JP2900696B2 - Ｍｕｓｅ方式の動き検出装置 - Google Patents
Ｍｕｓｅ方式の動き検出装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、縦線領域を検出するＭ
ＵＳＥ方式の動き検出装置に関する。
ＵＳＥ方式の動き検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のＭＵＳＥ方式のデコーダとして
は、例えば特開昭６２−１７２８７６号公報に示されて
いる。
は、例えば特開昭６２−１７２８７６号公報に示されて
いる。
【０００３】図６はこの従来のＭＵＳＥ方式のデコーダ
の構成図を示すものであり、１はＭＵＳＥ信号が入力さ
れる入力端子、２は同期信号を検出し本デコーダの同期
を制御する同期検出回路である。９はサブサンプルシフ
トのためのスイッチであって、入力されるＭＵＳＥ伝送
信号にフレームメモリ３の出力信号を挿入して３２ＭＨ
ｚのサンプリングのフレーム間内挿された信号を得る。
３は４フィールド分を記憶するフレームメモリ、４はフ
ィールド間の内挿を行うフィールド間内挿回路で静止画
領域の処理系として次段の混合回路５に供給される。
の構成図を示すものであり、１はＭＵＳＥ信号が入力さ
れる入力端子、２は同期信号を検出し本デコーダの同期
を制御する同期検出回路である。９はサブサンプルシフ
トのためのスイッチであって、入力されるＭＵＳＥ伝送
信号にフレームメモリ３の出力信号を挿入して３２ＭＨ
ｚのサンプリングのフレーム間内挿された信号を得る。
３は４フィールド分を記憶するフレームメモリ、４はフ
ィールド間の内挿を行うフィールド間内挿回路で静止画
領域の処理系として次段の混合回路５に供給される。
【０００４】１０は現フィールドに相当するサンプリン
グ点のみの信号をフレーム間内挿された信号から抜き取
るスイッチであって、その出力信号をフィールド内内挿
回路６に供給する。６はフィールド内内挿回路で、動き
領域の信号処理系で信号処理が行なわれた信号が、次段
の混合回路５の一方に供給される。７は入力端子１から
供給されるＭＵＳＥ信号Ａと、フレーム間内挿された信
号Ｂとフレームメモリ３の出力信号Ｃから１フレーム間
と２フレーム間の差分信号を検出し動き領域を検出する
動き検出回路で、その出力信号を混合回路５に供給す
る。
グ点のみの信号をフレーム間内挿された信号から抜き取
るスイッチであって、その出力信号をフィールド内内挿
回路６に供給する。６はフィールド内内挿回路で、動き
領域の信号処理系で信号処理が行なわれた信号が、次段
の混合回路５の一方に供給される。７は入力端子１から
供給されるＭＵＳＥ信号Ａと、フレーム間内挿された信
号Ｂとフレームメモリ３の出力信号Ｃから１フレーム間
と２フレーム間の差分信号を検出し動き領域を検出する
動き検出回路で、その出力信号を混合回路５に供給す
る。
【０００５】図７により動き検出回路７の詳細な説明を
行う。図７において、７１は１フレーム間の動き領域を
検出する１フレーム間差信号検出回路で、フレーム間内
挿信号Ｂに含まれる現フレーム信号と１フレーム前の信
号から１フレーム間の差分信号を検出し、低域ＬＰＦ７
２に供給する。７２はフレーム間の折り返しがない部分
（４ＭＨｚ以下）のみを通すためのＬＰＦ、７３は２フ
レーム間の動き領域を検出する２フレーム間差信号検出
回路で、入力端子１から入力される信号Ａとフレームメ
モリ３から出力される信号Ｃから２フレーム間の差分信
号を検出し、ＭＡＸ回路７４に供給する。７４は低域Ｌ
ＰＦ７２と２フレーム間差信号検出回路７３の出力信号
の最大値を検出するＭＡＸ回路である。以上のように動
き信号を検出し混合回路５に供給する。
行う。図７において、７１は１フレーム間の動き領域を
検出する１フレーム間差信号検出回路で、フレーム間内
挿信号Ｂに含まれる現フレーム信号と１フレーム前の信
号から１フレーム間の差分信号を検出し、低域ＬＰＦ７
２に供給する。７２はフレーム間の折り返しがない部分
（４ＭＨｚ以下）のみを通すためのＬＰＦ、７３は２フ
レーム間の動き領域を検出する２フレーム間差信号検出
回路で、入力端子１から入力される信号Ａとフレームメ
モリ３から出力される信号Ｃから２フレーム間の差分信
号を検出し、ＭＡＸ回路７４に供給する。７４は低域Ｌ
ＰＦ７２と２フレーム間差信号検出回路７３の出力信号
の最大値を検出するＭＡＸ回路である。以上のように動
き信号を検出し混合回路５に供給する。
【０００６】混合回路５は動き信号の大きさにより、フ
ィールド間内挿回路４より供給される静止画領域の信号
とフィールド内内挿回路６より供給される動画領域の信
号を切換または混合処理を行いＴＣＩデコーダ８に供給
する。
ィールド間内挿回路４より供給される静止画領域の信号
とフィールド内内挿回路６より供給される動画領域の信
号を切換または混合処理を行いＴＣＩデコーダ８に供給
する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前述のよ
うなＭＵＳＥ方式においては、サブサンプリングが２フ
レームで一巡するために、受信機側で動き検出を行うと
きに、１フレーム間差信号をそのまま用いることができ
ず、２フレーム間差信号を用いざるを得ず、動き検出が
不完全になる。すなわち、小さな物体が２フレーム間で
重なるように動いたとき、動きの信号は２フレーム間で
検出できず、さらに１フレーム間の差分は低域ＬＰＦで
減衰するため出力されない。従ってデコード処理は静止
画領域として処理され多線ぼけが生じる。
うなＭＵＳＥ方式においては、サブサンプリングが２フ
レームで一巡するために、受信機側で動き検出を行うと
きに、１フレーム間差信号をそのまま用いることができ
ず、２フレーム間差信号を用いざるを得ず、動き検出が
不完全になる。すなわち、小さな物体が２フレーム間で
重なるように動いたとき、動きの信号は２フレーム間で
検出できず、さらに１フレーム間の差分は低域ＬＰＦで
減衰するため出力されない。従ってデコード処理は静止
画領域として処理され多線ぼけが生じる。
【０００８】本発明は、かかる点に鑑み、縦線部分の動
きが２フレーム間で重なるような状態のときは、動きヌ
ケが生じないＭＵＳＥ方式の動き検出装置を提供するこ
とを目的とする。
きが２フレーム間で重なるような状態のときは、動きヌ
ケが生じないＭＵＳＥ方式の動き検出装置を提供するこ
とを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、第１の発明は、１フレーム間差信号の広域信号を検
出する１フレーム間差広域信号検出回路と、低域信号を
検出する１フレーム間差低域信号検出回路と、前記１フ
レーム間差広域信号検出回路と１フレーム間差低域信号
検出回路の各出力信号を切り換える切換回路と、水平エ
ッジを検出する水平エッジ検出回路と、垂直エッジを検
出する垂直エッジ検出回路と、水平エッジ検出回路と垂
直エッジ検出回路の各出力信号から縦線成分のみを検出
する縦線検出回路とを備え、縦線部分は１フレーム間差
の広域信号を選択するＭＵＳＥ方式の動き検出装置であ
る。
め、第１の発明は、１フレーム間差信号の広域信号を検
出する１フレーム間差広域信号検出回路と、低域信号を
検出する１フレーム間差低域信号検出回路と、前記１フ
レーム間差広域信号検出回路と１フレーム間差低域信号
検出回路の各出力信号を切り換える切換回路と、水平エ
ッジを検出する水平エッジ検出回路と、垂直エッジを検
出する垂直エッジ検出回路と、水平エッジ検出回路と垂
直エッジ検出回路の各出力信号から縦線成分のみを検出
する縦線検出回路とを備え、縦線部分は１フレーム間差
の広域信号を選択するＭＵＳＥ方式の動き検出装置であ
る。
【００１０】第２の発明は、１フレーム間差信号の広域
信号を検出する１フレーム間差広域信号検出回路と、低
域信号を検出する１フレーム間差低域信号検出回路と、
前記１フレーム間差広域信号検出回路と１フレーム間差
低域信号検出回路の各出力信号を切り換える切換回路
と、水平エッジを検出する水平エッジ検出回路と、垂直
エッジを検出する垂直エッジ検出回路と、水平エッジ検
出回路と垂直エッジ検出回路の出力信号から縦線成分の
みを検出する縦線検出回路と、縦線検出回路の出力信号
を１フレーム間遅延する１フレームメモリと、１フレー
ムメモリと縦線検出回路の出力信号とを論理和する縦線
検出信号論理和回路とを備え、縦線検出信号論理和回路
で検出した縦線部分は１フレーム間差の広域信号を選択
するＭＵＳＥ方式の動き検出装置である。
信号を検出する１フレーム間差広域信号検出回路と、低
域信号を検出する１フレーム間差低域信号検出回路と、
前記１フレーム間差広域信号検出回路と１フレーム間差
低域信号検出回路の各出力信号を切り換える切換回路
と、水平エッジを検出する水平エッジ検出回路と、垂直
エッジを検出する垂直エッジ検出回路と、水平エッジ検
出回路と垂直エッジ検出回路の出力信号から縦線成分の
みを検出する縦線検出回路と、縦線検出回路の出力信号
を１フレーム間遅延する１フレームメモリと、１フレー
ムメモリと縦線検出回路の出力信号とを論理和する縦線
検出信号論理和回路とを備え、縦線検出信号論理和回路
で検出した縦線部分は１フレーム間差の広域信号を選択
するＭＵＳＥ方式の動き検出装置である。
【００１１】第３の発明は、フレーム間内挿された信号
から前フレームの信号を取り出すサブサンプル回路と、
サブサンプル回路の出力信号の前フレームの信号から水
平エッジを検出する前フレーム水平エッジ検出回路と垂
直エッジを検出する前フレーム垂直エッジ検出回路と前
フレーム水平エッジ検出回路と前フレーム垂直エッジ検
