JP3082442B2 - クリーム半田印刷検査方法及び装置 - Google Patents
クリーム半田印刷検査方法及び装置Info
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- JP3082442B2 JP3082442B2 JP04170372A JP17037292A JP3082442B2 JP 3082442 B2 JP3082442 B2 JP 3082442B2 JP 04170372 A JP04170372 A JP 04170372A JP 17037292 A JP17037292 A JP 17037292A JP 3082442 B2 JP3082442 B2 JP 3082442B2
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- JP
- Japan
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- circuit board
- window
- cream solder
- shape
- board electrode
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、クリーム半田印刷検査
方法及び装置に関し、特に実装分野において回路基板へ
クリーム半田を印刷した後で部品を実装する前のかす
れ、にじみなどのクリーム半田の印刷検査方法及び装置
に関する。
方法及び装置に関し、特に実装分野において回路基板へ
クリーム半田を印刷した後で部品を実装する前のかす
れ、にじみなどのクリーム半田の印刷検査方法及び装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の技術を図７，図８を用いて説明す
る。図７，図８に示すように、撮像したカラー画像に対
しクリーム半田３にウィンドウ１１を設定し、ウィンド
ウ１１内のクリーム半田３の色抽出を行い、クリーム半
田の個別面積値ＳＣを検出する。検出された個別面積値
ＳＣと基準となる個別面積値ＳＣkとの比較判定を行う
ことによりかすれ、にじみなどのクリーム半田印刷検査
を行っていた。なお、４は回路基板電極部である。
る。図７，図８に示すように、撮像したカラー画像に対
しクリーム半田３にウィンドウ１１を設定し、ウィンド
ウ１１内のクリーム半田３の色抽出を行い、クリーム半
田の個別面積値ＳＣを検出する。検出された個別面積値
ＳＣと基準となる個別面積値ＳＣkとの比較判定を行う
ことによりかすれ、にじみなどのクリーム半田印刷検査
を行っていた。なお、４は回路基板電極部である。
【０００３】判定式ＳＣ＜ＳＣk−Ｃs が成立した場合、かすれと判定する。ただし、Ｃsはか
すれと判定するためのかすれ許容値とする。
すれと判定するためのかすれ許容値とする。
【０００４】また判定式ＳＣ＞ＳＣk＋Ｃl が成立した場合、にじみと判定する。ただし、Ｃlはに
じみと判定するためのにじみ許容値とする。
じみと判定するためのにじみ許容値とする。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、クリー
ム半田の印刷状態によっては下記の課題があり、上記の
ようなクリーム半田の個別面積値のみの判定ではかす
れ、にじみの検出が不可能である。
ム半田の印刷状態によっては下記の課題があり、上記の
ようなクリーム半田の個別面積値のみの判定ではかす
れ、にじみの検出が不可能である。
【０００６】（１）図５（ｂ）に示すように、クリーム
半田３が回路基板電極部（以下、ランドとする）４の中
心部４ａになく（かすれ）、ランド周辺部４ｂに多量の
クリーム半田３が存在する（にじみ）場合がある。
半田３が回路基板電極部（以下、ランドとする）４の中
心部４ａになく（かすれ）、ランド周辺部４ｂに多量の
クリーム半田３が存在する（にじみ）場合がある。
【０００７】（２）図６（ｃ）に示すように、クリーム
半田３の表面状態に起伏がある場合には照明光の反射が
一様でなくなるため、クリーム半田３の色抽出では影の
部分３ａがカットされ実際より面積値が小さく検出され
ることがある。
半田３の表面状態に起伏がある場合には照明光の反射が
一様でなくなるため、クリーム半田３の色抽出では影の
部分３ａがカットされ実際より面積値が小さく検出され
ることがある。
【０００８】本発明はこのような課題を解決するもの
で、安定したかすれ検査とにじみ検査を行うことができ
るクリーム半田印刷検査方法を提供することを目的とす
る。
で、安定したかすれ検査とにじみ検査を行うことができ
るクリーム半田印刷検査方法を提供することを目的とす
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
本発明のクリーム半田印刷検査方法の、（１）第１の手
段は、撮像装置を用いたカラー画像処理により、回路基
板に形成されたクリーム半田の印刷検査を行う場合にお
いて、撮像した画像に対しランドの形状とクリーム半田
の形状が重なる回路基板電極部内にウィンドウを設定す
る工程と、ウィンドウ内の色抽出を行い、ランドの個別
面積値を検出する工程と、検出したランドの個別面積値
と基準となるランドの個別面積値を比較判定することに
よりクリーム半田のかすれを判定する工程とを備えたも
のである。
本発明のクリーム半田印刷検査方法の、（１）第１の手
段は、撮像装置を用いたカラー画像処理により、回路基
板に形成されたクリーム半田の印刷検査を行う場合にお
いて、撮像した画像に対しランドの形状とクリーム半田
の形状が重なる回路基板電極部内にウィンドウを設定す
る工程と、ウィンドウ内の色抽出を行い、ランドの個別
面積値を検出する工程と、検出したランドの個別面積値
と基準となるランドの個別面積値を比較判定することに
よりクリーム半田のかすれを判定する工程とを備えたも
のである。
【００１０】（２）第２の手段は、撮像装置を用いたカ
ラー画像処理により、回路基板に形成されたクリーム半
田の印刷検査を行う際、クリーム半田の形状よりランド
の形状が大きい場合において、撮像した画像に対しラン
ドの形状とクリーム半田の形状が重なる部分にウィンド
ウ１を設定する工程と、撮像した画像に対しランドの形
状とウィンドウ１を含むウィンドウ２を設定する工程
と、ウィンドウ１外でウィンドウ２内の色抽出を行い、
ランドの個別面積値を検出する工程と、検出したランド
の個別面積値と基準となるランドの個別面積値を比較判
定することによりクリーム半田のにじみを検査する工程
とを備えたものである。
ラー画像処理により、回路基板に形成されたクリーム半
田の印刷検査を行う際、クリーム半田の形状よりランド
の形状が大きい場合において、撮像した画像に対しラン
ドの形状とクリーム半田の形状が重なる部分にウィンド
ウ１を設定する工程と、撮像した画像に対しランドの形
状とウィンドウ１を含むウィンドウ２を設定する工程
と、ウィンドウ１外でウィンドウ２内の色抽出を行い、
ランドの個別面積値を検出する工程と、検出したランド
の個別面積値と基準となるランドの個別面積値を比較判
定することによりクリーム半田のにじみを検査する工程
とを備えたものである。
【００１１】（３）第３の手段は上記第１の手段と第２
の手段の両方の工程を備えたものである。更にこの第1
の手段から第3の手段の検査方法を備えた検査装置であ
る。
の手段の両方の工程を備えたものである。更にこの第1
の手段から第3の手段の検査方法を備えた検査装置であ
る。
【００１２】
【作用】（１）上記第１の手段によれば、クリーム半田
面積だけでは判定不可能なかすれ検査をランドの形状と
クリーム半田形状が重なる部分にウィンドウを設定し、
ウィンドウ内のランド面積値を検出し判定することによ
り、安定してかすれ検査を行うことができることとな
る。
面積だけでは判定不可能なかすれ検査をランドの形状と
クリーム半田形状が重なる部分にウィンドウを設定し、
ウィンドウ内のランド面積値を検出し判定することによ
り、安定してかすれ検査を行うことができることとな
る。
【００１３】（２）上記第２の手段によれば、クリーム
半田面積だけでは判定不可能なにじみ検査を、ランド形
状とクリーム半田形状が重なる部分にウィンドウ１を、
ランドの形状にウィンドウ２を設定し、ウィンドウ１外
でウィンドウ２内のランド面積値を検出し判定すること
により、安定して、にじみ検査を行うことができること
となる。
半田面積だけでは判定不可能なにじみ検査を、ランド形
状とクリーム半田形状が重なる部分にウィンドウ１を、
ランドの形状にウィンドウ２を設定し、ウィンドウ１外
でウィンドウ２内のランド面積値を検出し判定すること
により、安定して、にじみ検査を行うことができること
となる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の実施例のクリーム半田印刷検
査方法を図面を参照して説明する。
査方法を図面を参照して説明する。
【００１５】（実施例１）図１に示すフローチャートを
図２，図４，図５を参照しながら説明する。あらかじ
め、かすれと判定するかすれ許容値（Ｃk）を画像認識
装置８に入力しメモリへセットする。
図２，図４，図５を参照しながら説明する。あらかじ
め、かすれと判定するかすれ許容値（Ｃk）を画像認識
装置８に入力しメモリへセットする。
【００１６】図２に示すように、撮像部７はクリーム半
田６を印刷した回路基板５を撮像する（ステップ１）。
図５（ｃ）に示すように、撮像したカラー画像に対し、
ウィンドウ１をランド４の形状とクリーム半田３の形状
が重なるランド４内に設定する（ステップ２）。図４
（ａ）に示すようにウィンドウ１内のカラー認識によ
り、ランドの色抽出を行い、ランドの個別面積値（抽出
部分）ＳＬを検出する（ステップ３）。クリーム半田３
のかすれ判定を判定式ＳＬ＞Ｃkによって行い、ＳＬ＞
Ｃkが成立した場合、かすれと判定する（ステップ
４）。なお、図２において、９はキーボード、１０は表
示のための陰極線管（ＣＲＴ）である。
田６を印刷した回路基板５を撮像する（ステップ１）。
図５（ｃ）に示すように、撮像したカラー画像に対し、
ウィンドウ１をランド４の形状とクリーム半田３の形状
が重なるランド４内に設定する（ステップ２）。図４
（ａ）に示すようにウィンドウ１内のカラー認識によ
り、ランドの色抽出を行い、ランドの個別面積値（抽出
部分）ＳＬを検出する（ステップ３）。クリーム半田３
のかすれ判定を判定式ＳＬ＞Ｃkによって行い、ＳＬ＞
Ｃkが成立した場合、かすれと判定する（ステップ
４）。なお、図２において、９はキーボード、１０は表
示のための陰極線管（ＣＲＴ）である。
【００１７】（実施例２）図３に示すフローチャートを
図２，図４，図５を参照しながら説明する。あらかじ
め、ランド４の個別面積値の基準値（ＣＬk）を画像認
識装置８に入力しメモリへセットする。また、にじみと
判定するにじみ許容値（Ｃl）も画像認識装置８に入力
しメモリへセットする。
図２，図４，図５を参照しながら説明する。あらかじ
め、ランド４の個別面積値の基準値（ＣＬk）を画像認
識装置８に入力しメモリへセットする。また、にじみと
判定するにじみ許容値（Ｃl）も画像認識装置８に入力
しメモリへセットする。
【００１８】図２に示すように、撮像部７はクリーム半
田６を印刷した回路基板５を撮像する（ステップ１）。
図５（ｃ）に示すように、撮像したカラー画像に対し、
ランド４の形状とクリーム半田３の形状が重なるランド
４内にウィンドウ１（１ａ）を設定する（ステップ
２）。また、図５（ｄ）に示すように、ランド４の形状
にウィンドウ２（２）を設定する（ステップ３）。図４
（ｂ）に示すように、ウィンドウ１（１ａ）外でウィン
ドウ２（２）内のカラー認識により、ランド４の色抽出
を行い、ランドの個別面積値（抽出部分）ＳＬを検出す
る（ステップ４）。にじみ判定を下記の判定式によって
行う（ステップ５）。判定式ＳＬ＜ＳＬk−Ｓw−Ｃlが
成立した場合、にじみと判定する。ただし、Ｓwはウイ
ンドウ１の面積とし、Ｃlはにじみと判定するためのに
じみ許容値とする。
田６を印刷した回路基板５を撮像する（ステップ１）。
図５（ｃ）に示すように、撮像したカラー画像に対し、
ランド４の形状とクリーム半田３の形状が重なるランド
４内にウィンドウ１（１ａ）を設定する（ステップ
２）。また、図５（ｄ）に示すように、ランド４の形状
にウィンドウ２（２）を設定する（ステップ３）。図４
（ｂ）に示すように、ウィンドウ１（１ａ）外でウィン
ドウ２（２）内のカラー認識により、ランド４の色抽出
を行い、ランドの個別面積値（抽出部分）ＳＬを検出す
る（ステップ４）。にじみ判定を下記の判定式によって
行う（ステップ５）。判定式ＳＬ＜ＳＬk−Ｓw−Ｃlが
成立した場合、にじみと判定する。ただし、Ｓwはウイ
ンドウ１の面積とし、Ｃlはにじみと判定するためのに
じみ許容値とする。
【００１９】
【発明の効果】以上の実施例の説明により明らかなよう
に本発明のクリーム半田印刷検査方法による、（１）第
１の手段によれば、クリーム半田面積だけでは判定不可
能なかすれ検査を、ランドの形状とクリーム半田の形状
が重なる部分にウィンドウを設定し、ウィンドウ内のラ
ンド面積値を検出し判定することにより、安定してかす
れ検査を行うことができる。
に本発明のクリーム半田印刷検査方法による、（１）第
１の手段によれば、クリーム半田面積だけでは判定不可
能なかすれ検査を、ランドの形状とクリーム半田の形状
が重なる部分にウィンドウを設定し、ウィンドウ内のラ
ンド面積値を検出し判定することにより、安定してかす
れ検査を行うことができる。
【００２０】（２）第２の手段によれば、クリーム半田
面積だけでは判定不可能なにじみ検査を、ランドの形状
とクリーム半田の形状が重なる部分にウィンドウ１を、
ランドの形状にウィンドウ２を設定し、ウィンドウ１外
でウィンドウ２内のランド面積値を検出し判定すること
により、安定して、にじみ検査を行うことができる。
面積だけでは判定不可能なにじみ検査を、ランドの形状
とクリーム半田の形状が重なる部分にウィンドウ１を、
ランドの形状にウィンドウ２を設定し、ウィンドウ１外
でウィンドウ２内のランド面積値を検出し判定すること
により、安定して、にじみ検査を行うことができる。
【図１】本発明の第１の実施例のクリーム半田印刷検査
方法のフローチャート
方法のフローチャート
【図２】同クリーム半田印刷検査方法を実施するために
使用する装置の構成を示す略図
使用する装置の構成を示す略図
【図３】第２の実施例のクリーム半田印刷検査方法のフ
ローチャート
ローチャート
【図４】（ａ）図１のクリーム半田印刷検査方法を説明
する略図 （ｂ）図３のクリーム半田印刷検査方法を説明する略図
する略図 （ｂ）図３のクリーム半田印刷検査方法を説明する略図
【図５】（ａ）正常な状態に回路基板電極部にクリーム
半田が印刷された状態を示す平面略図 （ｂ）回路基板電極部の中心部にクリーム半田がなく
（かすれ）同周辺部に多量のクリーム半田が存在する
（にじみ）状態を示す平面略図 （ｃ）図１に対応したクリーム半田の印刷パターンを示
す平面略図 （ｄ）図３に対応したクリーム半田の印刷パターンを示
す平面略図
半田が印刷された状態を示す平面略図 （ｂ）回路基板電極部の中心部にクリーム半田がなく
（かすれ）同周辺部に多量のクリーム半田が存在する
（にじみ）状態を示す平面略図 （ｃ）図１に対応したクリーム半田の印刷パターンを示
す平面略図 （ｄ）図３に対応したクリーム半田の印刷パターンを示
す平面略図
【図６】（ａ）正常な状態に回路基板電極部にクリーム
半田が印刷された状態を示す平面略図 （ｂ）同断面略図 （ｃ）クリーム半田の表面に起伏がある状態を示す断面
略図
半田が印刷された状態を示す平面略図 （ｂ）同断面略図 （ｃ）クリーム半田の表面に起伏がある状態を示す断面
略図
【図７】従来のクリーム半田印刷検査方法のフローチャ
ート
ート
【図８】図７のクリーム半田印刷検査方法を説明する略
図
図
１ ウィンドウ １ａ ウィンドウ１ ２ ウィンドウ２ ３，６ クリーム半田 ４ 回路基板電極部（ランド） ５ 回路基板 ７ 撮像部 ８ 画像認識装置 ＳＬ 回路基板電極部の個別面積値の検出値 ＳＬk 回路基板電極部の個別面積値の基準値
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−293659（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01N 21/84 - 21/958 H05K 3/34
Claims (6)
- 【請求項１】撮像装置を用いたカラー画像処理により回
路基板に形成されたクリーム半田の印刷検査を行う場合
において、撮像した画像に対し回路基板電極部の形状と
クリーム半田の形状が重なる回路基板電極部内にウィン
ドウを設定する工程と、ウィンドウ内の色抽出を行い回
路基板電極部の個別面積値を検出する工程と、検出した
回路基板電極部の個別面積値と基準となる回路基板電極
部の個別面積値を比較判定することによりクリーム半田
のかすれを判定する工程とを備えたクリーム半田印刷検
査方法。 - 【請求項２】撮像装置を用いたカラー画像処理により回
路基板に形成されたクリーム半田の印刷検査を行う際、
クリーム半田の形状より回路基板電極部の形状が大きい
場合において、撮像した画像に対し回路基板電極部の形
状とクリーム半田の形状が重なる回路基板電極部内にウ
ィンドウ１を設定する工程と、撮像した画像に対し回路
基板電極部の形状とウィンドウ１を含むウィンドウ２を
設定する工程と、ウィンドウ１外でウィンドウ２内の色
抽出を行い回路基板電極部の個別面積値を検出する工程
と、検出した回路基板電極部の個別面積値と基準となる
回路基板電極部の個別面積値を比較判定することにより
クリーム半田のにじみを判定する工程とを備えたクリー
ム半田印刷検査方法。 - 【請求項３】撮像装置を用いたカラー画像処理により回
路基板に形成されたクリーム半田の印刷検査を行う場合
において、撮像した画像に対し回路基板電極部の形状と
クリーム半田の形状が重なる回路基板電極部内にウィン
ドウを設定する工程と、ウィンドウ内の色抽出を行い、
回路基板電極部の個別面積値を検出する工程と、検出し
た回路基板電極部の個別面積値と基準となる回路基板電
極部の個別面積値を比較判定することによりクリーム半
田のかすれを判定する工程と、撮像した画像に対し回路
基板電極部の形状とクリーム半田の形状が重なる回路基
板電極部内にウィンドウ１を設定する工程と、撮像した
