JP2842627B2 - 光ファイバの多心一括融着接続方法 - Google Patents
光ファイバの多心一括融着接続方法Info
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- JP2842627B2 JP2842627B2 JP1198752A JP19875289A JP2842627B2 JP 2842627 B2 JP2842627 B2 JP 2842627B2 JP 1198752 A JP1198752 A JP 1198752A JP 19875289 A JP19875289 A JP 19875289A JP 2842627 B2 JP2842627 B2 JP 2842627B2
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- optical fiber
- fiber
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、複数本の光ファイバ端部同士を互いに付き
合わせ、これらを一括して融着接続する光ファイバの多
心一括融着接続方法に関する。
合わせ、これらを一括して融着接続する光ファイバの多
心一括融着接続方法に関する。
テープ状にまとめられた複数本の光ファイバの端部同
士を互いに突き合わせ、一括して融着接続する場合、光
ファイバの光軸に対して直角で、かつ、テープ面に対し
てほぼ45度傾斜した２方向から顕微鏡等の光学系を会し
て光ファイバを撮像・観察することが行なわれている。
そして、得られた光ファイバ像を画像処理するなどし
て、融着接続前の光ファイバ端部の形状等に異常がない
かを判別したり、融着接続前後における光ファイバ端部
相互間の軸ずれ量を計測したりして、これらの結果から
融着接続後の接続損失を推定することが行なわれてい
る。
士を互いに突き合わせ、一括して融着接続する場合、光
ファイバの光軸に対して直角で、かつ、テープ面に対し
てほぼ45度傾斜した２方向から顕微鏡等の光学系を会し
て光ファイバを撮像・観察することが行なわれている。
そして、得られた光ファイバ像を画像処理するなどし
て、融着接続前の光ファイバ端部の形状等に異常がない
かを判別したり、融着接続前後における光ファイバ端部
相互間の軸ずれ量を計測したりして、これらの結果から
融着接続後の接続損失を推定することが行なわれてい
る。
しかし、テープ面に対して、傾斜した方向から光ファ
イバを観察しているため、光学系の焦点距離を全ての光
ファイバに対して合わせることができない。このため、
得られる光ファイバ像がぼけてしまい、光ファイバの観
察精度が低下する。そして、この観察精度の低下は、融
着接続前後における光ファイバ端部相互間の軸ずれ量の
計測精度を低下させ、融着接続後の接続損失の推定精度
を低下させる原因となる。
イバを観察しているため、光学系の焦点距離を全ての光
ファイバに対して合わせることができない。このため、
得られる光ファイバ像がぼけてしまい、光ファイバの観
察精度が低下する。そして、この観察精度の低下は、融
着接続前後における光ファイバ端部相互間の軸ずれ量の
計測精度を低下させ、融着接続後の接続損失の推定精度
を低下させる原因となる。
この観察精度の低下は、光ファイバの本数が増加する
につれ、また、光ファイバの配列ピッチが広がるにつ
れ、激しくなる。
につれ、また、光ファイバの配列ピッチが広がるにつ
れ、激しくなる。
そこで、上述の事情に鑑み、本発明は、高い観察精度
をもって複数本の光ファイバを観察できる光ファイバの
多心一括融着接続方法を提供することを目的としてい
る。
をもって複数本の光ファイバを観察できる光ファイバの
多心一括融着接続方法を提供することを目的としてい
る。
上述の目的を達成するため、本発明による光ファイバ
の多心一括融着接続方法においては、複数本の光ファイ
バを複数のファイバ群に分け、各ファイバ群のほぼ中心
に位置する光ファイバ付近に側方透過像を得るための光
学系の焦点を合わせ、光ファイバの光軸に対してほぼ直
角で光ファイバの配列されている面に対してほぼ45゜の
角度をなす方向にある異なる２つの位置から複数本の光
ファイバを観察し、その透過像輝度分布から複数本の光
ファイバの位置に関する情報を各ファイバ群毎に精密に
計測する工程と、複数の光ファイバのほぼ中心に位置す
る光ファイバ付近に側方透過像を得るための光学系の焦
点を合わせ、光ファイバの光軸に対してほぼ直角で光フ
ァイバの配列されている面に対してほぼ45゜の角度をな
す方向にある異なる２つの位置から複数本の光ファイバ
を観察し、その透過像輝度分布から前記複数の光ファイ
バを一括して目視観察する工程とを備えている。
の多心一括融着接続方法においては、複数本の光ファイ
バを複数のファイバ群に分け、各ファイバ群のほぼ中心
に位置する光ファイバ付近に側方透過像を得るための光
学系の焦点を合わせ、光ファイバの光軸に対してほぼ直
角で光ファイバの配列されている面に対してほぼ45゜の
角度をなす方向にある異なる２つの位置から複数本の光
ファイバを観察し、その透過像輝度分布から複数本の光
ファイバの位置に関する情報を各ファイバ群毎に精密に
計測する工程と、複数の光ファイバのほぼ中心に位置す
る光ファイバ付近に側方透過像を得るための光学系の焦
点を合わせ、光ファイバの光軸に対してほぼ直角で光フ
ァイバの配列されている面に対してほぼ45゜の角度をな
す方向にある異なる２つの位置から複数本の光ファイバ
を観察し、その透過像輝度分布から前記複数の光ファイ
バを一括して目視観察する工程とを備えている。
このような構成となっているので、高い観察精密が要
求される場合には、複数本の光ファイバは、光ファイバ
像のぼけが比較的小さい範囲で各ファイバ群毎に観察さ
れ、高い観察精度が要求されない場合には、光ファイバ
像のぼけが多少大きくても、全ての光ファイバが一括し
て観察される。
求される場合には、複数本の光ファイバは、光ファイバ
像のぼけが比較的小さい範囲で各ファイバ群毎に観察さ
れ、高い観察精度が要求されない場合には、光ファイバ
像のぼけが多少大きくても、全ての光ファイバが一括し
て観察される。
以下、テープ状にまとめられた８本の光ファイバの端
部同士を互いに突き合わせ、これらを一括して融着接続
する、本発明による光ファイバの多心一括融着接続方法
の実施例について、第１図〜第５図を参照しつつ、説明
する。
部同士を互いに突き合わせ、これらを一括して融着接続
する、本発明による光ファイバの多心一括融着接続方法
の実施例について、第１図〜第５図を参照しつつ、説明
する。
第１図は、本発明による光ファイバの多心一括融着接
続方法が適用される光ファイバの融着接続装置における
ファイバ観察系の概略を示している。
続方法が適用される光ファイバの融着接続装置における
ファイバ観察系の概略を示している。
テープ状にまとめられた８本の光ファイバ1a〜1hの端
部は、その被覆が除去され、ファイバ保持具（図示せ
ず）のＶ溝にそれぞれ一本ずつセットされて保持されて
いる。ファイバ保持具に保持された光ファイバ1a〜1hの
端部は第１図の紙面に対して直角な方向に延在してお
り、これと同様にしてファイバ保持具に保持された他の
８本の光ファイバ（図示せず）の端部と向かい合わせら
れている。このように対向させられた光ファイバ端部の
左右には、光ファイバ1a〜1hを放電加熱するための一対
の放電電極2a及び2bが光ファイバ1a〜1hの並でいる方向
において対向して設けられている。
部は、その被覆が除去され、ファイバ保持具（図示せ
ず）のＶ溝にそれぞれ一本ずつセットされて保持されて
いる。ファイバ保持具に保持された光ファイバ1a〜1hの
端部は第１図の紙面に対して直角な方向に延在してお
り、これと同様にしてファイバ保持具に保持された他の
８本の光ファイバ（図示せず）の端部と向かい合わせら
れている。このように対向させられた光ファイバ端部の
左右には、光ファイバ1a〜1hを放電加熱するための一対
の放電電極2a及び2bが光ファイバ1a〜1hの並でいる方向
において対向して設けられている。
放電電極2a、2bの相互間には、ミラー３がその反射面
を光ファイバが並んでいる方向に直角となるようにして
退避自在に挿入され、その反射面は光ファイバ側に向け
られている。そして、光ファイバ1a〜1hの光軸方向に対
して直角で、かつ、光ファイバ1a〜1hが並んでいる方向
に対してほぼ45度傾斜した方向にLED等の光源５が設け
られており、この光源５からの照射光によって光ファイ
バ1a〜1hが照らされるようになっている。また、光源５
からの照射光はミラー３で反射され、光ファイバ1a〜1h
を間にして反対側に設けられた顕微鏡６に入射するよう
になっている。顕微鏡６はミラー３で反射されてくる光
の進行方向及びこれに対して直角な方向において位置決
め自在となっており、顕微鏡６には、受像用のCCDカメ
ラ７が一体的に設けられている。
を光ファイバが並んでいる方向に直角となるようにして
退避自在に挿入され、その反射面は光ファイバ側に向け
られている。そして、光ファイバ1a〜1hの光軸方向に対
して直角で、かつ、光ファイバ1a〜1hが並んでいる方向
に対してほぼ45度傾斜した方向にLED等の光源５が設け
られており、この光源５からの照射光によって光ファイ
バ1a〜1hが照らされるようになっている。また、光源５
からの照射光はミラー３で反射され、光ファイバ1a〜1h
を間にして反対側に設けられた顕微鏡６に入射するよう
になっている。顕微鏡６はミラー３で反射されてくる光
の進行方向及びこれに対して直角な方向において位置決
め自在となっており、顕微鏡６には、受像用のCCDカメ
ラ７が一体的に設けられている。
顕微鏡６は、光源５から放射されて光ファイバ1a〜1h
を透過した後にミラー３で反射された光、あるいは、ミ
ラー３で反射された後に光ファイバを透過した光を受
け、光ファイバ1a〜1h端部の側方透過像を結像する。こ
のように、ミラー３で反射される前と後の光を受光する
ことにより、光ファイバの光軸方向に直角で、かつ、光
ファイバ1a〜1hが並んでいる方向に対してほぼ45度傾斜
した２方向から見た光ファイバ端部の側方透過像が得ら
れるようになっている。ここで得られた透過像は、CCD
カメラ７によって信号化され、この撮像信号が図示しな
い画像処理回路に送られるようになっている。画像処理
回路では、CCDカメラ７から入力された撮像信号に基づ
き、ファイバ透過像の輝度分布が二値化されるなどの処
理が行なわれた後、融着接続前に光ファイバ端部の形状
等に異常がないか否かが判別されたり、融着接続の前後
における光ファイバ端部相互間の軸ずれ量が計測された
りして、これらの結果から融着接続後の接続損失が推定
される。
を透過した後にミラー３で反射された光、あるいは、ミ
ラー３で反射された後に光ファイバを透過した光を受
け、光ファイバ1a〜1h端部の側方透過像を結像する。こ
のように、ミラー３で反射される前と後の光を受光する
ことにより、光ファイバの光軸方向に直角で、かつ、光
ファイバ1a〜1hが並んでいる方向に対してほぼ45度傾斜
した２方向から見た光ファイバ端部の側方透過像が得ら
れるようになっている。ここで得られた透過像は、CCD
カメラ７によって信号化され、この撮像信号が図示しな
い画像処理回路に送られるようになっている。画像処理
回路では、CCDカメラ７から入力された撮像信号に基づ
き、ファイバ透過像の輝度分布が二値化されるなどの処
理が行なわれた後、融着接続前に光ファイバ端部の形状
等に異常がないか否かが判別されたり、融着接続の前後
における光ファイバ端部相互間の軸ずれ量が計測された
りして、これらの結果から融着接続後の接続損失が推定
される。
次に、このように構成された光ファイバの融着接続装
置に、本発明による光ファイバの多心一括融着接続方法
を適用した場合におけるその動作について、第１図及び
第２図を参照しつつ説明する。第２図は、多心光ファイ
バを一括融着する場合の工程例を示したフローチャート
である。
置に、本発明による光ファイバの多心一括融着接続方法
を適用した場合におけるその動作について、第１図及び
第２図を参照しつつ説明する。第２図は、多心光ファイ
バを一括融着する場合の工程例を示したフローチャート
である。
まず、光ファイバ1a〜1hがファイバ保持具のＶ溝（図
示せず）にセットされる（ステップS1）。光ファイバが
Ｖ溝にセットされた後、セットスイッチがONにされ（ス
テップS2）、以下の動作が自動的に実行される。このと
き、顕微鏡６は、全光ファイバの中心付近を透過してく
る光に顕微鏡６の光軸中心がほぼ一致する位置（例えば
第１図のA2の位置）に位置決めされ、その焦点は中心部
に位置する光ファイバ1dと1eとの中間に合わされる。こ
のとき得られる光ファイバ端部の透過像は、第３図
（ａ）に示した如くとなる。光ファイバ1a〜1hのうち最
も外側に位置する光ファイバ1a及び1hの透過像は、顕微
鏡の焦点距離が合っていないことから、中心付近の光フ
ァイバ1d及び1eの透過像に比べ、ぼやけた像となる。そ
れでも、光ファイバがそれぞれＶ溝に納まっているか否
か等、高い精度を要求されないファイバ状態の目視観察
には十分なものであり、そのような高い精度を要求され
ないファイバ状態の目視観察等がこの透過像より行なわ
れる。
示せず）にセットされる（ステップS1）。光ファイバが
Ｖ溝にセットされた後、セットスイッチがONにされ（ス
テップS2）、以下の動作が自動的に実行される。このと
き、顕微鏡６は、全光ファイバの中心付近を透過してく
る光に顕微鏡６の光軸中心がほぼ一致する位置（例えば
第１図のA2の位置）に位置決めされ、その焦点は中心部
に位置する光ファイバ1dと1eとの中間に合わされる。こ
のとき得られる光ファイバ端部の透過像は、第３図
（ａ）に示した如くとなる。光ファイバ1a〜1hのうち最
も外側に位置する光ファイバ1a及び1hの透過像は、顕微
鏡の焦点距離が合っていないことから、中心付近の光フ
ァイバ1d及び1eの透過像に比べ、ぼやけた像となる。そ
れでも、光ファイバがそれぞれＶ溝に納まっているか否
か等、高い精度を要求されないファイバ状態の目視観察
には十分なものであり、そのような高い精度を要求され
ないファイバ状態の目視観察等がこの透過像より行なわ
れる。
次に、顕微鏡６が第１図に示したB2及びC2の位置に順
次位置決めされ、８本の光ファイバ1a〜1hを光ファイバ
1a〜1dからなる第１のファイバ群と光ファイバ1e〜1hか
らなる第２のファイバ群の２つのファイバ群に分けて、
各ファイバ群を構成する光ファイバの端面位置や端面間
隔等がそれぞれ精密に計測される（ステップS3）。顕微
鏡６がB2の位置に位置決めされ、その焦点が光ファイバ
1bと1cの間に合わされた場合の光ファイバの透過像を第
３図（ｂ）に示す。この場合に得られる光ファイバの透
過像は、光ファイバ1a〜1dについて比較的焦点が合って
いるので、光ファイバ1a〜1dの端面位置の計測等、高い
精度が要求される計測に適しており、この透過像を基に
光ファイバ1a〜1dについての精密な端面位置の計測が行
なわれる。一方顕微鏡６がC2の位置に位置決めされ、そ
の焦点が光ファイバ1fと1gの間に合わされた場合の光フ
ァイバの透過像を第３図（ｃ）に示す。この場合に得ら
れる光ファイバの透過像は、顕微鏡６がb2の位置に位置
決めされた場合と異なり、光ファイバ1e〜1hについて比
較的焦点が合っている。したがって、光ファイバ1e〜1h
の端面位置の計測等、高い精度が要求される計測に適し
ており、この透過像を基に光ファイバ1e〜1hについての
精密な端面位置の計測が行なわれる。
次位置決めされ、８本の光ファイバ1a〜1hを光ファイバ
1a〜1dからなる第１のファイバ群と光ファイバ1e〜1hか
らなる第２のファイバ群の２つのファイバ群に分けて、
各ファイバ群を構成する光ファイバの端面位置や端面間
隔等がそれぞれ精密に計測される（ステップS3）。顕微
鏡６がB2の位置に位置決めされ、その焦点が光ファイバ
1bと1cの間に合わされた場合の光ファイバの透過像を第
３図（ｂ）に示す。この場合に得られる光ファイバの透
過像は、光ファイバ1a〜1dについて比較的焦点が合って
いるので、光ファイバ1a〜1dの端面位置の計測等、高い
精度が要求される計測に適しており、この透過像を基に
光ファイバ1a〜1dについての精密な端面位置の計測が行
なわれる。一方顕微鏡６がC2の位置に位置決めされ、そ
の焦点が光ファイバ1fと1gの間に合わされた場合の光フ
ァイバの透過像を第３図（ｃ）に示す。この場合に得ら
れる光ファイバの透過像は、顕微鏡６がb2の位置に位置
決めされた場合と異なり、光ファイバ1e〜1hについて比
較的焦点が合っている。したがって、光ファイバ1e〜1h
の端面位置の計測等、高い精度が要求される計測に適し
ており、この透過像を基に光ファイバ1e〜1hについての
精密な端面位置の計測が行なわれる。
次に、向い合わされた光ファイバ端面相互間の間隔が
縮められて、端面間隔最小の光ファイバ端面の付き合わ
せが行なわれる（ステップS4）。この突き合わせの後、
顕微鏡６は、B1、B2、C1、C2の位置に順次位置決めさ
れ、各光ファイバが各ファイバ群毎に分けて２方向から
観察され、光ファイバ同士の融着接続前における軸ずれ
量や端面角度等が各ファイバ群毎に精密に計測される
（ステップS5）。
縮められて、端面間隔最小の光ファイバ端面の付き合わ
せが行なわれる（ステップS4）。この突き合わせの後、
顕微鏡６は、B1、B2、C1、C2の位置に順次位置決めさ
れ、各光ファイバが各ファイバ群毎に分けて２方向から
観察され、光ファイバ同士の融着接続前における軸ずれ
量や端面角度等が各ファイバ群毎に精密に計測される
（ステップS5）。
この計測の後、ミラー３が放電電極2a、2b相互間から
引き抜かれて退避させられる。そして、放電電極2a、2b
相互間に放電電圧が印加され、光ファイバ相互間の放電
融着が行なわれる（ステップS6）。放電融着中は、顕微
鏡６はA1の位置に位置決めされ、得られる放電火花の映
像から放電状態が観察される。
引き抜かれて退避させられる。そして、放電電極2a、2b
相互間に放電電圧が印加され、光ファイバ相互間の放電
融着が行なわれる（ステップS6）。放電融着中は、顕微
鏡６はA1の位置に位置決めされ、得られる放電火花の映
像から放電状態が観察される。
放電融着の後、顕微鏡６は、再度、B1、B2、C1、C2の
位置に順次位置決めされ、光ファイバの融着接続後にお
ける各光ファイバの軸ずれ量等が各ファイバ群毎に精密
に計測されると共に、外観観察により接続不良がないか
否かが各ファイバ群毎に精密に検査される（ステップS
7）。ここで計測された光ファイバの軸ずれ量や融着接
続前に計測された軸ずれ量等から、図示しない演算回路
により融着接続後の光ファイバの接続損失が推定され
る。
位置に順次位置決めされ、光ファイバの融着接続後にお
ける各光ファイバの軸ずれ量等が各ファイバ群毎に精密
に計測されると共に、外観観察により接続不良がないか
否かが各ファイバ群毎に精密に検査される（ステップS
7）。ここで計測された光ファイバの軸ずれ量や融着接
続前に計測された軸ずれ量等から、図示しない演算回路
により融着接続後の光ファイバの接続損失が推定され
る。
融着接続後の検査の後は、光ファイバの精密な観察は
不要となるので、顕微鏡６はA2の位置に位置決めされ、
算出された接続損失の推定値が液晶表示手段（図示せ
ず）等に表示される（ステップS9）。この期、リセット
スイッチがONにされることによって、セットスイッチが
ONにされる以前の初期状態に復帰する（ステップS1
0）。
不要となるので、顕微鏡６はA2の位置に位置決めされ、
算出された接続損失の推定値が液晶表示手段（図示せ
ず）等に表示される（ステップS9）。この期、リセット
スイッチがONにされることによって、セットスイッチが
ONにされる以前の初期状態に復帰する（ステップS1
0）。
なお、上述した実施例は、ミラー３が放電電極2a、2b
相互間に挿入される型式の光ファイバの融着接続装置に
本発明を適用した場合のものであるが、本発明は、第４
図に示したように、ミラー３が光ファイバ1a〜1hの上方
に、これらの並べられている方向に沿って配置され、光
源５が光ファイバの右斜め下方に配置され、光源５から
の照射光を光ファイバの左斜め下方に配置された顕微鏡
６によって受ける型式の融着接続装置に適用することも
可能である。また、上述した実施例では、テープ状にま
とめられた８本の光ファイバを一括融着接続する場合に
ついて説明しているが、観察される光ファイバの本数は
これに制限されるものではなく、例えば、テープ状にま
とめられた12本の光ファイバを一括融着接続する場合に
も本発明は適用可能である。この場合、高い計測精度が
要求される場合には、12本の光ファイバを４本ずつの３
つのファイバ群に分けて光ファイバ端面位置等を計測す
ることとしてもよいし、３本ずつの４つのファイバ群に
分けて光ファイバ端面位置等を計測することとしてもよ
い。
相互間に挿入される型式の光ファイバの融着接続装置に
本発明を適用した場合のものであるが、本発明は、第４
図に示したように、ミラー３が光ファイバ1a〜1hの上方
に、これらの並べられている方向に沿って配置され、光
源５が光ファイバの右斜め下方に配置され、光源５から
の照射光を光ファイバの左斜め下方に配置された顕微鏡
６によって受ける型式の融着接続装置に適用することも
可能である。また、上述した実施例では、テープ状にま
とめられた８本の光ファイバを一括融着接続する場合に
ついて説明しているが、観察される光ファイバの本数は
これに制限されるものではなく、例えば、テープ状にま
とめられた12本の光ファイバを一括融着接続する場合に
も本発明は適用可能である。この場合、高い計測精度が
要求される場合には、12本の光ファイバを４本ずつの３
つのファイバ群に分けて光ファイバ端面位置等を計測す
ることとしてもよいし、３本ずつの４つのファイバ群に
分けて光ファイバ端面位置等を計測することとしてもよ
い。
第５図は、光ファイバの軸ずれ計測精度と観察される
光ファイバの総本数との関係を、最も計測精度が低下す
る光ファイバすなわち最も外側に位置する光ファイバの
軸ずれ計測誤差をもって示している。本発明を適用せず
に、テープ状にまとめられた８本の光ファイバを一括し
て観察した場合には、軸ずれ計測誤差は最も外側の光フ
ァイバで平均0.5μｍの誤差が生じる。これに対して、
本を適用して４本の光ファイバ毎に軸ずれ量を計測した
場合には、平均0.22μｍと、計測誤差は半分以下に抑え
られる。すなわち、平均計測誤差0.22μｍという４本の
光ファイバを観察する場合と同様の比較的高い精度をも
って、テープ状にまとめられた８本の光ファイバの軸ず
れ量が計測されることとなる。
光ファイバの総本数との関係を、最も計測精度が低下す
る光ファイバすなわち最も外側に位置する光ファイバの
軸ずれ計測誤差をもって示している。本発明を適用せず
に、テープ状にまとめられた８本の光ファイバを一括し
て観察した場合には、軸ずれ計測誤差は最も外側の光フ
ァイバで平均0.5μｍの誤差が生じる。これに対して、
本を適用して４本の光ファイバ毎に軸ずれ量を計測した
場合には、平均0.22μｍと、計測誤差は半分以下に抑え
られる。すなわち、平均計測誤差0.22μｍという４本の
光ファイバを観察する場合と同様の比較的高い精度をも
って、テープ状にまとめられた８本の光ファイバの軸ず
れ量が計測されることとなる。
なお、CCDカメラ７によって得られるファイバ像をテ
レビ等の画像表示手段に表示するようにすれば、光ファ
イバ端面のカット不良や異常放電等を表示された画面上
でチェックすることも可能となる。
レビ等の画像表示手段に表示するようにすれば、光ファ
イバ端面のカット不良や異常放電等を表示された画面上
でチェックすることも可能となる。
以上説明したように、本発明による光ファイバの多心
一括融着接続方法によれば、高い観察精度が要求される
場合には、複数本の光ファイバを、光ファイバ像のぼけ
が比較的小さい範囲で各ファイバ群毎に分けて光ファイ
バの位置に関する情報を計測でき、高い観察精度が要求
されない場合には、全ての光ファイバを一括して目視観
察できるようになっている。したがって、高い観察精度
をもって、効率よく複数本の光ファイバを観察できる。
一括融着接続方法によれば、高い観察精度が要求される
場合には、複数本の光ファイバを、光ファイバ像のぼけ
が比較的小さい範囲で各ファイバ群毎に分けて光ファイ
バの位置に関する情報を計測でき、高い観察精度が要求
されない場合には、全ての光ファイバを一括して目視観
察できるようになっている。したがって、高い観察精度
をもって、効率よく複数本の光ファイバを観察できる。
第１図は本発明による光ファイバの多心一括融着接続方
法が適用された光ファイバの融着接続装置の一部を示し
た図、第２図は第１図に示した光ファイバの融着接続装
置の動作を示したフローチャート、第３図は光ファイバ
の透過像を示した図、第４図は本発明による光ファイバ
の多心一括融着接続方法が適用された光ファイバの融着
接続装置であって、第１図に示した装置とことなる装置
の一部を示した図、第５図は軸ずれ計測精度と観察され
る光ファイバの本数との関係を示した図表である。 1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1h……光ファイバ、2a、
2b……放電電極、３……ミラー、５……光源、６……顕
微鏡、７……CCDカメラ。
法が適用された光ファイバの融着接続装置の一部を示し
た図、第２図は第１図に示した光ファイバの融着接続装
置の動作を示したフローチャート、第３図は光ファイバ
の透過像を示した図、第４図は本発明による光ファイバ
の多心一括融着接続方法が適用された光ファイバの融着
接続装置であって、第１図に示した装置とことなる装置
の一部を示した図、第５図は軸ずれ計測精度と観察され
る光ファイバの本数との関係を示した図表である。 1a、1b、1c、1d、1e、1f、1g、1h……光ファイバ、2a、
2b……放電電極、３……ミラー、５……光源、６……顕
微鏡、７……CCDカメラ。
フロントページの続き (72)発明者 渡邉 勤 神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友 電気工業株式会社横浜製作所内 (72)発明者 柳 公 神奈川県横浜市栄区田谷町１番地 住友 電気工業株式会社横浜製作所内 (72)発明者 松本 三千人 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 神田 昇 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 昭64−46623（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−107218（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−121804（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−269107（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−217307（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G02B 6/24 G02B 6/255
Claims (1)
- 【請求項１】一列に配列された複数本の光ファイバ端部
同士を互いに突き合わせ、これらを一括して融着接続す
る、光ファイバの多心一括融着接続方法であって、 前記複数本の光ファイバを複数のファイバ群に分け、各
ファイバ群のほぼ中心に位置する光ファイバ付近に側方
透過像を得るための光学系の焦点を合わせ、前記光ファ
イバの光軸に対してほぼ直角で前記光ファイバの配列さ
れている面に対してほぼ45゜の角度をなす方向にある異
なる２つの位置から前記複数本の光ファイバを観察し、
その透過像輝度分布から前記複数本の光ファイバの位置
に関する情報を各ファイバ群毎に精密に計測する工程
と、 前記複数の光ファイバのほぼ中心に位置する光ファイバ
付近に側方透過像を得るための光学系の焦点を合わせ、
前記光ファイバの光軸に対してほぼ直角で前記光ファイ
バの配列されている面に対してほぼ45゜の角度をなす方
向にある異なる２つの位置から前記複数本の光ファイバ
を観察し、その透過像輝度分布から前記複数の光ファイ
バを一括して目視観察する工程とを備えていることを特
徴とする光ファイバの多心一括融着接続方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1198752A JP2842627B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 光ファイバの多心一括融着接続方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1198752A JP2842627B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 光ファイバの多心一括融着接続方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0362004A JPH0362004A (ja) | 1991-03-18 |
| JP2842627B2 true JP2842627B2 (ja) | 1999-01-06 |
Family
ID=16396374
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1198752A Expired - Lifetime JP2842627B2 (ja) | 1989-07-31 | 1989-07-31 | 光ファイバの多心一括融着接続方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2842627B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6446623A (en) * | 1987-08-14 | 1989-02-21 | Fujikura Ltd | Connection part inspecting method for multicore optical fiber |
| JPH01121804A (ja) * | 1987-11-05 | 1989-05-15 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバ端部の位置合わせ装置 |
-
1989
- 1989-07-31 JP JP1198752A patent/JP2842627B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0362004A (ja) | 1991-03-18 |
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