JP3048142B2 - ウェーハ加工装置 - Google Patents

ウェーハ加工装置

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JP3048142B2
JP3048142B2 JP10296946A JP29694698A JP3048142B2 JP 3048142 B2 JP3048142 B2 JP 3048142B2 JP 10296946 A JP10296946 A JP 10296946A JP 29694698 A JP29694698 A JP 29694698A JP 3048142 B2 JP3048142 B2 JP 3048142B2
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polishing
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B37/00Lapping machines or devices; Accessories
    • B24B37/34Accessories
    • B24B37/345Feeding, loading or unloading work specially adapted to lapping
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B41/00Component parts such as frames, beds, carriages, headstocks
    • B24B41/06Work supports, e.g. adjustable steadies
    • B24B41/061Work supports, e.g. adjustable steadies axially supporting turning workpieces, e.g. magnetically, pneumatically

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  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はウェーハ研磨装置に
係り、特に半導体ウェーハを化学的機械研磨法(CM
P:Chemical Mechanical Polishing )によって加工す
るウェーハ加工装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の半導体ウェーハの加工装
置は、研磨定盤を備えた研磨部、及びロードステージ等
から構成されている。このようなウェーハ加工装置によ
れば、まず、加工前のウェーハをロードステージの凹部
に保持させることにより、ウェーハを中心出し(位置決
め)した状態で保持する。ロードステージでウェーハを
中心出しすることによって、ウェーハはその位置を基準
に研磨部に搬送され、そして、正規の位置で研磨される
ことになる。したがって、ロードステージでウェーハを
中心出しすることは、ウェーハの研磨面を均一に研磨す
る上で重要である。
【0003】次に、ロードステージでウェーハが中心出
しされると、このロードステージ又は前記研磨部のウェ
ーハ保持部を相対的に近づく方向に移動して、ロードス
テージに保持されているウェーハをウェーハ保持部で吸
着保持する。そして、ウェーハ保持部を研磨定盤の位置
に移動させた後、前記ウェーハをウェーハ保持部で研磨
定盤に押し付けて研磨する。これにより、1枚のウェー
ハの研磨加工が終了する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のウェ
ーハ加工装置のロードステージは、凹部にウェーハを保
持(収納)したままの状態で、ウェーハ保持部に保持さ
せる構造なので、ウェーハをウェーハ保持部で吸着保持
する際に、ウェーハを吸着保持することができない場合
が生じていた。即ち、ウェーハ保持部がウェーハを吸着
保持する前に凹部の上面に接触するからである。
【0005】このような不具合は、凹部の深さをウェー
ハの厚みよりも浅くして、ウェーハの上面を凹部の上面
から突出させることで解消することができる。しかしな
がら、このような深さに凹部を形成すると、ウェーハが
凹部からズレる場合があるという欠点がある。したがっ
て、従来のロードステージでは、ウェーハを中心出しし
た状態で保持する観点から見ると凹部をウェーハの厚み
よりも深く形成するのが好ましく、一方、ウェーハをチ
ャックで保持する観点から見ると凹部をウェーハの厚み
よりも浅く形成するのが好ましいので、両者の利害が相
反していた。
【0006】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、ウェーハを位置決めした状態で、ウェーハを
ウェーハ保持部に支障無く保持させることができるロー
ドステージを備えたウェーハ加工装置を提供することを
目的とする。
【0007】
【課題を解決する為の手段】本発明は、前記目的を達成
するために、ウェーハを研磨する研磨部と、研磨前のウ
ェーハを中心出しするアライナと、該アライナで中心出
しされた研磨前のウェーハを中心出しされた状態で保持
する凹部が形成されたロードステージと、前記アライナ
で中心出しされたウェーハを前記ロードステージの前記
凹部に搬送する搬送手段と、前記ロードステージの前記
凹部に保持されたウェーハを吸着保持するとともに該ウ
ェーハを前記研磨部に移動させるウェーハ保持部と、前
記ロードステージに設けられ、前記凹部に保持されたウ
ェーハを前記凹部に対してフローティング支持させるフ
ローティング手段と、を備えたことを特徴とする。
【0008】請求項1記載の発明によれば、ロードステ
ージに設けたフローティング手段を駆動し、このフロー
ティング手段によってウェーハを、凹部で位置決めした
状態でフローティングさせてウェーハ保持部に保持させ
るようにした。これにより、本発明によれば、ウェーハ
を位置決めした状態で、ウェーハをウェーハ保持部に支
障無く保持させることができる。
【0009】請求項2記載の発明によれば、前記フロー
ティング手段として、前記凹部に液体を供給し、この液
体でウェーハをフローティング支持する手段を採用した
ので、エアーでフローティング支持するよりも、ウェー
ハを安定してフローティング支持することができる。請
求項3記載の発明によれば、前記フローティング手段で
フローティング支持されたウェーハの上面に洗浄水を供
給する洗浄水供給手段を前記ロードステージに設けたの
で、ウェーハの上面に付着した埃や、付着しようとする
埃を洗い流すことができる。よって、本発明によれば、
ウェーハをクリーンな状態でウェーハ保持部に保持させ
ることができる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
るウェーハ加工装置の好ましい実施の形態について詳説
する。図1は、本発明の実施の形態のウェーハ加工装置
10の平面図である。同図に示すウェーハ加工装置10
の装置本体12には、カセット設置部14、アライナ1
6、ロードステージ18、ウェーハ研磨部20、アンロ
ードステージ22、及びウェーハ洗浄乾燥部24等が設
置されている。
【0011】前記カセット設置部14には、4台のカセ
ット26A、26B、26C、26Dが着脱自在にセッ
トされ、これらのカセット26A〜26Dには図1上二
点鎖線で示す加工前のウェーハ28が多数枚収納されて
いる。なお、本実施の形態では、カセット26Aに酸化
膜(SiO2 膜)が形成されたダミーウェーハが収納さ
れ、カセット26Bにはメタル膜(金属膜)が形成され
たダミーウェーハが収納され、カセット26Cには酸化
膜(SiO2 膜)が形成されたウェーハが収納され、カ
セット26Dにはメタル膜(金属膜)が形成されたウェ
ーハがそれぞれ収納されている。前記カセット26Aに
収納されたダミーウェーハは、カセット26Cに収納さ
れているウェーハの研磨量を予め確認するために研磨さ
れるダミーウェーハである。また、前記カセット26B
に収納されたダミーウェーハは、カセット26Dに収納
されているウェーハの研磨量を予め確認するために研磨
されるダミーウェーハである。
【0012】これらのカセット26A〜26Dに収納さ
れたウェーハ28は、カセット26A〜26Dの近傍に
設置された搬送用ロボット30によって1枚ずつ取り出
された後、仮置台32上に載置される。そして、仮置台
32上に載置されたウェーハ28は、搬送用ロボット3
4によって前記アライナ16に搬送され、ここでウェー
ハ28の中心出し(位置決め)が行われると共に、ウェ
ーハ28の厚みが測定される。そして、アライナ16で
中心出しと厚み測定が終了したウェーハ28は、搬送用
ロボット36に吸着保持されて、ロードステージ18に
1枚ずつ搬送される。
【0013】前記カセット26A〜26Dは、図示しな
いエレベータ装置の昇降台上に載置されている。このエ
レベータ装置を駆動してカセット26A〜26Dの高さ
位置を調整することにより、搬送用ロボット30を昇降
させることなく、カセット26A〜26Dの所定の棚に
収納されたウェーハ28を搬送用ロボット30で取り出
すことができる。なお、搬送用ロボット30側に昇降機
構をもたせれば、前記エレベータ装置が不要になる。
【0014】ここで、前記搬送用ロボット30について
説明すると、この搬送用ロボット30はテーブル40上
に設置されている。前記テーブル40は、カセット26
A〜26Dの設置方向(図1中上下方向)に対して平行
に敷設された一対のレール42、42上に移動自在に設
けられると共に、図示しない駆動部からの駆動力によっ
