JP3021952B2 - 受光素子 - Google Patents
受光素子Info
- Publication number
- JP3021952B2 JP3021952B2 JP4117430A JP11743092A JP3021952B2 JP 3021952 B2 JP3021952 B2 JP 3021952B2 JP 4117430 A JP4117430 A JP 4117430A JP 11743092 A JP11743092 A JP 11743092A JP 3021952 B2 JP3021952 B2 JP 3021952B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light receiving
- receiving element
- layer
- diffusion layer
- transparent conductive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48135—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/48137—Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48257—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a die pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/3025—Electromagnetic shielding
Landscapes
- Light Receiving Elements (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Description
モジュールに用いられる受光素子に関する。
ビジョン受信器など多くの室内機器においては、赤外光
が雑音に強くまた多くの情報量を伝達できるので、発光
ダイオードと受光素子を利用した光リモコンが使用され
ている。その光リモコンに用いられる受光モジュールは
例えば図4の様に特開平3−72730号公報に示され
ている。この図において、受光素子41と回路素子42
がプリント基板43上に載置され、シールドケース44
に収納されている。
ジュールを例えばテレビジョン受信器に内蔵した場合、
所定の入力光信号が受信器のフライバックトランスの雑
音(16.6kHZ近傍)を拾いやすい。そのためにシールド
ケース44にメッシュ構造45を設け、そしてフィルタ
46を設けているが、これらの部品より入力光信号が減
衰する。さらに受光素子41内の拡散層47と絶縁膜4
8との境面で漏れ電流が流れやすく、所定の出力電流が
得られない。故に、本発明は上述の欠点を鑑みてなされ
たものであり、すなわち入力光信号を減衰させないで雑
音を拾いにくい、かつ所定の出力電流を得やすい受光素
子を提供するものである。
決するために、半導体基板上に形成された絶縁層と、そ
の絶縁層の略中央の表面内部に形成された拡散層と、そ
の拡散層の周辺に位置し前記絶縁層の表面内部に形成さ
れた高濃度層と、前記拡散層と接触して形成された表面
電極を設ける。そしてその表面電極を除いた前記絶縁層
上に形成された絶縁膜と、前記高濃度層と対応する位置
にある前記絶縁膜上に形成された周囲電極と、前記表面
電極を除いた前記絶縁膜上および前記周囲電極上に形成
された透明電導膜と、その透明電導膜と前記半導体基板
を電気的に接続する接続手段とを設けるものである。
で覆い、かつ受光素子の裏面となる半導体基板と透明電
導膜を電気的に接続する事により、受光素子は略全体の
周囲が同一電位となる。故にテレビジョン受信器のフラ
イバックトランス等による電磁場内に置かれた受光素子
は、この同一電位の保護表面により電磁シールドされ
る。さらに拡散層と絶縁膜の境面に流れる漏れ電流は拡
散層の周囲に形成された高濃度層によりブロックされる
ので、所定の出力電流が得られる。
明する。図1は本実施例に係る受光素子を用いた受光モ
ジュールの断面図、図2は図1のAA断面図である。こ
れらの図において、受光素子1は例えばシリコンPIN
ホトダイオードからなり、裏面電極2上に半導体基板3
が形成されている。半導体基板3はシリコンにボロン等
を拡散された、不純物濃度1×1020cm-3程度、厚さ
約5μmのP型基板である。絶縁層4は半導体基板3上
に形成されたものであり、その不純物濃度は約4×10
12cm-3以下である。拡散層5は絶縁層4の略中央の表
面内部に選択拡散されたものであり、シリコンに不純物
濃度1×1020cm-3程度、深さ1〜2μmとして燐等
のN型不純物が添加されたものである。高濃度層6は拡
散層5と離れてその周辺に形成され、シリコンに不純物
濃度1×1020cm-3程度、深さ2〜4μmとしてボロ
ン等のP型不純物が添加されたものである。
5と接触して形成され、アルミニウム等の金属を蒸着さ
れたものである。絶縁膜8は表面電極7を除いた絶縁層
4の表面上に形成され、酸化シリコン(SiO2)から
なり表面を保護するために設けられたものである。周囲
電極9は高濃度層6の上空に位置する絶縁膜8上に形成
され、その幅は高濃度層6の幅よりも少し広く設けら
れ、アルミニウム等の金属を蒸着されたものである。透
明電導膜10は表面電極7を除いた絶縁膜8の表面上と
周囲電極9上に形成され、酸化インジウム錫(ITO)
等をスパッタ、または電子ビーム法等で蒸着されたもの
である。そしてボンディングパッド11は周囲電極9の
1部分が露出する様に、透明電導膜10の1部分を除去
して設けられたものである。
り、導電性接着剤13を介して受光素子1を載置してい
る。金属細線14は金等からなり、透明電導膜10と半
導体基板3を電気的に接続する様に、ボンディングパッ
ド11と第1のフレーム12に接続されている。回路素
子15は第1のフレーム12上に導電性接着剤16を介
して載置されている。回路素子15は裏面電極17とP
型半導体基板18と複合層19と表面電極20、21、
22、23から構成されている。金属細線24は金等か
らなり、回路素子15の表面電極20と受光素子1の表
面電極7を接続している。第2のフレーム25と第3の
フレーム26は共に金属製板からなり、それぞれ表面電
極21と22に接続されている。樹脂27はエポキシ樹
脂等よりなり、受光素子1と回路素子15と第1、第
2、第3のフレーム12、25、26の周辺を覆う様に
設けられている。また必要に応じて樹脂27は受光素子
1の感度特性に合わせ赤外光を透過するが可視光を減衰
させるフィルタ染料が混入してある。これらの部品によ
り受光モジュール28が構成されている。
のブロック図に従い説明する。この図において回路素子
15は、例えばABLC29と増幅器30とリミッタ3
1とフィルタ32と検波回路33と波形整形回路34と
トランジスタ35と抵抗36の各回路からなる。受光素
子1のアノード側(裏面電極2)は第1のフレーム12
を介してアノード共通タイプとして接地電位に接続さ
れ、カソード側(表面電極7)は回路素子15の入力に
接続されている。ABLC29はオートバイアスロジッ
クレベルコントローラであり、受光素子1に一定の逆バ
イアス電位を与える。第3のフレーム26に印加される
電位Vccは回路素子15内の各回路に電圧を与える。
この様にして電気信号を変調された赤外光を受け取った
受光素子1からの入力光信号は、回路素子15を経て第
2のフレーム25に出力信号Vssを与える。
例にとったがこれに限られるものではなく、一般のホト
ダイオード(受光素子)、または回路素子と同一基板上
に形成された受光素子、更には本実施例と逆極性の受光
素子についても適用できる。
全体を透明電導膜で覆い、かつ受光素子の裏面となる半
導体基板と透明電導膜を電気的に接続する事により、受
光素子は略全周囲が同一電位となる。故にテレビジョン
受信器のフライバックトランス等による電磁場内に置か
れた受光素子は、この同一電位の保護表面により電磁シ
ールドされる。そして透明導電膜は可視光ないし赤外領
域で80%以上の透過率を示すため、入力光信号がほと
んど減衰しなくかつ雑音の影響を受けない。
ド性を有するため、従来の様な受光素子の外側にメッシ
ュ構造を有するシールドケースとフィルタを必要としな
いので、構造が簡単になり装置が小型となりかつコスト
も安くなる。さらに拡散層と絶縁膜の境面に流れる漏れ
電流は拡散層の周囲に形成された高濃度層によりブロッ
クされる。そして高濃度層の上に位置する周囲電極のブ
ロックにより、入射光が高濃度層にあたらないので高濃
度層周辺で電流が発生しなくなる。故に所定の出力電流
が得られ、所定のダイオード特性(印加するバイアス電
圧に対する出力電流)が得られる。
ッドを設けて、金属細線を直接に周囲電極に接続させる
から、下の台が強固なのでボンディングの作業性が良
い。
ュールの断面図である。
ュールのブロック図である。
図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 半導体基板上に形成された絶縁層と、そ
の絶縁層の略中央の表面内部に形成された拡散層と、そ
の拡散層の周辺に位置し前記絶縁層の表面内部に形成さ
れた高濃度層と、前記拡散層と接触して形成された表面
電極と、その表面電極を除いた前記絶縁層上に形成され
た絶縁膜と、前記高濃度層と対応する位置にある前記絶
縁膜上に形成された周囲電極と、前記表面電極を除いた
前記絶縁膜上および前記周囲電極上に形成された透明電
導膜と、その透明電導膜と前記半導体基板を電気的に接
続する接続手段とを具備した事を特徴とする受光素子。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4117430A JP3021952B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 受光素子 |
US07/902,625 US5291054A (en) | 1991-06-24 | 1992-06-23 | Light receiving module for converting light signal to electric signal |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4117430A JP3021952B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 受光素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05315638A JPH05315638A (ja) | 1993-11-26 |
JP3021952B2 true JP3021952B2 (ja) | 2000-03-15 |
Family
ID=14711455
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4117430A Expired - Fee Related JP3021952B2 (ja) | 1991-06-24 | 1992-05-11 | 受光素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3021952B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5283430B2 (ja) * | 2008-06-05 | 2013-09-04 | 株式会社ジャパンディスプレイウェスト | 半導体装置、電気光学装置及び電子機器 |
-
1992
- 1992-05-11 JP JP4117430A patent/JP3021952B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05315638A (ja) | 1993-11-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4796084A (en) | Semiconductor device having high resistance to electrostatic and electromagnetic induction using a complementary shield pattern | |
JPH09152486A (ja) | 撮像装置 | |
JPH11345994A (ja) | 2次元光センサ、それを用いた放射線検出装置及び放射線診断システム | |
US5291054A (en) | Light receiving module for converting light signal to electric signal | |
JP3021952B2 (ja) | 受光素子 | |
JP3038772B2 (ja) | 赤外線センサ | |
JP3583815B2 (ja) | 受光素子 | |
JP3177287B2 (ja) | 受光モジュ−ル | |
JP3516342B2 (ja) | 光リモコン用受光モジュ−ル | |
US6649949B2 (en) | Photodiode with electrode for noise immunity | |
JP3696094B2 (ja) | 受光モジュ−ル | |
JP3696177B2 (ja) | 光リモコン用受光モジュール | |
JP4036850B2 (ja) | 受光モジュール | |
JP3696178B2 (ja) | 光リモコン用受光モジュール | |
JPH0222872A (ja) | 光センサ装置 | |
JPS60177685A (ja) | 半導体装置 | |
JP2003318420A (ja) | 受光モジュ−ル | |
JP2003332594A (ja) | リードフレーム及びそれを備える受光モジュ−ル | |
JP2576383Y2 (ja) | 光半導体装置 | |
JP2830177B2 (ja) | 画像読取装置 | |
JP3594418B6 (ja) | 受光素子 | |
JP3609544B6 (ja) | 受光装置 | |
JP3609544B2 (ja) | 受光装置 | |
JPH04179168A (ja) | 半導体装置 | |
JPS6248077A (ja) | 光電変換装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114 Year of fee payment: 9 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114 Year of fee payment: 9 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114 Year of fee payment: 9 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114 Year of fee payment: 9 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114 Year of fee payment: 9 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100114 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100114 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120114 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |