JP3087202B2 - 振幅検出方法 - Google Patents

振幅検出方法

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JP3087202B2 JP05067131A JP6713193A JP3087202B2 JP 3087202 B2 JP3087202 B2 JP 3087202B2 JP 05067131 A JP05067131 A JP 05067131A JP 6713193 A JP6713193 A JP 6713193A JP 3087202 B2 JP3087202 B2 JP 3087202B2
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昭彦 本間
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業利用分野】本発明はSTM(走査型トンネル顕微
鏡)、AFM(走査型原子間力顕微鏡)等の原理を利用
した走査型プローブ顕微鏡の計測制御部に利用される。
【0002】
【従来の技術】走査型プローブ顕微鏡に属するノンコン
タクトAFM、MFM(走査型磁化力顕微鏡)における
計測制御部の構成として、探針を加振し、検出部より該
加振周波数に依存する信号を検出し、該検出信号の振幅
変化分を探針制御系の入力信号とする方法を利用してい
る。このような振幅変調方法に於いて、該検出信号の振
幅変化分をアナログ的手段により算出する為に、該加振
周波数に依存する信号を平均値もしくは実効値検波後低
域通過フィルタにより平坦化している。これは、一般に
良く利用されているAM(振幅変調)信号の復調方法で
ある。
【0003】図2は従来技術のノンコンタクトAFM計
測制御系ブロック図である。カンチレバー101は、発
振器102及び励振用圧電素子103により励振させら
れ、レーザ発光部120からのレーザ光104及び位置
検出器105により構成されるカンチレバー101の変
位検出系において、位置検出信号S1は探針121先端
と試料122表面間に働く力により振幅変調された信号
である。IN変換器及び差動増幅器119通過後、信号
軸方向の変位成分に対応した差動信号S2は絶対値回路
106を通過し、検波信号SD1となる。
【0004】さらに検波信号SD1は低域通過フィルタ
107を通過して制御入力信号S3となり、走査型プロ
ーブ顕微鏡の一般的な制御系により走査用圧電素子10
8が駆動される構成である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】前記一般的なAM(振
幅変調)の復調方法では、該加振周波数に依存する信号
すなわち振幅変調された信号を絶対値化し該絶対値化信
号を直接平坦化する為、振幅変化分に対して変調信号す
なわちキャリア分が相対的にレベルが大きい場合は、振
幅変化分に対してリップル成分が無視出来なくなる。リ
ップル成分は制御系において、試料表面の観察像信号に
対してもノイズ成分となり、試料表面の観察像での分解
能を低下させる。
【0006】該リップル成分を低減させる為には、キャ
リア周波数を高周波にする方法と平坦化の為の低域通過
フィルタの次数を上げる方法とがあるが、前者では検出
部すなわち光検出器の周波数特性やカンチレバーの共振
周波数等により制約を受け、後者では制御系の高域応答
の低下や、位相回りにより制御系が不安定になる問題点
がある。
【0007】図4は、従来技術のブロック図(図2)に
おける各信号波形図である。差動信号S2は探針先端と
試料表面間に働く力により振幅変調されており、検波信
号SD1より平坦化された制御入力信号S3で振幅変化
分のみが抽出されるが、差動信号S2の振幅値が大き
く、キャリア成分に対して振幅変化分が小さい場合はリ
ップル成分が無視できない。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明では、該加振周波
数に依存する信号を周波数逓倍し、該周波数てい倍され
た信号をコンパレータにより2値化し、2値化信号によ
り元の加振周波数に依存する信号の絶対値化した信号を
サンプリングし、該検出信号の振幅変化分を算出するこ
とにより前記問題点を解決している。
【0009】
【作用】本発明では、2値化信号により元の加振周波数
に依存する信号の絶対値化した信号をサンプリングし、
該検出信号の振幅変化分を算出する為、絶対値化した信
号波形を1点で保持することができる。したがって、キ
ャリア振幅値に対して相対的に振幅変化分が極めて小さ
い場合でも、従来の方法のように該振幅変化分がリップ
ル成分以下となり、検出できなかったり、仮に検出でき
たとしても振幅変化分に対してリップル成分が大きくS
/N比が悪くなることがなく、振幅変化分を検出するこ
とができる。また、平坦化用低域通過フィルタ前の信号
変化レベルは、従来の方法では差動信号S2の振幅値の
1/2であるのに対し、本発明に基づいた方法では1サ
ンプル前との差分値となり小さな値となる。従って、本
発明に基づいた方法では平坦化用低域通過フィルタの次
数を小さくかつ遮断周波数をキャリア周波数の1/2、
すなわち、ナイキスト周波数付近まで高く設定できる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面に基づい
て説明する。図1は本発明に基づいたノンコンタクトA
FM計測制御系ブロック図である変位検出系は図2と同
一であるが、差動信号S2は2乗回路109を通過して
周波数がてい倍され、直流成分及びノイズ成分を遮断す
るために帯域通過フィルタ110を介し2乗信号SSと
なる。2乗信号SSはコンパレータ111により0Vと
比較され、2値信号であるサンプル信号SPとなる。一
方、絶対値信号SAはサンプル信号SPにより一周期ご
とにサンプルホールド回路112でサンプルホールドさ
れ、図2に記載のものに比較して遮断周波数が高く、次
数の小さい低域通過フィルタ107を介して制御入力信
号S3となる。制御入力信号S3は、目標値設定部11
3で発生されるあらかじめ設定された引力値に相当する
電圧と比較器114で比較される。比較された結果は、
誤差信号となり積分器115に入力される。積分器11
5ではあらかじめ設定された時定数で誤差信号を積分
し、その結果である制御信号Zを圧電素子駆動増幅器1
17に与える。圧電素子駆動増幅器117では、該制御
信号Z及び走査信号発生部118で発生されるX、Y軸
の走査信号を圧電素子を駆動するに充分な電圧に電圧増
幅して走査用圧電素子108を駆動する。
【0011】以上述べた構成により、本発明に基づいた
ブロック図はフィードバック系を構成するものである。
観察像信号増幅器116は、制御信号Zを所望の電圧に
増幅するための可変利得増幅器であり、ホストコンピュ
ータにデータとして取り込むに最適なレベルである観察
像信号を出力する。
【0012】図3は本発明に基づいたブロック図(図
1)における各信号波形図である。差動信号S2及び絶
対値信号SAまでは図4と同一であるが、サンプル信号
SPの立ち上がりにより絶対値信号SAがサンプルホー
ルドされ検波信号SD2となる。検波信号SD2の段差
分は低減通過フィルタ107によって平坦化され、制御
入力信号S3となる。
【0013】
【発明の効果】本発明に基づいた計測制御系において
は、平坦化用低域通過フィルタの次数を小さくかつ遮断
周波数をキャリア周波数の1/2付近まで高く設定でき
る為、制御系の高帯域化、高速安定化、リップルの低減
によるノイズレベルの低減化により高分解能化が可能と
なる。
【0014】さらに、本発明ではサンプリング方式を採
用している為、制御入力信号を該サンプル信号によりA
/D変換することにより計測制御系のデジタル化、ソフ
トウエア化に容易に対応できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に基づいたノンコンタクトAFM計測制
御系ブロック図である。
【図2】従来技術のノンコンタクトAFM計測制御系ブ
ロック図である。
【図3】本発明に基づいたブロック図(図1)における
各信号波形図である。
【図4】従来技術のブロック図(図2)における各信号
波形図である。
【符号の説明】
S1 位置検出信号 S2 差動信号 S3 制御入力信号 SD2 検波信号 SA 絶対値信号 SS 2乗信号 SP サンプル信号 X X軸駆動信号 Y Y軸駆動信号 Z Z軸駆動信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 21/00 - 21/32 G01B 7/00 - 7/34 102 G01N 37/00

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 探針を加振し、検出部より該加振周波数
    に依存する信号を検出し、該検出信号の振幅変化分を探
    針制御系の入力信号として利用する走査型プローブ顕微
    鏡の計測制御部において、該加振周波数に依存する信号
    を周波数てい倍し、該周波数てい倍された信号をコンパ
    レータにより2値化し、2値化信号により元の加振周波
    数に依存する信号の絶対値化した信号をサンプリングす
    ることにより、該検出信号の振幅変化分を算出すること
    を特徴とする振幅検出方法。
JP05067131A 1993-03-25 1993-03-25 振幅検出方法 Expired - Fee Related JP3087202B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103645348A (zh) * 2013-12-03 2014-03-19 中国科学院电工研究所 一种微纳米尺度耦合振动高分辨测量方法
CN103645347A (zh) * 2013-12-03 2014-03-19 中国科学院电工研究所 微纳米尺度动态耦合振动的单点跟踪测量方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103645348A (zh) * 2013-12-03 2014-03-19 中国科学院电工研究所 一种微纳米尺度耦合振动高分辨测量方法
CN103645347A (zh) * 2013-12-03 2014-03-19 中国科学院电工研究所 微纳米尺度动态耦合振动的单点跟踪测量方法
CN103645347B (zh) * 2013-12-03 2016-08-17 中国科学院电工研究所 微纳米尺度动态耦合振动的单点跟踪测量方法

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