JP2966794B2 - ウェハ位置決め装置 - Google Patents
ウェハ位置決め装置Info
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- JP2966794B2 JP2966794B2 JP19610496A JP19610496A JP2966794B2 JP 2966794 B2 JP2966794 B2 JP 2966794B2 JP 19610496 A JP19610496 A JP 19610496A JP 19610496 A JP19610496 A JP 19610496A JP 2966794 B2 JP2966794 B2 JP 2966794B2
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
かに大きいウェハ落とし込み段差を有したウェハステー
ジにウェハを位置決めする時に使用されるウェハ位置決
め装置に関する。
ば次の方法がある。 1)ウェハのエッジをステージ上に設けた位置決め用ピン
に押しつけて行なう方法。
ている位置決めステージにて、一対もしくは複数のセン
サにてウェハ外周座標を認識し、中心座標を求め、補正
する方法。 3)ウェハ上にある位置決め用のマークを複数個のセンサ
にてモニタし、位置補正する方法。
術によれば、位置決め用ピン,位置決めステージ,また
はウェハ±の位置決め用マークがない場合、ウェハより
もわずかに大きなウェハ落とし込み段差がついたウェハ
ステージにウェハを確実にセットすることが困難であ
る。また、前記ウェハステージは可動式であるため、あ
るばらつきを持ってウェハ受け渡し位置に停止する。更
に、ウェハ搬送と位置決めを短時間で行なうことが困難
である。
ので、ウェハよりもわずかに大きなウェハ落とし込み段
差がついたウェハステージに、ウェハを確実に短時間で
セットすることができるウェハ位置決め装置を提供する
ことを目的とする。
わずかに大きいウェハ落とし込み段差を有したウェハス
テージと、ウェハを前記ウェハステージ上に載せるアー
ム機能と位置補正機能を兼ねたウェハ移動機構と、各々
がウェハのエッジ位置とウェハステージ上のウェハ落と
し込み段差のエッジ位置を検出する、少なくとも2つの
モニタと、これらモニタに電気的に接続された画像位置
補正値演算装置と、前記ウェハを上下させるプッシャ上
下機構を具備することを特徴とするウェハ位置決め装置
である。
テージの開口内壁面とウェハの縁との距離を測るもの
で、この距離に基づいてウェハの移動量を前記画像位置
補正値演算装置により計算するものである。従って、前
記モニタは少なくとも2つ必要である。しかるに、複数
のモニタが前記ウェハステージの円周方向に沿って等間
隔で配置された3つのモニタである場合、ウェハステー
ジの段差のエッジとウェハのエッジの差を3等配された
ウェハ外周で等しくなるよう補正するため、ウェハステ
ージが絶対値に対してウェハ受け渡し位置がある範囲
(モニタ視野)内でばらついても、確実にウェハ位置決
め補正ができる。
ウェハ位置決め装置について図1及び図2を参照して説
明する。ここで、図1はこのウェハ位置決め装置の全体
図、図2は同装置の一構成であるウェハステージ及びモ
ニタの概略的な平面図である。
きいウェハ落とし込み段差1aを有しかつ中央部に開口
部1bを有した可動式のウェハステージである。このウ
ェハステージ1は、あるばらつきを持ってウェハ受け渡
し位置に停止するようになっている。前記ウェハステー
ジ開口部1b付近には、前記ウェハ2を上下に動かすプ
ッシャ上下機構3が配置されている。また、前記ウェハ
ステージ1付近には、ウェハ2を前記ウェハステージ1
上に載せるアーム4を備えたウェハ移動機構5が配置さ
れている。このウェハ移動機構5は、前記ウェハ2をウ
ェハステージ1上に載せるのみならず、ウェハ2の位置
補正も行う機能も備えている。
2のエッジ部を認識する3のモニタ61 ,62 ,63 が
ウェハステージ1の円周方向に120度の等間隔で配置
されている。これらモニタ61 〜63 には、画像位置補
正値演算装置7が電気的に接続されている。前記演算装
置7には前記ウェハ移動機構5が電気的に接続されてい
る。前記演算装置7により、前記各モニタ61 〜63 の
ウェハエッジと段差エッジの隙間が等しくなるウェハ2
の移動距離を計算し、ウェハ2を移動する。また、前記
プッシャ上下機構3によりウェハ2をアーム4より持ち
上げてアームを退避した後、ウェハ2を下降し、段差内
に落とし込む。
の作用について説明する。まず、ウェハ移動機構5によ
るアーム4にウェハ2を載せ、ウェハステージ1の方へ
移動する。ウェハ2を載せたアーム4がウェハステージ
1のほぼ上方に搬送したら、図2におけるモニタ61 の
A寸法、モニタ62 のB寸法、モニタ63 のC寸法を前
記演算装置7により画像処理し求め、寸法A,B,Cが
等しくなるようアーム4により位置補正する。位置補正
が済んだら、プッシャ上下機構3を上方へ移動させ、ウ
ェハ2をプッシャ上下機構3上へ移動させる。この後、
アーム4をウェハステージ1の上方から遠ざける。更
に、プッシャ上下機構3を降下させてウェハ2をウェハ
ステージ1の段差1aに落とし込む。なお、ウェハ2が
段差エッジに重なった状態では位置補正の計算ができな
くなるので、ウェハ搬送前に段差エッジを認識する必要
がある。
1及び図2に示すように、ウェハ2よりわずかに大きい
ウェハ落とし込み段差1aを有したウェハステージ1
と、ウェハ2を前記ウェハステージ1上に載せるアーム
4を備えウェハの位置補正機能を有したウェハ移動機構
5と、ウェハ位置、ウェハステージ1上のウェハ落とし
込み位置を検出する複数のモニタ61 〜63 と、これら
モニタ61 〜63 に電気的に接続された画像位置補正値
演算装置7と、前記ウェハ2を上下させるプッシャ上下
機構3を備えた構成となっている。こうした位置決め装
置によれば、下記に述べる効果を有する。
とウェハ2のエッジの差を3等配されたウェハ外周で等
しくなるよう補正するため、ウェハステージ1が絶対値
に対してウェハ受け渡し位置がある範囲(モニタ視野)
内でばらついても、確実にウェハ位置決め補正ができ
る。
の段差1aの外形がばらついてもそれらのエッジの差を
補正制御するため、確実にウェハ2を段差1a内にセッ
トできる。
ウェハ位置決めを行う必要がなく、ウェハ搬送処理時間
を短縮できる。 4)従来のようなピン突きあてによる位置決めと異なり、
位置補正はウェハ移動機構5にて行うため、ウェハ表面
及びエッジ部は非接触であり、さらにウェハ裏面も他の
ものとこすれないためパーティクルの発生がない。
ェハステージの円周方向に120度の等間隔で配置され
ている場合について述べたが、これに限定されるもので
はない。また、モニタの数を3つでなく、2つ以上であ
ればよい。
ェハよりもわずかに大きなウェハ落とし込み段差がつい
たウェハステージに、ウェハを確実に短時間でセットす
ることできるとともにパーティクルの発生のないウェハ
位置決め装置を提供できる。
の説明図。
ウェハステージ及びモニタの概略的な平面図。
Claims (2)
- 【請求項1】 ウェハよりわずかに大きいウェハ落とし
込み段差を有したウェハステージと、ウェハを前記ウェ
ハステージ上に載せるアーム機能と位置補正機能を兼ね
たウェハ移動機構と、各々がウェハのエッジ位置とウェ
ハステージ上のウェハ落とし込み段差のエッジ位置を検
出する、少なくとも2つのモニタと、これらモニタに電
気的に接続された画像位置補正値演算装置と、前記ウェ
ハを上下させるプッシャ上下機構を具備することを特徴
とするウェハ位置決め装置。 - 【請求項2】 前記モニタは前記ウェハステージの円周
方向に沿って等間隔で配置された3つのモニタであるこ
とを特徴とする請求項1記載のウェハ位置決め装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19610496A JP2966794B2 (ja) | 1996-07-25 | 1996-07-25 | ウェハ位置決め装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19610496A JP2966794B2 (ja) | 1996-07-25 | 1996-07-25 | ウェハ位置決め装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1041372A JPH1041372A (ja) | 1998-02-13 |
JP2966794B2 true JP2966794B2 (ja) | 1999-10-25 |
Family
ID=16352306
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19610496A Expired - Fee Related JP2966794B2 (ja) | 1996-07-25 | 1996-07-25 | ウェハ位置決め装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2966794B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4756766B2 (ja) * | 2001-04-23 | 2011-08-24 | 不二越機械工業株式会社 | ワークの供給装置 |
US7352440B2 (en) | 2004-12-10 | 2008-04-01 | Asml Netherlands B.V. | Substrate placement in immersion lithography |
-
1996
- 1996-07-25 JP JP19610496A patent/JP2966794B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH1041372A (ja) | 1998-02-13 |
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