成分が大きくS
/N比が悪くなることがなく、振幅変化分を検出するこ
とができる。また、平坦化用低域通過フィルタ前の信号
変化レベルは、従来の方法では差動信号S2の振幅値の
1/2であるのに対し、本発明に基づいた方法では1サ
ンプル前との差分値となり小さな値となる。従って、本
発明に基づいた方法では平坦化用低域通過フィルタの次
数を小さくかつ遮断周波数をキャリア周波数の1/2、
すなわち、ナイキスト周波数付近まで高く設定できる。
て説明する。図1は本発明に基づいたノンコンタクトA
FM計測制御系ブロック図である変位検出系は図2と同
一であるが、差動信号S2は2乗回路109を通過して
周波数がてい倍され、直流成分及びノイズ成分を遮断す
るために帯域通過フィルタ110を介し2乗信号SSと
なる。2乗信号SSはコンパレータ111により0Vと
比較され、2値信号であるサンプル信号SPとなる。一
方、絶対値信号SAはサンプル信号SPにより一周期ご
とにサンプルホールド回路112でサンプルホールドさ
れ、図2に記載のものに比較して遮断周波数が高く、次
数の小さい低域通過フィルタ107を介して制御入力信
号S3となる。制御入力信号S3は、目標値設定部11
3で発生されるあらかじめ設定された引力値に相当する
電圧と比較器114で比較される。比較された結果は、
誤差信号となり積分器115に入力される。積分器11
5ではあらかじめ設定された時定数で誤差信号を積分
し、その結果である制御信号Zを圧電素子駆動増幅器1
17に与える。圧電素子駆動増幅器117では、該制御
信号Z及び走査信号発生部118で発生されるX、Y軸
の走査信号を圧電素子を駆動するに充分な電圧に電圧増
幅して走査用圧電素子108を駆動する。
ブロック図はフィードバック系を構成するものである。
観察像信号増幅器116は、制御信号Zを所望の電圧に
増幅するための可変利得増幅器であり、ホストコンピュ
ータにデータとして取り込むに最適なレベルである観察
像信号を出力する。
1)における各信号波形図である。差動信号S2及び絶
対値信号SAまでは図4と同一であるが、サンプル信号
SPの立ち上がりにより絶対値信号SAがサンプルホー
ルドされ検波信号SD2となる。検波信号SD2の段差
分は低減通過フィルタ107によって平坦化され、制御
入力信号S3となる。
は、平坦化用低域通過フィルタの次数を小さくかつ遮断
周波数をキャリア周波数の1/2付近まで高く設定でき
る為、制御系の高帯域化、高速安定化、リップルの低減
によるノイズレベルの低減化により高分解能化が可能と
なる。
用している為、制御入力信号を該サンプル信号によりA
/D変換することにより計測制御系のデジタル化、ソフ
トウエア化に容易に対応できる。
御系ブロック図である。
ロック図である。
各信号波形図である。
波形図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 探針を加振し、検出部より該加振周波数
に依存する信号を検出し、該検出信号の振幅変化分を探
針制御系の入力信号として利用する走査型プローブ顕微
鏡の計測制御部において、該加振周波数に依存する信号
を周波数てい倍し、該周波数てい倍された信号をコンパ
レータにより2値化し、2値化信号により元の加振周波
数に依存する信号の絶対値化した信号をサンプリングす
ることにより、該検出信号の振幅変化分を算出すること
を特徴とする振幅検出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05067131A JP3087202B2 (ja) | 1993-03-25 | 1993-03-25 | 振幅検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05067131A JP3087202B2 (ja) | 1993-03-25 | 1993-03-25 | 振幅検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06281447A JPH06281447A (ja) | 1994-10-07 |
JP3087202B2 true JP3087202B2 (ja) | 2000-09-11 |
Family
ID=13336045
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP05067131A Expired - Fee Related JP3087202B2 (ja) | 1993-03-25 | 1993-03-25 | 振幅検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3087202B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103645348A (zh) * | 2013-12-03 | 2014-03-19 | 中国科学院电工研究所 | 一种微纳米尺度耦合振动高分辨测量方法 |
CN103645347A (zh) * | 2013-12-03 | 2014-03-19 | 中国科学院电工研究所 | 微纳米尺度动态耦合振动的单点跟踪测量方法 |
-
1993
- 1993-03-25 JP JP05067131A patent/JP3087202B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103645348A (zh) * | 2013-12-03 | 2014-03-19 | 中国科学院电工研究所 | 一种微纳米尺度耦合振动高分辨测量方法 |
CN103645347A (zh) * | 2013-12-03 | 2014-03-19 | 中国科学院电工研究所 | 微纳米尺度动态耦合振动的单点跟踪测量方法 |
CN103645347B (zh) * | 2013-12-03 | 2016-08-17 | 中国科学院电工研究所 | 微纳米尺度动态耦合振动的单点跟踪测量方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06281447A (ja) | 1994-10-07 |
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