JP2904186B2 - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JP2904186B2
JP2904186B2 JP9141860A JP14186097A JP2904186B2 JP 2904186 B2 JP2904186 B2 JP 2904186B2 JP 9141860 A JP9141860 A JP 9141860A JP 14186097 A JP14186097 A JP 14186097A JP 2904186 B2 JP2904186 B2 JP 2904186B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
impedance
bonding
lead
case
bonding wire
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP9141860A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH10335369A (ja
Inventor
浩太郎 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP9141860A priority Critical patent/JP2904186B2/ja
Publication of JPH10335369A publication Critical patent/JPH10335369A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2904186B2 publication Critical patent/JP2904186B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/04042Bonding areas specifically adapted for wire connectors, e.g. wirebond pads
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05554Shape in top view being square
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • H01L2224/061Disposition
    • H01L2224/0612Layout
    • H01L2224/0613Square or rectangular array
    • H01L2224/06134Square or rectangular array covering only portions of the surface to be connected
    • H01L2224/06135Covering only the peripheral area of the surface to be connected, i.e. peripheral arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • H01L2224/061Disposition
    • H01L2224/0612Layout
    • H01L2224/0614Circular array, i.e. array with radial symmetry
    • H01L2224/06144Circular array, i.e. array with radial symmetry covering only portions of the surface to be connected
    • H01L2224/06145Covering only the peripheral area of the surface to be connected, i.e. peripheral arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/06Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
    • H01L2224/061Disposition
    • H01L2224/0612Layout
    • H01L2224/0615Mirror array, i.e. array having only a reflection symmetry, i.e. bilateral symmetry
    • H01L2224/06154Mirror array, i.e. array having only a reflection symmetry, i.e. bilateral symmetry covering only portions of the surface to be connected
    • H01L2224/06155Covering only the peripheral area of the surface to be connected, i.e. peripheral arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49175Parallel arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/494Connecting portions
    • H01L2224/4943Connecting portions the connecting portions being staggered
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/02Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L24/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1015Shape
    • H01L2924/10155Shape being other than a cuboid
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1015Shape
    • H01L2924/1016Shape being a cuboid
    • H01L2924/10162Shape being a cuboid with a square active surface
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30107Inductance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロプロセッ
サ、マイクロコントローラ、およびメモリなどの集積回
路を有する半導体装置に関し、特に半導体装置の信号伝
達特性の改善に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の半導体装置は通常図9に示す構造
を有している。図9は従来例の半導体装置の構造の一例
を示す模式的平面図であり、図中符号91はパッケージ
ケース、92はパッケージ端子、93はケース内リー
ド、94はボンディングワイヤ、95はボンディングパ
ッド、96は半導体チップ、97はバッファである。
【0003】図9に見られるように、ケース内リード9
3は、辺の両端側ほど長くなっているため、辺の両端側
ほどケース内リード93のインピーダンスは大きくな
る。ボンディングパッド95は、半導体チップ96の外
辺に揃えて直線状に配置されている。この状態でボンデ
ィングを行うと、両端に行く程ボンディングワイヤ94
は長く、中程に行く程ボンディングワイヤ94は短くな
る。即ち、辺の両端側ほど、ボンディングワイヤ94の
インピーダンスは大きくなる。
【0004】このように従来の半導体装置ではバッファ
97からパッケージ端子92の先端までの信号伝達距離
がそれぞれのパッケージ端子ごとに異なっていた。信号
の伝送が低速の間は余り問題がなかったが、技術の進歩
に伴って複数のGHz以上の超高速信号の伝送が行われ
ると半導体装置内部での伝搬遅延差による問題が発生し
てきた。
【0005】例えば、ここに25MHz動作のマイクロ
プロセッサがある。このマイクロプロセッサには、アド
レスを示す出力信号が32本存在する。このアドレス端
子の特性仕様は、最大ディレィが19ns、最小ディレ
ィが3nsである。このマイクロプロセッサでは、各ア
ドレス端子の出力ディレィは、27本の端子では特性仕
様を満足しているのに、あとの5本については最大ディ
レイの特性仕様を満足できず、それぞれの実測値は25
ns、28ns、30ns、22ns、20nsという
様にそれぞれの値がバラバラであるとする。この時、こ
の特性仕様に未達な端子を特性仕様を満足する様に、出
力バッファの駆動能力を改善する場合、改善するバッフ
ァの出力インピーダンスが各々の端子で異り、さらに各
々の端子の最大ディレィの改善量が異るために、1つ1
つのバッファ駆動能力を1つずつシミュレーション等で
改善していかなければならない。これでは開発期間が長
期にわたってしまう。
【0006】また、例えば、25MHzで動作するマイ
クロプロセッサを100MHzで動作させるとする。こ
の時、アドレス端子の特性仕様を最大ディレィが9n
s、最小ディレィが4nsと設定したとする。この場
合、25MHz動作では19−3=16nsのマージン
があったのに対し、100MHz動作では9−4=5n
sとなり、25MHz動作に対しておよそ3倍の端子の
特性仕様の精度が必要であり、かつ3倍揃っていること
が要求される。各経路中のインピーダンスを低減させる
ことにより、アドレス端子のディレィは低減するけれど
も、揃えることができない。いままで前記条件で特性仕
様を満足していた信号も特性仕様未達になってしまう
し、それぞれの端子でディレィが揃ってない。これで
は、特性仕様を絞り込むことができず、マイクロプロセ
ッサの高速化が困難である。
【0007】これに対して従来から半導体装置における
信号伝達特性の改善が試みられており、例えば、特開平
1−261837号公報で開示された技術では、集積回
路を有する半導体装置における、インダクタンス等の寄
生素子の低減が目的とされている。図10は、特開平1
−261837号公報で開示の半導体装置の一例を示す
模式的平面図であり、図中符号101はパッケージケー
ス、102はパッケージ端子、103はケース内リー
ド、104はボンディングワイヤ、105はボンディン
グパッド、106は半導体チップである。
【0008】パッケージケース101は、外縁に複数の
パッケージ端子102を持ち、パッケージ端子102か
らケース内リード103への経路はマイクロストリツプ
ライン構造を持つ。パッケージケース101の表面内側
には、パッケージ端子102と接続するケース内リード
103が同一円周上に配置されている。半導体チップ1
04の外形は正八角形となっており、そのボンディング
パッド105も同一円周上に配置されている。ボンディ
ングパッド105は、ボンディングワイヤ104を介し
て、パッケージケース101のケース内リード103に
電気的に接続されている。即ち正八角形の半導体チップ
106上に同心円上に配置されたボンディングパッド1
05と、パッケージケース101上に同心円上に配置さ
れたリード103との間は最短かつ均一長のボンディン
グワイヤ104で接続されることになる。
【0009】また、特開平4−188738号公報に
は、インダクタンス等の寄生素子を低減した、超高速か
つ信頼性の高い半導体装置が開示されている。図11
は、特開平4−188738号公報で開示の半導体装置
の一例を示す模式的平面図であり、図中符号111はパ
ッケージケース、112はパッケージ端子、113はケ
ース内リード、114はボンディングワイヤ、115、
117はボンディングパッド、116は半導体チップで
ある。
【0010】パッケージケース111は、全体の形状が
丸型である。該パッケージケース111表面内側には、
半導体チップ116との間を結ぶボンディングワイヤ1
14を結線するためのパッケージケース111自身のボ
ンディングパッド117が、半導体チップ116を取り
巻くように配置されている。このボンディングパッド1
17は同心円上に配置されている。半導体チップ116
は、全体の外形は四角形であるが、ボンディングワイヤ
114を結線するために半導体チップ116上に設けら
れたボンディングパッド115は同心円上に配置されて
いる。ここで、半導体チップ116のボンディングパツ
ド115の形成する同心円の中心と、パッケージケース
111上のボンディングパッド117の形成する同心円
の中心とが中心点118と一致する様に配置されてい
る。この構造によって半導体チップ116のボンディン
グパッド115とケース内リード113のボンディング
パッド117との間隔は均等となり、かつ短縮できるこ
とによって伝送路の長さによる遅延を減少させ、かつ寄
生インダクタンスを減少させることができる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】従来の改善例の第一の
問題点は、加工が複雑になり製造コストが上昇したり、
形状が特殊となり汎用性が低下することである。特開平
1−261837号公報に示される構造では半導体チッ
プを八角形に加工するための困難で複雑な工程が必要と
なり、インピーダンスを整合させるためのリードのマイ
クロストリップライン構造も精密で複雑な加工が必要で
ある。特開平4−188738号公報に示される構造で
はパッケージケースの形状とパッケージ端子の配置が特
殊であり汎用的にこの構造を適用するには問題がある。
【0012】第二の問題点は、半導体装置内部での伝搬
遅延差の改善のための主な対策が伝送遅延を揃えること
ではなく、インピーダンスとインダクタンスの低減にあ
ることであり、そのために第一の問題点のような構造を
必要としたことである。
【0013】本発明の目的は、パッケージ端子の外部配
線との接続点から半導体チップのバッファに至る回路の
信号伝達特性を揃えた半導体装置を提供することにあ
り、特に、ボンデイングワイヤのインビーダンス、リー
ドのインピーダンス、および、バッファからパッドまで
のインピーダンスを加えた、合成インピーダンスが一定
となった半導体装置を提供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
外部に出力するための複数のバッファとバッファに接続
する複数のボンディングパッドとを有する集積回路の形
成された半導体チップ、外部配線と接続するための複数
のリード、リードの一端とボンディングパッドとを接続
する複数のボンディングワイヤ、および半導体チップと
リードとボンディングワイヤとを収容するパッケージケ
ースとから構成される半導体装置において、ボンディン
グワイヤの回路のインピーダンスと、ボンディングワイ
ヤの接続部と外部配線との接続部を結ぶリードの回路の
インピーダンスと、バッファとボンディングパッドとを
結ぶ配線のインピーダンスとの、少なくとも一つ以上の
回路のインピーダンスが調整されて、バッファからリー
ドの外部配線との接続部までの回路の合成インピーダン
スが所望の値に調整されている。
【0015】バッファからリードの外部配線との接続部
までの回路の合成インピーダンスの値が、所定の複数の
バッファからリードの外部配線との接続部までの回路に
ついて同一に近い値であることが好ましい。
【0016】また、ボンディングワイヤの回路のインピ
ーダンスの調整が、ボンディングワイヤの長さおよび本
数の少なくともいずれか一方の調整により行われてもよ
く、ボンディングワイヤの接続部と外部配線との接続部
とを結ぶリードの回路のインピーダンスの調整が、リー
ドの形状および本数の少なくともいずれか一方の調整に
より行われてもよく、バッファとボンディングパッドと
を結ぶ配線のインピーダンスの調整が、バッファとボン
ディングパッドとを結ぶ配線の長さおよび形状の少なく
ともいずれか一方の調整により行われてもよい。
【0017】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。本発明の半導体装置は特殊
なパッケージ形状やリードのパッケージ端子の外部配線
との接続部の特殊な配置を用いることなく、集積回路が
搭載された半導体チップのバッファからリードのパッケ
ージ端子の外部配線との接続部までの回路の合成インピ
ーダンスを調整し、所定の複数のバッファからリードの
パッケージ端子の外部配線との接続部までの回路の合成
インピーダンスを同一に近い値に揃えることに特徴があ
る。
【0018】合成インピーダンスは、ボンディングワイ
ヤの回路のインピーダンスと、ボンディングワイヤの接
続部と外部配線との接続部を結ぶリードの回路のインピ
ーダンスと、バッファとボンディングパッドとを結ぶ配
線のインピーダンスと、ボンディングパッドとボンディ
ングワイヤとの接合部のインピーダンスと、ボンディン
グワイヤとケース内リードとの接合部のインピーダンス
とが合成されて生成される。
【0019】ボンディングパッドとボンディングワイヤ
との接合部のインピーダンスと、ボンディングワイヤと
ケース内リードとの接合部のインピーダンスとは、同一
の半導体装置における各接合部が、材料の同じ組合わせ
により構成されるので同一に近いインピーダンスとなる
ので、残りのボンディングワイヤの回路のインピーダン
スと、ボンディングワイヤの接続部と外部配線との接続
部を結ぶリードの回路のインピーダンスと、バッファと
ボンディングパッドとを結ぶ配線のインピーダンスとの
それぞれのインピーダンスが調整できれば合成インピー
ダンスが調整できる。
【0020】全体が最も望ましい半導体装置内回路の配
置となるように、それぞれのボンディングパッドとケー
ス内リードの接続部との位置関係、回路のボンデイング
ワイヤの本数や形状、リードの本数や形状、およびバッ
ファとボンディングパッドとを結ぶ配線の本数や形状の
少なくとも一つ以上が調整されて組み合わせられること
によって、所望の複数のパッケージ端子の回路のインピ
ーダンスが同一に近い値で合理的な設計の半導体装置を
形成することができる。
【0021】従って以下にボンディングパッドとケース
内リードの接続部との位置関係、回路のボンデイングワ
イヤの本数や形状、リードの本数や形状、およびバッフ
ァとボンディングパッドとを結ぶ配線の本数や形状のそ
れぞれについて調整の方法を詳細に説明する。
【0022】まず、ボンディングパッドとケース内リー
ドの接続部との位置関係、回路のボンデイングワイヤの
本数や形状について説明する。ボンディングワイヤは通
常同一断面のワイヤが使用されるので、ボンディングワ
イヤの形状はボンディングワイヤの長さによって規定さ
れ、ボンディングワイヤが類似の状態でボンディングさ
れる場合には、ボンディングワイヤの長さはボンディン
グパッドとケース内リードの接続部との位置関係により
決定する。
【0023】ボンディングパッドとケース内リードの接
続部との位置関係の調整方法について第1および第2の
実施例によって説明する。図1は本発明の実施の形態の
第1の実施例による半導体装置の模式的平面図であり、
図中符号11はパッケージケース、12はパッケージ端
子、13はケース内リード、14はボンディングワイ
ヤ、15はボンディングパッド、16は半導体チップ、
17は出力バッファ、18は入力バッファである。
【0024】パッケージケース11には、半導体チップ
16の信号を外部配線に引き出すためのパッケージ端子
12がその四辺に配設されている。ケース内リード13
とボンディングパッド15はボンディングワイヤ14に
よって電気的に接続されている。集積回路の出力端子に
は出力バッファ17が、入力端子には入力バッファ18
が、入出力端子には入出力バッファ(不図示)が設けら
れ、ボンディングパッド15にそれぞれ配線で接続され
ている。
【0025】ここでパッケージケース11より露出して
いるパッケージ端子12の長さは等しく、各々の端子の
間隔は等しい。ケース内リード13は、ボンディングさ
れる側では全て等間隔に配置され、ボンディングワイヤ
14の接続される部分は一列に配置されている。
【0026】まずボンディングワイヤ14のインピーダ
ンスを揃える方法について説明する。図9の従来例では
ボンデイングパッドは一列に直線上に配置されていた
が、この配置でボンディングを行うと、両端に行く程ボ
ンディングワイヤは長く、中程に行く程ボンディングワ
イヤは短くなる。即ち、外辺の両端側ほど、ボンディン
グワイヤのインピーダンスは大きくなる。図1に示す本
実施例では、一番長いボンディングワイヤ14のインピ
ーダンスを基準として、インピーダンスが同一となるよ
うボンディングワイヤ14の長さが調節されている。即
ち各ボンディングワイヤ14に対してケース内リード1
3との接続部とボンディングパッド15との距離が等し
くなるように、中程に行く程ボンディングパッド15の
位置が半導体チップ16の中央側に向かってずらされて
いる。これによってボンディングワイヤ14のインピー
ダンスを揃えることができる。
【0027】しかし、図1の配置では、ケース内リード
13の長さが両端に行くにしたがって長くなっており、
従ってケース内リード13によるインピーダンスは両端
に行くほど大きくなっている。バッファ17、18を設
計するときに、端子毎にインピーダンスを揃えているた
め、出力バッファ17、入力バッファ18とボンディン
グパッド15との間のインピーダンスが揃っているとす
ると、中央に行くに従って少なくなるケース内リード1
3のインピーダンスを補償するように、ボンデイングワ
イヤ14の長さが中央に行くに従って長くなるようにボ
ンディングパッド15の位置をさらに半導体チップ16
の中央側に向かってずらすことによって、パッケージ端
子12から入力バッファ17、出力バッファ18に至る
回路に存在する合成インピーダンスを、各々のパッケー
ジ端子12について揃えることができ、信号伝達特性が
揃った半導体装置を提供することができる。
【0028】次に、第2の実施例について図2を参照し
て説明する。図2は本発明の実施の形態の第2の実施例
による半導体装置の模式的平面図であり、図中符号21
はパッケージケース、22はパッケージ端子、23はケ
ース内リード、24はボンディングワイヤ、25はボン
ディングパッド、26は半導体チップ、27は出力バッ
ファ、28は入力バッファである。
【0029】図2の第2の実施例について説明する。ボ
ンディングパッド25は、従来例の図9と同様に半導体
チップ25の辺に揃えて直線状に配置されている。この
状態で図9と同様のケース内リードの位置にボンディン
グを行うと、両端に行く程ボンディングワイヤ24は長
く、中程に行く程ボンディングワイヤ24は短くなる。
即ち、辺の両端側ほど、ボンディングワイヤ24のイン
ピーダンスは大きくなる。
【0030】まずボンディングワイヤのインピーダンス
を揃える方法について説明する。一番長い両端のボンデ
ィングワイヤ24のインピーダンスを基準として、ボン
ディングワイヤ24の長さを調節すると、中程のボンデ
ィングワイヤ24の長さが余ってしまう。このボンディ
ングワイヤ4の長さが余った分、ケース内リード23の
形状を半導体チップ26の外側へ向かってずらした形で
短縮する。こうして決まった半導体チップ26に対する
ケース内リード23の接続位置に対してボンディングを
行うことで、ボンディングワイヤ24のインピーダンス
を揃えることができる。
【0031】図2の配置では、ケース内リード23の長
さが両端に行くにしたがって長くなっており、従ってケ
ース内リード23によるインピーダンスは両端に行くほ
ど大きくなっている。バッファ27、28を設計すると
きに、端子毎にインピーダンスを揃えているため、出力
バッファ27、入力バッファ28とボンディングパッド
25との間のインピーダンスが揃っているとすると、中
央に行くに従って少なくなるケース内リード13のイン
ピーダンスを補償するように、ボンデイングワイヤ24
の長さが中央に行くに従って長くなるようにケース内リ
ード23の接続点の位置をさらに外側に向かってずらす
ことによって、パッケージ端子22から入力バッファ2
7、出力バッファ28に至る回路に存在する合成インピ
ーダンスを、各々のパッケージ端子について揃えること
ができ、信号伝達特性が揃った半導体装置を提供するこ
とができる。ただし、ケース内リード23との接続位置
を外側に向かってずらすと、その分ケース内リード23
のインピーダンスが減少するので、ボンディングワイヤ
24のインピーダンスの増加とケース内リード23のイ
ンピーダンスの減少とのバランスを考慮して接続位置を
決定する必要がある。
【0032】以上の説明ではケース内リード23の長さ
を調整することとしたが、ケース内リード23の長さは
そのままでボンディングワイヤ24との接続位置のみ調
整してもかまわない。
【0033】次にボンディングワイヤの本数と形状によ
るインピーダンスの調整法について、第3および第4の
実施例により説明する。
【0034】まず、本発明の実施の形態の第3の実施例
について図3を参照して説明する。図3は本発明の実施
の形態の第3の実施例による半導体装置の外部接続回路
の模式的平面図であり、図中符号31はパッケージケー
ス、32はパッケージ端子、33はケース内リード、3
4aは第1のボンディングワイヤ、34bは第2のボン
ディングワイヤ、35はボンディングパッド、36は半
導体チップ、37はバッファ、39は配線である。
【0035】上述の第1と第2の実施例では一つのボン
ディングパッドと一つのケース内リードとを1本のボン
ディングワイヤで接続する形態について説明したが、図
3に示すように一部の端子についてボンディングワイヤ
を2本にすることで、合成インピーダンスを他の端子と
揃えることも可能である。
【0036】図3は合成インピーダンスをボンディング
ワイヤの本数によって揃えた例である。ここではパッケ
ージ端子32、ケース内リード33、ボンディングパッ
ド35、バッファ37、配線39のそれぞれについて、
他の端子と同じ形状材質のものが使われているものとす
る。また第1のボンディングワイヤ34aと第2のボン
ディングワイヤ34bとは同一材料同一断面形状であ
る。ただし第2のボンディングワイヤ34bが接続され
るボンディングパッド35とケース内リード33の接続
点との距離は、第1のボンディングワイヤ34aのそれ
と比べて2倍である。従ってこのまま一本のボンディン
グワイヤでボンディングすると、第2のボンディングワ
イヤの長さが第1のボンディングワイヤの2倍となりイ
ンピーダンスも2倍となり、パッケージ端子32ごとの
合成インピーダンスに差を生ずる。
【0037】ここで、図3の第2のボンディングワイヤ
34bのように、2本でボンディングすることで、イン
ピーダンスは1/2となり、各端子のそれぞれの合成イ
ンピーダンスは揃うことになる。
【0038】次に本発明の実施の形態の第4の実施例に
ついて図4を参照して説明する。図4は本発明の実施の
形態の第4の実施例による半導体装置の外部接続回路の
模式的平面図であり、図中符号41はパッケージケー
ス、42はパッケージ端子、43はケース内リード、4
4aは第1のボンディングワイヤ、44bは第2のボン
ディングワイヤ、45はボンディングパッド、46は半
導体チップ、47はバッファ、49は配線である。
【0039】図4は合成インピーダンスをボンディング
ワイヤの形状によって揃えた例である。ここではパッケ
ージ端子42、ケース内リード43、ボンディングパッ
ド45、バッファ47、配線49のそれぞれについて、
他の端子と同じ形状材質のものが使われているものとす
る。また第1のボンディングワイヤ44aと第2のボン
ディングワイヤ44bとは同一材料同一断面形状であ
る。ただし第2のボンディングワイヤ44bが接続され
るボンディングパッド45とケース内リード43の接続
点との距離は、第1のボンディングワイヤ44aが接続
されている図の上下の列の同じ距離と比べて1/2であ
る。従ってこのままボンディングワイヤで直線状にボン
ディングすると、第2のボンディングワイヤ44bの長
さが第1のボンディングワイヤ44aの1/2となりイ
ンピーダンスも1/2となり、パッケージ端子42ごと
の合成インピーダンスに差を生ずる。
【0040】ここで、第1のボンディングワイヤ44a
と同じ長さの第2のボンディングワイヤ44bを図4の
ように、波型になるようにボンディングマシンを設定し
てボンディングを行うことで、インピーダンスは第1の
ボンディングワイヤ44aと同じとなり、各パッケージ
端子のそれぞれの合成インピーダンスは揃うことにな
る。第4の実施例では第2のボンディングワイヤ44b
を波型としたが螺旋状のような他の形状でも構わない。
【0041】次にケース内リードの形状によるインピー
ダンスの調整法について、第5および第6の実施例によ
り説明する。
【0042】図5は本発明の実施の形態の第5の実施例
による半導体装置の外部接続回路の模式的平面図であ
り、図中符号51はパッケージケース、52はパッケー
ジ端子、53aは第1のケース内リード、53bは第2
のケース内リード、54aは第1のボンディングワイ
ヤ、54bは第2のボンディングワイヤ、55はボンデ
ィングパッド、56は半導体チップ、57はバッファ、
59は配線である。
【0043】図5はボンディングワイヤの長さの違いに
よるインピーダンスの差をケース内リードの形状の違い
によって合成インピーダンスを揃えた例である。ここで
はボンディングパッド55、バッファ57、配線59の
それぞれについて、他の端子と同じ形状材質のものが使
われているものとする。また第1のボンディングワイヤ
54aと第2のボンディングワイヤ54bとは同一材料
同一断面形状であり、第1のケース内リード53aと第
2のケース内リード53bとは同一材料である。ただし
第2のボンディングワイヤ54bが接続されるボンディ
ングパッド55と第2のケース内リード53bの接続点
との距離は、第1のボンディングワイヤ54aが接続さ
れている図の上下の列の同じ距離と比べて1/2であ
る。従ってこのままボンディングワイヤで直線状にボン
ディングすると、第2のボンディングワイヤ54bの長
さが第1のボンディングワイヤ54aの1/2となりイ
ンピーダンスも1/2となり、パッケージ端子52ごと
の合成インピーダンスに差を生ずる。
【0044】ここで、第2のボンディングワイヤ54b
と接続される第2のケース内リード53bの幅を、第1
のボンディングワイヤ54aと接続される第1のケース
内リード53aの幅より狭くなるようにリードフレーム
を設計し、第2のボンディングワイヤ54bと第1のボ
ンディングワイヤ54aとのインピーダンスの差を、第
2のリード内ワイヤと第1のリード内ワイヤのインピー
ダンスの差で補償されるようにした。これによって各パ
ッケージ端子のそれぞれの合成インピーダンスは揃うこ
とになる。
【0045】次に別なケース内リードの形状によるイン
ピーダンスの調整法である本発明の実施の形態の第6の
実施例について図6を参照して説明する。図6は本発明
の実施の形態の第6の実施例による半導体装置の外部接
続回路の模式的であり、(a)は平面図、(b)は側面
断面図である。図中符号61はパッケージケース、62
はパッケージ端子、63aは第1のケース内リード、6
3bは第2のケース内リード、64aは第1のボンディ
ングワイヤ、64bは第2のボンディングワイヤ、65
はボンディングパッド、66は半導体チップ、67はバ
ッファ、69は配線である。
【0046】図6は合成インピーダンスをケース内リー
ドの形状によって揃えた例である。ケース内リードの形
状は通常図1に示すように直線状でかつ放射状に配列さ
れているが、図6に示すPGAパッケージのような構成
をしている場合がある。ここではパッケージ端子62、
ケース内リード63、ボンディングパッド65、バッフ
ァ67、配線69のそれぞれについて、他の端子と同じ
形状材質のものが使われているものとする。また第1の
ボンディングワイヤ64aと第2のボンディングワイヤ
64bとは同一材料同一断面形状であり、第1のケース
内リード63aと第2のケース内リード63bは同一材
質同一断面とする。ただし第2のボンディングワイヤ6
4bが接続されるボンディングパッド65と第2のケー
ス内リード63bの接続点との距離は、第1のボンディ
ングワイヤ64aが接続されている図の上下の列の同じ
距離と比べて1/2である。従って図6のようにこのま
まボンディングワイヤで直線状にボンディングされてい
ると、第2のボンディングワイヤ64bの長さが第1の
ボンディングワイヤ64aの1/2となりインピーダン
スも1/2となり、パッケージ端子62ごとの合成イン
ピーダンスに差を生ずる。
【0047】ここで、第1のボンディングワイヤ64a
に接続する第1のケース内リード63aに対して、第2
のボンディングワイヤ64bに接続する第2のケース内
リード63bを図6のように折り曲げて、第2のケース
内リード63bの長さと第1のケース内リード63aの
長さの差によるインピーダンスの差と、ボンディングワ
イヤの長さの差によるインピーダンスの差と整合させる
ことにより各パッケージ端子のそれぞれの合成インピー
ダンスを揃えることができる。
【0048】ケース内リードは図6のように直線状であ
る必要はなく波状に形成して所望の長さを得ることもで
きる。
【0049】次にバッファとボンディングパッドとを結
ぶ配線の本数と形状によるインピーダンスの調整法につ
いて第7および第8の実施例により説明する。
【0050】まず、本発明の実施の形態の第7の実施例
について図7を参照して説明する。図7は本発明の実施
の形態の第7の実施例による半導体装置の外部接続回路
の模式的平面図であり、図中符号71はパッケージケー
ス、72はパッケージ端子、73はケース内リード、7
4はボンディングワイヤ、75はボンディングパッド、
76は半導体チップ、77はバッファ、79aは第1の
配線、79bは第2の配線である。
【0051】これまでの実施例では各バッファとボンデ
ィングパッドとはそれぞれ同一の配線で接続されていた
が本実施例ではバッファ77とボンディングパッド75
は第1の配線79aおよび第2の配線79bで接続され
ている。
【0052】ここではパッケージ端子72、ケース内リ
ード73、ボンディングパッド75、バッファ77、ボ
ンディングワイヤ74のそれぞれについて、他の端子と
同じ形状材質のものが使われているものとする。また配
線79aと配線79bとは同一材料同一断面形状であ
る。ただし第2の配線79bが接続されるボンディング
パッド75とバッファ78との距離は、第1の配線79
aのそれと比べて2倍である。従ってこのまま一本の配
線で配線すると、第2の配線の長さが第1の配線の2倍
となりインピーダンスも2倍となり、パッケージ端子7
2ごとの合成インピーダンスに差を生ずる。
【0053】ここで、第2の配線79bのように、2本
で配線することで、インピーダンスは1/2となり、各
端子のそれぞれの合成インピーダンスは揃うことにな
る。
【0054】次に本発明の実施の形態の第8の実施例に
ついて図8を参照して説明する。図8は本発明の実施の
形態の第8の実施例による半導体装置の外部接続回路の
模式的平面図であり、図中符号81はパッケージケー
ス、82はパッケージ端子、83はケース内リード、8
4はボンディングワイヤ、85はボンディングパッド、
86は半導体チップ、87はバッファ、89aは第1の
配線、89bは第2の配線である。
【0055】本実施例ではバッファ88とボンディング
パッド85は第1の配線89aおよび第2の配線89b
で接続されている。
【0056】ここではパッケージ端子82、ケース内リ
ード83、ボンディングワイヤ84、ボンディングパッ
ド85、バッファ87、のそれぞれについて、他の端子
と同じ形状材質のものが使われているものとする。また
配線89aと配線89bとも同一材料同一断面形状であ
る。ただし第2の配線89bが接続されるボンディング
パッド85とバッファ88との距離は、第1の配線89
aのそれと比べて1/2である。従ってこのまま一本の
配線で配線すると、第2の配線の長さが第1の配線の1
/2となりインピーダンスも1/2となり、パッケージ
端子82ごとの合成インピーダンスに差を生ずる。
【0057】ここで、第1の配線89aと同じ長さの第
2の配線89bを図8のように、波型になるように形成
することで、インピーダンスは第1の配線89aと同じ
となり、各端子のそれぞれの合成インピーダンスは揃う
ことになる。
【0058】次に、ボンディングワイヤとボンディング
パッドとの接触部のインピーダンスについて説明する。
現在導電性が高く、腐食しにくい、加工性が高いなどの
理由から金(AU)製のボンディングワイヤが主として
使用されている。一方半導体の導電体としてはアルミ
(Al)が主として使われており従ってボンディングパ
ッドもアルミ製である。金とアルミとの接触により接触
部でインピーダンスの整合性が損なわれる恐れがある
が、すべての端子が同じ材質での接触部を持つことによ
り接触部でのインピーダンスを同一にでき合成インピー
ダンスを揃えることができる。
【0059】次に、ケース内リードとボンディングワイ
ヤの接触部のインピーダンスについて説明する。リード
の材料としては、半導体の動作時に電流が流れるために
発熱し、その熱によって動作に支障が生ずることを防止
するために熱伝導率が高い必要があることと金より安価
なことから主として銅(Cu)が使用されており、ボン
ディングワイヤは金であるために、銅と金との接触によ
り接触部でインピーダンスの整合性が損なわれる恐れが
あるが、すべての端子が同じ材質での接触部を持つこと
により接触部でのインピーダンスを同一にでき合成イン
ピーダンスを揃えることができる。
【0060】バッファとボンディングパッドとその間の
配線は、半導体の導電体であるのでいずれもアルミで形
成されており、接触部でインピーダンスの整合性が失わ
れることはない。
【0061】本発明の実施の形態の半導体装置では、パ
ッケージ端子の本数が、384本のものや512本のも
のまで種々存在するが、何れの本数についても本発明で
対応できることが容易に類推できる。さらにボンディン
グパッドの個数は、現在使われているもので500個以
上あるものも少なくなく、さらに、半導体表面上にパッ
ドを形成する直上パッドなども存在するが、何れの個数
でも本発明で対応できることが容易に類推できる。
【0062】本発明の実施例では、ケース内リードとボ
ンディングパツドは1対1で対応するものとして説明し
たが、合成インピーダンスを調整するための手段とし
て、ケース内リードが2つに対してボンディングパッド
が一つあり、ボンディングワイヤは1つのボンディング
パッドから、2つのケース内リードに繋がれている場合
には、ボンディングワイヤの長さを半分にするか、ボン
ディングパッドの位置を半分だけずらすことによって合
成インピーダンスの調整が可能である。
【0063】さらに、近年ボンディングパッドの数が増
えてきている。それはマイクロプロセッサにおいて、処
理の並列化のために、信号のビット数を増やさなくては
ならないためである。このためQFPパッケージなどで
はパッケージ端子を増やさなければならなくなり、その
結果ケース内リードの本数に物理的な限界ができること
になる。これを解決するため、ケース内リードを1本目
は長く、2本目は短く、というように千鳥状に配置する
ことにより物理的な限界を解決する例がある。このよう
な千鳥状のケース内リードに対しても、本発明の実施の
形態で合成インピーダンスを調整することができる。即
ち、長いケース内リードに対してはボンディングワイヤ
が短く、短いケース内リードに対してはボンディングワ
イヤが長くなるように、本実施の形態のような手段で調
整することで合成インピーダンスを調整することができ
る。さらにボンディングワイヤ長を変化させるのではな
く、ボンディングパッドの位置を、長いケース内リード
に対しては半導体チップの外辺付近に配置させ、短いケ
ース内リードに対しては半導体チップの中心、あるいは
反対側の外辺付近に合成インピーダンスが揃うように配
置させることで、合成インピーダンスの調整ができる。
【0064】また、上記のようなケース内リードの物理
的な配置限界に対して、別のケースでは、千鳥状に配置
するのではなく階段状に配置することで解決する例があ
る。即ち、1個目のボンディングパッドは1段目にある
ケース内リードにボンディングワイヤにて接続され、2
個目のボンディングパッドは2段目にあるケース内リー
ドにボンディングワイヤにて接続されているような形態
である。ただし、これは縦方向にボンディングを行う必
要があるため、必然的にケースが大きくなり、PGA、
BGAなどのパッケージにて実現されている。
【0065】このような階段状のケース内リードに対し
ても、本発明の第1の実施例の形態で合成インピーダン
スを調整することができる。即ち、1段目と2段目のボ
ンディングワイヤの長さを比較し、その長さが2段目の
方が短いとするならば、その短い分だけボンディングパ
ッドを外辺から離すようにすれば、合成インピーダンス
の調整ができる。
【0066】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、イ
ンピーダンスが揃っていれば、たった1つの入力バッフ
ァ、または出力バッファを設計するだけで、特性仕様を
満足できるように設計できるので開発期間を短縮できる
という効果がある。
【0067】また、信号伝達特性が揃った半導体装置を
提供することができるので、半導体装置設計時にモデル
化し易くなり、設計障害が減るため、半導体集積回路の
設計開発期間(TAT)を短縮できるという効果があ
る。
【0068】さらに、たった1つの入力バッファ、また
は出力バッファを設計するだけなので、論理合成時にマ
クロとして定義する際にも端子毎の入出力特性、電気的
特性が揃い、それらの精度も揃えることができる。故に
設計時の特性定義を短期間で行うことができるので、設
計開発期間を短縮できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の第1の実施例による半導
体装置の模式的平面図である。
【図2】本発明の実施の形態の第2の実施例による半導
体装置の模式的平面図である。
【図3】本発明の実施の形態の第3の実施例による半導
体装置の外部接続回路の模式的平面図である。
【図4】本発明の実施の形態の第4の実施例による半導
体装置の外部接続回路の模式的平面図である。
【図5】本発明の実施の形態の第5の実施例による半導
体装置の外部接続回路の模式的平面図である。
【図6】本発明の実施の形態の第6の実施例による半導
体装置の外部接続回路の模式的である。(a)は平面図
である。(b)は側面断面図である。
【図7】本発明の実施の形態の第7の実施例による半導
体装置の外部接続回路の模式的平面図である。
【図8】本発明の実施の形態の第8の実施例による半導
体装置の外部接続回路の模式的平面図である。
【図9】従来例の半導体装置の構造の一例を示す模式的
平面図である。
【図10】特開平1−261837号公報で開示の半導
体装置の一例を示す模式的平面図である。
【図11】特開平4−188738号公報で開示の半導
体装置の一例を示す模式的平面図である。
【符号の説明】
11、21、31、41、51、61、71、81、9
1、101、111パッケージケース 12、22、32、42、52、62、72、82、9
2、102、112パッケージ端子 13、23、33、43、63、73、83、93、1
03、113 ケース内リード 14、24、74 ボンディングワイヤ 15、25、35、45、55、65、75、85、9
5、105、115、117 ボンディングパッド 16、26、36、46、56、66、76、86、9
6、106、116半導体チップ 17、27 出力バッファ 18、28 入力バッファ 34a、44a、54a、64a、84a 第1のボ
ンディングワイヤ 34b、44b、54b、64b、84b 第2のボ
ンディングワイヤ 37、47、57、67、77、87、97、107、
117 バッファ 39、49、59、69 配線 53a、63a 第1のケース内リード 53b、63b 第2のケース内リード 79a、89a 第1の配線 79b、89b 第2の配線

Claims (5)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部に出力するための複数のバッファと
    前記バッファに接続する複数のボンディングパッドとを
    有する集積回路の形成された半導体チップ、外部配線と
    接続するための複数のリード、前記リードの一端と前記
    ボンディングパッドとを接続する複数のボンディングワ
    イヤ、および前記半導体チップと前記リードと前記ボン
    ディングワイヤとを収容するパッケージケースとから構
    成される半導体装置において、 前記ボンディングワイヤの回路のインピーダンスと、前
    記ボンディングワイヤの接続部と外部配線との接続部を
    結ぶ前記リードの回路のインピーダンスと、前記バッフ
    ァと前記ボンディングパッドとを結ぶ配線のインピーダ
    ンスとの、少なくとも一つ以上の回路のインピーダンス
    が調整されて、前記バッファから前記リードの外部配線
    との接続部までの回路の合成インピーダンスが所望の値
    に調整されていることを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記バッファから前記リードの外部配線
    との接続部までの回路の前記合成インピーダンスの値
    が、所定の複数の前記バッファから前記リードの外部配
    線との接続部までの回路について同一に近い値である請
    求項1に記載の半導体装置。
  3. 【請求項3】 前記ボンディングワイヤの回路のインピ
    ーダンスの調整が、前記ボンディングワイヤの長さおよ
    び本数の少なくともいずれか一方の調整により行われる
    請求項1に記載の半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記ボンディングワイヤの接続部と外部
    配線との接続部とを結ぶ前記リードの回路のインピーダ
    ンスの調整が、前記リードの形状および本数の少なくと
    もいずれか一方の調整により行われる請求項1に記載の
    半導体装置。
  5. 【請求項5】 前記バッファと前記ボンディングパッド
    とを結ぶ配線のインピーダンスの調整が、前記バッファ
    と前記ボンディングパッドとを結ぶ配線の長さおよび形
    状の少なくともいずれか一方の調整により行われる請求
    項1に記載の半導体装置。
JP9141860A 1997-05-30 1997-05-30 半導体装置 Expired - Fee Related JP2904186B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9141860A JP2904186B2 (ja) 1997-05-30 1997-05-30 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9141860A JP2904186B2 (ja) 1997-05-30 1997-05-30 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10335369A JPH10335369A (ja) 1998-12-18
JP2904186B2 true JP2904186B2 (ja) 1999-06-14

Family

ID=15301856

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9141860A Expired - Fee Related JP2904186B2 (ja) 1997-05-30 1997-05-30 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2904186B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH10335369A (ja) 1998-12-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6753598B2 (en) Transverse hybrid LOC package
US8212343B2 (en) Semiconductor chip package
US7655552B2 (en) Double density method for wirebond interconnect
US20110291250A1 (en) Semiconductor chip package
US5331200A (en) Lead-on-chip inner lead bonding lead frame method and apparatus
US5164817A (en) Distributed clock tree scheme in semiconductor packages
US9198281B2 (en) Leadframe for semiconductor packages
JPH04307943A (ja) 半導体装置
US5726860A (en) Method and apparatus to reduce cavity size and the bondwire length in three tier PGA packages by interdigitating the VCC/VSS
JPH0870090A (ja) 半導体集積回路
KR100224770B1 (ko) 리드 온 칩 리드프레임 및 이를 이용한 반도체 소자 패키지
JP2904186B2 (ja) 半導体装置
JPS63187639A (ja) 半導体装置
US6376903B1 (en) Semiconductor chip package with multilevel leads
JP2007180077A (ja) 半導体装置
JP2990645B2 (ja) 半導体集積回路用リードフレームおよび半導体集積回路
KR100635386B1 (ko) 고속 신호 처리가 가능한 반도체 칩 패키지
US6362426B1 (en) Radiused leadframe
JP2879787B2 (ja) 高密度表面実装用半導体パッケージ及び半導体実装基板
US6459157B1 (en) Semiconductor device and double-sided multi-chip package
CN114864531A (zh) 集成电路导线架及其半导体装置
KR200181364Y1 (ko) 피.지.에이 패키지
KR200238121Y1 (ko) 리드프레임
JPH0738011A (ja) 半導体集積回路装置
JP2001223335A (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080326

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090326

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100326

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100326

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110326

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110326

Year of fee payment: 12

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110326

Year of fee payment: 12

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110326

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120326

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130326

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130326

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140326

Year of fee payment: 15

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees