JP3041249B2 - ガラス容器及び／又は缶のための非破壊ｘ線検査装置 - Google Patents
ガラス容器及び／又は缶のための非破壊ｘ線検査装置Info
- Publication number
- JP3041249B2 JP3041249B2 JP9060639A JP6063997A JP3041249B2 JP 3041249 B2 JP3041249 B2 JP 3041249B2 JP 9060639 A JP9060639 A JP 9060639A JP 6063997 A JP6063997 A JP 6063997A JP 3041249 B2 JP3041249 B2 JP 3041249B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray beam
- supply line
- ray
- unit
- integrated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/02—Food
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/10—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being confined in a container, e.g. in a luggage X-ray scanners
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、食品産業特にガラ
ス容器及び／又は金属缶のための非破壊Ｘ線検査装置に
関する。
ス容器及び／又は金属缶のための非破壊Ｘ線検査装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】ほとんどの場合、食品産業界におけるガ
ラス容器の非破壊Ｘ線検査は被検査容器の列の片側に配
置された単独の装置によって実行され、そしてこの装置
は実質的にＸ線放射装置とセンサーとを装備しており、
その間を被検査容器が移動するようになっていることは
知られている。
ラス容器の非破壊Ｘ線検査は被検査容器の列の片側に配
置された単独の装置によって実行され、そしてこの装置
は実質的にＸ線放射装置とセンサーとを装備しており、
その間を被検査容器が移動するようになっていることは
知られている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】かかる単独の装置では
内部に収容されている製品の９０〜９５％の検査が可能
であって、その不足分は、重要なことであるが、大体
は、容器底部に存在する凹みによって生じている影部分
によるものであることも知られている。
内部に収容されている製品の９０〜９５％の検査が可能
であって、その不足分は、重要なことであるが、大体
は、容器底部に存在する凹みによって生じている影部分
によるものであることも知られている。
【０００４】より正確には、ジャム又は同様な製品を収
容しているガラス容器に関連して述べると、このような
有害な凹みはこれらの容器の底部にある凹みである。こ
の凹み即ち容器内方への突出部分は、汚染物質と重なり
それらを隠し、それら汚染物質の識別を不可能としてい
る。
容しているガラス容器に関連して述べると、このような
有害な凹みはこれらの容器の底部にある凹みである。こ
の凹み即ち容器内方への突出部分は、汚染物質と重なり
それらを隠し、それら汚染物質の識別を不可能としてい
る。
【０００５】この結果は、多くの場合、非常に不正確で
あった。なぜなら、検査の有効性は単に９５％であった
からである。このことは多くの課題を提供しており、そ
してこれらの課題を解消するための幾つかの試みがなさ
れた。しかしながらそれらはかなり複雑で高価であり、
決して満足なものではない。
あった。なぜなら、検査の有効性は単に９５％であった
からである。このことは多くの課題を提供しており、そ
してこれらの課題を解消するための幾つかの試みがなさ
れた。しかしながらそれらはかなり複雑で高価であり、
決して満足なものではない。
【０００６】上述の試みの中には、垂直配置の放射装置
パイプ図面に４５°に傾斜して配置することが出来るこ
とが述べられているものがある。この方法は片側に配置
された公知の検査装置に関して別の点のおける別の影部
分の発生をもたらした。その上、更にこの方法は、その
影部分を緩和しても高い容器間隔のためにこの問題を解
消しなかった。更にまたこの方法は缶には適用出来な
い。
パイプ図面に４５°に傾斜して配置することが出来るこ
とが述べられているものがある。この方法は片側に配置
された公知の検査装置に関して別の点のおける別の影部
分の発生をもたらした。その上、更にこの方法は、その
影部分を緩和しても高い容器間隔のためにこの問題を解
消しなかった。更にまたこの方法は缶には適用出来な
い。
【０００７】別の解決方法が英国において検討されてい
る。この方法では垂直図面に互いに９０°に配置した２
つの検査装置を使用するものである。
る。この方法では垂直図面に互いに９０°に配置した２
つの検査装置を使用するものである。
【０００８】この後者の方法は影部分の部分的な減少を
もたらしているように思えるが、この方法は２つの検査
装置を使用しており、そのシステム全体の寸法がかなり
大きくなる。更に２つの装置のためのコストが高くな
り、維持費等が無視出来ないほどのコストになってい
る。
もたらしているように思えるが、この方法は２つの検査
装置を使用しており、そのシステム全体の寸法がかなり
大きくなる。更に２つの装置のためのコストが高くな
り、維持費等が無視出来ないほどのコストになってい
る。
【０００９】そこで本件発明の目的は、充填された容器
を検査するときに影部分を除去するための上記問題を解
消し、改良された簡単な実用的な装置で封止された容器
の完全な検査目的を容易になし得ることである。
を検査するときに影部分を除去するための上記問題を解
消し、改良された簡単な実用的な装置で封止された容器
の完全な検査目的を容易になし得ることである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本件発明の検査装置は、
検査されるべき容器即ち被検査容器の供給ラインに関し
て４５°に配置した２つのモジュラーユニットを相互に
９０°に配置した静的構造体からなり、この２つのモジ
ュラーユニットの一方はセミパノラマ状のＸ線放射装置
と、Ｘ線リニアーセンサーと、を有しており、この２つ
のモジュラーユニットの他方は前記一方のユニットのセ
ンサーと同様の単一のセンサーを有しており、この単一
の放射装置と２つのセンサーとを備えた検査装置が容器
内に充填されている製品の検査を１００％可能とする装
置を提供するのである。
検査されるべき容器即ち被検査容器の供給ラインに関し
て４５°に配置した２つのモジュラーユニットを相互に
９０°に配置した静的構造体からなり、この２つのモジ
ュラーユニットの一方はセミパノラマ状のＸ線放射装置
と、Ｘ線リニアーセンサーと、を有しており、この２つ
のモジュラーユニットの他方は前記一方のユニットのセ
ンサーと同様の単一のセンサーを有しており、この単一
の放射装置と２つのセンサーとを備えた検査装置が容器
内に充填されている製品の検査を１００％可能とする装
置を提供するのである。
【００１１】本件発明の特徴及び利点は添付の図面（限
定的な例ではない）を参照して述べている本件発明の下
記実施例に関する下記の詳細な記載から明らかとなろ
う。
定的な例ではない）を参照して述べている本件発明の下
記実施例に関する下記の詳細な記載から明らかとなろ
う。
【００１２】
【発明の実施の形態】図１及び図３から明らかなよう
に、公知の検査装置はその下を被検査ガラス容器３の列
が移動するように跨いでいる構造体１から構成されてい
る。
に、公知の検査装置はその下を被検査ガラス容器３の列
が移動するように跨いでいる構造体１から構成されてい
る。
【００１３】この構造体１は、Ｘ線放射装置５と、セン
サー７と、を含んでおり、該センサー７がＸ線放射装置
５によって放射されたＸ線を集積し検査された情報を表
示している。
サー７と、を含んでおり、該センサー７がＸ線放射装置
５によって放射されたＸ線を集積し検査された情報を表
示している。
【００１４】もしガラス容器を考慮した場合、明らかに
分かることは、該容器３の底部の凹み９が容器内の製品
の完全な検査を損なわせるということである。もしこの
凹み即ち内方への突出部９が無ければ明らかに問題はな
いのである。
分かることは、該容器３の底部の凹み９が容器内の製品
の完全な検査を損なわせるということである。もしこの
凹み即ち内方への突出部９が無ければ明らかに問題はな
いのである。
【００１５】一方、図４に示す本件発明の検査装置によ
れば、静的構造体１１が設けてあり、これが被検査容器
３の供給ライン即ち容器の流れ線に関して４５°の角度
をなすように互いに９０°に配置した２つのモジュラー
ユニット１３により構成されている。
れば、静的構造体１１が設けてあり、これが被検査容器
３の供給ライン即ち容器の流れ線に関して４５°の角度
をなすように互いに９０°に配置した２つのモジュラー
ユニット１３により構成されている。
【００１６】これら２つのモジュラーユニットの一方
は、セミパノラマ状のＸ線放射装置１５と、通常のセン
サー７と、を有しており、他方のモジュラーユニットは
前記一方のものと同じセンサーのみを有している。
は、セミパノラマ状のＸ線放射装置１５と、通常のセン
サー７と、を有しており、他方のモジュラーユニットは
前記一方のものと同じセンサーのみを有している。
【００１７】図５に示す実施例の検査装置においては、
両方のモジュラーユニット１３がそれぞれ標準のＸ線放
射装置５とセンサー７とを有している。
両方のモジュラーユニット１３がそれぞれ標準のＸ線放
射装置５とセンサー７とを有している。
【００１８】このようにすることにより被検査容器の凹
み９によって発生する影部分が除去されることが分か
る。それは１つのセンサーによって検査されない部分
が、該１つのセンサーに対して９０°に配置された別の
センサーによって検査されるからである。
み９によって発生する影部分が除去されることが分か
る。それは１つのセンサーによって検査されない部分
が、該１つのセンサーに対して９０°に配置された別の
センサーによって検査されるからである。
【００１９】ここにおける本件発明においては好ましい
実施例について述べたが、この発明は更に種々の変形及
び改変が可能であるがその結果は本件発明の範囲内に帰
着するであろう。
実施例について述べたが、この発明は更に種々の変形及
び改変が可能であるがその結果は本件発明の範囲内に帰
着するであろう。
【００２０】
【発明の効果】本件発明装置の特徴は以下の通りであ
る。
る。
【００２１】モジュール式であるため、単一モジュール
