JP3057120B2 - 光学マーク検出方法 - Google Patents
光学マーク検出方法Info
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- JP3057120B2 JP3057120B2 JP3323123A JP32312391A JP3057120B2 JP 3057120 B2 JP3057120 B2 JP 3057120B2 JP 3323123 A JP3323123 A JP 3323123A JP 32312391 A JP32312391 A JP 32312391A JP 3057120 B2 JP3057120 B2 JP 3057120B2
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- Japan
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- optical mark
- optical
- signal
- mark detection
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスク装置、光
磁気ディスク装置において、光学マークから情報を再生
する光学マーク検出方法に関するものである。
磁気ディスク装置において、光学マークから情報を再生
する光学マーク検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、光ディスク装置では、符号化ビ
ットの１にピットの中心位置を対応させるピットポジシ
ョン記録方式が採用されている。このピットポジション
記録方式の原理は、図３に示すように、０と１から成る
記録データ（ａ）はビット１が連続しないようにコード
変換され、これをレーザ光で一定のパルス幅で同図
（ｂ）のようなパターンで発光させ、情報トラック上を
走査している光スポットによって光記録層を局部的に加
熱して物理的な変化を生じさせ、同図（ｃ）に示すよう
な光学マーク（ピット）を記録する。この光学マークは
略同じサイズでそれらの間隔ｄによって表わされる。光
学マークから情報を再生する場合は、情報トラック上を
強度の小さい光スポットで走査してその反射光あるいは
透過光を検出し、各光学マークに対応したパルスを有す
る、同図（ｄ）に示す再生信号を得る。そして、光学マ
ークの間隔ｄを精度良く検出するために各パルスの中心
を検出する。通常、再生信号を１階微分して得た同図
（ｅ）に示す微分信号のゼロレベルとの交点（ゼロクロ
ス点）の時刻を同図（ｆ）のように検出し、元の情報を
再生する。
ットの１にピットの中心位置を対応させるピットポジシ
ョン記録方式が採用されている。このピットポジション
記録方式の原理は、図３に示すように、０と１から成る
記録データ（ａ）はビット１が連続しないようにコード
変換され、これをレーザ光で一定のパルス幅で同図
（ｂ）のようなパターンで発光させ、情報トラック上を
走査している光スポットによって光記録層を局部的に加
熱して物理的な変化を生じさせ、同図（ｃ）に示すよう
な光学マーク（ピット）を記録する。この光学マークは
略同じサイズでそれらの間隔ｄによって表わされる。光
学マークから情報を再生する場合は、情報トラック上を
強度の小さい光スポットで走査してその反射光あるいは
透過光を検出し、各光学マークに対応したパルスを有す
る、同図（ｄ）に示す再生信号を得る。そして、光学マ
ークの間隔ｄを精度良く検出するために各パルスの中心
を検出する。通常、再生信号を１階微分して得た同図
（ｅ）に示す微分信号のゼロレベルとの交点（ゼロクロ
ス点）の時刻を同図（ｆ）のように検出し、元の情報を
再生する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の光学マーク検出方法においては、上記（ｆ）のゼロ
クロス点の信号は、光学マークの検出時刻１１，１２，
１３，１４以外の所でも誤りパルス１５が発生し易く、
再生情報が不正確になる。そこで、この誤りパルス１５
を除去するために、上記（ｄ）の再生信号のパルスを用
いて（ｆ）のゼロクロス点の信号をＡＮＤゲート処理す
る等の方法が用いられるが、情報再生系が複雑化した
り、信頼性が低下したりするという問題点があった。そ
こで、この発明は、上述した従来の問題点を解消し、情
報再生系が簡単な構成で誤りパルスの発生を極力防止す
ることができ、信頼性の高い光学マーク検出方法を提供
することを課題としている。
来の光学マーク検出方法においては、上記（ｆ）のゼロ
クロス点の信号は、光学マークの検出時刻１１，１２，
１３，１４以外の所でも誤りパルス１５が発生し易く、
再生情報が不正確になる。そこで、この誤りパルス１５
を除去するために、上記（ｄ）の再生信号のパルスを用
いて（ｆ）のゼロクロス点の信号をＡＮＤゲート処理す
る等の方法が用いられるが、情報再生系が複雑化した
り、信頼性が低下したりするという問題点があった。そ
こで、この発明は、上述した従来の問題点を解消し、情
報再生系が簡単な構成で誤りパルスの発生を極力防止す
ることができ、信頼性の高い光学マーク検出方法を提供
することを課題としている。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明の要旨とすると
ころは同一サイズの光学マークを情報トラック上に前後
で連続しないように所定の間隔で記録し、光ビームスポ
ットで前記情報トラック上を走査して、前記光学マーク
を検出する光学マーク検出方法において、前記光学マー
クの後縁部に対応する再生信号の変化を検出することに
より、光学マークの検出時刻を決定することにある。
ころは同一サイズの光学マークを情報トラック上に前後
で連続しないように所定の間隔で記録し、光ビームスポ
ットで前記情報トラック上を走査して、前記光学マーク
を検出する光学マーク検出方法において、前記光学マー
クの後縁部に対応する再生信号の変化を検出することに
より、光学マークの検出時刻を決定することにある。
【０００５】
【作用】したがって、請求項１では、光学マークの後縁
部に対応する再生信号の傾斜は急になるので、例えば適
当な閾値と一致する点を光学マークの検出時刻とすれば
高精度に検出できる。また、請求項２及び３では、再生
信号を１階微分した信号のゼロレベルと極大値との間に
所定の閾値を設定し、この閾値と一致する点を項学マー
クの検出時刻として、信号のゼロレベルとの交点を用い
ないので、ノイズによる誤りパルスの発生を防止できる
ものである。
部に対応する再生信号の傾斜は急になるので、例えば適
当な閾値と一致する点を光学マークの検出時刻とすれば
高精度に検出できる。また、請求項２及び３では、再生
信号を１階微分した信号のゼロレベルと極大値との間に
所定の閾値を設定し、この閾値と一致する点を項学マー
クの検出時刻として、信号のゼロレベルとの交点を用い
ないので、ノイズによる誤りパルスの発生を防止できる
ものである。
【０００６】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照して説
明する。図１において、同図（ａ）は記録データでビッ
ト１が連続しないようにコード変換されている必要があ
る。同図（ｂ）は前記記録データに対応してビット１の
時点で一定のパルス幅で強く発光する記録スポット光の
発光状態を示している。同図（ｃ）は、前記記録スポッ
ト光に対応する光学マークを示しており、情報トラック
上に記録されている。これらの光学マークは前縁部１が
やや細く、後縁部２が太くなっている。この光学マーク
の形状は、記録方式の記録メカニズムによって決まるも
ので、この場合、前縁部１は余熱が無く、後縁部２は余
熱があるため、マークが前縁よりも拡がって記録され
る。同図（ｄ）は再生信号であり、情報トラックを光ス
ポットで走査し、反射光又は透過光を検出することによ
って得られる。この再生信号において、光学マークに対
応した各パルスは、光学マークの形状の影響を受け、前
縁部３の傾斜はゆるやかで、後縁部４の傾斜は急にな
る。この再生信号に対して適当な閾値５を設定し、閾値
５と再生信号の後縁部４のレベルが一致する（交わる）
時刻を光学マーク７の位置として検出する。この場合、
前縁部３よりも傾斜が急な後縁部４を用いる方が精度が
良くジッタも少なくなる。
明する。図１において、同図（ａ）は記録データでビッ
ト１が連続しないようにコード変換されている必要があ
る。同図（ｂ）は前記記録データに対応してビット１の
時点で一定のパルス幅で強く発光する記録スポット光の
発光状態を示している。同図（ｃ）は、前記記録スポッ
ト光に対応する光学マークを示しており、情報トラック
上に記録されている。これらの光学マークは前縁部１が
やや細く、後縁部２が太くなっている。この光学マーク
の形状は、記録方式の記録メカニズムによって決まるも
ので、この場合、前縁部１は余熱が無く、後縁部２は余
熱があるため、マークが前縁よりも拡がって記録され
る。同図（ｄ）は再生信号であり、情報トラックを光ス
ポットで走査し、反射光又は透過光を検出することによ
って得られる。この再生信号において、光学マークに対
応した各パルスは、光学マークの形状の影響を受け、前
縁部３の傾斜はゆるやかで、後縁部４の傾斜は急にな
る。この再生信号に対して適当な閾値５を設定し、閾値
５と再生信号の後縁部４のレベルが一致する（交わる）
時刻を光学マーク７の位置として検出する。この場合、
前縁部３よりも傾斜が急な後縁部４を用いる方が精度が
良くジッタも少なくなる。
【０００７】さらに好ましい方法は、同図（ｅ）に示す
ように、再生信号（ｄ）を１階微分した微分信号を用い
ることである。この微分信号では光学マークに対応して
前縁側のパルス６と後縁側のパルス７が発生するが、後
縁側のパルス７の方がピーク値も大きく傾斜は急にな
る。この後縁側のパルス７のピーク値（極大値）とゼロ
レベル９の間に適当な閾値８を設けて２値化すると、同
図（ｆ）に示すような２値化信号が得られる。この２値
化信号の立上がりを抜き出すと、同図（ｇ）に示すよう
に、ジッタの少ないデータ信号を再生することができ
る。この場合、閾値８はゼロレベルではないので、ノイ
ズによって誤りパルスが発生することもない。
ように、再生信号（ｄ）を１階微分した微分信号を用い
ることである。この微分信号では光学マークに対応して
前縁側のパルス６と後縁側のパルス７が発生するが、後
縁側のパルス７の方がピーク値も大きく傾斜は急にな
る。この後縁側のパルス７のピーク値（極大値）とゼロ
レベル９の間に適当な閾値８を設けて２値化すると、同
図（ｆ）に示すような２値化信号が得られる。この２値
化信号の立上がりを抜き出すと、同図（ｇ）に示すよう
に、ジッタの少ないデータ信号を再生することができ
る。この場合、閾値８はゼロレベルではないので、ノイ
ズによって誤りパルスが発生することもない。
【０００８】この再生信号の再生回路は、図２に示すよ
うに、微分器２１、コンパレータ２２、微分器２３で構
成される簡単なものである。この構成において、図１
（ｄ）に対応した再生信号２０を入力すると、同図
（ｇ）に対応したデータ再生信号２４を得ることができ
る。尚、この発明に用いられる光学マークとしては、反
射膜に形成された孔あるいは凹凸ピット、光磁気記録マ
ーク、相変化記録マークで走査光スポットの熱的作用に
よって記録されたもの等を挙げることができる。
うに、微分器２１、コンパレータ２２、微分器２３で構
成される簡単なものである。この構成において、図１
（ｄ）に対応した再生信号２０を入力すると、同図
（ｇ）に対応したデータ再生信号２４を得ることができ
る。尚、この発明に用いられる光学マークとしては、反
射膜に形成された孔あるいは凹凸ピット、光磁気記録マ
ーク、相変化記録マークで走査光スポットの熱的作用に
よって記録されたもの等を挙げることができる。
【０００９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光学マークの後縁部１に対応する再生信号の変化を検出
することにより、光学マークの検出時刻を決定するの
で、光学マークの検出時刻を高精度、低ジッタで検出す
ることができ、データ再生の信頼性を向上させることが
できる。また、請求項２及び３の発明によれば、再生信
号を１階微分した信号のゼロレベルと極大値との間に閾
値を設定して、この閾値との交点を光学マークの検出時
刻としたので、従来より、光ディスクによく見られる低
周波数のノイズの影響を受けにくくなり、不要なパルス
が誤って再生されるのを極力防止することができ、デー
タ再生の信頼性を向上させることができる。
光学マークの後縁部１に対応する再生信号の変化を検出
することにより、光学マークの検出時刻を決定するの
で、光学マークの検出時刻を高精度、低ジッタで検出す
ることができ、データ再生の信頼性を向上させることが
できる。また、請求項２及び３の発明によれば、再生信
号を１階微分した信号のゼロレベルと極大値との間に閾
値を設定して、この閾値との交点を光学マークの検出時
刻としたので、従来より、光ディスクによく見られる低
周波数のノイズの影響を受けにくくなり、不要なパルス
が誤って再生されるのを極力防止することができ、デー
タ再生の信頼性を向上させることができる。
【図１】この発明の実施例の光学マーク検出方法を示す
タイムチャートである。
タイムチャートである。
【図２】光学マークの情報再生回路を示すブロック図で
ある。
ある。
【図３】従来の光学マーク検出方法を示すタイムチャー
トである。
トである。
２ 光学マークの後縁部 ５，８ 閾値 ９ ゼロレベル
Claims (3)
- 【請求項１】同一サイズの光学マークを情報トラック上
に前後で連続しないように所定の間隔で記録し、光ビー
ムスポットで前記情報トラック上を走査して、前記光学
マークを検出する光学マーク検出方法において、前記光
学マークの後縁部に対応する再生信号の変化を検出する
ことにより、光学マークの検出時刻を決定することを特
徴とする光学マーク検出方法。 - 【請求項２】前記再生信号を１階微分した信号の前記光
学マークの後縁部に対応する変化を検出することを特徴
とする請求項１記載の光学マーク検出方法。 - 【請求項３】前記１階微分した信号のゼロレベルと極大
値との中間に所定の閾値を設定し、この閾値と前記１階
微分した信号が一致する点を光学マークの検出時刻とす
ることを特徴とする請求項２記載の光学マーク検出方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3323123A JP3057120B2 (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 光学マーク検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3323123A JP3057120B2 (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 光学マーク検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05159305A JPH05159305A (ja) | 1993-06-25 |
| JP3057120B2 true JP3057120B2 (ja) | 2000-06-26 |
Family
ID=18151344
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3323123A Expired - Fee Related JP3057120B2 (ja) | 1991-12-06 | 1991-12-06 | 光学マーク検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3057120B2 (ja) |
-
1991
- 1991-12-06 JP JP3323123A patent/JP3057120B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05159305A (ja) | 1993-06-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |