JP2903545B2 - フィードバッククランプ回路 - Google Patents
フィードバッククランプ回路Info
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- JP2903545B2 JP2903545B2 JP1150201A JP15020189A JP2903545B2 JP 2903545 B2 JP2903545 B2 JP 2903545B2 JP 1150201 A JP1150201 A JP 1150201A JP 15020189 A JP15020189 A JP 15020189A JP 2903545 B2 JP2903545 B2 JP 2903545B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、ディジタル情報を処理する場合等に用い
て好適なフィードバッククランプ回路に関する。
て好適なフィードバッククランプ回路に関する。
この発明は、ディジタル情報を利用してクランプ制御
を行うフィードバッククランプ回路において、入力信号
に含まれるノイズ量を検出し、その検出出力に応じて帰
還ループのゲイン又は不感帯幅をコントロールすること
により、VTRやディスク等のノイズ量の多いソースのと
きでも、安定したクランプ動作ができるようにしたもの
である。
を行うフィードバッククランプ回路において、入力信号
に含まれるノイズ量を検出し、その検出出力に応じて帰
還ループのゲイン又は不感帯幅をコントロールすること
により、VTRやディスク等のノイズ量の多いソースのと
きでも、安定したクランプ動作ができるようにしたもの
である。
A/D変換器を介するディジタルのフィードバッククラ
ンプ回路として従来第８図に示すようなものがある。同
図において、入力端子（１）からの入力信号はクランプ
回路（２）において、端子（３）からのクランプパルス
の期間所定のクランプ電位にクランプされて、A/D変換
器（４）でA/D変換されて出力端子（５）に取り出され
る。
ンプ回路として従来第８図に示すようなものがある。同
図において、入力端子（１）からの入力信号はクランプ
回路（２）において、端子（３）からのクランプパルス
の期間所定のクランプ電位にクランプされて、A/D変換
器（４）でA/D変換されて出力端子（５）に取り出され
る。
また、A/D変換器（４）の出力信号の一部が差分検出
器（６）において、端子（７）からの基準電位期間（又
はクランプ電位期間）を表わすパルスの間基準電位（又
はクランプ電位）と比較され、その差分が反転アンプ
（８）で増幅され、D/A変換器（９）でD/A変換された後
ローパスフィルタ（10）を通ってクランプ電位としてク
ランプ回路（２）に供給される。そして差分検出器
（６）の両入力が常に一定になるようにフィードバック
がかけられる。
器（６）において、端子（７）からの基準電位期間（又
はクランプ電位期間）を表わすパルスの間基準電位（又
はクランプ電位）と比較され、その差分が反転アンプ
（８）で増幅され、D/A変換器（９）でD/A変換された後
ローパスフィルタ（10）を通ってクランプ電位としてク
ランプ回路（２）に供給される。そして差分検出器
（６）の両入力が常に一定になるようにフィードバック
がかけられる。
ところで、第８図の如き構成のフィードバッククラン
プ回路の場合、入力端子（１）からの入力端子のノイズ
量が大きい時に帰還ループのアンプ（８）のゲイン及び
ローパスフィルタ（10）の時定数を一定にしておくと、
ノイズによりクランプ回路（２）に与えられるクランプ
電位がガタガタしてしまう。これに対処するためにアン
プ（８）のゲインを下げたり、ローパスフィルタ（10）
の時定数を長くするとクランプ能力が低下してしまう欠
点がある。
プ回路の場合、入力端子（１）からの入力端子のノイズ
量が大きい時に帰還ループのアンプ（８）のゲイン及び
ローパスフィルタ（10）の時定数を一定にしておくと、
ノイズによりクランプ回路（２）に与えられるクランプ
電位がガタガタしてしまう。これに対処するためにアン
プ（８）のゲインを下げたり、ローパスフィルタ（10）
の時定数を長くするとクランプ能力が低下してしまう欠
点がある。
この発明は斯る点に鑑みてなされたもので、ノイズ量
の多いソースでも安定したクランプ動作が可能なフィー
ドバッククランプ回路を提供するものである。
の多いソースでも安定したクランプ動作が可能なフィー
ドバッククランプ回路を提供するものである。
この発明のフィードバッククランプ回路は、帰還ルー
プを有し、入力信号をクランプするクランプ手段２と、
上記入力信号に含まれるノイズ量を検出するノイズ検出