のための初期価格と同一の実績を標準価格よりも安い価
格で達成出来る。そのため製品市場を広げることが出来
るのであります。
のための初期価格と同一の実績を標準価格よりも安い価
格で達成出来る。そのため製品市場を広げることが出来
るのであります。
【００２２】２つのセンサーを使用しているので、その
同時的不首尾は統計的に不可能であり、そのため使用者
は２つのセンサーの１つが（製品の９５％の検査を行う
ような）不首尾なものであっても実稼働出来る。
同時的不首尾は統計的に不可能であり、そのため使用者
は２つのセンサーの１つが（製品の９５％の検査を行う
ような）不首尾なものであっても実稼働出来る。
【００２３】関連する価格についての据え付けに関する
問題な実際的には存在しない。
問題な実際的には存在しない。
【００２４】機械的なスペア部品に対するコストがかか
らず、構造体が実質的に静的であり、明らかに保全費が
有利である。
らず、構造体が実質的に静的であり、明らかに保全費が
有利である。
【００２５】スペースの問題が存在せず、食品産業界の
要求に応じ、それらのラインをほとんど常に満たしてお
り、組立時に装置のための空間を設ける必要は無い。
要求に応じ、それらのラインをほとんど常に満たしてお
り、組立時に装置のための空間を設ける必要は無い。
【図１】検査されるべき容器の流れ線に対して９０°に
配置されている公知の検査装置の概略平面図である。
配置されている公知の検査装置の概略平面図である。
【図２】検査されるべき容器の流れ線に対して４５°に
配置されている公知の検査装置の概略平面図である。
配置されている公知の検査装置の概略平面図である。
【図３】図１の装置の概略断面図である。
【図４】本件発明の第１実施例による検査装置の概略平
面図である。
面図である。
【図５】本件発明の第２実施例による検査装置の概略平
面図である。
面図である。
【図６】標準的な底凹部を有するガラス容器の断面図で
ある。
ある。
１：検査装置 ３：被検査容
器 ５：Ｘ線放射装置 ７：センサー ９：凹み １１：静的構造
体 １３：モジュラーユニット １５：Ｘ線放
射装置
器 ５：Ｘ線放射装置 ７：センサー ９：凹み １１：静的構造
体 １３：モジュラーユニット １５：Ｘ線放
射装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (73)特許権者 597035816 Ｃｏｒｓｏ Ｂｒａｍａｎｔｅ 53, 10126 Ｔｕｒｉｎ，Ｉｔａｌｙ (56)参考文献 特開 昭60−73443（ＪＰ，Ａ) 特表 平６−503877（ＪＰ，Ａ) 米国特許3958078（ＵＳ，Ａ) 米国特許5442672（ＵＳ，Ａ) 欧州特許出願公開795746（ＥＰ，Ａ １) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 23/02 - 23/18 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ) ＷＰＩ／Ｌ（ＱＵＥＳＴＥＬ)
Claims (2)
- 【請求項１】 食品産業用の底部に内方凸出部を有して
いるガラス容器及び／又は缶のための非破壊Ｘ線検査装
置であって、 ａ）該装置を介する実質的に真直な供給ラインに沿って
該容器及び／又は缶を移送する移送手段と、 ｂ）Ｘ線ビームを放出するため該供給ラインの一側に配
置されているＸ線ビーム放出手段と、該Ｘ線ビーム放出
手段から放出されたＸ線ビームを集積するため該供給ラ
インの他側に配置されているセンサー手段と、を具備し
ている第１の静的ユニットと、 ｃ）該Ｘ線ビーム放出手段から放出されたＸ線ビームを
集積するため該供給ラインの他側に配置されているセン
サー手段を具備している第２の静的ユニットと、 により構成されており、 ｄ）ここで、第１及び第２の静的ユニットが相互に９０
°に配置された第１及び第２のモジュラーユニットであ
り、第１モジュラーユニットのセンサー手段によって集
積されるＸ線ビームと第２モジュラーユニットのセンサ
ー手段によって集積されるＸ線ビームとが互に９０°の
角度を形成しており、かつ第１及び第２の静的モジュラ
ーユニットが前記移送手段に関して、第１モジュラーユ
ニットのセンサー手段によって集積されるＸ線ビームと
第２モジュラーユニットのセンサー手段によって集積さ
れるＸ線ビームとが前記放出手段と前記供給ラインとの
間の該供給ラインの一側における領域にて互いに交差し
かつ該供給ラインと４５°の角度に交差するように配置
されており、 ｅ）また、第１ユニットのセンサー手段によって集積さ
れるＸ線ビームと第２ユニットのセンサー手段によって
集積されるＸ線ビームとが、前記供給ラインに沿った２
つの異なる位置にて前記容器及び／又は缶を介して通過
し、これにより一度に１つのＸ線ビームのみが該ガラス
容器及び／又は缶を介して通過することが可能となって
おり、 ｆ）前記Ｘ線ビーム放出手段が同時に二方向へＸ線を放
出するセミパノラマ状の放出手段である、 食品産業用の底部に内方凸出部を有しているガラス容器
及び／又は缶のための非破壊Ｘ線検査装置。 - 【請求項２】 食品産業用の底部に内方凸出部を有して
いるガラス容器及び／又は缶のための非破壊Ｘ線検査装
置であって、 ａ）該装置を介する実質的に真直な供給ラインに沿って
該容器及び／又は缶を移送する移送手段と、 ｂ）Ｘ線ビームを放出するため該供給ラインの一側に配
置されているＸ線ビーム放出手段と、該Ｘ線ビーム放出
手段から放出されたＸ線ビームを集積するため該供給ラ
インの他側に配置されているセンサー手段と、を具備し
ている第１の静的ユニットと、 ｃ）Ｘ線ビームを放出するため該供給ラインの一側に配
置されているＸ線ビーム放出手段と、該Ｘ線ビーム放出
手段から放出されたＸ線ビームを集積するため該供給ラ
インの他側に配置されているセンサー手段と、を具備し
ている第２の静的ユニットと、 により構成されており、 ｄ）ここで第１及び第２の静的ユニットが相互に９０°
に配置された第１及び第２のモジュラーユニットであ
り、第１モジュラーユニットのセンサー手段によって集
積されるＸ線ビームと第２モジュラーユニットのセンサ
ー手段によって集積されるＸ線ビームとが互に９０°の
角度を形成しており、かつ第１及び第２の静的モジュラ
ーユニットが前記移送手段に関して、第１モジュラーユ
ニットのセンサー手段によって集積されるＸ線ビームと
第２モジュラーユニットのセンサー手段によって集積さ
れるＸ線ビームとが前記放出手段と前記供給ラインとの
間の該供給ラインの一側における領域にて互いに交差し
かつ該供給ラインと４５°の角度に交差して、配置され
ており、 ｅ）また第１ユニットのセンサー手段によって集積され
るＸ線ビームと第２ユニットのセンサー手段によって集
積されるＸ線ビームとが、前記供給ラインに沿った２つ
の異なる位置にて前記容器及び／又は缶を介して通過
し、これにより一度に１つのＸ線ビームのみが該ガラス
容器及び／又は缶を介して通過することが可能となって
おり、 ｆ）第１モジュラーユニットのＸ線ビーム放出手段と第
２モジュラーユニットのＸ線ビーム放出手段とが供給ラ
インに沿って異なる位置に配置されている、 食品産業用の底部に内方凸出部を有しているガラス容器
及び／又は缶のための非破壊Ｘ線検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT96TO000203A IT1285008B1 (it) | 1996-03-15 | 1996-03-15 | Macchina di ispezione non distruttiva a raggi x per l'industria alimentare |
| IT96A000203 | 1996-03-15 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1010062A JPH1010062A (ja) | 1998-01-16 |
| JP3041249B2 true JP3041249B2 (ja) | 2000-05-15 |
Family
ID=11414422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9060639A Expired - Fee Related JP3041249B2 (ja) | 1996-03-15 | 1997-03-14 | ガラス容器及び／又は缶のための非破壊ｘ線検査装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (2) | EP0795746B1 (ja) |
| JP (1) | JP3041249B2 (ja) |
| CN (2) | CN1295498C (ja) |
| DE (3) | DE69739631D1 (ja) |
| IT (1) | IT1285008B1 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT1320201B1 (it) | 2000-06-09 | 2003-11-26 | Dylog Italia Spa | Dispositivo di ispezione a raggi x per prodotti alimentari. |
| DE10062214B4 (de) * | 2000-12-13 | 2013-01-24 | Smiths Heimann Gmbh | Vorrichtungen zur Durchleuchtung von Objekten |
| DE20217559U1 (de) * | 2002-11-12 | 2003-01-16 | Heuft Systemtechnik Gmbh | Vorrichtung zur Untersuchung von gefüllten Behältern mittels Röntgenstrahlen |
| US7807252B2 (en) * | 2005-06-16 | 2010-10-05 | Rohm And Haas Electronic Materials Cmp Holdings, Inc. | Chemical mechanical polishing pad having secondary polishing medium capacity control grooves |
| JP5306682B2 (ja) * | 2008-03-26 | 2013-10-02 | パナソニック株式会社 | Ｘ線異物検査装置 |
| JP2009236633A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-10-15 | Panasonic Electric Works Co Ltd | Ｘ線異物検査装置 |
| CN102348970B (zh) * | 2009-03-13 | 2014-05-07 | Pony工业株式会社 | X射线检查装置和x射线检查方法 |
| CN101655466B (zh) * | 2009-09-22 | 2011-10-26 | 江苏联众肠衣有限公司 | 一种异物在线检测仪 |
| AU2012382556B2 (en) * | 2012-06-13 | 2017-04-13 | Wilco Ag | X-ray detection of flaws in containers and/or in their contents |
| DE102012019851B4 (de) | 2012-10-10 | 2018-03-22 | Seidenader Maschinenbau Gmbh | Inspektionssystem zum Erstellen von wenigstens zwei Aufnahmen eines Guts |
| CN104458778A (zh) * | 2014-12-19 | 2015-03-25 | 山东明佳包装检测科技有限公司 | 用于密闭容器中食品的检测设备 |
| CN107328798B (zh) * | 2017-06-21 | 2020-02-11 | 重庆大学 | 一种新型icl系统及实现方法 |
| JP2020020593A (ja) * | 2018-07-30 | 2020-02-06 | 高嶋技研株式会社 | 放射線検査装置及び放射線検査方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3958078A (en) | 1974-08-30 | 1976-05-18 | Ithaco, Inc. | X-ray inspection method and apparatus |
| US5442672A (en) | 1993-03-31 | 1995-08-15 | Bjorkholm; Paul J. | Three-dimensional reconstruction based on a limited number of X-ray projections |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4392237A (en) * | 1980-08-25 | 1983-07-05 | General Electric Company | Scanning x-ray inspection system |
| CA2002133A1 (en) * | 1988-11-28 | 1990-05-28 | Nigel J. King | On-line x-ray inspection system |
| DE4137510C2 (de) * | 1991-11-14 | 1994-08-25 | Heimann Systems Gmbh & Co | Scanner zur Untersuchung von Prüfobjekten |
-
1996
- 1996-03-15 IT IT96TO000203A patent/IT1285008B1/it active IP Right Grant
-
1997
- 1997-02-20 DE DE69739631T patent/DE69739631D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-02-20 EP EP97102770A patent/EP0795746B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-02-20 EP EP04101218A patent/EP1450154B1/en not_active Revoked
- 1997-02-20 DE DE04101218T patent/DE04101218T1/de active Pending
- 1997-02-20 DE DE69729497T patent/DE69729497T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1997-03-13 CN CNB2004100549142A patent/CN1295498C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1997-03-13 CN CNB97103124XA patent/CN1168975C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1997-03-14 JP JP9060639A patent/JP3041249B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3958078A (en) | 1974-08-30 | 1976-05-18 | Ithaco, Inc. | X-ray inspection method and apparatus |
| US5442672A (en) | 1993-03-31 | 1995-08-15 | Bjorkholm; Paul J. | Three-dimensional reconstruction based on a limited number of X-ray projections |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| IT1285008B1 (it) | 1998-06-03 |
| ITTO960203A1 (it) | 1997-09-15 |
| CN1165293A (zh) | 1997-11-19 |
| EP1450154B1 (en) | 2009-10-21 |
| EP1450154A2 (en) | 2004-08-25 |
| JPH1010062A (ja) | 1998-01-16 |
| EP1450154A3 (en) | 2005-05-11 |
| CN1168975C (zh) | 2004-09-29 |
| CN1566932A (zh) | 2005-01-19 |
| DE04101218T1 (de) | 2005-02-10 |
| DE69729497D1 (de) | 2004-07-22 |
| CN1295498C (zh) | 2007-01-17 |
| DE69729497T2 (de) | 2005-06-23 |
| EP0795746B1 (en) | 2004-06-16 |
| DE69739631D1 (de) | 2009-12-03 |
| EP0795746A1 (en) | 1997-09-17 |
| ITTO960203A0 (ja) | 1996-03-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3041249B2 (ja) | ガラス容器及び／又は缶のための非破壊ｘ線検査装置 | |
| JP3518596B2 (ja) | ソフトバッグ総合検査システム | |
| US20050105680A1 (en) | Non-destructive inspection of material in container | |
| KR20080022089A (ko) | Ｘ선-단층촬영 및/또는 저선량단층촬영 장치 | |
| JP2005534009A5 (ja) | ||
| US6895073B2 (en) | High-speed x-ray inspection apparatus and method | |
| JP2006505787A (ja) | Ｘ線及びこれを用いた装置により、充填された容器を検査するための装置 | |
| JPS6367552A (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| US6895072B2 (en) | Apparatus and method for non-destructive inspection of material in containers | |
| US6005912A (en) | Non-destructive X-ray inspection apparatus for food industry | |
| JP2003139723A (ja) | Ｘ線異物検出装置 | |
| JP2007199058A (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| TWI702389B (zh) | 玻璃板的製造方法 | |
| JP2005127962A (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| JP2003536069A (ja) | 食品用ｘ線検査装置 | |
| JP3650063B2 (ja) | 伝熱管検査装置 | |
| EP0961114A1 (en) | A non-desctructive X-ray inspection apparatus for liquid foodstuffs contained in glass vessels or bottles | |
| JP3860144B2 (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| JP2015059813A (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| JP7231530B2 (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| JP2019128501A (ja) | ペリクルフレーム把持装置及びペリクルフレーム把持方法 | |
| JP5541884B2 (ja) | Ｘ線検査装置 | |
| Schulenburg | New Approach for X-ray Weld Inspection of Pipeline Segments | |
| Vaidya | Determination of the focal spot size of microfocus X-ray tubes by means of a resolution test chart | |
| JP2006105716A (ja) | 品質検査システム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090303 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090303 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100303 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |