JP2895229B2 - ガスサンプルチャンバー - Google Patents

ガスサンプルチャンバー

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Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、ガス分析器に関し、特に、NDIR（非分散赤
外線）型分析器と称されるタイプのガス分析器に使用す
るためのガスサンプルチャンバー（単に「サンプルチャ
ンバー」とも称する）に関する。
技術背景 NDIRガス測定法は、古くからガス測定のための最善の
方法の１つと考えられいる。NDIR型ガス分析器は、高い
識別能力を有することに加えて、非常に感度が高く、安
定性及び信頼性が高く、メンテナンスが容易である。ND
IRガス測定法の主要な欠点は、それを実施するのに必要
とされる機器が複雑で高価であることである。
NDIRガス分析器は、一般に、赤外線源と、同期検出を
用いることができるように赤外線源を変調するためのモ
ータ駆動による機械的チョッパーと、ガスサンプルをサ
ンプルチャンバーを通して圧送又は吸引するためのポン
プと、帯域フィルタと、敏感な赤外線検出器と、赤外線
源からの赤外線エネルギーを検出器上に焦点合わせする
ための高価な赤外線光学器械及びウインドウを備えてい
る。従って、NDIRガス測定法は、ガス測定のための最善
の方法の１つであることが事実であるにも拘らず、その
機器の複雑さと高いコストの故に広範囲に応用されるに
至っていない。
本発明は、NDIRガス測定法の所要機器を大幅に簡略化
し、その結果としてコストの低減を実現し、それによっ
て、従来はコスト高と複雑さの故に実用的ではないと考
えられていたNDIRガス測定法の多数の応用分野を新たに
開くものである。
例えば、本発明のサンプルチャンバーは、火災の発見
に使用するための極めて迅速で敏感な一酸化炭素検出器
（本出願人の米国特許第5,5053,754号）の心臓部に使用
することができ、又、屋内の空気中の一酸化炭素の濃度
を監視し、その濃度が過度になったとき新鮮な空気を導
入することによって屋内空気の汚染を排除するのに役立
つ換気制御器（1991年６月６日に出願された本出願人の
米国特許第07/611,630号に記載されている「VENTOSTA
T」と称される換気サーモスタット）の心臓部にも使用
することができる。
本発明による簡略化されたガスサンプルチャンバー
は、高価な光学器械、機械的チョッパー、及びガスサン
プルをサンプルチャンバーを通して圧送又は吸引するた
めのポンプを設ける必要性を排除することによってNDIR
ガス測定法の複雑さを軽減するための新規な解決法を提
供する。更に、本発明のガスサンプルチャンバーは、検
出感度を高める長い実効経路長を提供する。
米国特許第4,709,150号には、プラスチック又は焼結
金属等の多孔質材で形成された管から成るガスサンプル
チャンバーが開示されている。同特許は、多孔質材の気
孔サイズを0.3〜100μにすべきであると教示している。
しかし、多孔質管の壁を反射放射線案内部材として用い
ることは、教示されておらず、示唆すらもされていな
い。この特許においてはガスが凝縮してサンプルセル即
ちサンプルチャンバーの内壁面に付着するという問題に
目が向けられていないのは、おそらく、多孔質管の壁を
反射放射線案内部材として利用することを全く考えてい
なかったからであろう。
この特許は、鏡面状反射表面（正反射表面）からの多
重反射を教示も、示唆もしていない。このことが同特許
のシステムの性能を著しく阻害している。同特許のシス
テムは、サンプルチャンバーの放射線収集能力を利用し
ないので、放射線収集能力が非常に低く、従って、SN比
（信号対雑音比）が低い。更に、同特許のシステムは、
長い経路長を提供することができず、従って、同システ
ムの感度は本発明のそれに比べて劣る。
同特許のガスサンプルチャンバー内へのガスの拡散を
本発明のそれと比較する場合、同特許のガスサンプルチ
ャンバーの壁に用いられている多孔質材は数百μの厚さ
を有しているのに対して、本発明においてはガスサンプ
ルチャンバー内へのガスの拡散は25〜50μ程度の厚さの
半透膜を通して行われることに留意すべきである。従っ
て、同特許においては、ガスがガスサンプルチャンバー
内へ拡散するのに要する時間が本発明のそれと比べては
るかに長く、従ってその間にガスの濃度が変化してしま
う。このことは、同特許のガスサンプルチャンバーのレ
スポンス時間を大幅に長くすることになるので、火災探
知機として使用するには不適当である。これに対して、
本発明のガスサンプルチャンバーは、一酸化炭素の濃度
変化に極めて迅速に応答する。実験結果によれば、本発
明のガスサンプルチャンバーは、火災探知機に使用する
のに非常に望ましい極めて迅速なレスポンス時間を有す
ることが証明された。
日本出願の特開昭59−173734号には、放射線をサンプ
ルセルと基準セルに沿って並列的に進行させるようにし
た赤外線ガス分析器が開示されている。それらのセル
は、螺旋管の形を有している。この特開昭59−173734号
のシステムは、慣用のNDIRガス測定システムのカテゴリ
ーに入る。入射放射線がサンプルセル内においても、基
準セル内においても多重反射を受けるという事実がなけ
れば、慣用のNDIRガス測定システムとなんら変わりがな
く、従って何の利点もない。同出願のシステムは、やは
り従来のものと同様に、機械的なチョッパーと、ガスを
サンプルセルと基準セルを通して導くためのポンプと、
２つの検出器を必要とする。従って、これらの要素を考
慮に入れれば、特開昭59−173734号の発明は、簡略性と
効率の面で本発明には及ばない。
日本出願の特開昭63−298031号には、フィルタの使用
を開示している。同出願のシステムにおいてフィルタが
必要とされるのは、放射線源及び検出器がサンプルチャ
ンバー内に配置されており、ガスサンプルによって汚染
され易いからである。
米国特許第4,499,379号及び4,501,968号には、サンプ
ルガスをそのガス中の濃度測定すべきガス成分が特有の
赤外線を発する温度に保持するために加熱されたサンプ
ルガス容器を備えたガス分析器が開示されている。この
ガス分析器は、発光原理で作動するものであり、非分散
赤外線吸収型分析器ではない。サンプルセルの壁に設け
られた加熱器は、サンプルガスをそれから赤外線を放射
させるように少くとも100℃の温度にまで加熱する。こ
の加熱は、ガスのサンプルからの放射線を増大させ、ガ
スからの放射線に比べてバックグラウンドの放射線を減
少させるためであるといわれている。サンプルセルの内
壁面は、鏡面であるといわれているが、その理由は説明
されていない。ガス自体が等方性の放射線源であるか
ら、サンプルセルの壁が放射線を有効に案内する働きを
するとは考えられない。
米国特許第3,966,439号には、大気中、工場、発電
所、鉱山等に存在する粒子のサンプルを収集するのに使
用される、ポンプを備えた流体サンプル採取機が開示さ
れている。この発明は、ガスサンプルの濃度を測定する
ために放射線をガスサンプルに通すことに関するもので
あり、従って、この特許のフィルタ装置は本発明の技術
分野とは異なる分野に属するものである。
米国特許第4,947,578号には、昆虫誘引剤のための放
出システムが開示されている。昆虫誘引剤蒸気が膜を通
して拡散するようになされている。膜の気孔サイズは昆
虫誘引剤の望ましい放出流量に応じて定められるので、
この膜の使用は、本発明のそれとは本質的に異る。
発明の開示 本発明のガスサンプルチャンバーの第１の目的は、放
射線源からの放射線をガスサンプルを通して検出器へ能
率的に導くための光導パイプとして機能させることであ
る。
本発明のガスサンプルチャンバーの第２の目的は、煙
及び粉塵の粒子が特定のガスの濃度の測定に誤差をもた
らさないように、0.1μを越える大きさの煙及び粉塵の
粒子を該ガスサンプルチャンバーから選択的に閉め出
し、しかもなお、ガスの分子が該ガスサンプルチャンバ
ーに自由に出入りすることができるようにすることであ
る。
本発明の好ましい実施例によれば、放射線源によって
細長いガスサンプルチャンバーの一端に導入される放射
線をガスサンプルチャンバーの他端に配置された検出器
へ導くための光導パイプとして機能する鏡面状反射表面
即ち正反射表面をガスサンプルチャンバーの内向き壁に
形成する。
又、本発明によればガスサンプルチャンバーの壁に孔
を穿設し、その孔に、0.1μより大きい粒子がガスサン
プルチャンバー内に進入するのを防止するための半透膜
の層を張設する。
本発明の更に他の目的は、ガス又は蒸気がサンプルチ
ャンバーの内向き壁上に凝縮するのを防止することがで
きるようにしたガスサンプルチャンバーを提供すること
である。
このために、本発明の好ましい実施例によれば、サン
プルチャンバーをその内向き壁上に凝縮する傾向を有す
るガス又は蒸気の露点より高い温度に保つためにサンプ
ルチャンバーを加熱するための手段を設ける。
図面の簡単な説明 図１は、本発明によるガス分析器の主要部を示す側面
図である。
図２は、本発明のガスサンプルチャンバー内を通る典
型的な放射光線の経路を示す説明図である。
図３は、本発明の好ましい実施例によるガスサンプル
チャンバーの部分断面図である。
実施例 図１に示されるように、本発明のガスサンプルチャン
バー10を組入れたガス分析器は、放射線源を収容する放
射線源チャンバー12と、放射線検出器（単に「検出器」
とも称する）を収容する検出器チャンバー14を備えてい
る。
放射線源は、小さな白熱ランプであってよく、放射線
は、そのランプから発せられる可視光線及び、又は赤外
線であってよい。放射線源チャンバー12は、特定のガス
成分の濃度を測定するために分析すべきガスサンプルを
収容するガスサンプルチャンバー10に接続されている。
放射線源チャンバー12からの放射線は、ガスサンプルチ
ャンバー10内のガスサンプル内を通り、検出器チャンバ
ー14内の検出器に投射する。検出器チャンバー14内の検
出器は、それに投射した放射線の強度を表す電気信号を
発する。検出器の感度を高めるために、検出器が濃度測
定すべき特定のガス成分によって吸収される波長の放射
線を主として受取るように検出器の前の光路に狭帯域フ
ィルタを設置することは周知である。検出器によって発
せられた電気信号は、電子回路15へ送られ、電子回路15
によって測定すべき特定のガス成分の濃度を表す信号に
変換される。
図２は、放射線源16から発せられた代表的な光線18が
とる光路を示す説明図である。光線18は、ガスサンプル
チャンバーの全長に沿って通過する間に多重反射され、
最終的に検出器20に投射する。
図３は、本発明のガスサンプルチャンバーの部分断面
図である。ガスサンプルチャンバーの本体は、内向きの
鏡面状反射表面即ち正反射表面22を有する細長い管21で
ある。好ましい実施例では、この表面22は、管21の壁の
一体部分とするが、変型例として、正反射材の層又はコ
ーチングとすることができる。
管21の壁には、少くとも１つの孔24を穿設する。孔24
は、周囲ガスがサンプルチャンバー内に出入りするため
の出入口を構成する。しかしながら、粉塵や煙の粒子が
サンプルチャンバーに自由に進入するのは望ましくな
い。そのために、孔24には、0.1μより大きいサイズの
粒子を閉め出す半透膜のシート28を張設する。半透膜の
シート28は、0.1μ未満の粒子についてはその高速度の
拡散を可能にするために相当に薄くなければならないの
で、それを下支えするための支持メッシュ26の上に載せ
る。好ましい実施例では、半透膜は、シリコーンゴムで
形成する。
ガスサンプルチャンバーは常にガスで満たされている
ので、周囲温度が低下すると、サンプルチャンバー内の
水蒸気又は他のガスが凝縮して液相になり、検出器20並
びに鏡面状反射表面22上に小さな液滴として付着するお
それがある。そのような液滴は、サンプルチャンバーの
適正な作動にとって必要な正反射を阻害し、従って、測
定の誤りを生じる原因となる。
このような事態の発生を防止するために、好ましい実
施例では、ガスサンプルチャンバー10に加熱器ワイヤ30
と、ガスサンプルチャンバーの壁の温度を測定するサー
ミスター32を設ける。加熱器ワイヤ30及びサーミスター
32は、ガスサンプルチャンバーを所定の設定温度に維持
するために周知の態様で作動するサーボである加熱器制
御回路34に接続する。
以上に説明したように、本発明のガスサンプルチャン
バーは、放射線源からの放射線をガスサンプル内を通し
て検出器へ導く内向きの正反射表面を有する細長い管状
部材から成る。粉塵及び煙の粒子は、ガスサンプルチャ
ンバーの管状壁に穿設した孔に張設された半透膜のシー
トによってガスサンプルチャンバーから閉め出される。
ガスサンプルチャンバーの壁は、ガスサンプルチャンバ
ー内のガス成分の凝縮を防止するために加熱することが
でき、好ましい実施例ではサーボによって所定の設定温
度を維持する。
産業上の適用性 本発明の改良されたガスサンプルチャンバーは、空気
中の一酸化炭素濃度を測定するためのセンサーの一構成
部品として使用するのに特に適している。本発明のガス
サンプルチャンバーを使用すれば、センサーの感度及び
レスポンス速度が大幅に改善され、そのようなセンサー
を火災の探知機として使用するのを可能にし、一酸化炭
素の濃度を制御する換気系統にも使用することを可能に
する。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭60−105947（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−257347（ＪＰ，Ａ) 実開 昭63−51259（ＪＰ，Ｕ) 特公 昭56−19910（ＪＰ，Ｂ２) 実公 平１−43636（ＪＰ，Ｙ２) 米国特許4500207（ＵＳ，Ａ) 米国特許5053754（ＵＳ，Ａ) 米国特許5060508（ＵＳ，Ａ)

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】放射線源からの放射線をガスサンプル内を
    通して能率的に導くガスサンプルチャンバーであって、 ガス密材料で形成された細長い管から成り、該管は、そ
    の一端に導入された放射線を多重反射させることによっ
