JP2893522B2 - Bga半導体パッケージ及びその製造方法 - Google Patents

Bga半導体パッケージ及びその製造方法

Info

Publication number
JP2893522B2
JP2893522B2 JP34808096A JP34808096A JP2893522B2 JP 2893522 B2 JP2893522 B2 JP 2893522B2 JP 34808096 A JP34808096 A JP 34808096A JP 34808096 A JP34808096 A JP 34808096A JP 2893522 B2 JP2893522 B2 JP 2893522B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
semiconductor chip
groove
connection
shortened
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP34808096A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09186267A (ja
Inventor
スン キム ジン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ERU JII SEMIKON CO Ltd
Original Assignee
ERU JII SEMIKON CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ERU JII SEMIKON CO Ltd filed Critical ERU JII SEMIKON CO Ltd
Publication of JPH09186267A publication Critical patent/JPH09186267A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2893522B2 publication Critical patent/JP2893522B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/16Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
    • H01L23/18Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device
    • H01L23/24Fillings characterised by the material, its physical or chemical properties, or its arrangement within the complete device solid or gel at the normal operating temperature of the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/053Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body
    • H01L23/055Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having an insulating or insulated base as a mounting for the semiconductor body the leads having a passage through the base
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49811Additional leads joined to the metallisation on the insulating substrate, e.g. pins, bumps, wires, flat leads
    • H01L23/49816Spherical bumps on the substrate for external connection, e.g. ball grid arrays [BGA]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/06Polymers
    • H01L2924/078Adhesive characteristics other than chemical
    • H01L2924/0781Adhesive characteristics other than chemical being an ohmic electrical conductor
    • H01L2924/07811Extrinsic, i.e. with electrical conductive fillers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/1517Multilayer substrate
    • H01L2924/15182Fan-in arrangement of the internal vias
    • H01L2924/15184Fan-in arrangement of the internal vias in different layers of the multilayer substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/153Connection portion
    • H01L2924/1531Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
    • H01L2924/15311Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、BGA(ball gri
d array )半導体パッケージ及びその製造方法に係るも
ので、詳しくは、半導体チップと外部装置との電気的接
続を短縮した接続層を設けて行うようにして半導体パッ
ケージを薄型化させ、半導体素子のアクセス時間を短縮
して高速素子(high speed device )に適用し得るよう
にしたBGA半導体パッケージ及びその製造方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来、BGA半導体パッケージにおいて
は、図4に示すように、金属パターン3が内部に埋設さ
れた基板1上に半導体チップ5が接着剤4によりダイボ
ンディングされ、該半導体チップ5上のチップパッド
(図示されず)がワイヤ7により前記基板1内の金属パ
ターン3と電気的に接続されている。かつ、前記半導体
チップ5及びワイヤ7の包含された基板1上所定部位が
エポキシモールディング樹脂6により覆われ、前記基板
1の下面に複数個の導電パッド2が形成され、それら導
電パッド2下面にリフロー工程により夫々ソルダボール
8が付着されて構成されていた。
【0003】そして、前記BGA半導体パッケージは、
印刷回路基板(図示されず)上記各ソルダボール8に
より実装され所定情報を貯蔵、又は、該貯蔵情報を読み
取るようになっていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のBGA半導体パッケージにおいては、出力端
子として用いるソルダボールが半導体チップの活性表面
(acctive surface ;半導体チップの上面)の反対側に
位置されるため、半導体チップからワイヤを経て印刷回
路基板まで至る電気的経路が長くなってアクセス時間も
長くなり、半導体パッケージの大きさを縮小させること
が難しくなるという不都合な点があった。
【0005】また、ソルダボールを半導体チップの活性
表面上にレイアウトする場合、接続のためのタブボンデ
ィング(TAB bonding )工程を必要とするため、生産性
が低下して原価が上昇するという不都合な点があった。
本発明の目的は、半導体チップの活性表面上にチップパ
ッドを短縮接続層により電気的に短い経路で接続させて
アクセス時間を減らし、高速素子に適用することが可能
で、かつ、パッケージの大きさを縮小し得るようにした
BGA半導体パッケージ及びその製造方法を提供しよう
とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】このような本発明に係る
BGA半導体パッケージにおいては、所定深さを有する
溝の形成されたパッケージ本体と、上面にチップパッド
が形成され、前記溝内に接着された半導体チップと、別
途に製作されて、内部には銅膜配線が形成され、上下面
には前記銅膜配線と電気的接続された接続パッドが夫々
形成され、前記上面の接続パッドには出力端子の形成さ
れた短縮接続手段と、該短縮接続手段の下面の接続パッ
ドと前記半導体チップのチップパッドとを接着させる異
方性接着剤と、を備えて構成され、前記溝の内部は樹脂
で密封されたことを特徴とする。また、本発明に係るB
GA半導体パッケージの製造方法においては、所定深さ
を有する溝の形成されたパッケージ本体を準備する工程
と、前記溝内に、形成されたチップパッドが上向きにな
るようにして半導体チップを接着する工程と、内部には
銅膜配線が形成され、上下面には前記銅膜配線と電気的
接続された接続パッドが夫々接続され、前記上面の接続
パッドには出力端子の接続された短縮接続手段を準備す
る工程と、前記半導体チップの上面のチップパッドと前
記短縮接続手段の下面の接続パッドとが整列されるよう
に、異方性接着剤を利用して前記半導体チップと前記短
縮接続手段とを熱圧着させて接着させる工程と、前記溝
内に樹脂を密封する工程と、を順次行うことを特徴とす
る。
【0007】
【0008】
【0009】
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態に対し
説明する。本発明に係るBGA半導体パッケージ及びそ
の製造方法においては、図1に示すように、プラスチッ
ク又はセラミック材質のパッケージ本体11内に所定大
きさの溝11aが切刻形成され、該溝11a内底面上に
半導体チップ15がエポキシ接着剤(epoxy adhesive)
14により接着され、前記半導体チップ15の活性領域
上面の両側に夫々チップパッド17が形成され、それら
チップパッド17と電気的接続される短縮接続手段とし
ての短縮接続層20が前記半導体チップ15上に接着フ
ィルム24により接着されて構成されている。
【0011】かつ、図2に示すように、前記半導体チッ
プ15のチップパッド17と短縮接続層20とは接着剤
27により熱圧着されて電気的に接続され、該接着剤2
7の大きさはチップパッド17の大きさよりもやや小さ
く形成され熱圧着過程中チップパッド17と容易に整列
(align )されながら接着されるようになっている。こ
の場合、前記チップパッド17上にソルダバンプを形成
した後(図示されず)、短縮接続層20を接着剤27を
用いて電気的に接続させることもできる。
【0012】また、前記短縮接続層20においては、図
3に示すように銅膜配線23が内部に埋設された回路
器21と、該回路器21の両側下面に形成され前記銅
配線23に電気的接続される接続パッド(interconnect
ion pad )26と、前記回路器21の上面に所定間隔を
おいて夫々形成され、前記銅配線23に電気的接続さ
れる複数の接続パッドである導電パッド22と、を備え
ている。
【0013】さらに、前記各導電パッド22上に前記短
縮接続層20の出力端子(outputterminal )としてソ
ルダボール25を付着するか、それら導電パッド22上
に出力端子としてソルダバンプを形成することもでき
る。そして、前記回路器21は、フレキシブルプリント
回路器(flexible printcircuitor)が用いられ、該回
路器21下面に単面又は両面接着フィルム24が位置さ
れて該接着フィルム24により短縮接続層20が半導体
チップ15上に熱圧着されるようになっており、該接着
フィルム24は熱硬化性若しくは熱可燒性樹脂フィルム
が用いられる。かつ、前記回路器21の厚さは5〜40
0μmで、接着フィルム24の厚さは10〜400μm
である。
【0014】また、前記接着剤27は、液状の異方性接
着剤(anisotropic conductive adhesive )又は固体状
の異方性電導膜(anisotropic coductive film)が用い
られ、その厚さは5〜200μmで、内部に電導ボール
28が形成されている。さらに、前記接続パッド26
は、前記回路器21の両方側下面にスパッタリング、電
気鍍金(electroplating)、及び蒸発(evaporation )
中、いずれか一つを施して蒸着され、銅又は銅/金の合
金が用いられ、最大1mm以下の高さと、0.3mm以
上の幅とを有している。
【0015】そして、前記短縮接続層20の接続パッド
26は、前記半導体チップ15上のチップパッド17上
に前記接着剤27により接着され、それら短縮接続層2
0とチップパッド17との電気的経路が形成されてい
る。かつ、前記短縮接続層20は、半導体チップ15の
活性領域上に前記接着フィルム24により熱圧着され、
それら半導体チップ15及び短縮接続層20の収納され
た前記パッケージ本体11の溝11a内空間部位はモー
ルディング樹脂16により密封されている。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るBGA
半導体パッケージ及びその製造方法においては、半導体
チップの活性領域上にチップパッドと電気的接続する短
縮接続手段が形成されているため、信号のアクセス時間
を短縮させて、高速素子に適用するようになるという効
果がある。
【0017】かつ、前記短縮接続層の接着剤とチップパ
ッドとが直接接続されるため、半導体チップの設計時に
チップパッドのピッチを現在の160μmから30〜4
0μmまでに短縮し、200ピン以上の多ピン構造の半
導体パッケージにおける半導体チップの大きさを減らし
得るという効果がある。また、半導体チップのチップパ
ッドと短縮接続層とが直接接続されるため、製造工程が
簡単になって生産性が向上されるという効果がある。
【0018】更に、短縮接続層の製造工程中ソルダボー
ルを予め製造し得るようになるため、製造原価が節減さ
れるという効果がある。そして、短縮接続層上面に出力
端子を直接形成されるためパッケージの大きさが縮小さ
れ、薄型のBGA半導体パッケージの薄型化を図り得る
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る短縮接続層を有するBGA半導体
パッケージの縦断面図である。
【図2】図1の短縮接続層を有するBGA半導体パッケ
ージのA部分拡大図である。
【図3】本発明に係る短縮接続層の縦断面図である。
【図4】従来のBGA半導体パッケージの縦断面図であ
る。
【符号の説明】
11:パッケージ本体 11a:溝 15:半導体チップ 16:モールディング樹脂 20:短縮接続層 21:回路器 22:導電パッド 23:銅膜金属配線 24:接着フィルム 25:出力端子(ソルダボール) 26:接続パッド 27:接着剤 28:電導ボール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−94438(JP,A) 特開 昭59−44849(JP,A) 特開 平7−321157(JP,A) 特開 平3−274739(JP,A) 特開 平6−188548(JP,A) 特開 平7−202064(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 23/12 H01L 21/60 311

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所定深さを有する溝の形成されたパッケー
    ジ本体と、 上面にチップパッドが形成され、前記溝内に接着された
    半導体チップと、 別途に製作されて、内部には銅膜配線が形成され、上下
    面には前記銅膜配線と電気的接続された接続パッドが夫
    々形成され、前記上面の接続パッドには出力端子の形成
    された短縮接続手段と、 該短縮接続手段の下面の接続パッドと前記半導体チップ
    のチップパッドとを接着させる異方性接着剤と、を備え
    て構成され、 前記溝の内部は樹脂で密封された ことを特徴とするBG
    A半導体パッケージ。
  2. 【請求項2】 所定深さを有する溝の形成されたパッケー
    ジ本体を準備する工程と、 前記溝内に、形成されたチップパッドが上向きになるよ
    うにして半導体チップを接着する工程と、 内部には銅膜配線が形成され、上下面には前記銅膜配線
    と電気的接続された接続パッドが夫々接続され、前記上
    面の接続パッドには出力端子の形成された短縮接続手段
    を準備する工程と、 前記半導体チップの上面のチップパッドと前記短縮接続
    手段の下面の接続パッドとが整列されるように、異方性
    接着剤を利用して前記半導体チップと前記短縮接続手段
    とを熱圧着させて接着させる工程と、 前記溝内に樹脂を密封する工程と、 を順次行うことを特徴とするBGA半導体パッケージの
    製造方法。
JP34808096A 1995-12-29 1996-12-26 Bga半導体パッケージ及びその製造方法 Expired - Lifetime JP2893522B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950067334A KR0179802B1 (ko) 1995-12-29 1995-12-29 반도체 패키지
KR67334/1995 1995-12-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09186267A JPH09186267A (ja) 1997-07-15
JP2893522B2 true JP2893522B2 (ja) 1999-05-24

Family

ID=19447661

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34808096A Expired - Lifetime JP2893522B2 (ja) 1995-12-29 1996-12-26 Bga半導体パッケージ及びその製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5990563A (ja)
JP (1) JP2893522B2 (ja)
KR (1) KR0179802B1 (ja)
CN (1) CN1076873C (ja)
TW (1) TW425642B (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6791194B1 (en) * 1996-05-30 2004-09-14 Hitachi, Ltd. Circuit tape having adhesive film, semiconductor device, and a method for manufacturing the same
JP3695893B2 (ja) * 1996-12-03 2005-09-14 沖電気工業株式会社 半導体装置とその製造方法および実装方法
JP3639088B2 (ja) * 1997-06-06 2005-04-13 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置及び配線テープ
KR100246366B1 (ko) * 1997-12-04 2000-03-15 김영환 에리어 어레이형 반도체 패키지 및 그 제조방법
US6150730A (en) * 1999-07-08 2000-11-21 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Chip-scale semiconductor package
US6239489B1 (en) * 1999-07-30 2001-05-29 Micron Technology, Inc. Reinforcement of lead bonding in microelectronics packages
US6291884B1 (en) * 1999-11-09 2001-09-18 Amkor Technology, Inc. Chip-size semiconductor packages
US6386890B1 (en) 2001-03-12 2002-05-14 International Business Machines Corporation Printed circuit board to module mounting and interconnecting structure and method
US6695623B2 (en) 2001-05-31 2004-02-24 International Business Machines Corporation Enhanced electrical/mechanical connection for electronic devices
KR101139984B1 (ko) * 2005-12-26 2012-05-02 히다치 가세고교 가부시끼가이샤 접착제 조성물, 회로 접속 재료 및 회로 부재의 접속 구조

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4811081A (en) * 1987-03-23 1989-03-07 Motorola, Inc. Semiconductor die bonding with conductive adhesive
US5656862A (en) * 1990-03-14 1997-08-12 International Business Machines Corporation Solder interconnection structure
US5148266A (en) * 1990-09-24 1992-09-15 Ist Associates, Inc. Semiconductor chip assemblies having interposer and flexible lead
US5258330A (en) * 1990-09-24 1993-11-02 Tessera, Inc. Semiconductor chip assemblies with fan-in leads
WO1993003989A1 (en) * 1991-08-13 1993-03-04 Rite-Hite Corporation A releasable locking device
US5319242A (en) * 1992-03-18 1994-06-07 Motorola, Inc. Semiconductor package having an exposed die surface
US5371404A (en) * 1993-02-04 1994-12-06 Motorola, Inc. Thermally conductive integrated circuit package with radio frequency shielding
US5381599A (en) * 1993-04-12 1995-01-17 Delco Electronics Corp. Liquid crystal polymer encapsulated electronic devices and methods of making the same
JP3258764B2 (ja) * 1993-06-01 2002-02-18 三菱電機株式会社 樹脂封止型半導体装置の製造方法ならびに外部引出用電極およびその製造方法
US5397921A (en) * 1993-09-03 1995-03-14 Advanced Semiconductor Assembly Technology Tab grid array
US5583370A (en) * 1994-03-04 1996-12-10 Motorola Inc. Tab semiconductor device having die edge protection and method for making the same
JPH07302858A (ja) * 1994-04-28 1995-11-14 Toshiba Corp 半導体パッケージ
US5657206A (en) * 1994-06-23 1997-08-12 Cubic Memory, Inc. Conductive epoxy flip-chip package and method
JP2546192B2 (ja) * 1994-09-30 1996-10-23 日本電気株式会社 フィルムキャリア半導体装置
US5616958A (en) * 1995-01-25 1997-04-01 International Business Machines Corporation Electronic package
US5637920A (en) * 1995-10-04 1997-06-10 Lsi Logic Corporation High contact density ball grid array package for flip-chips
US5674785A (en) * 1995-11-27 1997-10-07 Micron Technology, Inc. Method of producing a single piece package for semiconductor die

Also Published As

Publication number Publication date
US5990563A (en) 1999-11-23
KR0179802B1 (ko) 1999-03-20
JPH09186267A (ja) 1997-07-15
KR970053678A (ko) 1997-07-31
CN1153999A (zh) 1997-07-09
CN1076873C (zh) 2001-12-26
TW425642B (en) 2001-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5838061A (en) Semiconductor package including a semiconductor chip adhesively bonded thereto
JP3526788B2 (ja) 半導体装置の製造方法
US8143727B2 (en) Adhesive on wire stacked semiconductor package
US6414381B1 (en) Interposer for separating stacked semiconductor chips mounted on a multi-layer printed circuit board
KR100523495B1 (ko) 반도체 장치 및 그 제조 방법
US6759737B2 (en) Semiconductor package including stacked chips with aligned input/output pads
US5615089A (en) BGA semiconductor device including a plurality of semiconductor chips located on upper and lower surfaces of a first substrate
US6555917B1 (en) Semiconductor package having stacked semiconductor chips and method of making the same
US20030162326A1 (en) Semiconductor device and manufactuiring method thereof
KR100265566B1 (ko) 칩 스택 패키지
US6337226B1 (en) Semiconductor package with supported overhanging upper die
KR19990006158A (ko) 볼 그리드 어레이 패키지
US6340839B1 (en) Hybrid integrated circuit
JP2893522B2 (ja) Bga半導体パッケージ及びその製造方法
US5559305A (en) Semiconductor package having adjacently arranged semiconductor chips
KR19990069438A (ko) 칩 스택 패키지
KR100533847B1 (ko) 캐리어 테이프를 이용한 적층형 플립 칩 패키지
JP2844058B2 (ja) 半導体パッケージ
US7009296B1 (en) Semiconductor package with substrate coupled to a peripheral side surface of a semiconductor die
JP3061014B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPH10335366A (ja) 半導体装置
JP2001177049A (ja) 半導体装置及びicカード
JP2756791B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP2001015677A (ja) 半導体装置
JPH09330952A (ja) プリント回路基板および半導体チップの積層方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080305

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090305

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100305

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100305

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110305

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110305

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120305

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130305

Year of fee payment: 14