JP2949984B2 - メモリ監視回路 - Google Patents

メモリ監視回路

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JP2949984B2
JP2949984B2 JP33792891A JP33792891A JP2949984B2 JP 2949984 B2 JP2949984 B2 JP 2949984B2 JP 33792891 A JP33792891 A JP 33792891A JP 33792891 A JP33792891 A JP 33792891A JP 2949984 B2 JP2949984 B2 JP 2949984B2
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衛一 蒲谷
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NEC Corp
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Nippon Electric Co Ltd
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  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)
  • Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はディジタル信号のタイム
スロットの入替えを行うタイムスロット入替装置用のメ
モリ監視回路に関し、特にタイムスロット入替えを行う
一方式であるダブルバッファ方式において、ダブルバッ
ファとして用いる2個の一時記憶回路の正常な書込み,
読出し動作を監視する方式に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のタイムスロット入替装置
において一時記憶回路の監視を行う手段としては、パリ
ティ検査方式が広く用いられている。この方式は有効情
報以外にパリティビットを1ビット付加し、書込み側で
マーク数の合計が奇数個か偶数個かになるように規制を
定めて、読出し側のマーク数がその通りになっているか
どうかを調べることにより、監視を行っていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし上述した従来の
パリティ検査方式では、一時記憶回路にパリティビット
用として余分に1ビット必要であり、一時記憶回路の容
量がその分余分に必要である。また、一時記憶回路の出
力がマーク数が正しい状態で固定されてしまった時には
障害が検出できないという欠点があった。
【0004】本発明は以上の点に鑑み、上記のような課
題を解決するためになされたもので、その目的は、タイ
ムスロットの入替えを行うダブルバッファ方式におい
て、ダブルバッファとして用いる2個の一時記憶回路の
正常な書込みと読出し動作を監視することのできるタイ
ムスロット入替装置用のメモリ監視回路を提供すること
にある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め本発明は、前述したタイムスロット入替装置におい
て、データ内に監視用の空タイムスロットを有する入力
データに対しそのデータの書込み,読出しを交互に周期
的に行う2個の一時記憶回路と、これら一時記憶回路の
各出力の一方を選択する第1選択回路と、データを書込
むためのアドレスを発生する書込みカウンタと、データ
を読出すためのアドレスを発生する読出しカウンタと、
書込みカウンタの値をシフトする第1加算器と、読出し
カウンタの値をシフトする第2加算器と、両加算器のシ
フト量を決定する制御回路と、各々の一時記憶回路ごと
に設けられかつ書込みアドレスと読出しアドレスのいず
れか一方を選択する2個の第2選択回路とを一備え、監
視用の空タイムスロットは、入力データにおける有効デ
ータの前後に付加されているものである。
【0006】
【作用】したがって本発明によれば、入力データにおい
て有効データの前後に監視用タイムスロットを設け、一
時記憶回路の監視のために固定パターンの書込み,読出
しを行うことにより、有効データが使用する一時記憶回
路の全領域に対する監視が可能となる。
【0007】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例によるメモリ監視回路を備
えたタイムスロット入替装置の基本的な回路構成図であ
る。同図において、1はデータ内に監視用の空タイムス
ロットを有する入力データDINに対しそのデータの書込
み,読出しを交互に周期的に行うためのRAMからなる
2個の一時記憶回路、2はこれら一時記憶回路1の各出
力の一方を選択する第1の選択回路、8はデータを書込
むためのアドレスを発生する書込みカウンタ、9はデー
タを読出すためのアドレスを発生する読出しカウンタで
ある。
【0008】また5は書込みカウンタ8の値をシフトす
る第1の加算器、6は読出しカウンタ9の値をシフトす
る第2の加算器、7は両加算器5,6のシフト量を決定
する制御回路であり、3及び4は各加算器5,6からの
書込みアドレスと読出しアドレスのいずれか一方を選択
するための第2の選択回路である。
【0009】次に動作を説明する。タイムスロット入替
装置は一般的に2個の一時記憶回路(RAM)1を備え
ており、一方の一時記憶回路1が書込みである場合は他
方の一時記憶回路1を読出しとし、書込みまたは読出し
のアドレスをランダムとすることにより、タイムスロッ
トの入替を実現している。しかるに本発明では、入力さ
れたデータDINは一時記憶回路1に一周期ごとに書込
む。このとき通常は一時記憶回路の一定の領域を使用す
るが、本発明では書込みカウンタ8の値を加算器5を用
いて1アドレスずつシフトしていく。この時の様子を図
2の監視シーケンスに示す。
【0010】すなわち、図2に示すx1が初期状態であ
るとすれば、次の書込み時にはx2の位置となり、一時
記憶回路1の使用領域が全体に1アドレスシフトしてい
る。これをxN の位置まで繰り返し、xN の位置の後は
1 の初期状態へ戻す(1サイクル)。ここで、入力デ
ータDINにおいて有効データ11の前後に監視用タイム
スロット12を設け、一時記憶回路1の監視のために固
定パターンの書込み,読出しを行うこととすれば、図2
から明らかなように監視領域は一時記憶回路1のアドレ
スA〜Bの範囲となる。ここで有効データ11はアドレ
ス(A+1)〜(B−1)の範囲しか使用していない。
この時、書込み側でアドレスをシフトした分読出し側で
補正する必要がある。このため読出しカウンタ9の値を
加算器6で補正する。これらの制御を制御回路7で実施
する。
【0011】このように本実施例のメモリ監視回路によ
ると、入力データDINにおいて有効データ11の前後に
監視用タイムスロット12を設け、一時記憶回路1の監
視のために固定パターンの書込み,読出しを行うことに
より、有効データ11が使用する一時記憶回路1の全領
域に対する監視を行うことができる。
【0012】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、監視用タ
イムスロットを一時記憶回路内の有効データが通過する
全アドレスを網羅するように変化させることにより、デ
ータのタイムスロット入替動作に影響を及ぼすことな
く、一時記憶回路内の有効データが通過する全セルの試
験が可能となるという効果を有する。また、同一セルに
書込み試験データを変化させる(例えば“1”,“0”
を交互に書込み)ことにより、一時記憶回路の出力が固
定されるような障害に対しても監視が可能となる効果を
有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のブロック構成図である。
【図2】上記実施例の動作を説明するための監視シーケ
ンスを示す説明図である。
【符号の説明】 1 一時記憶回路(RAM) 2 第1の選択回路 3 第2の選択回路 4 第2の選択回路 5 第1の加算器 6 第2の加算器 7 制御回路 8 書込みカウンタ 9 読出しカウンタ

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ディジタル信号のタイムスロットの入替
    えを行うダブルバッファ方式のタイムスロット入替装置
    において、 データ内に監視用の空タイムスロットを有する入力デー
    タに対しそのデータの書込み,読出しを交互に周期的に
    行う2個の一時記憶回路と、 これら一時記憶回路の各出力の一方を選択する第1選択
    回路と、 データを書込むためのアドレスを発生する書込みカウン
    タと、 データを読出すためのアドレスを発生する読出しカウン
    タと、 前記書込みカウンタの値をシフトする第1加算器と、 前記読出しカウンタの値をシフトする第2加算器と、 前記両加算器のシフト量を決定する制御回路と、 前記各々の一時記憧回路ごとに設けられかつ 書込みアド
    レスと読出しアドレスのいずれか一方を選択する2個の
    第2選択回路とを備え、 前記監視用の空タイムスロットは、前記入力データにお
    ける有効データの前後に付加されている ことを特徴とす
    るメモリ監視回路。
JP33792891A 1991-11-28 1991-11-28 メモリ監視回路 Expired - Lifetime JP2949984B2 (ja)

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