JP2855704B2 - スルホール検査装置 - Google Patents

スルホール検査装置

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JP2855704B2
JP2855704B2 JP25915089A JP25915089A JP2855704B2 JP 2855704 B2 JP2855704 B2 JP 2855704B2 JP 25915089 A JP25915089 A JP 25915089A JP 25915089 A JP25915089 A JP 25915089A JP 2855704 B2 JP2855704 B2 JP 2855704B2
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hole
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vibrator
light
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一彦 大野
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、スルホール検査装置、特にハイブリッドIC
等に使用される多層セラミックス基板の製造過程におい
て、グリーンシート上に形成されたスルホールを検査す
るスルホール検査装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の技術としては、例えばエレクトロ・パッケージ
・テクノロジーVol.4 No.12P80〜83に記載されている
スルホール検査装置がある。
第3図は、従来のスルホール検査装置の一例を示す斜
視図である。
第3図に示すスルホール検査装置は、ベース1と、被
検査体であるワークを上面に固定するテーブル2と、ベ
ース1上に設けられかつテーブル2を一軸方向に案内す
るガイド3と、ガイド3に案内されたテーブル2を移動
するテーブル駆動機構4と、ベース1上に設けられた面
光源11と、ベース1上に面光源11からの光を受ける位置
に設けられたCCDラインセンサ12と、CCDラインセンサ12
の信号を処理する画像処理装置13と、テーブル駆動機構
4及び画像処理装置13を制御する制御装置10とを含んで
いる。
次に従来のスルホール検査装置をさらに詳しく説明す
る。
第4図は、第3図に示す従来例の光学的配置関係を示
す断面図である。
第4図において、ワークであるグリーンシート21に
は、積層焼成後多層セラミック基板として使用するため
に、導体の埋め込み用としてスルホール22が形成されて
いる。CCDラインセンサ12は、テーブル2の可動方向に
対して直交するようにテーブル2の上方向に配置され、
かつテーブル2の上面に固定された被検査体であるグリ
ーンシート21の検査エリアを視野に取れる位置に固定さ
れている。テーブル2が、テーブル駆動機構4により一
方向に駆動されると、グリーンシート21より下面に設け
られた面光源11より、スルホール22を透過して、透過光
がCCDラインセンサ12上に投影される。画像処理装置13
は、上述のデータをもとに、スルホールのテーブル2の
可動方向に対して直交する方向の位置を検出する。また
制御部11は、画像処理装置13およびテーブル駆動機構4
とのデータをもとにスルホール22のグリーンシート21に
対する平面上の位置データを得る。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のスルホール検査装置は、面光源とCCD
ラインセンサによりスルホールデータを得る構造となっ
ているため、データの分解能は、CCDラインセンサの分
野能により一意的に決定し、データの細分化ができず、
光精度、高密度なスルホース検査ができないという欠点
があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のスルホール検査装置は、ベースと、被検査体
であるワークを上面に固定するテーブルと、前記ベース
上に設けられかつ前記テーブルを一軸方向に案内するガ
イドと、前記ガイドに案内された前記テーブルを移動す
るテーブル駆動機構と、前記ベース上に設けられた平行
光源と、前記ベース上に前記平行光源からの光を受ける
位置に設けられ前記平行光源からの光を前記テーブルの
移動方向に対して直交方向にスキャニングする振動子
と、前記テーブルの上部にかつ前記振動子が一方の焦点
に位置するように設けられ前記振動子によりスキャニン
グされ前記ワークに設けられたスルホールを通った光を
他方の焦点に設けた光電変換素子に集光する楕円ミラー
と、前記光電変換素子から得られた信号を処理する信号
処理装置と、前記テーブル駆動機構を制御するとともに
前記信号処理装置からの信号を受け前記スルホールの位
置を検出する制御装置とを含んで構成される。
〔実施例〕
次に本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示す斜視図である。
第1図に示すスルホール検査装置は、ベース1と、被
検査体であるワークを上面に固定するテーブル2と、ベ
ース1上に設けられかつテーブル2を一軸方向に案内す
るガイド3と、ガイド3に案内されたテーブル2を移動
するテーブル駆動機構4と、ベース1上に設けられた平
行光源5と、ベース1上に平行光源5からの光を受ける
位置に設けられ平行光源5からの光をテーブル2の移動
方向に対して直交方向にスキャニングする振動子6と、
テーブル2の上部に設けられ振動子6によりスキャニン
グされた光を集光する楕円ミラー7と、楕円ミラー8の
焦点に設けた光電変換素子8と、光電変換素子8から得
られた信号を処理する信号処理装置9と、テーブル駆動
機構4及び振動子6及び信号処理装置9を制御する制御
装置10とを含んで構成される。
次に、本実施例の構成をさらに詳しく説明する。
第2図は、第1図に示す実施例の光学的配置関係を示
す断面図である。
第2図において、ワークであるグリーンシート21に
は、積層焼成後多層セラミック基板として使用するため
に、導体の埋め込み用としてスルホール22が形成されて
いる。楕円ミラー7は、テーブル2の可動方向に対して
直交するようにテーブル2の上方向に配置され、かつテ
ーブル2の上面に固定された被検査体であるグリーンシ
ート21の検査エリアを覆い取れる位置に固定されてい
る。また、楕円ミラー7の焦点には、光電変換素子8が
配置される。さらに楕円ミラー7のもう一つの焦点に
は、平行光源5からの光をテーブル2の移動方向に対し
て直交方向にスキャニングする振動子6が配置される。
テーブル2が、テーブル駆動機構4により一方向に駆動
されると、グリーンシート21より下面に設けられた振動
子6によりスキャニングされた光がスルホール22を透過
して、楕円ミラー7により集光され、光電変換素子8に
投影される。信号処理装置9は、上述のデータおよび振
動子6のスキャニング信号をもとに、スルホールのテー
ブル2の可動方向に対して直交する方向の位置を検出す
る。また制御部10は、信号処理装置13およびテーブル駆
動機構4とのデータをもとにスルホール22のグリーンシ
ート21に対する平面上の位置データを得る。
〔発明の効果〕
本発明のスルホール検査装置は、光学系を面光源とCC
Dラインセンサにより構成する代わりに、平行光源と振
動子、楕円ミラー及び光電変換素子により構成すること
により、集光した光情報からスルホールデータを時系列
で得ることができるため、データの細分化が容易にでき
るので、高精度、高密度なスルホール検査ができるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す斜視図、第2図は第1
図に示す実施例の光学的配置関係を示す断面図、第3図
は従来のスルホール検査装置の一例を示す斜視図、第4
図は第3図に示すスルホール検査装置の光学的配置関係
を示す断面図である。 1……ベース、2……テーブル、3……ガイド、4……
テーブル駆動機構、5……平行光源、6……振動子、7
……楕円ミラー、8……光電変換素子、9……信号処理
装置、10……制御装置、11……面光源、12……CCDライ
ンセンサ、13……画像処理装置、21……グリーンシー
ト、22……スルホール。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ベースと、被検査体であるワークを上面に
    固定するテーブルと、前記ベース上に設けられかつ前記
    テーブルを一軸方向に案内するガイドと、前記ガイドに
    案内された前記テーブルを移動するテーブル駆動機構
    と、前記ベース上に設けられた平行光源と、前記ベース
    上に前記平行光源からの光を受ける位置に設けられ前記
    平行光源からの光を前記テーブルの移動方向に対して直
    交方向にスキャニングする振動子と、前記テーブルの上
    部にかつ前記振動子が一方の焦点に位置するように設け
    られ前記振動子によりスキャニングされ前記ワークに設
    けられたスルホールを通った光を他方の焦点に設けた光
    電変換素子に集光する精円ミラーと、前記光電変換素子
    から得られた信号を処理する信号処理装置と、前記テー
    ブル駆動機構を制御するとともに前記信号処理装置から
    の信号を受け前記スルホールの位置を検出する制御装置
    とを含むことを特徴とするスルホール検査装置。
JP25915089A 1989-10-03 1989-10-03 スルホール検査装置 Expired - Lifetime JP2855704B2 (ja)

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JPH03120447A JPH03120447A (ja) 1991-05-22
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