JP2992081B2 - パターン作成装置 - Google Patents

パターン作成装置

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JP2992081B2
JP2992081B2 JP40118990A JP40118990A JP2992081B2 JP 2992081 B2 JP2992081 B2 JP 2992081B2 JP 40118990 A JP40118990 A JP 40118990A JP 40118990 A JP40118990 A JP 40118990A JP 2992081 B2 JP2992081 B2 JP 2992081B2
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  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体ディバイス又はプ
リント配線板の多層配線等を形成するためのウェハ等の
基板上にパターン形成するパターン作成装置に関し、特
に露光時における高精度な任意角パターンの作成ができ
るパターン作成装置に関する。近年、半導体ディバイス
の微細化・高密度化に伴いパターン作成に対する要求も
多様になってきている。特にメモリーディバイスにおい
ては最も高密度配置・微細パターンが要求されており、
チップサイズの制約などから任意角(45°の倍数以外
の角度)を持ったパターンの作成が望まれておりより高
速でより高精度な任意角パターンの製造・検証に対する
要求が益々強まっている。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のパターン作成装置として
第8図及び第9図に示すものがあった。この第8図は従
来のパターン作成装置の構成ブロック図、第9図は従来
装置のパターン作成動作説明図を示す。前記各図におい
て従来のパターン作成装置は、X−Y座標系において半
導体ディバイスのパターンをX方向・Y方向に各グリッ
トで特定される設計データを作成する設計データ作成部
1と、前記半導体ディバイスのパターンに関するX−Y
座標の各x、y軸に対して45°の倍数の成分のパター
ンデータをライブライリとして記憶するパターンデータ
記憶部2と、前記設計データからパターンデータに基づ
いて描画データを作成する描画データ作成部6とを備
え、前記描画データに基づいて電子光学系7及び試料9
を搭載したステージ8を制御する構成である。
【0003】次に、上記構成に基づく従来装置の動作に
ついて説明する。まず、第9図に示すような図形パター
ンの設計データをCAD等で構成される設計データ作成
部1で作成する。この設計データが描画データ作成部6
に入力され、この描画データ作成部6はパターンデータ
記憶部2にライブラリとして格納されるX−Y座標にお
ける各軸に対して直交成分(90°成分)又は45°成
分から設計データの各部分に近似する成分を読出す。こ
の読出したパターンデータに基づいて、描画データ作成
部6は第9図(B)のような任意のグリッドの幅に対応
する短冊状に分割し、階段近似により描画データを作成
する。また、第9図(C)のような任意の角度成分を4
5°成分のパターンで近似して描画データを作成する。
【0004】この描画データに基づいて電子光学系7及
びステージ8を駆動制御することにより試料9上に第9
図(D)又は(E)に示すような形状の露光を行なう。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来のパターン作成装
置は以上のように構成されていたことから、パターンデ
ータ記憶部にライブラリとして格納されるパターンデー
タ以外のパターン例えば、45°の倍数以外の任意の角
度については予め格納されたパターンデータを利用して
近似的に描画データを作成しなければならず、この描画
データに基づいて露光した場合にエッジ部分の精度が低
下するという課題を有していた。また、このエッジ部分
の精度を向上させるために最小グリッド(レティクル上
で0.1μm程度)とした場合には、処理データ量が膨
大なものとなり、処理工程(T.A.T.)が複雑化す
る等の課題を有していた。さらに、このような細かなグ
リットを採用したとしても設計データの任意角度の成分
から外れる場合があり、各パターン相互間の間隔が区々
となる等の課題を有していた。
【0006】本発明は前記課題を解決するためになされ
たもので、素子・配線等のパターン配置の柔軟性を向上
させると共にパターンの集約度を向上させることができ
るパターン作成装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】図1は本発明のパターン
作成装置の原理説明図を示す。同図において本発明のパ
ターン作成装置はX−Y座標系において素子・配線等の
パターンをX方向のグリッド及びY方向のグリッドで特
定する設計データを作成する設計データ作成手段1と、
前記素子・配線等のパターンに関する特定成分のパター
ンデータを記憶する記憶手段2と、前記記憶手段2に記
憶されたパターンデータに合致する表示形態に前記設計
