JP7466588B2 - 解析システム、解析方法、および解析プログラム - Google Patents

Description

本開示は、構造物の壁面情報を解析する解析システム、解析方法、および解析プログラムに関するものである。

トンネル、道路、または橋などの構造物の検査では、構造物の壁面を目視して壁面に発生している変状を検出することが行われていた。近年、構造物の検査の効率化のために計測装置を用いて構造物の壁面情報を取得し、取得した壁面情報を解析して構造物の変状を検出することが行われている。計測装置には、ＭＭＳ（Mobile Mapping System）、ドローンなどの移動型計測装置、および人によって計測される計測装置が例示される。

また、検出された変状の健全度を判定し、健全度に応じて経過観察、修理といった措置が取られていた。なお、計測装置を用いて得られる構造物の壁面情報には、レーザスキャナを用いて取得された３次元点群データ、撮像装置を用いて取得された画像データなどが例示される。また、構造物の変状には、ひび割れ、浮き、剥落、エフロレッセンス、鉄筋露出、腐食、漏水、滴水、欠損、コールドジョイント、析出物、ジャンカなどが例示される。

特許文献１には、異なる時期に取得された壁面情報を解析して得られた変状同士の差分を求めることにより、変状の進行の度合いを算出する解析システムが開示されている。変状の進行の度合いを把握することで、変状に対する修理といった措置の緊急度を把握することが可能となる。

特開２０２２－５６０８５号公報

しかしながら、上記従来の技術によれば、構造物全体の変状の進行の度合いを把握するためには異なる時期に取得された壁面情報の全体を解析する必要がある。トンネル、道路、または橋といった大型の構造物全体の解析をするためには解析する情報が大きくなるため、解析にかかる時間、費用が増大してしまうという問題があった。

本開示は、上記に鑑みてなされたものであって、異なる時期に取得された構造物の壁面情報を用いた解析に必要となる時間および費用の縮小を図ることができる解析システムを得ることを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本開示は、同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析システムであって、壁面情報が取得された時期に対応づけられた検査種別に応じて、壁面の特定の範囲について壁面情報を解析する第１の処理と、特定の範囲よりも広い範囲について壁面情報を解析する第２の処理とのいずれか一方を行う解析部と、解析部による解析結果に基づいて変状の健全度を判定する第１の判定部と、解析部が第１の処理および第２の処理を行う前の壁面情報に基づいて壁面の状態を判定する第２の判定部と、を備え、解析部は、今回の検査について第１の処理を行う場合、今回の検査以前に第１の判定部によって判定された健全度に基づいて抽出される範囲と、第２の判定部によって今回の検査の壁面情報で要解析と判定された範囲とを含む特定の範囲について第１の処理を行う。

本開示によれば、異なる時期に取得された構造物の壁面情報を用いた解析に必要となる時間および費用の縮小を図ることができる解析システムを得ることができるという効果を奏する。

実施の形態１にかかる解析システムの機能構成を示す図 実施の形態１における計測装置がトンネル内の壁面を計測している状態の一例を模式的に示す図 実施の形態１における計測装置によって生成された３次元点群データを示す図 実施の形態１における記憶部に記憶された検査種別テーブルの一例を示す図 実施の形態１における変状の健全度と、健全度に対する処置の対応関係を示す図 変状展開図の一例を示す図 変状展開図の一例を示す図 変状展開図の一例を示す図 コンター図の一例を示す図 コンター図の一例を示す図 コンター図の一例を示す図 実施の形態１にかかる解析システムによる検査手順を説明するフローチャート 実施の形態１にかかる解析システムのハードウェア構成を示す図

以下に、実施の形態にかかる解析システム、解析方法、および解析プログラムを図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。

実施の形態１．
図１は、実施の形態１にかかる解析システムの機能構成を示す図である。実施の形態１では、解析システム１によって解析される構造物は道路または線路の途中に設けられるトンネルである場合を例示する。トンネルに例示される構造物は、定期的に検査が行われる。例えば、２年ごとに検査が行われ、検査で検出された変状の健全度が判定される。健全度に応じて経過観察するまたは修理するといった変状箇所への措置が決定される。実施の形態１にかかる解析システム１は、上述した構造物の検査に用いられる。

解析システム１は、計測装置１０と、記憶部２０と、処理部３０と、表示部４０と、入力部５０とを備える。計測装置１０は、構造物の壁面情報を取得する装置である。例えば、道路上のトンネルの壁面情報を走行しながら取得するのであれば計測装置１０には自動車、軌陸車が例示される。また、線路上のトンネルの壁面情報を走行しながら取得するのであれば計測装置１０には鉄道車両、軌陸車が例示される。

計測装置１０は、レーザスキャナ装置１１、撮像装置１２、姿勢・位置計測装置１３を有している。

図２は、実施の形態１における計測装置がトンネル内の壁面を計測している状態の一例を模式的に示す図である。計測装置１０は、図２に示すように、トンネルの壁面の３次元点群データを取得するレーザスキャナ装置１１を有する。取得された３次元点群データは記憶部２０に向けて送信される。図３は、実施の形態１における計測装置によって生成された３次元点群データを示す図である。３次元点群データは、計測装置１０によって取得される壁面情報の１つである。

計測装置１０は、トンネル内を走行しながらトンネルの壁面を撮影して画像データを取得する撮像装置１２を有する。撮像装置１２は、例えば８Ｋカメラである。画像データは記憶部２０に向けて送信される。画像データは、計測装置１０によって取得される壁面情報の１つである。

姿勢・位置計測装置１３は、例えばＧＰＳ（Ｇｒｏｂａｌ Ｐｏｓｉｔｉｏｎｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）レシーバ、レーザードップラー速度計、パルス速度計、ＩＭＵ（慣性計測装置：Ｉｎｅｒｔｉａｌ Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ Ｕｎｉｔ）である。姿勢・位置計測装置１３によって計測された計測装置１０の姿勢を示す姿勢情報と計測装置１０の位置を示す位置情報は、記憶部２０に向けて送信される。

記憶部２０は、各種情報を記憶する記憶装置である。記憶部２０には、計測装置１０から送信された３次元点群データと画像データとが、両データの取得時期および取得位置と関連付けて記憶される。取得時期は、例えば計測装置１０によって取得された年度である。両データの取得時期は、トンネルの検査が実施された時期を示す情報となる。実施の形態１では、検査が実施された時期を、検査年度とも称する。また、３次元点群データと画像データとをまとめて壁面情報とも称する。

記憶部２０には、検査の種別を示す検査種別と検査年度とが関連付けられた検査種別テーブルが記憶されている。検査種別には詳細検査と簡易検査とが含まれる。後に詳説するが、処理部３０において壁面情報への処理が検査種別によって異なる。

図４は、実施の形態１における記憶部に記憶された検査種別テーブルの一例を示す図である。図４に示す検査種別テーブルによれば、例えば、２０２２年に実施される検査は詳細検査（鉄道の場合、特別全般検査に相当）であり、２０２４年に実施される検査は簡易検査（鉄道の場合、通常全般検査に相当）である。また、図４に示す検査種別テーブルでは、２０２２年の詳細検査の後は、２年ごとに簡易検査が行われ、２０年ごとに詳細検査が行われる。なお、検査年度と検査種別との関係はテーブル情報として予め記憶されていてもよいが、検査実施時に検査の実施者が都度入力するようにしてもよい。

記憶部２０には、第１の判定結果が記憶される。第１の判定結果は、トンネルの健全度を示す情報である。第１の判定結果の取得手順などは後に詳説する。記憶部２０には、第２の判定結果が記憶される。第２の判定結果は、簡易検査で得られる情報であり、壁面情報を詳細に解析する必要がある範囲を示す情報である。第２の判定結果の取得手順などは後に詳説する。

記憶部２０には、壁面情報を解析した解析結果が記憶される。解析結果は例えば変状展開図およびコンター図である。なお、以下の説明では変状展開図およびコンター図の両方を解析結果として作成する例を挙げているが、いずれか一方のみが解析結果として作成されてもよい。

処理部３０は、解析部３１、第１の判定部３２、第２の判定部３３、分析部３４、表示処理部３５を備える。解析部３１は、計測装置１０によって取得された壁面情報を解析する。解析部３１は、処理種類判別部３１１、を有する。

処理種類判別部３１１は、記憶部２０に記憶された検査種別テーブルを参照して、壁面情報に行う処理の種類を判別する。具体的には、詳細検査では広範囲解析処理（第２の処理）が行われ、簡易検査では部分解析処理（第１の処理）が行われる。次に、広範囲解析処理および部分解析処理の手順等について説明する。

＜広範囲解析処理について＞
広範囲解析処理では、部分解析処理よりも広い範囲で壁面情報の詳細な解析が行われる。実施の形態１では、取得された壁面情報の全体で詳細な解析が行われる。広範囲解析処理では、解析処理部３１２は、記憶部２０に記憶された壁面情報を取得する。解析処理部３１２は、取得した構造物全体の壁面情報を解析して変状を検出する。変状は、例えばひび割れ、浮き、剥落、エフロレッセンス、鉄筋露出、腐食、漏水、滴水、欠損、コールドジョイント、析出物、ジャンカなどが例示される。

解析処理部３１２は、検出した変状に基づいて変状展開図を作成する。変状展開図とは、壁面情報を取得した壁面を平面状に展開した展開図を作成し、検出された変状を展開図上でその変状が検出された位置に表した図である。実施の形態１のように構造物がトンネルであれば、半円筒形状であるトンネルの壁面を平面状に展開した展開図を作成し、展開図上に検出された変状を反映させた図となる。作成された変状展開図は記憶部２０に向けて送信される。

解析処理部３１２は、取得した構造物全体の壁面情報を解析して壁面のひずみを算出する。解析処理部３１２は、異なる年度に取得された壁面情報同士の比較または基準となる壁面形状との比較によってひずみを算出する。解析処理部３１２は、算出されたひずみに基づいてコンター図を作成する。コンター図は、算出されたひずみを等高線（等値線）で示した図である。作成されたコンター図は記憶部２０に向けて送信される。

＜部分解析処理について＞
部分解析処理では、トンネルの特定の範囲で壁面情報の詳細な解析が行われる。部分解析処理では、解析処理部３１２は、前回の検査で取得された壁面情報に対する第１の判定部３２による判定の結果で、健全度が中健全度（第２の健全度）であると判定された範囲を上述した特定の範囲に含める。なお、第１の判定部３２による判定の結果が第１の判定結果であり、判定の手順などについては後に詳説する。また、前回の検査で中健全度と判定された範囲を前回中健全度範囲と称する。

また、部分解析処理では今回の検査で取得した壁面情報について第２の判定部による判定が行われる。解析処理部３１２は、第２の判定部３３による判定の結果で、要解析と判定された範囲を上述した特定の範囲に含める。なお、以下の説明において、要解析と判定された範囲を要解析範囲とも称する。また、第２の判定部３３による判定の結果が第２の判定結果であり、判定の手順などについては後に詳説する。

このように、部分解析処理では、構造物全体ではなく特定の範囲、すなわち広範囲解析処理よりも狭い範囲で壁面情報の解析が解析処理部３１２によって行われる。なお、部分解析処理での特定の範囲に対する解析は、広範囲解析処理と同様の解析が行われる。すなわち、特定の範囲で壁面情報を解析し、変状展開図およびコンター図が作成される。

次に、第１の判定部３２および第２の判定部３３による判定について説明する。

＜第１の判定部３２による判定について＞
第１の判定部３２は、今回の検査で取得された壁面情報に対して広範囲解析処理が行われた場合、すなわち今回の検査が詳細検査である場合には、広範囲解析処理によって作成された変状展開図およびコンター図を用いて変状の健全度の判定を行う。すなわち、構造物の全体に対して変状の健全度の判定が行われる。

第１の判定部３２は、今回の検査で取得された壁面情報に対して部分解析処理が行われた場合、すなわち今回の検査が簡易検査である場合には、部分解析処理によって作成された変状展開図およびコンター図を用いて変状の健全度の判定を行う。すなわち、構造物の特定の範囲で変状の健全度の判定が行われる。

図５は、実施の形態１における変状の健全度と、健全度に対する処置の対応関係を示す図である。健全度は、変状の進行度合いおよび程度などに基づいて定められる指標である。健全度が低健全度（第１の健全度）と判定された場合には、当該箇所について過去の検査結果に遡って壁面情報の解析が行われる。また、健全度が中健全度と判定された場合には、将来的に低健全度になるおそれがあるものとして記録される。また、高健全度と判定された場合には、トンネルの機能に支障が生じていない状態であり、特別の措置は取られない。

第１の判定部３２は、判定された範囲と健全度とを対応付けた情報を記憶部２０に送信する。判定された範囲と健全度とを対応付けた情報が第１の判定結果として記憶部２０に記憶される。図５に示した例では健全度が３つに区分されて設定されているが、２つに区分されて設定されていてもよいし、より細かく区分されて設定されていてもよい。

