JP3074118B2 - 電子回路 - Google Patents
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、過電圧保護回路を有す
るＤＣ／ＤＣコンバータ等の電子回路の改良に関するも
のである。
るＤＣ／ＤＣコンバータ等の電子回路の改良に関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来、電子回路における過電圧保護対象
回路に対する過電圧保護回路として、構造が簡単で効果
的なものとして、図２に示すようにサイリスタを用いた
ものが知られている。
回路に対する過電圧保護回路として、構造が簡単で効果
的なものとして、図２に示すようにサイリスタを用いた
ものが知られている。
【０００３】図２において、１０は、例えばＤＣ／ＤＣ
コンバータを構成する電子回路で、ＤＣ／ＤＣコンバー
タ回路本体１１、平滑及びノイズ除去用のコンデンサ１
２、過電圧保護回路１３及びヒューズ１４から構成され
ている。また、２０は入力電源である。
コンバータを構成する電子回路で、ＤＣ／ＤＣコンバー
タ回路本体１１、平滑及びノイズ除去用のコンデンサ１
２、過電圧保護回路１３及びヒューズ１４から構成され
ている。また、２０は入力電源である。
【０００４】ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入力
端子１１ａはヒューズ１４を介して入力端子１０ａに接
続され、出力端子１１ｂは出力端子１０ｂに接続されて
いる。また、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入力
端子１１ａと接地端子１０ｃとの間にはコンデンサ１２
及び過電圧保護回路１３が接続されている。
端子１１ａはヒューズ１４を介して入力端子１０ａに接
続され、出力端子１１ｂは出力端子１０ｂに接続されて
いる。また、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入力
端子１１ａと接地端子１０ｃとの間にはコンデンサ１２
及び過電圧保護回路１３が接続されている。
【０００５】過電圧保護回路１３は、サイリスタ131 、
ツェナーダイオード132,133 、抵抗器134,135 及びコン
デンサ136 から構成されている。サイリスタ131 のアノ
ードはＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入力端子１
１ａに接続され、カソードは接地端子１０ｃに接続され
ている。ツェナーダイオード132,133 は直列接続されて
ツェナーダイオード132 のカソードは入力端子１１ａに
接続され、ツェナーダイオード133 のアノードは直列接
続された抵抗器134,135 を介して接地端子１０ｃに接続
されている。また、抵抗器134,135 の接続点はサイリス
タ131 のゲートに接続されると共にコンデンサ136 を介
して接地端子１０ｃに接続されている。
ツェナーダイオード132,133 、抵抗器134,135 及びコン
デンサ136 から構成されている。サイリスタ131 のアノ
ードはＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入力端子１
１ａに接続され、カソードは接地端子１０ｃに接続され
ている。ツェナーダイオード132,133 は直列接続されて
ツェナーダイオード132 のカソードは入力端子１１ａに
接続され、ツェナーダイオード133 のアノードは直列接
続された抵抗器134,135 を介して接地端子１０ｃに接続
されている。また、抵抗器134,135 の接続点はサイリス
タ131 のゲートに接続されると共にコンデンサ136 を介
して接地端子１０ｃに接続されている。
【０００６】前述の構成によれば、ＤＣ／ＤＣコンバー
タ回路本体１１に入力される電圧が規定値以上の過電圧
となったときに、この過電圧によりサイリスタ131 をオ
ンさせて、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１への入力
をショートし、入力ラインに介在されているヒューズ１
４を溶断させ、入力電源２０とＤＣ／ＤＣコンバータ回
路本体１１とが切り放される。これにより、ＤＣ／ＤＣ
コンバータ回路本体１１が過電圧保護回路１３によって
保護される。
タ回路本体１１に入力される電圧が規定値以上の過電圧
となったときに、この過電圧によりサイリスタ131 をオ
ンさせて、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１への入力
をショートし、入力ラインに介在されているヒューズ１
４を溶断させ、入力電源２０とＤＣ／ＤＣコンバータ回
路本体１１とが切り放される。これにより、ＤＣ／ＤＣ
コンバータ回路本体１１が過電圧保護回路１３によって
保護される。
【０００７】また、前述した電子回路によれば、検査の
際は、入力電源２０にカレントリミットをかけ、サイリ
スタ131 がオンしてもヒューズ１４を切らずに過電圧保
護回路１３の動作だけを確認することができる。
際は、入力電源２０にカレントリミットをかけ、サイリ
スタ131 がオンしてもヒューズ１４を切らずに過電圧保
護回路１３の動作だけを確認することができる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来の電子回路においては、ＤＣ／ＤＣコンバータ回
路本体１１の入力側に平滑及びノイズ除去用のコンデン
サ１２が接続されているので、過電圧保護回路１３の動
作電圧をコンデンサ１２の耐圧に近い電圧に設定した場
合、過電圧保護回路１３の検査の際に、コンデンサ１２
を耐圧付近まで充電した状態でのサイリスタ131 による
急放電が発生し、コンデンサ１２が劣化する恐れがあっ
た。
た従来の電子回路においては、ＤＣ／ＤＣコンバータ回
路本体１１の入力側に平滑及びノイズ除去用のコンデン
サ１２が接続されているので、過電圧保護回路１３の動
作電圧をコンデンサ１２の耐圧に近い電圧に設定した場
合、過電圧保護回路１３の検査の際に、コンデンサ１２
を耐圧付近まで充電した状態でのサイリスタ131 による
急放電が発生し、コンデンサ１２が劣化する恐れがあっ
た。
【０００９】過去においては、２５Ｖ耐圧のコンデンサ
１２を使用し、過電圧保護回路１３の設定電圧を約２３
Ｖとしたとき、出荷検査の際に上記急放電によりコンデ
ンサ１２の劣化、例えばコンデンサ１２のリーク電流が
増加する現象が発生した。
１２を使用し、過電圧保護回路１３の設定電圧を約２３
Ｖとしたとき、出荷検査の際に上記急放電によりコンデ
ンサ１２の劣化、例えばコンデンサ１２のリーク電流が
増加する現象が発生した。
【００１０】本発明の目的は上記の問題点に鑑み、回路
の劣化を生じること無く過電圧保護回路のみを試験でき
る電子回路を提供することにある。
の劣化を生じること無く過電圧保護回路のみを試験でき
る電子回路を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために請求項１では、過電圧保護対象回路におけ
る過電圧検出対象電圧印加端子に入力される電圧が規定
値以上になったときに前記過電圧保護対象回路を保護す
る過電圧保護回路を備えた電子回路において、前記過電
圧保護回路のみに前記規定値以上の電圧を印加できる過
電圧保護検査回路を設け、前記過電圧検出対象電圧印加
端子にアノードが接続され且つ前記過電圧保護回路の電
圧検出端子にカソードが接続された第１のダイオード
と、前記電圧検出端子にカソードが接続された第２のダ
イオードと、前記第２のダイオードのアノードに接続さ
れた試験電圧印加端子とから前記過電圧保護検査回路を
構成した電子回路を提案する。
成するために請求項１では、過電圧保護対象回路におけ
る過電圧検出対象電圧印加端子に入力される電圧が規定
値以上になったときに前記過電圧保護対象回路を保護す
る過電圧保護回路を備えた電子回路において、前記過電
圧保護回路のみに前記規定値以上の電圧を印加できる過
電圧保護検査回路を設け、前記過電圧検出対象電圧印加
端子にアノードが接続され且つ前記過電圧保護回路の電
圧検出端子にカソードが接続された第１のダイオード
と、前記電圧検出端子にカソードが接続された第２のダ
イオードと、前記第２のダイオードのアノードに接続さ
れた試験電圧印加端子とから前記過電圧保護検査回路を
構成した電子回路を提案する。
【００１２】
【００１３】
【００１４】
【作用】本発明の請求項１によれば、過電圧保護検査回
路によって、過電圧保護回路のみに前記規定値以上の電
圧を印加することができ、これにより前記過電圧保護回
路以外の回路に前記規定値以上の電圧の印加がなされる
ことがない。
路によって、過電圧保護回路のみに前記規定値以上の電
圧を印加することができ、これにより前記過電圧保護回
路以外の回路に前記規定値以上の電圧の印加がなされる
ことがない。
【００１５】さらに、前記過電圧保護検査回路は、前記
過電圧検出対象電圧印加端子にアノードが接続され、且
つ前記過電圧保護回路の電圧検出端子にカソードが接続
された第１のダイオードと、前記過電圧保護回路の電圧
検出端子にカソードが接続され試験電圧印加端子にアノ
ードが接続された第２のダイオードとからなり、前記過
電圧保護回路の検査時においては、前記試験電圧印加端
子に所定の試験電圧が印加される。これにより、前記過
電圧保護回路には前記第２のダイオードを介して前記試
験電圧が印加されるが、前記過電圧保護対象回路には前
記第１のダイオードによって通電が阻止され、前記過電
圧保護対象回路に対する前記試験電圧の印加はなされな
い。
過電圧検出対象電圧印加端子にアノードが接続され、且
つ前記過電圧保護回路の電圧検出端子にカソードが接続
された第１のダイオードと、前記過電圧保護回路の電圧
検出端子にカソードが接続され試験電圧印加端子にアノ
ードが接続された第２のダイオードとからなり、前記過
電圧保護回路の検査時においては、前記試験電圧印加端
子に所定の試験電圧が印加される。これにより、前記過
電圧保護回路には前記第２のダイオードを介して前記試
験電圧が印加されるが、前記過電圧保護対象回路には前
記第１のダイオードによって通電が阻止され、前記過電
圧保護対象回路に対する前記試験電圧の印加はなされな
い。
【００１６】
【００１７】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。図１は、本発明の第１の実施例におけるＤＣ／
ＤＣコンバータ回路を示す構成図である。図において、
前述した従来例と同一構成部分は同一符号をもって表
す。
明する。図１は、本発明の第１の実施例におけるＤＣ／
ＤＣコンバータ回路を示す構成図である。図において、
前述した従来例と同一構成部分は同一符号をもって表
す。
【００１８】即ち、１０はＤＣ／ＤＣコンバータ回路
で、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１、平滑及びノイ
ズ除去用のコンデンサ１２、過電圧保護回路１３、ヒュ
ーズ１４、及び過電圧保護検査回路１５から構成されて
いる。また、２０は入力電源である。
で、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１、平滑及びノイ
ズ除去用のコンデンサ１２、過電圧保護回路１３、ヒュ
ーズ１４、及び過電圧保護検査回路１５から構成されて
いる。また、２０は入力電源である。
【００１９】ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入力
端子１１ａはヒューズ１４を介して入力端子１０ａに接
続され、出力端子１１ｂは出力端子１０ｂに接続されて
いる。また、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入力
端子１１ａと接地端子１０ｃとの間にはコンデンサ１
２、過電圧保護回路１３、及び過電圧保護検査回路１５
が接続されている。
端子１１ａはヒューズ１４を介して入力端子１０ａに接
続され、出力端子１１ｂは出力端子１０ｂに接続されて
いる。また、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入力
端子１１ａと接地端子１０ｃとの間にはコンデンサ１
２、過電圧保護回路１３、及び過電圧保護検査回路１５
が接続されている。
【００２０】過電圧保護回路１３は、サイリスタ131 、
ツェナーダイオード132,133 、抵抗器134,135 及びコン
デンサ136 から構成されている。また、過電圧保護検査
回路１５は、ダイオード151,152 及び試験電圧入力端子
153 から構成されている。
ツェナーダイオード132,133 、抵抗器134,135 及びコン
デンサ136 から構成されている。また、過電圧保護検査
回路１５は、ダイオード151,152 及び試験電圧入力端子
153 から構成されている。
【００２１】過電圧保護回路１３におけるサイリスタ13
1 のアノードはＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入
力端子１１ａに接続され、カソードは接地端子１０ｃに
接続されている。ツェナーダイオード132 のアノードは
ツェナーダイオード133 のカソードに接続され、ツェナ
ーダイオード132 のカソードは、過電圧保護検査回路１
５のダイオード151,152 の双方のカソードに接続されて
いる。また、ツェナーダイオード133 のアノードは直列
接続された抵抗器134,135 を介して接地端子１０ｃに接
続されている。さらに、抵抗器134,135 の接続点はサイ
リスタ131 のゲートに接続されると共にコンデンサ136
を介して接地端子１０ｃに接続されている。
1 のアノードはＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入
力端子１１ａに接続され、カソードは接地端子１０ｃに
接続されている。ツェナーダイオード132 のアノードは
ツェナーダイオード133 のカソードに接続され、ツェナ
ーダイオード132 のカソードは、過電圧保護検査回路１
５のダイオード151,152 の双方のカソードに接続されて
いる。また、ツェナーダイオード133 のアノードは直列
接続された抵抗器134,135 を介して接地端子１０ｃに接
続されている。さらに、抵抗器134,135 の接続点はサイ
リスタ131 のゲートに接続されると共にコンデンサ136
を介して接地端子１０ｃに接続されている。
【００２２】過電圧保護検査回路１５のダイオード151
のアノードはＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入力
端子１１ａに接続され、ダイオード152 のアノードは試
験電圧入力端子153 に接続されている。
のアノードはＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１の入力
端子１１ａに接続され、ダイオード152 のアノードは試
験電圧入力端子153 に接続されている。
【００２３】前述の構成よりなるＤＣ／ＤＣコンバータ
回路１０によれば、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１
の入力端子１１ａに入力される電圧が規定値以上の過電
圧となったときに、この過電圧はダイオード151 を介し
て過電圧保護回路１３のツェナーダイオード131 のアノ
ードに印加される。これにより、抵抗器135 の端子間電
圧が規定値以上となってサイリスタ131 のゲート電圧が
上昇し、サイリスタ131 がオン状態となる。
回路１０によれば、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１
の入力端子１１ａに入力される電圧が規定値以上の過電
圧となったときに、この過電圧はダイオード151 を介し
て過電圧保護回路１３のツェナーダイオード131 のアノ
ードに印加される。これにより、抵抗器135 の端子間電
圧が規定値以上となってサイリスタ131 のゲート電圧が
上昇し、サイリスタ131 がオン状態となる。
【００２４】従って、サイリスタ131 がオンすることに
より、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１への入力がシ
ョートされ、入力ラインに介在されているヒューズ１４
を溶断させ、入力電源２０とＤＣ／ＤＣコンバータ回路
本体１１とが切り放される。これにより、ＤＣ／ＤＣコ
ンバータ回路本体１１が過電圧保護回路１３によって保
護される。
より、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本体１１への入力がシ
ョートされ、入力ラインに介在されているヒューズ１４
を溶断させ、入力電源２０とＤＣ／ＤＣコンバータ回路
本体１１とが切り放される。これにより、ＤＣ／ＤＣコ
ンバータ回路本体１１が過電圧保護回路１３によって保
護される。
【００２５】また、過電圧保護回路１３の検査の際は、
入力端子１０ａと接地端子１０ｃ間に通常動作時の電圧
を印加すると共に、過電圧保護検査回路１５の試験電圧
入力端子153 に試験電圧を印加する。この試験電圧はダ
イオード152 を介して過電圧保護回路１３のツェナーダ
イオード131 のアノードに印加される。これにより、抵
抗器135 の端子間電圧が規定値以上となってサイリスタ
131 のゲート電圧が上昇し、サイリスタ131 がオン状態
となる。この状態で入力端子１０ａと接地端子１０ｃと
の間がショート（短絡）されていることを確認すること
によって過電圧保護回路１３の試験を行うことができ
る。また、試験電圧入力端子153 に試験電圧が印加され
た際、ダイオード151 によってＤＣ／ＤＣコンバータ回
路本体１１への通電が阻止されると共にコンデンサ１２
への充電が阻止される。
入力端子１０ａと接地端子１０ｃ間に通常動作時の電圧
を印加すると共に、過電圧保護検査回路１５の試験電圧
入力端子153 に試験電圧を印加する。この試験電圧はダ
イオード152 を介して過電圧保護回路１３のツェナーダ
イオード131 のアノードに印加される。これにより、抵
抗器135 の端子間電圧が規定値以上となってサイリスタ
131 のゲート電圧が上昇し、サイリスタ131 がオン状態
となる。この状態で入力端子１０ａと接地端子１０ｃと
の間がショート（短絡）されていることを確認すること
によって過電圧保護回路１３の試験を行うことができ
る。また、試験電圧入力端子153 に試験電圧が印加され
た際、ダイオード151 によってＤＣ／ＤＣコンバータ回
路本体１１への通電が阻止されると共にコンデンサ１２
への充電が阻止される。
【００２６】従って、過電圧保護回路１３の検査時にサ
イリスタ131 がオンした場合、コンデンサ１２において
急放電を生じるが、耐圧付近まで充電した状態からの急
放電ではなく、耐圧に対して余裕のある通常動作時の印
加電圧からの放電となり、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本
体１１及びコンデンサ１２が劣化する恐れはなくなる。
イリスタ131 がオンした場合、コンデンサ１２において
急放電を生じるが、耐圧付近まで充電した状態からの急
放電ではなく、耐圧に対して余裕のある通常動作時の印
加電圧からの放電となり、ＤＣ／ＤＣコンバータ回路本
体１１及びコンデンサ１２が劣化する恐れはなくなる。
【００２７】次に、本発明の第２の実施例を説明する。
図３は、第２の実施例におけるＤＣ／ＤＣコンバータ回
路を示す構成図である。図において、前述した第１の実
施例と同一構成部分は同一符号をもって表しその説明を
省略する。また、第１の実施例と第２の実施例との相違
点は、過電圧保護検査回路１５のダイオード152 を除去
したことにある。即ち、ダイオード151のカソードは試
験電圧入力端子153 に接続されると共に過電圧保護回路
１３のツェナーダイオード132 のカソードに接続されて
いる。
図３は、第２の実施例におけるＤＣ／ＤＣコンバータ回
路を示す構成図である。図において、前述した第１の実
施例と同一構成部分は同一符号をもって表しその説明を
省略する。また、第１の実施例と第２の実施例との相違
点は、過電圧保護検査回路１５のダイオード152 を除去
したことにある。即ち、ダイオード151のカソードは試
験電圧入力端子153 に接続されると共に過電圧保護回路
１３のツェナーダイオード132 のカソードに接続されて
いる。
【００２８】前述した構成によっても、過電圧保護回路
１３の検査のときに、過電圧保護検査回路１５の試験電
圧入力端子153 に試験電圧を印加した際に、この試験電
圧は過電圧保護回路１３のツェナーダイオード131 のア
ノードに印加される。
１３の検査のときに、過電圧保護検査回路１５の試験電
圧入力端子153 に試験電圧を印加した際に、この試験電
圧は過電圧保護回路１３のツェナーダイオード131 のア
ノードに印加される。
【００２９】これにより、抵抗器135 の端子間電圧が規
定値以上となってサイリスタ131 のゲート電圧が上昇
し、サイリスタ131 がオン状態となる。この状態で入力
端子１０ａと接地端子１０ｃとの間がショート（短絡）
されていることを確認することによって過電圧保護回路
１３の試験を行うことができる。
定値以上となってサイリスタ131 のゲート電圧が上昇
し、サイリスタ131 がオン状態となる。この状態で入力
端子１０ａと接地端子１０ｃとの間がショート（短絡）
されていることを確認することによって過電圧保護回路
１３の試験を行うことができる。
【００３０】また、試験電圧入力端子153 に試験電圧が
印加された際、ダイオード151 によってＤＣ／ＤＣコン
バータ回路本体１１への通電が阻止されると共にコンデ
ンサ１２への充電が阻止される。
印加された際、ダイオード151 によってＤＣ／ＤＣコン
バータ回路本体１１への通電が阻止されると共にコンデ
ンサ１２への充電が阻止される。
【００３１】従って、過電圧保護回路１３の検査時にサ
イリスタ131 がオンしても、コンデンサ１２は耐圧付近
まで充電した状態からの急放電を生じることがなく、Ｄ
Ｃ／ＤＣコンバータ回路本体１１及びコンデンサ１２が
劣化する恐れはなくなる。
イリスタ131 がオンしても、コンデンサ１２は耐圧付近
まで充電した状態からの急放電を生じることがなく、Ｄ
Ｃ／ＤＣコンバータ回路本体１１及びコンデンサ１２が
劣化する恐れはなくなる。
【００３２】尚、本実施例ではＤＣ／ＤＣコンバータ回
路１０を一例として説明したが、これに限定されること
はなく、過電圧保護回路を備えた電子回路であれば、例
えば混成集積回路などであっても本発明を適用して同様
の効果を得ることができることは言うまでもないことで
ある。
路１０を一例として説明したが、これに限定されること
はなく、過電圧保護回路を備えた電子回路であれば、例
えば混成集積回路などであっても本発明を適用して同様
の効果を得ることができることは言うまでもないことで
ある。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように本発明の請求項１に
よれば、過電圧保護検査回路を設けたことによって、過
電圧保護回路の動作試験時に該過電圧保護回路のみに規
定値以上の電圧を印加することができ、これにより前記
過電圧保護回路以外の回路に前記規定値以上の電圧が印
加されることがないので、前記過電圧保護回路以外の回
路及び素子を前記過電圧によって劣化させたり破壊した
りする恐れが無くなる。さらに、前記過電圧保護検査回
路をダイオードのみによって構成できるので、回路構成
を非常に簡略化することができる。
よれば、過電圧保護検査回路を設けたことによって、過
電圧保護回路の動作試験時に該過電圧保護回路のみに規
定値以上の電圧を印加することができ、これにより前記
過電圧保護回路以外の回路に前記規定値以上の電圧が印
加されることがないので、前記過電圧保護回路以外の回
路及び素子を前記過電圧によって劣化させたり破壊した
りする恐れが無くなる。さらに、前記過電圧保護検査回
路をダイオードのみによって構成できるので、回路構成
を非常に簡略化することができる。
【００３４】
【００３５】
【図１】本発明の第１の実施例におけるＤＣ／ＤＣコン
バータ回路を示す構成図
バータ回路を示す構成図
【図２】従来例を示す構成図
【図３】本発明の第２の実施例におけるＤＣ／ＤＣコン
バータ回路を示す構成図
バータ回路を示す構成図
１０…ＤＣ／ＤＣコンバータ回路、１０ａ…入力端子、
１０ｂ…出力端子、１０ｃ…接地端子、１１…ＤＣ／Ｄ
Ｃコンバータ回路本体、１１ａ…入力端子、１１ｂ…出
力端子、１２…コンデンサ、１３…過電圧保護回路、13
1 …サイリスタ、132,133 …ツェナーダイオード、134,
135 …抵抗器、136 …コンデンサ、１４…ヒューズ、１
５…過電圧保護検査回路、151,152 …ダイオード、153
…試験電圧入力端子、２０…入力電源。
１０ｂ…出力端子、１０ｃ…接地端子、１１…ＤＣ／Ｄ
Ｃコンバータ回路本体、１１ａ…入力端子、１１ｂ…出
力端子、１２…コンデンサ、１３…過電圧保護回路、13
1 …サイリスタ、132,133 …ツェナーダイオード、134,
135 …抵抗器、136 …コンデンサ、１４…ヒューズ、１
５…過電圧保護検査回路、151,152 …ダイオード、153
…試験電圧入力端子、２０…入力電源。
Claims (1)
- 【請求項１】 過電圧保護対象回路における過電圧検出
対象電圧印加端子に入力される電圧が規定値以上になっ
たときに前記過電圧保護対象回路を保護する過電圧保護
回路を備えた電子回路において、 前記過電圧保護回路のみに前記規定値以上の電圧を印加
できる過電圧保護検査回路を設け、 前記過電圧検出対象電圧印加端子にアノードが接続され
且つ前記過電圧保護回路の電圧検出端子にカソードが接
続された第１のダイオードと、前記電圧検出端子にカソードが接続された第２のダイオ
ードと、 前記第２のダイオードのアノードに接続された試験電圧
印加端子とから前記過電圧保護検査回路を構成したこと
を特徴とする電子回路。
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|---|---|---|---|
| JP07013740A JP3074118B2 (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 電子回路 |
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|---|---|---|---|
| JP07013740A JP3074118B2 (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 電子回路 |
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ID=11841668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07013740A Expired - Fee Related JP3074118B2 (ja) | 1995-01-31 | 1995-01-31 | 電子回路 |
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| JP (1) | JP3074118B2 (ja) |
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-
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| JPH08205516A (ja) | 1996-08-09 |
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