    て効率的に他端へ導く内向きの正反射表面を有する壁を
    有し、該管は、その両端の間において該管の前記壁に穿
    設された少くとも１つの孔を有し、該少くとも１つの孔
    の配置及び大きさは、ガスサンプルの分子を該管内の空
    間へ自由に出入りさせ、しかもなお、放射線の、前記正
    反射表面からの多重反射を可能にするように定められて
    おり、該少くとも１つの孔に半透膜のシートが張設され
    ており、該半透膜のシートは、所定のサイズより小さい
    空気中の粒子を該シートを通して該管内の空間内へ拡散
    させることができるが、前記所定のサイズより大きい空
    気中の粒子が管内の空間に進入するのを阻止する特性を
    有することを特徴とするガスサンプルチャンバー。
  2. 【請求項２】前記正反射表面上でガスサンプルが凝縮す
    るのを防止するために該正反射表面をガスサンプルの露
    点より高い温度に加熱するための加熱手段を有すること
    を特徴とする請求の範囲第１項に記載のガスサンプルチ
    ャンバー。
  3. 【請求項３】前記所定のサイズは、0.1μであることを
    特徴とする請求の範囲第１項に記載のガスサンプルチャ
    ンバー。
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WO (1) WO1993011418A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008298636A (ja) * 2007-05-31 2008-12-11 Hitachi Cable Ltd ガス検知用センサヘッド
KR101005272B1 (ko) * 2002-07-22 2011-01-04 센스에어 아베 가스 분석 장치

Families Citing this family (104)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5341214A (en) * 1989-09-06 1994-08-23 Gaztech International Corporation NDIR gas analysis using spectral ratioing technique
US5060508A (en) * 1990-04-02 1991-10-29 Gaztech Corporation Gas sample chamber
US5222389A (en) * 1990-04-02 1993-06-29 Gaztech International Corporation Multi-channel gas sample chamber
US5340986A (en) * 1991-11-18 1994-08-23 Gaztech International Corporation Diffusion-type gas sample chamber
SE9200023L (sv) * 1992-01-03 1993-03-15 Artema Mecical Ab Gasanalysator
US5384640A (en) * 1993-01-19 1995-01-24 Gaztech International Corporation Gas sample chamber for use with a source of coherent radiation
US5414264A (en) * 1993-04-16 1995-05-09 Gaztech International Corporation Enhanced pathlength gas sample chamber
US5592147A (en) * 1993-06-14 1997-01-07 Wong; Jacob Y. False alarm resistant fire detector with improved performance
US6107925A (en) * 1993-06-14 2000-08-22 Edwards Systems Technology, Inc. Method for dynamically adjusting criteria for detecting fire through smoke concentration
US5767776A (en) * 1996-01-29 1998-06-16 Engelhard Sensor Technologies, Inc. Fire detector
FR2712390B1 (fr) * 1993-11-12 1996-02-09 Saphir Dispositif de détection de gaz par absorption infrarouge.
US5363199A (en) * 1994-01-14 1994-11-08 Victor Bruce H Smoke opacity detector
US5747808A (en) * 1994-02-14 1998-05-05 Engelhard Sensor Technologies NDIR gas sensor
US5444249A (en) * 1994-02-14 1995-08-22 Telaire Systems, Inc. NDIR gas sensor
US5464983A (en) * 1994-04-05 1995-11-07 Industrial Scientific Corporation Method and apparatus for determining the concentration of a gas
USRE36489E (en) * 1994-04-06 2000-01-11 Janos Technology Inc. Spectral analyzer with new high efficiency collection optics and method of using same
US5428222A (en) * 1994-04-06 1995-06-27 Janos Technology Inc. Spectral analyzer with new high efficiency collection optics and method of using same
US5394934A (en) * 1994-04-15 1995-03-07 American Standard Inc. Indoor air quality sensor and method
US5502998A (en) * 1994-04-25 1996-04-02 The Procter And Gamble Company Device and method for the simulation of samples of airborne substances
US5578829A (en) * 1994-05-23 1996-11-26 Texas Instruments Incorporated On-line monitor for moisture contamination in HCL gas and copper contamination in NH4 OH solutions
WO1996001418A1 (en) * 1994-07-05 1996-01-18 Telaire Systems, Inc. Ndir gas analysis using spectral ratioing technique
DE4424909A1 (de) * 1994-07-14 1996-01-18 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Ortung von Schadstoffansammlungen
US5453620A (en) * 1994-08-12 1995-09-26 Texas Instruments Incorporated Nondispersive infrared gas analyzer and gas sample chamber used therein
DE4438244C1 (de) * 1994-10-26 1996-03-07 Frobenius Wolf Dietrich Prof D Vorrichtung zum Messen der Konzentration einer Gaskomponente in einer Gasmischung
US5475222A (en) * 1994-12-05 1995-12-12 Detector Electronics Corporation Ruggedized gas detector
DE29505014U1 (de) * 1995-03-24 1996-08-01 Palocz Andresen Michael Dr Ing Low-cost-Mehrkanal-Gasanalysator
DE19512126C1 (de) * 1995-04-04 1996-09-05 Hekatron Gmbh Vorrichtung zum Detektieren eines Gases oder Aerosols
US5650624A (en) * 1995-04-13 1997-07-22 Engelhard Sensor Technologies, Inc. Passive infrared analysis gas sensor
US5721430A (en) * 1995-04-13 1998-02-24 Engelhard Sensor Technologies Inc. Passive and active infrared analysis gas sensors and applicable multichannel detector assembles
DE19520488C1 (de) * 1995-06-03 1996-09-05 Draegerwerk Ag Meßvorrichtung zur Infrarotabsorption
EP0773435A3 (en) 1995-07-21 1998-03-11 Texas Instruments Incorporated Method and devices for measuring radiation
US7119337B1 (en) 1997-08-04 2006-10-10 Ion Optics, Inc. Infrared radiation sources, sensors and source combinations, and methods of manufacture
SE510549C2 (sv) * 1995-11-13 1999-05-31 Hans Goeran Evald Martin Gassensor
US5692822A (en) * 1995-11-29 1997-12-02 Minnesota Mining & Manufacturing Co. Uniform bi-directional dependent line light source via controlled partial reflection
DE19605054C2 (de) * 1996-02-12 1999-09-02 Palocz Andresen Mehrkanalgasanalysator zur Bestimmung von Gaskomponenten eines Gases in Kompaktform
EP0885383A4 (en) * 1996-03-05 1999-09-01 Michael S Levine HOLOGRAPHIC GAS ANALYZER
DE19608604C2 (de) * 1996-03-06 1998-09-10 Conducta Endress & Hauser Gasanalysator und Meßküvette zur Verwendung in einem Gasanalysator
US5811812A (en) * 1996-11-01 1998-09-22 Andros, Incorporated Multiple-gas NDIR analyzer
US5933245A (en) * 1996-12-31 1999-08-03 Honeywell Inc. Photoacoustic device and process for multi-gas sensing
US6037592A (en) * 1997-02-14 2000-03-14 Underground Systems, Inc. System for measuring gases dissolved in a liquid
US5886348A (en) * 1997-02-14 1999-03-23 American Intell-Sensors Corporation Non-dispersive infrared gas analyzer with interfering gas correction
US5831524A (en) * 1997-04-29 1998-11-03 Pittway Corporation System and method for dynamic adjustment of filtering in an alarm system
US5869749A (en) * 1997-04-30 1999-02-09 Honeywell Inc. Micromachined integrated opto-flow gas/liquid sensor
US5936250A (en) * 1997-07-24 1999-08-10 General Monitors, Incorporated Ultraviolet toxic gas point detector
US6067840A (en) * 1997-08-04 2000-05-30 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for infrared sensing of gas
DE19743954C2 (de) * 1997-10-04 2000-10-12 Wwu Wissenschaftliche Werkstat Kaltstartmeßsytem zur Messung der Kaltstartemission
US6410918B1 (en) * 1997-10-28 2002-06-25 Edwards Systems Technology, Inc. Diffusion-type NDIR gas analyzer with improved response time due to convection flow
DE69829688T2 (de) 1997-10-28 2006-03-09 Edwards Systems Technology, Inc., Cheshire Diffusions-ndir-gasanalysator mit konvektionsfluss
FR2767195A1 (fr) * 1997-12-15 1999-02-12 Commissariat Energie Atomique Cuve d'absorption pour systeme d'analyse de gaz
US6250133B1 (en) 1998-01-06 2001-06-26 Edwards Systems Technology, Inc. Method for detecting venting of a combustion appliance within an improper space
US6201245B1 (en) * 1998-06-18 2001-03-13 Robert J. Schrader Infrared, multiple gas analyzer and methods for gas analysis
TW354646U (en) 1998-06-29 1999-03-11 Ind Tech Res Inst Twin tube air sampler
TW354647U (en) * 1998-06-29 1999-03-11 Ind Tech Res Inst Air sampler
US6229439B1 (en) 1998-07-22 2001-05-08 Pittway Corporation System and method of filtering
EP1101391A4 (en) 1998-07-30 2005-01-19 Ion Optics Inc INFRARED RADIATION SOURCES, COMPOSITION OF FEATURES AND SOURCES, AND THE PROCESS OF MANUFACTURE
US6222456B1 (en) 1998-10-01 2001-04-24 Pittway Corporation Detector with variable sample rate
US6261851B1 (en) 1999-09-30 2001-07-17 International Business Machines Corporation Optimization of CMP process by detecting of oxide/nitride interface using IR system
SE522941C2 (sv) * 2000-04-26 2004-03-16 Senseair Ab Gascell
US6469303B1 (en) 2000-05-17 2002-10-22 Rae Systems, Inc. Non-dispersive infrared gas sensor
EP1170583A1 (en) * 2000-06-06 2002-01-09 Stefano Tosi Non-dispersive infrared cell for gas analysis
DE10058469C1 (de) * 2000-11-24 2002-05-02 Draeger Safety Ag & Co Kgaa Optischer Gassensor
GB2372099B (en) * 2001-02-08 2003-11-05 Status Scient Controls Ltd Gas sensor
DE20301081U1 (de) * 2002-05-24 2003-04-10 Draeger Safety Ag & Co Kgaa Optischer Gassensor
US6882426B1 (en) 2002-06-26 2005-04-19 Digital Control Systems, Inc. Gas sensor with slotted diffusive gas sample chamber
GB2396405B (en) * 2002-12-05 2006-03-08 E2V Tech Uk Ltd Gas sensors
US7034304B2 (en) * 2003-07-25 2006-04-25 Honeywell International, Inc. Chamber for gas detector
ES2372485T3 (es) * 2003-12-19 2012-01-20 Medair Ab Sensor de líquido o gas y procedimiento.
JP2005345146A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Tdk Corp 炭酸ガス濃度測定装置、炭酸ガス濃度測定方法、ならびに燃焼機器
DE102004030855A1 (de) * 2004-06-25 2006-01-12 Tyco Electronics Raychem Gmbh Verfahren zur Reduzierung von Kondenswasser bei Gassensoranordnungen
US7301640B2 (en) * 2004-12-21 2007-11-27 Honeywell International, Inc. System and method of condensation reduction in an electrical unit
US7358489B2 (en) * 2005-08-04 2008-04-15 Airware, Inc. Ultra low cost NDIR gas sensors
US7664607B2 (en) 2005-10-04 2010-02-16 Teledyne Technologies Incorporated Pre-calibrated gas sensor
US7214939B1 (en) 2005-11-21 2007-05-08 Airware, Inc. Ultra low power NDIR carbon dioxide sensor fire detector
US20080035848A1 (en) * 2005-12-23 2008-02-14 Wong Jacob Y Ultra-high sensitivity NDIR gas sensors
US7259374B2 (en) * 2005-12-23 2007-08-21 Airware, Inc. Method for detecting a gas species using a super tube waveguide
GB2449433B (en) * 2007-05-21 2009-12-09 Clairair Ltd Optical gas sensor
US9215421B2 (en) 2008-03-18 2015-12-15 Avaya Inc. Open cable application platform (OCAP) and set-top box (STB)-based bill notification and payment application
JP5345333B2 (ja) * 2008-03-31 2013-11-20 Ｈｏｙａ株式会社 フォトマスクブランク、フォトマスク及びその製造方法
US20090300694A1 (en) 2008-05-30 2009-12-03 Avaya Technology Llc Open cable application platform (ocap) and set-top box (stb)-based calendering application
JP2010032374A (ja) * 2008-07-29 2010-02-12 Dainippon Printing Co Ltd 多層成形体検査装置
US8759767B2 (en) * 2008-08-21 2014-06-24 Lawrence Livermore National Security, Llc Combined raman and IR fiber-based sensor for gas detection
WO2011003145A1 (en) 2009-07-07 2011-01-13 Xtralis Technologies Ltd Chamber condition
US8272279B2 (en) * 2009-07-16 2012-09-25 Seer Technology, Inc. Systems and methods for chemical sampling in particulate laden gaseous environments
AU2010284205A1 (en) * 2009-08-21 2012-03-15 Airware, Inc. Absorption biased NDIR gas sensors
US8097856B2 (en) * 2009-08-21 2012-01-17 Airware, Inc. Super-miniaturized NDIR gas sensor
TW201107744A (en) * 2009-08-28 2011-03-01 Radiant Innovation Inc Measurement apparatus for gas concentration and method of the same
CN101672754B (zh) * 2009-10-15 2011-05-04 大连理工大学 一种激光加工气熔比检测装置和方法
US8365724B2 (en) * 2009-12-29 2013-02-05 General Electric Company Medical vaporizer and method of control of a medical vaporizer
GB201000756D0 (en) 2010-01-18 2010-03-03 Gas Sensing Solutions Ltd Gas sensor with radiation guide
CN101979988B (zh) * 2010-10-11 2012-04-25 陈文选 分析蒸发器
US8178832B1 (en) * 2011-05-31 2012-05-15 Wong Jacob Y Re-calibration methodology for NDIR gas sensors
US9927365B2 (en) * 2011-10-21 2018-03-27 Ag Instruments Ltd. Gas analysers and a method of making a gas analyser
DE102012007561B4 (de) * 2012-04-14 2014-07-10 Dräger Safety AG & Co. KGaA Gasdetektorsystem
KR20160121504A (ko) * 2013-11-11 2016-10-19 암페놀 서모메트릭스 인코포레이티드 광학 가스 센서
US9804084B2 (en) * 2013-11-11 2017-10-31 Amphenol Thermometrics, Inc. Optical gas sensor
DE112015004710T5 (de) * 2014-10-17 2017-07-06 Horiba Ltd. Gasanalysevorrichtung
FR3030041B1 (fr) 2014-12-12 2017-12-22 Bertin Technologies Sa Dispositif de filtrage optique pour la detection de gaz
US10121673B2 (en) * 2015-08-19 2018-11-06 Industrial Technology Research Institute Miniaturize particulate matter detector and manufacturing method of a filter
CN106468648B (zh) 2015-08-19 2019-09-10 财团法人工业技术研究院 微粒子侦测器及筛选元件的制造方法
EP3477275A1 (en) * 2017-10-25 2019-05-01 Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives Apparatus for the measurement of chemical activity coefficients of gas phase species in thermodynamic equilibrium with liquid phase
US10656080B2 (en) * 2018-07-06 2020-05-19 Asahi Kasei Microdevices Corporation Gas detection apparatus
EP3599455B1 (de) * 2018-07-27 2022-03-23 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Vorrichtung und verfahren zur analyse von partikeln
KR102267044B1 (ko) * 2019-12-11 2021-06-18 주식회사 태성환경연구소 비분산적외선 방식의 이산화탄소 가스센서
US11804118B2 (en) * 2022-03-01 2023-10-31 Honeywell International Inc. Aspirating smoke detector discreet sample point

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH546989A (de) * 1972-12-06 1974-03-15 Cerberus Ag Verfahren und vorrichtung zur brandmeldung.
US3893601A (en) * 1973-05-14 1975-07-08 Samuel J Winslow Spout construction
US3950980A (en) * 1974-03-27 1976-04-20 Minnesota Mining And Manufacturing Company Vapor sampling device
US3966439A (en) * 1974-11-11 1976-06-29 Vennos Spyros Lysander N Fluid sampling device
US4155247A (en) * 1977-05-02 1979-05-22 Westinghouse Electric Corp. Multi-part gas sampler
US4235097A (en) * 1979-03-27 1980-11-25 E. I. Du Pont De Nemours And Company Dosimeter for measuring gaseous contaminants
JPS5633551U (ja) * 1979-08-23 1981-04-02
JPS59173734A (ja) * 1983-03-23 1984-10-01 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 赤外線ガス分析計
US4554721A (en) * 1983-09-26 1985-11-26 Combustion Engineering, Inc. Method of manufacturing a wear resistant pipe
JPS60105946A (ja) * 1983-11-15 1985-06-11 Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd 赤外線ガス分析計
JPS60105947A (ja) * 1983-11-15 1985-06-11 Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd 赤外線ガス分析計
JPS61155757U (ja) * 1985-03-20 1986-09-27
US4749276A (en) * 1986-01-23 1988-06-07 Mcdonnell Douglas Corporation Long path absorption cell
US4709150A (en) * 1986-03-18 1987-11-24 Burough Irvin G Method and apparatus for detecting gas
JPS62280638A (ja) * 1986-05-30 1987-12-05 Showa Denko Kk ガス濃度検出セル
US4800272A (en) * 1987-03-04 1989-01-24 New York University Environmental gamma-ray and radon detector
JPS63298031A (ja) * 1987-05-29 1988-12-05 Fujitsu Ten Ltd 外気汚れ検出器
JPS63304133A (ja) * 1987-06-05 1988-12-12 Hitachi Ltd 混合ガスを用いる分析計
US4946092A (en) * 1987-11-06 1990-08-07 Nagron Precision Tooling B.V. Method for arranging a through-channel in a solid body, and the body obtained with this method
US4947570A (en) * 1988-12-22 1990-08-14 Wesco Promotions, Inc. Display unit
US4947578A (en) * 1989-06-16 1990-08-14 Ecolab Inc. Controlled release system for insect attractant
US5060508A (en) * 1990-04-02 1991-10-29 Gaztech Corporation Gas sample chamber

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101005272B1 (ko) * 2002-07-22 2011-01-04 센스에어 아베 가스 분석 장치
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