JP2923861B2 - 波形観測装置の前処理回路 - Google Patents

波形観測装置の前処理回路

Info

Publication number
JP2923861B2
JP2923861B2 JP4364391A JP4364391A JP2923861B2 JP 2923861 B2 JP2923861 B2 JP 2923861B2 JP 4364391 A JP4364391 A JP 4364391A JP 4364391 A JP4364391 A JP 4364391A JP 2923861 B2 JP2923861 B2 JP 2923861B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
flop
type flip
counter
trigger condition
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP4364391A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0560807A (ja
Inventor
均 福澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
YOKOKAWA DENKI KK
Original Assignee
YOKOKAWA DENKI KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by YOKOKAWA DENKI KK filed Critical YOKOKAWA DENKI KK
Priority to JP4364391A priority Critical patent/JP2923861B2/ja
Publication of JPH0560807A publication Critical patent/JPH0560807A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2923861B2 publication Critical patent/JP2923861B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、波形観測装置の前処理
回路に関するものであり、詳しくは、波形観測に最適な
設定を自動的に行う機能の改善に関するものである。
【0002】
【従来の技術】デジタルオシロスコ―プのような波形観
測装置では、自動的に波形観測に最適な設定を行うオ―
トセットアップ機能を設けることが多い。
【0003】このようなオ―トセットアップ機能の一つ
に、アナログ入力信号の周期を測定し、その測定結果に
応じてサンプルクロックの周波数や表示部の時間軸を最
適値に設定する機能がある。従来、このような周期測定
にあたっては、アナログ入力信号をデジタル信号に変換
してメモリに格納し、その後、メモリに格納されたデ―
タに複雑な信号処理を施すことが行われていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の構成によれば、メモリに格納されたデ―タに基づい
て周期を測定していることから、測定結果を得るまでに
比較的時間がかかるという問題がある。本発明の目的
は、このような従来の問題点を解決するものであって、
比較的簡単な回路構成で、イベントトリガ発生機能とア
ナログ入力信号の周期を高速に測定できる機能を有し、
オ―トセットアップの高速化が可能な波形観測装置の前
処理回路を実現することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、アナログ入力
信号と予め設定されたアナログ基準信号を比較するコン
パレ―タと、このコンパレ―タの出力信号が予め設定さ
れたトリガ条件を満たしたことを検出してトリガ条件成
立信号を出力するトリガ条件設定器と、サンプルクロッ
クに同期した1ショットパルスを出力する1ショットパ
ルス発生器と、デ―タ端子に前記1ショットパルス発生
器の出力信号とトリガイネ―ブルの論理和が加えられ、
クロック端子に前記トリガ条件設定器から出力されるト
リガ条件成立信号が加えられ、自身の出力信号でリセッ
トされる第1のD形フリップフロップと、このD形フリ
ップフロップの出力信号をカウントし、予め設定された
数に到達した時点でキャリ―信号を出力するカウンタ
と、デ―タ端子にHレベルの信号が加えられ、クロック
端子にカウンタのキャリ―信号が加えられる第2のD形
フリップフロップと、前記アナログ基準信号,トリガ条
件,サンプルクロック周期およびカウンタの初期値をそ
れぞれ所望の値に設定し、1ショットパルス発生器にス
タ―ト信号を与え、第2のD形フリップフロップにリセ
ット信号を与え、カウンタのカウントデ―タおよび第2
のD形フリップフロップの出力信号を取りこむ演算制御
部、を設けたことを特徴とする。
【0006】
【作用】1ショットパルス発生器の出力信号をLレベル
にしておくことにより、カウンタに予め設定された数だ
けトリガ条件成立信号が発生した時点でトリガ信号を出
力するイベントトリガ発生装置として動作する。これに
対し、トリガ条件を測定対象アナログ入力信号について
設定してトリガイネ―ブル信号をLレベルに設定し、サ
ンプルクロックの周波数を適切な値に設定して1ショッ
トパルス発生器をスタ―トさせることにより、カウンタ
は1ショットパルスがHレベルの間に出力されるトリガ
条件成立信号をカウントする。これにより、1ショット
パルスのパルス幅とトリガ条件成立信号のカウント値か
ら測定対象アナログ入力信号の周期を測定できる。
【0007】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図1は本発明の一実施例を示すブロック図であり、
4チャンネル入力のデジタルオシロスコ―プの前処理回
路の例を示している。図において、1はアナログ入力信
号の入力端子であり、バッファアンプ2の入力端子に接
続されている。このバッファアンプ2の出力端子は、コ
ンパレ―タ3の一方の入力端子に接続されるとともにA
/D変換器4の入力端子に接続されている。コンパレ―
タ3の他方の入力端子にはD/A変換器5の出力端子が
接続され、その出力端子はトリガ条件設定器6に接続さ
れている。A/D変換器4の出力端子は図示しないデ―
タ処理系統に接続される。7は1ショットパルス発生器
である。8はサンプルクロック発生器であり、その出力
端子はA/D変換器4のクロック端子および1ショット
パルス発生器7のクロック端子に接続されている。1シ
ョットパルス発生器7の出力端子はオアゲ―ト9の一方
の入力端子に接続されている。このオアゲ―ト9の他方
の入力端子にはトリガイネ―ブル信号が加えられ、その
出力信号は第1のD形フリップフロップ10のデ―タ端
子Dに加えられている。このD形フリップフロップ10
のクロック端子にはトリガ条件設定器6の出力端子が接
続され、出力端子Qはカウンタ11のクロック端子に接
続されるとともに1ショットパルス発生器12を介して
リセット端子Rに接続されている。カウンタ11のキャ
リ―出力端子は第2のD形フリップフロップ13のクロ
ック端子に接続されている。このD形フリップフロップ
13のデ―タ端子DにはHレベルの信号が加えられ、出
力端子Qは演算制御部14に接続され、リセット端子R
には演算制御部14からリセット信号が加えられてい
る。この演算制御部14は、D/A変換器5にトリガレ
ベルを設定するためのデ―タを与え、トリガ条件設定器
6に必要なトリガ条件を設定し、1ショットパルス発生
器7にスタ―ト信号を与え、サンプルクロック発生器8
の出力周波数を制御し、カウンタ11に初期値を設定す
るとともにカウンタ11のカウント値を読込む機能を持
っている。
【0008】コンパレ―タ3はバッファアンプ2の出力
信号とトリガレベルとして与えられるD/A変換器5の
出力信号を比較し、H,Lの2値化信号を出力する。ト
リガ条件設定器6のトリガ条件は演算制御部14により
各チャンネル毎にまたは複数チャンネルを関連させて設
定される。1ショットパルス発生器7は演算制御部14
からスタ―ト信号が加えられることにより、予め設定さ
れたサンプルクロックパルスの数の期間連続したパルス
幅の信号を出力する。サンプルクロック発生器8は演算
制御部14から与えられるスタ―ト信号に従ってサンプ
ルクロックに同期した所定のパルス幅の1ショットパル
スを出力する。1ショットパルス発生器12はD形フリ
ップフロップ10の出力信号がHレベルになることによ
って所定のパルス幅の1ショットパルスを出力し、D形
フリップフロップ10をリセットする。カウンタ11は
初期値からカウントを開始し、カウント値がオ―バ―フ
ロ―するとキヤリ―信号を出力する。D形フリップフロ
ップ13はトリガ信号を出力するためのものであり、カ
ウンタ11のキャリ―信号がHレベルになることにより
トリガ信号を出力する。
【0009】このように構成される回路は、信号の設定
レベルに従って、イベントトリガ発生装置または周波数
カウンタとして動作する。すなわち、トリガイネ―ブル
信号をHレベルに設定して1ショットパルス発生器7の
出力信号をLレベルに設定しておくことにより、イベン
トトリガ発生装置として動作する。この場合、トリガ条
件設定器6から出力されるトリガ条件成立信号がカウン
タ11に予め設定された数だけ発生した時点でD形フリ
ップフロップ13はトリガ信号を出力する。イベントト
リガ発生装置として動作する。なお、トリガ条件は、注
目する1チャンネルのみに設定してもよいし、複数チャ
ンネルに関して設定してもよい。
【0010】周波数カウンタとして動作させる場合、ト
リガ条件設定器6のトリガ条件を被測定チャンネルにつ
いて設定し、トリガイネ―ブル信号をLレベルに設定
し、サンプルクロック発生器8の出力信号を適当な周波
数に設定し、1ショットパルス発生器7にスタ―ト信号
を与える。1ショットパルス発生器7はサンプルクロッ
クの一定周期間Hレベルのパルス信号を出力する。カウ
ンタ11は1ショットパルス発生器7の出力信号がHレ
ベルの間にトリガ条件設定器6から出力されるパルス数
をカウントする。これにより、1ショットパルス発生器
7の出力パルス幅とカウンタ11のカウント値から被測
定チャンネルのアナログ入力信号の周波数を求めること
ができる。
【0011】ここで、入力周波数が高くてカウンタ11
がオ―バ―フロ―した場合にはキャリ―出力がHレベル
になってD形フリップフロップ13の出力信号もHレベ
ルになる。従って、演算制御部14でD形フリップフロ
ップ13の出力信号レベルを調べることにより、カウン
タ11がオ―バ―フロ―しているかどうかを識別でき
る。カウンタ11がオ―バ―フロ―している場合には、
サンプルクロック発生器8の周波数を高くして再度周波
数測定を行う。逆にカウント数が少なすぎる場合にはサ
ンプルクロック発生器8の周波数を低くして再度周波数
測定を行う。
【0012】オ―トセットアップのための周波数測定に
あたっては、分解能はあまり高くなくてもよい。また、
イベントトリガのカウンタ11としては少なくとも8ビ
ットあればよい。
【0013】サンプルクロック発生器8の出力周波数設
定可能範囲は最高サンプルレ―トから数Hzまでと十分
広いので1ショットパルス発生器7の出力信号のパルス
幅の可変範囲も十分広くできる。従って、本発明におけ
る周波数の測定範囲も十分広くできる。
【0014】図2はオ―トセットアップの動作の具体例
を示すフロ―チャ―トであり、最高サンプルレ―ト設定
時の表示部の時間軸感度が500ns/divのオシロ
スコ―プの場合を示している。カウンタ11は8ビット
とする。まず、1ショットパルス発生器7の出力パルス
幅が2msになるようにサンプルクロック発生器8の出
力周波数を設定して(ステップ)、周波数を測定する
(ステップ)。そして、カウンタ11のオ―バ―フロ
―の有無を判断する(ステップ)。オ―バ―フロ―が
あった場合、1ショットパルス発生器7の出力パルス幅
が100μsになるようにサンプルクロック発生器8の
出力周波数を設定して(ステップ)、周波数を測定し
(ステップ)、周波数測定動作を終了する。オ―バ―
フロ―がない場合、カウンタ11のカウント値が10よ
りも小さいかどうかを判断する(ステップ)。カウン
ト値が10よりも大きい場合には周波数測定動作を終了
する。カウント値が10よりも小さい場合、1ショット
パルス発生器7の出力パルス幅が40msになるように
サンプルクロック発生器8の出力周波数を設定して(ス
テップ)、周波数を測定し(ステップ)、周波数測
定動作を終了する。
【0015】このように構成することにより、従来の周
波数測定のようにメモリに格納されたデ―タに信号処理
を施す必要はないので高速測定が行え、高速オ―トセッ
トアップが実現できる。
【0016】なお、上記実施例では1ショットパルス発
生器7は予め設定された数だけサンプルクロックをカウ
ントしてその間のパルス幅信号を出力する例を示した
が、その数を演算制御部で任意に設定するようにしても
よい。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
比較的簡単な回路構成で、イベントトリガ発生機能とア
ナログ入力信号の周期を高速に測定できる機能を有し、
オ―トセットアップの高速化が可能な波形観測装置の前
処理回路を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図2】図1の動作を説明するフロ―チャ―トである。
【符号の説明】 1 入力端子 2 バッファアンプ 3 コンパレ―タ 4 A/D変換器 5 D/A変換器 6 トリガ条件設定器 7,12 1ショットパルス発生器 8 サンプルクロック発生器 9 オアゲ―ト 10,13 D形フリップフロップ 11 カウンタ 14演算制御部(CPU)

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アナログ入力信号と予め設定されたアナ
    ログ基準信号を比較するコンパレ―タと、 このコンパレ―タの出力信号が予め設定されたトリガ条
    件を満たしたことを検出してトリガ条件成立信号を出力
    するトリガ条件設定器と、 サンプルクロックに同期した1ショットパルスを出力す
    る1ショットパルス発生器と、 デ―タ端子に前記1ショットパルス発生器の出力信号と
    トリガイネ―ブルの論理和が加えられ、クロック端子に
    前記トリガ条件設定器から出力されるトリガ条件成立信
    号が加えられ、自身の出力信号でリセットされる第1の
    D形フリップフロップと、 このD形フリップフロップの出力信号をカウントし、予
    め設定された数に到達した時点でキャリ―信号を出力す
    るカウンタと、 デ―タ端子にHレベルの信号が加えられ、クロック端子
    にカウンタのキャリ―信号が加えられる第2のD形フリ
    ップフロップと、 前記アナログ基準信号,トリガ条件,サンプルクロック
    周期およびカウンタの初期値をそれぞれ所望の値に設定
    し、1ショットパルス発生器にスタ―ト信号を与え、第
    2のD形フリップフロップにリセット信号を与え、カウ
    ンタのカウントデ―タおよび第2のD形フリップフロッ
    プの出力信号を取りこむ演算制御部、を設けたことを特
    徴とする波形観測装置の前処理回路。
JP4364391A 1991-03-08 1991-03-08 波形観測装置の前処理回路 Expired - Lifetime JP2923861B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4364391A JP2923861B2 (ja) 1991-03-08 1991-03-08 波形観測装置の前処理回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4364391A JP2923861B2 (ja) 1991-03-08 1991-03-08 波形観測装置の前処理回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0560807A JPH0560807A (ja) 1993-03-12
JP2923861B2 true JP2923861B2 (ja) 1999-07-26

Family

ID=12669551

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4364391A Expired - Lifetime JP2923861B2 (ja) 1991-03-08 1991-03-08 波形観測装置の前処理回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2923861B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0560807A (ja) 1993-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5180971A (en) Method and apparatus for increasing throughput in random repetitive digitizing systems
US4523289A (en) Time interval measuring system
US5637994A (en) Waveform measurement
US4646297A (en) Skew detector
JP2923861B2 (ja) 波形観測装置の前処理回路
US4105932A (en) "Slewed pulse" scope sweep calibrator
US4611926A (en) Time interval measuring instrument
US5180931A (en) Sampling method and circuit
EP0444875A2 (en) Method and apparatus for increasing throughput in random repetitive digitizing systems
US5168220A (en) Method and apparatus for measuring motor speed using a constant sampling time
US3854092A (en) Apparatus for measuring dynamic characteristics of semiconductor switching elements
US4527907A (en) Method and apparatus for measuring the settling time of an analog signal
CA1151329A (en) Method of displaying logic signals for a logic signal measurement apparatus
KR100434478B1 (ko) 펄스성 신호의 지터 측정장치 및 방법
KR100216946B1 (ko) 전압레벨 트리거 장치
JP4162426B2 (ja) 測定機の合否判定出力方法及び装置
JPH08189942A (ja) パルス幅計測装置
JP3102830B2 (ja) 測定データ出力方法及び測定データ出力回路
SU1539690A1 (ru) Измеритель отношени сигнал/шум телевизионного сигнала
JPH07128372A (ja) 信号測定方法
JP2003014786A (ja) トリガ信号生成装置
KR100190699B1 (ko) 게이트 신호 자동조정 기능을 구비하는 주파수 카운터
JPS6329226B2 (ja)
JP3256356B2 (ja) 時間差測定方法
EP0660585A2 (en) Adaptive method for high speed detection of position and intensity