FI105595B - Parannettu kaasunäytekammio - Google Patents

Parannettu kaasunäytekammio Download PDF

Info

Publication number
FI105595B
FI105595B FI933298A FI933298A FI105595B FI 105595 B FI105595 B FI 105595B FI 933298 A FI933298 A FI 933298A FI 933298 A FI933298 A FI 933298A FI 105595 B FI105595 B FI 105595B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
gas
sample chamber
chamber
sample
elongated hollow
Prior art date
Application number
FI933298A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI933298A0 (fi
FI933298A (fi
Inventor
Jacob Y Wong
Original Assignee
Gaztech Internat Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=24001190&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=FI105595(B) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Gaztech Internat Corp filed Critical Gaztech Internat Corp
Publication of FI933298A0 publication Critical patent/FI933298A0/fi
Publication of FI933298A publication Critical patent/FI933298A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI105595B publication Critical patent/FI105595B/fi

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03—Cuvette constructions
    • G01N21/0303—Optical path conditioning in cuvettes, e.g. windows; adapted optical elements or systems; path modifying or adjustment
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02—Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/2247—Sampling from a flowing stream of gas
    • G01N1/2258—Sampling from a flowing stream of gas in a stack or chimney
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03—Cuvette constructions
    • G01N21/05—Flow-through cuvettes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • G—PHYSICS
    • G08—SIGNALLING
    • G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
    • G08B17/00—Fire alarms; Alarms responsive to explosion
    • G08B17/10—Actuation by presence of smoke or gases, e.g. automatic alarm devices for analysing flowing fluid materials by the use of optical means
    • G08B17/117—Actuation by presence of smoke or gases, e.g. automatic alarm devices for analysing flowing fluid materials by the use of optical means by using a detection device for specific gases, e.g. combustion products, produced by the fire
    • G—PHYSICS
    • G08—SIGNALLING
    • G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
    • G08B29/00—Checking or monitoring of signalling or alarm systems; Prevention or correction of operating errors, e.g. preventing unauthorised operation
    • G08B29/18—Prevention or correction of operating errors
    • G08B29/20—Calibration, including self-calibrating arrangements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
    • G01J2001/161—Ratio method, i.e. Im/Ir
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
    • G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
    • G01J1/18—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors using comparison with a reference electric value
    • G01J2001/182—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors using comparison with a reference electric value with SH sample and hold circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/02—Devices for withdrawing samples
    • G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
    • G01N1/2247—Sampling from a flowing stream of gas
    • G01N1/2258—Sampling from a flowing stream of gas in a stack or chimney
    • G01N2001/2261—Sampling from a flowing stream of gas in a stack or chimney preventing condensation (heating lines)
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03—Cuvette constructions
    • G01N2021/0321—One time use cells, e.g. integrally moulded
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03—Cuvette constructions
    • G01N2021/0385—Diffusing membrane; Semipermeable membrane
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03—Cuvette constructions
    • G01N21/05—Flow-through cuvettes
    • G01N2021/052—Tubular type; cavity type; multireflective
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03—Cuvette constructions
    • G01N21/0332—Cuvette constructions with temperature control
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/02—Mechanical
    • G01N2201/022—Casings
    • G01N2201/0228—Moulded parts
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/061—Sources
    • G01N2201/06186—Resistance heated; wire sources; lamelle sources
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/069—Supply of sources
    • G01N2201/0696—Pulsed

Description

105595
Parannettu kaasunäytekammio - Förbättrad gasprovkammare Keksinnön alue 5 Esillä olevan keksinnön kohteena on kaasuanalysaattorien alue ja erityisesti näytekammio, jota käytetään tyypiltään NDIR (ei-dispergoiva infrapuna) olevissa analysaattoreissa.
Keksinnön taustaa 10 NDIR-tekniikka on kauan pidetty yhtenä parhaista kaasumit-tausmenetelmistä. Huomattavan tarkkuutensa lisäksi NDIR-kaa-suanalysaattorit ovat myös erittäin herkkiä, vakaita, luotettavia ja huolloltaan helppoja. NDIR-kaasumittaustekniikan pääasiallisena haittana on ollut sen monimutkainen ja kallis 15 toteutus.
NDIR-kaasuanalysaattori sisältää yleensä infrapunasäteilyläh- teen, moottorikäyttöisen mekaanisen värähdinmuuttajän tämän lähteen moduloimiseksi siten, että tahdistettua ilmaisua 20 voidaan käyttää, pumpun kaasun työntämiseksi tai vetämiseksi näytekammion läpi, kaistanpäästösuodattimen, herkän infra- Y: punailmaisimen sekä kalliin infrapunaoptiikan ja ikkunat « · infrapunasäteilyn fokusoimiseksi sanotusta lähteestä il- ,·. : maisimeen. Siten huolimatta siitä, että NDIR-kaasumittaustek- • · · .!_/25 nilkka on yksi parhaista, se ei ole saavuttanut laajaa suo- · I.’ s.iota monimutkaisuutensa ja kalliin toteutuksensa johdosta.
• * * λ • · • » • M f I < *·' * Esillä oleva keksintö yksinkertaistaa huomattavasti NDIR- kaausmittaustekniikan toteuttamista, tämän yksinkertaistami- V « · • '.SO sen johtaessa samalla kustannusten alenemiseen mahdollistaen m · · Y · siten useiden NDIR-tekniikan sovellutusten käyttöönoton, joita tähän asti on pidetty epäkäytännöllisinä niiden kustansi > nusten tai monimutkaisuuden johdosta.
• · t · « : ‘.35 Esimerkiksi esillä olevan keksinnön mukainen näytekammio t · 2 105595 muodostaa paljon nopemman ja herkemmän hiilidioksidi-ilmaisimen ytimen, jota käytetään palonilmaisussa (US-patenttijulkaisu 5 053 754, julkaistu 1. lokakuuta 1991 esillä olevan keksinnön hakijan nimellä) sekä myös tuuletusvalvontalaitteen 5 eli VENTOSTAT'in ytimen (tuuletustermostaatti, joka on selostettu US-paytenttihakemuksessa n s ro 07/611 630, jätetty sisään 6. kesäkuuta 1991 otsikolla TUULETUSVALVONTALAITE esillä olevan keksinnön hakijan nimellä), joka on erittäin käyttökelpoinen laite huoneilman likaantumisen valvonnassa tarkkai-10 lemalla huoneilman hiilidioksidipitoisuutta ja syöttämällä raitista ilmaa, kun tämä hiilidioksidipitoisuus tulee liian suureksi.
Esillä oleva yksinkertaistettuun kaasunäytekammioon kohdistu-15 va keksintö tarjoaa käyttöön uuden lähestymistavan NDIR-kaa-sumittausjärjestelmien vähentämiseksi eliminoimalla kalliin optiikan, mekaanisten värähdinmuuttajien ja kaasua näytekam-mioon vetävän tai työntävän pumpun tarpeen. Lisäksi esillä olevan keksinnön mukainen näytekammio tarjoaa käyttöön pitkän 20 ja tehokkaan väyläpituuden, joka lisää ilmaisuherkkyyttä.
·.·. US-patentti julkaisussa n:ro 4 709 150, myönnetty 24. marras-kuuta 1987 Burough et al'ille, selostetaan kaasunäytekammio, ! . joka käsittää huokoisesta materiaalista, kuten muovista tai • · « \mm ]^5 sintratusta metallista tehdyn putken. Tässä Burough et ai'in • · · • ·* patentissa selostetaan, että huokoskoon olisi oltava 0,3 - : .* 100 mikronia. Mitään selostusta tai ehdotusta ei anneta tämän • · · V · huokoisen putken seinien käytön suhteen heijastavina säteilyä ohjaavina elementteinä. Ehkä juuri tästä syystä johtuen kaa-:*·*30 sun kondensaation muodostamaa ongelmaa sen tiivistyessä pie-ninä pisaroina näytekammion sisälle ei selosteta.
• · ” • ♦ · *·// Burough et ai eivät selosta moninkertaisia heijastuksia pei-• « limäisesti heijastavasta pinnasta. Tämä vaikuttaa huomatta-:*·*35 vasti heidän järjestelmänsä suorituskykyyn. Hyödyntämättä 9 • » 3 105595 näytekairanion säteilyä keräävää kykyä Burough et ai'in järjestelmällä on paljon huonompi säteilyn keräämiskyky, mikä johtaa alhaisempaan signaalikohinasuhteeseen. Lisäksi Burough et ai'in järjetselmä ei tarjoa käyttöön pitkää väyläpituutta ja 5 siten tämän järjestelmän herkkyys on huonompi esillä olevaan keksintöön verrattuna.
Mitä taas tulee kaasun diffuusioon Burough et ai'in järjestelmän mukaisessa kammiossa esillä olevaan keksintöön verrat-10 tuna, niin voidaan havaita, että Burough et ai'in syöttökam-miota varten käytetty huokoinen materiaali on paksuudeltaan useita satoja mikroneja. Sen sijaan esillä olevan keksinnön yhteydessä diffuusio näytekammioon tapahtuu puoliläpäisevän kalvon kautta, jonka paksuus on suuruusluokkaa 25 - 50 mikro-15 nia. Siten kaasulta tai kaasun pitoisuusmuutoksilta kuluu paljon pitempi aika Burough et ai'in kammioon hajaantumiseen esillä olevaan keksintöön verrattuna. Tämä pidentää suuresti Burough et ai'in kammion reagointiaikaa saaden aikaan paloil-maisinanturin huonon suorituskyvyn, kun taas esillä oleva 20 keksinnön mukainen kammio reagoi erittäin nopeasti muutoksiin hiilidioksidipitoisuudessa, ja laboratoriokokeet ovat osoit- V: taneet, että esillä olevan keksinnön mukaisella näytekammiol- · .'j‘; la on erittäin nopea reagointiaika, mikä on sangen suotavaa .·. : paloilmaisimena toimimista ajatellen.
* · · .125 • · t • · *. 1. Japanilaisessa patenttijulkaisussa n:ro 59-173734(A) Miya2aki I · 1 Λ selostaa infrapunasädekaasuanalyysimittaria, jossa säteily • · · *·1 1 kulkee rinnakkain näytekennoa ja vertailukennoa pitkin. Nämä kennot ovat kierukkaputken muotoisia.
j’-30 t » v • · · : Miyazakin patentin mukainen järjestelmä kuuluu tavanomaisen .·1.·, NDIR-kaasumittausjärjestelmän mukaiseen kategoriaan. Ellei !.! tuleva säteily joutuisi moninkertaisten heijastusten alaisek-si sekä näyte- että vertailukennossa, ei olisi olemassa mi- M · • ‘.35 tään eroa tavanomaiseen NDIR-järjestelmään verrattuna eikä · 4 105595 siten myöskään mitään etua. Miyazakin ratkaisu vaatii yhä mekaanisen värähdinmuuttajan, kaasut näyte- ja vertailukennon läpi johtavan pumpun ja kahden ilmaisimen käyttöä. Siten, kun nämä tekijät otetaan huomioon, Miyazakin keksintö ei tule 5 yksinkertaisuudessaan ja tehokkuudessaan lähellekään esillä olevaa keksintöä.
Japanilaisessa patenttijulkaisussa n:ro 63-298031(A) Fujimura selostaa suodattimen käyttöä, jota vaaditaan hänen keksinnös-10 sään, koska hänen järjestelmässään käytetty säteilylähde ja ilmaisimet on asetettu näytekammion sisään ja ne ovat siten alttiita näytteen aiheuttamalle likaantumiselle.
US-patenttijulkaiusssa n:ro 4 499 379, myönnetty 12. helmi-15 kuuta 1985 Miyatake et al'ille, ja US-patenttijulkaisussa n:ro 4 501 968, myönnetty 26. helmikuuta 1985 Ebi et al'ille selostetaan kaasuanalysaattori varustettuna kuumennetulla näytekaasusäiliöllä, joka sisältää näytekaasua lämpötilassa, jossa pitoisuudeltaan määritettävä komponentti lähettää in-20 frapunasäteilyä ominaisaallonpituudella. Tämä kaasuanalysaattori toimii_emissioperiaatteen mukaisesti eikä ole tyypiltään ·.·. ei-dispergoiva infrapuna-adsorptioanalysaattori. Näytekennon seinässä oleva kuumennin kuumentaa näytekaasun suuruudeltaan • · . vähintään 100 °C oleviin lämpötiloihin kaasun saamiseksi lä-
• M
.* .25 hettämään infrapunasäteilyä. Tämän sanotaan lisäävän kaasu- * * · i.;* näytteestä tulevaa säteilyä vähentäen samalla taustasäteilyä • · · Λ J .* kaasusta tulevan säteilyn suhteen. Näytekennon sisäpinnan • · · : kerrotaan olevan peilipinta, mutta nämä patenttijulkaisut eivät anna mitään syytä siihen. Koska itse kaasu muodostaa : ’[SO säteilylähteen, joka on isotrooppinen, eivät kammion seinät :*·*: ilmeisestikään ohjaa säteilyä millään käyttökelpoisella ta- valla.
« · • · « • » · *·”’ US-patenttijulkaisussa n:ro 3 966 439, myönnetty 29. kesäkuu- ί"·*35 ta 1976 Vennosille, selostetaan juoksevan väliaineen kokoa-• · 5 105595 mislaite, joka sisältää pumpun ja jota käytetään keräämään näytteitä ilmassa, tehtaissa, voimalaitokisa, kaivoksissa jne. olevasta ilmasta.
