JP2828211B2 - 熱変化測定方法 - Google Patents

熱変化測定方法

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JP2828211B2
JP2828211B2 JP1135390A JP13539089A JP2828211B2 JP 2828211 B2 JP2828211 B2 JP 2828211B2 JP 1135390 A JP1135390 A JP 1135390A JP 13539089 A JP13539089 A JP 13539089A JP 2828211 B2 JP2828211 B2 JP 2828211B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、試料の熱変化測定方法にかかり、特に従来
の示差熱分析(DTA)方法と同等の熱変化情報が得られ
る新規な熱変化測定方法に関する。
[従来の技術] 従来から、物質の熱変化を調べる方法として、試料と
標準試料とを同一加熱炉内に収容して昇・降温させ、各
温度におけるこれら試料と標準試料との温度差(示差
熱)を求めることにより、試料の熱変化情報を得る示差
熱分析(DTA)方法が知られている。
すなわち、従来のDTA法は、加熱炉内に均熱領域を形
成し、この均熱領域内に試料と標準試料とを載置して、
両者の温度を実測してその差の曲線(DTA曲線)を描か
せるもので、その際、試料に熱変化がない場合は、前記
DTA曲線は直線となり、一方、試料に熱変化が生ずる
と、その熱変化に対応したピーク状の曲線を描く、この
ピーク状の曲線を解析することによって試料の転移温
度、転移熱量その他の熱変化情報を得るものである。
[発明が解決しようとする課題] ところで、前記従来のDTA法においては、試料に熱変
化がないときは、原理的には、前記DTA曲線は直線とな
るはずである。ところが、実際には、試料に熱変化がな
い場合においても、前記DTA曲線は完全な直線にはなら
ず、ある程度蛇行状その他の曲線を描くのが普通であ
る。これは、前記加熱炉内に、昇・降温の全温度範囲に
渡って試料と標準試料とが載置される全領域を完全な均
熱領域とすることが現実には不可能に近いからである。
したがって、前記従来のDTA法においては、あらかじ
め、標準試料どうしのDTA曲線を求めておいて、これを
ベースラインとし、次に、熱変化のある被測定試料につ
いてのDTA曲線を求めてこの曲線と前記ベースラインと
を比較することが必要であった。このため、測定が煩雑
であるという問題点があった。
また、ベースラインが著しく蛇行するような場合に
は、被測定試料のDTA曲線とベースラインとを比較して
も、被測定試料のDTA曲線の変動が試料の熱変化による
変動なのかベースラインの乱れによるものなのかの区別
が困難になって、有効な熱変化情報を得ることができな
くなるおそれもあった。
さらに、前記標準試料としては、通常、常温から比較
的高い融点までほとんど熱変化のないアルミナ等が用い
られるが、例えば、前記アルミナの融点以上の超高温領
域においてDTA測定を行おうとすると、前記標準試料の
選定が著しく困難となるという問題点もあった。
本発明は、上述の背景のもとでなされたものであり、
標準試料を用いることなく、前記従来のDTA法と同等の
熱変化情報を得ることが可能な熱変化測定方法を提供す
ることを目的としたものである。
[課題を解決するための手段] 本発明は、以下の構成とすることにより、上述の課題
を解決している。
試料が載置された環境温度を、あらかじめ設定された
昇・降温曲線にしたがって変化させ、 前記試料の温度を測定するとともに、 前記昇・降温の各時点において、前記試料の測定温度
と、前記設定温度との差を求めることにより、前記試料
の熱変化情報を得る構成。
[作用] 前記構成において、前記試料が載置された環境温度
は、あらかじめ設定された昇・降温曲線にしたがって変
化する。それ故、試料に熱変化がないときは、該試料も
前記環境温度とほぼ同一の温度で変化する。
一方、試料に熱変化が生じたときは、それから所定の
間該試料の温度はその熱変化に対応して前記環境温度と
異なる温度を示す。
したがって、前記試料の温度を測定するとともに、前
記昇・降温の各時点において、前記試料の測定温度と、
前記設定温度との差を求め、この差を曲線として表す
と、この差を示す曲線は、前記従来のDTA法におけるDTA
曲線に相当することになる。
すなわち、前記設定温度は前記環境温度と同じであ
り、この環境温度は、試料の熱変化とは関係なく設定さ
れた昇・降温曲線にしたがって変化するものである。し
たがって、この環境温度は前記前記従来のDTA法におけ
る標準試料の温度に相当することになる。それゆえ、こ
の標準試料温度に相当する設定温度と試料の温度との差
を表す曲線はDTA曲線に相当することになる。故に、前
記試料と設定温度との差(前記DTA曲線に相当する曲線
で表される)を求めることにより、従来のDTA法による
場合と同等の熱変化情報を得ることができる。
この場合、従来のDTA法では必要であったベースライ
ンを求めるという測定が不要となり、著しく効率的な測
定が可能となる。
また、標準試料が不要であるから、超高温領域におけ
る測定も著しく容易となる。
しかも、試料と標準試料とが載置される比較的広い領
域を均熱状態に保つという技術的に困難な問題がないか
ら、装置の設計製作も容易である。
[実施例] 第1図は本発明の一実施例にかかる熱変化測定方法を
実施する装置の構成を示すブロック図、第2図は一実施
例の昇温曲線を示すグラフ、第3図は一実施例の温度差
曲線を示すグラフである。以下、これらの図を参照しな
がら一実施例を詳述する。
第1図において、符号1は加熱炉、符号2は前記加熱
炉1内に載置された試料容器、符号3は該試料容器2に
収容された被測定試料、符号4は前記加熱炉1を所定の
プログラムにしたがった温度曲線(プログラム設定温度
曲線)で昇・降温させるプログラム温度制御装置、符号
5は前記試料3の温度を測定する試料温度測定手段、符
号6は前記試料温度測定手段5で測定された温度と前記
プログラム温度制御装置4で設定される設定温度との差
を算出する温度差算出手段、符号7は前記温度差算出手
段6で算出された温度差を記録する記録計である。
いま、前記プログラム温度制御装置4の昇温カーブを
第2図の直線Aで示されるように設定し、前記加熱炉1
をこの昇温カーブにしたがって昇温させる。なお、第2
図におけるグラフでは、縦軸が温度(T;任意単位)、横
軸が時間(t;任意単位)である。これにより、前記加熱
炉1内の試料容器2に収容された試料3は、第2図の曲
線Bで示される昇温カーブで昇温する。
すなわち、前記試料3は、前記加熱炉1の温度より常
に僅に低い温度を維持しつつ前記加熱炉1の温度に追従
するようにして直線的に昇温する。
この場合、前記被測定試料3が、時間t1(温度T1)に
おいて吸熱変化を生じたとすると、前記曲線Bは、図に
おける時間t1からt2の間で小さなピーク状の曲線pBを描
く。
第3図は、前記試料温度測定手段5によって測定され
た被測定試料3の温度と、前記プログラム温度制御装置
4で設定されたプログラム設定温度との温度差を、前記
温度差算出手段6で算出し、前記記録計7で記録した曲
線Cを示すグラフである。なお、第3図のグラフにおい
て、縦軸が温度差(ΔT;任意単位)、横軸が時間(t;任
意単位)である。この曲線Cにおいて、前記吸熱変化は
ピークPCとして現れる。
ここで、この曲線Cは、とりもなおさず、前記第2図
における曲線Aと曲線Bとの差を表す曲線である。換言
すると、この曲線Cは、前述の従来のDTA法におけるDTA
曲線に相当するものである。
すなわち、前記直線Aはプログラム設定温度曲線であ
るから、前記加熱炉1はこの直線Aで示される通りに温
度制御される。そうすると、被測定試料3が載置された
環境温度もこの直線Aで示される通りに昇温することに
なる。つまり、この環境温度は、被測定試料3の熱変化
とは関係なく設定された直線Aにしたがって変化するも
のである。したがって、この環境温度は前記従来のDTA
法における標準試料の温度に相当することになる。それ
ゆえ、この標準試料温度に相当する設定温度と試料の温
度との差を表す曲線はDTA曲線に相当することになる。
故に、前記直線B(被測定試料3の温度曲線)と直線A
(プログラム設定温度曲線)との差(前記DTA曲線に相
当する曲線で表される)を求めることにより、従来のDT
A法による場合と同等の熱変化情報を得ることができ
る。
すなわち、前記曲線CのピークPCについて、従来のDT
A法と類似の解析を行うことにより、このピークPCで示
される吸熱変化に関する情報を得ることができる。な
お、この場合、第3図に点線Bで示されように、前記試
料温度測定手段5からの出力を前記記録計7に加えて前
記被測定試料3の温度を同時に記録するようにしても良
い。
上述の一実施例にあっては、従来のDTA法では必要で
あったベースラインを求めるという測定が不要であるか
ら、著しく効率的な測定が可能となる。
また、標準試料が不要であるから、超高温領域におけ
る測定も著しく容易となる。
しかも、試料と標準試料とが載置される比較的広い領
域を均熱状態に保つという技術的に困難な問題がないか
ら、装置の設計製作も容易である。
[発明の効果] 以上、詳述したように、本発明は、 試料が、載置された環境温度を、あらかじめ設定され
た昇・降温曲線にしたがって変化させ、 前記試料の温度を測定するとともに、 前記昇・降温の各時点において、前記試料の測定温度
と、前記設定温度との差を求めることにより、前記試料
の熱変化情報を得る構成としたことにより、標準試料を
用いることなく、従来のDTA法と同等の熱変化情報を得
ることを可能にしたものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例にかかる熱変化測定方法を実
施する装置の構成を示すブロック図、第2図は一実施例
の昇温曲線を示すグラフ、第3図は一実施例の温度差曲
線を示すグラフである。 1……加熱炉、2……試料容器、3……被測定試料、4
……プログラム温度制御装置、5……試料温度測定手
段、6……温度差算出手段、7……記録計。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】試料が載置された環境温度を、あらかじめ
    設定された昇・降温曲線にしたがって変化させ、 前記試料の温度を測定するとともに、 前記昇・降温の各時点において、前記試料の測定温度
    と、前記設定温度との差を求めることにより、前記試料
    の熱変化情報を得る試料の熱変化測定方法。
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