ここで、変状展開図と健全度の判定例およびコンター図と健全度の判定例を示す。図６から図８は、変状展開図の一例を示す図である。

図６に示す例では、変状は存在するものの、低健全度および中健全度と判定されるような変状は存在していない。図７に示す例では、変状として漏水、剥落が発生している範囲Ａが中健全度と判定される。図８に示す例では、変状として漏水、ひび割れ、剥落が同時に発生している範囲Ｂが低健全度と判定される。

図９から図１１は、コンター図の一例を示す図である。図９に示す例では、大きなひずみは見られず、低健全度および中健全度と判定されるひずみは存在していない。図１０に示す例では、ひずみはあるもののその範囲は限定的である範囲Ｃが中健全度と判定される。図１１に示す例では、ひずみのある範囲が大きく、その範囲Ｄが低健全度と判定される。

＜第２の判定部３３による判定について＞
第２の判定部３３は、今回の検査で取得された壁面情報に対して部分解析処理が行われる場合、すなわち今回の検査が簡易検査である場合には、解析処理部３１２による部分解析処理が必要となる要解析範囲を抽出する判定を行う。第２の判定部３３による判定は部分解析処理の前に行われる。要解析範囲は、例えば、健全度が中健全度となる変状および低健全度となる変状が存在すると予想される範囲である。

第２の判定部３３による判定は、解析処理部３１２による解析が行われる前の壁面情報に基づいて行われる。そのため、解析処理部３１２による解析に基づいて行われる第１の判定部３２による判定に比べて、その精度は低いものとなる。

そのため、部分解析処理では、要解析範囲に対して解析処理部３１２による解析を行い、その解析結果に対して第１の判定部３２による判定を行うことで、解析を行う範囲を限定しつつ、その限定された範囲ではより正確な健全度の判定を行っている。

＜分析部３４による分析処理について＞
分析部３４は、広範囲解析処理および部分解析処理における第１の判定部３３による判定結果で低健全度となった範囲があった場合、過去の検査において未解析の壁面情報があるかを確認する。ここで、詳細検査で行われる広範囲解析処理では、構造物全体の壁面情報が解析されるので未解析の壁面情報はない。一方、簡易検査で行われる部分解析処理では特定の範囲のみ壁面情報が解析されるので、未解析の壁面情報が存在する。したがって、今回の検査と前回の詳細検査との間に簡易検査が行われていれば過去の検査において未解析の壁面情報があると判定される。

分析部３４は、部分解析処理において第１の判定部３３による判定結果が低健全度となった範囲について、過去の未解析となった壁面情報を解析処理部３１２に解析させる。すなわち、部分解析処理において第１の判定部３３による判定結果が低健全度となった範囲について過去の検査時の変状展開図およびコンター図が作成される。また、ここで作成された変状展開図およびコンター図は、解析結果として記憶部２０に記憶される。

過去の部分解析処理では第２の判定部３３による判定では要解析範囲として抽出されなかったものの、実際には変状がすでに発生している場合がある。つまり、過去の部分解析処理では検出されなかった変状が存在している場合がある。このような変状がその後に低健全度と判定される状態に進行し、今回の検査で検出される場合がある。このような場合、従来であれば今回の検査で検出された変状の状態は把握できるものの、その進行の度合いまでは把握することが難しかった。一方、実施の形態１にかかる解析システムでは、変状が低健全度と判定された範囲について過去に遡って変状の検出が行われるので、変状の進行の度合いを把握することができる。

例えば、図６に示した変状展開図が２０２４年の簡易検査で行われた部分解析処理の解析結果であり、図７に示した変状展開図が２０２６年の簡易検査で行われた部分解析処理の解析結果であり、図８に示した変状展開図が２０２８年の簡易検査で行われた部分解析処理の解析結果であるとする。そして、図７で示した範囲Ａの変状が部分解析処理では要解析範囲として検出されず解析処理部３１２による解析は行われておらず、図８で示した範囲Ｂの変状が部分解析処理で要解析範囲と判定されて解析の結果で低健全度と判定されたとする。この場合、分析部３４の指示で、２０２４年に取得された壁面情報の範囲Ｂに相当する範囲が解析処理部３１２によって解析される。また、２０２６年に取得された壁面情報の範囲Ａが解析処理部３１２によって解析される。２０２４年の壁面情報の解析結果では変状は検出されないが、２０２６年の壁面情報の解析結果では範囲Ａの変状が検出される。

表示処理部３５は、解析結果を表示部４０に表示させる。表示部４０は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display：液晶表示パネル）などで構成され、解析システム１のユーザに対して各種画面を表示する。表示部４０はタッチパネルであってもよい。

例えば、表示処理部３５は、図７から図８に示した変状展開図を並べて表示部４０に表示させる。これにより、解析システム１の使用者は、変状の進行度合いを把握することが可能となる。また、変状の進行度合いを把握することで、同じ低健全度と判定される変状であっても、修理などの必要な措置の緊急の度合いをより適切に判断しやすくなる。

入力部５０は、ユーザが操作して情報を入力可能な装置であり、例えばキーボードである。表示部４０がタッチパネルであれば表示部４０を入力部５０として機能させることができる。

次に、解析システム１による検査手順を、フローチャートを用いて説明する。図１２は、実施の形態１にかかる解析システムによる検査手順を説明するフローチャートである。なお、図１２に示す検査が行われる前にも検査が行われており、その結果が記憶部２０に記憶されているものとする。

まず、計測装置１０によって壁面情報が取得される（ステップＳ１）。取得される壁面情報は、詳細検査であっても簡易検査であっても差異はない。次に、取得された壁面情報が記憶部２０に記憶される（ステップＳ２）。次に、今回の検査が、詳細検査であるか、簡易検査であるかが判別される（ステップＳ３）。

今回の検査が詳細検査である場合には（ステップＳ３，Ｙｅｓ）、検査区間のすべての壁面情報に基づいた解析が行われ、変状展開図およびコンター図が作成され（ステップＳ４）、解析結果が記憶部２０に記憶される（ステップＳ５）。

今回の検査が簡易検査である場合には（ステップＳ３，Ｎｏ）、壁面情報に基づいて第２の判定部３３による判定が行われる（ステップＳ６）。第２の判定部による判定の結果で要解析範囲と判定された範囲、または前回の検査において中健全度と判定された前回中健全度範囲があった場合には（ステップＳ７，Ｙｅｓ）、その範囲に対して壁面情報の解析が行われ（ステップＳ８）、解析結果が記憶部２０に記憶される（ステップＳ９）。なお、要解析範囲および前回中健全度範囲がなかった場合には（ステップＳ７，Ｎｏ）、処理が終了する。

ステップＳ５の次に、またはステップＳ９の次に、解析結果に基づいて第１の判定部３２による健全度の判定が行われる（ステップＳ１０）。ここで、低健全度と判定された範囲がある場合には（ステップＳ１１，Ｙｅｓ）、過去の検査において未解析であった壁面情報の有無が判別される（ステップＳ１２）。なお、詳細検査では広範囲解析処理が行われるので壁面情報の全体に対して解析が行われる。したがって、広範囲解析処理が行われる検査では過去の未解析の壁面情報はない。そのため、未解析であった壁面情報の有無の判別は、第２の処理が行われる過去の検査と今回の検査との間に第１の処理が行われる検査の有無によって判別される。

ここで、未解析であった壁面情報があった場合には（ステップＳ１３，Ｙｅｓ）、未解析の壁面情報について、今回の検査で低健全度と判定された範囲について解析処理部３１２による解析が行われ（ステップＳ１４）、解析結果が記憶部２０に記憶される（ステップＳ１５）。

未解析であった壁面情報が無かった場合（ステップＳ１３，Ｎｏ）、およびステップＳ１５の後には、解析結果を表示部４０に表示させ（ステップＳ１６）、処理が終了する。表示部４０に表示される内容は、例えば今回の検査における解析結果と以前の検査における解析結果である。なお、ステップＳ１１において低健全度と判定された範囲が無かった場合にも（ステップＳ１１，Ｎｏ）処理が終了する。

図１３は、実施の形態１にかかる解析システムのハードウェア構成を示す図である。解析システム１は、図１３に示したプロセッサ３０１およびメモリ３０２により実現することができる。プロセッサ３０１の例は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ、中央処理装置、処理装置、演算装置、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、プロセッサ、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）ともいう）またはシステムＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ Ｓｃａｌｅ Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）である。メモリ３０２の例は、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）またはＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）である。

解析システム１は、プロセッサ３０１が、メモリ３０２で記憶されている解析システム１の動作を実行するためのプログラムを読み出して実行することにより実現される。また、このプログラムは、解析システム１の手順または方法をコンピュータに実行させるものであるともいえる。メモリ３０２は、プロセッサ３０１が各種処理を実行する際の一時メモリにも使用される。

プロセッサ３０１が実行するプログラムは、コンピュータで実行可能な、データ処理を行うための複数の命令を含むコンピュータ読取り可能かつ非遷移的な（ｎｏｎ－ｔｒａｎｓｉｔｏｒｙ）記録媒体を有するコンピュータプログラムプロダクトであってもよい。プロセッサ３０１が実行するプログラムは、複数の命令がデータ処理を行うことをコンピュータに実行させる。

また、解析システム１を専用のハードウェアで実現してもよい。また、解析システム１の機能について、一部を専用のハードウェアで実現し、一部をソフトウェアまたはファームウェアで実現するようにしてもよい。

以上説明した解析システム１によれば、簡易検査では取得した壁面情報の一部のみ解析しているので、解析に必要となる時間および費用の縮小を図ることができる。また、低健全度と判定された範囲については過去に遡って壁面情報の解析をするので、変状の進行度合いなどもより正確に把握することができる。したがって、変状の修理など必要な措置を実施する緊急度もより正確かつより細やかに把握することが可能となる。また、過去に遡っての壁面情報の解析は、壁面情報の全体を解析するものではないので、解析に必要となる時間および費用の増大も防ぐことができる。ここで、詳細検査であっても簡易検査であっても取得する壁面情報について大きな差を設けていないため、過去に遡っての詳細な解析が可能となっている。

なお、記憶部２０は解析システム１の外部に設けられていてもよく、例えば解析システム１とネットワークで接続されたクラウドであってもよい。

また、簡易検査において第２の判定部３３によって判定される要解析範囲は、第２の判定部３３による判定に代えて、利用者が入力部５０を操作して入力するように構成されていてもよい。例えば、変状展開図およびコンター図に変換される前の３次元点群データおよび画像データを利用者が目視して要解析範囲を抽出し、入力部５０を操作してその範囲を入力してもよい。

また、実施の形態１にかかる解析システム１では、解析結果を表示部４０に表示させて利用者が変状の進行度合いを把握しやすいようにしているが、解析システム１が解析結果に基づいて変状の進行度合いを判別し、判別した進行度を利用者に提示するようにしてもよい。例えば、健全度と同様に進行の度合いも指標で表して表示部４０に表示させてもよい。

以上の実施の形態に示した構成は、本開示の内容の一例を示すものであり、別の公知の技術と組み合わせることも可能であるし、本開示の要旨を逸脱しない範囲で、構成の一部を省略、変更することも可能である。

１ 解析システム、１０ 計測装置、１１ レーザスキャナ装置、１２ 撮像装置、１３ 姿勢・位置計測装置、２０ 記憶部、３０ 処理部、３１ 解析部、３２ 第１の判定部、３３ 第２の判定部、３４ 分析部、３５ 表示処理部、４０ 表示部、５０ 入力部、３０１ プロセッサ、３０２ メモリ、３１１ 処理種類判別部、３１２ 解析処理部。

Claims (7)

1. 同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析システムであって、
   前記壁面情報が取得された時期に対応づけられた検査種別に応じて、前記壁面の特定の範囲について前記壁面情報を解析する第１の処理と、前記特定の範囲よりも広い範囲について前記壁面情報を解析する第２の処理とのいずれか一方を行う解析部と、
   前記解析部による解析結果に基づいて前記変状の健全度を判定する第１の判定部と、
   前記解析部が前記第１の処理および前記第２の処理を行う前の前記壁面情報に基づいて前記壁面の状態を判定する第２の判定部と、
   を備え、
   前記解析部は、今回の検査について前記第１の処理を行う場合、今回の検査以前に前記第１の判定部によって判定された前記健全度に基づいて抽出される範囲と、前記第２の判定部によって今回の検査の前記壁面情報で要解析と判定された範囲とを含む前記特定の範囲について前記第１の処理を行うことを特徴とする解析システム。
2. 同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析システムであって、
   前記壁面情報が取得された時期に対応づけられた検査種別に応じて、前記壁面の特定の範囲について前記壁面情報を解析する第１の処理と、前記特定の範囲よりも広い範囲について前記壁面情報を解析する第２の処理とのいずれか一方を行う解析部と、
   前記解析部による解析結果に基づいて前記変状の健全度を判定する第１の判定部と、
   前記第１の判定部によって判定された前記健全度が第１の健全度である範囲に対して、以前に取得されて前記第１の処理が行われた前記壁面情報に遡って過去の未解析となった前記壁面情報を前記解析部に解析させる分析部と、
   を備えることを特徴とする解析システム。
3. 前記分析部は、前記第２の処理が行われる過去の検査と今回の検査との間に前記第１の処理が行われた検査が存在する場合、前記過去の未解析となった壁面情報が存在すると判断し、前記第２の処理が行われる過去の検査と今回の検査との間に第１の処理が行われた検査の前記壁面情報を前記解析部に解析させることを特徴とする請求項２に記載の解析システム。
4. 同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析方法であって、
   前記壁面情報が取得された時期に対応づけられた検査種別に応じて、前記壁面の特定の範囲について前記壁面情報を解析する第１の処理と、前記特定の範囲よりも広い範囲について前記壁面情報を解析する第２の処理とのいずれか一方を行う解析ステップと、
   前記解析ステップによる解析結果に基づいて前記変状の健全度を判定する第１の判定ステップと、
   前記第１の処理および前記第２の処理を行う前の前記壁面情報に基づいて前記壁面の状態を判定する第２の判定ステップと、を備え、
   前記解析ステップでは、今回の検査について前記第１の処理を行う場合、今回の検査以前に前記第１の判定ステップによって判定された前記健全度に基づいて抽出される範囲と、前記第２の判定ステップによって今回の検査の前記壁面情報で要解析と判定された範囲とを含む前記特定の範囲について前記第１の処理を行うことを特徴とする解析方法。
5. 同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析方法であって、
   前記壁面情報が取得された時期に対応づけられた検査種別に応じて、前記壁面の特定の範囲について前記壁面情報を解析する第１の処理と、前記特定の範囲よりも広い範囲について前記壁面情報を解析する第２の処理とのいずれか一方を行う解析ステップと、
   前記解析ステップによる解析結果に基づいて前記変状の健全度を判定する第１の判定ステップと、
   前記第１の判定ステップによって判定された前記健全度が第１の健全度である範囲に対して、以前に取得されて前記第１の処理が行われた前記壁面情報に遡って過去の未解析となった前記壁面情報を解析する未解析情報解析ステップと、
   を備えることを特徴とする解析方法。
6. 同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析プログラムであって、
   前記壁面情報が取得された時期に対応づけられた検査種別に応じて、前記壁面の特定の範囲について前記壁面情報を解析する第１の処理と、前記特定の範囲よりも広い範囲について前記壁面情報を解析する第２の処理とのいずれか一方を行う解析ステップと、
   前記解析ステップによる解析結果に基づいて前記変状の健全度を判定する第１の判定ステップと、
   前記第１の処理および前記第２の処理を行う前の前記壁面情報に基づいて前記壁面の状態を判定する第２の判定ステップと、を、コンピュータに実行させ、
   前記解析ステップでは、今回の検査について前記第１の処理を行う場合、今回の検査以前に前記第１の判定ステップによって判定された前記健全度に基づいて抽出される範囲と、前記第２の判定ステップによって今回の検査の前記壁面情報で要解析と判定された範囲とを含む前記特定の範囲について前記第１の処理を行わせることを特徴とする解析プログラム。
7. 同一の構造物の壁面から異なる時期に取得された壁面情報を解析して変状を検出する解析プログラムであって、
   前記壁面情報が取得された時期に対応づけられた検査種別に応じて、前記壁面の特定の範囲について前記壁面情報を解析する第１の処理と、前記特定の範囲よりも広い範囲について前記壁面情報を解析する第２の処理とのいずれか一方を行う解析ステップと、
   前記解析ステップによる解析結果に基づいて前記変状の健全度を判定する第１の判定ステップと、
   前記第１の判定ステップによって判定された前記健全度が第１の健全度である範囲に対して、以前に取得されて前記第１の処理が行われた前記壁面情報に遡って過去の未解析となった前記壁面情報を解析する未解析情報解析ステップと、
   をコンピュータに実行させることを特徴とする解析プログラム。

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