JP2975393B2 - 眼測定装置 - Google Patents
眼測定装置Info
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- JP2975393B2 JP2975393B2 JP2077658A JP7765890A JP2975393B2 JP 2975393 B2 JP2975393 B2 JP 2975393B2 JP 2077658 A JP2077658 A JP 2077658A JP 7765890 A JP7765890 A JP 7765890A JP 2975393 B2 JP2975393 B2 JP 2975393B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、眼科医院などで用いられ、前眼部を撮像素
子に映してアライメントを行って、眼屈折測定等を実施
する眼測定装置に関するものである。
子に映してアライメントを行って、眼屈折測定等を実施
する眼測定装置に関するものである。
［従来の技術］ 従来、撮像手段を使って位置検出と検眼測定を逐次に
行う検眼装置が知られている。
行う検眼装置が知られている。
［発明が解決しようとする課題］ しかし、従来技術では眼の早い動きがあったときに、
精度良く測定ができないという問題がある。
精度良く測定ができないという問題がある。
本発明の目的は、同じ画面の信号を使って検眼測定と
位置検出とを行うことにより正確な測定が可能な眼測定
装置を提供することにある。
位置検出とを行うことにより正確な測定が可能な眼測定
装置を提供することにある。
［課題を解決するための手段］ 上記目的を達成するための本発明に係る眼測定装置
は、光束を被検眼に投影しその反射光を単一の撮像素子
で検出し検眼測定をする検眼手段と、光源による角膜反
射像を前記撮像素子で検出し被検眼位置検出をする位置
検出手段とを有し、前記検眼手段による反射光と前記位
置検出手段による角膜反射光とが共に映っている前記撮
像素子の信号により前記検眼測定と被検眼位置検出を行
うことを特徴とする。
は、光束を被検眼に投影しその反射光を単一の撮像素子
で検出し検眼測定をする検眼手段と、光源による角膜反
射像を前記撮像素子で検出し被検眼位置検出をする位置
検出手段とを有し、前記検眼手段による反射光と前記位
置検出手段による角膜反射光とが共に映っている前記撮
像素子の信号により前記検眼測定と被検眼位置検出を行
うことを特徴とする。
［作用］ 上述の構成を有する眼測定装置は、同じ画面の信号に
より検眼測定と位置検出を行う。
より検眼測定と位置検出を行う。
［実施例］ 本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第１図は眼屈折計の光学系の構成図を示し、被検眼Ｅ
の前方にはダイクロイックミラー１、対物レンズ２、ダ
イクロイックミラー３、二次元センサアレイ４が順次に
配置されている。また、ダイクロイックミラー１の入反
射側には、レンズ５、ミラー６、穴あきミラー７、開口
絞り８、レンズ９、測定用光源10が順次に設けられ、穴
あきミラー７とダイクロイックミラー１との間には、６
穴絞り11、レンズ12、分解プリズム13が配置されてい
る。更に、被検眼Ｅの前方のダイクロイックミラー１の
近傍には照明用光源14が設けられており、二次元センサ
アレイ４の出力は後述する測定回路に接続されている。
の前方にはダイクロイックミラー１、対物レンズ２、ダ
イクロイックミラー３、二次元センサアレイ４が順次に
配置されている。また、ダイクロイックミラー１の入反
射側には、レンズ５、ミラー６、穴あきミラー７、開口
絞り８、レンズ９、測定用光源10が順次に設けられ、穴
あきミラー７とダイクロイックミラー１との間には、６
穴絞り11、レンズ12、分解プリズム13が配置されてい
る。更に、被検眼Ｅの前方のダイクロイックミラー１の
近傍には照明用光源14が設けられており、二次元センサ
アレイ４の出力は後述する測定回路に接続されている。
開口絞り８は第２図に示すように中心に開口部3aが穿
孔され、６穴絞り11は第３図に示すように６個の開口部
11a〜11fが等角度で設けられ、分離プリズム13は第４図
に示すように６穴絞り11の開口部11a〜11fに対応した６
個の楔プリズム13a〜13fから構成されている。更に、絞
り８、11は共に被検眼Ｅの角膜Ecに共役であり、測定用
光源10と二次元センサアレイ４は被検眼Ｅの正視眼底Er
に共役となっている。
孔され、６穴絞り11は第３図に示すように６個の開口部
11a〜11fが等角度で設けられ、分離プリズム13は第４図
に示すように６穴絞り11の開口部11a〜11fに対応した６
個の楔プリズム13a〜13fから構成されている。更に、絞
り８、11は共に被検眼Ｅの角膜Ecに共役であり、測定用
光源10と二次元センサアレイ４は被検眼Ｅの正視眼底Er
に共役となっている。
測定用光源10からの光束はレンズ９、開口絞り８、穴
あきミラー７を経てミラー６で反射され、対物レンズ５
を通ってダイクロイックミラー１で反射され、被検眼Ｅ