データのX方向のグリッド及びY方向のグリッドの比率
を変更してグリッドイメージの中間データを出力するグ
リッドイメージ変換手段3と、前記中間データにおける
X方向のグリッド及びY方向のグリッドを前記変更比率
の逆比率に基づいて再変換して描画データを出力する描
画データ再変換手段4とを備え、前記描画データに基づ
いて素子・配線等の任意角パターンを作成するものであ
る。
【0008】
【作用】本発明においては設計データを予め格納された
パターンデータのフォーマットに変換した後、露光段階
において当初の設計データのフォーマットと同じフォー
マットに再変換して描画データを作成し、この描画デー
タに基づいて露光処理を実行することにより、予め準備
されていないパターンデータに適合しない任意角等の成
分を含むフォーマットであっても描画データの作成及び
パターン描画処理を総て高速化し、描画処理のパターン
精度を向上させる。特に、大容量メモリディバイス等の
パターン作成においてパターン配置の柔軟性、素子集約
の高精度且つ高密度化が図られる。
【0009】
【実施例】(a)本発明の一実施例の説明 以下、本発明の一実施例を図2、図3に基づいて説明す
る。この図2は本実施例の構成図、図3は図2記載実施
例のデータ変換説明図を示す。同図において本実施例に
係るパターン作成装置は、前記図8記載の従来装置と同
様に設計データ作成部1、パターンデータ記憶部2及び
露光装置20を共通して備え、この構成に加え、前記パ
ターンデータ記憶部に記憶されるパターンデータの表示
形態(フォーマット)に設計データを変換してグリッド
イメージの中間データを出力するグリッドイメージ変換
部3と、前記中間データを再変換して描画データを出力
する描画データ再変換部4とを備え、前記描画データを
露光装置20の露光制御部6に出力することにより試料
9上に所定パターンを作成する構成である。
【0010】上記構成に基づく本実施例装置の動作につ
いて説明する。まず、設計データ作成部1はCAD等で
CADデータとして図3(A)に示す形状の設計データ
をグリッドイメージ変換部3に出力する。このグリッド
イメージ変換部3はパターンデータ記憶部2に予め記憶
される45°の倍数に相当するフォーマットに設計デー
タのX方向、Y方向の各グリッドを所定の比率で変更し
て図3(B)に示すようなグリッドイメージの中間デー
タに変換する。
【0011】前記変換された中間データが描画データ再
変換部4に入力され、この描画データ再変換部4は前記
グリッドイメージ変換部3において変換した比率の逆比
率に基づいて再変換して描画データを作成して露光装置
20に出力する。この描画データは、前記図3(A)に
示す形状のフォーマットと同様な図3(C)に示すフォ
ーマットのX、Yの各グリット幅とするX、Yピッチを
有するととなる。
【0012】前記露光装置20において露光制御部6は
描画データに基づいて電子光学系7及びステージ8を駆
動制御する。この駆動制御により試料9上図3(C)に
示すXピッチ、Yピッチの図形パターンが作成できるこ
ととなる。 (b)本発明の他の実施例の説明 図4〜図6は他の実施例の動作フローチャート及びデー
タ変換説明図を示す。この他の実施例装置は前記図2記
載の実施例と同様に構成され、この構成に基づく動作を
実にする。以下、この動作について前記図2を参照して
説明する。
【0013】前記各図において、図6(A)に示す形状
に設計データをCADデータとして設計データ作成部1
で作成又は入力する(ステップ1)。この設計データを
グリッドイメージ変換部3において任意の複数領域に分
割してパターンデータを図6(B)に示すように分類
し、分解する(ステップ2)。前記分類、分解された設
計データの各パターン(形状)が45°の倍数の角度
(45°〜315°)のみを含む領域か、45°の倍数
以外の角度(任意角)を含む領域かを判断する(ステッ
プ3)。この任意角を含む領域を図6(C)に示し、4
5°の倍数の角度のみを含む領域を図6(D)に示す。
前記ステップ3において任意角を含むと判断された場合
には、任意角を含む領域において、任意角のXグリッド
とYグリッドとの比(X/Y比)を演算し、図6(E)
に示すように任意角のX/Y比を角度45°のX/Y比
(1:1)にグリッドキメージを変換する(ステップ
4)。なお、図6(D)のように任意角を含まない45
°の倍数角度のみを含む領域についてはこのような変換
処理(ステップ4)を行うことなく次のステップに進
む。このように、図6(E)、(F)に示すようにCA
Dデータである設計データから描画データとしてのデー
タフォーマットへ変換されることとなる(ステップ
5)。
【0014】次に、前記変換作成された描画データが描
画データ再変換部4へ入力され(ステップ6)、この描
画データ再変換部4において各分解された領域が任意角
を含むか否かが判断される(ステップ7)。このステッ
プ7で任意角を含むと判断された領域は前記X/Y比に
応じたパターン展開の再変換処理を実行して描画データ
を作成する(ステップ8)。なお、任意角を含まない領
域についてはパターン展開の再変換処理はなされない。
【0015】前記作成された描画データが露光装置20
に入力され、この露光装置20の露光制御部6は描画デ
ータに基づいて電子光学系7及びステージ8をX、Y方
向に移動制御して露光動作を実行する(ステップ9)。
なお、前記各実施例においてはグリッドイメージから描
画データへ再変換を描画データ再変換部4で電子光学系
7及びステージ8を移動制御する構成としたが、図7に
示すように構成することもできる。この図7において描
画データの再変換処理は電子光学系7からの光の照射方
向に対してステージ8を傾斜角θだけ傾斜させて配置
し、この傾斜角θにより一方の配置ピッチを変化させる
ことによりX/Y比を変化させて任意角パターンを描画
データとして再変換するものである。
【0016】また、電子光学系7は、ステージ8に対し
て直交する方向に光を照射する第1の電子光学系71
と、ステージ8に対して傾斜角θだけ傾斜させて光を照
射する第2の電子光学系72とを備る構成とすることも
できる。この場合には任意角度を含む領域と45°倍数
角度のみを含む領域との各パターンを同時に描画できる
こととなる。
【0017】
【発明の効果】以上のように本発明においては設計デー
タを予め格納されたパターンデータのフォーマットに変
換した後、露光段階において当初の設計データのフォー
マットと同じフォーマットに再変換して描画データを作
成し、この描画データに基づいて露光処理を実行するこ
とにより、予め準備されていないパターンデータに適合
しない任意角等の成分を含むフォーマットであっても描
画データの作成及びパターン描画処理を総て高速化し、
描画処理のパターン精度を向上させる効果を有する。特
に、大容量メモリディバイス等のパターン作成において
パターン配置の柔軟性、素子集約の高精度且つ高密度化
が図られる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明パターン作成装置の原理構成を説明する
ための、ブロック構成図である。
【図2】本発明の一実施例を説明するための、概略構成
ブロック図である。
【図3】図2記載実施例のデータ変換動作を説明するた
めの、データ変換説明図である。
【図4】本発明の他の実施例を説明するための、データ
フォーマット変換動作フローチャートである。
【図5】本発明の他の実施例を説明するための、描画デ
ータ再変換動作フローチャートである。
【図6】図4、5の他の実施例の動作を説明するため
の、データ変換説明図である。
【図7】本発明の他の実施例を説明するための、描画デ
ータ再変換説明図である。
【図8】従来のパターン作成装置の構成図である。
【図9】従来装置のデータ変換説明図である。
【符号の説明】
1…設計データ作成部 2…パターンデータ記憶部 3…グリッドイメージ変換部 4、5…描画データ再変換部 6…露光制御部 7…電子光学系 8…ステージ 9…試料 10…データ変換作成部 20…露光装置

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X−Y座標系において素子・配線等のパ
    ターンをX方向のグリッド及びY方向のグリッドで特定
    する設計データを作成する設計データ作成手段(1)
    と、前記素子・配線等のパターンに関する特定成分のパ
    ターンデータを記憶する記憶手段(2)と、前記記憶手
    段(2)に記憶されたパターンデータに合致する表示形
    態に前記設計データのX方向のグリッド及びY方向のグ
    リッドの比率を変更してグリッドイメージの中間データ
    を出力するグリッドイメージ変換手段(3)と、前記中
    間データにおけるX方向のグリッド及びY方向のグリッ
    ドを前記変更比率の逆比率に基づいて再変換して描画デ
    ータを出力する描画データ再変換手段4とを備え、前記
    描画データに基づいて素子・配線等の任意角パターンを
    作成することを特徴とするパターン作成装置。
  2. 【請求項2】 前記請求項記載のパターン作成装置にお
    いて、前記設計データ作成手段(1)はX−Y座標系に
    おいてX方向のグリッドとY方向のグリッドとの各大き
    さを異ならせて設計データを作成することを特徴とする
    パターン作成装置。
  3. 【請求項3】 前記請求項1記載のパターン作成装置に
    おいて、前記描画データ再変換手段(4)はX方向の描
    画ピッチとY方向の描画ピッチとのいずれか一方を縮小
    又は拡大して描画データを出力することを特徴とするパ
    ターン作成装置。
  4. 【請求項4】 前記請求項1記載のパターン作成装置に
    おいて、前記描画データ再変換手段(4)は描画対象と
    なる試料に対する露光用光線の投射角度を変化させ、当
    該投射角度の変化に基づいて描画データに対応する任意
    角パターンの作成を制御することを特徴とするパターン
    作成装置。
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JPH04213767A JPH04213767A (ja) 1992-08-04
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