JP3037657B2 - 抵抗スポット溶接品質管理装置 - Google Patents
抵抗スポット溶接品質管理装置Info
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Resistance Welding (AREA)
- Generation Of Surge Voltage And Current (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、抵抗スポット溶接
の品質(quality) を管理する装置及びその方法に係り、
特に、標準動的抵抗曲線の組を格納するメモリを用い
て、抵抗スポット溶接の品質を管理する抵抗スポット溶
接品質管理装置及びその方法に関する。
の品質(quality) を管理する装置及びその方法に係り、
特に、標準動的抵抗曲線の組を格納するメモリを用い
て、抵抗スポット溶接の品質を管理する抵抗スポット溶
接品質管理装置及びその方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】今日、自動車の製造において、一対の金
属シートを接続するために抵抗スポット溶接(resistanc
e spot weld)が汎用されている。公知のように、溶接プ
ロセスの際の抵抗スポット溶接の品質管理は、非常に難
しい問題の一つとされている。
属シートを接続するために抵抗スポット溶接(resistanc
e spot weld)が汎用されている。公知のように、溶接プ
ロセスの際の抵抗スポット溶接の品質管理は、非常に難
しい問題の一つとされている。
【０００３】従来の抵抗スポット溶接装置は、一対の溶
接電極を有するスポット溶接器と、一対の金属シート
と、変圧器と、制御部と、電流センサと、電圧センサ
と、マイクロプロセッサとから構成されている。
接電極を有するスポット溶接器と、一対の金属シート
と、変圧器と、制御部と、電流センサと、電圧センサ
と、マイクロプロセッサとから構成されている。
【０００４】このような抵抗スポット溶接装置におい
て、上記制御部は変圧器を通じて、溶接電流及び溶接電
圧を、溶接すべき金属シートに供給する。１つの抵抗ス
ポットの溶接の際（即ち、一つのスポット溶接のための
周期）、上記電流センサ及び電圧センサは、溶接電流及
び溶接電圧に比例するアナログ信号を各々発生する。こ
こで、１つの抵抗スポットの溶接周期は、複数の半サイ
クルを有しており、１サイクルは溶接電流及び溶接電圧
の周波数の逆数となっている。上記マイクロプロセッサ
は、１つの抵抗スポットを溶接する間、検出された電流
及び電圧によって動的抵抗を計算して、当該動的抵抗に
基づいて制御信号を発生し、該制御信号を制御部に供給
する。この制御部は、上記マイクロプロセッサからの制
御信号に応じて、抵抗スポット溶接装置の回路に印加さ
れる次の抵抗スポット溶接の際に用いられる初期溶接電
流を制御する。
て、上記制御部は変圧器を通じて、溶接電流及び溶接電
圧を、溶接すべき金属シートに供給する。１つの抵抗ス
ポットの溶接の際（即ち、一つのスポット溶接のための
周期）、上記電流センサ及び電圧センサは、溶接電流及
び溶接電圧に比例するアナログ信号を各々発生する。こ
こで、１つの抵抗スポットの溶接周期は、複数の半サイ
クルを有しており、１サイクルは溶接電流及び溶接電圧
の周波数の逆数となっている。上記マイクロプロセッサ
は、１つの抵抗スポットを溶接する間、検出された電流
及び電圧によって動的抵抗を計算して、当該動的抵抗に
基づいて制御信号を発生し、該制御信号を制御部に供給
する。この制御部は、上記マイクロプロセッサからの制
御信号に応じて、抵抗スポット溶接装置の回路に印加さ
れる次の抵抗スポット溶接の際に用いられる初期溶接電
流を制御する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
抵抗スポット溶接装置においては、次の抵抗スポット溶
接の際に用いられる初期溶接電流のみを制御し、現在の
抵抗スポット溶接に用いられる現溶接電流は制御しない
為、１つの抵抗スポット溶接の際、各半サイクルにて発
生するエラーを直ちに制御することができない。即ち、
従来の抵抗スポット溶接装置は、リアルタイムエラーを
予防できないといった不都合がある。
抵抗スポット溶接装置においては、次の抵抗スポット溶
接の際に用いられる初期溶接電流のみを制御し、現在の
抵抗スポット溶接に用いられる現溶接電流は制御しない
為、１つの抵抗スポット溶接の際、各半サイクルにて発
生するエラーを直ちに制御することができない。即ち、
従来の抵抗スポット溶接装置は、リアルタイムエラーを
予防できないといった不都合がある。
【０００６】従って、本発明の主目的は、標準動的抵抗
曲線の組を格納するメモリを用いて抵抗スポット溶接の
品質(quality) を管理する改善された抵抗スポット溶接
品質管理装置及びその方法を提供することにある。
曲線の組を格納するメモリを用いて抵抗スポット溶接の
品質(quality) を管理する改善された抵抗スポット溶接
品質管理装置及びその方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によれば、抵抗スポット溶接の動作を制御す
る電流センサ及び電圧センサを有する抵抗スポット溶接
システムに用いられる抵抗スポット溶接管理装置であっ
て、各々が該当動的抵抗曲線を表すＮ個( Ｎは正の整
数) の予め定められた動的抵抗値を格納する格納手段
と、前記抵抗スポット溶接が開始されると、所定の溶接
条件に基づいて前記動的抵抗曲線のうちの何れか１つを
選択する選択手段と、前記電圧センサによって検出され
る溶接電圧及び前記電流センサによって検出される溶接
電流に基づいて、動的抵抗を計算する計算手段と、前記
動的抵抗と前記選択手段によって選択された前記予め定
められた動的抵抗値とを比較する比較手段と、前記比較
結果に基づいて前記溶接電流を調整して、前記抵抗スポ
ット溶接の品質を制御する調整手段とを含むことを特徴
とする抵抗スポット溶接品質管理装置が提供される。
に、本発明によれば、抵抗スポット溶接の動作を制御す
る電流センサ及び電圧センサを有する抵抗スポット溶接
システムに用いられる抵抗スポット溶接管理装置であっ
て、各々が該当動的抵抗曲線を表すＮ個( Ｎは正の整
数) の予め定められた動的抵抗値を格納する格納手段
と、前記抵抗スポット溶接が開始されると、所定の溶接
条件に基づいて前記動的抵抗曲線のうちの何れか１つを
選択する選択手段と、前記電圧センサによって検出され
る溶接電圧及び前記電流センサによって検出される溶接
電流に基づいて、動的抵抗を計算する計算手段と、前記
動的抵抗と前記選択手段によって選択された前記予め定
められた動的抵抗値とを比較する比較手段と、前記比較
結果に基づいて前記溶接電流を調整して、前記抵抗スポ
ット溶接の品質を制御する調整手段とを含むことを特徴
とする抵抗スポット溶接品質管理装置が提供される。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適実施例につい
て図面を参照しながらより詳しく説明する。
て図面を参照しながらより詳しく説明する。
【０００９】図１は、本発明による溶接品質管理部１５
０が組込まれている抵抗スポット溶接装置１００のブロ
ック図である。この溶接品質管理部１５０は、動的抵抗
計算部１５２と、比較部１５４と、メモリ１５６と、溶
接電流制御部１５８とよりなる。本発明の抵抗スポット
溶接装置１００は、また、１次コイル、鉄心及び２次コ
イルよりなる変圧器１２０と、１次回路１３０と、２次
回路１１０と、電流センサ１４０と、電圧センサ１４２
と、溶接品質管理部１５０から構成される。上記１次回
路１３０は、変圧器１２０の１次コイルと、第１及び第
２半導体制御整流素子ＳＣＲ１、ＳＣＲ２を有するＳＣ
Ｒ部１３６とよりなる。上記２次回路１１０は、一対の
電極１１２、１１４と、両電極１１２、１１４の間に配
設される一対の金属シート１１６と、変圧器１２０の２
次コイルとよりなる。
０が組込まれている抵抗スポット溶接装置１００のブロ