の眼底Erにスポット光束を投影し、その反射光束は同じ
光路を戻り、穴あきミラー７で反射され、６穴絞り11、
レンズ12を経て分離プリズム13の楔プリズム13a〜13fに
より光軸から分離する６方向に偏向され、ダイクロイッ
クミラー３で反射されて、二次元センサアレイ４上に第
５図に示すような６個の光束Ａ〜Ｆを投影する。二次元
センサアレイ４上のこれらの光束Ａ〜Ｆの位置座標から
３径線方向の眼屈折値が求められ、更に乱視度、乱視角
が算出される。
あきミラー７を経てミラー６で反射され、対物レンズ５
を通ってダイクロイックミラー１で反射され、被検眼Ｅ
の眼底Erにスポット光束を投影し、その反射光束は同じ
光路を戻り、穴あきミラー７で反射され、６穴絞り11、
レンズ12を経て分離プリズム13の楔プリズム13a〜13fに
より光軸から分離する６方向に偏向され、ダイクロイッ
クミラー３で反射されて、二次元センサアレイ４上に第
５図に示すような６個の光束Ａ〜Ｆを投影する。二次元
センサアレイ４上のこれらの光束Ａ〜Ｆの位置座標から
３径線方向の眼屈折値が求められ、更に乱視度、乱視角
が算出される。
照明用光源14は前眼部Ebを照明し、前眼部Ebからの反
射光はダイクロイックミラー１を透過し、レンズ２、ダ
イクロイックミラー３を介して、前眼部像Eb′が光源像
８′と共に第６図に示すように二次元センサアレイ４上
に結像される。
射光はダイクロイックミラー１を透過し、レンズ２、ダ
イクロイックミラー３を介して、前眼部像Eb′が光源像
８′と共に第６図に示すように二次元センサアレイ４上
に結像される。
測定用光源10の波長光の一部はダイクロイックミラー
１、３を透過するので、測定用光源10からの光束の一部
が角膜Ecに形成する反射像Ec′の光束が、ダイクロイッ
クミラー１を透過し、レンズ２、ダイクロイックミラー
３を経て、第５図に示すように二次元センサアレイ４上
に像Ec″が結像される。このとき、レンズ２の口径が大
きく、入射光の立体角θが大きいため、像Ec″は角膜Ec
までの距離が適切でないとすぐにぼけ、作動距離が厳密
に一致していないと明瞭に結像しない。
１、３を透過するので、測定用光源10からの光束の一部
が角膜Ecに形成する反射像Ec′の光束が、ダイクロイッ
クミラー１を透過し、レンズ２、ダイクロイックミラー
３を経て、第５図に示すように二次元センサアレイ４上
に像Ec″が結像される。このとき、レンズ２の口径が大
きく、入射光の立体角θが大きいため、像Ec″は角膜Ec
までの距離が適切でないとすぐにぼけ、作動距離が厳密
に一致していないと明瞭に結像しない。
このため、被検眼Ｅが適切な位置にあるときの像Ec″
とその近傍、即ち第５図の点線内の部分のビデオ信号を
監視し、一定以上の光度を示す信号が出力されると、像
Ec″がその部分に結像されていることになる。これを判
定して、その瞬間の光束Ａ〜Ｆを検知し測定することに
より、適切な位置合せがなされた時の測定が実施された
ことになる。
とその近傍、即ち第５図の点線内の部分のビデオ信号を
監視し、一定以上の光度を示す信号が出力されると、像
Ec″がその部分に結像されていることになる。これを判
定して、その瞬間の光束Ａ〜Ｆを検知し測定することに
より、適切な位置合せがなされた時の測定が実施された
ことになる。
第７図は測定回路のブロック回路図を示し、二次元セ
ンサアレイ４に接続されたセンサ駆動回路15の出力、即
ち第８図に示すヒデオ信号V1は信号分離回路16に入力さ
れ、信号分離回路16はヒデオ信号V1を輝度信号V2と同期
信号V3に分離する。輝度信号V2はA/Dコンバータ17を経
て画像メモリ18に１画面ごとに記憶される。同期信号V3
は走査線カウンタ19に入力されて、その出力は数値比較
回路20に入力し、一定範囲内の数値のときにのみアンド
ゲート21に出力がなされる。また、同期信号V3はタイミ
ングコントローラ22にも入力され、タイミングコントロ
ーラ22はパルスの入力の一定時間後に一定の長さのパル
スP1をアンドゲート21の他方の入力面に入力する。
ンサアレイ４に接続されたセンサ駆動回路15の出力、即
ち第８図に示すヒデオ信号V1は信号分離回路16に入力さ
れ、信号分離回路16はヒデオ信号V1を輝度信号V2と同期
信号V3に分離する。輝度信号V2はA/Dコンバータ17を経
て画像メモリ18に１画面ごとに記憶される。同期信号V3
は走査線カウンタ19に入力されて、その出力は数値比較
回路20に入力し、一定範囲内の数値のときにのみアンド
ゲート21に出力がなされる。また、同期信号V3はタイミ
ングコントローラ22にも入力され、タイミングコントロ
ーラ22はパルスの入力の一定時間後に一定の長さのパル
スP1をアンドゲート21の他方の入力面に入力する。
輝度信号V2は積分回路23にも入力され、アンドゲート
21の出力がなされている期間だけ輝度信号V2の積分がな
され積分値が出力される。積分回路23の出力はコンパレ
ータ24で或る閾値と比較され、コンパレータ24の出力は
演算・制御回路25に入力される。演算・制御回路25は積
分回路23の出力が閾値を越えたときの画像データを画像
メモリ18から出力させ、これを用いて測定結果を演算に
より求める。
21の出力がなされている期間だけ輝度信号V2の積分がな
され積分値が出力される。積分回路23の出力はコンパレ
ータ24で或る閾値と比較され、コンパレータ24の出力は
演算・制御回路25に入力される。演算・制御回路25は積
分回路23の出力が閾値を越えたときの画像データを画像
メモリ18から出力させ、これを用いて測定結果を演算に
より求める。
測定回路の作動中には、二次元センサアレイ４上の像
が常にビデオ信号V1としてセンサ駆動回路15より出力さ
れており、A/Dコンバータ17によってデジタルデータと
なった画像が、常に１画面ずつ画像メモリ18に記憶され
ている。同時に、走査線カウンタ19がその時点でその画
面の何番目の走査線を走査中であるかを同期信号V3のパ
ルスを計数することで示し、数値比較回路20はこの数が
一定の範囲内のとき出力し、例えば第９図のＬの期間だ
け出力する。
が常にビデオ信号V1としてセンサ駆動回路15より出力さ
れており、A/Dコンバータ17によってデジタルデータと
なった画像が、常に１画面ずつ画像メモリ18に記憶され
ている。同時に、走査線カウンタ19がその時点でその画
面の何番目の走査線を走査中であるかを同期信号V3のパ
ルスを計数することで示し、数値比較回路20はこの数が
一定の範囲内のとき出力し、例えば第９図のＬの期間だ
け出力する。
また、パルスP1により、アンドゲート21は第９図の点
線内の走査される間だけ出力するため、積分回路23は点
線内の輝度の積分値を出力し、これが或る値を越えたと
きの画像が、正しい位置合せのなされたときの画像とし
て、画像メモリ18から取り出され演算が行われる。
線内の走査される間だけ出力するため、積分回路23は点
線内の輝度の積分値を出力し、これが或る値を越えたと
きの画像が、正しい位置合せのなされたときの画像とし
て、画像メモリ18から取り出され演算が行われる。
被検眼Ｅの眼屈折値を求める際には、先ず照明用光源
14を点灯して前眼部Ebを照明し、検者はモニタに映し出
された前眼部像Eb′を見ながら概略の位置合わせを行
い、その後に測定回路を起動する図示しない釦を押す。
すると、照明用光源14は消灯し測定用光源10が点灯し、
眼底Erにスポット光束が投影され測定回路が作動を始め
る。被検眼Ｅまでの距離が適切であると、対物レンズ２
により二次元センサアレイ４上に角膜Ecでの測定用光源
10の反射像Ec″が結像し、これが第５図に示す点線内に
入ると積分回路23の出力が閾値を越える。
14を点灯して前眼部Ebを照明し、検者はモニタに映し出
された前眼部像Eb′を見ながら概略の位置合わせを行
い、その後に測定回路を起動する図示しない釦を押す。
すると、照明用光源14は消灯し測定用光源10が点灯し、
眼底Erにスポット光束が投影され測定回路が作動を始め
る。被検眼Ｅまでの距離が適切であると、対物レンズ２
により二次元センサアレイ４上に角膜Ecでの測定用光源
10の反射像Ec″が結像し、これが第５図に示す点線内に
入ると積分回路23の出力が閾値を越える。
このとき、眼底Erからの反射光束は分離プリズム13を
経て光束Ａ〜Ｆを二次元センサアレイ４上に投影してお
り、この像も画像メモリ18に格納される。この画像は直
ちに演算・制御回路25によって取り出され、光束Ａ〜Ｆ
の位置座標が算出され、これに演算がなされて眼屈折値
等の測定値が求められ、図示しない表示装置に出力され
る。
経て光束Ａ〜Ｆを二次元センサアレイ４上に投影してお
り、この像も画像メモリ18に格納される。この画像は直
ちに演算・制御回路25によって取り出され、光束Ａ〜Ｆ
の位置座標が算出され、これに演算がなされて眼屈折値
等の測定値が求められ、図示しない表示装置に出力され
る。
上述の実施例において、測定のタイミング及び測定そ
のものは全て自動的によってなされるため、検者は起動
釦を押した後に被検眼Ｅを正しく位置合わせするだけで
充分であり、正しい位置合わせがなされた瞬間に測定が
完了する。このとき、正しい位置合せがなされていなけ
ればならない時間は、最大でも２画面の走査時間より少
ない。
のものは全て自動的によってなされるため、検者は起動
釦を押した後に被検眼Ｅを正しく位置合わせするだけで
充分であり、正しい位置合わせがなされた瞬間に測定が
完了する。このとき、正しい位置合せがなされていなけ
ればならない時間は、最大でも２画面の走査時間より少
ない。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明に係る眼測定装置によれ
ば、同じ画面の信号により検眼測定と位置検出とを行う
ので正確な測定ができる。
ば、同じ画面の信号により検眼測定と位置検出とを行う
ので正確な測定ができる。
図面は本発明に係る眼測定装置の実施例を示し、第１図
は光学系の構成図、第２図は開口絞りの正面図、第３図
は６穴絞りの正面図、第４図は分離プリズムの正面図、
第５図はセンサ上の反射光束の説明図、第６図は前眼部
像の説明図、第７図は測定回路のブロック回路図、第８
図はタイミングチャート図、第９図は走査線の説明図で
ある。 符号１、３はダイクロイックミラー、２は対物レンズ、