てレール42、42に沿って往復移動される。これによ
り、前記搬送用ロボット30は、レール42、42に沿
って図1中上下方向に移動され、前記カセット26A〜
26Dのうち選択された1つのカセットに収納されたウ
ェーハ28を取り出すことができる位置に移動すること
ができる。そして、搬送用ロボット30は、取り出した
ウェーハ28を前記仮置台32上に載置する。
【0015】前記搬送用ロボット30は、汎用のロボッ
トであり、ウェーハ28を吸着保持する馬蹄形のアーム
44、及び3本のリンク46、48、50等から構成さ
れている。前記アーム44は、リンク46に回転自在に
支持され、図示しないモータからの駆動力で回転するこ
とができる。前記リンク46は、リンク48に軸52を
介して回動自在に連結され、図示しないモータからの駆
動力で軸52を中心に回転することができる。また、リ
ンク48は、軸54を介してリンク50に回動自在に連
結され、図示しないモータからの駆動力で軸54を中心
に回転することができる。さらに、リンク50は、軸5
6を介してモータ58の図示しない出力軸に連結されて
いるので、モータ58を駆動することにより軸56を中
心に回転することができる。したがって、前記ロボット
30によれば、アーム44及び3本のリンク46、4
8、50の各動作を各々のモータで制御することによ
り、前記カセット26A〜26Dに収納されたウェーハ
28を取り出して仮置台32に搬送することができる。
【0016】なお、前記搬送用ロボット34、36、そ
して、後述する2台の搬送用ロボット60、62は、前
記搬送用ロボット30と同一構成なので、ここではその
説明を省略する。次に、本実施の形態のロードステージ
18について説明する。前記ロードステージ18は、ア
ライナ16で中心出しされた研磨直前のウェーハ28を
中心出しした状態で一時ストックするステージである。
このロードステージ18を構成するステージ本体19の
上面には図2、図3に示すように、ウェーハ28が載置
される円形状の凹部64、64が所定の間隔をもって形
成されている。この凹部64、64に、前記搬送用ロボ
ット36で搬送されてきた円形のウェーハ28が載置さ
れる。前記凹部64の径は、ウェーハ28の径よりも若
干量大きめに形成され、また、凹部64の深さはウェー
ハ28の厚みよりも若干量深く形成されている。したが
って、前記凹部64に載置されたウェーハは、凹部64
に位置ズレすることなく、その全体が収納されるので、
ロードステージ18において、中心出しされた状態で保
持される。このように、ウェーハ研磨部20の直前に設
置されている前記ロードステージ18によって、ウェー
ハ28を中心出しした状態で保持することにより、ウェ
ーハ28の研磨面がウェーハ研磨部20で均等に研磨さ
れる。
【0017】ところで、前記凹部64にウェーハ28が
収納されたままの状態であると、このウェーハ28をウ
ェーハ研磨部20のチャック(ウェーハ保持部に相当)
で吸着保持する際に、ウェーハ28を吸着保持すること
ができなくなるという不具合が生じる。即ち、チャック
の吸着面(下面)がウェーハ28に接触する前にステー
ジ本体19の上面に衝突するからである。したがって、
前記ロードステージ18によれば、ウェーハ28を中心
出しした状態で保持する観点から見ると凹部64をウェ
ーハ28の厚みよりも深く形成するのが好ましく、一
方、ウェーハ28をチャックで保持する観点から見ると
凹部64をウェーハ28の厚みよりも浅く形成するのが
好ましいので、両者の利害が相反している。
【0018】そこで、本実施の形態のロードステージ1
8には、前記不具合を解消するために、ウェーハ28を
フローティング支持するフローティング機構(フローテ
ィング手段に相当)が設けられている。このフローティ
ング機構によって、ウェーハ28は、その上面がステー
ジ本体19の上面から若干量突出するようにフローティ
ングされる。これにより、本実施の形態のロードステー
ジ18によれば、ウェーハ28の位置ズレを防止しつつ
ウェーハ28をチャックで保持させることができる。
【0019】前記フローティング機構として本実施の形
態では、凹部64の底面から凹部64に純水(液体に相
当)を噴射してウェーハ28をフローティングさせる機
構が採用されている。即ち、前記凹部64の底面には、
その中央部に噴射口66が形成され、この噴射口66は
図3に示すように、ステージ本体19に形成された分岐
水路68、及び主幹水路70を介して図示しない給水ポ
ンプにレギュレータを介して接続されている。このレギ
ュレータで給水量を制御することにより、ウェーハ28
が好適にフローティング支持される。また、前記主幹水
路70には、上方に延出された水路80、80…が形成
され、これらの水路80の噴射口82は、ステージ本体
19の上面に開口されている。また、前記噴射口82の
上方には整流板84が設けられている。これによって、
噴射口82から噴射された純水(洗浄水に相当)は、整
流板84によって凹部64に向けて導かれる。したがっ
て、噴射口82から噴射された純水は、フローティング
支持されているウェーハ28の上面に沿って流れるの
で、ウェーハ28の上面に付着している埃や付着しよう
とする埃を洗い流すことができる。よって、ウェーハ2
8はクリーンな状態でチャックに吸着保持される。な
お、本実施の形態では、ウェーハ28を純水でフローテ
ィング支持させるようにしたが、これに限られるもので
はなく、ウェーハ28に悪影響を与えない他の液体でフ
ローティング支持しても良い。また、本実施の形態で
は、ウェーハ28を純水で洗浄するようにしたが、これ
に限られるものではなく、ウェーハ28に悪影響を与え
ない他の洗浄液で洗浄しても良い。
【0020】前記噴射口66から噴射された純水は図4
上矢印で示すように、排水溝72を通過して排水口74
に流れる。前記排水溝72及び排水口74は図2に示す
ように、凹部64の周囲に90度間隔で形成されてい
る。前記排水口74に流れた純水は図3に示すように、
ステージ本体19に形成された分岐水路76、及び主幹
水路78を介してロードステージ18の外部に排水され
る。なお、前記噴射口82から噴射された純水も、同様
の経路で排水される。以上がロードステージ18の構成
である。
【0021】図1に示すウェーハ研磨部20は、4台の
チャック(ウェーハ保持部に相当)90、92、94、
96、及び2台の研磨ステージ98、100等から構成
される。前記チャック90、92は支持部材104に所
定の間隔をもって並設され、また、前記チャック94、
96は支持部材106に所定の間隔をもって並設されて
いる。このチャック94、96の支持構造は、前記チャ
ック90、92の支持構造と同一なので、ここでは、チ
ャック90、92の支持構造を説明し、チャック94、
96の支持構造についてはその説明を省略する。
【0022】前記支持部材104は扇形状に形成され、
その基部104Aが図5に示す軸受108を介して軸1
10に回転自在に支持されている。また、図1に示すよ
うに前記軸110を中心とする円周上に、前記ロードス
テージ18、研磨ステージ98、100、及びアンロー
ドステージ22が所定の間隔で配置されている。したが
って、前記支持部材104を前記軸110周りに回転す
ることにより、前記チャック90、92をロードステー
ジ18、研磨ステージ98、100、及びアンロードス
テージ22に位置させることができる。
【0023】前記軸110にはギア112が設けられ、
このギア112は軸110と同軸上に固定されている。
前記ギア112にはギア114が噛合されており、この
ギア114は支持部材104に固定されたモータ116
の出力軸に取り付けられている。したがって、前記モー
タ116でギヤ114を回転させると、ギア114がギ
ア112の周りを回転しながら公転するので、その公転
力が支持部材104に伝達し、前記支持部材104が軸
110を中心に水平面内で回動する。
【0024】図5に示すように前記チャック90は、モ
ータ118の出力軸に取り付けられ、モータ118から
の駆動力によって回転される。前記モータ118は、支
持部材104に設けられたケーシング120内に複数の
直動ガイド122、122…を介して上下移動自在に支
持されている。また、前記モータ118の上部には、ね
じ棒124が上下方向に取り付けられ、このねじ棒12
4にはナット部材126が螺合されている。前記ナット
部材126は、ケーシング120の上部開口部に軸受1
28を介して回転自在に設けられると共に、その外周面
に無端状ベルト130が巻き掛けられている。前記ベル
ト130は図示しないプーリに巻き掛けられ、このプー
リは、ケーシング120上に設置されたモータ132の
出力軸134に取り付けられている。したがって、モー
タ132からの駆動力をベルト130を介してナット部
材126に伝達し、ナット部材126を回転させると、
ナット部材126とねじ棒124とによる送り作用、及
び直動ガイド122による直動作用によって、チャック
90がモータ118と一緒に上下移動する。これによ
り、チャック90を下降移動すれば、チャック90で保
持したウェーハ28を研磨定盤136A、研磨定盤13
6Bに押し付けて研磨することができる。
【0025】前記研磨定盤136Aは、回転板138
と、この回転板138上に設けられた研磨布140とか
ら構成される。また、回転板138の下面中央部には、
軸142が突設され、この軸142にモータ144の出
力軸146が連結されている。したがって、研磨定盤1
36Aは、前記モータ144の駆動力によって回転され
る。これにより、ウェーハ28は、研磨定盤136Aの
回転運動とチャック90の回転運動とが合成された回転
運動によって研磨される。なお、ウェーハ28の研磨中
