JP2907060B2

JP2907060B2 - デバッグ装置

Info

Publication number: JP2907060B2
Application number: JP7104207A
Authority: JP
Inventors: 正也大井; 晴彦加藤
Original assignee: Denso Corp
Current assignee: Denso Corp
Priority date: 1995-04-27
Filing date: 1995-04-27
Publication date: 1999-06-21
Anticipated expiration: 2014-06-21
Also published as: JPH08305608A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、入力条件に応じて所定
の処理動作を実行する単位プログラムを含んで構成され
たプログラムの動作を検査するデバッグ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、マイクロコンピュータ（ＣＰ
Ｕ）の動作をシミュレートするシミュレータなるものが
供されている。その応用例としては、テストパターンの
入力に応じた処理動作をシミュレートするデバッグ装置
が考えられている。このものは、デバッグ対象となるプ
ログラムの入力値を視覚的なチャート形式のテストパタ
ーンとしてシミュレータに入力し、処理結果も入力値と
同様にチャート形式で得るというものである。このテス
トパターンと組合わせたシミュレートはプログラム全体
に対して行われ、プログラム全体が作成されていないと
シミュレートできないと共に、シミュレートに要する時
間が長時間化するという問題があった。

【０００３】ここで、一般的なマイコンプログラムを観
察してみると、多くのプログラムは多数の構成要素とな
るモジュール（単位プログラム）から構成されているの
で、モジュール単位でデバッグを行うことにより、プロ
グラムの品質を向上させることが可能となる。

【０００４】そこで、モジュールに対して、プログラム
全体に対するのと同様にテストパターンによるシミュレ
ートを試みることが考えられるが、図７に示すように入
力されたテストパターンの所要時間に比較してモジュー
ルが実行される時間は短く、テストパターンの各種入力
条件のうち１つの入力条件しかシミュレートできないこ
とになる。

【０００５】ところで、プログラムによっては、モジュ
ールが一定間隔で起動されるものがある。例えばエンジ
ン制御プログラムのエンジン回転数の算出などが一定間
隔で起動される例である。

【０００６】このようなプログラムの場合、プログラム
全体を繰返してシミュレートすることによりモジュール
を一定間隔で起動することができるので、テストパター
ンの異なった入力条件に応じたシミュレートが可能とな
る。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、プログ
ラム全体を繰返してシミュレートすることにより一定時
間毎にモジュールを起動するにしても、図８に示すよう
に全ての異なる入力条件をシミュレートすることができ
ない虞があると共に、入力条件が重複してシミュレーシ
ョンの効率が劣るという欠点がある。

【０００８】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、入力条件に応じて所定の処理動作を実
行する単位プログラムの動作を短時間で確認することが
できるデバッグ装置を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明のデバッグ装置
は、全体プログラムの内の一部の処理動作をなす単位プ
ログラムだけを所定タイミング毎に複数回繰返して起動
する起動手段を設け、この起動手段が単位プログラムを
起動する毎に予め定めた異なる入力条件を与える入力条
件付与手段を設け、単位プログラムの処理結果を前記起
動手段による各処理完了毎に出力し、一連の処理結果を
表示する出力手段を設けたものである（請求項１）。

【００１０】上記構成において、前記出力手段は、前記
入力条件付与手段が前記起動手段に与える入力条件と当
該起動手段による処理結果とを対応して出力するように
してもよい（請求項２）。

【００１１】また、前記入力条件付与手段は、入力条件
としてデジタルデータを与えるようにしてもよい（請求
項３）。

【００１２】また、前記入力条件付与手段は、入力条件
としてアナログデータを与えるようにしてもよい（請求
項４）。

【００１３】

【作用及び発明の効果】請求項１記載のデバッグ装置の
場合、起動手段は、全体プログラムの内のデバッグ対象
となる単位プログラムだけを所定タイミング毎に複数回
繰返して起動する。このとき、入力条件付与手段は、起
動手段が単位プログラムを起動する毎に予め定めた異な
る入力条件を付与する。これにより、単位プログラムが
起動される毎に異なる入力条件が与えられるので、単位
プログラムは異なる入力条件に応じて処理動作を実行す
る。そして、出力手段は、単位プログラムの処理結果を
起動手段による各処理完了毎に出力し、一連の処理結果
を表示するので、その表示に基づいて入力条件に応じた
単位プログラムの動作を確認することができる。

【００１４】請求項２記載のデバッグ装置の場合、出力
手段は、入力条件付与手段が前記起動手段に与える入力
条件と起動手段による処理結果とを対応して出力するの
で、両者の対応関係を一目で確認することができる。

【００１５】請求項３記載のデバッグ装置の場合、入力
条件付与手段は、入力条件としてデジタルデータを与え
るので、例えばスイッチのオンオフに応じた単位プログ
ラムの動作を確認することができる。

【００１６】請求項４記載のデバッグ装置の場合、入力
条件付与手段は、入力条件としてアナログデータを与え
るので、例えば連続的に変化する入力電圧に応じた単位
プログラムの動作を確認することができる。

【００１７】

【実施例】以下、本発明の一実施例を図１乃至図６を参
照して説明する。図２は全体のハード構成を概略的に示
し、図３はプログラムの相互関係を示している。

【００１８】これらの図２及び図３において、起動手段
及び入力条件付与手段としてのコンピュータ１はディス
ク装置２に記憶されたオペレーティングシステムに基づ
いて動作するようになっている。このオペレーティング
システムはアプリケーションプログラムとして入力値取
得プログラムを備えており、コンピュータ１は入力値取
得プログラムを実行することにより、テストパターンフ
ァイルによりシミュレートの際の入力値を取得する。

【００１９】同様に、オペレーティングシステムのアプ
リケーションプログラムとして存在するシミュレートプ
ログラムは、入力値取得プログラムにより与えられる入
力値によりプログラムソースのシミュレートを行う。こ
れらの処理と共にシミュレートの処理結果を出力手段た
るプリンタ３若しくはＣＲＴ４に出力するようになって
いる。

【００２０】図１は、本発明によるデバッグ処理の処理
手順に示している。即ち、プログラム作成者は、まずモ
ジュール（単位プログラム）を作成し（Ｓ１）、そのモ
ジュールの動作をデバッグ装置でシミュレートする（Ｓ
２）。そして、検査対象のモジュールにバグがあった場
合はモジュールを修正し（Ｓ３）、再びシミュレートを
行う（Ｓ２）。このようなシミュレートをバグが無くな
るまで繰り返す。

【００２１】そして、モジュールにバグが無くなった
ら、他のモジュールを作成し（Ｓ４）、そのモジュール
に対してもシミュレートによりバグの有無を確認する。
最終的に、プログラムに必要な全てのモジュールの作成
が終了すると、モジュールを集めてプログラム全体を作
成する（Ｓ５）。

【００２２】図４は、上述したモジュールに対するシミ
ュレート処理のフローチャートを示している。この場
合、コンピュータ１は、ディスク装置２から読出したモ
ジュールを設定時間後に起動すると共に、シミュレート
開始時にテストパターンより時間０の入力値を取り出す
（Ｓ１）。

【００２３】次に、コンピュータ１は、入力値を受けて
モジュールのシミュレートを行い（Ｓ２）、シミュレー
トが終了すると、テストパターンの終端かどうかを判断
する（Ｓ３）。このとき、テストパターンが終端までき
ていない場合は、前回入力値を取り出した時間の設定時
間後の入力値を取り出す（Ｓ４）。以後、コンピュータ
１は、Ｓ２からＳ４までを繰り返して実行する。

【００２４】図５は、図４に示したフローチャートによ
るモジュールのシミュレートを具体的に示している。こ
の場合、モジュールは４ｍｓ毎に起動されるようになっ
ており、入力値Ａが１のとき出力値Ｂを０とし、入力値
Ａが０のとき出力値Ｂを１とするようになっている。

【００２５】即ち、コンピュータ１は、まず、時間０の
ときの入力値Ａ＝０によりモジュールのシミュレートを
行い、出力値Ｂ＝１を得る。次に、４ｍｓ後の入力値Ａ
＝１によりモジュールのシミュレートを行い、出力値Ｂ
＝０を得る。次に、４ｍｓ後の入力値Ａ＝０よりモジュ
ールのシミュレートを行い、出力値Ｂ＝１を得る。そし
て、得られた出力値の値をグラフ化すると、テストパタ
ーンＢを得ることができる。従って、この出力パターン
がプログラム作成者の意図するかどうかをチェックする
ことにより作成プログラムの動作を確認することができ
る。このような入力値Ａが１若しくは０に設定される処
理としては、スイッチの入力処理が考えられる。

【００２６】図６は、２つのテストパターンに対する出
力の変化を示している。この例では、モジュールは２５
ｍｓ毎に起動されるようになっており、出力値Ｃ＝入力
値Ａ＋入力値Ｂという演算を実行するようになってい
る。

【００２７】図６に示すテストパターンＡ及びテストパ
ターンＢを用いたデバッグ手順を説明すると、コンピュ
ータ１は、まず、時間０のときの入力値Ａ＝０、Ｂ＝１
００によりモジュールのシミュレートを行い、出力値Ｃ
＝１００を得る。次に、２５ｍｓ後の入力値Ａ＝２５、
Ｂ＝５０によりシミュレートを行い、出力値Ｃ＝７５を
得る。以後、２５ｍｓ毎の入力値を取得して出力値Ｃを
順次得る。そして、得られた出力値の値をグラフ化する
と、テストパターンＣを得ることができる。従って、こ
のテストパターンＣがプログラム作成者の意図するとこ
ろかどうかをチェックすることにより作成プログラムの
動作を確認することができる。

【００２８】このような２つの入力値に基づいて所定の
演算を実行する処理としては、例えばエンジンのクラン
ク角に応じて点火処理したり、噴射処理することが考え
られる。

【００２９】具体的には、エンジンの回転数が１０００
回転でクランク角の６０度毎に処理するときは、６０（Ｓ）／｛１０００（ｒｐｍ）×３６０°／６０°｝＝０．０１（ｓ）＝１０（ｍｓ）という演算式により１０ｍｓ毎に起動すればよいことが
分る。また、回転数のシミュレートを行うときは、回転
数を示すテストパターンを入力する。

【００３０】上記構成のものによれば、コンピュータ１
によりモジュールの動作をシミュレートする際に、モジ
ュールを一定周期の所定タイミングで起動すると共に、
モジュールを起動する毎に異なる入力条件を与えるよう
にしたので、モジュールを異なる入力条件でシミュレー
トすることができる。従って、モジュールを所定のテス
トパターンの入力に応じて１回だけシミュレートさせる
ものと違って、プログラムの一部（モジュール）単位で
のテストパターンによるシミュレートが可能なので、プ
ログラム作成の上流行程でバグを無くすことができると
共にプログラムの品質が高まり、さらにプログラム完成
までの期間を短縮することができる。

【００３１】本発明は、上記実施例のみに限定されるも
のではなく、次のように変形または拡張できる。テストパターンとしては、複数段階のレベルを入力する
ようにしてもよい。テストパターンを電気的に入力信号として与えるように
してもよい。テストパターンに代えて、入力条件を直接与えるように
してもよい。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例における処理手順を示すフロ
ーチャート

【図２】全体の構成を示す概略図

【図３】各プログラム同士の関係を示す図

【図４】シミュレートプログラムの動作を示すフローチ
ャート

【図５】デジタルデータの入力と処理結果との関係を示
す図

【図６】２つのアナログデータの入力と処理結果との関
係を示す図

【図７】テストパターンとモジュールの起動タイミング
との関係を示す図

【図８】テストパターンとモジュールの起動タイミング
との関係を示す図

【符号の説明】

１はコンピュータ（起動手段、入力条件付与手段）、２
はディスク装置、３はプリンタ（出力手段）、４はＣＲ
Ｔ（出力手段）である。

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】全体プログラムの内の一部の処理動作を
なす単位プログラムだけを所定タイミング毎に複数回繰
返して起動する起動手段と、この起動手段が単位プログラムを起動する毎に予め定め
た異なる入力条件を与える入力条件付与手段と、単位プログラムの処理結果を前記起動手段による各処理
完了毎に出力し、一連の処理結果を表示する出力手段と
を備えたことを特徴とするデバッグ装置。
【請求項２】前記出力手段は、前記入力条件付与手段
が前記起動手段に与える入力条件と当該起動手段による
処理結果とを対応して出力することを特徴とする請求項
１記載のデバッグ装置。
【請求項３】前記入力条件付与手段は、入力条件とし
てデジタルデータを与えることを特徴とする請求項１ま
たは２記載のデバッグ装置。
【請求項４】前記入力条件付与手段は、入力条件とし
てアナログデータを与えることを特徴とする請求項１ま
たは２記載のデバッグ装置。