JP2854492B2 - チップ抵抗器 - Google Patents
チップ抵抗器Info
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- JP2854492B2 JP2854492B2 JP5064562A JP6456293A JP2854492B2 JP 2854492 B2 JP2854492 B2 JP 2854492B2 JP 5064562 A JP5064562 A JP 5064562A JP 6456293 A JP6456293 A JP 6456293A JP 2854492 B2 JP2854492 B2 JP 2854492B2
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- Japan
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- resistor
- electrodes
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、チップ抵抗器の改良に
関するものである。
関するものである。
【0002】
【従来の技術】チップ抵抗器は、例えば図7に示すよう
に、基板50と、基板50の相対両側にてその上面及び
下面にそれぞれ形成した一次電極51a,52a及び5
1b,52bと、上面及び下面の一次電極をそれぞれ導
通する二次電極53,54と、上面の一次電極51a,
52aに接触させて設けた抵抗体55と、この抵抗体5
5上に施したアンダーコート56と、抵抗体55及びア
ンダーコート56を覆うミドルコート57と、ミドルコ
ート57を被覆するオーバーコート58とを備える。こ
こでは、アンダーコート56、ミドルコート57及びオ
ーバーコート58で保護コートが構成される。
に、基板50と、基板50の相対両側にてその上面及び
下面にそれぞれ形成した一次電極51a,52a及び5
1b,52bと、上面及び下面の一次電極をそれぞれ導
通する二次電極53,54と、上面の一次電極51a,
52aに接触させて設けた抵抗体55と、この抵抗体5
5上に施したアンダーコート56と、抵抗体55及びア
ンダーコート56を覆うミドルコート57と、ミドルコ
ート57を被覆するオーバーコート58とを備える。こ
こでは、アンダーコート56、ミドルコート57及びオ
ーバーコート58で保護コートが構成される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のようなチップ抵
抗器は、図8に示すように、オーバーコート58側を下
向けにして回路基板60に装着するバルク実装(裏面装
着)を行う場合がある。しかしながら、図7のような通
常の抵抗器では、基板50の上面に位置する二次電極5
3,54の面よりもオーバーコート58の面が高いた
め、つまり基板50上の相対端部における二次電極5
3,54とオーバーコート58とに高低差があるため、
バルク実装のように抵抗器を逆様にしてはんだ60,6
1ではんだ付けする際、抵抗器の一方側が引っ張られて
他方側が浮き上がる所謂マンハッタン現象が生じ易い。
抗器は、図8に示すように、オーバーコート58側を下
向けにして回路基板60に装着するバルク実装(裏面装
着)を行う場合がある。しかしながら、図7のような通
常の抵抗器では、基板50の上面に位置する二次電極5
3,54の面よりもオーバーコート58の面が高いた
め、つまり基板50上の相対端部における二次電極5
3,54とオーバーコート58とに高低差があるため、
バルク実装のように抵抗器を逆様にしてはんだ60,6
1ではんだ付けする際、抵抗器の一方側が引っ張られて
他方側が浮き上がる所謂マンハッタン現象が生じ易い。
【0004】従って、本発明の目的は、バルク実装をす
る場合にマンハッタン現象が起こらないようにしたチッ
プ抵抗器を提供することにある。
る場合にマンハッタン現象が起こらないようにしたチッ
プ抵抗器を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明のチップ抵抗器は、基板と、この基板の両端
部に設けた一次電極と、この一次電極に接触させて前記
基板端部に設けた二次電極と、前記一次電極に接触させ
て設けた抵抗体と、この抵抗体及び前記一次電極を覆う
保護コートとを備えるチップ抵抗器において、前記保護
コートは前記一次電極の一部を露出させる切除部を基板
端部の略中央に有し、前記二次電極は保護コートの端部
上にも設けられると共に、前記切除部にて一次電極と接
触するように切除部にも形成されていることを特徴とす
る。
に、本発明のチップ抵抗器は、基板と、この基板の両端
部に設けた一次電極と、この一次電極に接触させて前記
基板端部に設けた二次電極と、前記一次電極に接触させ
て設けた抵抗体と、この抵抗体及び前記一次電極を覆う
保護コートとを備えるチップ抵抗器において、前記保護
コートは前記一次電極の一部を露出させる切除部を基板
端部の略中央に有し、前記二次電極は保護コートの端部
上にも設けられると共に、前記切除部にて一次電極と接
触するように切除部にも形成されていることを特徴とす
る。
【0006】
【作用】保護コートが一次電極の一部を露出させる切除
部を基板端部の略中央に有し、この切除部により保護コ
ートに凹部が形成されることにより、換言すれば凹部に
よって保護コート(即ち抵抗器の4隅付近)に実質的に
凸部が形成されることにより、保護コート側を回路基板
に装着するバルク実装を行う場合、抵抗器が保護コート
の4箇所の凸部にて回路基板に接触するので、保護コー
トと回路基板との接触面積が増える上に、回路基板に対
して抵抗器が安定して支持される。その結果、バルク実
装時に、はんだ付けによるマンハッタン現象が起こらな
くなる。
部を基板端部の略中央に有し、この切除部により保護コ
ートに凹部が形成されることにより、換言すれば凹部に
よって保護コート(即ち抵抗器の4隅付近)に実質的に
凸部が形成されることにより、保護コート側を回路基板
に装着するバルク実装を行う場合、抵抗器が保護コート
の4箇所の凸部にて回路基板に接触するので、保護コー
トと回路基板との接触面積が増える上に、回路基板に対
して抵抗器が安定して支持される。その結果、バルク実
装時に、はんだ付けによるマンハッタン現象が起こらな
くなる。
【0007】
【実施例】以下、本発明のチップ抵抗器を実施例に基づ
いて説明する。一実施例に係る抵抗器の外観斜視図を図
1に、図1の線A−Aにおける断面図を図2に、図1の
線B−Bにおける断面図を図3に、平面図を図4に示
す。このチップ抵抗器は、基板10と、基板10の相対
両側にてその上面及び下面にそれぞれ形成した一次電極
11a,12a及び11b,12bと、上面と下面の一
次電極をそれぞれ導通する二次電極13,14と、上面
の一次電極11a,12aに接触させて設けた抵抗体1
5と、抵抗体15上に施したアンダーコート16と、抵
抗体15及びアンダーコート16を覆うミドルコート1
7と、ミドルコート17及び一次電極11a,12aを
被覆するオーバーコート18とを備える。そして、アン
ダーコート16、ミドルコート17及びオーバーコート
18で保護コートが構成される。
いて説明する。一実施例に係る抵抗器の外観斜視図を図
1に、図1の線A−Aにおける断面図を図2に、図1の
線B−Bにおける断面図を図3に、平面図を図4に示
す。このチップ抵抗器は、基板10と、基板10の相対
両側にてその上面及び下面にそれぞれ形成した一次電極
11a,12a及び11b,12bと、上面と下面の一
次電極をそれぞれ導通する二次電極13,14と、上面
の一次電極11a,12aに接触させて設けた抵抗体1
5と、抵抗体15上に施したアンダーコート16と、抵
抗体15及びアンダーコート16を覆うミドルコート1
7と、ミドルコート17及び一次電極11a,12aを
被覆するオーバーコート18とを備える。そして、アン
ダーコート16、ミドルコート17及びオーバーコート
18で保護コートが構成される。
【0008】この実施例では、基板10上の相対両側に
おいて一次電極11a,12a上にまで延在するオーバ
ーコート18上に二次電極13,14が設けられてお
り、電極11a,11b,13と、電極12a,12
b,14とでそれぞれ基板10の相対両側の電極が構成
される。又、保護コートのうち、オーバーコート18
が、基板10上の一次電極11a,12a上を通り、基
板10の相対両側の端部まで延びていると共に、一次電
極11a,12aのほぼ中央部を露出させるための切欠
き(切除部)18a,18bを有する。この切欠き18
a,18bにより、オーバーコート18を一次電極11
a,12a上に設けることによる一次電極11a,12
aと二次電極13,14とのコンタクトの減少を防ぐこ
とができる。即ち、図3から分かるように、切欠き18
aの部分で二次電極13が一次電極11aと接触し、一
次電極11aと二次電極13との接触面積が十分に確保
され、両電極11a,13の導通が確実になる。同様に
切欠き18bにおいても、二次電極14が一次電極12
aに接触している。又、オーバーコート18は、切欠き
18a,18bの位置が凹部となる。
おいて一次電極11a,12a上にまで延在するオーバ
ーコート18上に二次電極13,14が設けられてお
り、電極11a,11b,13と、電極12a,12
b,14とでそれぞれ基板10の相対両側の電極が構成
される。又、保護コートのうち、オーバーコート18
が、基板10上の一次電極11a,12a上を通り、基
板10の相対両側の端部まで延びていると共に、一次電
極11a,12aのほぼ中央部を露出させるための切欠
き(切除部)18a,18bを有する。この切欠き18
a,18bにより、オーバーコート18を一次電極11
a,12a上に設けることによる一次電極11a,12
aと二次電極13,14とのコンタクトの減少を防ぐこ
とができる。即ち、図3から分かるように、切欠き18
aの部分で二次電極13が一次電極11aと接触し、一
次電極11aと二次電極13との接触面積が十分に確保
され、両電極11a,13の導通が確実になる。同様に
切欠き18bにおいても、二次電極14が一次電極12
aに接触している。又、オーバーコート18は、切欠き
18a,18bの位置が凹部となる。
【0009】前述したように、オーバーコート18は、
切欠き18a,18bの部分を除いて、基板10上の一
次電極11a,12a上まで延び、このオーバーコート
18の両端部上に二次電極13,14が設けられている
(図4参照)。因みに、オーバーコート18を、図5の
ように切欠きを形成せずに基板10の端部まで延伸した
場合、一次電極11a,12aと二次電極13,14と
のコンタクトが基板10の隅部だけになり、両電極の接
触面積が僅かになるため、信頼性が低くなる。
切欠き18a,18bの部分を除いて、基板10上の一
次電極11a,12a上まで延び、このオーバーコート
18の両端部上に二次電極13,14が設けられている
(図4参照)。因みに、オーバーコート18を、図5の
ように切欠きを形成せずに基板10の端部まで延伸した
場合、一次電極11a,12aと二次電極13,14と
のコンタクトが基板10の隅部だけになり、両電極の接
触面積が僅かになるため、信頼性が低くなる。
【0010】上記のようなチップ抵抗器では、オーバー
コート18が基板10の上面端部まで設けられているた
め、基板10の上面端部とオーバーコート18との高低
差がなくなる。従って、図6において、このチップ抵抗
器をバルク実装する場合、基板10の4隅付近の部分
(図4の円で囲んだ4箇所の部分)が回路基板20に接
触し、抵抗器のオーバーコート18側と回路基板20と
の接触面積が増え、前記4箇所で抵抗器が支持されるた
め、はんだ21,22ではんだ付けする際にマンハッタ
ン現象が起こらない。因みに、オーバーコート18が切
欠き18a,18bを有しない場合は、基板10の4隅
付近に凸部が形成されないが、基板10の4隅付近に凸
部が存在する方が、バルク実装の際の抵抗器の安定性を
より高めることができる。又、バルク実装の際に、凸部
と凸部の間の隙間、即ちオーバーコート18の切欠き1
8a,18bにはんだが入り込むことで、はんだフィレ
ットが形成されて、はんだと抵抗器(特に二次電極1
3,14)との接触面積が増加するので、接着(実装)
強度が向上する。
コート18が基板10の上面端部まで設けられているた
め、基板10の上面端部とオーバーコート18との高低
差がなくなる。従って、図6において、このチップ抵抗
器をバルク実装する場合、基板10の4隅付近の部分
(図4の円で囲んだ4箇所の部分)が回路基板20に接
触し、抵抗器のオーバーコート18側と回路基板20と
の接触面積が増え、前記4箇所で抵抗器が支持されるた
め、はんだ21,22ではんだ付けする際にマンハッタ
ン現象が起こらない。因みに、オーバーコート18が切
欠き18a,18bを有しない場合は、基板10の4隅
付近に凸部が形成されないが、基板10の4隅付近に凸
部が存在する方が、バルク実装の際の抵抗器の安定性を
より高めることができる。又、バルク実装の際に、凸部
と凸部の間の隙間、即ちオーバーコート18の切欠き1
8a,18bにはんだが入り込むことで、はんだフィレ
ットが形成されて、はんだと抵抗器(特に二次電極1
3,14)との接触面積が増加するので、接着(実装)
強度が向上する。
【0011】なお、上記抵抗器で、オーバーコート18
の端部上に二次電極13,14を形成するには、図4に
示すような形状のオーバーコート18を形成した後、基
板10の側面及び下面にそれぞれ二次電極13,14を
形成する時(ディップ時)に同時に形成すればよい。上
記実施例では、保護コートのうちオーバーコート18の
みを基板10の端部まで延伸してあるが、オーバーコー
ト18だけでなく、例えばミドルコート17も、或いは
アンダーコート16をも基板10の端部まで設けても構
わない。要するに、保護コートが一次電極の一部を露出
させる切除部を有していればよい。又、一次及び二次電
極は、一次電極が抵抗体に接触し、二次電極が一次電極
に接触し、切除部から一次電極の一部が露出すると共
に、二次電極と回路基板のパターン配線との十分なコン
タクトが取れれば特定されない。
の端部上に二次電極13,14を形成するには、図4に
示すような形状のオーバーコート18を形成した後、基
板10の側面及び下面にそれぞれ二次電極13,14を
形成する時(ディップ時)に同時に形成すればよい。上
記実施例では、保護コートのうちオーバーコート18の
みを基板10の端部まで延伸してあるが、オーバーコー
ト18だけでなく、例えばミドルコート17も、或いは
アンダーコート16をも基板10の端部まで設けても構
わない。要するに、保護コートが一次電極の一部を露出
させる切除部を有していればよい。又、一次及び二次電
極は、一次電極が抵抗体に接触し、二次電極が一次電極
に接触し、切除部から一次電極の一部が露出すると共
に、二次電極と回路基板のパターン配線との十分なコン
タクトが取れれば特定されない。
【0012】
【発明の効果】本発明のチップ抵抗器は、以上説明した
ように構成されるため、実質的に保護コート(即ち抵抗
器の4隅付近)に凸部が形成され、バルク実装の際に
は、その保護コートの4箇所の凸部にて回路基板に接触
するので、保護コートと回路基板との接触面積が増える
上に、回路基板に対して抵抗器が安定して支持される。
その結果、バルク実装時に、はんだ付けによるマンハッ
タン現象が起こらなくなる。又、バルク実装の際に、凸
部と凸部の間、即ち保護コートの切除部にはんだが入り
込むことで、はんだフィレットが形成されて、はんだと
抵抗器(特に二次電極)との接触面積が増加するので、
接着(実装)強度が向上する。
ように構成されるため、実質的に保護コート(即ち抵抗
器の4隅付近)に凸部が形成され、バルク実装の際に
は、その保護コートの4箇所の凸部にて回路基板に接触
するので、保護コートと回路基板との接触面積が増える
上に、回路基板に対して抵抗器が安定して支持される。
その結果、バルク実装時に、はんだ付けによるマンハッ
タン現象が起こらなくなる。又、バルク実装の際に、凸
部と凸部の間、即ち保護コートの切除部にはんだが入り
込むことで、はんだフィレットが形成されて、はんだと
抵抗器(特に二次電極)との接触面積が増加するので、
接着(実装)強度が向上する。
【図1】一実施例に係るチップ抵抗器の外観斜視図であ
る。
る。
【図2】図1に示すチップ抵抗器の線A−Aにおける断
面図である。
面図である。
【図3】図1に示すチップ抵抗器の線B−Bにおける断
面図である。
面図である。
【図4】図1に示すチップ抵抗器の平面図である。
【図5】図1に示すチップ抵抗器におけるオーバーコー
トの別形態を説明するための平面図である。
トの別形態を説明するための平面図である。
【図6】図1に示すチップ抵抗器をバルク実装する際の
状態を示す図である。
状態を示す図である。
【図7】従来例に係るチップ抵抗器の要部断面図であ
る。
る。
【図8】図7に示すチップ抵抗器をバルク実装する際の
状態を示す図である。
状態を示す図である。
10 基板 11a,12a 基板上面の一次電極 11b,12b 基板下面の一次電極 13,14 二次電極 15 抵抗体 18 オーバーコート 18a,18b オーバーコートの切欠き(切除部)
Claims (1)
- 【請求項1】基板と、この基板の両端部に設けた一次電
極と、この一次電極に接触させて前記基板端部に設けた
二次電極と、前記一次電極に接触させて設けた抵抗体
と、この抵抗体及び前記一次電極を覆う保護コートとを
備えるチップ抵抗器において、 前記保護コートは前記一次電極の一部を露出させる切除
部を基板端部の略中央に有し、前記二次電極は保護コー
トの端部上にも設けられると共に、前記切除部にて一次
電極と接触するように切除部にも形成されていることを
特徴とするチップ抵抗器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5064562A JP2854492B2 (ja) | 1993-03-24 | 1993-03-24 | チップ抵抗器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5064562A JP2854492B2 (ja) | 1993-03-24 | 1993-03-24 | チップ抵抗器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06275401A JPH06275401A (ja) | 1994-09-30 |
JP2854492B2 true JP2854492B2 (ja) | 1999-02-03 |
Family
ID=13261804
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5064562A Expired - Lifetime JP2854492B2 (ja) | 1993-03-24 | 1993-03-24 | チップ抵抗器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2854492B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2320620B (en) * | 1996-12-20 | 2001-06-27 | Rohm Co Ltd | Chip type resistor and manufacturing method thereof |
AU2002324848A1 (en) | 2002-09-03 | 2004-03-29 | Vishay Intertechnology, Inc. | Flip chip resistor and its manufacturing method |
JP4057462B2 (ja) | 2003-04-28 | 2008-03-05 | ローム株式会社 | チップ抵抗器およびその製造方法 |
CN104795192A (zh) * | 2014-01-16 | 2015-07-22 | 国巨股份有限公司 | 晶片电阻器 |
JP6678293B2 (ja) * | 2016-01-12 | 2020-04-08 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | チップ抵抗器 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6447001A (en) * | 1987-08-18 | 1989-02-21 | Murata Manufacturing Co | Square-shaped chip resistor |
-
1993
- 1993-03-24 JP JP5064562A patent/JP2854492B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06275401A (ja) | 1994-09-30 |
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