JP2942986B2 - 単結晶引き上げ用種結晶 - Google Patents

単結晶引き上げ用種結晶

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JP2942986B2 JP13792196A JP13792196A JP2942986B2 JP 2942986 B2 JP2942986 B2 JP 2942986B2 JP 13792196 A JP13792196 A JP 13792196A JP 13792196 A JP13792196 A JP 13792196A JP 2942986 B2 JP2942986 B2 JP 2942986B2
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Sumitomo Metal Industries Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は単結晶引き上げ用種
結晶に関し、より詳細にはチョクラルスキー法(以下、
CZ法と記す)等により、シリコン等からなる単結晶を
引き上げる際に用いられる単結晶引き上げ用種結晶に関
する。
【0002】
【従来の技術】現在、LSI(大規模集積回路)等の回
路素子形成用基板の製造に使用されているシリコン単結
晶の大部分は、CZ法により引き上げられている。図2
は、このCZ法に用いられる単結晶引き上げ装置を模式
的に示した断面図であり、図中11は坩堝を示してい
る。
【0003】この坩堝11は、有底円筒形状の石英製坩
堝11aと、この石英製坩堝11aの外側に嵌合され
た、同じく有底円筒形状の黒鉛製坩堝11bとから構成
されており、坩堝11は、図中の矢印方向に所定の速度
で回転する支持軸19に支持されている。この坩堝11
の外側には、抵抗加熱式のヒータ12、ヒータ12の外
側には保温筒18が同心円状に配置されており、坩堝1
1内には、このヒータ12により溶融させた結晶用原料
の溶融液13が充填されるようになっている。また、坩
堝11の中心軸上には引き上げ棒あるいはワイヤー等か
らなる引き上げ軸14が吊設されており、この引き上げ
軸14の先に種結晶保持具25を介して単結晶引き上げ
用種結晶36(以下、単に種結晶とも記す)が取り付け
られるようになっている。また、これら部材は、圧力の
制御が可能な水冷式のチャンバ20内に納められてい
る。
【0004】上記した単結晶引き上げ装置により単結晶
17を引き上げる方法を、図2及び図3に基づいて説明
する。図3(a)〜(d)は、単結晶を引き上げる各工
程のうちの、一部の工程における種結晶の近傍を模式的
に示した部分拡大正面図である。
【0005】図3には示していないが、まずヒータ12
により結晶用原料を溶融させ、チャンバ20内を減圧し
た後、しばらく放置して溶融液13中のガスを十分に放
出させ、その後、不活性ガスを導入してチャンバ20内
を減圧の不活性ガス雰囲気とする。
【0006】次に、支持軸19と同一軸心で逆方向に所
定の速度で引き上げ軸14を回転させながら、引き上げ
軸14の先に取り付けられた種結晶36を降下させ、種
結晶36の下端部36aを溶融液13に着液させる。
(以下、この工程をシーディング工程と記す)(図3
(a))。
【0007】この際、種結晶36の下端部36aは、急
激に温度が上昇するため熱応力による転位が導入され
る。そこで、種結晶36の先端に結晶を成長させる際、
結晶の成長界面の形状を下に凸にし、かつ所定径になる
まで結晶を細く絞ってネック17aを形成し、該転位を
排除する(以下、この工程をネッキング工程と記す)
(図3(b))。
【0008】次に、単結晶17の引き上げ速度(以下、
単に引き上げ速度とも記す)を落して単結晶17を所定
の径まで成長させ、ショルダー17bを形成する(以
下、この工程をショルダー形成工程と記す)(図3
(c))。
【0009】次に、一定の速度で単結晶17を引き上げ
ることにより、一定の径、所定長さのメインボディ17
cを形成する(以下、この工程をメインボディ形成工程
と記す)(図3(d))。
【0010】さらに、図3には示していないが、最後に
その直径を徐々に絞って単結晶17全体の温度を徐々に
降下させ、終端コーン形成後に単結晶17を溶融液13
から切り離す。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上記した単結晶の引き
上げ方法においては、直径が約6インチ、重量が80k
g程度の単結晶17を引き上げるために、直径が約12
mmの種結晶36を用い、種結晶36をピンで固定する
のが一般的であった。しかしながら、近年の半導体デバ
イスの高集積化、低コスト化及び生産性の効率化に対応
して、ウエハも大口径化が要求されてきており、最近で
は、例えば直径約12インチ(300mm)、重量が3
00kg程度の単結晶17の製造が望まれている。この
場合、従来のピン固定法では、固定部が引き上げられる
大重量の単結晶17の重さに耐えられずに破損し、単結
晶17が落下してしまうという問題があった。
【0012】そのため、最近ではテーパで保持する種結
晶が使用されている。図4はテーパ型の種結晶、及び該
テーパ型の種結晶が装着された種結晶保持具を模式的に
示した断面図である。
【0013】種結晶26は大口径部26aと小口径部2
6c、及びこれら大口径部26aと小口径部26cとを
接続する中間部26bにより構成され、中間部26bに
はテーパが付けられており、その垂直断面は直線となっ
ている。一方、種結晶保持具25は中央部分が空洞25
aとなっており、空洞25aの下部は種結晶26を嵌合
させることができるよう、種結晶26の外形と合致する
形状となっている。また、空洞25aの上部には、引き
上げ軸14の先端部を螺着することができるよう、ネジ
溝25bが形成されている。種結晶26の小口径部26
cの直径は14mm以上に設定されており、また、種結
晶保持具25の上部の形状は、引き上げ軸14の先端と
結合する構成であればよく、ネジ溝25bが形成されて
いない場合もある。
【0014】この種結晶26を使用すれば、直径が6m
m以上のネック17a(図3)を形成することができ、
ネック17aは大口径の単結晶17(図3)の重量にも
耐え得る。この場合、引き上げる単結晶17の重量は種
結晶保持具25と接触している部分のうちテーパが付け
られた中間部26bで支えられることになるが、通常、
種結晶26の表面には150μm以上の凹凸が存在し、
中間部26bに前記凹凸に起因した強度的に弱い部分が
存在すると、その箇所から亀裂が進行し、種結晶26が
単結晶17の重さに耐え切れず、破断してしまうという
課題があった。
【0015】また、中間部26bの垂直断面が直線のみ
で構成されていると、中間部26bと小口径部26cと
の境界部26dが屈曲した形状となり、注意深く加工を
施さないと境界部26dに傷等が発生し易い。境界部1
6dに傷が存在すると、単結晶引き上げの際に境界部1
6dから亀裂が進行し、種結晶26が破断してしまうと
いう課題があった。
【0016】本発明は上記課題に鑑みなされたものであ
り、300kg程度の大重量の単結晶を引き上げる際に
も、破断が発生しない単結晶引き上げ用種結晶を提供す
ることを目的としている。
【0017】
【課題を解決するための手段及びその効果】上記目的を
達成するために本発明に係る単結晶引き上げ用種結晶
(1)は、大口径部と小口径部とを有し、これら大口径
部と小口径部とを接続する中間部の垂直断面形状が曲線
を含んで構成されていることを特徴としている。
【0018】また、本発明に係る単結晶引き上げ用種結
晶(2)は、上記種結晶(1)において、中間部の曲率
の半径が30〜300mmであることを特徴としてい
る。
【0019】単結晶引き上げ用種結晶(1)又は(2)
によれば、前記中間部の垂直断面形状が曲線を含んで構
成されているので、前記中間部の垂直断面形状が直線に
より構成されている場合と比べてその面積が大きくな
り、単結晶引き上げの際に中間部の単位面積当りにかか
る単結晶の重量が小さくなる。また、前記中間部と前記
小口径部とが滑らかな曲線で接続され、前記中間部と前
記小口径部との境界部に傷等が形成されにくく、前記境
界部から亀裂が進行することもない。従って、大重量の
単結晶を引き上げる際にも、前記種結晶の破断を防止す
ることができる。
【0020】また、本発明に係る単結晶引き上げ用種結
晶(3)は、単結晶の重量を支持する部分の表面の凹凸
が100μm以下に制御されていることを特徴としてい
る。
【0021】単結晶引き上げ用種結晶(3)によれば、
前記凹凸に起因した亀裂の進行が殆ど発生せず、従っ
て、大重量の単結晶を引き上げる際にも、前記種結晶の
破断を防止することができる。
【0022】また、本発明に係る単結晶引き上げ用種結
晶(4)は、上記種結晶(1)又は(2)において、単
結晶の重量を支持する部分の表面の凹凸が100μm以
下に制御されていることを特徴としている。
【0023】単結晶引き上げ用種結晶(4)によれば、
単結晶の重量を支持する部分である前記中間部の垂直断
面形状が曲線を含んで構成されており、かつ表面処理が
施されているので、単結晶引き上げの際に前記中間部の
単位面積当りにかかる単結晶の重量が小さくなり、かつ
前記凹凸に起因した亀裂の進行が発生することもない。
従って、大重量の単結晶を引き上げる際にも、前記種結
晶の破断をより効果的に防止することができる。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る単結晶引き上
げ用種結晶の実施の形態を図面に基づいて説明する。な
お、従来例と同一機能を有する構成部分には、同一の符
号を付すこととする。
【0025】実施の形態に係る単結晶引き上げ用種結晶
を用いる単結晶引き上げ装置は、特に限定されるもので
はなく、CZ法に用いられる単結晶引き上げ装置(図
2)であってもよく、溶融層法に用いられる単結晶引き
上げ装置であってもよい。また、実施の形態に係る単結
晶引き上げ用種結晶は、12インチ以上の大口径、大重
量の単結晶の引き上げに用いることを前提としている。
【0026】図1は、実施の形態に係る単結晶引き上げ
用種結晶及び該単結晶引き上げ用種結晶が装着された種
結晶保持具を模式的に示した断面図である。
【0027】種結晶16は、大口径部16aと小口径部
16c、及びこれら大口径部16aと小口径部16cと
を接続する中間部16bにより構成されている。この中
間部16bの垂直断面形状は、上方にいくに従って広が
る曲線を含んで構成されており、また中間部16bと小
口径部16cとの境界部16dも曲面によりスムーズに
接続されており、直線的な屈曲部は存在せず、加工によ
る傷等も発生しにくくなっている。すなわち、中間部1
6bの垂直断面を構成する前記曲線は、境界部16d近
傍において、その垂線が小口径部16cの垂直断面を構
成する直線と一致するように構成されているため、境界
部16dが滑らかになっている。
【0028】一方、種結晶保持具15は中央部分に空洞
15aが形成され、空洞15aの下部は種結晶16を嵌
合させることができるよう、種結晶16の外形と合致す
る形状になっている。また、種結晶保持具15の上部に
は、引き上げ軸14の先端を螺着することができるよ
う、ネジ溝15bが形成されている。種結晶16の小口
径部16cの直径は、14mm以上に設定されている。
また、種結晶保持具15の上部は、引き上げ軸14を接
続することができる形状であればよく、ネジ溝15bの
代わりに水平方向に貫通孔が形成され、該貫通孔に棒を
通して引き上げ軸14の下端部が引っかけられるように
構成されていてもよい。
【0029】この種結晶16を使用すれば、大重量の単
結晶17(図3)にも十分耐えられる。この場合、引き
上げる単結晶17の重量を中間部16bで受けることに
なるが、中間部16bの垂直断面形状が曲線(例えば円
の一部)を含んで構成されているため、中間部16bの
垂直断面形状が直線のみで形成されている場合と比較し
てその外周面積は大きくなる。従って、単結晶引き上げ
の際に中間部16bの単位面積当りにかかる単結晶17
の重量が小さくなる。
【0030】中間部16bの垂直断面形状は特に限定さ
れるものではないが、例えば弧、楕円の一部等を含んだ
ものが挙げられる。中間部16bの垂直断面形状が弧を
含んだ形状である場合、その曲率半径は30〜300m
mが好ましい。また、小口径部16cの直径は6〜30
mmが好ましく、大口径部16aの直径は、10〜50
mmが好ましい。
【0031】中間部16b及び境界部16dの垂直断面
形状が曲線を含んで構成されており、中間部16bの外
周面積が従来の場合よりも大きいため、中間部16bの
単位面積当りにかかる単結晶17の重量は小さくなり、
特に表面処理を施さなくても種結晶16が破断する確率
は低くなる。しかし、種結晶16に表面処理を施すこと
により、種結晶16の破断の確率をより低くすることが
できる。前記表面処理が施された種結晶16の表面の凹
凸は100μm以下であるのが好ましく、50μm以下
であるのがより好ましい。種結晶16は、種結晶16作
製用の単結晶を切り出し加工することにより作製され
る。この種結晶16の表面処理は、紙やすりや砥石等を
用いて表面研磨した後、フッ硝酸に種結晶16を浸漬
し、洗浄することにより行う。
【0032】図4に示した種結晶26のように、中間部
26bの垂直断面形状が直線のみを含んで構成されてい
るものであっても、種結晶26に表面処理を施し、表面
の凹凸を少なくすることにより、単結晶17を引き上げ
る際に種結晶26が破断する確率が小さくなる。この場
合には、表面処理が施された部分の凹凸が100μm以
下であるのが好ましく、50μm以下であるのがより好
ましい。
【0033】なお、種結晶16、26を保持する種結晶
保持具15、25自体も大重量の単結晶17を引き上げ
る際に破断しないよう、高強度の材料で構成されている
必要があり、例えば炭素繊維により強化された黒鉛材等
が使用される。
【0034】
【実施例及び比較例】以下、実施例に係る単結晶引き上
げ用種結晶を説明する。また、比較例として、従来の単
結晶引き上げ用種結晶を用いて単結晶の引き上げを行っ
た場合についても説明する。以下、その条件、及び結果
(単結晶引き上げにおける結晶落下の回数)を下記の表
1〜4に示す。
【0035】
【表1】
【0036】
【表2】
【0037】
【表3】
【0038】
【表4】
【0039】上記表4に示した結果より明らかなよう
に、実施例1及び実施例2の場合には、中間部16bの
垂直断面形状が円弧を含んで構成されており、かつ表面
処理が施されているため、単結晶17の引き上げ途中に
おける落下が0/30、1/30であり、落下の確率は
極めて低かった。また、実施例1の場合と同様の形状で
表面処理が施されていない種結晶16を使用した実施例
4の場合、単結晶17の引き上げ途中における落下が5
/30と落下の回数は多くなってはいるものの、約83
%の単結晶17を落下させずに引き上げることができ
た。また、実施例3の場合、種結晶26の中間部26b
の垂直断面形状が直線のみを含んで構成されているもの
の、表面処理が施されているので、単結晶17の引き上
げ途中における落下は3/30とその確率は低かった。
【0040】これに対し、比較例1の場合には、種結晶
26の中間部26bの垂直断面形状が直線のみを含んで
構成されており、表面の凹凸が150μm以上であるた
め、単結晶17の引き上げ途中における落下は25/3
0と、83%の高い確率で落下が発生した。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態に係る、中間部の垂直断面
形状に直線的な屈曲部を持たない単結晶引き上げ用種結
晶、及び該単結晶引き上げ用種結晶が装着された種結晶
保持具を模式的に示した断面図である。
【図2】CZ法において使用される単結晶引き上げ装置
を模式的に示した断面図である。
【図3】(a)〜(d)は、従来の単結晶引き上げ用種
結晶の工程の一部における種結晶の近傍を模式的に示し
た部分拡大正面図である。
【図4】本発明の他の実施の形態及び従来の大重量の単
結晶を引き上げる際に用いられる、中間部の垂直断面形
状が直線のみを含んで構成されている単結晶引き上げ用
種結晶、及び該単結晶引き上げ用種結晶が装着された種
結晶保持具を模式的に示した断面図である。
【符号の説明】
16、26 単結晶引き上げ用種結晶 16a、26a 大口径部 16b、26b 中間部 16c、26c 小口径部 16d、26d 境界部

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 大口径部と小口径部とを有し、これら大
    口径部と小口径部とを接続する中間部の垂直断面形状が
    曲線を含んで構成されていることを特徴とする単結晶引
    き上げ用種結晶。
  2. 【請求項2】 中間部の曲率の半径が30〜300mm
    であることを特徴とする請求項1記載の単結晶引き上げ
    用種結晶。
  3. 【請求項3】 単結晶を支持する部分の表面の凹凸が1
    00μm以下に制御されていることを特徴とする単結晶
    引き上げ用種結晶。
  4. 【請求項4】 単結晶を支持する部分の表面の凹凸が1
    00μm以下に制御されていることを特徴とする請求項
    1又は請求項2記載の単結晶引き上げ用種結晶。
JP13792196A 1996-05-31 1996-05-31 単結晶引き上げ用種結晶 Expired - Lifetime JP2942986B2 (ja)

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