JP2856119B2 - 光磁気ディスク装置のビーム合焦点位置調整装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気光学的に情報
を記録・再生する光磁気ディスク装置のビーム合焦点位
置調整装置に関し、特にレーザビームを集束した状態で
光磁気ディスクの記録膜に照射するための焦点合わせ調
整装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、光磁気ディスク媒体（以下、光磁
気ディスクという）に対しレーザ光束を微小な光スポッ
トに絞って照射することにより、情報の記録または記録
された情報の再生を行う光磁気ディスク装置は、レーザ
光束を極めて小さな光スポットに集束して記録膜に照射
することにより、より高密度な情報の記録・再生を実現
している。

【０００３】このような動作を実現するためには、光ス
ポットが正確に光磁気ディスクと記録膜面に集束される
ことが重要であり、通常、光磁気ディスク装置において
は、光スポット集束位置の記録膜面に対する位置ずれ
（焦点ずれ）を検出し、このずれ（フォーカスエラー）
を小さくするように、光スポットの記録面に対する垂直
方向の位置（すなわち上下動）を修正する焦点制御（フ
ォーカシング制御）が行われている。

【０００４】この焦点制御のための焦点位置ずれ（フォ
ーカスエラー）の検出は、一般に、照射ビームの反射光
の焦点ずれによる変化を幾何光学的にとらえる形で行わ
れ、例えば、非点収差法、またはナイフエッジ法等と呼
ばれる幾何光学的検出法が使用されている。

【０００５】これらの幾何光学的焦点誤差検出法は、実
用上十分な検出感度を有してはいるが、幾何光学的な検
出手法であるため、光学部品もしくは光検出器の配置の
ずれが、焦点検出の誤差（オフセット）を発生するとい
う欠点がある。

【０００６】また、光磁気ディスク装置の場合、焦点誤
差は１μｍより十分小さく抑えなければばならいが、幾
何光学的手段のみで、このような精度を確保するのは、
製造および調整を非常に厳密に行う必要がある上、時間
経過，温度変化等により検出誤差が発生することが避け
られない。

【０００７】このような問題を解決するため、例えば、
特公平４−８０４５５号公報には、光磁気ディスク上の
定められたいくつかのトラック上に、高密度のパターン
をあらかじめ記録（形成）しておき、その再生振幅を最
大にするように、焦点制御系に加えるオフセット調整信
号の値を調整する方法が開示されている。

【０００８】また、特開昭６２−１４１６４１号公報に
は、光ビームの反射光に位相差を生じるピット列をあら
かじめディスクに形成しておき、それをトラックに垂直
な線分で２分割された光検出器を備えた光ヘッドにより
再生する際の、ピットエッジ部での再生パルスのピーク
タイミングのずれで照射ビームの焦点ずれを検出する方
法が開示されている。

【０００９】これらはいずれも、幾何光学的な焦点検出
とは異なり、照射ビームの集束状態をより直接的に捉え
ようとするものである。しかしながら、上記の方式はど
ちらも、ディスク媒体上に特定の焦点調整用パターンを
あらかじめ記録（形成）しておく必要があり、かつ読み
出し状態のビームの調整しか行えないという欠点を有し
ている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、幾何
光学的焦点誤差検出法は製造時の調整が難しく、経時変
化、温度によるオフセットの発生が避けられない。ま
た、特公平４−８０４５５号公報，特開昭６２−１４１
６４１号公報には、それぞれ光磁気ディスクに特殊なパ
ターンを書き込んでおき、その再生出力が最適になるよ
うにフォーカス調整信号（焦点制御にオフセットとして
加算する信号）の値を調整する方式が示されるが、この
方式では、特殊パターンを光磁気ディスクに書き込んで
おかなけれならないという問題の他に、再生状態の光ビ
ームの焦点合わせしかできないという欠点がある。

【００１１】よく知られているように、光磁気ディスク
装置においてビームがもっとも良く集束されていること
が要求されるのは、記録動作時である。これは光磁気デ
ィスク装置では記録膜上で記録ビームが照射され、温度
上昇が十分あった場所のみに記録が行われるため、ビー
ムが十分絞られていないと、小さなビットを高密度で記
録できなくなるばかりでなく、ぼやけたビームでは十分
な温度上昇を与えられず、記録が不完全になることがあ
るためである。

【００１２】本発明は、かかる従来技術の欠点を解決
し、記録動作中の照射光ビームの集束状態を最適にする
ような焦点位置の調整を行うビーム合焦点位置調整装置
を提供するものであって、これにより、記録動作中に光
磁気ディスクの光照射部の温度上昇が最高になるよう
に、照射ビームの焦点位置が調整され、記録に最も好ま
しい集束状態のビームを記録膜に照射されるため、高密
度記録を安定に行う光磁気ディスク装置が実現できる。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明の光磁気ディスク
装置のビーム合焦点位置調整装置は、光磁気ディスクに
記録が可能なレベルの光ビームをパルス的に照射し、そ
の際に照射ビームの反射光より得られる光磁気ディスク
の記録膜の光照射点における温度上昇状態を示す信号を
得る手段と、記録膜の温度上昇状態を示す信号が最大値
（最高温度到達を示す）になるように、光ビームの焦点
位置を修正する手段とを備え、同一光パワーを照射した
際にビーム照射部の温度上昇が最も大きくなる位置に光
ビーム焦点を合わせることにより、記録に最良の状態に
ビーム位置を調整することができる。

【００１４】本発明によれば、記録状態でビームが最も
絞られたところ（ビームウェスト）が記録膜に照射され
ることにより、高密度でも分解能の高い記録が行われ
る。また、ビームのぼけによる熱エネルギーの損失が少
なく抑えられるため、少ない記録パワーで良好な記録が
行われ、特に高密度で変動の少ない記録が要求されるマ
ークエッジ記録（パルス幅変調記録）を安定に動作させ
ることを可能にする。

【００１５】

【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。

【００１６】図１は、本発明の一実施の形態を示す構成
図である。図１を参照すると、半導体レーザ６は、レー
ザ駆動回路１０からレーザ駆動電流ａを供給されて、情
報の記録（書き込み）または再生（読み出し）のために
レーザ光を出射する。コリメートレンズ５は、半導体レ
ーザ６から出射された発散性のレーザ光を平行なレーザ
光束に変える。

【００１７】ビームスプリッタ４は、光磁気ディスク１
に入射する光束と反射される光束を分離するためのもの
で、直線偏光の光を変化なく通過、および反射する無偏
光のハーフミラー（半透明鏡）プリズムである。コリメ
ートレンズ５からの入射光は、一部は図の左側方向に反
射されるが、過半の入射光はビームスプリッタ４を直進
通過し、対物レンズ２に入射する。対物レンズ２は、並
行なレーザ光束を微小な光スポットに集束するためのも
のであり、焦点方向（光軸に平行方向）に位置を移動さ
せるように対物レンズアクチュエータ３に取り付けられ
ている。

【００１８】なお、集束ビームを光磁気ディスク１のト
ラックに追従させるために、対物レンズ２を光磁気ディ
スク１の半径方向（トラック横断方向）に移動させるト
ラッキングアクチュエータ（対物レンズアクチュエータ
の一つ）も存在するが、本発明とは直接関係がないた
め、図示および説明を省略する。

【００１９】次に、対物レンズアクチュエータ３によ
り、対物レンズ２が光磁気ディスク１の記録面に対して
垂直方向に移動させると、集束された光スポットの焦点
位置が変化する。また、光磁気ディスク１の記録膜面で
反射された光ビームは再び対物レンズ２に戻り、平行な
光束に戻されてビームスプリッタ４に入る。

【００２０】ビームスプリッタ４に戻った反射光ビーム
の一部は、図の右側方向に反射され、別のビームスプリ
ッタ７に入射する。このビームスプリッタ７は、光磁気
ディスク１からの反射光ビームをサーボエラー信号検出
用の光ビームと、光磁気信号（以下、ＭＯ信号という）
再生のための光ビームとに分離するためのものであり、
単なる無偏光性のハーフミラーであってもよいが、ＭＯ
信号検出のために特別な偏光成分を選択的に透過させる
性質を備えた偏光ビームスプリッタを用いてもよい。ま
たは、特開昭６３−１８７４４１号公報に開示されてい
る反射光を同一平面に照射される３つのビームに分割
し、そのうちの２つのビームをＭＯ信号検出用、残りの
１つをサーボ信号検出用に使用できるウォラストンプリ
ズムであってもよい。

【００２１】次に、ビームスプリッタ７により反射され
たサーボ信号検出用のビームは、図の下方に向い、フォ
ーカスエラー信号検出系２０に入射する。このフォーカ
スエラー検出系としては、ナイフエッジを使用するも
の、円筒レンズによる非点収差を利用するもの、または
ダブルプリズムや４分割プリズムを使用する方法等が知
られており、そのいずれを用いてもよいが、本例では４
分割プリズム法を使用する。

【００２２】また、サーボ信号検出の光学系としては、
この他に照射光ビームの記録トラックに対する位置ずれ
を検出するトラックエラー検出系があるが、本発明とは
直接関係がないため、図示および説明を省略する。

【００２３】フォーカスエラー検出系２０を構成する光
検出器からは、照射ビームの集束位置の記録面からのず
れ量を示すフォーカスエラー信号ｆが出力される。フォ
ーカスオフセット加算回路２５は、フォーカスエラー信
号ｆに後述するオフセット調整信号ｇを加えて、フォー
カスサーボ回路２６に入力する。そして、フォーカスサ
ーボ回路２６は、入力信号を位相補償してフォーカス制
御信号ｈとしてパワーアンプ２７に入力する。パワーア
ンプ２７は、入力したフォーカス制御信号ｈを増幅しア
クチュエータ駆動電流ｊとして対物レンズアクチュエー
タ３に供給し、対物レンズ２を光軸方向（光磁気ディス
ク面に垂直方向）に駆動する。

【００２４】このフォーカスエラー検出系２０から対物
レンズアクチュエータ３で構成されるフォーカスサーボ
（焦点位置制御）ループの働きにより、対物レンズ２よ
り光磁気ディスク１に照射される光ビームは、光磁気デ
ィスク１の記録膜面にほぼ正確に集束される。

【００２５】ただし、前述したように、フォーカスエラ
ー信号検出系２０は幾何光学的手段を用いて焦点ずれを
検出するものであるため、部品配置の機械的位置ずれの
影響を受けやすく、温度変化や時間経過等により、フォ
ーカスエラー信号ｆが０の位置を必ずしも最適合焦位置
として示さなくなるという問題がある。

【００２６】一方、ビームスプリッタ７を通過したＭＯ
信号検出のための光ビームは、ＭＯ信号検出系２１に入
射する。このＭＯ信号検出系２１は、光磁気ディスク１
からの反射光による直線偏光の方向の変化を捉えて、光
磁気ディスク１の記録膜の磁化の変化を検出するもので
あって、Ｐ偏光とＳ偏光とを分離する偏光ビームスプリ
ッタ、またはウォラストンプリズム等により構成され、
偏光方向の異なる２つの光ビームを別個に受ける２つ
（またはそれ以上）の光検出器を備えている。そして、
それら２つの光検出器の出力（電流）の差分が、光磁気
ディスク１の記録膜の磁化の変化を示すＭＯ再生信号ｍ
として出力される。

【００２７】ここで、光磁気ディスク１に磁化情報の読
み出しのための小さなパワーの光が照射されている場合
には、ＭＯ再生信号ｍは記録膜に記録された磁化情報を
読み出す（再生する）ために使用されるが、一方、光磁
気ディスク１に記録を行う大きなパワーの光が照射され
ている場合は、記録膜の温度上昇によって起こる磁化の
変化を示す信号となる。すなわち、記録動作中のＭＯ再
生信号ｍの変化をモニターすることにより、記録膜のキ
ュリー点を超える温度上昇を捉えることができる。昇温
状態モニター回路２２は、記録動作中の反射光から得ら
れるＭＯ再生信号ｍをモニターすることにより、記録膜
上の光ビーム照射点の温度上昇の変化を捉えるための回
路である。

【００２８】次に、記録（書き込み）動作時には、装置
制御回路１４からの記録指令信号ｃを受けて、記録制御
回路１２が記録ゲート信号ｂをオンにするとともに、記
録データ信号ｄを記録信号変調回路１１に送出する。記
録信号変調回路１１は、記録データ信号ｄを記録に適し
た記録パルスｐ（例えば、１−７ＲＬＬ符号でマークエ
ッジ記録対応）に変換する。レーザ駆動回路１０は、こ
の記録パルスｐを受けてレーザ駆動電流を変調し、半導
体レーザ６から記録のための大きなパワーの光パルスを
断続的に発生させる。記録動作中も光磁気ディスク１か
らの反射光はＭＯ信号検出系２１に入射し、ＭＯ信号検
出系２１は記録膜の光照射点の磁化が、その部分の温度
上昇により変化する様子を示すＭＯ再生信号ｍを出力す
る。昇温状態モニター回路２２は、この記録中の磁化の
変化を示すＭＯ再生信号ｍを記録信号変調回路１１から
送出される記録パルスタイミング信号ｔに同期してサン
プリングし、記録膜の光ビーム照射点の温度上昇量を概
略示す昇温モニター信号ｑを出力する。フォーカスオフ
セット制御回路１３は、Ａ／Ｄ変換器２３を介して昇温
モニター信号ｑを取り込み、信号値の大小を判別する。

【００２９】次に、合焦位置の調整が必要な場合、装置
制御回路１４は記録制御回路１２に一定の記録パワーに
よる連続記録動作を指令するとともに、フォーカスオフ
セット制御回路１３にフォーカスオフセットの調整を指
令する。フォーカスオフセット調整回路１３は、Ｄ／Ａ
変換器２４を介してオフセット調整信号ｇの値を変化さ
せ、光ビームが記録面に最適に集束されて照射されるよ
うに調整する動作を行う。すなわち、一定の範囲内でオ
フセット調整信号ｇを変化させ、それぞれのオフセット
調整信号ｇの値における昇温モニター信号ｑをＡ／Ｄ変
換器２３を介して取り込み、昇温モニター信号ｑが最大
（最高温度到達を示す）になる調整値にオフセット調整
信号ｑを設定する。

【００３０】具体的には、オフセット調整信号ｇの値を
正（プラス）の上限値から負（マイナス）の下限値ま
で、段階的に変化させ、その間に昇温モニター信号ｑが
最大になるところを探す。そして、昇温モニター信号ｑ
が最大になったときのオフセット調整信号ｇの値を記憶
しておき、オフセット調整信号ｇの最適値としてその値
を設定する。

【００３１】このようなオフセット調整信号の調整動作
により、照射光ビームの集束状態を記録が最適に行われ
るようにする。すなわち、光磁気ディスク１の記録膜面
でビームが最も絞られ、記録の際の記録膜面の温度上昇
が最も大きく得られる状態に調整する。

【００３２】図２は、本発明の光磁気ディスク装置のビ
ーム合焦点位置調整装置の記録動作時における主要部の
信号波形を説明する波形図であって、同図（ａ）は、記
録パルスｐの波形の一例を示す。この記録パルスｐは、
図１に示す記録信号変調回路１１から半導体レーザ６を
駆動するための信号として発生され、ハイレベルのとき
は記録のための大きなパワーのレーザ光を発生させる。

【００３３】ここで、説明の理解を容易にするために、
図中の記録パルスｐのＰ１，Ｐ２，Ｐ３は、合焦点よ
り若干照射光がずれた場合、合焦点から大きく照射光
がずれた場合、ほぼ合焦点で光が照射された場合につ
いて、それぞれ例示した。

【００３４】図２（ｂ）は、記録中のＭＯ再生信号ｍの
変化を示す波形図である。図において、記録パルスＰ１
により記録光ビームが照射されると、光磁気ディスク１
の記録膜からの反射光量が増大し、ＭＯ再生信号ｍも
（正）プラスまたは（負）マイナス方向に変化する。こ
れは記録膜が消去方向に磁化されているのを検出してい
るＭＯ再生信号ｍが、再生光レベル（リードパワー）か
ら記録光レベル（ライトパワー）に増大するためであ
り、図では（正）プラス方向に大きくなって、ピークを
生じる例を示している。その後、記録膜の光ビーム照射
点の温度が上昇し、キュリー温度に近付くと、記録膜の
磁化が小さくなり、それに伴って磁化による反射光の偏
光の変化を捉えているＭＯ再生信号ｍは０レベル付近に
戻る。

【００３５】ＭＯ再生信号ｍは、実際に磁化０の場合
に、どのレベルになるかは不明であるが、消去方向の磁
化で生じた正のピークよりも、かなり下側方向に変化
し、理想的に磁化０になった場合は、消去方向磁化を再
生光で検出している図２（ｂ）の左端のレベルよりも下
がるはずである。すなわち、記録光ビームの照射によっ
て記録膜が十分温度上昇すると、記録膜の磁化がほぼ０
となり、再生信号の正のピークからレベルが下がったボ
トム点までの変化量βは大きくなる。

【００３６】ここで、記録パルスＰ１が発生されたとき
は、照射光ビームが若干合焦点からずれている状態にあ
るため、ＭＯ再生信号ｍのピークからボトムまでの変化
量β₁ は十分大きくはならない。続いて、記録パルスＰ
２が発生されたときは、照射光ビームは合焦点から大き
くずれているため、ＭＯ再生信号ｍのピークからボトム
までの変化量β₂ は記録不良を示すほど小さくなる。そ
して、記録パルスＰ３が発生されたときは、照射光ビー
ムはほぼ合焦点状態にあるため、記録膜の温度上昇がキ
ュリー温度を超える程十分高くなり、記録膜の磁化はほ
ぼ０となって、ＭＯ再生信号ｍのピークからボトムまで
の変化量β₃ は、最大値を示すようになる。

【００３７】図３は、図１の昇温状態モニター回路２２
の一例の詳細を示す構成図であって、ＭＯ再生信号ｍか
らそのピーク値とボトム値との間の変化量βをサンプリ
ングし、昇温モニター信号ｇを生成する回路であり、図
２に示す波形図と併せて、その動作について説明する。

【００３８】まず、記録中のＭＯ再生信号ｍが入力する
と、ピーク値サンプルホールド回路４１は、ゲート信号
発生回路４４からのピークホールドゲート信号ｕのタイ
ミングでＭＯ再生信号ｍのピーク点の値をサンプルホー
ルドし、ピークホールド信号ｘとして出力する（図２の
（ｂ），（ｃ），（ｆ）を参照）。

【００３９】一方、ボトム値サンプルホールド回路４２
は、ゲート信号発生回路４４からのボトムホールドゲー
ト信号ｖのタイミングでＭＯ再生信号ｍのボトムレベル
をサンプルホールドし、ボトムホールド信号ｙとして出
力する（図２の（ｂ），（ｄ），（ｆ）を参照）。

【００４０】また、ゲート信号発生回路４４は、図１に
示す記録信号変調回路１１からの記録パルスｐの立ち上
がりを示す記録パルスタイミング信号ｔを受け、前述の
ＭＯ再生信号のピークおよびボトムをサンプルするピー
クホールドゲート信号ｕゲート信号ｕ，ボトムホールド
ゲート信号ｖと、ホールドをリセットさせる信号ｗおよ
びビームとボトムの差信号をサンプルさせる差信号サン
プルゲート信号ｓとを発生する（図２の（ｅ），（ｉ）
を参照）。

【００４１】差信号検出回路４３は、いわゆる差動増幅
器であり、ピークホールド信号ｘとボトムホールド信号
ｙとのレベル差（すなわちβ）を求めてピーク／ボトム
差信号ｚとして出力する。サンプルホールド回路４５
は、ゲート信号発生回路４４から送出される差信号サン
プルゲート信号ｓのタイミングで、ピーク／ボトム差信
号ｚをサンプルホールドし、昇温モニター信号ｑとして
出力する。

【００４２】ピーク値サンプルホールド回路４１および
ボトム値サンプルホールド回路４２は、サンプリングし
たレベルをホールドしたままでは、次のＭＯ再生信号ｍ
のピーク／ボトムの検出ができないため、ゲート信号発
生回路４４から送出されるホールドリセット信号ｗによ
り、その保持しているレベルをリセットする（図２の
（ｈ），（ｊ）を参照）。

【００４３】前述したように、記録膜の記録光ビームが
照射された部分の温度上昇が大きいほど、ＭＯ再生信号
ｍのピークからボトムレベルへの変化量βは大きくなる
ため、β値をサンプルした昇温モニター信号ｑは、記録
膜の光ビーム照射部の温度上昇をモニターできる信号と
なる。

【００４４】図４は、図１に示す光磁気ディスク装置の
ビーム合焦点位置調整装置の動作例を示す波形図であっ
て、同図（ａ）は、最適調整値を探すためのオフセット
調整信号ｇの変化を示す。光ビーム集束状態（記録面に
対する焦点位置）を最適に調整する場合には、フォーカ
スループへのオフセット加算量を与えるオフセット調整
信号ｇは、同図（ｄ）に示すように、あらかじめ定めら
れた一定の範囲内で正の最大値から負の最小値の間を段
階的に変化する。

【００４５】図４の（ａ）では、この変化をｆ₁ からｆ
₁₀までの１０段階の変化で示しており、例えば、オフセ
ット調整信号ｇを正の最大値にすると、光ビームの集束
位置は光磁気ディスクの記録膜面より離れて、記録膜面
の上方に移動する。この状態では光ビームの記録膜面に
おける集光状態は不十分で、記録のための光パワーを発
光しても、記録膜の温度上昇は十分でなく、ＭＯ再生信
号ｍのボトムレベルはほとんど下がらない。

【００４６】このため、検出されるβの値、すなわち、
昇温モニター信号ｑの値も小さなものとなる。また、オ
フセット調整信号ｇの値を段々小さくし、ｆ₆ に示すよ
うにほぼ０にしたとき、照射光ビームの焦点が記録膜面
に一致するものと仮定すると、このとき、記録膜の温度
上昇は最大となり、ＭＯ再生信号ｍのピークからボトム
への変化量βは最大となる。

【００４７】すなわち、オフセット調整信号ｇの値がｆ
₆ のとき、昇温モニター信号ｑは最大値βmax をとる。
そして、フォーカスオフセット制御回路１３は、このと
きのオフセット調整信号ｇの値（ｆ₆ ）を記憶してお
く。その後、オフセット調整信号ｇの値を負方向に変化
させて行くと、照射光ビームの集束点は記録膜面より下
側（ディスク内側）に移動し、記録膜面における集光状
態は不十分なものとなる。従って、ＭＯ再生信号ｍのピ
ークからボトムへの変化量βは減少して行く。

【００４８】このように、フォーカスオフセット制御回
路１３は、オフセット調整信号ｇを上限から下限の間で
変化させ、その中で昇温モニター信号ｑを最大にするオ
フセット調整信号ｇの値（本例の場合はｆ₆ ）を記憶し
ておき、調整の最後にオフセット調整信号ｇをその値に
設定する。これにより、記録の際の光ビームの集光状態
を最適にするようにフォーカスループが調整される。

【００４９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光磁気デ
ィスク装置のビーム合焦点位置調整装置は、記録媒体に
記録光ビームを照射した際の光照射点の昇温状態を示す
信号を得る手段を備え、前記昇温状態を示す信号が最大
になるように光ビームの焦点位置を調整することによ
り、記録に最適な状態、すなわち最も光ビームが絞られ
た状態で記録膜面に照射されるように設定することがで
き、高密度でも安定、かつ正確な記録を行う光磁気ディ
スク装置の実現を可能にする。

【００５０】また、記録光ビームがよく集束されて記録
膜面に照射されるため、比較的少ない記録光パワーで、
安定な記録を行うことができる。さらに、従来のビーム
合焦点位置調整装置では必要とされた光磁気ディスクへ
の特殊パターンの形成も不要になるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態を示す構成図である。

【図２】図１に示す光磁気ディスク装置のビーム合焦点
位置調整装置の記録動作時における主要部の信号波形を
説明する波形図である。

【図３】図１の昇温状態モニター回路２２の詳細を示す
構成図である。

【図４】図１に示す光磁気ディスク装置のビーム合焦点
位置調整装置の合焦点位置調整動作を説明する波形図で
ある。

【符号の説明】

１ 光磁気ディスク ２ 対物レンズ ３ 対物レンズアクチュエータ ４，７ ビームスプリッタ ５ コリメートレンズ ６ 半導体レーザ １０ レーザ駆動回路 １１ 記録信号変調回路 １２ 記録制御回路 １３ フォーカスオフセット制御回路 １４ 装置制御回路 ２０ フォーカスエラー信号検出系 ２１ ＭＯ信号検出系 ２２ 昇温状態モニター回路 ２３ Ａ／Ｄ変換器 ２４ Ｄ／Ａ変換器 ２５ フォーカスオフセット加算回路 ２６ フォーカスサーボ回路 ２７ パワーアンプ ４１ ピーク値サンプルホールド回路 ４２ ボトム値サンプルホールド回路 ４３ 差信号検出回路 ４４ ゲート信号発生回路 ４５ サンプルホールド回路 ａ レーザ駆動電流 ｂ 記録ゲート信号 ｃ 記録指令信号 ｄ 記録データ信号 ｆ フォーカスエラー信号 ｇ オフセット調整信号 ｈ フォーカス制御信号 ｊ アクチュエータ駆動電流 ｍ ＭＯ再生信号 ｐ 記録パルス ｑ 昇温モニター信号 ｓ 差信号サンプルゲート信号 ｔ 記録パルスタイミング信号 ｕ ピークホールドゲート信号 ｖ ボトムホールドゲート信号 ｗ ホールドリセット信号 ｘ ピークホールド信号 ｙ ボトムホールド信号 ｚ ピーク／ボトム差信号

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 磁気光学的に情報の記録・再生が可能な
   光磁気ディスク媒体に照射する、光ビームの合焦状態を
   調整する光磁気ディスク装置のビーム合焦点位置調整装
   置であって、 前記光磁気ディスク媒体の光磁気記録膜への光ビーム照
   射点における温度上昇状態を監視しかつ前記光ビーム照
   射点の温度上昇状態を示す信号を生成する昇温状態監視
   手段と、前記光ビーム照射点の温度上昇状態を示す信号
   が最大になるように前記光ビームの焦点位置を修正する
   焦点位置修正手段とを備えることを特徴とする光磁気デ
   ィスク装置のビーム合焦点位置調整装置。
2. 【請求項２】 前記昇温状態監視手段は、前記光ビーム
   照射点の温度上昇状態を示す信号を、前記光磁気ディス
   ク媒体に記録が可能なレベルの照射光ビームをパルス的
   に照射し、その際の前記光磁気ディスク媒体からの反射
   光から生成するようにしたこと特徴とする請求項１記載
   の光磁気ディスク装置のビーム合焦点位置調整装置。