JP2893522B2 - Bga半導体パッケージ及びその製造方法 - Google Patents
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Description
d array )半導体パッケージ及びその製造方法に係るも
ので、詳しくは、半導体チップと外部装置との電気的接
続を短縮した接続層を設けて行うようにして半導体パッ
ケージを薄型化させ、半導体素子のアクセス時間を短縮
して高速素子(high speed device )に適用し得るよう
にしたBGA半導体パッケージ及びその製造方法に関す
るものである。
は、図4に示すように、金属パターン3が内部に埋設さ
れた基板1上に半導体チップ5が接着剤4によりダイボ
ンディングされ、該半導体チップ5上のチップパッド
(図示されず)がワイヤ7により前記基板1内の金属パ
ターン3と電気的に接続されている。かつ、前記半導体
チップ5及びワイヤ7の包含された基板1上所定部位が
エポキシモールディング樹脂6により覆われ、前記基板
1の下面に複数個の導電パッド2が形成され、それら導
電パッド2下面にリフロー工程により夫々ソルダボール
8が付着されて構成されていた。
印刷回路基板(図示されず)に上記各ソルダボール8に
より実装され所定情報を貯蔵、又は、該貯蔵情報を読み
取るようになっていた。
うな従来のBGA半導体パッケージにおいては、出力端
子として用いるソルダボールが半導体チップの活性表面
(acctive surface ;半導体チップの上面)の反対側に
位置されるため、半導体チップからワイヤを経て印刷回
路基板まで至る電気的経路が長くなってアクセス時間も
長くなり、半導体パッケージの大きさを縮小させること
が難しくなるという不都合な点があった。
表面上にレイアウトする場合、接続のためのタブボンデ
ィング(TAB bonding )工程を必要とするため、生産性
が低下して原価が上昇するという不都合な点があった。
本発明の目的は、半導体チップの活性表面上にチップパ
ッドを短縮接続層により電気的に短い経路で接続させて
アクセス時間を減らし、高速素子に適用することが可能
で、かつ、パッケージの大きさを縮小し得るようにした
BGA半導体パッケージ及びその製造方法を提供しよう
とするものである。
BGA半導体パッケージにおいては、所定深さを有する
溝の形成されたパッケージ本体と、上面にチップパッド
が形成され、前記溝内に接着された半導体チップと、別
途に製作されて、内部には銅膜配線が形成され、上下面
には前記銅膜配線と電気的接続された接続パッドが夫々
形成され、前記上面の接続パッドには出力端子の形成さ
れた短縮接続手段と、該短縮接続手段の下面の接続パッ
ドと前記半導体チップのチップパッドとを接着させる異
方性接着剤と、を備えて構成され、前記溝の内部は樹脂
で密封されたことを特徴とする。また、本発明に係るB
GA半導体パッケージの製造方法においては、所定深さ
を有する溝の形成されたパッケージ本体を準備する工程
と、前記溝内に、形成されたチップパッドが上向きにな
るようにして半導体チップを接着する工程と、内部には
銅膜配線が形成され、上下面には前記銅膜配線と電気的
接続された接続パッドが夫々接続され、前記上面の接続
パッドには出力端子の接続された短縮接続手段を準備す
る工程と、前記半導体チップの上面のチップパッドと前
記短縮接続手段の下面の接続パッドとが整列されるよう
に、異方性接着剤を利用して前記半導体チップと前記短
縮接続手段とを熱圧着させて接着させる工程と、前記溝
内に樹脂を密封する工程と、を順次行うことを特徴とす
る。
説明する。本発明に係るBGA半導体パッケージ及びそ
の製造方法においては、図1に示すように、プラスチッ
ク又はセラミック材質のパッケージ本体11内に所定大
きさの溝11aが切刻形成され、該溝11a内底面上に
半導体チップ15がエポキシ接着剤(epoxy adhesive)
14により接着され、前記半導体チップ15の活性領域
上面の両側に夫々チップパッド17が形成され、それら
チップパッド17と電気的接続される短縮接続手段とし
ての短縮接続層20が前記半導体チップ15上に接着フ
ィルム24により接着されて構成されている。
プ15のチップパッド17と短縮接続層20とは接着剤
27により熱圧着されて電気的に接続され、該接着剤2
7の大きさはチップパッド17の大きさよりもやや小さ
く形成され熱圧着過程中チップパッド17と容易に整列
(align )されながら接着されるようになっている。こ
の場合、前記チップパッド17上にソルダバンプを形成
した後(図示されず)、短縮接続層20を接着剤27を
用いて電気的に接続させることもできる。
3に示すように、銅膜配線23が内部に埋設された回路
器21と、該回路器21の両側下面に形成され前記銅膜
配線23に電気的接続される接続パッド(interconnect
ion pad )26と、前記回路器21の上面に所定間隔を
おいて夫々形成され、前記銅膜配線23に電気的接続さ
れる複数の接続パッドである導電パッド22と、を備え
ている。
縮接続層20の出力端子(outputterminal )としてソ
ルダボール25を付着するか、それら導電パッド22上
に出力端子としてソルダバンプを形成することもでき
る。そして、前記回路器21は、フレキシブルプリント
回路器(flexible printcircuitor)が用いられ、該回
路器21下面に単面又は両面接着フィルム24が位置さ
れて該接着フィルム24により短縮接続層20が半導体
チップ15上に熱圧着されるようになっており、該接着
フィルム24は熱硬化性若しくは熱可燒性樹脂フィルム
が用いられる。かつ、前記回路器21の厚さは5〜40
0μmで、接着フィルム24の厚さは10〜400μm
である。
着剤(anisotropic conductive adhesive )又は固体状
の異方性電導膜(anisotropic coductive film)が用い
られ、その厚さは5〜200μmで、内部に電導ボール
28が形成されている。さらに、前記接続パッド26
は、前記回路器21の両方側下面にスパッタリング、電
気鍍金(electroplating)、及び蒸発(evaporation )
中、いずれか一つを施して蒸着され、銅又は銅/金の合
金が用いられ、最大1mm以下の高さと、0.3mm以
上の幅とを有している。
26は、前記半導体チップ15上のチップパッド17上
に前記接着剤27により接着され、それら短縮接続層2
0とチップパッド17との電気的経路が形成されてい
る。かつ、前記短縮接続層20は、半導体チップ15の
活性領域上に前記接着フィルム24により熱圧着され、
それら半導体チップ15及び短縮接続層20の収納され
た前記パッケージ本体11の溝11a内空間部位はモー
ルディング樹脂16により密封されている。
半導体パッケージ及びその製造方法においては、半導体
チップの活性領域上にチップパッドと電気的接続する短
縮接続手段が形成されているため、信号のアクセス時間
を短縮させて、高速素子に適用するようになるという効
果がある。
ッドとが直接接続されるため、半導体チップの設計時に
チップパッドのピッチを現在の160μmから30〜4
0μmまでに短縮し、200ピン以上の多ピン構造の半
導体パッケージにおける半導体チップの大きさを減らし
得るという効果がある。また、半導体チップのチップパ
ッドと短縮接続層とが直接接続されるため、製造工程が
簡単になって生産性が向上されるという効果がある。
ルを予め製造し得るようになるため、製造原価が節減さ
れるという効果がある。そして、短縮接続層上面に出力
端子を直接形成されるためパッケージの大きさが縮小さ
れ、薄型のBGA半導体パッケージの薄型化を図り得る
という効果がある。
パッケージの縦断面図である。
ージのA部分拡大図である。
る。
Claims (2)
- 【請求項1】所定深さを有する溝の形成されたパッケー
ジ本体と、 上面にチップパッドが形成され、前記溝内に接着された
半導体チップと、 別途に製作されて、内部には銅膜配線が形成され、上下
面には前記銅膜配線と電気的接続された接続パッドが夫
々形成され、前記上面の接続パッドには出力端子の形成
された短縮接続手段と、 該短縮接続手段の下面の接続パッドと前記半導体チップ
のチップパッドとを接着させる異方性接着剤と、を備え
て構成され、 前記溝の内部は樹脂で密封された ことを特徴とするBG
A半導体パッケージ。 - 【請求項2】 所定深さを有する溝の形成されたパッケー
ジ本体を準備する工程と、 前記溝内に、形成されたチップパッドが上向きになるよ
うにして半導体チップを接着する工程と、 内部には銅膜配線が形成され、上下面には前記銅膜配線
と電気的接続された接続パッドが夫々接続され、前記上
面の接続パッドには出力端子の形成された短縮接続手段
を準備する工程と、 前記半導体チップの上面のチップパッドと前記短縮接続
手段の下面の接続パッドとが整列されるように、異方性
接着剤を利用して前記半導体チップと前記短縮接続手段
とを熱圧着させて接着させる工程と、 前記溝内に樹脂を密封する工程と、 を順次行うことを特徴とするBGA半導体パッケージの
製造方法。
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