ック図である。この溶接品質管理部１５０は、動的抵抗
計算部１５２と、比較部１５４と、メモリ１５６と、溶
接電流制御部１５８とよりなる。本発明の抵抗スポット
溶接装置１００は、また、１次コイル、鉄心及び２次コ
イルよりなる変圧器１２０と、１次回路１３０と、２次
回路１１０と、電流センサ１４０と、電圧センサ１４２
と、溶接品質管理部１５０から構成される。上記１次回
路１３０は、変圧器１２０の１次コイルと、第１及び第
２半導体制御整流素子ＳＣＲ１、ＳＣＲ２を有するＳＣ
Ｒ部１３６とよりなる。上記２次回路１１０は、一対の
電極１１２、１１４と、両電極１１２、１１４の間に配
設される一対の金属シート１１６と、変圧器１２０の２
次コイルとよりなる。
【００１０】上記メモリ１５６は、Ｎ組の最適動的抵抗
曲線及びＮ個の該当初期溶接電流を格納している。各々
の初期溶接電流は、最適動的抵抗曲線の各組に対応し、
Ｎは予め定められた正の整数である。最適動的抵抗曲線
の各組及び該当初期溶接電流は、所定の溶接条件の下で
実験的に求められる。この所定の溶接条件は、端子１３
２、１３４の間に印加される入力電圧と溶接すべき金属
シート１１６の形態及び厚さとによって決定される。
曲線及びＮ個の該当初期溶接電流を格納している。各々
の初期溶接電流は、最適動的抵抗曲線の各組に対応し、
Ｎは予め定められた正の整数である。最適動的抵抗曲線
の各組及び該当初期溶接電流は、所定の溶接条件の下で
実験的に求められる。この所定の溶接条件は、端子１３
２、１３４の間に印加される入力電圧と溶接すべき金属
シート１１６の形態及び厚さとによって決定される。
【００１１】ここでは、説明の便宜上、入力電圧は所定
の値に決まるものと仮定する。まず、Ｎ個の所定の溶接
条件の各々に対して、電流センサ１４０にて測定された
与えられた初期溶接電流で多回溶接が行われることによ
って、多組の動的抵抗が生成される。各組における動的
抵抗は、電圧センサ１４２によって測定される電圧値を
電流センサ１４０によって測定される電流値に分けて決
定される。各電圧値及び各電流値は、該当半サイクル毎
にて求められるＲＭＳ( 平方根) 値である。その後、上
記の過程が相異なる初期溶接電流に対して行われること
によって、多様な初期溶接電流に対する複数組の動的抵
抗が生成される。次に、最良の溶接に必要な実験データ
の組が、予め定められた各溶接条件の下で、溶接際に用
いられる動的抵抗値の組及び該当初期溶接電流として決
定される。本発明の他の好適実施例によれば、与えられ
た所定の溶接条件で用いられる初期溶接電流は一定であ
り、最適抵抗値の組は与えられた所定の溶接条件で用い
られる一定な初期溶接電流から求められ得る。
の値に決まるものと仮定する。まず、Ｎ個の所定の溶接
条件の各々に対して、電流センサ１４０にて測定された
与えられた初期溶接電流で多回溶接が行われることによ
って、多組の動的抵抗が生成される。各組における動的
抵抗は、電圧センサ１４２によって測定される電圧値を
電流センサ１４０によって測定される電流値に分けて決
定される。各電圧値及び各電流値は、該当半サイクル毎
にて求められるＲＭＳ( 平方根) 値である。その後、上
記の過程が相異なる初期溶接電流に対して行われること
によって、多様な初期溶接電流に対する複数組の動的抵
抗が生成される。次に、最良の溶接に必要な実験データ
の組が、予め定められた各溶接条件の下で、溶接際に用
いられる動的抵抗値の組及び該当初期溶接電流として決
定される。本発明の他の好適実施例によれば、与えられ
た所定の溶接条件で用いられる初期溶接電流は一定であ
り、最適抵抗値の組は与えられた所定の溶接条件で用い
られる一定な初期溶接電流から求められ得る。
【００１２】図２は、図１中の溶接品質管理部１５０に
おけるメモリ１５６に格納されている標準動的抵抗曲線
の一例を示す模式図である。この場合、金属シート１１
６は軟鋼よりなり、例えば０．７ｍｍの厚さを有する。
図２中の最適の動的抵抗値は、抵抗スポット溶接装置１
００が初期溶接電流として例えば９０００アンペアに設
定するとき、多くの実験データのうち最良の抵抗スポッ
ト溶接の品質を有する動的抵抗を選択して求められる。
ここで、図２中の各小丸は、溶接周期の該当半サイクル
間、抵抗スポット溶接の動的抵抗値を表すことに注目さ
れたい。
おけるメモリ１５６に格納されている標準動的抵抗曲線
の一例を示す模式図である。この場合、金属シート１１
６は軟鋼よりなり、例えば０．７ｍｍの厚さを有する。
図２中の最適の動的抵抗値は、抵抗スポット溶接装置１
００が初期溶接電流として例えば９０００アンペアに設
定するとき、多くの実験データのうち最良の抵抗スポッ
ト溶接の品質を有する動的抵抗を選択して求められる。
ここで、図２中の各小丸は、溶接周期の該当半サイクル
間、抵抗スポット溶接の動的抵抗値を表すことに注目さ
れたい。
【００１３】本発明の抵抗スポット溶接装置１００にお
いて、ユーザはキーマトリックス板（図示せず）におけ
る選択キーを用いて、メモリ１５６に格納された、最適
の動的抵抗値の組に対応する特定な標準動的抵抗曲線を
選択することによって抵抗スポット溶接を開始する。こ
こで、特定な標準動的抵抗曲線は、溶接すべき金属シー
トの厚さ等の溶接パラメータによって決定される与えら
れた溶接条件に基づいて決定される。即ち、溶接の開始
の前に、ユーザは与えられた溶接条件を認識し得ると共
に、この溶接条件に対応する標準動的抵抗曲線を選択し
得る。ユーザが選択キーを押すと、該当選択信号がメモ
リ１５６に入力される。すると、メモリ１５６は選択信
号に対応する標準動的抵抗曲線を選択して比較部１５４
に供給する。その後、該当初期溶接電流がラインＬ２０
を介して溶接電流制御部１５８に入力される。この溶接
電流制御部１５８は、ＳＣＲ部１３６への初期溶接電流
を１次電流として設定するためのゲート制御信号を発生
する。
いて、ユーザはキーマトリックス板（図示せず）におけ
る選択キーを用いて、メモリ１５６に格納された、最適
の動的抵抗値の組に対応する特定な標準動的抵抗曲線を
選択することによって抵抗スポット溶接を開始する。こ
こで、特定な標準動的抵抗曲線は、溶接すべき金属シー
トの厚さ等の溶接パラメータによって決定される与えら
れた溶接条件に基づいて決定される。即ち、溶接の開始
の前に、ユーザは与えられた溶接条件を認識し得ると共
に、この溶接条件に対応する標準動的抵抗曲線を選択し
得る。ユーザが選択キーを押すと、該当選択信号がメモ
リ１５６に入力される。すると、メモリ１５６は選択信
号に対応する標準動的抵抗曲線を選択して比較部１５４
に供給する。その後、該当初期溶接電流がラインＬ２０
を介して溶接電流制御部１５８に入力される。この溶接
電流制御部１５８は、ＳＣＲ部１３６への初期溶接電流
を１次電流として設定するためのゲート制御信号を発生
する。
【００１４】一方、ＡＣ( 交流) 入力電圧Ｖが両端子１
３２、１３４の間に印加されることによって、ＳＣＲ部
１３６及び変圧器１２０の１次コイルを通じて１次電流
が流れるようにする。このＡＣ入力電圧Ｖは通常、１１
０Ｖ、３８０Ｖ又は４４０Ｖである。溶接周期のＰ個
（例えば、１つ又は２つ）の初期半サイクルの間、１次
電流は溶接電流制御部１５８からのゲート制御信号によ
って該当初期溶接電流Ｉｓに設定される。変圧器１２０
は、２次回路１１０の電流が１次回路１３０の電流より
大きくなるように電圧及び電流を変更して、１次回路１
３０の電気エネルギを２次回路１１０に伝送する。抵抗
スポット溶接において、一対の電極１１２、１１４は金
属シート１１６を締付け、金属シート１１６の局所域を
通じて２次電流を加えることで、金属シート１１６の局
所域が加熱されるようにする。電流センサ１４０は、１
次回路１１０に接続されて、１つの溶接周期の半サイク
ルの間溶接電流を検出して、溶接品質管理部１５０にお
ける動的抵抗計算部１５２に供給する。ここで、溶接周
期はＭ個の半サイクルを有する。また、電圧センサ１４
２は一対の電極１１２、１１４に接続され、溶接周期の
半サイクルの間２次回路１１０の電圧を検出して、溶接
品質管理部１５０における動的抵抗計算部１５２に供給
する。
３２、１３４の間に印加されることによって、ＳＣＲ部
１３６及び変圧器１２０の１次コイルを通じて１次電流
が流れるようにする。このＡＣ入力電圧Ｖは通常、１１
０Ｖ、３８０Ｖ又は４４０Ｖである。溶接周期のＰ個
（例えば、１つ又は２つ）の初期半サイクルの間、１次
電流は溶接電流制御部１５８からのゲート制御信号によ
って該当初期溶接電流Ｉｓに設定される。変圧器１２０
は、２次回路１１０の電流が１次回路１３０の電流より
大きくなるように電圧及び電流を変更して、１次回路１
３０の電気エネルギを２次回路１１０に伝送する。抵抗
スポット溶接において、一対の電極１１２、１１４は金
属シート１１６を締付け、金属シート１１６の局所域を
通じて２次電流を加えることで、金属シート１１６の局
所域が加熱されるようにする。電流センサ１４０は、１
次回路１１０に接続されて、１つの溶接周期の半サイク
ルの間溶接電流を検出して、溶接品質管理部１５０にお
ける動的抵抗計算部１５２に供給する。ここで、溶接周
期はＭ個の半サイクルを有する。また、電圧センサ１４
２は一対の電極１１２、１１４に接続され、溶接周期の
半サイクルの間２次回路１１０の電圧を検出して、溶接
品質管理部１５０における動的抵抗計算部１５２に供給
する。
【００１５】動的抵抗計算部１５２は、溶接周期におけ
る毎半サイクルに対する動的抵抗ＲD を下記式 ＲD ＝ＶD ／ＩD 式( １) ここで、ＶD ：検出電圧のＲＭＳ値 ＩD ：検出溶接電流のＲＭＳ値 を用いて計算し、計算した動的抵抗ＲD を比較部上記１
５４に供給する。
る毎半サイクルに対する動的抵抗ＲD を下記式 ＲD ＝ＶD ／ＩD 式( １) ここで、ＶD ：検出電圧のＲＭＳ値 ＩD ：検出溶接電流のＲＭＳ値 を用いて計算し、計算した動的抵抗ＲD を比較部上記１
５４に供給する。
【００１６】この比較部１５４は、動的抵抗計算部１５
２から供給される動的抵抗ＲD とゲート制御信号に基づ
いて選択される標準動的抵抗曲線における該当半サイク
ルに対する動的抵抗ＲS とを比較し、これらのＲD とＲ
S との差分値を表す比較結果ΔＲをラインＬ１０を介し
て溶接電流制御部１５８に供給する。この溶接電流制御
部１５８は、受取った比較結果ΔＲを下記式 ΔＩ＝Ｋ×ΔＲ 式( ２) ここで、Ｋ：定数 のように計算して補償電流値ΔＩを求める。その後、溶
接電流制御部１５８は、次の半サイクルに対する溶接電
流ＩN をＳＣＲ部１３６に伝送することによって、抵抗
スポット溶接装置１００として抵抗スポット溶接の品質
を管理する。ここで、ＩN はＩS とΔＩとの和である。
２から供給される動的抵抗ＲD とゲート制御信号に基づ
いて選択される標準動的抵抗曲線における該当半サイク
ルに対する動的抵抗ＲS とを比較し、これらのＲD とＲ
S との差分値を表す比較結果ΔＲをラインＬ１０を介し
て溶接電流制御部１５８に供給する。この溶接電流制御
部１５８は、受取った比較結果ΔＲを下記式 ΔＩ＝Ｋ×ΔＲ 式( ２) ここで、Ｋ：定数 のように計算して補償電流値ΔＩを求める。その後、溶
接電流制御部１５８は、次の半サイクルに対する溶接電
流ＩN をＳＣＲ部１３６に伝送することによって、抵抗
スポット溶接装置１００として抵抗スポット溶接の品質
を管理する。ここで、ＩN はＩS とΔＩとの和である。
【００１７】上記過程は、次の半サイクルの間反復して
行われ、溶接電流は溶接周期が終了するまでに、後続す
る半サイクルの間調整される。
行われ、溶接電流は溶接周期が終了するまでに、後続す
る半サイクルの間調整される。
【００１８】上記において、本発明の好適な実施の形態
について説明したが、本発明の請求範囲を逸脱すること
なく、当業者は種々の改変をなし得る。
について説明したが、本発明の請求範囲を逸脱すること
なく、当業者は種々の改変をなし得る。
【００１９】
【発明の効果】従って、本発明によれば、与えられた溶
接条件の下で割当てられるＮ個の初期溶接電流値及び標
準動的抵抗曲線をメモリに格納し、半サイクルの単位で
溶接電流を制御することによって、抵抗スポット溶接の
品質をより一層正確に管理することができる。
接条件の下で割当てられるＮ個の初期溶接電流値及び標
準動的抵抗曲線をメモリに格納し、半サイクルの単位で
溶接電流を制御することによって、抵抗スポット溶接の
品質をより一層正確に管理することができる。
【図１】本発明による抵抗スポット溶接制御装置のブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】図１中の溶接品質管理部のメモリに格納されて
いる標準動的抵抗曲線の一例を示す模式図である。
いる標準動的抵抗曲線の一例を示す模式図である。
１００ 抵抗スポット溶接装置 １１０ ２次回路 １１２ 電極 １１４ 電極 １１６ 一対の金属シート １２０ 変圧器 １３０ １次回路 １３１ シリコン制御整流素子（ＳＣＲ）部 １３２ 電流センサ １３３ 電圧センサ １３４ 溶接品質管理部 １３５ 動的抵抗計算部 １３６ 比較部 １５６ メモリ １５８ 溶接電流制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−123578（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−337655（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−9982（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−181488（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) B23K 11/24 - 11/25
Claims (5)
- 【請求項１】 抵抗スポット溶接の動作を制御する電流
センサ及び電圧センサを有する抵抗スポット溶接システ
ムに用いられる抵抗スポット溶接品質管理装置であっ
て、 Ｍ，Ｎ共に正の整数であり、Ｎのみが予め定められた数
であり、溶接時間周期がＭ個の半サイクルを表すＭ個の
サンプル点に分けられるとき、各々が前記溶接時間周期
とその動的抵抗値との関数として動的抵抗の変化を表す
動的抵抗曲線に対応するＮ個の予め定められた動的抵抗
値を格納する格納手段と、前記抵抗スポット溶接が開始されると、所定の溶接条件
に基づいて前記動的抵抗曲線のうちの何れか一つを選択
する選択手段と、 前記溶接電流が１つの抵抗スポット溶接の際Ｍ個の半サ
イクルを有するとき、前記電圧センサによって検出され
る溶接電圧及び前記電流センサによって検出される前記
溶接電流に基づいて、動的抵抗を計算する計算手段と、 前記動的抵抗と前記選択手段によって選択された前記予
め定められた動的抵抗値とを比較する比較手段と、 前記比較結果に基づいて前記溶接電流を調整して、前記
抵抗スポット溶接の品質を管理するもので、前記溶接時
間周期の一つまたは２つの半サイクルの間、前記溶接電
流を前記選択された動的抵抗曲線の該当初期溶接電流Ｉ
Sに設定する、調整手段とを含み、 前記格納手段は、各々が前記動的抵抗曲線に対応するＮ
個の初期電流値を格納する手段をさらに含むことを特徴
とする抵抗スポット溶接品質管理装置。 - 【請求項２】 前記動的抵抗が、前記溶接電流における
１つの半サイクルの間計算されることを特徴とする請求
項１に記載の抵抗スポット溶接品質管理装置。 - 【請求項３】 前記比較手段が、前記選択された動的抵
抗曲線の該当半サイクルにおける動的抵抗と前記計算さ
れた動的抵抗とを比較することを特徴とする請求項２に
記載の抵抗スポット溶接品質管理装置。 - 【請求項４】 前記調整手段が、前記比較手段による比
較結果に基づいて補償されるべき溶接電流ＩCを計算す
ることを特徴とする請求項３に記載の抵抗ス ポット溶接
品質管理装置。 - 【請求項５】 溶接電流ＩNがＩSとＩCとの和であると
き、前記調整手段が、次の半サイクルに用いられる次の
溶接電流ＩNを前記抵抗スポット溶接システムに供給す
ることを特徴とする請求項４に記載の抵抗スポット溶接
品質管理装置。
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