手段20と、上記ノイズ検出手段20の出力に応じて上記帰
還ループのゲインを制御するゲイン制御手段８と、を備
えるものである。また、この発明のフィードバッククラ
ンプ回路は、帰還ループを有し、入力信号をクランプす
るクランプ手段２と、上記入力信号に含まれるノイズ量
を検出するノイズ検出手段20と、上記ノイズ検出手段20
の出力に応じて上記帰還ループの不感帯幅を制御する不
感帯幅制御手段８と、を備えるものである。
プを有し、入力信号をクランプするクランプ手段２と、
上記入力信号に含まれるノイズ量を検出するノイズ検出
手段20と、上記ノイズ検出手段20の出力に応じて上記帰
還ループのゲインを制御するゲイン制御手段８と、を備
えるものである。また、この発明のフィードバッククラ
ンプ回路は、帰還ループを有し、入力信号をクランプす
るクランプ手段２と、上記入力信号に含まれるノイズ量
を検出するノイズ検出手段20と、上記ノイズ検出手段20
の出力に応じて上記帰還ループの不感帯幅を制御する不
感帯幅制御手段８と、を備えるものである。
ノイズ検出手段（20）で入力信号に含まれるノイズ量
を検出し、その検出出力に応じて利得制御手段（８）に
おいて帰還ループのゲイン又は不感帯幅をコントロール
する。すなわち入力信号に含まれるノイズ量が大きいと
きはゲインを下げる領域を広げるかまたは不感帯幅を広
げ、ノイズ量が小さいときはゲインを下げる領域を狭め
るか又は不感帯幅を狭める。これによりノイズが多少多
く含まれる入力信号が入力された場合でも、クランプ電
位がガタつくことがなく、安定したクランプ動作が可能
となる。
を検出し、その検出出力に応じて利得制御手段（８）に
おいて帰還ループのゲイン又は不感帯幅をコントロール
する。すなわち入力信号に含まれるノイズ量が大きいと
きはゲインを下げる領域を広げるかまたは不感帯幅を広
げ、ノイズ量が小さいときはゲインを下げる領域を狭め
るか又は不感帯幅を狭める。これによりノイズが多少多
く含まれる入力信号が入力された場合でも、クランプ電
位がガタつくことがなく、安定したクランプ動作が可能
となる。
以下、この発明の一実施例を第１図〜第７図に基づい
て詳しく説明する。
て詳しく説明する。
第１図は本実施例の回路構成を示すもので、同図にお
いて、第８図と対応する部分には同一符号を付し、その
詳細説明は省略する。
いて、第８図と対応する部分には同一符号を付し、その
詳細説明は省略する。
本実施例ではA/D変換器（４）の後にノイズ検出回路
（20）を設け、これによりA/D変換器（４）の出力側に
得られる信号に含まれるノイズ量を検出する。そして、
その検出出力に応じて反転アンプ（８）のゲインをコン
トロールしたり不感帯幅をコントロールしたりするよう
にする。このために反転アンプ（８）の入出力特性を第
３図〜第５図に示す特性のいずれかに予め設定してお
く。
（20）を設け、これによりA/D変換器（４）の出力側に
得られる信号に含まれるノイズ量を検出する。そして、
その検出出力に応じて反転アンプ（８）のゲインをコン
トロールしたり不感帯幅をコントロールしたりするよう
にする。このために反転アンプ（８）の入出力特性を第
３図〜第５図に示す特性のいずれかに予め設定してお
く。
例えば反転アンプ（８）の入出力特性を第３図の如き
特性に設定しておくと、ノイズ検出回路（20）で検出さ
れるノイズ量が零のときは反転アンプ（８）の入出力特
性は第２図の如くなるも、ノイズ検出回路（20）でノイ
ズ量が検出されると、そのノイズ量に応じて反転アンプ
（８）の入出力特性は第３図の如く変化する。すなわち
検出されるノイズ量が大きいときはゲインを下げる領域
a1は広げられ、検出されるノイズ量が小さいときはゲイ
ンを下げる領域a1は狭められる。
特性に設定しておくと、ノイズ検出回路（20）で検出さ
れるノイズ量が零のときは反転アンプ（８）の入出力特
性は第２図の如くなるも、ノイズ検出回路（20）でノイ
ズ量が検出されると、そのノイズ量に応じて反転アンプ
（８）の入出力特性は第３図の如く変化する。すなわち
検出されるノイズ量が大きいときはゲインを下げる領域
a1は広げられ、検出されるノイズ量が小さいときはゲイ
ンを下げる領域a1は狭められる。
また、例えば反転アンプ（８）の入出力特性を第４図
の如き特性に設定しておくと、ノイズ検出回路（20）で
検出されるノイズ量が零のときは反転アンプ（８）の入
出力特性は第２図の如くなるも、ノイズ検出回路（20）
でノイズ量が検出されると、そのノイズ量に応じて反転
アンプ（８）の入出力特性は第４図の如く変化する。す
なわち検出されるノイズ量が大きいときは不感帯幅a2は
広げられ、検出されるノイズ量が小さいときは不感帯幅
a2は狭められる。
の如き特性に設定しておくと、ノイズ検出回路（20）で
検出されるノイズ量が零のときは反転アンプ（８）の入
出力特性は第２図の如くなるも、ノイズ検出回路（20）
でノイズ量が検出されると、そのノイズ量に応じて反転
アンプ（８）の入出力特性は第４図の如く変化する。す
なわち検出されるノイズ量が大きいときは不感帯幅a2は
広げられ、検出されるノイズ量が小さいときは不感帯幅
a2は狭められる。
また、例えば反転アンプ（８）の入出力特性を第５図
の如き特性に設定しておくと、ノイズ検出回路（20）で
検出されるノイズ量が零のときは反転アンプ（８）の入
出力特性は第２図の如くなるも、ノイズ検出回路（20）
でノイズ量が検出されると、そのノイズ量に応じて反転
アンプ（８）の入出力特性は第５図の如く変化する。す
なわち検出されるノイズ量が大きいときはゲインを下げ
る領域と不感帯幅a3は広げられ、検出されるノイズ量が
小さいときはゲインを下げる領域と不感帯幅a3は広げら
れ、検出すれるノイズ量が小さいときはゲインを下げる
領域と不感帯幅a3は狭められる。
の如き特性に設定しておくと、ノイズ検出回路（20）で
検出されるノイズ量が零のときは反転アンプ（８）の入
出力特性は第２図の如くなるも、ノイズ検出回路（20）
でノイズ量が検出されると、そのノイズ量に応じて反転
アンプ（８）の入出力特性は第５図の如く変化する。す
なわち検出されるノイズ量が大きいときはゲインを下げ
る領域と不感帯幅a3は広げられ、検出されるノイズ量が
小さいときはゲインを下げる領域と不感帯幅a3は広げら
れ、検出すれるノイズ量が小さいときはゲインを下げる
領域と不感帯幅a3は狭められる。
このようにゲインまたは不感帯幅をコントロールされ
た反転アンプ（８）からの出力信号はD/A変換器（９）
でD/A変換され、ローパスフィルタ（10）を通ってクラ
ンプ電位としてクランプ回路（２）に供給される。これ
によりノイズが多少多く含まれる入力信号が入力された
場合でも、クランプ電位がガタつくことがなく、安定し
たクランプ動作が可能となる。
た反転アンプ（８）からの出力信号はD/A変換器（９）
でD/A変換され、ローパスフィルタ（10）を通ってクラ
ンプ電位としてクランプ回路（２）に供給される。これ
によりノイズが多少多く含まれる入力信号が入力された
場合でも、クランプ電位がガタつくことがなく、安定し
たクランプ動作が可能となる。
第６図はノイズ検出回路（20）の具体的回路の一例を
示すもので、同図において（21）はA/D変換器（４）
（第１図）からの出力信号が供給される入力端子であっ
て、この入力端子（21）からの入力信号は比較回路（2
2）に供給されて基準電位と比較される。比較回路（2
2）は入力信号のレベルが基準電位より大きいと例えば
“1"の信号を発生し、小さいと例えば“0"の信号を発生
する。
示すもので、同図において（21）はA/D変換器（４）
（第１図）からの出力信号が供給される入力端子であっ
て、この入力端子（21）からの入力信号は比較回路（2
2）に供給されて基準電位と比較される。比較回路（2
2）は入力信号のレベルが基準電位より大きいと例えば
“1"の信号を発生し、小さいと例えば“0"の信号を発生
する。
比較回路（22）の出力信号はカウンタ（23）に供給さ
れ、カウンタ（23）は端子（24）より印加される基準電
位期間を表わすパルスの期間中比較回路（22）からの
“1"の信号をカウントする。カウンタ（23）のカウント
値は比較回路（25）に供給されて基準回数と比較され、
カウント値が基準回数より大きければ出力端子（26）に
ノイズ量検出信号が得られる。
れ、カウンタ（23）は端子（24）より印加される基準電
位期間を表わすパルスの期間中比較回路（22）からの
“1"の信号をカウントする。カウンタ（23）のカウント
値は比較回路（25）に供給されて基準回数と比較され、
カウント値が基準回数より大きければ出力端子（26）に
ノイズ量検出信号が得られる。
第７図は基準回数と入力信号の基準電位期間の頻度を
表したもので、カウンタ（23）のカウント値が基準回数
より大きければノイズ量検出出力が多く得られる。
表したもので、カウンタ（23）のカウント値が基準回数
より大きければノイズ量検出出力が多く得られる。
〔発明の効果〕 この発明のフィードバッククランプ回路は、ノイズ検
出手段20の出力に応じて帰還ループのゲインを制御する
ゲイン制御手段８やノイズ検出手段20の出力に応じて帰
還ループの不感帯幅を制御する不感帯幅制御手段８を備
えたので、帰還ループのゲインや不感帯幅を制御するこ
とによって、VTRやディスク等のノイズ量の多いソース
のときの、低周波および高周波のノイズに対しても、安
定したクランプ動作を行うことができるという効果を奏
する。
出手段20の出力に応じて帰還ループのゲインを制御する
ゲイン制御手段８やノイズ検出手段20の出力に応じて帰
還ループの不感帯幅を制御する不感帯幅制御手段８を備
えたので、帰還ループのゲインや不感帯幅を制御するこ
とによって、VTRやディスク等のノイズ量の多いソース
のときの、低周波および高周波のノイズに対しても、安
定したクランプ動作を行うことができるという効果を奏
する。
第１図はこの発明の一実施例を示す回路構成図、第２図
〜第５図はこの発明によるアンプの入出力特性図、第６
図はこの発明の要部の一例を示す構成図、第７図は第６
図の動作説明に供するための図、第８図は従来例を示す
回路構成図である。 （２）はクランプ回路、（４）はA/D変換器、（６）は
差分検出器、（８）はアンプ、（９）はD/A変換器、（1
0）はローパスフィルタ、（20）はノイズ検出回路であ
る。
〜第５図はこの発明によるアンプの入出力特性図、第６
図はこの発明の要部の一例を示す構成図、第７図は第６
図の動作説明に供するための図、第８図は従来例を示す
回路構成図である。 （２）はクランプ回路、（４）はA/D変換器、（６）は
差分検出器、（８）はアンプ、（９）はD/A変換器、（1
0）はローパスフィルタ、（20）はノイズ検出回路であ
る。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H04N 5/16 - 5/18
Claims (2)
- 【請求項１】帰還ループを有し、入力信号をクランプす
るクランプ手段と、 上記入力信号に含まれるノイズ量を検出するノイズ検出
手段と、 上記ノイズ検出手段の出力に応じて上記帰還ループのゲ
インを制御するゲイン制御手段と、を備えることを特徴
とするフィードバッククランプ回路。 - 【請求項２】帰還ループを有し、入力信号をクランプす
るクランプ手段と、 上記入力信号に含まれるノイズ量を検出するノイズ検出
手段と、 上記ノイズ検出手段の出力に応じて上記帰還ループの不
感帯幅を制御する不感帯幅制御手段と、を備えることを
特徴とするフィードバッククランプ回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1150201A JP2903545B2 (ja) | 1989-06-13 | 1989-06-13 | フィードバッククランプ回路 |
| TW81213586U TW393003U (en) | 1989-06-13 | 1990-11-22 | Feedback positioning circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1150201A JP2903545B2 (ja) | 1989-06-13 | 1989-06-13 | フィードバッククランプ回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0314368A JPH0314368A (ja) | 1991-01-23 |
| JP2903545B2 true JP2903545B2 (ja) | 1999-06-07 |
Family
ID=15491731
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1150201A Expired - Fee Related JP2903545B2 (ja) | 1989-06-13 | 1989-06-13 | フィードバッククランプ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2903545B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1992010877A1 (en) * | 1990-12-06 | 1992-06-25 | Sony Corporation | Feedback clamping circuit |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4516042A (en) * | 1982-06-30 | 1985-05-07 | Tektronix, Inc. | Clamp circuits |
-
1989
- 1989-06-13 JP JP1150201A patent/JP2903545B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0314368A (ja) | 1991-01-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |