JPH03120447A - スルホール検査装置 - Google Patents

スルホール検査装置

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JPH03120447A
JPH03120447A JP25915089A JP25915089A JPH03120447A JP H03120447 A JPH03120447 A JP H03120447A JP 25915089 A JP25915089 A JP 25915089A JP 25915089 A JP25915089 A JP 25915089A JP H03120447 A JPH03120447 A JP H03120447A
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JP
Japan
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hole
holes
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oscillator
base
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JP25915089A
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Kazuhiko Ono
大野 一彦
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、スルホール検査装置、特にハイブリッドIC
に等に使用される多層セラミックス基板の製造過程にお
いて、グリーンシート上に形成されたスルホールを検査
するスルホール検査装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の技術としては、例えばエレクトロ・パッケージ・
チク10ジーVo1.4  No 、 12 P80〜
83に記載されているスルホール検査装置がある。
第3図は、従来のスルホール検査装置の一例を示す斜視
図である。
第3図に示すスルホール検査装置は、ベース1と、被検
査体であるワークを上面に固定するテープル2と、ベー
ス1上に設けられかつテーブル2を一軸方向に案内する
ガイド3と、ガイド3に案内されたテーブル2を移動す
るテーブル駆動機構4と、ベース1上に設けられた面光
源11と、ベース1上に面光源11からの光を受ける位
置に設けられたCCDラインセンサ12と、CCDライ
ンセンサ12の信号を処理する画像処理装置13と、テ
ーブル駆動v1楕4及び画像処理装置13を制御する制
御装置10とを含んでいる。
次に従来のスルホール検査装置をさらに詳しく説明する
第4図は、第3図に示す従来例の光学的配置関係を示す
断面図である。
第4図において、ワークであるグリーンシート21には
、積層焼成後多層セラミック基板として使用するために
、導体の埋め込み用としてスルホール22が形成されて
いる。CCDラインセンサ12は、テーブル2の可動方
向に対して直交するようにテーブル2の上方向に配置さ
れ、かつテーブル2の上面に固定された被検査体である
グリーンシート21の検査エリアを視野に取れる位置に
固定されている。テーブル2が、テーブル駆動機構4に
より一方向に駆動されると、グリーンシート21より下
面に設けられた面光源11より、スルホール22を透過
して、透過光がCCDラインセンサ12上に投影される
0画像処理袋213は、上述のデータをもとに、スルホ
ールのテーブル2の可動方向に対して直交する方向の位
置を検出する。また制御部11は、画像処理装置13お
よびテーブル駆動機構4とのデータをもとにスルホール
22のグリーンシート21に対する平面上の位置データ
を得る。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のスルホール検査装置は、面光源とCCD
ラインセンサによりスルホールデータを得る構造となっ
ているため、データの分解能は、CCDラインセンサの
分解能により一意的に決定し、データの細分化ができず
、光精度、高密度なスルホース検査ができないという欠
点があった。
〔課題を解決するための手段〕
本発明のスルホール検査装置は、ベースと、被検査体で
あるワークを上面に固定するテーブルと、前記ベース上
に設けられかつ前記テーブルを一軸方向に案内するガイ
ドと、前記ガイドに案内された前記テーブルを移動する
テーブル駆動機構と、前記ベース上に設けられた平行光
源と、前記ベース上に前記平行光源からの光を受ける位
置に設けられ前記平行光源からの光を前記テーブルの移
動方向に対して直交方向にスキャニングする振動子と、
前記テーブルの上部に設けられ前記振動子によりスキャ
ニングされ前記ワークに設けられたスルホールを通った
光を焦点に設けた光電変換素子に集光する楕円ミラーと
、前記光電変換素子から得られた信号を処理する信号処
理装置と、前記テーブル駆動機構を制御するとともに前
記信号処理装置からの信号を受け前記スルホールの位置
を検出する制御装置とを含んで構成される。
〔実施例〕
次に本発明の実施例について、図面を参照して詳細に説
明する。
第1図は、本発明の一実施例を示す斜視図である。
第1図に示すスルホール検査装置は、ベース1と、被検
査体であるワークを上面に固定するテーブル2と、ベー
ス1上に設けられかつテーブル2を一軸方向に案内する
ガイド3と、ガイド3に案内されたテーブル2を移動す
るテーブル駆動機構4と、ベース1上に設けられた平行
光源5と、ベース1上番こ平行光源5からの光を受ける
位置に設けられ平行光源5からの光をテーブル2の移動
方向に対して直交方向にスキャニング振動子6と、テー
ブル2の上部に設けられ振動子6によりスキャニングさ
れた光を集光する楕円ミラー7と、楕円ミラー8の焦点
に設けた光電変換素子8と、光電変換素子8から得られ
た信号を処理する信号処理装置ff19と、テーブル駆
動機構4及び振動子6及び信号処理装置9を制御する制
御装置10とを含んで構成される。
次に、本実施例の構成をさらに詳しく説明する。
第2図は、第1図に示す実施例の光学的配置関係を示す
断面図である。
第2図において、ワークであるグリーンシート21には
、積層焼成後多層セラミック基板として使用するために
、導体の埋め込み用としてスルホール22が形成されて
いる。楕円ミラー7は、テーブル2の可動方向に対して
直交するようにテーブル2の上方向に配置され、かつテ
ーブル2の上面に固定された被検査体であるグリーンシ
ート21の検査エリアを覆い取れる位置に固定されてい
る。また、楕円ミラー7の焦点には、光電変換素子8が
配置される。さらに楕円ミラー7のもう一つの焦点には
、平行光源5からの光をテーブル2の移動方向に対して
直交方向にスキャニングする振動子6が配置される。テ
ーブル2が、テーブル駆動機構4により一方向に駆動さ
れると、グリーンシート21より下面に設けられた振動
子6によりスキャニングされた光がスルホール22を透
過して、楕円ミラー7により集光され、光電変換素子8
に投影される。信号処理装置9は、上述のデータおよび
振動子6のスキャニング信号をもとに、スルホールのテ
ーブル2の可動方向に対して直交する方向の位置を検出
する。また制御部10は、信号処理装置13およびテー
プ駆動機構4とのデータをもとにスルホール22のグリ
ーンシート21に対する平面上の位置データを得る。
〔発明の効果〕
本発明のスルホール検査装置は、光学系を面光源とCC
Dラインセンサにより構成する代わりに、平行光源と振
動子、楕円ミラー及び光電変換素子により構成すること
により、集光した光情報からスルホールデータを時系列
で得ることができるため、データの細分化が容易にでき
るので、高精度、高密度なスルホール検査ができるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す斜視図、第2図は第1
図に示す実施例の光学的配置関係を示す断面図、第3図
は従来のスルホール検査装置の一例を示す斜視図、第4
図は第3図に示すスルホール検査装置の光学的配置関係
を示す断面図である。 1・・・ベース、2・・・テーブル、3・・・ガイド、
4・・・テーブル駆動機構、5・・・平行光源、6・・
・振動子、7・・・楕円ミラー、8・・・光電変換素子
、9・・・信号処理装置、10・・・制御装置、11・
・・面光源、12・・・CCDラインセンサ、13・・
・画像処理装置、21・・・グリーンシート、22・・
・スルホール。 琳明 匣

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  ベースと、被検査体であるワークを上面に固定するテ
    ーブルと、前記ベース上に設けられかつ前記テーブルを
    一軸方向に案内するガイドと、前記ガイドに案内された
    前記テーブルを移動するテーブル駆動機構と、前記ベー
    ス上に設けられた平行光源と、前記ベース上に前記平行
    光源からの光を受ける位置に設けられ前記平行光源から
    の光を前記テーブルの移動方向に対して直交方向にスキ
    ャニングする振動子と、前記テーブルの上部に設けられ
    前記振動子によりスキャニングされ前記ワークに設けら
    れたスルホールを通った光を焦点に設けた光電変換素子
    に集光する楕円ミラーと、前記光電変換素子から得られ
    た信号を処理する信号処理装置と、前記テーブル駆動機
    構を制御するとともに前記信号処理装置からの信号を受
    け前記スルホールの位置を検出する制御装置とを含むこ
    とを特徴とするスルホール検査装置。
JP25915089A 1989-10-03 1989-10-03 スルホール検査装置 Expired - Lifetime JP2855704B2 (ja)

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JPH03120447A true JPH03120447A (ja) 1991-05-22
JP2855704B2 JP2855704B2 (ja) 1999-02-10

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