5 Vennos ei ole kiinnostunut infrapunasäteilyn lähettämisestä kaasunäytteen läpi sen pitoisuuden määrittämiseksi, ja siten Vennosin suodatusjärjestelmä ei ole luonteeltan analoginen.
Samalla tavoin US-patenttijulkaisussa n:ro 4 947 578, myön-10 netty 14. elokuuta 1990 Anderson et al'ille, selostetaan valvottu päästöjärjestelmä hyönteismyrkkyä varten. Tässä patentissa hyönteisiä puoleensa vetävän höyryn annetaan hajaantua kalvon läpi. Koska huokoskoon määrittää haluttu pääs-tönopeus, ei Anderson et ai'in patentissa esiintyvä kalvon 15 käyttö ole analoginen esillä olevan keksinnön kanssa.
Keksinnön selostus
Esillä olevan keksinnön mukaisen kaasunäytekammion ensimmäisenä tarkoituksena on toimia valoputkena säteilyn siirtä-20 miseksi tehokkaasti kaasunäytteen läpi ilmaisimeen.
Esillä olevan keksinnön mukaisen kaasunäytekammion toisena · tarkoituksena on pitää valikoivasti suuruudeltaan yli 0,1 . mikronia olevat savu- ja pölyhiukkaset poissa näytekammiosta, 1· .125 niin että ne eivät aiheuta virhettä mitattavan kaasun pitoi- « i · ·’ suusmittauksen yhteydessä ja sallivat samalla kaasumolekyyli- • i « Λ • ·1 en vapaan tulon näytekammioon ja poistumisen siitä.
• t · • · · • · «
Keksinnön erään suositeltavan sovellutusmuodon mukaisesti :**]S0 näytekammion sisäänpäin oleva seinä on varustettu peilimäi-:1·1: sellä heijastavalla pinnalla, joka toimii valoputkena johtaen • \t pitkänomaisen näytekammion yhteen päähän säteilylähteestä • · · lähetetyn säteilyn näytekammion toiseen päähän asetettuun ilmaisimeen.
•'35 • » · 6 105595
Esillä olevan keksinnön mukaisesti kammion seinä on varustettu myös aukolla, joka on peitetty puoliläpäisevällä kalvoker-roksella, joka estää suuruudeltaan ylii 0,1 mikronia olevien hiukkasten pääsyn kammioon.
5
Keksinnön eräänä lisätarkoituksena on saada aikaan kaa-sunäytekammio, jonka yhteydessä kaasujen tai höyryjen tiivistyminen näytekammion sisäänpäin oleviin seiniin voidaan estää.
10
Keksinnön erään suositeltavan sovellutusmuodon mukaisesti käytössä ovat välineet näytekammion kuumentamiseksi siten, että sen lämpötila ylittää minkä tahansa kaasun tai höyryn kastepisteen, joka saattaa tiivistyä näytekammion sisäsei-15 niin.
Keksinnölle luonteenomaiset uudet ominaispiirteet sekä organisaation että käyttömentelmän suhteen yhdessä keksinnön tarjoamien lisäkohteiden ja -etujen kanssa käyvät havainnol-20 lisemmin ilmi seuraavasta yksityiskohtaisesta selostuksesta oheisiin piirustuksiin viitaten.
a a f « • · a a
Piirustusten lyhyt kuvaus
I I I
^ . Kuvio 1 esittää sivupystykuvantoa näyttäen esillä olevan
• M
,1 .*25 keksinnön mukaisen kaasuanalysaattorin pääosat; • · * • · f · • · · * • · · λ : ·' Kuvio 2 esittää kaaviota, joka näyttää säteilyn tyypillisen V * kulkuväylän kaasunäytekammion kautta; ja I 'e:30 Kuvio 3 esittää jaksottaista poikkileikkauskuvantoa esillä olevan keksinnön erään suositeltavan sovellutusmuodon mukai- • sesta kaasunäytekammiosta.
§ · · • | I · I ? ·
Keksinnön paras toteuttamismuoto :·’35 Kuten kuviosta 1 näkyy, kaasuanalysaattori sisältää lähdekam- ta 105595 7 mion 12, jossa on säteilylähde. Tämä säteilylähde voi käsittää pienen hehkulampun ja säteilynä voi olla näkyvä valo ja/tai lampun aikaansaama infrapunasäteily. Lähdekammio 12 on liitetty kaasunäytekammioon 10, joka sisältää analysoitavan 5 kaasunäytteen, kyseisen kaasukomponentin pitoisuuden määrittämistä varten. Lähdekammiosta 12 tuleva säteily 12 kulkee kaasunäytekammiossa 10 olevan kaasunäytteen kautta ja sen jälkeen säteily kohdistuu ilmaisinkammioon 14 asetettuun ilmaisimeen. Tämä ilmaisin muodostaa sähkösignaalin, joka edus-10 taa siihen tulevan säteilyn voimakkuutta. Laitteen herkkyyden lisäämiseksi on yleisesti tunnettua asettaa kapea kaistan-päästösuodatin optiseen väylään ilmaisimen eteen, niin että ilmaisin vastaanottaa pääasiassa sellaisella aallonpituudella olevaa säteilyä, jonka pitoisuudeltaan määritettävä kaasu 15 imee voimakkaasti itseensä. Ilmaisimen synnyttämä sähkösig-naali lähetetään elektroniseen piiriin 15, joka muuttaa se kyseisen kaasun pitoisuutta edustavaksi signaaliksi.
Kuvio 2 esittää optista kaaviota näyttäen optisen väylän, 20 jonka tyypillinen lähteestä 16 tuleva säde valitsee tullessaan moninkertaisesti heijastetuksi kulkiessaan alaspäin \\ kaasunäytekammiota pitkin ja osuessaan lopulta ilmaisimeen 20.
< < I
4 4 • 4 · 4 « · .*25 Kuvio 3 esittää jaksottaista poikkileikkausta kaasunäytekam- * · · \m \ .rjiosta. Kaasunäytekmmion runko käsittää pitkänomaisen onton • · · • ·* putken 21, jonka sisäpinta 22 on peilimäisesti heijastava.
*.· * Suositeltavassa sovellutusmuodossa tämä pinta 22 muodostaa yhtenäisen osan putken 21 seinää, kun taas eräässä vaihtoeh- • · t j 't!30 toisessa sovellutusmuodosssa tämä pinta voi käsittää peili-mäisesti heijastavan päällystyskerroksen.
« 4 4 4 % 4 • 4 · M Pitkänomainen ontto putki 21 sisältää ainakin yhden aukon, kuten aukon 24. Nämä aukot sallivat ympäristöilman tulemisen :’·’:35 näytekammioon ja poistumisen siitä. Ei ole kuitenkaan suota- • 4 8 105595 vaa, että pöly- ja savuhiukkaset pääsisivät tunkeutumaan kammioon vapaasti, ja tätä varten aukko 24 on peitetty puoli-läpäisevästä kalvosta tehdyllä levyllä, joka estää kooltaan yli 0,1 mikronia olevien hiukkasten tunkeutumisen. Korkeiden 5 diffuusionopeuksien aikaansaamiseksi kooltaan alle 0,1 mikronia olevia hiukkasia varten tämän puoliläpäisevän kalvolevyn 28 on oltava sangen ohut, ja siten se on tuettu tukiverkkoon 26. Suositeltavassa sovellutusmuodossa puoliläpäisevä kalvo on tehty silikonikumista.
10
Koska kaasunäytekammio on täytetty aina kaasulla, on olemassa mahdollisuus, että ympäristölämpötilan laskiessa riittävästi vesihöyryä tai jotain muuta kaasua tiivistyy nestemäiseen tilaan ja kerrostuu pienten pisaroiden muodossa peilimäisesti 15 heijastavalle pinnalle 22 sekä ilmaisimeen 20. Tämä häiritsisi peilimäistä heijastusta, jota tarvitaan näytekammion toimintaa varten, ja johtaisi virheellisiin tuloksiin.
Tämän estämiseksi suositeltavassa sovellutusmuodossa käyte- 20 tään kuumenninlankaa 30 kaasunäytekammiossa 10. Termistori 32 mittaa näytekammion seinän lämpötilan. Sekä termistori että kuumenninlanka on liitetty kuumwennninvalvontapiiriin 34, t·;·, joka käsittää servoelimen, joka toimii yleisesti tunnetulla * « · . tavalla pitäen näytekammion asetuslämpötilassa.
• H
* *25 M I ^ • · f jt ·* Edellä on siten selostettu kaasunäytekammio pitkänomaisen « · · ' ·' putkimaisen elimen muodossa, joka on varustettu peilimäisesti ·«· V · heijastavalla sisäpinnalla, joka johtaa säteilyn kaasun läpi ilmaisimesta lähteeseen. Pöly- ja savuhiukkaset pidetään :**[30 poissa näytekammiosta puoliläpäisevän kalvolevyn avulla, joka peittää näytekammion putkimaisessa seinässä olevat aukot.
* Näytekammion seinää voidaan kuumentaa kaasumaisten komponent- I I « tien tiivistymisen estämiseksi kammioon, ja suositeltavassa
J J
·;' sovellutusmuodossa ennalta asetettu lämpötila pidetään yllä :'·'35 servoelimen avulla.
• · « • · 9 105595
Teolliset käyttösovellutukset
Esillä olevan keksinnön mukaista parannettua kaasunäytekam-miota voidaan käyttää erityisesti komponenttiosana ilmai-sinanturissa, joka mittaa ilmassa olevan hiilidioksidin pi-5 toisuuden. Tämän parannetun kaasunäytekammion käyttö lisää suuresti anturin herkkyyttä ja reaktionopeutta tehden siitä käyttökekpoisen valinnan tulipalojen ilmaisemiseksi ja käyttöä varten tuuletusjärjestelmissä, joissa hiilidioksidin pitoisuutta valvotaan.
10 • 1 • 9 » 9 9 1 · I I < Ψ 1 · w I 4 Ψ 9 9 • 1 · • · H » I · • · • » ·· 1 V · 9 • « * « • « · I « 1 4 · 1 • f ♦ · : 1 ί ♦ 1 *·« * · · » i · « « f · # · · • « • · « I · • I *9 f »» 1 • # · • · « ♦ «

Claims (2)

10 105595
1. Kaasunäytekammio, joka johtaa säteilyn säteilylähteestä kasunäytteen läpi tehokkaalla tavalla, tunnettu 5 siitä, että tämä kaasunäytekammio käsittää: pitkänomaisen onton putken, joka on tehty kaasutiiviistä materiaalista ja varustettu peilimäisellä heijastavalla sisäpinnalla, joka johtaa tämän pitkänomaisen onton putken yhteen päähän lähetetyn säteilyn putken toisen päähän erittäin te-10 hokkaasti sanotusta peilimäisestä heijastavasta sisäpinnasta tulevien moninkertaisten heijastusten avulla', sanotun pitkänomaisen onton putken osien rajoittaessa vähintään yhden aukon tämän pitkänomaisen onton putken päiden välissä; puoliläpäisevän kalvolevyn, joka peittää sanotun vähin-15 tään yhdenaukon, tämän levyn salliessa ilmassa olevien alle 0,1 mikronin hiukkasten diffundoitua sen läpi pitkänomaisen onton putken sisällä olevaan tilaan ja estäessä suuruudeltaan yli 0,1 mikronia olevien hiukkasten pääsyn sanottuun tilaan.
2. Patenttivatimuksen 1 mukainen kaasunäytekammio, • · tunnettu siitä, että se sisältää lisäksi välineen : peilimäisen heijastavan pinnan kuumentamiseksi kaasunäytteen kastepisteen ylittävään lämpötilaan tiivistymisen estämiseksi , peilimäiselle heijastavalle pinnalle. 25 • • · ··· • · · • · # , ·<· • | · • · · ··· • · • · · * · • · · • · · • « · · Mi • f • » » I • · I * 1 « · · · · • · 105595
FI933298A 1990-04-02 1993-07-22 Parannettu kaasunäytekammio FI105595B (fi)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/503,216 US5060508A (en) 1990-04-02 1990-04-02 Gas sample chamber
US50321690 1990-04-02
US9108822 1991-11-25
PCT/US1991/008822 WO1993011418A1 (en) 1990-04-02 1991-11-25 Improved gas sample chamber

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI933298A0 FI933298A0 (fi) 1993-07-22
FI933298A FI933298A (fi) 1993-08-13
FI105595B true FI105595B (fi) 2000-09-15

Family

ID=24001190

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI933298A FI105595B (fi) 1990-04-02 1993-07-22 Parannettu kaasunäytekammio

Country Status (11)

Country Link
US (2) US5060508A (fi)
EP (1) EP0568549B1 (fi)
JP (1) JP2895229B2 (fi)
AT (1) ATE154128T1 (fi)
AU (1) AU658855B2 (fi)
CA (1) CA2101082C (fi)
DE (1) DE69126443T2 (fi)
DK (1) DK0568549T3 (fi)
FI (1) FI105595B (fi)
NO (1) NO308332B1 (fi)
WO (1) WO1993011418A1 (fi)

Families Citing this family (106)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5341214A (en) * 1989-09-06 1994-08-23 Gaztech International Corporation NDIR gas analysis using spectral ratioing technique
US5060508A (en) * 1990-04-02 1991-10-29 Gaztech Corporation Gas sample chamber
US5222389A (en) * 1990-04-02 1993-06-29 Gaztech International Corporation Multi-channel gas sample chamber
US5340986A (en) * 1991-11-18 1994-08-23 Gaztech International Corporation Diffusion-type gas sample chamber
SE9200023L (sv) * 1992-01-03 1993-03-15 Artema Mecical Ab Gasanalysator
US5384640A (en) * 1993-01-19 1995-01-24 Gaztech International Corporation Gas sample chamber for use with a source of coherent radiation
US5414264A (en) * 1993-04-16 1995-05-09 Gaztech International Corporation Enhanced pathlength gas sample chamber
US6107925A (en) * 1993-06-14 2000-08-22 Edwards Systems Technology, Inc. Method for dynamically adjusting criteria for detecting fire through smoke concentration
US5592147A (en) * 1993-06-14 1997-01-07 Wong; Jacob Y. False alarm resistant fire detector with improved performance
US5767776A (en) * 1996-01-29 1998-06-16 Engelhard Sensor Technologies, Inc. Fire detector
FR2712390B1 (fr) * 1993-11-12 1996-02-09 Saphir Dispositif de détection de gaz par absorption infrarouge.
US5363199A (en) * 1994-01-14 1994-11-08 Victor Bruce H Smoke opacity detector
US5747808A (en) * 1994-02-14 1998-05-05 Engelhard Sensor Technologies NDIR gas sensor
US5444249A (en) * 1994-02-14 1995-08-22 Telaire Systems, Inc. NDIR gas sensor
US5464983A (en) * 1994-04-05 1995-11-07 Industrial Scientific Corporation Method and apparatus for determining the concentration of a gas
US5428222A (en) * 1994-04-06 1995-06-27 Janos Technology Inc. Spectral analyzer with new high efficiency collection optics and method of using same
USRE36489E (en) * 1994-04-06 2000-01-11 Janos Technology Inc. Spectral analyzer with new high efficiency collection optics and method of using same
US5394934A (en) * 1994-04-15 1995-03-07 American Standard Inc. Indoor air quality sensor and method
US5502998A (en) * 1994-04-25 1996-04-02 The Procter And Gamble Company Device and method for the simulation of samples of airborne substances
US5578829A (en) * 1994-05-23 1996-11-26 Texas Instruments Incorporated On-line monitor for moisture contamination in HCL gas and copper contamination in NH4 OH solutions
WO1996001418A1 (en) * 1994-07-05 1996-01-18 Telaire Systems, Inc. Ndir gas analysis using spectral ratioing technique
DE4424909A1 (de) * 1994-07-14 1996-01-18 Siemens Ag Verfahren und Vorrichtung zur Ortung von Schadstoffansammlungen
US5453620A (en) 1994-08-12 1995-09-26 Texas Instruments Incorporated Nondispersive infrared gas analyzer and gas sample chamber used therein
DE4438244C1 (de) * 1994-10-26 1996-03-07 Frobenius Wolf Dietrich Prof D Vorrichtung zum Messen der Konzentration einer Gaskomponente in einer Gasmischung
US5475222A (en) * 1994-12-05 1995-12-12 Detector Electronics Corporation Ruggedized gas detector
DE29505014U1 (de) * 1995-03-24 1996-08-01 Palocz Andresen Michael Dr Ing Low-cost-Mehrkanal-Gasanalysator
DE19512126C1 (de) * 1995-04-04 1996-09-05 Hekatron Gmbh Vorrichtung zum Detektieren eines Gases oder Aerosols
US5650624A (en) * 1995-04-13 1997-07-22 Engelhard Sensor Technologies, Inc. Passive infrared analysis gas sensor
US5721430A (en) * 1995-04-13 1998-02-24 Engelhard Sensor Technologies Inc. Passive and active infrared analysis gas sensors and applicable multichannel detector assembles
DE19520488C1 (de) * 1995-06-03 1996-09-05 Draegerwerk Ag Meßvorrichtung zur Infrarotabsorption
EP0773435A3 (en) 1995-07-21 1998-03-11 Texas Instruments Incorporated Method and devices for measuring radiation
US7119337B1 (en) 1997-08-04 2006-10-10 Ion Optics, Inc. Infrared radiation sources, sensors and source combinations, and methods of manufacture
WO2000007411A1 (en) 1998-07-30 2000-02-10 Ion Optics, Inc. Infrared radiation sources, sensors and source combinations, and methods of manufacture
SE510549C2 (sv) * 1995-11-13 1999-05-31 Hans Goeran Evald Martin Gassensor
US5692822A (en) * 1995-11-29 1997-12-02 Minnesota Mining & Manufacturing Co. Uniform bi-directional dependent line light source via controlled partial reflection
DE19605054C2 (de) * 1996-02-12 1999-09-02 Palocz Andresen Mehrkanalgasanalysator zur Bestimmung von Gaskomponenten eines Gases in Kompaktform
JP2000506274A (ja) * 1996-03-05 2000-05-23 ミカエル エス レビン ホログラフィーガス分析器
DE19608604C2 (de) * 1996-03-06 1998-09-10 Conducta Endress & Hauser Gasanalysator und Meßküvette zur Verwendung in einem Gasanalysator
US5811812A (en) * 1996-11-01 1998-09-22 Andros, Incorporated Multiple-gas NDIR analyzer
US5933245A (en) * 1996-12-31 1999-08-03 Honeywell Inc. Photoacoustic device and process for multi-gas sensing
US5886348A (en) * 1997-02-14 1999-03-23 American Intell-Sensors Corporation Non-dispersive infrared gas analyzer with interfering gas correction
US6037592A (en) * 1997-02-14 2000-03-14 Underground Systems, Inc. System for measuring gases dissolved in a liquid
US5831524A (en) * 1997-04-29 1998-11-03 Pittway Corporation System and method for dynamic adjustment of filtering in an alarm system
US5869749A (en) * 1997-04-30 1999-02-09 Honeywell Inc. Micromachined integrated opto-flow gas/liquid sensor
US5936250A (en) * 1997-07-24 1999-08-10 General Monitors, Incorporated Ultraviolet toxic gas point detector
US6067840A (en) * 1997-08-04 2000-05-30 Texas Instruments Incorporated Method and apparatus for infrared sensing of gas
DE19743954C2 (de) * 1997-10-04 2000-10-12 Wwu Wissenschaftliche Werkstat Kaltstartmeßsytem zur Messung der Kaltstartemission
US6410918B1 (en) * 1997-10-28 2002-06-25 Edwards Systems Technology, Inc. Diffusion-type NDIR gas analyzer with improved response time due to convection flow
EP1027592B1 (en) 1997-10-28 2005-04-06 Edwards Systems Technology Inc. Diffusion-type ndir gas analyzer with convection flow
FR2767195A1 (fr) * 1997-12-15 1999-02-12 Commissariat Energie Atomique Cuve d'absorption pour systeme d'analyse de gaz
US6250133B1 (en) 1998-01-06 2001-06-26 Edwards Systems Technology, Inc. Method for detecting venting of a combustion appliance within an improper space
US6201245B1 (en) * 1998-06-18 2001-03-13 Robert J. Schrader Infrared, multiple gas analyzer and methods for gas analysis
TW354647U (en) * 1998-06-29 1999-03-11 Ind Tech Res Inst Air sampler
TW354646U (en) 1998-06-29 1999-03-11 Ind Tech Res Inst Twin tube air sampler
US6229439B1 (en) 1998-07-22 2001-05-08 Pittway Corporation System and method of filtering
US6222456B1 (en) 1998-10-01 2001-04-24 Pittway Corporation Detector with variable sample rate
US6261851B1 (en) 1999-09-30 2001-07-17 International Business Machines Corporation Optimization of CMP process by detecting of oxide/nitride interface using IR system
SE522941C2 (sv) * 2000-04-26 2004-03-16 Senseair Ab Gascell
US6469303B1 (en) 2000-05-17 2002-10-22 Rae Systems, Inc. Non-dispersive infrared gas sensor
EP1170583A1 (en) * 2000-06-06 2002-01-09 Stefano Tosi Non-dispersive infrared cell for gas analysis
DE10058469C1 (de) * 2000-11-24 2002-05-02 Draeger Safety Ag & Co Kgaa Optischer Gassensor
GB2372099B (en) * 2001-02-08 2003-11-05 Status Scient Controls Ltd Gas sensor
DE20301081U1 (de) * 2002-05-24 2003-04-10 Draeger Safety Ag & Co Kgaa Optischer Gassensor
US6882426B1 (en) 2002-06-26 2005-04-19 Digital Control Systems, Inc. Gas sensor with slotted diffusive gas sample chamber
SE524900C2 (sv) * 2002-07-22 2004-10-19 Senseair Ab Gasanalyserande arrangemang
GB2396405B (en) * 2002-12-05 2006-03-08 E2V Tech Uk Ltd Gas sensors
US7034304B2 (en) * 2003-07-25 2006-04-25 Honeywell International, Inc. Chamber for gas detector
WO2005059524A1 (en) * 2003-12-19 2005-06-30 Medair Ab Liquid or gas sensor and method
JP2005345146A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Tdk Corp 炭酸ガス濃度測定装置、炭酸ガス濃度測定方法、ならびに燃焼機器
DE102004030855A1 (de) * 2004-06-25 2006-01-12 Tyco Electronics Raychem Gmbh Verfahren zur Reduzierung von Kondenswasser bei Gassensoranordnungen
US7301640B2 (en) * 2004-12-21 2007-11-27 Honeywell International, Inc. System and method of condensation reduction in an electrical unit
US7358489B2 (en) * 2005-08-04 2008-04-15 Airware, Inc. Ultra low cost NDIR gas sensors
US7664607B2 (en) 2005-10-04 2010-02-16 Teledyne Technologies Incorporated Pre-calibrated gas sensor
US7214939B1 (en) 2005-11-21 2007-05-08 Airware, Inc. Ultra low power NDIR carbon dioxide sensor fire detector
US20080035848A1 (en) * 2005-12-23 2008-02-14 Wong Jacob Y Ultra-high sensitivity NDIR gas sensors
US7259374B2 (en) * 2005-12-23 2007-08-21 Airware, Inc. Method for detecting a gas species using a super tube waveguide
GB2449433B (en) * 2007-05-21 2009-12-09 Clairair Ltd Optical gas sensor
JP5187674B2 (ja) * 2007-05-31 2013-04-24 独立行政法人石油天然ガス・金属鉱物資源機構 ガス検知用センサヘッド
US9215421B2 (en) 2008-03-18 2015-12-15 Avaya Inc. Open cable application platform (OCAP) and set-top box (STB)-based bill notification and payment application
JP5345333B2 (ja) * 2008-03-31 2013-11-20 Ｈｏｙａ株式会社 フォトマスクブランク、フォトマスク及びその製造方法
US20090300694A1 (en) 2008-05-30 2009-12-03 Avaya Technology Llc Open cable application platform (ocap) and set-top box (stb)-based calendering application
JP2010032374A (ja) * 2008-07-29 2010-02-12 Dainippon Printing Co Ltd 多層成形体検査装置
US8759767B2 (en) * 2008-08-21 2014-06-24 Lawrence Livermore National Security, Llc Combined raman and IR fiber-based sensor for gas detection
TWI537551B (zh) 2009-07-07 2016-06-11 愛克斯崔里斯科技有限公司 微粒探測器及用於操作微粒探測器之方法
US8272279B2 (en) * 2009-07-16 2012-09-25 Seer Technology, Inc. Systems and methods for chemical sampling in particulate laden gaseous environments
CA2771627A1 (en) * 2009-08-21 2011-02-24 Airware, Inc. Absorption biased ndir gas sensors
US8097856B2 (en) * 2009-08-21 2012-01-17 Airware, Inc. Super-miniaturized NDIR gas sensor
TW201107744A (en) * 2009-08-28 2011-03-01 Radiant Innovation Inc Measurement apparatus for gas concentration and method of the same
CN101672754B (zh) * 2009-10-15 2011-05-04 大连理工大学 一种激光加工气熔比检测装置和方法
US8365724B2 (en) * 2009-12-29 2013-02-05 General Electric Company Medical vaporizer and method of control of a medical vaporizer
GB201000756D0 (en) 2010-01-18 2010-03-03 Gas Sensing Solutions Ltd Gas sensor with radiation guide
CN101979988B (zh) * 2010-10-11 2012-04-25 陈文选 分析蒸发器
US8178832B1 (en) * 2011-05-31 2012-05-15 Wong Jacob Y Re-calibration methodology for NDIR gas sensors
US9927365B2 (en) * 2011-10-21 2018-03-27 Ag Instruments Ltd. Gas analysers and a method of making a gas analyser
DE102012007561B4 (de) * 2012-04-14 2014-07-10 Dräger Safety AG & Co. KGaA Gasdetektorsystem
US9804084B2 (en) * 2013-11-11 2017-10-31 Amphenol Thermometrics, Inc. Optical gas sensor
EP3069114B1 (en) * 2013-11-11 2024-04-03 Amphenol Thermometrics, Inc. Optical gas sensor
WO2016059974A1 (ja) * 2014-10-17 2016-04-21 株式会社堀場製作所 ガス分析装置
FR3030041B1 (fr) 2014-12-12 2017-12-22 Bertin Technologies Sa Dispositif de filtrage optique pour la detection de gaz
US10121673B2 (en) * 2015-08-19 2018-11-06 Industrial Technology Research Institute Miniaturize particulate matter detector and manufacturing method of a filter
CN106468648B (zh) 2015-08-19 2019-09-10 财团法人工业技术研究院 微粒子侦测器及筛选元件的制造方法
EP3477275A1 (en) * 2017-10-25 2019-05-01 Commissariat à l'Energie Atomique et aux Energies Alternatives Apparatus for the measurement of chemical activity coefficients of gas phase species in thermodynamic equilibrium with liquid phase
US10656080B2 (en) * 2018-07-06 2020-05-19 Asahi Kasei Microdevices Corporation Gas detection apparatus
EP3599455B1 (de) * 2018-07-27 2022-03-23 Heraeus Quarzglas GmbH & Co. KG Vorrichtung und verfahren zur analyse von partikeln
KR102267044B1 (ko) * 2019-12-11 2021-06-18 주식회사 태성환경연구소 비분산적외선 방식의 이산화탄소 가스센서
US11804118B2 (en) * 2022-03-01 2023-10-31 Honeywell International Inc. Aspirating smoke detector discreet sample point

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH546989A (de) * 1972-12-06 1974-03-15 Cerberus Ag Verfahren und vorrichtung zur brandmeldung.
US3893601A (en) * 1973-05-14 1975-07-08 Samuel J Winslow Spout construction
US3950980A (en) * 1974-03-27 1976-04-20 Minnesota Mining And Manufacturing Company Vapor sampling device
US3966439A (en) * 1974-11-11 1976-06-29 Vennos Spyros Lysander N Fluid sampling device
US4155247A (en) * 1977-05-02 1979-05-22 Westinghouse Electric Corp. Multi-part gas sampler
US4235097A (en) * 1979-03-27 1980-11-25 E. I. Du Pont De Nemours And Company Dosimeter for measuring gaseous contaminants
JPS5633551U (fi) * 1979-08-23 1981-04-02
JPS59173734A (ja) * 1983-03-23 1984-10-01 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 赤外線ガス分析計
US4554721A (en) * 1983-09-26 1985-11-26 Combustion Engineering, Inc. Method of manufacturing a wear resistant pipe
JPS60105947A (ja) * 1983-11-15 1985-06-11 Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd 赤外線ガス分析計
JPS60105946A (ja) * 1983-11-15 1985-06-11 Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd 赤外線ガス分析計
JPS61155757U (fi) * 1985-03-20 1986-09-27
US4749276A (en) * 1986-01-23 1988-06-07 Mcdonnell Douglas Corporation Long path absorption cell
US4709150A (en) * 1986-03-18 1987-11-24 Burough Irvin G Method and apparatus for detecting gas
JPS62280638A (ja) * 1986-05-30 1987-12-05 Showa Denko Kk ガス濃度検出セル
US4800272A (en) * 1987-03-04 1989-01-24 New York University Environmental gamma-ray and radon detector
JPS63298031A (ja) * 1987-05-29 1988-12-05 Fujitsu Ten Ltd 外気汚れ検出器
JPS63304133A (ja) * 1987-06-05 1988-12-12 Hitachi Ltd 混合ガスを用いる分析計
US4946092A (en) * 1987-11-06 1990-08-07 Nagron Precision Tooling B.V. Method for arranging a through-channel in a solid body, and the body obtained with this method
US4947570A (en) * 1988-12-22 1990-08-14 Wesco Promotions, Inc. Display unit
US4947578A (en) * 1989-06-16 1990-08-14 Ecolab Inc. Controlled release system for insect attractant
US5060508A (en) * 1990-04-02 1991-10-29 Gaztech Corporation Gas sample chamber

Also Published As

Publication number Publication date
US5060508A (en) 1991-10-29
FI933298A0 (fi) 1993-07-22
US5163332A (en) 1992-11-17
CA2101082A1 (en) 1993-05-26
WO1993011418A1 (en) 1993-06-10
CA2101082C (en) 1997-02-04
NO308332B1 (no) 2000-08-28
FI933298A (fi) 1993-08-13
NO932669D0 (no) 1993-07-23
DE69126443T2 (de) 1998-01-22
ATE154128T1 (de) 1997-06-15
AU658855B2 (en) 1995-05-04
AU9119891A (en) 1993-06-28
JP2895229B2 (ja) 1999-05-24
EP0568549A1 (en) 1993-11-10
EP0568549B1 (en) 1997-06-04
DE69126443D1 (de) 1997-07-10
DK0568549T3 (da) 1997-09-22
JPH05508929A (ja) 1993-12-09
NO932669L (no) 1993-07-23
EP0568549A4 (en) 1994-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI105595B (fi) Parannettu kaasunäytekammio
US5222389A (en) Multi-channel gas sample chamber
EP0634009B1 (en) Improved diffusion-type gas sample chamber
US4740086A (en) Apparatus for the photoacoustic detection of gases
JP2622430B2 (ja) 分析方法
US20040175837A1 (en) Compact opto-fluidic chemical sensor
US5874737A (en) Gas analyzer
KR970701341A (ko) 개선된 ndir가스 센서(improved ndir gas sensor)
FI95322C (fi) Spektroskooppinen mittausanturi väliaineiden analysointiin
US6368560B1 (en) Photometric gas detection system and method
GB2262338A (en) Infra red gas detector
GB2358245A (en) Photo-acoustic gas sensor
WO1996001418A1 (en) Ndir gas analysis using spectral ratioing technique
EP0536978A1 (en) Humidity sensors
TODA et al. Measurement of atmospheric hydrogen sulfide by continuous flow fluorometry
JP2691374B2 (ja) 濃度測定装置
JPS61108947A (ja) 光学的ガス分析計
JPH07104283B2 (ja) 大気汚染物質自動測定機
JPS60231138A (ja) 光学的ガス濃度計

Legal Events

Date Code Title Description
MA Patent expired