JP3043918B2 - 管内面の腐食診断方法 - Google Patents
管内面の腐食診断方法Info
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- JP3043918B2 JP3043918B2 JP5028472A JP2847293A JP3043918B2 JP 3043918 B2 JP3043918 B2 JP 3043918B2 JP 5028472 A JP5028472 A JP 5028472A JP 2847293 A JP2847293 A JP 2847293A JP 3043918 B2 JP3043918 B2 JP 3043918B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、稼動中の管内面の腐
食状況と寿命を推定する腐食診断法、特に腐食検出処理
の迅速化と寿命予測の高精度化に関するものである。
食状況と寿命を推定する腐食診断法、特に腐食検出処理
の迅速化と寿命予測の高精度化に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】地上あるいは水中に設置された管内面の
腐食状況を稼動しながら調査する方法としては、超音波
を利用して管の肉厚を測定する超音波探傷法やＸ線透過
により撮影したＸ線フィルムから腐食の状態を検出する
方法等が使用されている。
腐食状況を稼動しながら調査する方法としては、超音波
を利用して管の肉厚を測定する超音波探傷法やＸ線透過
により撮影したＸ線フィルムから腐食の状態を検出する
方法等が使用されている。
【０００３】超音波探傷法によると、肉厚を0.1ｍｍの
精度まで測定することができる。また、Ｘ線透過法によ
ると測定精度が超音波探傷法より落ちるが、充分に腐食
の状況を調査することができ、かつ、Ｘ線透過法による
と腐食の状態をＸ線フィルムにより簡単に確認すること
ができるとともに、測定した資料の保存性等が良いた
め、地上のみならず海中等水中の管の腐食調査にＸ線透
過法が使用されている。
精度まで測定することができる。また、Ｘ線透過法によ
ると測定精度が超音波探傷法より落ちるが、充分に腐食
の状況を調査することができ、かつ、Ｘ線透過法による
と腐食の状態をＸ線フィルムにより簡単に確認すること
ができるとともに、測定した資料の保存性等が良いた
め、地上のみならず海中等水中の管の腐食調査にＸ線透
過法が使用されている。
【０００４】このＸ線フィルムを用いる撮影法では、照
射するＸ線に垂直な２次元像しか得られないため、Ｘ線
フィルムに形成された像の濃度分布を調べ、この像の濃
度分布から腐食の深さ分布を求めて表示し、腐食の状況
をより確実に調査する方法が採用されている。この場合
は、あらかじめ調査する管と同じ径，厚さの管に標準凹
みを作り、調査する現場と同様な状態でシミュレ−ショ
ン実験を行ない比較用のＸ線フィルムに標準凹みの像を
形成し、このＸ線フィルムの濃度に対する残厚推定デ−
タを求めておく。そして調査する管を撮影したＸ線フィ
ルムの濃度とシミュレ−ション実験で得たＸ線フィルム
の濃度とを比較して腐食の分布と推定残厚を求め、ディ
スプレ表示したり、Ｘ−Ｙプロッタ等で印刷している。
射するＸ線に垂直な２次元像しか得られないため、Ｘ線
フィルムに形成された像の濃度分布を調べ、この像の濃
度分布から腐食の深さ分布を求めて表示し、腐食の状況
をより確実に調査する方法が採用されている。この場合
は、あらかじめ調査する管と同じ径，厚さの管に標準凹
みを作り、調査する現場と同様な状態でシミュレ−ショ
ン実験を行ない比較用のＸ線フィルムに標準凹みの像を
形成し、このＸ線フィルムの濃度に対する残厚推定デ−
タを求めておく。そして調査する管を撮影したＸ線フィ
ルムの濃度とシミュレ−ション実験で得たＸ線フィルム
の濃度とを比較して腐食の分布と推定残厚を求め、ディ
スプレ表示したり、Ｘ−Ｙプロッタ等で印刷している。
【０００５】この方法で、例えば海中に設置された管の
腐食分布を調査するときには、１回の調査でも必ず水中
でシミュレ−ション実験を行ない、事前にＸ線フィルム
の濃度と残厚推定デ−タの特性を求める必要があり、調
査毎に１〜２週間程度の実験が必要になる。このため実
際の調査を行なう前にかなりの時間と費用を要した。ま
た、腐食の分布を得るために、Ｘ−Ｙプロッタ上のＸ線
フィルムを１点ずつ濃度計で測定する必要があり、１枚
のＸ線フィルム（四切りサイズ）を読み取るに２〜３時
間程度必要になり、読取時間が長くかかった。さらに、
シミュレ−ション実験においてＸ線フィルムの濃度と残
厚推定デ−タの特性や腐食分布を精度よく得るためには
熟練を要し、専門家でないと解析することが出来なかっ
た。
腐食分布を調査するときには、１回の調査でも必ず水中
でシミュレ−ション実験を行ない、事前にＸ線フィルム
の濃度と残厚推定デ−タの特性を求める必要があり、調
査毎に１〜２週間程度の実験が必要になる。このため実
際の調査を行なう前にかなりの時間と費用を要した。ま
た、腐食の分布を得るために、Ｘ−Ｙプロッタ上のＸ線
フィルムを１点ずつ濃度計で測定する必要があり、１枚
のＸ線フィルム（四切りサイズ）を読み取るに２〜３時
間程度必要になり、読取時間が長くかかった。さらに、
シミュレ−ション実験においてＸ線フィルムの濃度と残
厚推定デ−タの特性や腐食分布を精度よく得るためには
熟練を要し、専門家でないと解析することが出来なかっ
た。
【０００６】このような短所は、例えば特開平４−4820
5号公報に開示されているように、Ｘ線フィルムにテス
トピ−スと被検部のＸ線透過画像を形成し、このＸ線透
過画像のテストピ−スの標準凹み濃度と、標準凹み濃度
の調査環境に応じた関係と、腐食等による凹み濃度とか
ら被検部の凹み深さを算出して表示することにより解消
することができる。
5号公報に開示されているように、Ｘ線フィルムにテス
トピ−スと被検部のＸ線透過画像を形成し、このＸ線透
過画像のテストピ−スの標準凹み濃度と、標準凹み濃度
の調査環境に応じた関係と、腐食等による凹み濃度とか
ら被検部の凹み深さを算出して表示することにより解消
することができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上記特開平４−48205
号公報に開示され腐食の診断法はシミュレ−ション実験
なしで、かつ、専門家でなくても短時間に腐食分布を得
ることができるが、腐食の最大深さを得るためには管の
全範囲にわたりＸ線透過画像を形成する必要があり、Ｘ
線透過試験と画像処理に多くの時間を要した。
号公報に開示され腐食の診断法はシミュレ−ション実験
なしで、かつ、専門家でなくても短時間に腐食分布を得
ることができるが、腐食の最大深さを得るためには管の
全範囲にわたりＸ線透過画像を形成する必要があり、Ｘ
線透過試験と画像処理に多くの時間を要した。
【０００８】この発明はかかる点を改良し、腐食の形状
と腐食による凹み深さの絶対値を直接表示するとともに
小さな面積の測定で腐食の最大深さをも推定することが
できる管内面の腐食診断方法を提供することを目的とす
るものである。
と腐食による凹み深さの絶対値を直接表示するとともに
小さな面積の測定で腐食の最大深さをも推定することが
できる管内面の腐食診断方法を提供することを目的とす
るものである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】この発明に係る管内面の
腐食診断方法は、深さが異なる複数の標準凹みを有する
テストピ−スを管の被検部近傍に重ね合わせてＸ線を照
射し、Ｘ線フィルムにＸ線透過画像を形成し、Ｘ線透過
画像をイメ−ジセンサで読み取り、読み取った画像のテ
ストピ−スの凹み位置の濃度からその近傍の濃度を差引
いて標準凹み濃度を算出し、標準凹み濃度と標準凹み深
さとの回帰式を算出し、被検部の無減厚位置の濃度分布
より被検部の母材推定濃度分布を回帰式により作成し、
母材推定濃度分布から被検部の腐食部濃度を差引き凹み
濃度を算出し、算出した凹み濃度を使用して上記標準凹
み濃度と標準凹み深さとの回帰式より被検部の腐食深さ
を算出し、イメ−ジセンサで読み取ったＸ線透過画像を
擬似立体処理し、立体化したＸ線透過画像に被検部の腐
食深さを立体化したＸ線透過画像に書き込み腐食深さ分
布を表示し、上記処理を管の複数個所で行ない、算出し
た被検部の腐食深さに極値統計法を適用して腐食の最大
深さを推定し、表示された各被検部の腐食深さ分布と推
定した腐食の最大深さから管の寿命を予測することを特
徴とする。
腐食診断方法は、深さが異なる複数の標準凹みを有する
テストピ−スを管の被検部近傍に重ね合わせてＸ線を照
射し、Ｘ線フィルムにＸ線透過画像を形成し、Ｘ線透過
画像をイメ−ジセンサで読み取り、読み取った画像のテ
ストピ−スの凹み位置の濃度からその近傍の濃度を差引
いて標準凹み濃度を算出し、標準凹み濃度と標準凹み深
さとの回帰式を算出し、被検部の無減厚位置の濃度分布
より被検部の母材推定濃度分布を回帰式により作成し、
母材推定濃度分布から被検部の腐食部濃度を差引き凹み
濃度を算出し、算出した凹み濃度を使用して上記標準凹
み濃度と標準凹み深さとの回帰式より被検部の腐食深さ
を算出し、イメ−ジセンサで読み取ったＸ線透過画像を
擬似立体処理し、立体化したＸ線透過画像に被検部の腐
食深さを立体化したＸ線透過画像に書き込み腐食深さ分
布を表示し、上記処理を管の複数個所で行ない、算出し
た被検部の腐食深さに極値統計法を適用して腐食の最大
深さを推定し、表示された各被検部の腐食深さ分布と推
定した腐食の最大深さから管の寿命を予測することを特
徴とする。
【００１０】
【作用】この発明においては、深さが異なる複数の標準
凹みを有するテストピ−スを管の被検部周囲に重ね合わ
せてＸ線を照射し、Ｘ線フィルムにテストピ−スと被検
部のＸ線透過画像を形成する。このＸ線透過画像をイメ
−ジセンサで読み取り、読み取った画像のテストピ−ス
の凹み位置の濃度からその近傍の濃度を差引いて標準凹
み濃度を算出し、Ｘ線フィルムのフィルム面の位置によ
り画像濃度や写真コントラストが異なることにより生じ
る誤差を修正する。この標準凹み濃度と標準凹み深さと
の回帰式を算出し、被検部の設置状況に応じた画像濃度
と凹み深さとの関係を算出する。また、読み取った画像
の被検部の母材位置の濃度分布より被検部の母材推定濃
度分布を回帰式により作成し、Ｘ線透過画像のフィルム
面の位置により異なる画像濃度を補正する。作成した母
材推定濃度分布と被検部各部の濃度の差から腐食による
凹み濃度を算出し、この凹み濃度と上記標準凹み濃度と
標準凹み深さとの回帰式より被検部の腐食による凹み深
さを算出する。この腐食による凹み深さと読み取った画
像の被検部の濃度により、画像を擬似立体処理し、腐食
による凹み深さを表示した凹み分布図を作成する。
凹みを有するテストピ−スを管の被検部周囲に重ね合わ
せてＸ線を照射し、Ｘ線フィルムにテストピ−スと被検
部のＸ線透過画像を形成する。このＸ線透過画像をイメ
−ジセンサで読み取り、読み取った画像のテストピ−ス
の凹み位置の濃度からその近傍の濃度を差引いて標準凹
み濃度を算出し、Ｘ線フィルムのフィルム面の位置によ
り画像濃度や写真コントラストが異なることにより生じ
る誤差を修正する。この標準凹み濃度と標準凹み深さと
の回帰式を算出し、被検部の設置状況に応じた画像濃度
と凹み深さとの関係を算出する。また、読み取った画像
の被検部の母材位置の濃度分布より被検部の母材推定濃
度分布を回帰式により作成し、Ｘ線透過画像のフィルム
面の位置により異なる画像濃度を補正する。作成した母
材推定濃度分布と被検部各部の濃度の差から腐食による
凹み濃度を算出し、この凹み濃度と上記標準凹み濃度と
標準凹み深さとの回帰式より被検部の腐食による凹み深
さを算出する。この腐食による凹み深さと読み取った画
像の被検部の濃度により、画像を擬似立体処理し、腐食
による凹み深さを表示した凹み分布図を作成する。
【００１１】これらの処理を管の複数個所で行なった
後、各凹み分布図に表示された腐食による凹み深さの極
値を決定し、極値統計法を適用して管内の腐食の最大深
さを推定する。
後、各凹み分布図に表示された腐食による凹み深さの極
値を決定し、極値統計法を適用して管内の腐食の最大深
さを推定する。
【００１２】そして、各凹み分布図に表示された腐食深
さ分布と推定した腐食の最大深さとから管内の腐食の状
態を総合的に診断する。
さ分布と推定した腐食の最大深さとから管内の腐食の状
態を総合的に診断する。
【００１３】
【実施例】図１は調査する管のＸ線撮影を行なうときの
配置図、図２は画像処理装置を示すブロック図である。
図１に示すように、管１の腐食を調査するときは、管１
の被検部２にテストピ−ス３を重ね合わせ、この被検部
２にＸ線装置４からＸ線を照射してＸ線フィルム５に被
検部２とテストピ−ス３のＸ線透過画像を形成する。テ
ストピ−ス３は管１と同じ材料で形成され、図３の正面
図に示すように、試験視野部３１の周囲に深さが異なる
複数の標準凹み３２を有する。この標準凹み３２の内部
は管１の内容物と同質の物質により充填されている。な
お、図３において、標準凹み３２内に記載した数字はそ
れぞれ凹み深さを示す。この標準凹み３２の深さはＸ線
フィルム５にＸ線透過画像を形成したときに、Ｘ線フィ
ルム５の位置により濃度やコントラストが異なるため、
それを補正するために同じ深さの標準凹み３２がそれぞ
れ中央部と周辺部に設けられている。
配置図、図２は画像処理装置を示すブロック図である。
図１に示すように、管１の腐食を調査するときは、管１
の被検部２にテストピ−ス３を重ね合わせ、この被検部
２にＸ線装置４からＸ線を照射してＸ線フィルム５に被
検部２とテストピ−ス３のＸ線透過画像を形成する。テ
ストピ−ス３は管１と同じ材料で形成され、図３の正面
図に示すように、試験視野部３１の周囲に深さが異なる
複数の標準凹み３２を有する。この標準凹み３２の内部
は管１の内容物と同質の物質により充填されている。な
お、図３において、標準凹み３２内に記載した数字はそ
れぞれ凹み深さを示す。この標準凹み３２の深さはＸ線
フィルム５にＸ線透過画像を形成したときに、Ｘ線フィ
ルム５の位置により濃度やコントラストが異なるため、
それを補正するために同じ深さの標準凹み３２がそれぞ
れ中央部と周辺部に設けられている。
【００１４】このテストピ−ス３と被検部２のＸ線透過
画像を画像処理装置に読込み処理する。画像処理装置は
図２に示すように、Ｘ線フィルム５に撮影されたＸ線透
過画像を読取るイメ−ジセンサ６と、入力手段７，画像
処理手段８，表示手段９及びプリンタ１０を有する。
画像を画像処理装置に読込み処理する。画像処理装置は
図２に示すように、Ｘ線フィルム５に撮影されたＸ線透
過画像を読取るイメ−ジセンサ６と、入力手段７，画像
処理手段８，表示手段９及びプリンタ１０を有する。
【００１５】まず、管１の腐食の状況を調査し、腐食深
さを表わした凹み分布図を作成するときの動作を図４の
フロ−チャ−トを参照して説明する。
さを表わした凹み分布図を作成するときの動作を図４の
フロ−チャ−トを参照して説明する。
【００１６】管１の腐食を調査するときは、図１に示す
ように、テストピ−ス３とＸ線フィルム５を管１の被検
部２に重ね合わせて設置し、Ｘ線装置４からＸ線を照射
して、テストピ−ス３と被検部２のＸ線透過画像をＸ線
フィルム５に形成する（ステップＳ１）。管１の所定の
サンプリング個所全部のＸ線透過画像をＸ線フィルム５
に形成した後、Ｘ線フイルム５に形成されたＸ線透過画
像をイメ−ジセンサ６で読み取り画像処理手段８に送り
Ｘ線透過画像の画像処理に入る（ステップＳ２，Ｓ
３）。
ように、テストピ−ス３とＸ線フィルム５を管１の被検
部２に重ね合わせて設置し、Ｘ線装置４からＸ線を照射
して、テストピ−ス３と被検部２のＸ線透過画像をＸ線
フィルム５に形成する（ステップＳ１）。管１の所定の
サンプリング個所全部のＸ線透過画像をＸ線フィルム５
に形成した後、Ｘ線フイルム５に形成されたＸ線透過画
像をイメ−ジセンサ６で読み取り画像処理手段８に送り
Ｘ線透過画像の画像処理に入る（ステップＳ２，Ｓ
３）。
【００１７】画像処理手段８は送られたＸ線透過画像か
らテストピ−ス３の画像を抽出して、各標準凹み３２の
位置の濃度からその近傍の濃度を差引いて標準凹み濃度
を算出し、Ｘ線フィルムのフィルム面の位置により画像
濃度や写真コントラストが異なることにより生じる誤差
を修正する（ステップＳ４）。その後、入力手段７から
各標準凹み３２の深さを入力し、標準凹み濃度と標準凹
み深さとの回帰式を算出して、調査する管１の周囲状況
に応じた凹み濃度と凹み深さの相関関係を求め画像処理
手段８のメモリに格納する（ステップＳ５）。
らテストピ−ス３の画像を抽出して、各標準凹み３２の
位置の濃度からその近傍の濃度を差引いて標準凹み濃度
を算出し、Ｘ線フィルムのフィルム面の位置により画像
濃度や写真コントラストが異なることにより生じる誤差
を修正する（ステップＳ４）。その後、入力手段７から
各標準凹み３２の深さを入力し、標準凹み濃度と標準凹
み深さとの回帰式を算出して、調査する管１の周囲状況
に応じた凹み濃度と凹み深さの相関関係を求め画像処理
手段８のメモリに格納する（ステップＳ５）。
【００１８】次に、画像処理手段８は送られたＸ線透過
画像から被検部２の画像を抽出し、抽出した画像から入
力手段７あるいはマウスにより指定された凹みがない被
検部２の複数の位置の母材濃度を抽出して被検部２の母
材推定濃度分布を回帰式により作成し、Ｘ線透過画像の
中央部と端部の濃度差を補正する（ステップＳ６）。こ
の母材推定濃度分布と被検部２の各部の濃度の差を求め
て、腐食による凹み濃度を算出する（ステップＳ７）。
この算出した被検部２の各部の凹み濃度と先に算出した
標準凹み濃度と標準凹み深さとの回帰式とにより被検部
２の凹み深さを算出する（ステップＳ８）。
画像から被検部２の画像を抽出し、抽出した画像から入
力手段７あるいはマウスにより指定された凹みがない被
検部２の複数の位置の母材濃度を抽出して被検部２の母
材推定濃度分布を回帰式により作成し、Ｘ線透過画像の
中央部と端部の濃度差を補正する（ステップＳ６）。こ
の母材推定濃度分布と被検部２の各部の濃度の差を求め
て、腐食による凹み濃度を算出する（ステップＳ７）。
この算出した被検部２の各部の凹み濃度と先に算出した
標準凹み濃度と標準凹み深さとの回帰式とにより被検部
２の凹み深さを算出する（ステップＳ８）。
【００１９】その後、画像処理手段８は算出した被検部
２の凹み深さを利用して被検部２の画像を擬似立体処理
し（ステップＳ９）、図４の説明図に示すように腐食に
よる凹み位置５１に算出した凹み深さ又は管１の母材厚
さから凹み深さを差し引いた腐食部の残存板厚を書き込
み凹み分布図５０を作成する（ステップＳ１０）。
２の凹み深さを利用して被検部２の画像を擬似立体処理
し（ステップＳ９）、図４の説明図に示すように腐食に
よる凹み位置５１に算出した凹み深さ又は管１の母材厚
さから凹み深さを差し引いた腐食部の残存板厚を書き込
み凹み分布図５０を作成する（ステップＳ１０）。
【００２０】これらの処理を管１の所定のサンプリング
個所全部のＸ線透過画像に繰返して行ない、各サンプリ
ング個所の一定面積Ｓの凹み分布図５０を作成し、画像
処理手段８の画像メモリに記憶させるとともにプリンタ
１０で印刷する（ステップＳ１１）。
個所全部のＸ線透過画像に繰返して行ない、各サンプリ
ング個所の一定面積Ｓの凹み分布図５０を作成し、画像
処理手段８の画像メモリに記憶させるとともにプリンタ
１０で印刷する（ステップＳ１１）。
【００２１】次ぎに、上記のように作成された凹み分布
図５０に表示された腐食部の凹み深さを利用して管１全
体における最大腐食深さを推定する場合の動作を図６の
フロ−チャ−トを参照して説明する。
図５０に表示された腐食部の凹み深さを利用して管１全
体における最大腐食深さを推定する場合の動作を図６の
フロ−チャ−トを参照して説明する。
【００２２】局部腐食による凹み深さの極値である最大
腐食深さの集合に統計処理を施すと、図７に示すように
非対象分布である２重指数分布（グンベル分布）、すな
わち確率変数ｙ＝（ｘ−λ）／α，確率分布関数Ｆ
(ｙ）＝ｅｘｐ{−ｅｘｐ(−ｙ）}に従う。ここでｘは最
大腐食深さ、αは尺度パラメ−タ、λは位置パラメ−タ
である。
腐食深さの集合に統計処理を施すと、図７に示すように
非対象分布である２重指数分布（グンベル分布）、すな
わち確率変数ｙ＝（ｘ−λ）／α，確率分布関数Ｆ
(ｙ）＝ｅｘｐ{−ｅｘｐ(−ｙ）}に従う。ここでｘは最
大腐食深さ、αは尺度パラメ−タ、λは位置パラメ−タ
である。
【００２３】そこで検査者は、まず各凹み分布図５０か
ら各サンプリング個所の凹み深さの極値から最大腐食深
さｘを決定する（ステップＳ２１）。この各サンプリン
グ個所の最大腐食深さｘを小さい順に並べて累積確率Ｆ
1(ｙ)を算出する（ステップＳ２２）。次ぎに算出した
累積確率Ｆ1(ｙ)を図８に示すようにグンベル確率紙に
小さい順に打点する（ステップＳ２３）。そしてグンベ
ル確率紙上の各打点を結んで直線Ｌ1を引いたり、累積
確率Ｆ1(ｙ)＝0.5の位置に最大腐食深さｘの平均値を打
点し、累積確率Ｆ1(ｙ)＝0.84の位置に最大腐食深さｘ
の平均値＋標準偏差の値を打点して両打点位置を結んで
直線Ｌ1を引く（ステップＳ２４）。
ら各サンプリング個所の凹み深さの極値から最大腐食深
さｘを決定する（ステップＳ２１）。この各サンプリン
グ個所の最大腐食深さｘを小さい順に並べて累積確率Ｆ
1(ｙ)を算出する（ステップＳ２２）。次ぎに算出した
累積確率Ｆ1(ｙ)を図８に示すようにグンベル確率紙に
小さい順に打点する（ステップＳ２３）。そしてグンベ
ル確率紙上の各打点を結んで直線Ｌ1を引いたり、累積
確率Ｆ1(ｙ)＝0.5の位置に最大腐食深さｘの平均値を打
点し、累積確率Ｆ1(ｙ)＝0.84の位置に最大腐食深さｘ
の平均値＋標準偏差の値を打点して両打点位置を結んで
直線Ｌ1を引く（ステップＳ２４）。
【００２４】その後、各サンプリング個所の面積Ｓと検
査個所の管１の面積Ａとから再帰時間Ｔを算出する（ス
テップＳ２５）。この再帰時間ＴはＴ回の試験回数を行
なえば腐食量ａの値が得られるのがほぼ確実と考えられ
ることを意味するものであり、各サンプリング個所の面
積Ｓの試料の最大腐食深さの確率分布関数Ｆ(ｙ）から
検査個所の管１の面積Ａの試料の最大腐食深さを推定す
るには、大きな面積Ａの試料は小さな面積Ｓの試料のＡ
／Ｓ個集合として考えられる。そこで再帰時間Ｔ＝ｎを
ｎ＝Ａ／Ｓとして求める。
査個所の管１の面積Ａとから再帰時間Ｔを算出する（ス
テップＳ２５）。この再帰時間ＴはＴ回の試験回数を行
なえば腐食量ａの値が得られるのがほぼ確実と考えられ
ることを意味するものであり、各サンプリング個所の面
積Ｓの試料の最大腐食深さの確率分布関数Ｆ(ｙ）から
検査個所の管１の面積Ａの試料の最大腐食深さを推定す
るには、大きな面積Ａの試料は小さな面積Ｓの試料のＡ
／Ｓ個集合として考えられる。そこで再帰時間Ｔ＝ｎを
ｎ＝Ａ／Ｓとして求める。
【００２５】この再帰時間Ｔ＝ｎと１試料中の最大腐食
深さの推定分布直線Ｌ1との交点ＰよりＦ(ｙ）軸に平行
な直線を引き、ｙ＝０の直線との交点Ｑを求め、点Ｑか
ら直線Ｌ1と平行な直線Ｌ2を引くことにより管１の面積
Ａにおける最大腐食深さの推定分布直線を得ることがで
きる。そして管１の面積Ａに生じる最大腐食深さ分布の
最頻値ｘ(max)から管１の面積Ａに生じている最大腐食
深さを推定する（ステップＳ２６）。なお、尺度パラメ
−タαは直線Ｌ1の勾配から、位置パラメ−タλはｙ＝
０すなわちＦ1(ｙ）＝0.368の直線と直線Ｌ1の交点にお
ける最大腐食深さｘから得ることができる。
深さの推定分布直線Ｌ1との交点ＰよりＦ(ｙ）軸に平行
な直線を引き、ｙ＝０の直線との交点Ｑを求め、点Ｑか
ら直線Ｌ1と平行な直線Ｌ2を引くことにより管１の面積
Ａにおける最大腐食深さの推定分布直線を得ることがで
きる。そして管１の面積Ａに生じる最大腐食深さ分布の
最頻値ｘ(max)から管１の面積Ａに生じている最大腐食
深さを推定する（ステップＳ２６）。なお、尺度パラメ
−タαは直線Ｌ1の勾配から、位置パラメ−タλはｙ＝
０すなわちＦ1(ｙ）＝0.368の直線と直線Ｌ1の交点にお
ける最大腐食深さｘから得ることができる。
【００２６】このようにして推定した最大腐食深さｘ(m
ax)と各サンプリング個所の凹み分布図５０を総合的に
判断して管１の腐食の発生状況を診断する。
ax)と各サンプリング個所の凹み分布図５０を総合的に
判断して管１の腐食の発生状況を診断する。
【００２７】なお、上記実施例は管１の最大腐食深さｘ
(max)をグンベル記録紙に基づき推定した場合について
説明したが、各サンプリング個所の凹み深さの最大腐食
深さｘとサンプリング個所の面積Ａ及び管１の面積Ａか
ら最大腐食深さの推定分布直線と最大腐食深さｘ(max)
を推定しても良い。
(max)をグンベル記録紙に基づき推定した場合について
説明したが、各サンプリング個所の凹み深さの最大腐食
深さｘとサンプリング個所の面積Ａ及び管１の面積Ａか
ら最大腐食深さの推定分布直線と最大腐食深さｘ(max)
を推定しても良い。
【００２８】
【発明の効果】この発明は以上説明したように、深さが
異なる複数の標準凹みを有するテストピ−スを管の被検
部周囲に重ね合わせてＸ線を照射し、Ｘ線フィルムにテ
ストピ−スと被検部のＸ線透過画像を形成し、テストピ
−スの標準凹みの濃度を利用して腐食深さを算出し、擬
似立体処理した画像に表示するようにしたから、被検部
の腐食の状態を目視で正確に確認することができる。
異なる複数の標準凹みを有するテストピ−スを管の被検
部周囲に重ね合わせてＸ線を照射し、Ｘ線フィルムにテ
ストピ−スと被検部のＸ線透過画像を形成し、テストピ
−スの標準凹みの濃度を利用して腐食深さを算出し、擬
似立体処理した画像に表示するようにしたから、被検部
の腐食の状態を目視で正確に確認することができる。
【００２９】また、作成した複数個所の各凹み分布図に
表示された腐食による凹み深さの最大値に極値統計法を
適用することにより、管内の腐食の最大深さを精度良く
推定することができる。
表示された腐食による凹み深さの最大値に極値統計法を
適用することにより、管内の腐食の最大深さを精度良く
推定することができる。
【００３０】さらに、各凹み分布図に表示された腐食深
さ分布と管の検査対象部の推定した最大腐食深さとから
管内の腐食の状態を総合的に診断することにより、活管
内面の腐食の状況を正確に診断することができる。
さ分布と管の検査対象部の推定した最大腐食深さとから
管内の腐食の状態を総合的に診断することにより、活管
内面の腐食の状況を正確に診断することができる。
【図１】調査する管のＸ線撮影を行なうときの配置図で
ある。
ある。
【図２】画像処理装置を示すブロック図である。
【図３】テストピ−スを示す正面図である。
【図４】腐食深さを表わした凹み分布図を作成するとき
の動作を示すフロ−チャ−トである。
の動作を示すフロ−チャ−トである。
【図５】凹み分布図を示す説明図である。
【図６】最大腐食深さを推定するときの処理を示すフロ
−チャ−トである。
−チャ−トである。
【図７】グンベル分布の確率分布関数を示す特性図であ
る。
る。
【図８】グンベル確率紙を示す説明図である。
１ 管 ３ テストピ−ス ４ Ｘ線装置 ５ Ｘ線フィルム ６ イメ−ジセンサ ８ 画像処理手段 ９ 表示手段 １０ プリンタ ５０ 凹み分布図
Claims (1)
- 【請求項１】 深さが異なる複数の標準凹みを有するテ
ストピ−スを管の被検部近傍に重ね合わせてＸ線を照射
し、Ｘ線フィルムにＸ線透過画像を形成し、 Ｘ線透過画像をイメ−ジセンサで読み取り、読み取った
画像のテストピ−スの凹み位置の濃度からその近傍の濃
度を差引いて標準凹み濃度を算出し、標準凹み濃度と標
準凹み深さとの回帰式を算出し、被検部の無減厚位置の
濃度分布より被検部の母材推定濃度分布を回帰式により
作成し、母材推定濃度分布から被検部の腐食部濃度を差
引き凹み濃度を算出し、算出した凹み濃度を使用して上
記標準凹み濃度と標準凹み深さとの回帰式より被検部の
腐食深さを算出し、 イメ−ジセンサで読み取ったＸ線透過画像を擬似立体処
理し、立体化したＸ線透過画像に被検部の腐食深さを立
体化したＸ線透過画像に書き込み腐食深さ分布を表示
し、 上記処理を管の複数個所で行ない、算出した被検部の腐
食深さに極値統計法を適用して腐食の最大深さを推定
し、 表示された各被検部の腐食深さ分布と推定した腐食の最
大深さから管の寿命を予測することを特徴とする管内面
の腐食診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5028472A JP3043918B2 (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | 管内面の腐食診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5028472A JP3043918B2 (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | 管内面の腐食診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06221840A JPH06221840A (ja) | 1994-08-12 |
| JP3043918B2 true JP3043918B2 (ja) | 2000-05-22 |
Family
ID=12249599
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5028472A Expired - Lifetime JP3043918B2 (ja) | 1993-01-26 | 1993-01-26 | 管内面の腐食診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3043918B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5083821B2 (ja) * | 2008-02-07 | 2012-11-28 | 株式会社竹中工務店 | 超音波センサ付きの検査装置を用いた導管の腐食状態の検査方法及び腐食状態の検査方法の適用に適した導管の構造 |
| JP5783437B2 (ja) * | 2010-09-30 | 2015-09-24 | 東京電力株式会社 | Ｌｎｇオープンラック式気化器伝熱管パネルの診断方法 |
-
1993
- 1993-01-26 JP JP5028472A patent/JP3043918B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06221840A (ja) | 1994-08-12 |
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