画像に対し回路基板電極部の形状とウィンドウ１を含む
ウィンドウ２を設定する工程と、ウィンドウ１外でウィ
ンドウ２内の色抽出を行い回路基板電極部の個別面積値
を検出する工程と、検出した回路基板電極部の個別面積
値と基準となる回路基板電極部の個別面積値を比較判定
することによりクリーム半田のにじみを判定する工程と
を備えたクリーム半田印刷検査方法。 - 【請求項４】クリーム半田を印刷した回路基板を撮像す
る撮像装置を有し、前記撮像装置を用いたカラー画像処
理により回路基板に形成されたクリーム半田の印刷検査
を行う場合において、撮像した画像に対し回路基板電極
部の形状とクリーム半田の形状が重なる回路基板電極部
内にウィンドウを設定し、前記ウィンドウ内の色抽出を
行い回路基板電極部の個別面積値を検出し、前記検出し
た回路基板電極部の個別面積値と基準となる回路基板電
極部の個別面積値を比較判定することによりクリーム半
田のかすれを判定するクリーム半田印刷検査装置。 - 【請求項５】クリーム半田を印刷した回路基板を撮像す
る撮像装置を有し、前記撮像装置を用いたカラー画像処
理により回路基板に形成されたクリーム半田の印刷検査
を行う際、クリーム半田の形状より回路基板電極部の形
状が大きい場合において、撮像した画像に対し回路基板
電極部の形状とクリーム半田の形状が重なる回路基板電
極部内にウィンドウ１を設定し、撮像した画像に対し回
路基板電極部の形状とウィンドウ１を含むウィンドウ２
を設定し、前記ウィンドウ１外で前記ウィンドウ２内の
色抽出を行い回路基板電極部の個別面積値を検出し、検
出した回路基板電極部の個別面積値と基準となる回路基
板電極部の個別面積値を比較判定することによりクリー
ム半田のにじみを判定するクリーム半田印刷検査装置。 - 【請求項６】クリーム半田を印刷した回路基板を撮像す
る撮像装置を有し、前記撮像装置を用いたカラー画像処
理により回路基板に形成されたクリーム半田の印刷検査
を行う際、撮像した画像に対し回路基板電極部の形状と
クリーム半田の形状が重なる回路基板電極部内にウィン
ドウを設定し、ウィンドウ内の色抽出を行い回路基板電
極部の個別面積値を検出し、検出した回路基板電極部の
個別面積値と基準となる回路基板電極部の個別面積値を
比較判定することによりクリーム半田のかすれを判定す
るとともに、撮像した画像に対し回路基板電極部の形状
とクリーム半田の形状が重なる回路基板電極部内にウィ
ンドウ１を設定し、撮像した画像に対し回路基板電極部
の形状とウィンドウ１を含むウィンドウ２を設定し、ウ
ィンドウ１外でウィンドウ２内の色抽出を行い回路基板
電極部の個別面積値を検出し、検出した回路基板電極部
の個別面積値と基準となる回路基板電極部の 個別面積値
を比較判定することによりクリーム半田のにじみを判定
するクリーム半田印刷検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04170372A JP3082442B2 (ja) | 1992-06-29 | 1992-06-29 | クリーム半田印刷検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04170372A JP3082442B2 (ja) | 1992-06-29 | 1992-06-29 | クリーム半田印刷検査方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0611320A JPH0611320A (ja) | 1994-01-21 |
| JP3082442B2 true JP3082442B2 (ja) | 2000-08-28 |
Family
ID=15903718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04170372A Expired - Lifetime JP3082442B2 (ja) | 1992-06-29 | 1992-06-29 | クリーム半田印刷検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3082442B2 (ja) |
-
1992
- 1992-06-29 JP JP04170372A patent/JP3082442B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0611320A (ja) | 1994-01-21 |
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