には、図示しないノズルからスラリが研磨布140に供
給される。
【0026】前記研磨定盤136Aの研磨布140は、
酸化膜を研磨する研磨布であってメタル膜を1次研磨す
る研磨布である。また、研磨定盤136Bの研磨布14
0は、メタル膜を2次研磨する研磨布である。したがっ
て、酸化膜を研磨するウェーハ28は、研磨定盤136
A側でのみ研磨される。また、メタル膜を研磨するウェ
ーハ28は、研磨定盤136A側で1次研磨された後、
研磨定盤136B側で2次研磨される。
【0027】前記チャック90の下面には、多孔質材で
形成されたウェーハ吸着部材91が設けられており、ウ
ェーハ28はこの吸着部材91で吸着保持されてロード
ステージ18から研磨ステージ98、100に搬送さ
れ、また、研磨ステージ98、100からアンロードス
テージ22に搬送される。なお、前記ウェーハ28の研
磨方法は、ウェーハ28をチャック90の吸着部材91
で吸着した状態で研磨布140に押し付けて研磨する方
法でも良く、また、チャック90の下面からウェーハ2
8に向けてエアを吹き出し、チャック90とウェーハ2
8との間に圧力流体層を形成し、この圧力流体層を介し
てウェーハ28を研磨布140に押し付けて研磨する方
法でも良い。後者の研磨方法による加工圧の設定は、圧
力流体層の圧力で設定するものではなく、前者の研磨方
法と同様にチャック90の下降移動量で設定する。な
お、本実施の形態では、一つの支持部材104に2台の
チャック90、92を取り付けたが、3枚以上のウェー
ハ28を同時に研磨することができれば、3台以上のチ
ャックを支持部材104に取り付けても良い。また、研
磨定盤136や支持部材104、106も3台以上設置
しても良い。
【0028】一方、図1に示すウェーハ研磨部20に
は、環状のガイドレール148が軸110を中心に水平
方向に配設されている。このガイドレール148は、各
ステージ18、22、98、100を囲むように各ステ
ージ18、22、98、100の外側に配設されてい
る。前記ガイドレール148には、支持部材104の先
端部に設けられた一対の摺動用ガイドブロック150、
150が摺動自在に係合されている。これにより、支持
部材104は、軸110とガイドレール148とによっ
て両持ち支持された状態で軸110を中心に回転するこ
とができる。
【0029】また、図6に示すように、前記ガイドレー
ル148の両側面には凹条部149、149がガイドレ
ール148に沿って形成されており、この凹条部14
9、149に前記ガイドブロック150の凸部151が
噛み合った状態で係合されている。この係合によって、
支持部材104の上下移動が規制され、支持部材104
の反りが防止されている。
【0030】図7は、前記アンロードステージ22の平
面図であり、図8はアンロードステージ22の断面図で
ある。このアンロードステージ22は、チャック90〜
96から排出された研磨後のウェーハ28を一時受け取
り、そして、ウェーハ28が洗浄乾燥部24に搬送され
る前に、ウェーハ28をタッチアップ研磨した後、再度
中心出しするステージである。
【0031】アンロードステージ22を構成するステー
ジ本体23の上面には、タッチアップ研磨用の研磨布1
58、160が着脱自在に設けられている。なお、タッ
チアップ研磨を必要とするウェーハ28は、メタル膜が
形成されたウェーハ28であり、酸化膜が形成されたウ
ェーハ28はタッチアップ研磨を必要としない。このた
め、酸化膜が形成されたウェーハ28を加工する場合に
は、前記研磨布158、160に代えてスポンジ(スク
ラブ洗浄装置で使用されるスポンジ等)が設けられる。
【0032】ところで、前記研磨布158、160にウ
ェーハ28を押し付けると、ウェーハ28は研磨布15
8、160に接着してしまうので、ウェーハ28を研磨
布158、160から容易に取り外すことができなくな
るという不具合が生じる。そこで、本実施の形態のアン
ロードステージ22には、前記不具合を解消するため
に、ウェーハ剥離機構が設けられている。この剥離機構
として本実施の形態では、研磨布158、160の裏面
から純水を供給し、この純水を研磨布158、160の
表面から滲み出させることにより、ウェーハ28を研磨
布158、160から剥離させる機構が採用されてい
る。即ち、研磨布158、160が設けられるステージ
本体23の表面には水噴射口162、162…が形成さ
れ、この水噴射口162、162…は図8に示すよう
に、ステージ本体23に形成された分岐水路164、1
64、及び主幹水路166を介して図示しない給水ポン
プに接続されている。
【0033】また、研磨布158、160の側方には、
純水を噴射する複数本の噴射口174、174…が図7
の如く形成され、これらの噴射口174、174…は研
磨布158、160に向けて形成されている。これによ
って、噴射口174、174…から噴射された純水は、
研磨布158、160上に載置されているウェーハ28
の上面に沿って流れるので、ウェーハ28の上面に埃等
が付着するのを防止することができる。よって、ウェー
ハ28はクリーンな状態で搬送用ロボット60に吸着保
持される。
【0034】前記研磨布158、160から滲み出た前
記純水、及び前記噴射口174、174…から噴射され
た純水は、ステージ本体23に形成された排水口168
に流れる。前記排水口168に流れた純水は、ステージ
本体23に形成された分岐水路170、170及び主幹
水路172を介してアンロードステージ22の外部に排
水される。
【0035】また、前記アンロードステージ22には、
ウェーハ28を中心出しするための位置決め機構が設け
られている。この位置決め機構は図7に示すように、研
磨布158、160の外周部に等間隔で配設された3本
の位置決め用ピン176、176、176等から構成さ
れている。この位置決め用ピン176、176、176
にウェーハ28の外周縁が接触することにより、ウェー
ハ28の位置が修正されてウェーハ28の中心出しが行
われる。
【0036】前記位置決め用ピン176、176、17
6は図8に示すように、ステージ本体23内に貫通配置
され、その下端部が支持板178に固定されている。前
記支持板178の下面中央部には、シリンダ装置180
のロッド182が固定されている。したがって、前記シ
リンダ装置180でロッド182を伸縮させると、前記
位置決め用ピン176、176、176がステージ本体
23に没入した位置と図8上実線で示す突出した位置と
の範囲で上下移動される。
【0037】前記シリンダ装置180は、チャック9
0、92の上下移動の動作に連動して動作するように図
示しない制御装置によって制御されている。即ち、制御
装置は、チャック90、92が下降移動してウェーハ2
8を研磨布158、160に押し付ける時には、ロッド
182を収縮するようにシリンダ装置180を制御す
る。これにより、位置決め用ピン176、176、17
6で邪魔されることなく、ウェーハ28のタッチアップ
研磨が実施される。また、制御装置は、研磨が終了し
て、チャック90、92が上昇移動する時に、ロッド1
82を伸長するようにシリンダ装置180を制御する。
これにより、研磨布158、160上のウェーハ28が
位置決め用ピン176、176、176によって中心出
しされる。なお、ロッド182の伸長時に連動して、噴
射口162、162…及び噴射口174、174…から
純水を噴射するように制御することが好ましい。以上が
アンロードステージ22の構造である。
【0038】前記アンロードステージ22で中心出しさ
れ、研磨布158、160から剥離されたウェーハ28
は、搬送用ロボット60によって1枚ずつ洗浄乾燥部2
4に搬送される。前記洗浄乾燥部24は、スクラブ洗浄
装置184、スピン洗浄装置186、及びスピン乾燥装
置188から構成されている。前記搬送用ロボット60
に吸着保持されたウェーハ28は、まず、スクラブ洗浄
装置184に搬送され、ここで洗浄される。そして、ウ
ェーハ28は、搬送用ロボット62でスクラブ洗浄装置
184からスピン洗浄装置186に搬送されてスピン洗
浄された後、前記搬送用ロボット62でスピン乾燥装置
188に搬送され、ここでスピン乾燥される。そして、
乾燥されたウェーハ28は、搬送用ロボット62でアラ
イナ190に搬送された後、このアライナ190で再度
の中心出しと厚み測定が実施される。そして、ウェーハ
28は、搬送用ロボット30で保持されて、アライナ1
90から元のカセット26A〜26Dの所定の棚に収納
される。なお、前記アライナ190で測定された厚み情
報は、ウェーハ研磨部20をフィードバックするための
情報として利用される。例えば、前記厚み情報に基づい
て、研磨時間がフィードバック制御される。また、前記
厚み情報に基づいて、研磨布ドレッシング時期、研磨布
交換時期等も判断される。
【0039】次に、前記の如く構成されたウェーハ加工
装置10の作用について説明する。まず、搬送用ロボッ
ト30によって所定のカセット26C、26Dからウェ
ーハ28が1枚ずつ取り出され、そのウェーハ28は仮
置台32上に載置される。そして、前記ウェーハ28
は、搬送用ロボット34によって仮置台32からアライ
ナ16に搬送され、このアライナ16で厚み測定と中心
出しが実施される。
【0040】次に、中心出しされたウェーハ28は、搬
送用ロボット36によってロードステージ18の凹部6
4、64に1枚ずつ搬送される。次いで、2枚のウェー
ハ28、28が前記凹部64、64に載置されると、ロ
ードステージ18のフローティング機構が駆動される。
これによって、前記ウェーハ28は凹部64においてフ
ローティング支持される。即ち、ウェーハ28がロード
ステージ18の凹部64に収納されて位置決めされた状
態で、且つウェーハ28の上面が、ロードステージ18
のステージ本体19の上面から突出した状態で支持され
る。そして、フローティング機構の駆動に連動させてロ
ードステージ18の噴射口82、82…から純水が噴射
される。これによって、ウェーハ28の上面に埃等が付
着するのが防止される。
【0041】この状態を維持しつつ、モータ116が駆
動されて支持部材104がアンロードステージ22の位
置から時計周り方向に回動され、ロードステージ18の
上方に位置される。次に、チャック90、92が下降移
動されて、1枚目のウェーハ28がチャック90に吸着
保持され、2枚目のウェーハ28がチャック92で吸着
保持される。
【0042】この時、2枚のウェーハ28は、ロードス
テージ18のフローティング機構によって中心出しされ
た状態で、且つウェーハ28の上面が、ロードステージ
18のステージ本体19の上面から突出した状態で支持
されているので、チャック90、92に中心出しされた
状態で、且つチャック90、92で確実に吸着保持され
る。また、ウェーハ28は、フローティング機構の純水
によって上方に押圧力が作用され、この押圧力でチャッ
ク90、92に押し付けられるので、チャック90、9
2によるウェーハ28の保持性が高められている。更
に、前記純水によってウェーハ28の保水性も高められ
ている。
【0043】前記チャック90、92で2枚のウェーハ
28、28が保持されると、モータ116が駆動されて
支持部材104がロードステージ18の位置から時計周
り方向に回動され、研磨ステージ98の上方に位置され
る。この研磨ステージ98の研磨定盤136Aで、前記
ウェーハ28、28研磨が開始される。なお、研磨対象
のウェーハ28が酸化膜を研磨するウェーハ28の場合
には、この研磨ステージ98で研磨が終了する。また、
研磨対象のウェーハ28がメタル膜を研磨するウェーハ
28の場合には、この研磨ステージ98で1次研磨が行
われる。
【0044】次に、メタル膜を研磨するウェーハ28に
ついて説明すると、前記研磨ステージ98で1次研磨が
終了すると、モータ116が駆動されて支持部材104
が研磨ステージ98の位置から時計周り方向に回動さ
れ、研磨ステージ100の上方に位置される。この研磨
ステージ100の研磨定盤136Bで、前記ウェーハ2
8、28の2次研磨が開始される。また、この時、3枚
目及び4枚目のウェーハ28、28がチャック94、9
6に保持され、研磨ステージ98の研磨定盤136Aで
1次研磨される。
【0045】次いで、2次研磨が終了すると、モータ1
16が駆動されて支持部材104が研磨ステージ100
の位置から時計周り方向に回動され、アンロードステー
ジ22の上方に位置される。そして、2次研磨終了した
ウェーハ28、28がアンロードステージ22に受け渡
され、アンロードステージ22の研磨布158、160
によってタッチアップ研磨される。また、この時、3枚
目及び4枚目のウェーハ28、28が研磨ステージ10
0の研磨定盤136Bで2次研磨される。
【0046】前記タッチアップ研磨が終了すると、チャ
ック90、92の吸着が解除される。そして、チャック
90、92が研磨布158、160から上昇移動される
と共に、位置決め用ピン176、176、176が突出
され、そして、噴射口162、162…から純水が研磨
布158、160に噴射される。これによって、研磨布
158、160上のウェーハ28が、研磨布158、1
60から剥離されながら中心出しされる。
【0047】前記ウェーハ28を離した前記チャック9
0、92は、次の加工前のウェーハ(5枚目と6枚目の
ウェーハ)28、28を受け取るためにロードステージ
18に向けて移動される。そして、前記ウェーハ28、
28がチャック90、92で保持されると、前述した動
作が繰り返し実施される。一方、アンロードステージ2
2で剥離され、中心出しされたウェーハ28は、搬送用
ロボット60によってスクラブ洗浄装置184に搬送さ
れる。ここでウェーハ28は、スクラブ洗浄装置184
のスポンジで洗浄される。そして、洗浄されたウェーハ
28は、搬送用ロボット62でスクラブ洗浄装置184
からスピン洗浄装置186に搬送され、ここでスピン洗
浄される。これにより、研磨後のウェーハ28が確実に
洗浄される。そして、スピン洗浄されたウェーハ28
は、搬送用ロボット62でスピン乾燥装置188に搬送
され、ここで乾燥される。そして、乾燥されたウェーハ
28は、搬送用ロボット62でアライナ190に搬送さ
れる。そして、アライナ190で再度の中心出しと厚み
測定が実施された後、搬送用ロボット30で保持され、
元のカセット26A〜26Dの所定の棚に収納される。
以上が、メタル膜が形成されたウェーハ28の加工工程
である。
【0048】次に、酸化膜が形成されているウェーハ2
8について説明すると、このウェーハ28は、研磨ステ
ージ98で研磨が終了すると、アンロードステージ22
に向けて移動される。即ち、駆動モータ116が駆動さ
れ、支持部材104が研磨ステージ98の位置から時計
周り方向に回動され、アンロードステージ22の上方に
位置された後、アンロードステージ22に受け渡され
る。なお、前記ウェーハ28は、酸化膜が形成されたウ
ェーハ28でありタッチアップ研磨をする必要がないた
め、アンロードステージ22では、研磨布158、16
0に代えて設けられたスポンジで洗浄される。
【0049】スポンジによる洗浄が終了すると、チャッ
ク90、92の吸着が解除される。そして、チャック9
0、92が研磨布158、160から上昇移動されると
共に、位置決め用ピン176、176、176が突出さ
れる。これによって、ウェーハ28がスポンジ上で中心
出しされる。そして、このウェーハ28は、搬送用ロボ
ット60によってスクラブ洗浄装置184に搬送され
る。これ以降の工程は、前記メタル膜が形成されたウェ
ーハ28と同一の工程なので、ここではその説明を省略
する。以上が、酸化膜が形成されたウェーハ28の加工
工程である。
【0050】したがって、本実施の形態のウェーハ加工
装置10によれば、ロードステージ18に設けたフロー
ティング機構によって、ウェーハ28を凹部64で位置
決めした状態でフローティングさせた後、チャック90
〜96で吸着保持させるようにしたので、ウェーハ28
を中心出しした状態で、ウェーハ28をチャック90〜
96に支障無く保持させることができる。
【0051】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るウェー
ハ加工装置によれば、ロードステージにフローティング
手段を設け、このフローティング手段によってウェーハ
を、凹部で位置決めした状態でフローティングさせてウ
ェーハ保持部に保持させるようにしたので、ウェーハを
位置決めした状態で、ウェーハをウェーハ保持部に支障
無く保持させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態が適用されたウェーハ加工
装置の平面図
【図2】図1のウェーハ加工装置に適用されたロードス
テージの平面図
【図3】図2に示したロードステージの断面図
【図4】図2に示したロードステージの要部拡大断面図
【図5】図1に示したウェーハ加工装置のウェーハ研磨
部の要部断面図
【図6】図1のウェーハ加工装置に適用されたガイドレ
ールの拡大断面図
【図7】図1のウェーハ加工装置に適用されたアンロー
ドステージの平面図
【図8】図7に示したアンロードステージの断面図
【符号の説明】
10…ウェーハ加工装置 14…カセット設置部 16、190…アライナ 18…ロードステージ 20…ウェーハ研磨部 22…アンロードステージ 24…洗浄乾燥部 28…ウェーハ 90、92、94、96…チャック 98、100…研磨ステージ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−57663(JP,A) 特開 平3−149816(JP,A) 特開 昭61−182739(JP,A) 特開 平6−5568(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/304,21/68 B24B 37/00 - 37/04

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ウェーハを研磨する研磨部と、研磨前のウェーハを中心出しするアライナと、 該アライナで中心出しされた研磨前のウェーハを中心出
    しされた状態で保持する凹部が形成されたロードステー
    ジと、 前記アライナで中心出しされたウェーハを前記ロードス
    テージの前記凹部に搬送する搬送手段と、 前記ロードステージの前記凹部に保持されたウェーハを
    吸着保持するとともに該ウェーハを前記研磨部に移動さ
    せるウェーハ保持部と、 前記ロードステージに設けられ、前記凹部に保持された
    ウェーハを前記凹部に対してフローティング支持させる
    フローティング手段と、 を備えた ことを特徴とするウェーハ加工装置。
  2. 【請求項2】前記フローティング手段は、前記凹部に液
    体を供給して前記ウェーハをフローティング支持する手
    段であることを特徴とする請求項1記載のウェーハ加工
    装置。
  3. 【請求項3】前記ロードステージには、前記フローティ
    ング手段でフローティング支持されたウェーハの上面に
    洗浄水を供給する洗浄水供給手段が設けられていること
    を特徴とする請求項1記載のウェーハ加工装置。
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