４は二次元センサアレイ、８は開口絞り、10は測定用光
源、14は照明用光源、18は画像メモリ、19カウンタ、20
は数値比較回路、21はアンドゲート、22はタイミングコ
ントローラ、23は積分回路、24はコンパレータ、25は演
算・制御回路である。
は光学系の構成図、第２図は開口絞りの正面図、第３図
は６穴絞りの正面図、第４図は分離プリズムの正面図、
第５図はセンサ上の反射光束の説明図、第６図は前眼部
像の説明図、第７図は測定回路のブロック回路図、第８
図はタイミングチャート図、第９図は走査線の説明図で
ある。 符号１、３はダイクロイックミラー、２は対物レンズ、
４は二次元センサアレイ、８は開口絞り、10は測定用光
源、14は照明用光源、18は画像メモリ、19カウンタ、20
は数値比較回路、21はアンドゲート、22はタイミングコ
ントローラ、23は積分回路、24はコンパレータ、25は演
算・制御回路である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−25834（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−64022（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−19146（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−24927（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−26044（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) A61B 3/10
Claims (1)
- 【請求項１】光束を被検眼に投影しその反射光を単一の
撮像素子で検出し検眼測定をする検眼手段と、光源によ
る角膜反射像を前記撮像素子で検出し被検眼位置検出を
する位置検出手段とを有し、前記検眼手段による反射光
と前記位置検出手段による角膜反射光とが共に映ってい
る前記撮像素子の信号により前記検眼測定と被検眼位置
検出を行うことを特徴とする眼測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2077658A JP2975393B2 (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 | 眼測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2077658A JP2975393B2 (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 | 眼測定装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15135099A Division JP3176897B2 (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | 眼測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03275036A JPH03275036A (ja) | 1991-12-05 |
| JP2975393B2 true JP2975393B2 (ja) | 1999-11-10 |
Family
ID=13639980
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2077658A Expired - Fee Related JP2975393B2 (ja) | 1990-03-26 | 1990-03-26 | 眼測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2975393B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5725834A (en) * | 1980-07-19 | 1982-02-10 | Nippon Chemical Ind | Visual eye refractive force measuring apparatus having automatic cloud and mist apparatus |
| JPS5964022A (ja) * | 1982-10-05 | 1984-04-11 | キヤノン株式会社 | 屈折度測定装置 |
| JPH06101B2 (ja) * | 1985-07-19 | 1994-01-05 | 株式会社トプコン | 眼科機械用アライメント装置 |
-
1990
- 1990-03-26 JP JP2077658A patent/JP2975393B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03275036A (ja) | 1991-12-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |