JP2905824B2 - イオン種分析方法とその装置 - Google Patents
イオン種分析方法とその装置Info
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- JP2905824B2 JP2905824B2 JP3593791A JP3593791A JP2905824B2 JP 2905824 B2 JP2905824 B2 JP 2905824B2 JP 3593791 A JP3593791 A JP 3593791A JP 3593791 A JP3593791 A JP 3593791A JP 2905824 B2 JP2905824 B2 JP 2905824B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試料中のイオン種をク
ロマトグラフィックに分析するイオン種分析方法に関
し、更に詳しくは、ウォ―タディップなどの妨害成分を
除去して試料中の目的成分を正確に分析するイオン種分
析方法とその装置に関する。
ロマトグラフィックに分析するイオン種分析方法に関
し、更に詳しくは、ウォ―タディップなどの妨害成分を
除去して試料中の目的成分を正確に分析するイオン種分
析方法とその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、所謂イオンクロマトグラフィ
など試料中のイオン種をクロマトグラフィックに分析す
るイオン種分析方法やその装置は広く知られている。ま
た、試料中の目的イオン種をカラムで濃縮保持する濃縮
カラム法と試料注入口にシリンジで試料を直接注入でき
るインジェクタとを備え、濃縮カラム法とインジェクタ
による手動の試料注入が両方可能なイオン種分析方法や
その装置も知られている（以下、このような従来例を
「第１従来例」という）。
など試料中のイオン種をクロマトグラフィックに分析す
るイオン種分析方法やその装置は広く知られている。ま
た、試料中の目的イオン種をカラムで濃縮保持する濃縮
カラム法と試料注入口にシリンジで試料を直接注入でき
るインジェクタとを備え、濃縮カラム法とインジェクタ
による手動の試料注入が両方可能なイオン種分析方法や
その装置も知られている（以下、このような従来例を
「第１従来例」という）。
【０００３】しかし、このような第１従来例において
は、所謂ウォ―タディップ（試料中の水分に起因する大
きな負のピ―ク）の肩に測定成分であるＦ-やＣｌ- が
重なり、これらの測定成分を高感度に測定できないとい
う欠点があった。このため、濃縮カラム法とインジェク
タによる手動の試料注入が両方可能なイオン種分析方法
やその装置に、カッティングカラムとカッテングバルブ
を用いて試料中の成分を一旦大まかに分離した状態で測
定に不要な成分の部分を除去する所謂カッティング法を
追加し、高感度分析時の定量性を改善することが試みら
れていた（以下、このような従来例を「第２従来例」と
いう）。
は、所謂ウォ―タディップ（試料中の水分に起因する大
きな負のピ―ク）の肩に測定成分であるＦ-やＣｌ- が
重なり、これらの測定成分を高感度に測定できないとい
う欠点があった。このため、濃縮カラム法とインジェク
タによる手動の試料注入が両方可能なイオン種分析方法
やその装置に、カッティングカラムとカッテングバルブ
を用いて試料中の成分を一旦大まかに分離した状態で測
定に不要な成分の部分を除去する所謂カッティング法を
追加し、高感度分析時の定量性を改善することが試みら
れていた（以下、このような従来例を「第２従来例」と
いう）。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような第
２従来例においては、装置の構成が複雑となるばかりで
なく、濃縮カラム，カッティングカラム，及び分離カラ
ムの良否判定が困難であるという欠点があった。本発明
は、第２従来例の欠点や第１従来例の欠点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的は、測定妨害成分を除去する
と共に、濃縮カラム，カッティングカラム，及び分離カ
ラムの性能を容易に確認できるようなイオン種分析方法
とその装置を提供することにある。
２従来例においては、装置の構成が複雑となるばかりで
なく、濃縮カラム，カッティングカラム，及び分離カラ
ムの良否判定が困難であるという欠点があった。本発明
は、第２従来例の欠点や第１従来例の欠点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的は、測定妨害成分を除去する
と共に、濃縮カラム，カッティングカラム，及び分離カ
ラムの性能を容易に確認できるようなイオン種分析方法
とその装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、試料中のイオ
ン種をクロマトグラフィックに分析するイオン種分析方
法において、第１〜第６の接続口及び濃縮カラムを有す
る第１切換弁を用いて前記試料を濃縮すると共に、第１
〜第６の接続口とカッティングカラムを有する第２切換
弁を用いて前記試料中の測定妨害成分を除去することこ
とによって前記課題を解決したものである。
ン種をクロマトグラフィックに分析するイオン種分析方
法において、第１〜第６の接続口及び濃縮カラムを有す
る第１切換弁を用いて前記試料を濃縮すると共に、第１
〜第６の接続口とカッティングカラムを有する第２切換
弁を用いて前記試料中の測定妨害成分を除去することこ
とによって前記課題を解決したものである。
【０００６】同様に、本発明は、試料中のイオン種をク
ロマトグラフィックに分析するイオン種分析装置におい
て、第１〜第６の接続口及び計量管を有するインジェク
タと、第１〜第６の接続口及び濃縮カラムを有する第１
切換弁と、第１〜第６の接続口とカッティングカラムを
有する第２切換弁と、分離カラムと、イオン交換膜で内
部が内室と外室に仕切られ該内室にスキャベンジャ液が
流され外室に前記分離カラムからの溶出液が流されてい
るサプレッサと、検出器とを具備し、前記第１切換弁の
操作で試料中の被測定成分を濃縮すると共に、前記第２
分離カラムの操作で試料中の測定妨害成分を除去するこ
とによって前記課題を解決したものである。とを特徴と
する。
ロマトグラフィックに分析するイオン種分析装置におい
て、第１〜第６の接続口及び計量管を有するインジェク
タと、第１〜第６の接続口及び濃縮カラムを有する第１
切換弁と、第１〜第６の接続口とカッティングカラムを
有する第２切換弁と、分離カラムと、イオン交換膜で内
部が内室と外室に仕切られ該内室にスキャベンジャ液が
流され外室に前記分離カラムからの溶出液が流されてい
るサプレッサと、検出器とを具備し、前記第１切換弁の
操作で試料中の被測定成分を濃縮すると共に、前記第２
分離カラムの操作で試料中の測定妨害成分を除去するこ
とによって前記課題を解決したものである。とを特徴と
する。
【０００７】
【作用】本発明は次のように作用する。即ち、濃縮カラ
ム・カッティング法を行う場合、低濃度試料が第１切換
弁の濃縮カラムに導かれて濃縮・保持されてのち、該試
料が溶離液に搬送されて第２切換弁のカッティングカラ
ムに導かれ、該試料中の不要成分がカッティングカラム
に到達したと思われる適当な時間に第２切換弁が切換え
られる。上記試料のうちカッティングカラムに取込まれ
なかった部分は、分離カラムに搬送されて分離されての
ち、サプレッサの内室と予熱管を通って検出器に達して
検出される。
ム・カッティング法を行う場合、低濃度試料が第１切換
弁の濃縮カラムに導かれて濃縮・保持されてのち、該試
料が溶離液に搬送されて第２切換弁のカッティングカラ
ムに導かれ、該試料中の不要成分がカッティングカラム
に到達したと思われる適当な時間に第２切換弁が切換え
られる。上記試料のうちカッティングカラムに取込まれ
なかった部分は、分離カラムに搬送されて分離されての
ち、サプレッサの内室と予熱管を通って検出器に達して
検出される。
【０００８】また、手動注入・カッティング法を行う場
合には、第１切換弁がオンにされると共にシリンジなど
で試料を注入して計量管内を満たし、該計量管内の試料
を溶離液で搬送して第１切換弁の濃縮カラムに導びいて
濃縮・保持する。その後、第１切換弁がオフにされ、濃
縮カラム内の試料が溶離液に搬送されて第２切換弁のカ
ッティングカラムに導かれ、該試料中の不要成分がカッ
ティングカラムに到達したと思われる適当な時間に第２
切換弁が切換えられる。上記試料のうちカッティングカ
ラムに取込まれなかった部分は、分離カラムに搬送され
て分離されてのち、サプレッサの内室と予熱管を通って
検出器に達して検出される。
合には、第１切換弁がオンにされると共にシリンジなど
で試料を注入して計量管内を満たし、該計量管内の試料
を溶離液で搬送して第１切換弁の濃縮カラムに導びいて
濃縮・保持する。その後、第１切換弁がオフにされ、濃
縮カラム内の試料が溶離液に搬送されて第２切換弁のカ
ッティングカラムに導かれ、該試料中の不要成分がカッ
ティングカラムに到達したと思われる適当な時間に第２
切換弁が切換えられる。上記試料のうちカッティングカ
ラムに取込まれなかった部分は、分離カラムに搬送され
て分離されてのち、サプレッサの内室と予熱管を通って
検出器に達して検出される。
【０００９】
【実施例】以下、本発明について図を用いて詳細に説明
する。第１図は本発明実施例を説明するための構成説明
図であり、１ａは試料を貯溜する槽、１ｂは溶離液を貯
溜する槽、１ｃはスキャベンジャ液を貯溜する槽、２は
溶離液や除去液に含まれる気泡を除去するデガッサ、３
ａ〜３ｃは送液ポンプ、４は第１〜第６の接続口４ａ〜
４ｆと計量管４ｇを有するインジェクタ、５は第１〜第
６の接続口５ａ〜５ｆと濃縮カラム５ｇを有する第１切
換弁、６は第１〜第６の接続口６ａ〜６ｆと濃縮カラム
６ｇを有する第２切換弁、７は分離カラム、８は例えば
イオン交換膜で内部が内室と外室に仕切られ該ない室に
槽１ｃからのスキャベンジャ液がながされ外室に分離カ
ラム７からの溶出液が流されているサプレッサ、１０は
例えば導電率計でなる検出器１１は恒温槽、１２ａ〜１
２ｃは逆止弁、１３は分析装置である。
する。第１図は本発明実施例を説明するための構成説明
図であり、１ａは試料を貯溜する槽、１ｂは溶離液を貯
溜する槽、１ｃはスキャベンジャ液を貯溜する槽、２は
溶離液や除去液に含まれる気泡を除去するデガッサ、３
ａ〜３ｃは送液ポンプ、４は第１〜第６の接続口４ａ〜
４ｆと計量管４ｇを有するインジェクタ、５は第１〜第
６の接続口５ａ〜５ｆと濃縮カラム５ｇを有する第１切
換弁、６は第１〜第６の接続口６ａ〜６ｆと濃縮カラム
６ｇを有する第２切換弁、７は分離カラム、８は例えば
イオン交換膜で内部が内室と外室に仕切られ該ない室に
槽１ｃからのスキャベンジャ液がながされ外室に分離カ
ラム７からの溶出液が流されているサプレッサ、１０は
例えば導電率計でなる検出器１１は恒温槽、１２ａ〜１
２ｃは逆止弁、１３は分析装置である。
【００１０】第１図において、最初、インジェクタ４，
第１切換弁５，及び第２切換弁６が全てオフで、各内部
流路は第１図の実線接続状態となっている。また、ポン
プ３ｂが駆動して、槽１ｂ内の溶離液が、デガッサ２→
ポンプ３ｂ→インジェクタ４の第１，第２接続口４ａ，
４ｂ→第１切換弁５の第１，第６接続口５ａ，５ｆ→濃
縮カラム５ｇ→第３，第２接続口５ｃ，５ｂ→第２切換
弁６の第１，第６接続口６ａ，６ｆ→カッティングカラ
ム６ｇ→第３，第２接続口６ｃ，６ｂ→分離カラム７→
サプレッサ８の内室→予熱管９→検出器１０→逆止弁１
２ｃを通って排出される。更に、ポンプ３ｃが駆動し
て、槽１ｃ内の溶離液が、デガッサ２→ポンプ３ｃ→サ
プレッサ８の外室→逆止弁１２ｂを通って排出される。
第１切換弁５，及び第２切換弁６が全てオフで、各内部
流路は第１図の実線接続状態となっている。また、ポン
プ３ｂが駆動して、槽１ｂ内の溶離液が、デガッサ２→
ポンプ３ｂ→インジェクタ４の第１，第２接続口４ａ，
４ｂ→第１切換弁５の第１，第６接続口５ａ，５ｆ→濃
縮カラム５ｇ→第３，第２接続口５ｃ，５ｂ→第２切換
弁６の第１，第６接続口６ａ，６ｆ→カッティングカラ
ム６ｇ→第３，第２接続口６ｃ，６ｂ→分離カラム７→
サプレッサ８の内室→予熱管９→検出器１０→逆止弁１
２ｃを通って排出される。更に、ポンプ３ｃが駆動し
て、槽１ｃ内の溶離液が、デガッサ２→ポンプ３ｃ→サ
プレッサ８の外室→逆止弁１２ｂを通って排出される。
【００１１】一方、濃縮カラム・カッティング法を行う
場合には次のようにして行われる。第１切換弁５がオ
ンにされ、内部流路が第１図の実線接続状態から破線接
続状態に切換えられる。ポンプ３ａが駆動して、槽１
ａ内の低濃度試料が、第１切換弁５の濃縮カラム５ｇに
導かれて濃縮・保持される。第１切換弁５がオフにさ
れ、内部流路が第１図の破線接続状態から実線接続状態
に戻される。インジェクタ４ａ，４ｂを経由した溶離
液が、濃縮カラム５ｇ内で濃縮・保持されていた試料を
搬送して第２切換弁６のカッティングカラム６ｇに導
く。この試料中の不要成分がカッティングカラム６ｇ
に到達したと思われる適当な時間に第２切換弁６をオン
にして、その内部流路を第１図の実線接続状態から破線
接続状態に切換える。
場合には次のようにして行われる。第１切換弁５がオ
ンにされ、内部流路が第１図の実線接続状態から破線接
続状態に切換えられる。ポンプ３ａが駆動して、槽１
ａ内の低濃度試料が、第１切換弁５の濃縮カラム５ｇに
導かれて濃縮・保持される。第１切換弁５がオフにさ
れ、内部流路が第１図の破線接続状態から実線接続状態
に戻される。インジェクタ４ａ，４ｂを経由した溶離
液が、濃縮カラム５ｇ内で濃縮・保持されていた試料を
搬送して第２切換弁６のカッティングカラム６ｇに導
く。この試料中の不要成分がカッティングカラム６ｇ
に到達したと思われる適当な時間に第２切換弁６をオン
にして、その内部流路を第１図の実線接続状態から破線
接続状態に切換える。
【００１２】濃縮カラム５ｇ内で濃縮・保持されてい
た試料のうちカッティングカラム６ｇに取込まれなかっ
た部分は、分離カラム７に搬送されて分離される。分
離カラム７の溶出液は、サプレッサ８の内室と予熱管９
を通って検出器１０に達して検出される。検出器１０
の排出液は、予熱管９と逆止弁１２ｃを通って装置１３
の外へ排出される。検出器１０の検出信号などから分
析が終了したと判断したら、第２切換弁６をオフにして
次の分析に備える。
た試料のうちカッティングカラム６ｇに取込まれなかっ
た部分は、分離カラム７に搬送されて分離される。分
離カラム７の溶出液は、サプレッサ８の内室と予熱管９
を通って検出器１０に達して検出される。検出器１０
の排出液は、予熱管９と逆止弁１２ｃを通って装置１３
の外へ排出される。検出器１０の検出信号などから分
析が終了したと判断したら、第２切換弁６をオフにして
次の分析に備える。
【００１３】また、手動注入・カッティング法を行う場
合には次のようにして行われる。第１切換弁５がオン
にされ、内部流路が第１図の実線接続状態から破線接続
状態に切換えられる。インジェクタ４の試料注入口４
ｃから図示しないシリンジなどで試料を注入して計量管
４ｇ内を満たす。インジェクタ４をオンにし、その内
部流路を図１の破線接続状態にする。計量管４ｇ内の
試料が、溶離液に搬送され第１切換弁５の濃縮カラム５
ｇに導かれて濃縮・保持される。第１切換弁５がオフ
にされ、内部流路が第１図の破線接続状態から実線接続
状態に戻される。
合には次のようにして行われる。第１切換弁５がオン
にされ、内部流路が第１図の実線接続状態から破線接続
状態に切換えられる。インジェクタ４の試料注入口４
ｃから図示しないシリンジなどで試料を注入して計量管
４ｇ内を満たす。インジェクタ４をオンにし、その内
部流路を図１の破線接続状態にする。計量管４ｇ内の
試料が、溶離液に搬送され第１切換弁５の濃縮カラム５
ｇに導かれて濃縮・保持される。第１切換弁５がオフ
にされ、内部流路が第１図の破線接続状態から実線接続
状態に戻される。
【００１４】インジェクタ４ａ，４ｂを経由した溶離
液が、濃縮カラム５ｇ内で濃縮・保持されていた試料を
搬送して第２切換弁６のカッティングカラム６ｇに導
く。この試料中の不要成分がカッティングカラム６ｇ
に到達したと思われる適当な時間に第２切換弁６をオン
にして、その内部流路を第１図の実線接続状態から破線
接続状態に切換える。濃縮カラム５ｇ内で濃縮・保持
されていた試料のうちカッティングカラム６ｇに取込ま
れなかった部分は、分離カラム７に搬送されて分離され
る。また、分離カラム７の溶出液は、サプレッサ８の内
室と予熱管９を通って検出器１０に達して検出される。
検出器１０の排出液は、予熱管９と逆止弁１２ｃを通
って装置１３の外へ排出される。また、検出器１０の検
出信号などから分析が終了したと判断したら、第２切換
弁６をオフにして次の分析に備える。
液が、濃縮カラム５ｇ内で濃縮・保持されていた試料を
搬送して第２切換弁６のカッティングカラム６ｇに導
く。この試料中の不要成分がカッティングカラム６ｇ
に到達したと思われる適当な時間に第２切換弁６をオン
にして、その内部流路を第１図の実線接続状態から破線
接続状態に切換える。濃縮カラム５ｇ内で濃縮・保持
されていた試料のうちカッティングカラム６ｇに取込ま
れなかった部分は、分離カラム７に搬送されて分離され
る。また、分離カラム７の溶出液は、サプレッサ８の内
室と予熱管９を通って検出器１０に達して検出される。
検出器１０の排出液は、予熱管９と逆止弁１２ｃを通
って装置１３の外へ排出される。また、検出器１０の検
出信号などから分析が終了したと判断したら、第２切換
弁６をオフにして次の分析に備える。
【００１５】尚、本発明は図１の実施例に限定されるこ
となく種々の変形が可能であり、例えば、次の〜の
ようにしてもよい。図１のカッティングバルブ６ｇを
除去し、カッテングバルブ６ｇで取込んでいた部分を廃
棄するようにしてもよい。
となく種々の変形が可能であり、例えば、次の〜の
ようにしてもよい。図１のカッティングバルブ６ｇを
除去し、カッテングバルブ６ｇで取込んでいた部分を廃
棄するようにしてもよい。
【００１６】図１のカッティングバルブ６ｇを除去す
ると共に、槽１ｂからもう１つのポンプ４ｄ（図示せ
ず）で第２切換弁６の第３接続口６ｃに溶離液を供給す
るようにしてもよい。このようにすることにより、図１
のカッティングバルブ６ｇを除去し、カッテングバルブ
６ｇで取込んでいた部分を廃棄する場合に生じ易い検出
信号の不安定化などを回避できる。図１のカッテング
カラム６ｇと第６接続口６ｆの間にもう一つの検出器
（図示せず）を付加し、第２切換弁６の切換のタイミン
グを監視する。
ると共に、槽１ｂからもう１つのポンプ４ｄ（図示せ
ず）で第２切換弁６の第３接続口６ｃに溶離液を供給す
るようにしてもよい。このようにすることにより、図１
のカッティングバルブ６ｇを除去し、カッテングバルブ
６ｇで取込んでいた部分を廃棄する場合に生じ易い検出
信号の不安定化などを回避できる。図１のカッテング
カラム６ｇと第６接続口６ｆの間にもう一つの検出器
（図示せず）を付加し、第２切換弁６の切換のタイミン
グを監視する。
【００１７】
【発明の効果】以上詳しく説明したような本発明によれ
ば、次の〜のような効果が得られる。前記第１従
来例の濃縮カラムシステムに第２切換弁６とカッティン
グカラム６ｇを付加するだけで、ウォ―タディップ（試
料中の水分に起因する大きな負のピ―ク）などの測定妨
害成分を簡単に除去することができ、かかる測定妨害成
分の影響を受けることなく高感度分析ができる。前記
第２従来例においては濃縮カラム，プレ分離カラム，及
び分離カラムの３つの分離カラムが必要であるが、本発
明においては第１切換弁５での溶離液と試料の送液方向
を同一とすることにより、濃縮カラム５ｇにプレ分離カ
ラムの機能を合せ持たせることができ、濃縮カラム５ｇ
と分離カラム７の２本のカラムだけで前記第２従来例の
目的を達成できる。
ば、次の〜のような効果が得られる。前記第１従
来例の濃縮カラムシステムに第２切換弁６とカッティン
グカラム６ｇを付加するだけで、ウォ―タディップ（試
料中の水分に起因する大きな負のピ―ク）などの測定妨
害成分を簡単に除去することができ、かかる測定妨害成
分の影響を受けることなく高感度分析ができる。前記
第２従来例においては濃縮カラム，プレ分離カラム，及
び分離カラムの３つの分離カラムが必要であるが、本発
明においては第１切換弁５での溶離液と試料の送液方向
を同一とすることにより、濃縮カラム５ｇにプレ分離カ
ラムの機能を合せ持たせることができ、濃縮カラム５ｇ
と分離カラム７の２本のカラムだけで前記第２従来例の
目的を達成できる。
【００１８】第１切換弁５を第１図の破線接続状態に
し濃縮カラム５ｇをバイパスしインジェクタ４を介して
分離カラム７に試料を導くことにより、該分離カラムを
単独で評価することができ、前記第２従来例で困難だっ
た分離カラムの評価が簡単にできるようになる。第１
切換弁５を第１図の実線接続状態にしインジェクタ４を
介して濃縮カラム５ｇと分離カラム７に試料を導びき、
総合分離特性で濃縮カラム５ｇの分離性能を評価するこ
とにより、該濃縮カラムの濃縮性能を評価することがで
き、前記第２従来例で困難だった濃縮カラムの評価を行
うことできるようになる。
し濃縮カラム５ｇをバイパスしインジェクタ４を介して
分離カラム７に試料を導くことにより、該分離カラムを
単独で評価することができ、前記第２従来例で困難だっ
た分離カラムの評価が簡単にできるようになる。第１
切換弁５を第１図の実線接続状態にしインジェクタ４を
介して濃縮カラム５ｇと分離カラム７に試料を導びき、
総合分離特性で濃縮カラム５ｇの分離性能を評価するこ
とにより、該濃縮カラムの濃縮性能を評価することがで
き、前記第２従来例で困難だった濃縮カラムの評価を行
うことできるようになる。
【図１】本発明実施例の構成説明図である。 １ａ〜１ｃ 槽 ２ デガッサ ３ａ〜３ｃ 送液ポンプ ４ インジェクタ、 ４ｇ 計量管 ５ 第１切換弁、 ５ｇ 濃縮カラム ６ 第２切換弁 ７ 分離カラム ８ サプレッサ ９ 予熱管 １０ 恒温槽、 １１ 検出器 １２ａ〜１２ｃ 逆止弁、 １３ 分析装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 30/08 G01N 30/02 G01N 30/14
Claims (2)
- 【請求項１】試料中のイオン種をクロマトグラフィック
に分析するイオン種分析方法において、第１〜第６の接
続口及び濃縮カラムを有する第１切換弁を用いて前記試
料を濃縮すると共に、第１〜第６の接続口とカッティン
グカラムを有する第２切換弁を用いて前記試料中の測定
妨害成分を除去することを特徴とするイオン種分析方
法。 - 【請求項２】試料中のイオン種をクロマトグラフィック
に分析するイオン種分析装置において、第１〜第６の接
続口及び計量管を有するインジェクタと、第１〜第６の
接続口及び濃縮カラムを有する第１切換弁と、第１〜第
６の接続口とカッティングカラムを有する第２切換弁
と、分離カラムと、イオン交換膜で内部が内室と外室に
仕切られ該内室にスキャベンジャ液が流され外室に前記
分離カラムからの溶出液が流されているサプレッサと、
検出器とを具備し、前記第１切換弁の操作で試料中の被
測定成分を濃縮すると共に、前記第２分離カラムの操作
で試料中の測定妨害成分を除去することを特徴とするイ
オン種分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3593791A JP2905824B2 (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | イオン種分析方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3593791A JP2905824B2 (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | イオン種分析方法とその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04274757A JPH04274757A (ja) | 1992-09-30 |
| JP2905824B2 true JP2905824B2 (ja) | 1999-06-14 |
Family
ID=12455934
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3593791A Expired - Fee Related JP2905824B2 (ja) | 1991-03-01 | 1991-03-01 | イオン種分析方法とその装置 |
Country Status (1)
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| JP (1) | JP2905824B2 (ja) |
-
1991
- 1991-03-01 JP JP3593791A patent/JP2905824B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04274757A (ja) | 1992-09-30 |
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