JP2915147B2

JP2915147B2 - 光電センサ装置および緯糸測定貯留装置

Info

Publication number: JP2915147B2
Application number: JP9505491A
Authority: JP
Inventors: リリィア，ヘンリック
Original assignee: Iro AB
Current assignee: Iro AB
Priority date: 1995-07-11
Filing date: 1996-07-05
Publication date: 1999-07-05
Anticipated expiration: 2016-07-05
Also published as: US5966211A; KR19990028680A; KR100293027B1; EP0837829A2; CN1190379A; WO1997003012A1; JPH10511069A; EP0837829B1; CN1084285C; DE59603233D1; DE19525260A1

Description

【発明の詳細な説明】本発明は特許請求項１のプリアンブルによる光電セン
サ装置、および、特許請求項４のプリアンブルによる緯
糸測定貯留装置に関する。

GB−Ｃ−1 283 528から知られている光電センサ装置
においては、紡績糸の横向きの通過が、巻出された走行
糸を開口内に通してリング紡績機内で検知される。この
開口はそれを直径方向に通過する光ビームを有し、光ビ
ームは光源から放出されている。光源は開口壁に配置さ
れ、光ビームは開口を通って対向するレシーバに入る。
レシーバの前にはスリット穴が配列されている。レシー
バは光の変化またはスリット穴の上を通過する糸の影に
応答する。振動や外来光等の外乱要因が、糸のスキャン
領域内でスリット穴を適切に通過していないという事実
にもかかわらず、レシーバが誤信号を出力することを誘
発し得る。

緯糸測定貯留装置においては、緯糸を供給する緯糸織
機に典型的に用いられているように、引き出しの際に緯
糸がスキャン領域を通過する時およびその事実に関して
の正確な情報が、各々の緯糸の供給動作を制御および監
視するために必要とされている。この目的のために、照
らされたスキャン領域に向けられ光の変化に応答するレ
シーバが備えられた、少なくとも一つの引き出しセンサ
が設けられている。振動、外来光の影響、または、実際
の作動中に見られる他の好まざる要因はまた、レシーバ
が応答するのを誘発するので、緯糸の通過から得られる
信号の重要性は信頼されるべきではない。それ故に、貯
留体の軸線方向に互いに近接して配列されている二つの
レシーバが同じスキャン領域に向けられ、かつ、緯糸の
通過に対する重要な信号が二つのレシーバの応答から差
動回路で得られる方法が、実際には適応されていた。こ
の信号は好まざる要因により発生される信号とは区別さ
れ得る。何故なら、好まざる要因は、同時に、かつ、同
じ方法で両レシーバに観察され、一方、糸は二つのレシ
ーバにより記録が時間的にずれるように記録されるとい
う事実の故である。それにもかかわらず、二つのレシー
バを備えたこの公知のスキャンセンサは幾つかの理由に
より信頼性をもって作動しない。各レシーバの受光表面
に通常はおおよそ円形である。受光表面に対して移動す
る糸は、受光表面が円形であり過渡的な像形成の故に、
それの反射光またはそれの影によって次第に像がとらえ
られるのみである。加えて、受光表面の縁部におけるレ
シーバの応答感度は中央付近よりも弱い。従って、差動
回路において評価される信号は、緩やかな信号増大およ
び緩やかな信号減少の故に弱く、かつ、多大な増幅努力
を必要とするが、しかしながら、これは好まざる要因の
場合には望ましくない。さらに、かかる測定貯留装置
は、貯留体上の糸供給の引き出し側で糸供給端の紛れも
ない軸線方向の往復運動を伴って作動せざるを得ない。
特に、糸の分離を伴うとき、および／または、鮮明な模
様が織られているときがそうである。これは、糸供給の
最終巻きから糸を引き出している糸引き出しジオメトリ
が、貯留体の軸線にそれぞれ関しておおよそ軸線方向と
おおよそ周方向との間で、スキャン領域においてその長
手方向の向きを変化させる結果となる。スキャン領域に
おいて糸がおおよそ軸線方向に向くと、糸は両レシーバ
により同時にかつ同様の方法で感知され、二つのレシー
バで同時にかつ同様の方法で感知されている好まざる要
因に関して区別することを困難にするか、または、それ
を排除さえすることになる。

本発明の目的は、好まざる要因により発生された信号
から容易に区別され得る強く意味のある有用な信号を糸
の通過に基づいて生じさせることのできる、上述の形式
の簡単な光電センサおよび緯糸測定貯留装置を提供する
ことにある。測定貯留装置においては、引き出しセンサ
は、糸の引き出し速度の変化、糸の品質の異同およびス
キャン領域における糸の向きの変化にかかわらず、糸が
スキャン領域を通過した時およびその事実についての正
確な情報を供給することが意図されている。

用語「糸」とは、概ね、糸（thread）、撚り糸、フィ
ラメント、紡糸、ワイヤ、細帯、フォイルスリップ等を
意味する。

しかしながら、レシーバがスキャンされる対象の像を
とらえすなわち正確にとらえ、位置感知検出器、光学的
像形成システムおよび高品質回路を必要とする複雑な電
子的センサ装置は明らかに除かれる。かかるセンサ装置
は、それ自体または測定貯留装置において、通過する糸
をスキャンするには余りに複雑かつ高価であり、かく
て、他の理由によっても使用が除かれる（例えば、WO 8
9/00215,EP−Ａ−0529 281）。

上記目的は、特許請求項１の特徴を備えた光電センサ
装置および特許請求項４の特徴を備えた緯糸測定貯留装
置で達成される。

光電センサ装置および緯糸測定貯留装置において、各
糸の通過をスキャンする間、好まざる要因による信号か
ら容易に区別することのできる正確で、意味があり、か
つ、強い有用な信号が、特別に有利な点すなわち構造お
よび回路の観点では小さくかつ高価ではないという努力
の下に得られる。スキャン領域における糸の方向は最早
重要ではない。というのも、糸は二つのスリット穴を異
なる時に、または異なる幾何学的配置で通過し、二つの
レシーバの応答の微分評価が、好まざる要因は二つのレ
シーバで同時にかつ同じ幾何学的配置で記録されるの
で、好まざる要因による信号と明らかに異なる明瞭な信
号に導くからである。さらに、一方では受光表面の感度
の低い縁部は覆われて作動しないこと、および他方では
糸が各スリット穴内で（反射光または影により）きわめ
て急な（ほとんど過渡期間がない）速さでその全寸法が
視認できるようになるので、スキャン領域内の糸の通過
に基づき強い信号変調が得られる。スリット穴により狭
められている受光表面部位上に糸の全体像が形成される
までに経過する時間は、全体像が完全に消失までの時間
と同様にきわめて短いので、差動評価技術により発生さ
れる信号はほとんど増幅努力を伴わず派生され得、か
つ、好まざる要因によって発生される信号には現れない
強い周波数部位を含んでいる。全体から見て、二つのレ
シーバ、二つのスリット穴およびスキャン領域において
糸の向きに無関係なスリット穴の幾何学的配列、好まざ
る要因の強度および周波数、および埃とほとんど無関係
であることを利用して、糸の通過に基づき強く意味のあ
る信号を得る結果となり、この信号は僅かな回路上の努
力を払うことによりさらに処理され得る。光の変化に応
答する単純かつ廉価なレシーバが用いられる。これらレ
シーバの応答特性は滑らかであり、適切な糸の通過の際
スリット穴により予期し得ない方法で強化される。レシ
ーバは互いに近接した関係で配列することができる。こ
の有利な結果は、近年の糸処理システムにおいて普通で
ある最大糸速度においてさえも保証される。しかしなが
ら、各々が１つのスリット穴を備えるレシーバを二つよ
り多く用いることもまた可能である。

光の変化に反応するレシーバの応答特性に関して重大
である受光表面の縁部は請求項２による実施例では覆わ
れている。しかしながら、スリット穴を受光表面の直径
と同じか、それよりも長く形成することもまた可能であ
る。

請求項３による実施例では、有用な信号は二つのレシ
ーバの応答から差動回路としてデザインされている評価
回路において発生される。

請求項５による実施例においては、コンパクトな構造
の引き出しセンサが得られ、ここに、引き出しセンサは
スキャン領域を移動する糸の速度変化と事実上無関係
で、かつ、スキャン領域における糸のそれぞれの方向と
はとりわけ無関係である。

請求項６による実施例は、特に好都合である。これに
より、糸がスリット穴により限定されている受光表面の
部位上でのみ、かつ、スキャン領域で異なる時に、およ
び／または異なるジオメトリで糸の向きに無関係に両レ
シーバによって感知されることが保証される。

特に好都合な実施例は請求項７に従う。Ｔの横棒が直
角の脚から僅かに離間され、スリット穴の幾何学的形態
を通過する糸のスキャンの際に非対称となる状況が都合
よく、この非対称性は、有用な信号と好まざる信号とを
区別するため、および強力で有用な信号のために重要で
ある。

請求項８に示されているようなスリット穴の形状は、
受光表面の部分への全入射または影付けが、有用な信号
のためにできるだけ高い周波数部分を得るべくきわめて
急速に、それぞれ開始および停止することを保証する。

請求項９による同じ寸法のスリット穴は有利である。

請求項10による実施例は特に重要である。スキャン領
域において糸の取り得る向きに対してスリット穴の位置
をこのように適合することにより、糸が二つのレシーバ
により同じジオメトリに、すなわち、同時に感知される
という状況を不可能にする。

請求項11の実施例は、コンパクトで、作動的に安全
で、かつまた信頼性ある引き出しセンサのデザインを可
能とする。チャンネル、レシーバ、光源およびスリット
穴を有するホルダは、単純かつ廉価で、高精度に製造で
き、かつ、制限されたスペース内でさえも有利に収容さ
れ交換できる部品である。

請求項12による実施例では、この部品はきわめて限ら
れた構造的スペーサ内に組み合わされる。

請求項13の実施例では、カバーペーンがホルダに配列
されている部品を汚れや埃から保護する。

請求項14による寸法的な距離は有利なことが分かっ
た。

最後に、請求項15による実施例では、スリット穴のそ
れぞれの位置およびスリット穴間の相対位置は、設定ま
たは調節できる。

本発明の主題の実施例が図面を参照して説明され、こ
こにおいて、図１はセンサ装置の概略的上面図であり、図2A,Bは図１に示されたセンサ装置の部分断面側面図
であり、図３は糸供給装置の引き出しセンサとしてデザインさ
れたセンサ装置を概略的に示し、図４は図１、図３および図７に用いられ得るスリット
穴の可能な形状の一選択枝を示し、図5Aは緯糸測定貯留装置の側面図であり、図5Bは図5Aに関連する前面図であり、図６は図5Aに関する細部の長手方向断面図であり、お
よび図７は図６に関しての底面図である。

図１はスキャン領域３をその長手方向を横切る方向
（例えば、矢１の方向）に通過している糸Ｙを検知する
光電センサ装置Ｓを概略的に示している。矢１の方向の
移動に加えて、糸Ｙは矢２の方向すなわちその長手方向
Ｄに同時に移動することができる。スキャン領域Ｓは少
なくとも一つの光源Ｌにより照らされている空間的領域
であり、二つのレシーバR1、R2が光源Ｌに向けられ、図
示の実施例では、受光表面４および５を備えている。レ
シーバR1、R2の方向でオフセットされている光源Ｌの代
わりに、レシーバの側部、または、レシーバに対向する
側部のいずれかに中央光源Ｌ′が設けられてもよい。ス
リット穴A1およびA2がそれぞれ、各レシーバR1、R2の受
光表面４および５の前方、すなわち、糸Ｙおよびスキャ
ン領域３と各受光表面４および５との間にそれぞれ設け
られている。二つのスリット穴A1およびA2は、例えば、
同一寸法を有し、同じ幾何学的形状とそれぞれの断面主
軸６およびこれに直交する副軸７とを有している。例え
ば、スリット穴A1、A2は約4mm長さで、約1mm幅を有して
いる。図１によれば、スリット穴A2はその主軸６が二つ
のレシーバR1、R2によって定められる主方向に向けられ
ており、一方、スリット穴A1はそれに直交すに方向に延
在され、スリット穴A2の延長部がスリット穴A1に概ねそ
の中心で交差している。二つのスリット穴A1、A2は互い
に対し回転されてもよいが、重要な点は互いに関し最大
で90度を越えない鋭角を内包することである。

図2Aおよび図2Bは、図１によるセンサ装置の二つの変
形例の側面図である。図2Aにおいて、光源Ｌおよび二つ
のレシーバR1,R2は、反射体または光吸収体のいずれか
として形成された要素８を下側に位置させているスキャ
ン領域３の同じ側に配置されている。糸Ｙの通過隙間は
要素８と少なくとも部分的に透明なカバー10との間に形
成されている。光源Ｌおよび二つのレシーバR1,R2は、
特定の光反射角を考慮して互いに関し向けられている。
両レシーバR1、R2は光源Ｌにより照射されているスキャ
ン領域３に対して向けられ、反射光が前記二つのレシー
バR1、R2に入射する。レシーバR1、R2の各々は、それら
の上流に、例えば、穴要素９内のスリット穴A1、A2を配
列している。

図2Aによるセンサ装置Ｓが反射法則に従って作動する
とき、要素８により反射された光は、糸Ｙの通過の際、
糸Ｙの輪郭により陰付けられる。各レシーバR1、R2は光
の変化に応答する。両レシーバR1、R2は評価回路Ｃ（図
2B）に接続されており、評価回路Ｃは差動原理に従い動
作しレシーバR1、R2の光電応答信号間の差異から有用な
信号を発生する。

逆に、要素８が光源Ｌの光を吸収するときは、レシー
バR1、R2は糸Ｙから反射された光に応答する。

図2Bによるセンサ装置Ｓは光障壁法則に従って作動す
る。すなわち、光源Ｌ′からの光はスキャン領域３を通
過しレシーバR1、R2に入射し、糸Ｙの通過の際、レシー
バR1、R2は糸Ｙの輪郭により陰付けられる。

図2Aまたは図2BのレシーバR1、R2が光源Ｌから供給さ
れる光に適合されていると仮定すると、糸Ｙが存在しな
いときは、スリット穴A1、A2により定められて受光表面
４、５の領域上に光が完全に入射する。評価回路Ｃで
は、値ゼロまたは一定の信号値（例えば、電圧値）が二
つのレシーバR1、R2の応答信号の差から続く。糸Ｙが矢
１に向けてスキャン領域３を通過するとき、スリット穴
A1により定められている部分が少なくとも部分的にレシ
ーバR1の受光表面４上に最初に陰付けられ、後で、スリ
ット穴A2により定められている部分が第２のレシーバR2
の受光表面上に陰付けられる。矢１の方向に糸Ｙが移動
する際、糸Ｙは既にスリット穴A1を去るが、スリット穴
A2上を未だに移動している。糸Ｙの輪郭がスリット穴A1
またはA2に重なることで開始し、糸Ｙの輪郭がスリット
穴A1およびA2に対しそれぞれ最大となる時までの時間間
隔は極めて短く、応答信号のうち強周波数部分の、かく
て、強変調性の有利性を有する。これはまた、糸Ｙの輪
郭がそれぞれスリット穴A1およびA2の部分外に移動され
るときの期間にも当てはまり、効果的な変調のための強
周波数部分となる。糸Ｙは、二つのレシーバR1、R2およ
び受光表面４、５上の定められた部分に対して時間およ
び幾何学的に異なって移動するので、糸の通過の際、強
い有用な信号が得られる差異が評価回路Ｃ内で検知され
る。強周波数部分および良好な変調性のおかげで、有用
な信号が重大で、かつ、単に僅かな増幅対策を採ること
により更なる処理のために用いられ得る。スリット穴A
1、A2の配列の故に、センサ装置Ｓはスキャン領域３に
おいて長手方向の糸方向Ｄの向きにおける変化およびレ
シーバR1、R2が隣接する方向に対する変化に対しては感
知しない。

二つのレシーバR1、R2が好まざる要因（振動、外来光
等）によって動作するとき、これはまた応答信号に帰す
るかもしれない。しかしながら、かかる動作は、同時
に、かつ、同じジオメトリを有して起こるので、何時で
も、有用な正誤の信号間での区別を行い、糸の通過から
正しく有用な信号のみを取り出し、さらに前記信号のみ
を処理することが可能である。

図３において、センサ装置Ｓは糸供給装置の引き出し
センサであり、糸供給装置は貯留表面Ｂ上に、好ましく
は、軸線方向に離間された複数の糸の巻き（分離糸）か
らなる供給糸13を担持している。糸供給装置から糸Ｙは
引き出し縁部12を越えて矢２の方向に引き出され、同時
に糸は矢１の方向に走行し、かつ、上流のスリット穴A
1、A2を備えたレシーバR1、R2を通過する。かかる供給
装置の作動の際、端部14の軸線方向位置は相当量（両頭
矢15）変化する。結果として、糸の長手方向Ｄの向きも
また、糸の引き出しの際、レシーバR1、R2の領域内でほ
とんど軸線方向とほとんど周方向との間で変わり得る。
これは矢Ｄにより概略示されている。センサ装置のスキ
ャン領域内での糸の長手方向Ｄの向きのこの変化にもか
かわらず、糸の通過から、すなわち、主に二つのスリッ
ト穴A1、A2の配列の故に、意味があり有用な信号が得ら
れる。これらスリット穴A1、A2は互いに対し鋭角に向け
られ、糸の巻きが引き出されたこと、および、それが引
き出された時を信号に指示させる。

図３において、スリット穴A1、A2は、Ｔの横棒が引き
出し縁部12に隣り合い周方向に向けられたＴ形状に配列
されている。

その隣りに破線で概略示されているように、スリット
穴A1、A2の反対向きの配列、または、（その左に破線で
概略示されているように）周方向に延在している引き出
し縁部12に関して二つのスリット穴A1、A2が傾けられた
位置であっても可能である。

実施例の全てにおいて、スリット穴A1は各レシーバR
1、R2の円形の受光表面の直径よりも短い。しかしなが
ら、スリット穴に受光表面の直径と等しいまたはより大
きな長さを付与することもまた可能である。

図４はスリット穴A1、A2のために可能な形状の選択枝
を概略的に示している。断面主軸６とこの断面主軸６に
直交する断面副軸７とを有する矩形もまた可能である。
さらに、スリット穴A1、A2を楕円、両面凹または両面凸
形状に、すなわち、検出されるべき糸の輪郭ができるだ
け急にそしてその全寸法がスリット穴の上に位置され、
かつ、できるだけ急速に（短くないしはほとんど過渡期
間なく）スリット穴を去り、強い有用な信号のために強
周波数部または強変調をもたらすようにすることも可能
である。

図5A、図5Bは緯糸測定貯留装置Ｆの具体例を示してい
る。これらの装置は長年来知られ、例えばジェットルー
ムに緯糸を供給するのに用いられている。緯糸測定貯留
装置Ｆは、できるだけ一定の引き出し張力で引き出すた
めに、糸の供給を切らすことなく、貯留体に中間の糸の
供給（この糸の供給はそれぞれの模様に対し充分な量で
ある）を行うという役割に加えて、それぞれに引き出さ
れ得る緯糸の長さを調整可能な値に常に維持するという
役割を果たしている。ハウジング17は回転駆動可能な方
法で駆動シャフト16を支持している。駆動シャフト16に
は、複数の軸方向に延在し周方向に離間されているロッ
ド21からなるロッドドラムまたはロッドケージ20の如き
貯留体Ｂが、それ自体回転可能に支持されている。しか
しながら、貯留体Ｂは、ハウジング内および貯留体内に
配置されハウジング17に対する貯留体Ｂの回転運動を妨
げている永久磁石25により静止状態に保たれている。駆
動シャフト16には巻き付けアーム16aが取り付けられて
おり、巻き付けアーム16aは図５における左側から中空
の駆動シャフト16を通り送られた糸を外側の貯留体Ｂの
貯留表面まで案内する。貯留表面では駆動シャフト16の
回転により図３に示されたリザーバ13に糸が連続的な巻
きで貯えられる。糸の自由端は引き出し縁部12上を走行
し、（不図示の）織機すなわちジェットルームから駆動
シャフト16とほぼ同軸に引き出される。ハウジングの延
長アーム18（その下に貯留装置Ｆの駆動のための制御装
置19が設けられている）には、引き出しセンサとして働
く光電センサＳがストッパ要素24を含む停止装置の隣り
に収容されている、ハウジング23が固設されている。糸
はハウジング23の下で引き出される。ストッパ要素24は
糸の引き出しが防止されるべきとき直ぐに、ハウジング
23と隣接するロッド21との間に形成されたギャップを通
って延伸される。逆に、糸が必要とされるときは、スト
ッパ要素24は引き込まれ糸が出され得る。センサ装置Ｓ
は引き出された全ての糸を記録し、そして、通過の時と
発生とを表す有用な信号を制御装置19に供給する。制御
装置19は引き出されるべき糸の長さに至る前にストッパ
要素24を再び動作させる。装置の軸からのロッド21の距
離、かくて各糸の巻き長さは貯留体直径調節装置Ｖでも
って調整され得る。

図６および図７は、図５のセンサ装置Ｓの構成部品を
示す。ブロック状のホルダ26（例えば、プラスチックの
成形部品）は、貯留体Ｂに面する下側表面27を備えてい
る。３つのチャンネル28、29および30は表面27で終わっ
ている。光源Ｌはチャンネル30内に配列されている。レ
シーバR1、R2はチャンネル28および29内に設けられてい
る。スリット穴A1、A2はチャンネル28、29の開口内で表
面27に形成されている。さらに、透明なカバーペーン31
が表面27に配列されてもよい。

図示の実施例では、３つのチャンネル30、28、29の全
てが貯留体Ｂの同一軸方向面17′内に配列されている。
チャンネル30は駆動シャフト16に関する半径方向面に対
して−27度の角度α３で傾斜され、一方、チャンネル28
は約22度の角度α２で傾斜され、そして、チャンネル29
は約32度の角度α１で傾斜されている。３つのチャンネ
ルの全ての軸線はスキャン領域３に向けられている。引
き出しセンサＳは、引き出しの際、糸の周方向において
ストッパ要素24の直ぐ隣りに便宜上配列されている。

スリット穴A1、A2は、小さな穴付きディスク（図３に
概要が示されている）に形成されてもよく、このディス
クは、これらの回転位置に関して調整可能、例えば、駆
動シャフトの回転方向に応じ、または、引き出しの際の
それぞれの糸のジオメトリを考慮して、スリット穴A1、
A2の互いに対するおよび貯留体の軸に関する相対位置の
最適な適合を実行すべく調整可能である。さらに、２つ
のスリット穴A1、A2は互いに固定された関係で適合の目
的のために回転可能な小さな穴付きプレートに共に設け
られてもよい。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献米国特許5221960（ＵＳ，Ａ) 米国特許5371374（ＵＳ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) B65H 63/00 D03D 47/34 G01V 9/04 H01H 35/00

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】スキャン領域（３）を長手方向（Ｄ）を横
切る方向に通過する糸（Ｙ）を検出する光電センサ装置
（Ｓ）であって、スキャン領域を照らす光源（Ｌ、
Ｌ′）と光の変化に応答しスキャン領域に向けられ、電
子的評価回路（Ｃ）に接続された少なくとも一つのレシ
ーバ（R1、R2）とを備え、さらに、前記糸（Ｙ）および
前記レシーバの受光表面（４、５）の間に配列されたス
リット穴（A1、Ａ）とを備える光電センサ装置（Ｓ）に
おいて、少なくとも二つの近接したレシーバ（R1、R2）が、前記
レシーバ（R1、R2）の受光表面（４、５）が各々スリッ
ト穴（A1、A2）を上流に配列した状態で前記スキャン領
域（３）に向けられ、前記スリット穴（A1、A2）の各々
は長い断面主軸（６）と主軸（６）に基本的に直交する
短い断面副軸（７）とを備える幾何学的形状を有し、か
つ、前記スリット穴（A1、A2）は前記一つのスリット穴
（A1）の断面主軸（６）が隣接するスリット穴（A2）の
断面主軸（６）を横切る方向に90度以下の鋭角に配列さ
れていることを特徴とするセンサ装置。
【請求項２】前記受光表面（４、５）の各々は光の入射
する方向においてほぼ円形であり、かつ、前記上流のス
リット穴（A1、A2）の前記断面主軸の長さは前記受光表
面の直径よりも短いことを特徴とする請求項１に記載の
センサ装置。
【請求項３】両レシーバ（R1、R2）は、差動回路として
形成されている評価回路（Ｃ）に共に接続されているこ
とを特徴とする請求項１または２に記載のセンサ装置。
【請求項４】貯留体（Ｂ）から回転式に頭上を通り引き
出し可能な緯糸（Ｙ）の引き出しセンサとしての光電セ
ンサ装置（Ｓ）を備え、前記センサ装置が前記貯留体
（Ｂ）の軸方向に交互に配列された少なくとも二つの光
電レシーバ（R1、R2）と、前記貯留体（Ｂ）上のスキャ
ン領域（３）を照らす少なくとも一つの光源（Ｌ）と、
前記スキャン領域（３）を通る前記緯糸（Ｙ）の各通過
の際前記レシーバに生ずる光の変化から有用な信号が発
生されるようにした電子的評価回路（Ｃ）とを備える緯
糸の測定貯留装置（Ｆ）であって、前記スキャン領域
（３）と前記レシーバ（R1、R2）との間にスリット穴
（A1、A2）が設けられ、かつ、前記一つのスリット穴
（A1）は他のスリット穴（A2）に対し90度以下の鋭角に
配列されていることを特徴とする緯糸の測定貯留装置。
【請求項５】前記一つのスリット穴（A1）は前記貯留体
（Ｂ）の周方向に、前記他のスリット穴（A2）は前記貯
留体（Ｂ）の軸線方向に延在していることを特徴とする
請求項４に記載の測定貯留装置。
【請求項６】前記一つのスリット穴（A1）の仮想延長線
は前記他のスリット穴（A2）に交差していることを特徴
とする請求項４に記載の測定貯留装置。
【請求項７】前記二つのスリット穴（A1、A2）はＴ状に
配列されていることを特徴とする請求項５に記載の測定
貯留装置。
【請求項８】前記二つのスリット穴（A1、A2）の各々
は、矩形、両面凹または両面凸形状を有することを特徴
とする請求項４ないし７の少なくとも一つに記載の測定
貯留装置。
【請求項９】前記二つのスリット穴（A1、A2）は、同じ
形状を有することを特徴とする請求項４ないし８の少な
くとも一つに記載の測定貯留装置。
【請求項１０】前記スリット穴（A1、A2）は、糸の引き
出しの際に可能な長手方向糸の方向（Ｄ）の全ての向き
に対して、前記糸（Ｙ）の前記スリット穴（A1、Ａ）上
での移動が幾何学的に、または時間的に同じとなること
が不可能となるように配列されていることを特徴とする
請求項４ないし９の少なくとも一つに記載の測定貯留装
置。
【請求項１１】反射器（８）が前記スキャン領域（３）
の下の前記貯留体（Ｂ）上に配列され、前記貯留体
（Ｂ）の外に静止して配列されているハウジング（23）
はその内部にブロック状ホルダ（26）を配列し、ブロッ
ク状ホルダは前記スキャン領域（３）に面しチャンネル
（28、29、30）が終わる表面（27）を有し、チャンネル
は前記スキャン領域（３）に向けられ前記ホルダに配列
された少なくとも一つの光源（Ｌ）と前記ホルダに配列
され好ましくは半導体である二つのレシーバに関連し、
かつ、前記レシーバ（R1、R2）の前記チャンネル（28、
29）の開口はほぼ矩形を有するスリット穴（A1、A2）と
して形成されていることを特徴とする請求項４に記載の
測定貯留装置。
【請求項１２】前記チャンネル（28、29、30）は、前記
貯留体（Ｂ）の共通軸方向面内に位置され、前記光源
（Ｌ）の前記チャンネル（30）は前記貯留体（Ｂ）の半
径方向面（Ｘ）に対し約−27度傾斜され、かつ、前記一
のレシーバ（R2）の前記一のチャンネル（28）は約＋22
度そして前記他のレシーバ（R1）の前記他のチャンネル
（29）は約＋32度前記半径方向面に対して傾斜されてい
ることを特徴とする請求項11に記載の測定貯留装置。
【請求項１３】透明のカバーペーン（31）が前記ホルダ
（26）の表面（27）に配列されていることを特徴とする
請求項11および12に記載の測定貯留装置。
【請求項１４】前記貯留体（Ｂ）の軸線方向で見て前記
スリット穴（A1、A2）間の距離は各スリット穴（A1、A
2）の幅にほぼ対応することを特徴とする請求項11に記
載の測定貯留装置。
【請求項１５】前記スリット穴（A1、A2）の各々または
スリット穴（A1、A2）の両方は、好ましくは前記ホルダ
（26）の表面（27）で、または、前記チャンネル（28、
29）の一つの開口内で、マウント内に選択可能な好まし
くは調節可能な回転位置状態で保持された小さな穴付き
プレートに切り出されていることを特徴とする請求項４
ないし14の少なくとも一つに記載の測定貯留装置。