出回路の出力信号から縦線成分のみを検出する前フレー
ム縦線検出回路と、１フレーム間差信号の広域信号を検
出する１フレーム間差広域信号検出回路と、低域信号を
検出する１フレーム間差低域信号検出回路と、前記１フ
レーム間差広域信号検出回路と１フレーム間差低域信号
検出回路の出力信号を切り換える切換回路と、現フレー
ムの水平エッジを検出する現フレーム水平エッジ検出回
路と垂直エッジを検出する現フレーム垂直エッジ検出回
路と現フレーム水平エッジ検出回路と垂直エッジ検出回
路の出力信号から縦線成分のみを検出する現フレーム縦
線検出回路と、現フレームと前フレームの縦線検出回路
の出力信号とを論理和する縦線検出信号論理和回路とを
備え、縦線検出信号論理和回路で検出される縦線領域は
１フレーム間差の広帯域信号を選択するＭＵＳＥ方式の
動き検出装置である。
から前フレームの信号を取り出すサブサンプル回路と、
サブサンプル回路の出力信号の前フレームの信号から水
平エッジを検出する前フレーム水平エッジ検出回路と垂
直エッジを検出する前フレーム垂直エッジ検出回路と前
フレーム水平エッジ検出回路と前フレーム垂直エッジ検
出回路の出力信号から縦線成分のみを検出する前フレー
ム縦線検出回路と、１フレーム間差信号の広域信号を検
出する１フレーム間差広域信号検出回路と、低域信号を
検出する１フレーム間差低域信号検出回路と、前記１フ
レーム間差広域信号検出回路と１フレーム間差低域信号
検出回路の出力信号を切り換える切換回路と、現フレー
ムの水平エッジを検出する現フレーム水平エッジ検出回
路と垂直エッジを検出する現フレーム垂直エッジ検出回
路と現フレーム水平エッジ検出回路と垂直エッジ検出回
路の出力信号から縦線成分のみを検出する現フレーム縦
線検出回路と、現フレームと前フレームの縦線検出回路
の出力信号とを論理和する縦線検出信号論理和回路とを
備え、縦線検出信号論理和回路で検出される縦線領域は
１フレーム間差の広帯域信号を選択するＭＵＳＥ方式の
動き検出装置である。
【００１２】
【作用】第１の発明によれば、縦線領域においては１フ
レーム間差の広域信号で動きを検出できるため、２フレ
ーム間差の信号が検出できなくても良好な動き信号を検
出することが出来る。
レーム間差の広域信号で動きを検出できるため、２フレ
ーム間差の信号が検出できなくても良好な動き信号を検
出することが出来る。
【００１３】第２の発明によれば、縦線領域の検出にお
いては１フレームメモリを用いて時間方向でも検出され
るため、第１の発明で抜ける縦線検出領域を完全に検出
でき、さらに性能が向上した動き信号を検出することが
出来る。
いては１フレームメモリを用いて時間方向でも検出され
るため、第１の発明で抜ける縦線検出領域を完全に検出
でき、さらに性能が向上した動き信号を検出することが
出来る。
【００１４】第３の発明によれば、縦線領域の検出にお
いてはフレーム間内挿された信号から検出するため、フ
レームメモリを追加せずに第２の発明と同様の性能の動
き信号を検出することが出来る。
いてはフレーム間内挿された信号から検出するため、フ
レームメモリを追加せずに第２の発明と同様の性能の動
き信号を検出することが出来る。
【００１５】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例におけるＭＵＳ
Ｅ方式の動き検出装置の構成図を示すものである。図１
において、従来と同様に動作するものは同一番号を付し
説明を省略する。１００は本発明のために設けた水平エ
ッジ検出回路、１０１は垂直エッジ検出回路、１０２は
縦線検出回路、１０３は広域ＬＰＦ、１０４は切換回路
である。
Ｅ方式の動き検出装置の構成図を示すものである。図１
において、従来と同様に動作するものは同一番号を付し
説明を省略する。１００は本発明のために設けた水平エ
ッジ検出回路、１０１は垂直エッジ検出回路、１０２は
縦線検出回路、１０３は広域ＬＰＦ、１０４は切換回路
である。
【００１６】以上のように構成された第１の実施例にお
いて、以下その動作を図２のエッジ部分の説明図を用い
て説明する。図２（イ）において、２００の斜線部分は
水平エッジ検出回路１００で検出される水平エッジ領域
を、図２（ロ）において、２０１の斜線部分は垂直エッ
ジ検出回路１０１で検出される垂直エッジ領域を示す。
いて、以下その動作を図２のエッジ部分の説明図を用い
て説明する。図２（イ）において、２００の斜線部分は
水平エッジ検出回路１００で検出される水平エッジ領域
を、図２（ロ）において、２０１の斜線部分は垂直エッ
ジ検出回路１０１で検出される垂直エッジ領域を示す。
【００１７】入力端子１より入力されるＭＵＳＥ信号
は、動き検出回路７００の水平エッジ検出回路１００と
垂直エッジ検出回路１０１に供給される。水平エッジ検
出回路１００はラインメモリと減算回路で構成され、縦
線部分及び斜め部分２００を検出し、縦線検出回路１０
２に供給する。垂直エッジ検出回路１０１はレジスタと
減算回路で構成され、横線部分と斜め部分２０１を検出
し、縦線検出回路１０２に供給する。縦線検出回路１０
２は論理積回路で構成され垂直エッジ検出回路１０１の
出力信号がなく且つ水平エッジ検出回路１００の出力信
号が有る部分のみを検出し、その検出信号を切換回路１
０４に供給する。すなわちフレーム間の折り返し成分の
ない部分のみを検出し（図２（ハ）の２０２の領域）、
切換回路１０４に供給する。
は、動き検出回路７００の水平エッジ検出回路１００と
垂直エッジ検出回路１０１に供給される。水平エッジ検
出回路１００はラインメモリと減算回路で構成され、縦
線部分及び斜め部分２００を検出し、縦線検出回路１０
２に供給する。垂直エッジ検出回路１０１はレジスタと
減算回路で構成され、横線部分と斜め部分２０１を検出
し、縦線検出回路１０２に供給する。縦線検出回路１０
２は論理積回路で構成され垂直エッジ検出回路１０１の
出力信号がなく且つ水平エッジ検出回路１００の出力信
号が有る部分のみを検出し、その検出信号を切換回路１
０４に供給する。すなわちフレーム間の折り返し成分の
ない部分のみを検出し（図２（ハ）の２０２の領域）、
切換回路１０４に供給する。
【００１８】切換回路１０４は１フレーム間差信号検出
回路７１で検出された１フレーム間の動き信号の低域部
分と広域部分を低域ＬＰＦ７２と広域ＬＰＦ１０３から
供給され、縦線検出回路１０２より供給される縦線検出
信号で縦線部分がある部分は広域ＬＰＦ１０３の出力信
号が通過するように切り換えられてＭＡＸ回路７４に供
給される。逆に縦線部分がない部分は、従来と同様に、
低域ＬＰＦ７２の出力信号がＭＡＸ回路７４に供給さ
れ、２フレーム間の動き信号と最大値処理され、動き信
号として混合回路に供給される。
回路７１で検出された１フレーム間の動き信号の低域部
分と広域部分を低域ＬＰＦ７２と広域ＬＰＦ１０３から
供給され、縦線検出回路１０２より供給される縦線検出
信号で縦線部分がある部分は広域ＬＰＦ１０３の出力信
号が通過するように切り換えられてＭＡＸ回路７４に供
給される。逆に縦線部分がない部分は、従来と同様に、
低域ＬＰＦ７２の出力信号がＭＡＸ回路７４に供給さ
れ、２フレーム間の動き信号と最大値処理され、動き信
号として混合回路に供給される。
【００１９】以上のようにこの実施例によれば、小さな
物体が２フレーム間で重なるような動きに対して、１フ
レーム間差の低域信号では検出できなかった動き信号を
縦線部分では１フレーム間の広域の差分信号が動き信号
として検出されるため、動き抜けを削減することが出来
る。特に縦線部分がある画像で生じていた多線ぼけのよ
うな画質劣化は生じない。
物体が２フレーム間で重なるような動きに対して、１フ
レーム間差の低域信号では検出できなかった動き信号を
縦線部分では１フレーム間の広域の差分信号が動き信号
として検出されるため、動き抜けを削減することが出来
る。特に縦線部分がある画像で生じていた多線ぼけのよ
うな画質劣化は生じない。
【００２０】次に本発明の第２の実施例におけるＭＵＳ
Ｅ方式の動き検出装置について図３を参照して説明す
る。
Ｅ方式の動き検出装置について図３を参照して説明す
る。
【００２１】図３は本発明の第２の実施例におけるＭＵ
ＳＥ方式の動き検出装置の構成図である。図３におい
て、従来と同様に動作するものは同一番号を付し説明を
省略する。１００は水平エッジ検出回路、１０１は垂直
エッジ検出回路、１０２は縦線検出回路、１０３は広帯
域ＬＰＦ、１０４は切換回路、１０５はフレームメモ
リ、１０６は縦線検出信号論理和回路である。
ＳＥ方式の動き検出装置の構成図である。図３におい
て、従来と同様に動作するものは同一番号を付し説明を
省略する。１００は水平エッジ検出回路、１０１は垂直
エッジ検出回路、１０２は縦線検出回路、１０３は広帯
域ＬＰＦ、１０４は切換回路、１０５はフレームメモ
リ、１０６は縦線検出信号論理和回路である。
【００２２】以上のように構成された第２の実施例にお
いて、以下その動作を図４のエッジ部分の説明図を用い
て説明する。なお、図４は縦線２本が矢印の方向に動い
たものである。
いて、以下その動作を図４のエッジ部分の説明図を用い
て説明する。なお、図４は縦線２本が矢印の方向に動い
たものである。
【００２３】図４（イ）において、３００の斜線部分は
現フレームの縦線領域、３０１は前フレームの縦線領域
を示す。入力端子１より入力されるＭＵＳＥ信号は動き
検出回路８００の水平エッジ検出回路１００と垂直エッ
ジ検出回路１０１に供給される。水平エッジ検出回路１
００はラインメモリと減算回路で構成され、縦線部分及
び斜め部分を検出し、縦線検出回路１０２に供給する。
垂直エッジ検出回路１０１はレジスタと減算回路で構成
され、横線部分と斜め部分を検出し、縦線検出回路１０
２に供給する。縦線検出回路１０２は論理積回路で構成
され、垂直エッジ検出回路１０１の出力信号がなく、か
つ水平エッジ検出回路１００の出力信号が有る部分のみ
を検出し、その検出信号をフレームメモリ１０５と縦線
検出信号論理和回路１０６に供給する。
現フレームの縦線領域、３０１は前フレームの縦線領域
を示す。入力端子１より入力されるＭＵＳＥ信号は動き
検出回路８００の水平エッジ検出回路１００と垂直エッ
ジ検出回路１０１に供給される。水平エッジ検出回路１
００はラインメモリと減算回路で構成され、縦線部分及
び斜め部分を検出し、縦線検出回路１０２に供給する。
垂直エッジ検出回路１０１はレジスタと減算回路で構成
され、横線部分と斜め部分を検出し、縦線検出回路１０
２に供給する。縦線検出回路１０２は論理積回路で構成
され、垂直エッジ検出回路１０１の出力信号がなく、か
つ水平エッジ検出回路１００の出力信号が有る部分のみ
を検出し、その検出信号をフレームメモリ１０５と縦線
検出信号論理和回路１０６に供給する。
【００２４】縦線検出信号論理和回路１０６はフレーム
メモリ１０５の出力信号、すなわち１フレーム前の縦線
信号（図４（イ）の３００）と現フレームの縦線信号
（図４（ロ）の３０１）の論理和を行いその出力信号を
切換回路１０４に供給する。従って現と前フレームのフ
レーム間の折り返し成分のない部分のみを検出し（図４
の３００，３０１）、切換回路１０４に供給する。
メモリ１０５の出力信号、すなわち１フレーム前の縦線
信号（図４（イ）の３００）と現フレームの縦線信号
（図４（ロ）の３０１）の論理和を行いその出力信号を
切換回路１０４に供給する。従って現と前フレームのフ
レーム間の折り返し成分のない部分のみを検出し（図４
の３００，３０１）、切換回路１０４に供給する。
【００２５】切換回路１０４は１フレーム間差信号検出
回路７１出検出された１フレーム間の動き信号の低域部
分と広域部分が低域ＬＰＦ７２と広域ＬＰＦ１０３から
供給され、縦線検出信号論理和回路１０６より供給され
る縦線検出信号で、縦線部分は広域ＬＰＦ１０３の出力
信号が通過するように切り換えられてＭＡＸ回路７４に
供給される。縦線部分がない部分は、従来と同様に、低
域ＬＰＦ７２の出力信号がＭＡＸ回路７４に供給され、
２フレーム間の動き信号と最大値処理され、動き信号と
して混合回路に供給される。
回路７１出検出された１フレーム間の動き信号の低域部
分と広域部分が低域ＬＰＦ７２と広域ＬＰＦ１０３から
供給され、縦線検出信号論理和回路１０６より供給され
る縦線検出信号で、縦線部分は広域ＬＰＦ１０３の出力
信号が通過するように切り換えられてＭＡＸ回路７４に
供給される。縦線部分がない部分は、従来と同様に、低
域ＬＰＦ７２の出力信号がＭＡＸ回路７４に供給され、
２フレーム間の動き信号と最大値処理され、動き信号と
して混合回路に供給される。
【００２６】以上のようにこの実施例によれば、小さな
物体が２フレーム間で重なるような動きに対して、検出
できなかった動き信号を縦線部分では現と前フレーム間
の広域の差分信号が動き信号として選択されるため、第
１の実施例でも検出できない動き信号を検出することが
できる。特に縦線部分がある画像で生じていた多線ぼけ
の画質劣化は、除去することができる。
物体が２フレーム間で重なるような動きに対して、検出
できなかった動き信号を縦線部分では現と前フレーム間
の広域の差分信号が動き信号として選択されるため、第
１の実施例でも検出できない動き信号を検出することが
できる。特に縦線部分がある画像で生じていた多線ぼけ
の画質劣化は、除去することができる。
【００２７】次に本発明の第３の実施例におけるＭＵＳ
Ｅ方式の動き検出装置について図５を参照して説明す
る。
Ｅ方式の動き検出装置について図５を参照して説明す
る。
【００２８】図５は本発明の第３の実施例におけるＭＵ
ＳＥ方式の動き検出装置の構成図である。図５におい
て、従来と同様に動作するものは同一番号を付し説明を
省略する。１０３は広帯域ＬＰＦ、１０４は切換回路、
１１０は現フレーム水平エッジ検出回路、１２０は現フ
レーム垂直エッジ検出回路、１３０は現フレーム縦線検
出回路、１１１は前フレーム水平エッジ検出回路、１２
１は前フレーム垂直エッジ検出回路、１３１は現フレー
ム縦線検出回路、１４０はサブサンプル回路である。
ＳＥ方式の動き検出装置の構成図である。図５におい
て、従来と同様に動作するものは同一番号を付し説明を
省略する。１０３は広帯域ＬＰＦ、１０４は切換回路、
１１０は現フレーム水平エッジ検出回路、１２０は現フ
レーム垂直エッジ検出回路、１３０は現フレーム縦線検
出回路、１１１は前フレーム水平エッジ検出回路、１２
１は前フレーム垂直エッジ検出回路、１３１は現フレー
ム縦線検出回路、１４０はサブサンプル回路である。
【００２９】以上のように構成された第３の実施例にお
いて、その動作について説明すると、まず、入力端子１
より入力されるＭＵＳＥ信号Ａは動き検出回路９００の
現フレーム水平エッジ検出回路１１０と現フレーム垂直
エッジ検出回路１２０に供給される。現フレーム水平エ
ッジ検出回路１１０はラインメモリと減算回路で構成さ
れ、縦線部分及び斜め部分を検出し、現フレーム縦線検
出回路１３０に供給する。現フレーム垂直エッジ検出回
路１２０はレジスタと減算回路で構成され、横線部分と
斜め部分を検出し現フレーム縦線検出回路１３０に供給
する。現フレーム縦線検出回路１３０は論理積回路で構
成され、現フレーム垂直エッジ検出回路１２０の出力信
号がなく、かつ現フレーム水平エッジ検出回路１１０の
出力信号が有る部分のみを検出し、その検出信号を縦線
検出信号論理和回路１０６に供給する。 フレーム間内
挿されたＭＵＳＥ信号Ｂは、スイッチ回路で構成される
サブサンプル回路１４０に供給され、前フレームのＭＵ
ＳＥ信号を抜取り、前フレーム水平エッジ検出回路１１
１と前フレーム垂直エッジ検出回路１２１に供給され
る。
いて、その動作について説明すると、まず、入力端子１
より入力されるＭＵＳＥ信号Ａは動き検出回路９００の
現フレーム水平エッジ検出回路１１０と現フレーム垂直
エッジ検出回路１２０に供給される。現フレーム水平エ
ッジ検出回路１１０はラインメモリと減算回路で構成さ
れ、縦線部分及び斜め部分を検出し、現フレーム縦線検
出回路１３０に供給する。現フレーム垂直エッジ検出回
路１２０はレジスタと減算回路で構成され、横線部分と
斜め部分を検出し現フレーム縦線検出回路１３０に供給
する。現フレーム縦線検出回路１３０は論理積回路で構
成され、現フレーム垂直エッジ検出回路１２０の出力信
号がなく、かつ現フレーム水平エッジ検出回路１１０の
出力信号が有る部分のみを検出し、その検出信号を縦線
検出信号論理和回路１０６に供給する。 フレーム間内
挿されたＭＵＳＥ信号Ｂは、スイッチ回路で構成される
サブサンプル回路１４０に供給され、前フレームのＭＵ
ＳＥ信号を抜取り、前フレーム水平エッジ検出回路１１
１と前フレーム垂直エッジ検出回路１２１に供給され
る。
【００３０】前フレーム垂直エッジ検出回路１２１と前
フレーム水平エッジ検出回路１１１は前述した垂直エッ
ジ検出回路１００と水平エッジ検出回路１０１と同様に
構成動作され、前フレーム縦線検出回路１３１に供給さ
れる。前フレーム縦線検出回路１３１も前述した縦線検
出回路１０２と同様に動作し、その出力信号は縦線検出
信号論理和回路１０６の一方に供給される。縦線検出信
号論理和回路１０６は現フレームと前フレームの縦線信
号の論理和処理を行い、その出力信号を切換回路１０４
に供給する。従って現フレームと前フレームでフレーム
間に折り返し成分のない部分のみを検出し、切換回路１
０４に供給する。
フレーム水平エッジ検出回路１１１は前述した垂直エッ
ジ検出回路１００と水平エッジ検出回路１０１と同様に
構成動作され、前フレーム縦線検出回路１３１に供給さ
れる。前フレーム縦線検出回路１３１も前述した縦線検
出回路１０２と同様に動作し、その出力信号は縦線検出
信号論理和回路１０６の一方に供給される。縦線検出信
号論理和回路１０６は現フレームと前フレームの縦線信
号の論理和処理を行い、その出力信号を切換回路１０４
に供給する。従って現フレームと前フレームでフレーム
間に折り返し成分のない部分のみを検出し、切換回路１
０４に供給する。
【００３１】切換回路１０４は、１フレーム間差信号検
出回路７１で検出された１フレーム間の動き信号の低域
部分と広域部分が低域ＬＰＦ７２と広域ＬＰＦ１０３か
ら供給され、縦線検出信号論理和回路１０６より供給さ
れる縦線検出信号で縦線部分は広域ＬＰＦ１０３の出力
信号が通過するように切り換えられてＭＡＸ回路７４に
供給される。縦線部分がない部分は、従来と同様に、低
域ＬＰＦ７２の出力信号がＭＡＸ回路７４に供給され、
２フレーム間の動き信号と最大値処理され動き信号とし
て混合回路に供給される。
出回路７１で検出された１フレーム間の動き信号の低域
部分と広域部分が低域ＬＰＦ７２と広域ＬＰＦ１０３か
ら供給され、縦線検出信号論理和回路１０６より供給さ
れる縦線検出信号で縦線部分は広域ＬＰＦ１０３の出力
信号が通過するように切り換えられてＭＡＸ回路７４に
供給される。縦線部分がない部分は、従来と同様に、低
域ＬＰＦ７２の出力信号がＭＡＸ回路７４に供給され、
２フレーム間の動き信号と最大値処理され動き信号とし
て混合回路に供給される。
【００３２】以上のように第３の実施例によれば、小さ
な物体が２フレーム間で重なるような動きに対して、１
フレーム間差の低域信号では検出できなかった動き信号
を現フレームと前フレームの縦線部分では広域の差分信
号が動き信号として検出されるため、第１実施例でも検
出できない動き抜けを検出することができる。従って縦
線部分がある画像で生じていた多線ぼけのような画質劣
化は、除去できる。さらに第３の実施例ではフレームメ
モリを削減することができ、コストの削減を図ることが
出来る。
な物体が２フレーム間で重なるような動きに対して、１
フレーム間差の低域信号では検出できなかった動き信号
を現フレームと前フレームの縦線部分では広域の差分信
号が動き信号として検出されるため、第１実施例でも検
出できない動き抜けを検出することができる。従って縦
線部分がある画像で生じていた多線ぼけのような画質劣
化は、除去できる。さらに第３の実施例ではフレームメ
モリを削減することができ、コストの削減を図ることが
出来る。
【００３３】なお、縦線検出回路において、フレーム間
で縦線を検出するために２つの水平、垂直エッジ検出回
路を設けているが、フレーム間内挿信号Ｂから同時に検
出するような構成にしてもよい。
で縦線を検出するために２つの水平、垂直エッジ検出回
路を設けているが、フレーム間内挿信号Ｂから同時に検
出するような構成にしてもよい。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように、第１の発明によれ
ば、縦線領域においては１フレーム間差の広域信号で動
き信号を検出できるため、２フレーム間差の信号が検出
できなくても良好な動き信号を検出することが出来る。
ば、縦線領域においては１フレーム間差の広域信号で動
き信号を検出できるため、２フレーム間差の信号が検出
できなくても良好な動き信号を検出することが出来る。
【００３５】また第２の発明によれば、縦線領域の検出
においては１フレームメモリを用いて時間方向でも検出
されるため、第１の発明で抜ける縦線検出領域を完全に
検出でき、２フレーム間差の信号が検出できなくても良
好な動き信号を検出することが出来る。
においては１フレームメモリを用いて時間方向でも検出
されるため、第１の発明で抜ける縦線検出領域を完全に
検出でき、２フレーム間差の信号が検出できなくても良
好な動き信号を検出することが出来る。
【００３６】また第３の発明によれば、縦線領域の検出
においては１フレームメモリを用いなくても時間方向の
検出が行われるため、その実用的効果は大きい。
においては１フレームメモリを用いなくても時間方向の
検出が行われるため、その実用的効果は大きい。
【図１】本発明の第１の実施例におけるＭＵＳＥ方式の
動き検出装置の構成図
動き検出装置の構成図
【図２】（イ）は同実施例の水平エッジ検出回路で検出
される水平エッジ領域を示す図 （ロ）は垂直エッジ検出回路で検出される垂直エッジ領
域を示す図 （ハ）はフレーム間の折り返し成分のない領域を示す図
される水平エッジ領域を示す図 （ロ）は垂直エッジ検出回路で検出される垂直エッジ領
域を示す図 （ハ）はフレーム間の折り返し成分のない領域を示す図
【図３】本発明の第２の実施例におけるＭＵＳＥ方式の
動き検出装置の構成図
動き検出装置の構成図
【図４】（イ）は第２の実施例の１フレーム前の縦線信
号を示す図 （ロ）は現フレームの縦線信号を示す図
号を示す図 （ロ）は現フレームの縦線信号を示す図
【図５】本発明の第３の実施例におけるＭＵＳＥ方式の
動き検出装置の構成図
動き検出装置の構成図
【図６】ＭＵＳＥ方式のデコーダの構成図
【図７】従来のＭＵＳＥ方式の動き検出装置の構成図
７１ １フレーム間差信号検出回路 ７２ 低域ＬＰＦ ７３ ２フレーム間差信号検出回路 ７４ ＭＡＸ回路 １００ 水平エッジ検出回路 １０１ 垂直エッジ検出回路 １０２ 縦線検出回路 １０３ 広域ＬＰＦ １０５ フレームメモリ １０６ 縦線検出信号論理和回路 １１０ 現フレーム水平エッジ検出回路 １１１ 前フレーム水平エッジ検出回路 １２０ 現フレーム垂直エッジ検出回路 １２１ 前フレーム垂直エッジ検出回路 １３０ 現フレーム縦線検出回路 １３１ 前フレーム縦線検出回路 １４０ サブサンプル回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山内 秀昭 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H04N 7/015
Claims (3)
- 【請求項１】低域にフレーム間の折り返し成分を含まな
い多重サブサンプリング伝送信号のデコーダにおいて、
１フレーム間差信号の広域信号を検出する１フレーム間
差広域信号検出回路と、前記１フレーム間差信号の低域
信号を検出する１フレーム間差低域信号検出回路と、前
記１フレーム間差広域信号検出回路の出力信号と１フレ
ーム間差低域信号検出回路の出力信号とを切り換える切
換回路と、水平エッジを検出する水平エッジ検出回路
と、垂直エッジを検出する垂直エッジ検出回路と、前記
水平エッジ検出回路の出力信号と垂直エッジ検出回路の
出力信号とから縦線成分のみを検出する縦線検出回路と
を備え、縦線領域は１フレーム間差の広域信号を選択す
ることを特徴とするＭＵＳＥ方式の動き検出装置。 - 【請求項２】低域にフレーム間の折り返し成分を含まな
い多重サブサンプリング伝送信号のデコーダにおいて、
１フレーム間差信号の広域信号を検出する１フレーム間
差広域信号検出回路と、前記１フレーム間差信号の低域
信号を検出する１フレーム間差低域信号検出回路と、前
記１フレーム間差広域信号検出回路の出力信号と１フレ
ーム間差低域信号検出回路の出力信号とを切り換える切
換回路と、水平エッジを検出する水平エッジ検出回路
と、垂直エッジを検出する垂直エッジ検出回路と、前記
水平エッジ検出回路の出力信号と垂直エッジ検出回路の
出力信号とから縦線成分のみを検出する縦線検出回路
と、前記縦線検出回路の出力信号を１フレーム間遅延す
る１フレームメモリと、前記１フレームメモリの出力信
号と前記縦線検出回路の出力信号との論理和をとる縦線
検出信号論理和回路とを備え、前記縦線検出信号論理和
回路で検出される縦線領域は１フレーム間差の広域信号
を選択することを特徴とするＭＵＳＥ方式の動き検出装
置。 - 【請求項３】低域にフレーム間の折り返し成分を含まな
い多重サブサンプリング伝送信号のデコーダにおいて、
フレーム間内挿された信号から前フレームの信号を取り
出すサブサンプル回路と、前記サブサンプル回路の出力
信号の前フレーム信号から水平エッジを検出する前フレ
ーム水平エッジ検出回路と垂直エッジを検出する前フレ
ーム垂直エッジ検出回路と、前記前フレーム水平エッジ
検出回路の出力信号と前フレーム垂直エッジ検出回路の
出力信号とから縦線成分のみを検出する前フレーム縦線
検出回路と、１フレーム間差信号の広域信号を検出する
１フレーム間差広域信号検出回路と、前記１フレーム間
差信号の低域信号を検出する１フレーム間差低域信号検
出回路と、前記１フレーム間差広域信号検出回路の出力
信号と１フレーム間差低域信号検出回路の出力信号とを
切り換える切換回路と、現フレームの水平エッジを検出
する現フレーム水平エッジ検出回路と、前記現フレーム
の垂直エッジを検出する現フレーム垂直エッジ検出回路
と、前記現フレーム水平エッジ検出回路の出力信号と前
記垂直エッジ検出回路の出力信号から縦線成分のみを検
出する現フレーム縦線検出回路と、前記現フレーム縦線
検出回路の出力信号と前記前フレーム縦線検出回路の出
力信号との論理和をとる縦線検出信号論理和回路とを備
え、前記縦線検出信号論理和回路で検出される縦線領域
は１フレーム間差の広域信号を選択することを特徴とす
るＭＵＳＥ方式の動き検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4100831A JP2900696B2 (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | Ｍｕｓｅ方式の動き検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4100831A JP2900696B2 (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | Ｍｕｓｅ方式の動き検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05300474A JPH05300474A (ja) | 1993-11-12 |
| JP2900696B2 true JP2900696B2 (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=14284267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4100831A Expired - Fee Related JP2900696B2 (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | Ｍｕｓｅ方式の動き検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2900696B2 (ja) |
-
1992
- 1992-04-21 JP JP4100831A patent/JP2900696B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05300474A (ja) | 1993-11-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |